JPH07120376A - 微粒子測定装置 - Google Patents
微粒子測定装置Info
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- JPH07120376A JPH07120376A JP5268910A JP26891093A JPH07120376A JP H07120376 A JPH07120376 A JP H07120376A JP 5268910 A JP5268910 A JP 5268910A JP 26891093 A JP26891093 A JP 26891093A JP H07120376 A JPH07120376 A JP H07120376A
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- Japan
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- light
- sample
- wavelength
- measuring
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 吸収する光の波長が種々異なる、不透明溶液
状の測定試料に含まれている微粒子の粒径、粒子数を、
常に精度良く測定する。 【構成】 異物微粒子測定装置10の試料流路5には、
波長が固定された測定光を発生する複数の測定ユニット
8,8…が設けられている。これらのユニットから照射
される測定光の波長は互いに異なるように設定される。
又、上記試料流路5には、当該測定試料1が吸収する光
の波長を検出する吸光光度計7が設置されている。光度
計7による検出波長、及び測定ユニット8,8…による
測定結果は、システム制御部6に送られる。制御部6
は、測定ユニットからの、複数の測定光の波長と、上記
検出波長とを比較し、当該試料1に適した測定光を発生
する測定ユニット8を選択し、斯く選択したユニットに
よる測定結果のみを用いて、試料1中の異物の粒径、粒
子数等を算出する。
状の測定試料に含まれている微粒子の粒径、粒子数を、
常に精度良く測定する。 【構成】 異物微粒子測定装置10の試料流路5には、
波長が固定された測定光を発生する複数の測定ユニット
8,8…が設けられている。これらのユニットから照射
される測定光の波長は互いに異なるように設定される。
又、上記試料流路5には、当該測定試料1が吸収する光
の波長を検出する吸光光度計7が設置されている。光度
計7による検出波長、及び測定ユニット8,8…による
測定結果は、システム制御部6に送られる。制御部6
は、測定ユニットからの、複数の測定光の波長と、上記
検出波長とを比較し、当該試料1に適した測定光を発生
する測定ユニット8を選択し、斯く選択したユニットに
よる測定結果のみを用いて、試料1中の異物の粒径、粒
子数等を算出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、流体中の微粒子の測定
技術さらには試料中の異物微粒子の粒径、粒子数を測定
する測定装置に適用して特に有効な技術に関し、例えば
半導体製造時に用いられるレジスト等の液状試料の異物
混入量の測定に利用して有用な技術に関する。
技術さらには試料中の異物微粒子の粒径、粒子数を測定
する測定装置に適用して特に有効な技術に関し、例えば
半導体製造時に用いられるレジスト等の液状試料の異物
混入量の測定に利用して有用な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】純水、薬品、半導体装置の製造に用いら
れるホトレジスト等の溶液中に存在するミクロン(μ
m)オーダーの異物微粒子の粒径、粒子数、粒径別粒子
数分布等を計測するに当り、その測定試料に測定光を照
射し、このとき発生する散乱光を検出して、上記各種デ
ータを得るようにした液中微粒子測定装置が公知であ
る。この液中微粒子測定装置にあっては、測定試料を一
定速度で通過させる試料流路を設け、この試料流路内
に、光学的に透明で耐薬品性を有するフロースルーセル
を設けておき、このセルに対して、波長数百ナノメータ
