JPH04138327A - スペクトル測定データ処理方法 - Google Patents

スペクトル測定データ処理方法

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JPH04138327A
JPH04138327A JP2262256A JP26225690A JPH04138327A JP H04138327 A JPH04138327 A JP H04138327A JP 2262256 A JP2262256 A JP 2262256A JP 26225690 A JP26225690 A JP 26225690A JP H04138327 A JPH04138327 A JP H04138327A
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Shigetoshi Harada
茂稔 原田
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  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は質量分析0分光分析等で得られたスペクトルデ
ータからピークを検出する方法に関する。
(従来の技術) 質量分析、X線分光分析2発光分光分析等では、質量ス
ペクトルとか特性X線スペクトル、輝線スペクトル等で
ピーク位置は予め決まっているので、測定されたスペク
トルデータから、その位置にピークがあるかないか、あ
ればそのピークの強さは回加と云うことがデータ処理の
内容となる。
従来、測定されたスペクトルデータからピークの有無を
検索するには、予めピーク位置の表を作っておき、実測
データ上でそのピーク位置を中心とする適当な質量幅或
は波長範囲を設定して、その範囲内で測定値の最大値を
求めると云う方法を用いていた。
しかしこのような従来方法では、設定した範囲内に最大
値があればピーク有りとして、その最大値をピーク強度
とするので、単なるノイズをピークと誤認したり、この
ような誤認を避けるため設定範囲をせまくすると、ピー
ク位置がずれた場合、ピークが検出されなかったり、ピ
ーク強度を実際より低く認定したりすると云う問題があ
った。
(発明が解決しようとする課題) 本発明は上述した従来のピーク検出方法の問題点を解消
しようとするものである。
(課題を解決するための手段) 予めピーク立上り検出レベルBおよび、ピーク@1こ関
する定数W1を設定しておきピーク検出を行って一つの
ピークが検出されたとき、そのピークの立下り側におい
て、測だ値が単調に上記設定レベルB以下に下がったと
きは上記ピークを真のピークとし、レベルBまで下がら
ないうちに極小を経過したときは、その極小値が」上記
ピークの所定分の1以上のレベルであるとき、および上
記極小値の位置からピーク幅方向に上記W1以上離れる
前に上記ピークに所定係数を掛けた値以上になるときは
上記ピークを真のピークとしないことにした。
(作用) 本発明の特徴はピークが検出されたとき、その立下り側
の測定値の変化の仕方のパターンによって検出されたピ
ークが真のピークか真のピークに乗ったノイズピークか
を判定するものである。
立下り側で単調にピークの立上り検出レベルB以下に下
がるときはピークは真のピークとする。
ピーク通過後Bまで下がらないうちに極小値を経過する
、つまり測定値がピーク通過後また直ぐに上昇に転じた
とき、検出されたピークが真のピークかノイズかを次の
ようにして検査するのである。測定値が検出されたピー
クの所定数分の−例えば1/2以下にならないうちに上
昇するような場合はノイズビークとする。検出されたピ
ークの高さの1/2以下に下がった所で上昇に転する場
合を二つに分けて、極小通過後所定幅内で先に検出され
たピークに適宜係数例えば1を掛けた値以上になるとき
は検出されたピークの後に真のピークがある筈であり、
先に検出されたピークをノイズとする。その伯の場合は
検出されたピークを真のピークとするのである。この方
法では検出されたピークの立下りを調べているが、これ
は次のピークの立上りを調べているのと同じで、真のピ
ークの立上り側に乗っているノイズビークを排除てきる
と共に立下り側のノイズも排除できることになる。
(実施例) まず予め3つのパラメータB、Wl、W2を設定してお
(。第1図に示すように、Bは測定値がその値を超えた
点を仮のピーク立上り点roとするピーク立上り判別闇
値である。W2はピークの立上りからピーク中心までの
