JPH07117457B2 - スペクトル測定データ処理方法 - Google Patents
スペクトル測定データ処理方法Info
- Publication number
- JPH07117457B2 JPH07117457B2 JP2262256A JP26225690A JPH07117457B2 JP H07117457 B2 JPH07117457 B2 JP H07117457B2 JP 2262256 A JP2262256 A JP 2262256A JP 26225690 A JP26225690 A JP 26225690A JP H07117457 B2 JPH07117457 B2 JP H07117457B2
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- Japan
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は質量分析，分光分析等で得られたスペクトルデ
ータからピークを検出する方法に関する。
ータからピークを検出する方法に関する。
（従来の技術） 質量分析,X線分光分析，発光分光分析等では、質量スペ
クトルとか特性Ｘ線スペクトル，輝線スペクトル等でピ
ーク位置は予め決まっているので、測定されたスペクト
ルデータから、その位置にピークがあるかないか、あれ
ばそのピークの強さは何如と云うことがデータ処理の内
容となる。
クトルとか特性Ｘ線スペクトル，輝線スペクトル等でピ
ーク位置は予め決まっているので、測定されたスペクト
ルデータから、その位置にピークがあるかないか、あれ
ばそのピークの強さは何如と云うことがデータ処理の内
容となる。
従来、測定されたスペクトルデータからピークの有無を
検索するには、予めピーク位置の表を作っておき、実測
データ上でそのピーク位置を中心とする適当な質量幅或
は波長範囲を設定して、その範囲内で測定値の最大値を
求めると云う方法を用いていた。
検索するには、予めピーク位置の表を作っておき、実測
データ上でそのピーク位置を中心とする適当な質量幅或
は波長範囲を設定して、その範囲内で測定値の最大値を
求めると云う方法を用いていた。
しかしこのような従来方法では、設定した範囲内に最大
値があればピーク有りとして、その最大値をピーク強度
とするので、単なるノイズをピークと誤認したり、この
ような誤認を避けるため設定範囲をせまくすると、ピー
ク位置がずれた場合、ピークが検出されなかったり、ピ
ーク強度を実際より低く認定したりすると云う問題があ
った。
値があればピーク有りとして、その最大値をピーク強度
とするので、単なるノイズをピークと誤認したり、この
ような誤認を避けるため設定範囲をせまくすると、ピー
ク位置がずれた場合、ピークが検出されなかったり、ピ
ーク強度を実際より低く認定したりすると云う問題があ
った。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は上述した従来のピーク検出方法の問題点を解消
しようとするものである。
しようとするものである。
（課題を解決するための手段） 予めピーク立上り検出レベルＢおよび、ピーク幅に関す
る定数W1を設定しておきピーク検出を行って一つのピー
クが検出されたとき、そのピークの立下り側において、
測定値が単調に上記設定レベルＢ以下に下がったときは
上記ピークを真のピークとし、レベルＢまで下がらない
うちに極小を経過したときは、その極小値が上記ピーク
の所定分の１以上のレベルであるとき、および上記極小
値の位置からピーク幅方向に上記W1以上離れる前に上記
ピークに所定係数を掛けた値以上になるときは上記ピー
クを真のピークとしないことにした。
る定数W1を設定しておきピーク検出を行って一つのピー
クが検出されたとき、そのピークの立下り側において、
測定値が単調に上記設定レベルＢ以下に下がったときは
上記ピークを真のピークとし、レベルＢまで下がらない
うちに極小を経過したときは、その極小値が上記ピーク
の所定分の１以上のレベルであるとき、および上記極小
値の位置からピーク幅方向に上記W1以上離れる前に上記
ピークに所定係数を掛けた値以上になるときは上記ピー
クを真のピークとしないことにした。
（作用） 本発明の特徴はピークが検出されたとき、その立下り側