(例えば632.8nm)の波長の測定光(レーザ光)
を照射し、このとき微粒子より反射した散乱光を、受光
素子で電気信号として測定し、この測定結果に基いてそ
の粒径、粒子数等を算出するようにしていた。このとき
用いられる測定光は、同一波長の散乱光が得られるよう
にその波長が1つの値に固定されて、当該微粒子の測定
精度を高めていた。
れるホトレジスト等の溶液中に存在するミクロン(μ
m)オーダーの異物微粒子の粒径、粒子数、粒径別粒子
数分布等を計測するに当り、その測定試料に測定光を照
射し、このとき発生する散乱光を検出して、上記各種デ
ータを得るようにした液中微粒子測定装置が公知であ
る。この液中微粒子測定装置にあっては、測定試料を一
定速度で通過させる試料流路を設け、この試料流路内
に、光学的に透明で耐薬品性を有するフロースルーセル
を設けておき、このセルに対して、波長数百ナノメータ
(例えば632.8nm)の波長の測定光(レーザ光)
を照射し、このとき微粒子より反射した散乱光を、受光
素子で電気信号として測定し、この測定結果に基いてそ
の粒径、粒子数等を算出するようにしていた。このとき
用いられる測定光は、同一波長の散乱光が得られるよう
にその波長が1つの値に固定されて、当該微粒子の測定
精度を高めていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た技術には、次のような問題のあることが本発明者らに
よってあきらかとされた。すなわち、測定対象たる溶液
(測定試料)によっては、当該溶液固有の光吸収波長帯
域がある。従って、上記微粒子測定装置において固定さ
れた波長が、この波長帯域に含まれる場合、照射された
測定光が、当該溶液に吸収され、或は、当該散乱光が吸
収されて、その微粒子測定が精度良く行えないこととな
る。本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、測
定試料が不透明溶液で、その光吸収波長帯域により特定
波長の光が吸収されるような場合であっても、その試料
中の微粒子の粒径、粒子数を、常に精度良く測定するこ
とができる微粒子測定装置を提供することをその主たる
目的とする。この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
た技術には、次のような問題のあることが本発明者らに
よってあきらかとされた。すなわち、測定対象たる溶液
(測定試料)によっては、当該溶液固有の光吸収波長帯
域がある。従って、上記微粒子測定装置において固定さ
れた波長が、この波長帯域に含まれる場合、照射された
測定光が、当該溶液に吸収され、或は、当該散乱光が吸
収されて、その微粒子測定が精度良く行えないこととな
る。本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、測
定試料が不透明溶液で、その光吸収波長帯域により特定
波長の光が吸収されるような場合であっても、その試料
中の微粒子の粒径、粒子数を、常に精度良く測定するこ
とができる微粒子測定装置を提供することをその主たる
目的とする。この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0004】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。即ち、本発明の微粒子測定装置は、測定試
料が供給される試料流路に、波長が固定された測定光を
発生させる照射手段が複数個設けられ、各々の照射手段
から発生する測定光の波長が互いに異なるように設定さ
れている。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。即ち、本発明の微粒子測定装置は、測定試
料が供給される試料流路に、波長が固定された測定光を
発生させる照射手段が複数個設けられ、各々の照射手段
から発生する測定光の波長が互いに異なるように設定さ
れている。
【0005】
【作用】上記した手段によれば、測定試料に、互いに異
なる波長の測定光が照射できるようになっているので、
測定試料の光吸収帯域に属さない測定光を選択し、この
測定光による散乱光のみを測定して、当該試料中の微粒
