JPH071195B2 - 校正分銅内蔵形電子天びん - Google Patents
校正分銅内蔵形電子天びんInfo
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- JPH071195B2 JPH071195B2 JP1344758A JP34475889A JPH071195B2 JP H071195 B2 JPH071195 B2 JP H071195B2 JP 1344758 A JP1344758 A JP 1344758A JP 34475889 A JP34475889 A JP 34475889A JP H071195 B2 JPH071195 B2 JP H071195B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は校正用の分銅を内蔵した電子天びんに関する。
＜従来の技術＞ 校正用分銅を内蔵した電子天びんに関して、本出願人は
既に、例えばひょう量300g等の天びんにおいて質量を30
0.0000g等に精密に質量調整が行われた分銅を用いず、
任意の質量のいわゆる粗調整された分銅を内蔵分銅とし
て、その質量をメモリに記憶しておくことによって、演
算により正確に校正できるようにした電子天びんを提案
している（特開昭60−13224号，特願平１−226480
号）。
既に、例えばひょう量300g等の天びんにおいて質量を30
0.0000g等に精密に質量調整が行われた分銅を用いず、
任意の質量のいわゆる粗調整された分銅を内蔵分銅とし
て、その質量をメモリに記憶しておくことによって、演
算により正確に校正できるようにした電子天びんを提案
している（特開昭60−13224号，特願平１−226480
号）。
また、このような粗分銅を内蔵分銅として採用した場合
に、その内蔵分銅を負荷したときにはあたかも精密に調
整された分銅を負荷した場合と同じ表示を行うように校
正した電子天びんについての提案も行っている（実開昭
63−193329号）。
に、その内蔵分銅を負荷したときにはあたかも精密に調
整された分銅を負荷した場合と同じ表示を行うように校
正した電子天びんについての提案も行っている（実開昭
63−193329号）。
＜発明が解決しようとする課題＞ ところで、内蔵分銅として、正確に質量調整をしてな
く、しかも天びんひょう量と大幅に異なる質量（例えば
ひょう量の1/2とか1/3等）の分銅を用い、上記の特開昭
60−13224号および実開昭63−193329号等の技術を用い
て、校正時にあたかも正確な分銅を用いている場合と同
じ表示を行うように構成した場合、その状態における天
びんの表示の感度は、一時的に、例えば実際の２倍〜３
倍等になっており、そのままの状態で誤って試料の測定
等を行った場合には、非常に大きな測定誤差が生じると
いう問題がある。
く、しかも天びんひょう量と大幅に異なる質量（例えば
ひょう量の1/2とか1/3等）の分銅を用い、上記の特開昭
60−13224号および実開昭63−193329号等の技術を用い
て、校正時にあたかも正確な分銅を用いている場合と同
じ表示を行うように構成した場合、その状態における天
びんの表示の感度は、一時的に、例えば実際の２倍〜３
倍等になっており、そのままの状態で誤って試料の測定
等を行った場合には、非常に大きな測定誤差が生じると
いう問題がある。
この発明はこのような問題を解消するためになされたも
ので、校正用内蔵分銅を天びんひょう量に対して大幅に
軽くした場合でも、校正状態のままで風袋引きするなど
により、引き続いて誤った測定を行ってしまう恐れのな
い電子天びんの提供を目的としている。
ので、校正用内蔵分銅を天びんひょう量に対して大幅に
軽くした場合でも、校正状態のままで風袋引きするなど
により、引き続いて誤った測定を行ってしまう恐れのな
い電子天びんの提供を目的としている。
＜課題を解決するための手段＞ 上記の目的を達成するための構成を、第１図に示す基本
概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、係数メモリ
ａ内の校正係数を用いた換算手段ｂによる演算により、
力検出器ｃからの出力を質量に換算して表示器ｄに表示
するとともに、分銅加除機構ｅにより力検出器ｃに対し