の測定値の変化の仕方のパターンによって検出されたピ
ークが真のピークか真のピークに乗ったノイズピークか
を判定するものである。
の測定値の変化の仕方のパターンによって検出されたピ
ークが真のピークか真のピークに乗ったノイズピークか
を判定するものである。
立下り側で単調にピークの立上り検出レベルＢ以下に下
がるときはピークは真のピークとする。ピーク通過後Ｂ
まで下がらないうちに極小値を経過する、つまり測定値
がピーク通過後また直ぐに上昇に転じたとき、検出され
たピークが真のピークかノイズかを次のようにして検査
するのである。測定値が検出されたピークの所定数分の
一例えば1/2以下にならないうちに上昇するような場合
はノイズピークとする。検出されたピークの高さの1/2
以下に下がった所で上昇に転ずる場合を二つに分けて、
極小通過後所定幅内で先に検出されたピークに適宜係数
例えば１を掛けた値以上になるときは検出されたピーク
の後に真のピークがある筈であり、先に検出されたピー
クをノイズとする。その他の場合は検出されたピークを
真のピークとするのである。この方法では検出されたピ
ークの立下りを調べているが、これは次のピークの立上
りを調べているのと同じで、真のピークの立上り側に乗
っているノイズピークを排除できると共に立下り側のノ
イズも排除できることになる。
がるときはピークは真のピークとする。ピーク通過後Ｂ
まで下がらないうちに極小値を経過する、つまり測定値
がピーク通過後また直ぐに上昇に転じたとき、検出され
たピークが真のピークかノイズかを次のようにして検査
するのである。測定値が検出されたピークの所定数分の
一例えば1/2以下にならないうちに上昇するような場合
はノイズピークとする。検出されたピークの高さの1/2
以下に下がった所で上昇に転ずる場合を二つに分けて、
極小通過後所定幅内で先に検出されたピークに適宜係数
例えば１を掛けた値以上になるときは検出されたピーク
の後に真のピークがある筈であり、先に検出されたピー
クをノイズとする。その他の場合は検出されたピークを
真のピークとするのである。この方法では検出されたピ
ークの立下りを調べているが、これは次のピークの立上
りを調べているのと同じで、真のピークの立上り側に乗
っているノイズピークを排除できると共に立下り側のノ
イズも排除できることになる。
（実施例） まず予め３つのパラメータB,W1,W2を設定しておく。第
１図に示すように、Ｂは測定値がその値を超えた転を仮
のピーク立上り点Ioとするピーク立上り判別閾値であ
る。W2はピークの立上りからピーク中心までの幅を表わ
す値である。W1もピーク幅を表わす値であるが、W1,W2
の使い分けは後述する。第１図でピークＰの中心位置を
Ia,中心におけるピーク高さをＡとすると、仮のピーク
立上り点IoからIaまでの距離（Ia−Io）がW2より大なる
場合、Ia−W2＝Icをピーク立上り点とし、（Ia−Io）＜
W2ならIoをピーク立上り点とする。従ってW2はピークの
立上り点から立下り点までの幅の1/2に設定しておく。
このようにしてピークの立上りからピーク中心までが一
応検出されたが、本発明はこゝで直ちにピークＰを真の
ピークとしないでピークの立下り側を検査して、Ｐが真
のピークか否か判別する所に特徴がある。
１図に示すように、Ｂは測定値がその値を超えた転を仮
のピーク立上り点Ioとするピーク立上り判別閾値であ
る。W2はピークの立上りからピーク中心までの幅を表わ
す値である。W1もピーク幅を表わす値であるが、W1,W2
の使い分けは後述する。第１図でピークＰの中心位置を
Ia,中心におけるピーク高さをＡとすると、仮のピーク
立上り点IoからIaまでの距離（Ia−Io）がW2より大なる
場合、Ia−W2＝Icをピーク立上り点とし、（Ia−Io）＜
W2ならIoをピーク立上り点とする。従ってW2はピークの
立上り点から立下り点までの幅の1/2に設定しておく。
このようにしてピークの立上りからピーク中心までが一
応検出されたが、本発明はこゝで直ちにピークＰを真の
ピークとしないでピークの立下り側を検査して、Ｐが真
のピークか否か判別する所に特徴がある。
ピークの立上りIoが検出され、測定値の極大値Ａが検出
されると、その後測定値は低下するが、その下がり方は
第１図にa,b,cで示す３通りがある。まずピーク中心Ia