幅を表わす値である。Wlもピーク幅を表わす値である
が、Wl。
W2の使い分けは後述する。第1図でピークPの中心位
置をIa、中心におけるピーク高さを八とすると、仮の
ピーク立上り点rOからIaまでの距離(Ia−1o)
がW2より大なる場合、l5W2=Icをピーク立上り
点とし、(Ia−10)<W2ならIoをピーク立上り
点とする。
従ってW’2はピークの立上り点から立下り点までの幅
の1/2に設定しておく。このようにしてビ−クの立上
りからピーク中心までが一応検出されたが、本発明はこ
\で直ちにピークPを真のピークとしないでピークの立
下り側を検査して、Pが真のピークか否か判別する所に
特徴がある。
ピークの立上りtoが検出され、測定値の極大値Aが検
出されると、その後測定値は低下するが、その下がり方
は第1図にa、b、cで示す3通りがある。まずピーク
中心1a通過後測定値が単調にBのレベル以下に下がる
Cの場合で、この場合Pは一つのピークでIaがその中
心位置と判定される。aはピーク中心を過ぎた後、測定
出力が一つの識別レベル例えばA/′2より下がらずに
再び上昇する場合で、この場合Pはノイズビークとして
、Iaより以後の所で極大を探す。みして極大ViDが
見出されれば、このDに関して上述した所と同じことを
繰り返す。即ち極大値りの位置IdからW2の幅をとっ
てIc’をピークDの立上り点とする。測定値が極大値
Aを過ぎた後、識別レベルA/2より下がり、しかもレ
ベルBに達する前に再び増加に転じたbの場合、以下の
判定動作によって、パラメータW1を使ってPをピーク
とするかノイズとするか判定する。
上述したbの場合は更に3つの場合に分けられる。第2
図にその3つの場合を示す。bの場合レベルBより上に
極小点Cが存在する。fi小小点0置置rbとする。t
bを起点として幅W1を設定し、W1以内に測定値が極
大値Aを超ずdの場合、Pをピークとみなさず、更に極
大値Eを検出し、先のaの場合と同様の処理をする。幅
W1の範囲内で極大値がなく、Aの値も超えないeの場
合、Pを独立のピークとする。eの場合で、更に極大値
の検出を続けて極大値Fを検出したときは、そのピーク
について」二連した所と同じ動作でFが真のピークか否
か判定する。極小値Cを過ぎた後、測定値がWlの範囲
でA/2より低いピークを示したfの場合、もちろんP
は真のピークと判定され、再び極小値があるか、そのま
\BB以下なるか調べる。
以上を整理すると、第1図のピークPが真のピークと判
定されるのは、第1図のCの場合、bの場合における第
2図efの場合で、第1図aおよびbの場合のdではP
はピークとみなさない。第3図は以上の動作をフローチ
ャートで示したものである。
パラメータWl、W、2.Bを設定(イ)し、測定を開
始、一定間隔で測定値をサンプリングしメモリに取込み
(ロ)、測定が終了したらピーク検索動作に移る。まず
測定データを端から順に一点ずつ読出しくハ)、測定値
がBを超えたか判定(ニ)シ、超えたらそのときのサン
プリング点IOを仮の立上り点としくホ)、更に一点ず
つ読出しを続け(へ)、極大を探しくト)、極大値が検
出されたらそのときのサンプリング位置1aと極大値A
を記憶しくヂ)、−点ずつ測定値を読出しくす)で、測
定値がB以下になったか(ヌ)、極小が検出されたか(
ル)を順次点検し、(ヌ)のステップで測定値がB以下
に下がったら、これは第2図Cの場合で、動作はXに行
き、(X−イ)のステップでIa−1o>W2ならば(
Ia−W2)−1cを求め(X−口)、ピークPを真の
ビ一りとして、ICを立上り点、Iaをピーク中心、A
をピーク強度として登録(X−ハ)して動作は(へ)の
ステップに戻って次のピークの検出を行い、(X−イ)
のステップがNoの場合はピークPを真のピークとして
Ioをピーク立上り、Iaをピーク中心、八をピーク強
度として登録して動作は(へ)のステップに戻って次の
ピーク検出を行う。(ル)のステップがYESになった
ら、これは第1図a、))の場合で動作はYに行き、(
Y−イ)のステップで極小値がΔ/2より大なるときは
第1図aの場合であり、(ヂ)のステップのIa、Aの
記憶を消し、動作は(へ)のステップに戻る。(Y−イ
)のステップがNoの場合、−点ずつデータを読出しく
Y−口)、極小からの読出し点数が輻W1相当を過ぎた
かヂエック〈Y−ハ)し、Noなら測定値がA以上か調
べ(Y−二)、NOなら読出したデータが極大か調べ(
Y−ホ)、ステップ(Y−ハ)がYESになったら第2
図eの場合で、動作はXへ行き、(Y−二)のステップ