て負荷／離脱自在の校正用内蔵分銅ｆと、その内蔵分銅
ｆの質量W0、もしくはその質量W0の当該天びんのひょう
量に対する比βを記憶する校正質量メモリｇと、内蔵分
銅ｆの負荷時における力検出器ｃの出力と校正質量メモ
リｇの内容から校正係数を算出して係数メモリａの内容
を更新する係数更新手段ｈを備えた天びんにおいて、内
蔵分銅ｆの質量W0を当該天びんのひょう量と異なる値と
するとともに、内蔵分銅ｆの負荷時に、その質量測定結
果と校正質量メモリｇの内容を用いて、当該天びんのひ
ょう量と等しい質量を負荷したときのスパン変化量δを
算出する演算手段ｉと、そのスパン変化量δの算出時
に、その値δとともにスパン変化を表すシンボルを表示
器ｄに表示させる表示制御手段ｊを設けたことによって
特徴付けられる。
概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、係数メモリ
ａ内の校正係数を用いた換算手段ｂによる演算により、
力検出器ｃからの出力を質量に換算して表示器ｄに表示
するとともに、分銅加除機構ｅにより力検出器ｃに対し
て負荷／離脱自在の校正用内蔵分銅ｆと、その内蔵分銅
ｆの質量W0、もしくはその質量W0の当該天びんのひょう
量に対する比βを記憶する校正質量メモリｇと、内蔵分
銅ｆの負荷時における力検出器ｃの出力と校正質量メモ
リｇの内容から校正係数を算出して係数メモリａの内容
を更新する係数更新手段ｈを備えた天びんにおいて、内
蔵分銅ｆの質量W0を当該天びんのひょう量と異なる値と
するとともに、内蔵分銅ｆの負荷時に、その質量測定結
果と校正質量メモリｇの内容を用いて、当該天びんのひ
ょう量と等しい質量を負荷したときのスパン変化量δを
算出する演算手段ｉと、そのスパン変化量δの算出時
に、その値δとともにスパン変化を表すシンボルを表示
器ｄに表示させる表示制御手段ｊを設けたことによって
特徴付けられる。
＜作用＞ スパン校正もしくはスパンチェック時において内蔵分銅
ｆを負荷すると、その分銅質量W0が天びんひょう量と大
幅に相違するものであっても、ひょう量質量を負荷した
場合のスパン変化量δが算出されて表示器ｄに表示され
るが、同時に、その表示がスパン変化を表すものである
旨のシンボルが表示される。
ｆを負荷すると、その分銅質量W0が天びんひょう量と大
幅に相違するものであっても、ひょう量質量を負荷した
場合のスパン変化量δが算出されて表示器ｄに表示され
るが、同時に、その表示がスパン変化を表すものである
旨のシンボルが表示される。
分銅質量W0としてひょう量の1/2等のものを採用してい
れば、スパン変化δの表示状態においては表示感度は大
幅に増加していることになるが、この値δをスパン変化
を表示中である旨のシンボルとともに表示することで、
通常の測定時における表示とは全く相違する表示が行わ
れることになって、誤った測定を行ってしまうことを未
然に防止し得る。
れば、スパン変化δの表示状態においては表示感度は大
幅に増加していることになるが、この値δをスパン変化
を表示中である旨のシンボルとともに表示することで、
通常の測定時における表示とは全く相違する表示が行わ
れることになって、誤った測定を行ってしまうことを未
然に防止し得る。
＜実施例＞ 第２図は本発明実施例の構成図である。
力検出器１は、皿11およびそれに係合する電磁力発生装
置等の力センサ12等から構成されており、皿11に作用す
る力または内蔵分銅２を負荷したときに、対応する電気
信号を発生し、その出力信号は増幅器３およびＡ−Ｄ変
換器４を介して制御部５に採り込まれる。
置等の力センサ12等から構成されており、皿11に作用す
る力または内蔵分銅２を負荷したときに、対応する電気
信号を発生し、その出力信号は増幅器３およびＡ−Ｄ変
換器４を介して制御部５に採り込まれる。
内蔵分銅２は、レバー61とそのレバー61を傾斜させるた
めのカム62等によって構成された分銅加除機構６を介し
て、例えばカム62の軸62aを外部のつまみ（図示せず）
等によって回動させることにより、力検出器１に対して
随時に負荷もしくは、離脱させることができる。この内
蔵分銅２は、粗調整された分銅であるが、その質量W0は
あらかじめ正確に測定されている。
めのカム62等によって構成された分銅加除機構６を介し