通過後測定値が単調にＢのレベル以下に下がるｃの場合
で、この場合Ｐは一つのピークでIaがその中心位置と判
定される。ａはピーク中心を過ぎた後、測定出力が一つ
の識別レベル例えばA/2より下がらずに再び上昇する場
合で、この場合Ｐはノイズピークとして、Iaより以後の
所で極大を探す。そして極大値Ｄが見出されれば、この
Ｄに関して上述した所と同じことを繰り返す。即ち極大
値Ｄの位置IdからW2の幅をとってIc′をピークＤの立上
り点とする。測定値が極大値Ａを過ぎた後、識別レベル
A/2より下がり、しかもレベルＢに達する前に再び増加
に転じたｂの場合、以下の判定動作によって、パラメー
タW1を使ってＰをピークとするかノイズとするか判定す
る。
されると、その後測定値は低下するが、その下がり方は
第１図にa,b,cで示す３通りがある。まずピーク中心Ia
通過後測定値が単調にＢのレベル以下に下がるｃの場合
で、この場合Ｐは一つのピークでIaがその中心位置と判
定される。ａはピーク中心を過ぎた後、測定出力が一つ
の識別レベル例えばA/2より下がらずに再び上昇する場
合で、この場合Ｐはノイズピークとして、Iaより以後の
所で極大を探す。そして極大値Ｄが見出されれば、この
Ｄに関して上述した所と同じことを繰り返す。即ち極大
値Ｄの位置IdからW2の幅をとってIc′をピークＤの立上
り点とする。測定値が極大値Ａを過ぎた後、識別レベル
A/2より下がり、しかもレベルＢに達する前に再び増加
に転じたｂの場合、以下の判定動作によって、パラメー
タW1を使ってＰをピークとするかノイズとするか判定す
る。
上述したｂの場合は更に３つの場合に分けられる。第２
図にその３つの場合を示す。この図は或るピークＰを中
心に画いたものであるが、同じピークが場合によって異
なる判断がされると云う意味ではなく、色々の場合を一
つの図に画いたものなので、例えばｄのカーブでＰはノ
イズとするとあるが、このときＰが図示通りの相対的な
大きさであると云うことではない。ｂの場合レベルＢよ
り上に極小点Ｃが存在する。極小点Ｃ位置をIbとする。
Ibを起点として幅W1を設定し、W1以内に測定値が極大値
Ａを超すｄの場合、Ｐをピークとみなさず、更に極大値
Ｅを検出し、先のａの場合と同様の処理をする。幅W1の
範囲内で極大値がなく、Ａの値も超えないｅの場合、Ｐ
を独立のピークとする。ｅの場合で、更に極大値の検出
を続けて極大値Ｆを検出したときは、そのピークについ
て上述した所と同じ動作でＦが真のピークか否か判定す
る。極小値Ｃを過ぎた後、測定値がW1の範囲でA/2より
低いピークを示したｆの場合、もちろんＰは真のピーク
と判定され、再び極小値があるか、そのまゝＢ以下にな
るか調べる。そして何れの場合でもＰの後の小ピークは
ノイズとされ、Ｂ以下に下ったときも、Ｂまで下がる前
に上昇に転じたときも次のピークの判定動作が始まる。
図にその３つの場合を示す。この図は或るピークＰを中
心に画いたものであるが、同じピークが場合によって異
なる判断がされると云う意味ではなく、色々の場合を一
つの図に画いたものなので、例えばｄのカーブでＰはノ
イズとするとあるが、このときＰが図示通りの相対的な
大きさであると云うことではない。ｂの場合レベルＢよ
り上に極小点Ｃが存在する。極小点Ｃ位置をIbとする。
Ibを起点として幅W1を設定し、W1以内に測定値が極大値
Ａを超すｄの場合、Ｐをピークとみなさず、更に極大値
Ｅを検出し、先のａの場合と同様の処理をする。幅W1の
範囲内で極大値がなく、Ａの値も超えないｅの場合、Ｐ
を独立のピークとする。ｅの場合で、更に極大値の検出
を続けて極大値Ｆを検出したときは、そのピークについ
て上述した所と同じ動作でＦが真のピークか否か判定す
る。極小値Ｃを過ぎた後、測定値がW1の範囲でA/2より
低いピークを示したｆの場合、もちろんＰは真のピーク
と判定され、再び極小値があるか、そのまゝＢ以下にな
るか調べる。そして何れの場合でもＰの後の小ピークは
ノイズとされ、Ｂ以下に下ったときも、Ｂまで下がる前
に上昇に転じたときも次のピークの判定動作が始まる。
以上を整理すると、第１図のピークＰが真のピークと判
定されるのは、第１図のｃの場合、ｂの場合における第
２図efの場合で、第１図ａおよびｂの場合のｄではＰは
ピークとみなさない。第３図は以上の動作をフローチャ