子の粒径、粒子数の算出が行える。従って、1つの測定
装置で、光吸収帯域の異なる複数の測定試料に対する、
微粒子の測定が可能となる。
なる波長の測定光が照射できるようになっているので、
測定試料の光吸収帯域に属さない測定光を選択し、この
測定光による散乱光のみを測定して、当該試料中の微粒
子の粒径、粒子数の算出が行える。従って、1つの測定
装置で、光吸収帯域の異なる複数の測定試料に対する、
微粒子の測定が可能となる。
【0006】
(第1実施例)以下、本発明の第1実施例を添付図面を
参照して説明する。図1は、本実施例の測定波長可変型
液中異物微粒子測定装置10の構成を示すブロック図で
ある。この図に示すように、溶液中の異物微粒子の測定
が行われる液体測定試料1は、測定試料漕2に貯留され
る。この試料漕2には、加圧気体導入管3を介して、加
圧装置4から加圧された気体(例えばN2ガス)が導入
され、当該加圧気体の作用によって、測定試料1が、試
料流路5中を移動するようになっている。尚、上記加圧
装置4の動作は、後述のシステム制御部6からの信号に
て制御され、この結果、測定試料1が所定の流速で、当
該流路5中を移動するようになっている。
参照して説明する。図1は、本実施例の測定波長可変型
液中異物微粒子測定装置10の構成を示すブロック図で
ある。この図に示すように、溶液中の異物微粒子の測定
が行われる液体測定試料1は、測定試料漕2に貯留され
る。この試料漕2には、加圧気体導入管3を介して、加
圧装置4から加圧された気体(例えばN2ガス)が導入
され、当該加圧気体の作用によって、測定試料1が、試
料流路5中を移動するようになっている。尚、上記加圧
装置4の動作は、後述のシステム制御部6からの信号に
て制御され、この結果、測定試料1が所定の流速で、当
該流路5中を移動するようになっている。
【0007】上記流路5の途中には、紫外/可視吸光光
度計7が配設されている。この光度計7は、流路中を流
れている測定試料1が吸収する光の波長を検出するもの
であり、当該吸収光の波長を表す信号は、システム制御
部6に送られる。
度計7が配設されている。この光度計7は、流路中を流
れている測定試料1が吸収する光の波長を検出するもの
であり、当該吸収光の波長を表す信号は、システム制御
部6に送られる。
【0008】上記流路5には、更に、複数の測定ユニッ
ト8,8,8,…、及び、流量測定/調整部9が設けら
れており、これら測定ユニット8,8…、流量測定/調
整部9によって異物微粒子測定部10Aが構成される。
このうち複数の測定ユニット8,8,…は、流路5途中
に形成された、光学的に透明で耐薬品性を有する測定セ
ル(フロースルーセル)と、このセルに一定波長の測定
光(レーザ光)を照射する測定光照射部と、異物微粒子
に照射された後の散乱光を検出する散乱光検出部とによ
って構成される。しかして、上記測定セルに流入された
測定試料1に対しては、上記測定光照射部より測定光の
照射が行われ、その散乱光が散乱光検出部によって検出
され、その検出結果を表す信号が、システム制御部6に
送られる。この場合、各測定ユニット8,8…では、散
乱光の散乱状態を上記検出部の受光素子が、電気的にパ
ルス信号として検出する。そしてこのパルス信号の電圧
値(振幅)や、発生度数に基いて、上記システム制御部
6が当該試料1中に含まれる異物微粒子の粒径、粒子
数、更には流径毎の粒子数分布状態等を算出する。
ト8,8,8,…、及び、流量測定/調整部9が設けら
れており、これら測定ユニット8,8…、流量測定/調
整部9によって異物微粒子測定部10Aが構成される。
このうち複数の測定ユニット8,8,…は、流路5途中
に形成された、光学的に透明で耐薬品性を有する測定セ
ル(フロースルーセル)と、このセルに一定波長の測定
光(レーザ光)を照射する測定光照射部と、異物微粒子
に照射された後の散乱光を検出する散乱光検出部とによ
って構成される。しかして、上記測定セルに流入された
測定試料1に対しては、上記測定光照射部より測定光の
照射が行われ、その散乱光が散乱光検出部によって検出
され、その検出結果を表す信号が、システム制御部6に
送られる。この場合、各測定ユニット8,8…では、散