て、例えばカム62の軸62aを外部のつまみ（図示せず）
等によって回動させることにより、力検出器１に対して
随時に負荷もしくは、離脱させることができる。この内
蔵分銅２は、粗調整された分銅であるが、その質量W0は
あらかじめ正確に測定されている。
制御部５はマイクロコンピュータを主体として構成され
ており、CPU51,後述するプログラムが書き込まれたR0M5
2,力検出器１からのデジタル変換データを刻々と記憶す
るエリアやワークエリアが設定されたRAM53,上述の内蔵
分銅２の質量W0および後述するスパン係数αを記憶する
ための不揮発性RAM54,および外部機器との信号授受のた
めの入出力ポート55を備えている。
ており、CPU51,後述するプログラムが書き込まれたR0M5
2,力検出器１からのデジタル変換データを刻々と記憶す
るエリアやワークエリアが設定されたRAM53,上述の内蔵
分銅２の質量W0および後述するスパン係数αを記憶する
ための不揮発性RAM54,および外部機器との信号授受のた
めの入出力ポート55を備えている。
この制御部５には、皿11上に載せられた試料の質量測定
値もしくは後述するスパン変化量δおよびスパン変化表
示中である旨のシンボルを表示するための表示器７と、
モード選択スイッチ８が接続されている。このモード選
択スイッチ８の操作により、後述するように通常モー
ド、スパン校正モードおよびスパン確認モードのうち任
意のモードを選択し得るように構成されている。
値もしくは後述するスパン変化量δおよびスパン変化表
示中である旨のシンボルを表示するための表示器７と、
モード選択スイッチ８が接続されている。このモード選
択スイッチ８の操作により、後述するように通常モー
ド、スパン校正モードおよびスパン確認モードのうち任
意のモードを選択し得るように構成されている。
第３図はR0M53に書き込まれたプログラムの内容を示す
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発明実
施例の作用を述べる。
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発明実
施例の作用を述べる。
通常モードが選択されているときには、ST1,ST2を経由
してST3に進み、力検出器１からのデジタル変換データW
X、不揮発性RAM54内のスパン係数α、および風袋質量α
WTとから次の（１）式を用いて計量表示値Ｄを算出し、
表示器７に表示する（ST4）。
してST3に進み、力検出器１からのデジタル変換データW
X、不揮発性RAM54内のスパン係数α、および風袋質量α
WTとから次の（１）式を用いて計量表示値Ｄを算出し、
表示器７に表示する（ST4）。
Ｄ＝αWX−αWT ‥‥（１） この計量表示値Ｄを表示している状態の表示器７を第４
図（ａ）に示す。
図（ａ）に示す。
なお、風袋データWTはRAM53内に記憶されているものと
し、この状態で風袋消去スイッチ（第２図において図示
せず）が操作された場合には、従来の通常の電子天びん
と同様にその状態での力検出データWXを風袋データWTと
してRAM53に記憶する（ST5,ST6）。
し、この状態で風袋消去スイッチ（第２図において図示
せず）が操作された場合には、従来の通常の電子天びん
と同様にその状態での力検出データWXを風袋データWTと
してRAM53に記憶する（ST5,ST6）。
モード選択スイッチ８により校正モードを選択すると、
ST1からST7へと進んでフラグを立てた後、まず、無負荷
状態での力検出器１の出力のデジタル変換データWTを採
り込んで記憶する（ST8）。
ST1からST7へと進んでフラグを立てた後、まず、無負荷
状態での力検出器１の出力のデジタル変換データWTを採
り込んで記憶する（ST8）。
次にカム62を手動（または電動）により回転させてレバ
ー61を下ろし、内蔵分銅２を負荷状態にすると、ST2を
経由してST9を経てST10へと進み、その負荷状態での力
検出データWRをRAM53内に記憶する。そして、そのデー
タWRと無負荷状態でのデータWT、および不揮発性RAM54
内の分銅質量値W0を用いて、次の（２）式から校正係数
αを算出し、不揮発性RAM54内に記憶しているαを更新
する（ST11）。