ートで示したものである。
定されるのは、第１図のｃの場合、ｂの場合における第
２図efの場合で、第１図ａおよびｂの場合のｄではＰは
ピークとみなさない。第３図は以上の動作をフローチャ
ートで示したものである。
パラメータW1,W2,Bを設定（イ）し、測定を開始、一定
間隔で測定値をサンプリングしメモリに取込み（ロ）、
測定が終了したらピーク検索動作に移る。まず測定デー
タを端から順に一点ずつ読度し（ハ）、測定値がＢを超
えたか判定（ニ）し、超えたらそのときのサンプリング
点Ioを仮の立上り点とし（ホ）、更に一点ずつ読出しを
続け（ヘ）、極大を探し（ト）、極大値が検出されたら
そのときのサンプリング位置Iaと極大値Ａを記憶し
（チ）、一点ずつ測定値を読出し（リ）て、測定値がＢ
以下になったか（ヌ）、極小が検出されたか（ル）を順
次点検し、（ヌ）のステップで測定値がＢ以下に下がっ
たら、これは第２図ｃの場合で、動作はＸに行き、（Ｘ
−イ）のステップでIa−Io＞W2ならば（Ia−W2）＝Icを
求め（Ｘ−ロ）、ピークＰを真のピークとして、Icを立
上り点,Iaをピーク中心、Ａをピーク強度として登録
（Ｘ−ハ）して動作は（ヘ）のステップに戻って次のピ
ークの検出を行い、（Ｘ−イ）のステップがNOの場合は
ピークＰを真のピークとしてIoをピーク立上り、Iaをピ
ーク中心,Aをピーク強度として登録して動作は（ヘ）の
ステップに戻って次のピーク検出を行う。（ル）のステ
ップがYESになったら、これは第１図a,bの場合で動作は
Ｙに行き、（Ｙ−イ）のステップで極小値がA/2より大
なるときは第１図ａの場合であり、（チ）のステップの
Ia,aお記憶を消し、動作は（ヘ）のステップに戻る。
（Ｙ−イ）のステップがNOの場合、一点ずつデータを読
出し（Ｙ−ロ）、極小からの読出し点数が幅W1相当を過
ぎたかチェック（Ｙ−ハ）し、NOなら測定値がＡ以上か
調べ（Ｙ−ニ）、NOなら読出したデータが極大か調べ
（Ｙ−ホ）、ステップ（Ｙ−ハ）がYESになったら第２
図ｅの場合で、動作はＸへ行き、（Ｙ−ニ）のステップ
がYESになった場合は、第２図ｄの場合で、（チ）のス
テップのIa,Aの記憶を消し、Ibを立上り点として動作は
（ヘ）に戻る。（Ｙ−ホ）のステップがYESになるのは
第２図ｆの場合で、動作は（リ）に戻る。そして以後極
小なしにＢ以下になるときは（ヌ）からＸ−イに行き、
これまでの所で先の（チ）で記憶されたピークＰのIa,A
のデータはそのまゝであるので、Ｘ−ニのステップでピ
ークＰのデータIo,Ia,Aが登録される。またＢまで下が
る前に再び上昇に転じたときは（ル）からＹ−イへ行き
Ｙ−ロからＹ−ホの間を循環して何時かはＹ−ハ或はＹ
−ニよりこの循環を脱出する。Ｙ−ハからＸ−イへ行っ
たときはピークＰのデータが登録され、次のピーク判定
の（ヘ）へ行き、Ｙ−ニから（ヘ）に行く場合はW1を過
ぎていないので、これは第２図のｄの場合となりＰはノ
イズと判定されることになる。何れにしてもｆの場合の
小ピークはノイズとなるのである。
間隔で測定値をサンプリングしメモリに取込み（ロ）、
測定が終了したらピーク検索動作に移る。まず測定デー
タを端から順に一点ずつ読度し（ハ）、測定値がＢを超
えたか判定（ニ）し、超えたらそのときのサンプリング
点Ioを仮の立上り点とし（ホ）、更に一点ずつ読出しを
続け（ヘ）、極大を探し（ト）、極大値が検出されたら
そのときのサンプリング位置Iaと極大値Ａを記憶し
（チ）、一点ずつ測定値を読出し（リ）て、測定値がＢ
以下になったか（ヌ）、極小が検出されたか（ル）を順
次点検し、（ヌ）のステップで測定値がＢ以下に下がっ
たら、これは第２図ｃの場合で、動作はＸに行き、（Ｘ
−イ）のステップでIa−Io＞W2ならば（Ia−W2）＝Icを
求め（Ｘ−ロ）、ピークＰを真のピークとして、Icを立
上り点,Iaをピーク中心、Ａをピーク強度として登録
（Ｘ−ハ）して動作は（ヘ）のステップに戻って次のピ
ークの検出を行い、（Ｘ−イ）のステップがNOの場合は
ピークＰを真のピークとしてIoをピーク立上り、Iaをピ
ーク中心,Aをピーク強度として登録して動作は（ヘ）の
ステップに戻って次のピーク検出を行う。（ル）のステ
ップがYESになったら、これは第１図a,bの場合で動作は
Ｙに行き、（Ｙ−イ）のステップで極小値がA/2より大