乱光の散乱状態を上記検出部の受光素子が、電気的にパ
ルス信号として検出する。そしてこのパルス信号の電圧
値(振幅)や、発生度数に基いて、上記システム制御部
6が当該試料1中に含まれる異物微粒子の粒径、粒子
数、更には流径毎の粒子数分布状態等を算出する。
【0009】ところで、本実施例の異物微粒子測定装置
10では、波長が固定された測定光を生成する測定ユニ
ット8,8…が複数個設けられ、各々のユニット8,
8,…毎に生成される、各々の測定光は、その波長が互
いに異なるように予め一定値に固定されている。そし
て、これら波長が互いに異なる測定光にて得られた、散
乱光データが、上記システム制御部6に送られる。シス
テム制御部6は、上記吸光光度計7によって検出された
当該測定試料1が吸収する波長帯域を認識し、この帯域
から外れた波長域を判断し、各測定ユニット8,8…が
発生する測定光の波長とこの波長域とを比較して、何れ
の測定ユニットが、当該試料1中の異物微粒子の測定に
最適であるかを判断する。そして、最適と判断した1
つ、又は2つ以上の測定ユニット8からのパルス信号の
みを、有効な散乱光データとし、これを用いて当該測定
試料1の異物微粒子の算出を行なう。この場合、その処
理方法によっては、当該測定光が、上記波長帯域に属さ
ない全ての測定ユニット8,8,…からの信号を用い
て、異物微粒子の算出を行なうようにしてもよい。
10では、波長が固定された測定光を生成する測定ユニ
ット8,8…が複数個設けられ、各々のユニット8,
8,…毎に生成される、各々の測定光は、その波長が互
いに異なるように予め一定値に固定されている。そし
て、これら波長が互いに異なる測定光にて得られた、散
乱光データが、上記システム制御部6に送られる。シス
テム制御部6は、上記吸光光度計7によって検出された
当該測定試料1が吸収する波長帯域を認識し、この帯域
から外れた波長域を判断し、各測定ユニット8,8…が
発生する測定光の波長とこの波長域とを比較して、何れ
の測定ユニットが、当該試料1中の異物微粒子の測定に
最適であるかを判断する。そして、最適と判断した1
つ、又は2つ以上の測定ユニット8からのパルス信号の
みを、有効な散乱光データとし、これを用いて当該測定
試料1の異物微粒子の算出を行なう。この場合、その処
理方法によっては、当該測定光が、上記波長帯域に属さ
ない全ての測定ユニット8,8,…からの信号を用い
て、異物微粒子の算出を行なうようにしてもよい。
【0010】尚、上記流量測定/調整部9は、測定試料
1の流路内移動速度を測定し、この移動速度を一定に調
整する等の働きを有する。尚、試料1の流速の調整は、
この調整部9内に設けられた真空状態発生手段の作用に
よる吸引圧送にて行われる。この結果、装置10全体と
しては、上記した加圧装置4と、該調整部9の作用によ
って、測定試料1の流速制御が行われる。しかして、調
整された移動速度は、システム制御部6に送られて、異
物微粒子の粒径、微粒子数の測定に用いられるようにな
っている。尚、試料1の移動速度流速は、システム制御
部からの信号を受けた流量測定/調整部9により、適宜
調節され、試料の移動速度を種々変化させて、その都度
得られた散乱光データを用いて、更に詳細な、試料1内
の異物微粒子の混入状態が分析できるようになってい
る。
1の流路内移動速度を測定し、この移動速度を一定に調
整する等の働きを有する。尚、試料1の流速の調整は、
この調整部9内に設けられた真空状態発生手段の作用に
よる吸引圧送にて行われる。この結果、装置10全体と
しては、上記した加圧装置4と、該調整部9の作用によ
って、測定試料1の流速制御が行われる。しかして、調
整された移動速度は、システム制御部6に送られて、異
物微粒子の粒径、微粒子数の測定に用いられるようにな
っている。尚、試料1の移動速度流速は、システム制御
部からの信号を受けた流量測定/調整部9により、適宜
調節され、試料の移動速度を種々変化させて、その都度
得られた散乱光データを用いて、更に詳細な、試料1内
の異物微粒子の混入状態が分析できるようになってい
る。
【0011】以上詳述したように、第1実施例の異物微
粒子測定装置10によれば、測定試料1の種類に応じ
て、当該試料が吸収する光の波長以外の波長の測定光に