ー61を下ろし、内蔵分銅２を負荷状態にすると、ST2を
経由してST9を経てST10へと進み、その負荷状態での力
検出データWRをRAM53内に記憶する。そして、そのデー
タWRと無負荷状態でのデータWT、および不揮発性RAM54
内の分銅質量値W0を用いて、次の（２）式から校正係数
αを算出し、不揮発性RAM54内に記憶しているαを更新
する（ST11）。
そして、この天びんのひょう量もしくはひょう量に近い
基準となる質量値Ｈ（以下、ひょう量基準値Ｈと称す
る）と、校正分銅質量W0との比β、 β＝H/W0 ‥‥（３） を用いて、下記に示す（４）式から、ひょう量基準値Ｈ
と等しい質量の分銅を負荷した場合のスパン変化量δを
算出する（ST12）。
基準となる質量値Ｈ（以下、ひょう量基準値Ｈと称す
る）と、校正分銅質量W0との比β、 β＝H/W0 ‥‥（３） を用いて、下記に示す（４）式から、ひょう量基準値Ｈ
と等しい質量の分銅を負荷した場合のスパン変化量δを
算出する（ST12）。
δ＝βα（WR−WT）−Ｈ ‥‥（４） なお、βはあらかじめ不揮発性RAM54内に記憶しておい
てもよいし、あるいはスパン校正ごとに算出してもよ
い。βを不揮発性RAM54に記憶する場合には、ひょう量
基準値Ｈは一定であるので分銅質量W0は特に記憶してお
く必要はない。
てもよいし、あるいはスパン校正ごとに算出してもよ
い。βを不揮発性RAM54に記憶する場合には、ひょう量
基準値Ｈは一定であるので分銅質量W0は特に記憶してお
く必要はない。
さて、このスパン校正時におけるδは、スパン係数αが
更新された直後であるので0.000gとなるはずである。す
なわち、例えばこの天びんのひょう量が340.000gとして
ひょう量基準値Ｈを300.000gと設定しているとし、内蔵
分銅質量W0を98.000gとしたとき、WR−WTが112000カウ
ントであったとすると、スパン係数αは8.75×10-4、β
≒3.06122となるが、この時にはδ≒0.000gとなる。
更新された直後であるので0.000gとなるはずである。す
なわち、例えばこの天びんのひょう量が340.000gとして
ひょう量基準値Ｈを300.000gと設定しているとし、内蔵
分銅質量W0を98.000gとしたとき、WR−WTが112000カウ
ントであったとすると、スパン係数αは8.75×10-4、β
≒3.06122となるが、この時にはδ≒0.000gとなる。
そして、このスパン変化量δを算出した後、ST13でフラ
グを倒し、ST15以下へと進んでこのスパン変化量δを表
示器７に表示するわけであるが、このとき表示器７に
は、δの値とともにスパン変化量を表示している旨のシ
ンボル、例えば“SPAN"を併せて表示する（ST16）。こ
の表示状態を第４図（ｂ）に示す。この表示により、オ
ペレータはスパンが正しく校正されたことを知る。
グを倒し、ST15以下へと進んでこのスパン変化量δを表
示器７に表示するわけであるが、このとき表示器７に
は、δの値とともにスパン変化量を表示している旨のシ
ンボル、例えば“SPAN"を併せて表示する（ST16）。こ
の表示状態を第４図（ｂ）に示す。この表示により、オ
ペレータはスパンが正しく校正されたことを知る。
スパン確認を行う場合には、モード選択スイッチ８でス
パン確認モードを選択し、内蔵分銅２を負荷する。
パン確認モードを選択し、内蔵分銅２を負荷する。
この場合、ST1〜ST2〜ST9からST14へと進み、このST14
において力検出データWR、風袋データWTと不揮発性RAM5
4内のスパン係数αおよびβから、前記した（４）式を
用いてスパン変化量δを算出する。スパン変化があると
δの値は0.000gにはならない。そして、そのδの大きさ
はST15においてあらかじめ設定されている許容値と比較
され、許容値の範囲内である場合にはST16へと進んで第
４図（ｃ）に示すようにシンボル“SPAN"とともにδの
値が表示器７に表示される。
において力検出データWR、風袋データWTと不揮発性RAM5
4内のスパン係数αおよびβから、前記した（４）式を
用いてスパン変化量δを算出する。スパン変化があると
δの値は0.000gにはならない。そして、そのδの大きさ
はST15においてあらかじめ設定されている許容値と比較