なるときは第１図ａの場合であり、（チ）のステップの
Ia,aお記憶を消し、動作は（ヘ）のステップに戻る。
（Ｙ−イ）のステップがNOの場合、一点ずつデータを読
出し（Ｙ−ロ）、極小からの読出し点数が幅W1相当を過
ぎたかチェック（Ｙ−ハ）し、NOなら測定値がＡ以上か
調べ（Ｙ−ニ）、NOなら読出したデータが極大か調べ
（Ｙ−ホ）、ステップ（Ｙ−ハ）がYESになったら第２
図ｅの場合で、動作はＸへ行き、（Ｙ−ニ）のステップ
がYESになった場合は、第２図ｄの場合で、（チ）のス
テップのIa,Aの記憶を消し、Ibを立上り点として動作は
（ヘ）に戻る。（Ｙ−ホ）のステップがYESになるのは
第２図ｆの場合で、動作は（リ）に戻る。そして以後極
小なしにＢ以下になるときは（ヌ）からＸ−イに行き、
これまでの所で先の（チ）で記憶されたピークＰのIa,A
のデータはそのまゝであるので、Ｘ−ニのステップでピ
ークＰのデータIo,Ia,Aが登録される。またＢまで下が
る前に再び上昇に転じたときは（ル）からＹ−イへ行き
Ｙ−ロからＹ−ホの間を循環して何時かはＹ−ハ或はＹ
−ニよりこの循環を脱出する。Ｙ−ハからＸ−イへ行っ
たときはピークＰのデータが登録され、次のピーク判定
の（ヘ）へ行き、Ｙ−ニから（ヘ）に行く場合はW1を過
ぎていないので、これは第２図のｄの場合となりＰはノ
イズと判定されることになる。何れにしてもｆの場合の
小ピークはノイズとなるのである。
上述実施例でW2はピークの立上り点を決定するのに用い
られるパラメータで、第１図a,第２図ｄの場合始めに測
定値がレベルＢを超えた点Ioをピーク立上りとすること
はできないので、ピーク中心から遡ってW2の点をピーク
立上りとするのである。従ってW2はピークの幅の1/2に
設定しておく。四重極型質量分析計による質量スペクト
ルではピーク幅は質量によらず一定なので、W2は一定値
である。ピーク幅がピーク位置とか強度によって変化す
る場合、位置とか強度の関数としてW2を設定しておく。
W1は測定値が極大を超えたとき、その極大が真のピーク
か否かを検討するのに用いられるもので、これは大きく
設定しておくと、ピークをノイズと判定する場合が増
し、小さく設定すると、真のピークと判定する場合が増
すが、W2より稍小さく設定しておくのが適当である。
られるパラメータで、第１図a,第２図ｄの場合始めに測
定値がレベルＢを超えた点Ioをピーク立上りとすること
はできないので、ピーク中心から遡ってW2の点をピーク
立上りとするのである。従ってW2はピークの幅の1/2に
設定しておく。四重極型質量分析計による質量スペクト
ルではピーク幅は質量によらず一定なので、W2は一定値
である。ピーク幅がピーク位置とか強度によって変化す
る場合、位置とか強度の関数としてW2を設定しておく。
W1は測定値が極大を超えたとき、その極大が真のピーク
か否かを検討するのに用いられるもので、これは大きく
設定しておくと、ピークをノイズと判定する場合が増
し、小さく設定すると、真のピークと判定する場合が増
すが、W2より稍小さく設定しておくのが適当である。
（発明の効果） 本発明は単なる極大値検出だけでピークを検出するので
はなく、ピークの立下り側の測定値の変化形態によって
検出された極大値が真のピークかノイズかを検討して真
のピークか否か判定するので、信頼性の高いスペクトル
データが得られ、ピーク強度だけでなく、ピーク立上り
点も決めているので、ピーク面積を求めることにより更
にスペクトルデータの信頼性を上げることができる。
はなく、ピークの立下り側の測定値の変化形態によって
検出された極大値が真のピークかノイズかを検討して真
のピークか否か判定するので、信頼性の高いスペクトル
データが得られ、ピーク強度だけでなく、ピーク立上り
点も決めているので、ピーク面積を求めることにより更
にスペクトルデータの信頼性を上げることができる。
第１図は本発明を説明するグラフ、第２図も本発明を説
明するグラフ、第３図は本発明の一実施例の動作のフロ
ーチャートである。
明するグラフ、第３図は本発明の一実施例の動作のフロ
ーチャートである。
Claims (1)
- 【請求項１】予めピーク立上り検出レベルＢおよび、ピ
ーク幅に関する定数W1を設定しておき、ピーク検出を行
って一つのピークが検出されたとき、そのピークの立下