よる微粒子の測定が行われるので、如何なる試料(特に
半透明又は不透明溶液)に対しても、その異物微粒子の
正確な測定を行なうことができるようになる。
粒子測定装置10によれば、測定試料1の種類に応じ
て、当該試料が吸収する光の波長以外の波長の測定光に
よる微粒子の測定が行われるので、如何なる試料(特に
半透明又は不透明溶液)に対しても、その異物微粒子の
正確な測定を行なうことができるようになる。
【0012】(第2実施例)次に、本発明の第2実施例
について説明する。図2は、第2実施例の測定波長可変
型液中異物微粒子測定装置20の構成を示すブロック図
である。この第2実施例では、第1実施例で、流路5に
設けられた、複数の測定ユニット8,8,8,…、に代
えて、種々の波長の測定光(レーザ光)を発光させるこ
とができる波長可変レーザ測定ユニット18が設けられ
ている点のみが上記第1実施例と異なる。尚、この測定
ユニット18では、後述のシステム制御部16からの信
号に基いて当該試料1に最適の測定光波長が設定される
と、その後、当該波長が変動しない構成となっている。
この測定ユニット18と流量測定/調整部19とによっ
て異物微粒子測定部20Aが構成される。
について説明する。図2は、第2実施例の測定波長可変
型液中異物微粒子測定装置20の構成を示すブロック図
である。この第2実施例では、第1実施例で、流路5に
設けられた、複数の測定ユニット8,8,8,…、に代
えて、種々の波長の測定光(レーザ光)を発光させるこ
とができる波長可変レーザ測定ユニット18が設けられ
ている点のみが上記第1実施例と異なる。尚、この測定
ユニット18では、後述のシステム制御部16からの信
号に基いて当該試料1に最適の測定光波長が設定される
と、その後、当該波長が変動しない構成となっている。
この測定ユニット18と流量測定/調整部19とによっ
て異物微粒子測定部20Aが構成される。
【0013】具体的には、測定ユニット18は、流路5
途中に形成された測定セルと、このセルに種々の波長の
測定光(レーザ光)を照射する波長可変レーザ照射部
と、上記測定光の照射時に得られる散乱光を検出する散
乱光検出部とによって構成される。試料漕2から試料流
路15を介して上記測定セルに流入した測定試料1に対
して、上記照射部から所定波長の測定光が照射される
と、このとき発生した散乱光が上記検出部にてパルス信
号として検出され、このとき得られた散乱光データ(パ
ルス信号)が、システム制御部16に送られて、当該試
料1中の異物微粒子の粒径、微粒子数等が算出される。
途中に形成された測定セルと、このセルに種々の波長の
測定光(レーザ光)を照射する波長可変レーザ照射部
と、上記測定光の照射時に得られる散乱光を検出する散
乱光検出部とによって構成される。試料漕2から試料流
路15を介して上記測定セルに流入した測定試料1に対
して、上記照射部から所定波長の測定光が照射される
と、このとき発生した散乱光が上記検出部にてパルス信
号として検出され、このとき得られた散乱光データ(パ
ルス信号)が、システム制御部16に送られて、当該試
料1中の異物微粒子の粒径、微粒子数等が算出される。
【0014】上記測定ユニット18から照射される測定
光の波長は、システム制御部16からの指令信号によっ
て選択される。即ち、システム制御部16は、試料流路
15に設置された吸光光度計7からの信号に基いて、当
該試料1が吸収する光の波長を測定し、この測定結果
を、システム制御部16に送る。この測定結果を受けた
システム制御部16は、当該試料1の微粒子測定に最適
の波長(吸収されない1つの波長)を決定し、その波長
を表わす信号を、上記波長可変レーザ測定ユニット18
に送る。そして、この信号に基いて、当該ユニット18
から、当該試料に、当該微粒子測定に最適の波長の測定
光が照射される。
光の波長は、システム制御部16からの指令信号によっ
て選択される。即ち、システム制御部16は、試料流路
15に設置された吸光光度計7からの信号に基いて、当
該試料1が吸収する光の波長を測定し、この測定結果
を、システム制御部16に送る。この測定結果を受けた
システム制御部16は、当該試料1の微粒子測定に最適