され、許容値の範囲内である場合にはST16へと進んで第
４図（ｃ）に示すようにシンボル“SPAN"とともにδの
値が表示器７に表示される。
この表示により、ひょう量基準値300gに対して98g等と
大幅に小さいものを内蔵分銅２として使用していても、
あたかも300gの分銅を用いてスパン確認をしているのと
同じスパン誤差を表示できることになり、この表示か
ら、使用目的や必要精度に応じて、δの値に照らしてス
パン校正の要否の判定を行うことができる。なお、通常
の電子天びんではひょう量基準値300gと同じ質量の内蔵
分銅を使用し、例えば299.997g等と表示している。
大幅に小さいものを内蔵分銅２として使用していても、
あたかも300gの分銅を用いてスパン確認をしているのと
同じスパン誤差を表示できることになり、この表示か
ら、使用目的や必要精度に応じて、δの値に照らしてス
パン校正の要否の判定を行うことができる。なお、通常
の電子天びんではひょう量基準値300gと同じ質量の内蔵
分銅を使用し、例えば299.997g等と表示している。
このスパン確認時もしくはスパン校正時において、ST15
でδの値が例えば0.010g以上等のようにあらかじめ設定
された許容値以上である場合には、安全のためにST17へ
と進んでδの値に変えて例えば第４図（ｄ）に示すよう
な表示を行う。
でδの値が例えば0.010g以上等のようにあらかじめ設定
された許容値以上である場合には、安全のためにST17へ
と進んでδの値に変えて例えば第４図（ｄ）に示すよう
な表示を行う。
以上のような本発明実施例によれば、内蔵分銅２を負荷
してスパン変化量δを表示している状態においては、表
示器７にそのδの値と“SPAN"の表示とが併せて行わ
れ、通常の測定状態での表示とは全く異なる表示態様に
なるので、そのままの状態で間違って試料を測定するこ
とがない。また、ST15を設けてδの値がある程度以上に
大きくなると、その値を表示しないようにすると、より
効果的に間違いを防止することができる。
してスパン変化量δを表示している状態においては、表
示器７にそのδの値と“SPAN"の表示とが併せて行わ
れ、通常の測定状態での表示とは全く異なる表示態様に
なるので、そのままの状態で間違って試料を測定するこ
とがない。また、ST15を設けてδの値がある程度以上に
大きくなると、その値を表示しないようにすると、より
効果的に間違いを防止することができる。
また、δの表示状態においては、シンボルを併せて表示
するとともに、δの値をホールドして皿11上に荷重が作
用しても表示値を変化させないようにしてもよく、この
場合には、オペレータはシンボルを見落として試料を載
せても表示値が変化しないことからその間違いに気付く
とともに、このときにシンボルが表示されていることに
よって故障ではないことに気付くはずである。
するとともに、δの値をホールドして皿11上に荷重が作
用しても表示値を変化させないようにしてもよく、この
場合には、オペレータはシンボルを見落として試料を載
せても表示値が変化しないことからその間違いに気付く
とともに、このときにシンボルが表示されていることに
よって故障ではないことに気付くはずである。
ここで、シンボルとしては“SPAN"の他にδが表示され
ていることが明確に判明するものであれば任意のものを
採用し得ることは勿論である。
ていることが明確に判明するものであれば任意のものを
採用し得ることは勿論である。
なお、内蔵分銅２の質量W0もしくはβを不揮発性RAM54
に格納する方法として、天びん自体が第５図に示すフロ
ーチャートを持つことによって、この天びん自体がその
質量W0を測定して記憶することができる。
に格納する方法として、天びん自体が第５図に示すフロ
ーチャートを持つことによって、この天びん自体がその
質量W0を測定して記憶することができる。
すなわち、まず正確に質量が測定された外部分銅を用意
し、これを皿11上に載せる（ST101）。この時の力検出
データＷと無負荷時のデータWT、およびひょう量基準値
Ｈとからスパン係数αを、 α＝H/（Ｗ−WT） ‥‥（５） によって算出する（ST102）。
し、これを皿11上に載せる（ST101）。この時の力検出
データＷと無負荷時のデータWT、およびひょう量基準値