がYESになった場合は、第2図dの場合で、(チ)の
ステップのI a 、Aの記憶を消し、Ibを立上り点
として動作は(へ〉に戻る。(Y−ホ)のステップがY
ESになるのは第2図fの場合で、動作は(す)に戻る
。
上述実施例でW2はピークの立」ユリ点を決定するのに
用いられるパラメータで、第1図a、第2図dの場合始
めに測定値がレベルBを超えた点IOをピーク立上りと
することはできないので、ピーク中心から遡ってW2の
点をピーク立上りとするのである。従ってW2はピーク
の幅のl 、、、/ 2に設定しておく。四重桶型質量
分析計による質量スペクトルではピーク幅は質量によら
ず一定なので、W2は一定値である。ピーク幅がピーク
位置とか強度によって変化する場合、位置とか強度の関
数としてW2を設定しておく。Wlは測定値が極大を超
えたとき、その極大が真のピークか否かを検討するのに
用いられるもので、これは大きく設定してお(と、ピー
クをノイズと判定する場合が増し、小さく設定すると、
真のピークと判定する場合が増すが、W2より稍小さく
設定しておくのが適当である。
(発明の効果) 本発明は単なる極大値検出だけでピークを検出するので
はなく、ピークの立下り側の測定値の変化形態によって
検出された極大値が真のピークかノイズかを検討して真
のピークか否か判定するので、信頼性の高いスペクトル
データが得られ、ピーク強度だけでな(、ピーク立上り
点も決めているので、ピーク面積を求めることにより更
にスペクトルデータの信頼性を」−げることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を説明するグラフ、第2図も本発明を説
明するグラフ、第3図は本発明の一実施例の動作のフロ
ーヂャ−1・である。 代理人  弁理士 縣  浩 介 ■

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 予めピーク立上り検出レベルBおよび、ピーク幅に関す
    る定数W1を設定しておき、ピーク検出を行って一つの
    ピークが検出されたとき、そのピークの立下り側におい
    て、測定値が単調に上記設定レベルB以下に下ったとき
    は上記ピークを真のピークとし、レベルBまで下がらな
    いうちに極小を経過したときは、その極小値が上記ピー
    クの所定分の1以上のレベルであるとき、および上記極
    小値の位置からピーク幅方向に上記W1以上離れる前に
    上記ピークに所定係数を掛けた値以上になるときは上記
    ピークを真のピークとしないことを特徴とするスペクト
    ル測定データ処理方法。
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JP2009128035A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> スペクトル解析方法、及び、プログラム
JP2009281792A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Dai Ichi High Frequency Co Ltd Fbg光スペクトラム解析装置
JP2023006381A (ja) * 2021-06-30 2023-01-18 横河電機株式会社 スペクトル解析装置、スペクトル解析方法、及びスペクトル解析プログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003166881A (ja) * 2001-11-30 2003-06-13 Gigaphoton Inc 波長検出装置及びそれを用いたレーザ装置
JP2009128035A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> スペクトル解析方法、及び、プログラム
JP2009281792A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Dai Ichi High Frequency Co Ltd Fbg光スペクトラム解析装置
JP2023006381A (ja) * 2021-06-30 2023-01-18 横河電機株式会社 スペクトル解析装置、スペクトル解析方法、及びスペクトル解析プログラム

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