の波長(吸収されない1つの波長)を決定し、その波長
を表わす信号を、上記波長可変レーザ測定ユニット18
に送る。そして、この信号に基いて、当該ユニット18
から、当該試料に、当該微粒子測定に最適の波長の測定
光が照射される。
【0015】尚、この実施例でも、上記第1実施例と同
様に、1つの測定試料1に対して、上記波長帯域に属さ
ない複数の波長の測定光を照射し、このとき得られた散
乱光にかかるデータに基いて、異物微粒子の粒径、微粒
子数等の算出を行なうようにしてもよい。尚、この第2
実施例の他の構成は、上記した第1実施例の構成と同じ
であり、対応する部材には、同一の符号を付してその説
明を省略する。
様に、1つの測定試料1に対して、上記波長帯域に属さ
ない複数の波長の測定光を照射し、このとき得られた散
乱光にかかるデータに基いて、異物微粒子の粒径、微粒
子数等の算出を行なうようにしてもよい。尚、この第2
実施例の他の構成は、上記した第1実施例の構成と同じ
であり、対応する部材には、同一の符号を付してその説
明を省略する。
【0016】(第3実施例)次に、本発明の第3実施例
について説明する。この第3実施例は、第1実施例にお
ける微粒子測定機構(微粒子測定部10A)を、レーザ
ー光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用したもので、
その構成を図3のブロック図で示す。このレーザー光散
乱方式絶対分子量測定装置30では、GPC(ゲル浸透
クロマトグラフ)溶離液流路32と測定試料流路33を
通って、各々、溶離液と測定試料がGPC装置34に入
るようになっている。しかして、この第3実施例では、
分子量測定部(微粒子測定部)30Aの作用によって、
溶離液中に含まれる物質の分子量が測定される。
について説明する。この第3実施例は、第1実施例にお
ける微粒子測定機構(微粒子測定部10A)を、レーザ
ー光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用したもので、
その構成を図3のブロック図で示す。このレーザー光散
乱方式絶対分子量測定装置30では、GPC(ゲル浸透
クロマトグラフ)溶離液流路32と測定試料流路33を
通って、各々、溶離液と測定試料がGPC装置34に入
るようになっている。しかして、この第3実施例では、
分子量測定部(微粒子測定部)30Aの作用によって、
溶離液中に含まれる物質の分子量が測定される。
【0017】即ち、GPC装置34内で測定試料中に含
まれる、分子量が互いに異なる各成分の分離が行われ、
相対分子量を反映したGPCクロマトグラフが得られ
る。そして、GPC装置34から流路35に送られた溶
出液31に対して、当該流路35に配設された測定ユニ
ット38,38…による液中成分の測定(液中の物質の
分子量測定)が行われる。
まれる、分子量が互いに異なる各成分の分離が行われ、
相対分子量を反映したGPCクロマトグラフが得られ
る。そして、GPC装置34から流路35に送られた溶
出液31に対して、当該流路35に配設された測定ユニ
ット38,38…による液中成分の測定(液中の物質の
分子量測定)が行われる。
【0018】この測定ユニット38,38…は、第1実
施例の測定ユニット8,8…と略同一の構成となってお
り、各々のユニット38,38…は、互いに異なる波長
の測定光(レーザ光)を当該溶出液31に照射して、こ
の溶出液31に含まれる物質の分子量に応じた散乱光デ
ータが得られるようになっている。この場合にも、流路
35に配設された吸光光度計37によって、当該溶出液
31が吸収する光の波長が、システム制御部36に送ら
れ、これを受けた制御部36が、吸収される光の波長帯
域を認識し、この帯域に含まれない波長域を認識し、該
波長域に含まれる測定光を発する、1又は2以上の所望
の測定ユニット38を選択し、該測定ユニットにて得ら
れた散乱光データのみを用いて、算出処理を行う。この
とき流路35中を流れる溶出液31は、微粒子測定部3
0Aを構成する流速測定/調整部39の働きによって一
定流速となり、この速度データに基づいて、システム制
御部36は、溶出液31中に含まれる物質の分子量を算
出する。