Ｈとからスパン係数αを、 α＝H/（Ｗ−WT） ‥‥（５） によって算出する（ST102）。
次に外部分銅を降ろし、内蔵分銅２を負荷する（ST10
3）。このときのデータをWRとすると、 W0＝（WR−WT） ‥‥（６） もしくは、 β＝（Ｗ−WT）／（WR−WT） ‥‥（７） の演算を行い（ST104）、W0もしくはβを不揮発性RAM54
に格納する（ST104）。
3）。このときのデータをWRとすると、 W0＝（WR−WT） ‥‥（６） もしくは、 β＝（Ｗ−WT）／（WR−WT） ‥‥（７） の演算を行い（ST104）、W0もしくはβを不揮発性RAM54
に格納する（ST104）。
なお、このW0もしくはβは別途測定してその測定値のみ
を不揮発性RAM54に書き込んでもよい。
を不揮発性RAM54に書き込んでもよい。
＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、内蔵分銅の質量
もしくはその質量の当該天びんのひょう量に対する比を
記憶する校正質量メモリと、内蔵分銅負荷時における力
検出器出力と校正質量メモリの内容から校正係数を算出
更新する機能を持つ天びんにおいて、内蔵分銅の質量を
当該天びんのひょう量と異なる値とするとともに、内蔵
分銅の負荷時に、その質量測定結果と校正質量メモリの
内容を用いて、当該天びんのひょう量と等しい質量を負
荷したときのスパン変化量δを算出する演算手段に加
え、そのスパン変化量δの算出時に、その値δとともに
当該値がスパン変化量を表すものである旨のシンボルを
表示器に表示させる表示制御手段を設けているから、天
びんひょう量よりも大幅に軽い低コストの内蔵分銅を使
用しても、スパンチェック時もしくはスパン校正時に、
あたかもひょう量と同等の質量を持つ内蔵分銅を使用し
ている場合と同様のスパン変化量δの表示が可能となっ
て、スパンチェックの結果が明確に報知されて判りやす
くなるばかりでなく、そのδの値は、当該表示値がスパ
ン変化量を示す表示である旨のシンボルとともに表示器
に表示されるから、スパンチェック時およびスパン校正
状態のままで、これを忘れて風袋引きするなど、引き続
いて誤った測定を行ってしまう恐れがなくなる。
もしくはその質量の当該天びんのひょう量に対する比を
記憶する校正質量メモリと、内蔵分銅負荷時における力
検出器出力と校正質量メモリの内容から校正係数を算出
更新する機能を持つ天びんにおいて、内蔵分銅の質量を
当該天びんのひょう量と異なる値とするとともに、内蔵
分銅の負荷時に、その質量測定結果と校正質量メモリの
内容を用いて、当該天びんのひょう量と等しい質量を負
荷したときのスパン変化量δを算出する演算手段に加
え、そのスパン変化量δの算出時に、その値δとともに
当該値がスパン変化量を表すものである旨のシンボルを
表示器に表示させる表示制御手段を設けているから、天
びんひょう量よりも大幅に軽い低コストの内蔵分銅を使
用しても、スパンチェック時もしくはスパン校正時に、
あたかもひょう量と同等の質量を持つ内蔵分銅を使用し
ている場合と同様のスパン変化量δの表示が可能となっ
て、スパンチェックの結果が明確に報知されて判りやす
くなるばかりでなく、そのδの値は、当該表示値がスパ
ン変化量を示す表示である旨のシンボルとともに表示器
に表示されるから、スパンチェック時およびスパン校正
状態のままで、これを忘れて風袋引きするなど、引き続
いて誤った測定を行ってしまう恐れがなくなる。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、第２図は本発
明実施例の構成図、第３図はそのR0M52に書き込まれた
プログラムの内容を示すフローチャート、第４図はその
表示器７の各表示態様例の説明図、第５図は内蔵分銅質
量W0もしくはその質量の天びんひょう量に対する比βを
求めるためのプログラムの例を示すフローチャートであ
る。 １……力検出器 11……皿 12……力センサ ２……内蔵分銅 ５……マイクロコンピュータ 51……CPU 52……R0M 53……RAM 54……不揮発性RAM ６……分銅加除機構 ７……表示器 ８……モード選択スイッチ
明実施例の構成図、第３図はそのR0M52に書き込まれた
プログラムの内容を示すフローチャート、第４図はその
表示器７の各表示態様例の説明図、第５図は内蔵分銅質