り側において、測定値が単調に上記設定レベルＢ以下に
下ったときは上記ピークを真のピークとし、レベルＢま
で下がらないうちに極小を経過したときは、その極小値
が上記ピークの所定分の１以上のレベルであるとき、お
よび上記極小値が上記ピークの所定分の１以下のレベル
にあって、その極小値の位置からピーク幅方向に上記W1
以上離れる前に上記ピークに所定係数を掛けた値以上に
なるときは上記ピークを真のピークとせず、上記極小の
レベルが上記ピークの上記所定分の１以下のレベルでか
つ上記W1以上離れる前に上記ピークに上記所定係数を掛
けた値を超えることがない場合上記ピークを真のピーク
とすることを特徴とするスペクトル測定データ処理方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2262256A JPH07117457B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | スペクトル測定データ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2262256A JPH07117457B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | スペクトル測定データ処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04138327A JPH04138327A (ja) | 1992-05-12 |
| JPH07117457B2 true JPH07117457B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=17373254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2262256A Expired - Fee Related JPH07117457B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | スペクトル測定データ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07117457B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4773028B2 (ja) * | 2000-04-04 | 2011-09-14 | ローズマウント インコーポレイテッド | マイクロ波レベル送信機の近接物質界面検出方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3842630B2 (ja) * | 2001-11-30 | 2006-11-08 | ギガフォトン株式会社 | 波長検出装置及びそれを用いたレーザ装置 |
| JP5121415B2 (ja) * | 2007-11-20 | 2013-01-16 | 日本電信電話株式会社 | スペクトル解析方法、及び、プログラム |
| JP5132420B2 (ja) * | 2008-05-20 | 2013-01-30 | 第一高周波工業株式会社 | Ｆｂｇ光スペクトラム解析装置 |
| JP7533382B2 (ja) * | 2021-06-30 | 2024-08-14 | 横河電機株式会社 | スペクトル解析装置、スペクトル解析方法、及びスペクトル解析プログラム |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP2262256A patent/JPH07117457B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4773028B2 (ja) * | 2000-04-04 | 2011-09-14 | ローズマウント インコーポレイテッド | マイクロ波レベル送信機の近接物質界面検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04138327A (ja) | 1992-05-12 |
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