施例の測定ユニット8,8…と略同一の構成となってお
り、各々のユニット38,38…は、互いに異なる波長
の測定光(レーザ光)を当該溶出液31に照射して、こ
の溶出液31に含まれる物質の分子量に応じた散乱光デ
ータが得られるようになっている。この場合にも、流路
35に配設された吸光光度計37によって、当該溶出液
31が吸収する光の波長が、システム制御部36に送ら
れ、これを受けた制御部36が、吸収される光の波長帯
域を認識し、この帯域に含まれない波長域を認識し、該
波長域に含まれる測定光を発する、1又は2以上の所望
の測定ユニット38を選択し、該測定ユニットにて得ら
れた散乱光データのみを用いて、算出処理を行う。この
とき流路35中を流れる溶出液31は、微粒子測定部3
0Aを構成する流速測定/調整部39の働きによって一
定流速となり、この速度データに基づいて、システム制
御部36は、溶出液31中に含まれる物質の分子量を算
出する。
【0019】又、図4は、第2実施例における微粒子測
定機構(微粒子測定部20A)を、レーザー光散乱方式
の絶対分子量測定装置に適用した変形例を示すブロック
図である。尚、この変形例では、図3に示す複数の測定
ユニット38,38…に代えて、種々の波長の測定光を
発生させる波長可変レーザ測定ユニット48が用いられ
ている。この測定ユニット48は、流量測定/調整部4
9と協同して、分子量測定部(微粒子測定部)40Aを
構成する。
定機構(微粒子測定部20A)を、レーザー光散乱方式
の絶対分子量測定装置に適用した変形例を示すブロック
図である。尚、この変形例では、図3に示す複数の測定
ユニット38,38…に代えて、種々の波長の測定光を
発生させる波長可変レーザ測定ユニット48が用いられ
ている。この測定ユニット48は、流量測定/調整部4
9と協同して、分子量測定部(微粒子測定部)40Aを
構成する。
【0020】この測定ユニット48からの測定光の波長
は、システム制御部46からの信号に基いて決定され
る。即ち、システム制御部46は、吸光光度計37から
の、溶出液31が吸収する光の波長帯域を表わす信号を
受け、この帯域に属さない1つの波長の測定光(レーザ
光)を、上記測定ユニット48に発生させて、当該溶出
液31中の物質の分子量を算出する。この変形例におい
ても、上記第3実施例と同様に、1種類の溶出液31に
対して、上記波長帯域に属さない2以上の波長の測定光
を選択して、これを順次照射し、このとき得られた散乱
光にかかる複数のデータに基いて、溶出液中に含まれる
物質の分子量の算出を行なうようにしてもよい。尚、こ
の変形例の他の構成は、上記した第3実施例の構成と同
じであり、対応する部材には、同一の符号を付してその
説明を省略する。
は、システム制御部46からの信号に基いて決定され
る。即ち、システム制御部46は、吸光光度計37から
の、溶出液31が吸収する光の波長帯域を表わす信号を
受け、この帯域に属さない1つの波長の測定光(レーザ
光)を、上記測定ユニット48に発生させて、当該溶出
液31中の物質の分子量を算出する。この変形例におい
ても、上記第3実施例と同様に、1種類の溶出液31に
対して、上記波長帯域に属さない2以上の波長の測定光
を選択して、これを順次照射し、このとき得られた散乱
光にかかる複数のデータに基いて、溶出液中に含まれる
物質の分子量の算出を行なうようにしてもよい。尚、こ
の変形例の他の構成は、上記した第3実施例の構成と同
じであり、対応する部材には、同一の符号を付してその
説明を省略する。
【0021】以上説明したように、上記した実施例の微
粒子測定部を用いた、異物微粒子測定装置(絶対分子量
測定装置)によれば、システム制御部が、測定対象とな
る溶液(溶出液)が吸収する光の波長の帯域を認識し、
この帯域に含まれない測定光を照射する測定ユニットか
らの散乱光データのみを用いて、粒子の粒径(分子
量)、粒子数を測定するので、1つの測定装置で、光吸
収帯域が異なる複数種類の溶液における微粒子の粒径
(分子量)、粒子数を、常に精度良く算出することがで
きる。
粒子測定部を用いた、異物微粒子測定装置(絶対分子量
測定装置)によれば、システム制御部が、測定対象とな
る溶液(溶出液)が吸収する光の波長の帯域を認識し、