量W0もしくはその質量の天びんひょう量に対する比βを
求めるためのプログラムの例を示すフローチャートであ
る。 １……力検出器 11……皿 12……力センサ ２……内蔵分銅 ５……マイクロコンピュータ 51……CPU 52……R0M 53……RAM 54……不揮発性RAM ６……分銅加除機構 ７……表示器 ８……モード選択スイッチ
Claims (1)
- 【請求項１】係数メモリ内の校正係数を用いた換算手段
による演算により、力検出器からの出力を質量に換算し
て表示器に表示するとともに、分銅加除機構により上記
力検出器に対して負荷／離脱自在の校正用内蔵分銅と、
その内蔵分銅の質量W0、もしくはその質量W0の当該天び
んのひょう量に対する比βを記憶する校正質量メモリ
と、上記内蔵分銅負荷時における上記力検出器の出力と
上記校正質量メモリの内容から校正係数を算出して上記
係数メモリの内容を更新する係数更新手段を備えた天び
んにおいて、上記内蔵分銅の質量W0を当該天びんのひょ
う量と異なる値とするとともに、上記内蔵分銅負荷時
に、その質量測定結果と上記校正質量メモリの内容を用
いて、当該天びんのひょう量と等しい質量を負荷したと
きのスパン変化量δを算出する演算手段と、そのスパン
変化量δの算出時に、その値δとともにスパン変化を表
すシンボルを上記表示器に表示させる表示制御手段を設
けたことを特徴とする、校正分銅内蔵形電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1344758A JPH071195B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 校正分銅内蔵形電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1344758A JPH071195B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 校正分銅内蔵形電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03205518A JPH03205518A (ja) | 1991-09-09 |
| JPH071195B2 true JPH071195B2 (ja) | 1995-01-11 |
Family
ID=18371750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1344758A Expired - Lifetime JPH071195B2 (ja) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 校正分銅内蔵形電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH071195B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0812043D0 (en) * | 2008-07-02 | 2008-08-06 | Adam Equipment Co Ltd | Weighing scales |
| WO2021210084A1 (ja) * | 2020-04-15 | 2021-10-21 | 株式会社 エー・アンド・デイ | 傾斜検知方法およびそのための装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0640017B2 (ja) * | 1985-01-30 | 1994-05-25 | 株式会社島津製作所 | 電子天びん |
-
1989
- 1989-12-29 JP JP1344758A patent/JPH071195B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03205518A (ja) | 1991-09-09 |
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Legal Events
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