この帯域に含まれない測定光を照射する測定ユニットか
らの散乱光データのみを用いて、粒子の粒径(分子
量)、粒子数を測定するので、1つの測定装置で、光吸
収帯域が異なる複数種類の溶液における微粒子の粒径
(分子量)、粒子数を、常に精度良く算出することがで
きる。
【0022】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、上
記第1、第3実施例では、複数の測定ユニットからの散
乱光データを、システム制御部が適宜選択して、微粒子
測定を行っているが、システム制御部からの信号に基い
て、測定に適さない測定ユニットの動作を停止させても
よい。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、上
記第1、第3実施例では、複数の測定ユニットからの散
乱光データを、システム制御部が適宜選択して、微粒子
測定を行っているが、システム制御部からの信号に基い
て、測定に適さない測定ユニットの動作を停止させても
よい。
【0023】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である異物微
粒子測定装置及び絶対分子量測定装置に適用した場合に
ついて説明したが、この発明はそれに限定されるもので
なく、流体中に含まれる物質の大きさ、含有量等を測定
する技術一般に利用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野である異物微
粒子測定装置及び絶対分子量測定装置に適用した場合に
ついて説明したが、この発明はそれに限定されるもので
なく、流体中に含まれる物質の大きさ、含有量等を測定
する技術一般に利用することができる。
【0024】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。すなわち、半透明又は不透明溶液に含
まれた微粒子の測定を、1つの測定装置によって行うこ
とができ、スループットが向上する。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。すなわち、半透明又は不透明溶液に含
まれた微粒子の測定を、1つの測定装置によって行うこ
とができ、スループットが向上する。
【図1】第1実施例の測定波長可変型液中異物微粒子測
定装置10の構成を示すブロック図である。
定装置10の構成を示すブロック図である。
【図2】第2実施例の測定波長可変型液中異物微粒子測
定装置20の構成を示すブロック図である。
定装置20の構成を示すブロック図である。
【図3】第1実施例における微粒子測定機構をレーザー
光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用した例を示すブ
ロック図である。
光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用した例を示すブ
ロック図である。
【図4】第2実施例における微粒子測定機構をレーザー
光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用した例を示すブ
ロック図である。
光散乱方式の絶対分子量測定装置に転用した例を示すブ
ロック図である。
1 液体測定試料 5 試料流路 6 システム制御部 7 紫外/可視吸光光度計 8 測定ユニット 10 測定波長可変型液中異物微粒子測定装置 10A 異物微粒子測定部(微粒子測定機構) 18 波長可変レーザ測定ユニット
Claims (3)
- 【請求項1】 試料流路を通過する試料に測定光を照射
し、照射時に発生する散乱光を検出して、この検出結果
に基づいて当該試料中の微粒子の粒径、若くは、粒子数
を測定する微粒子測定装置において、試料流路に、波長
が固定された測定光を発生させる照射手段が複数個設け
られると共に、各々の照射手段から発生する測定光の波
長が互いに異なるように設定されていることを特徴とす
る微粒子測定装置。 - 【請求項2】 試料流路を通過する試料に測定光を照射
し、照射時に発生する散乱光を検出して、この検出結果
に基づいて当該試料中の微粒子の粒径、若くは、粒子数
を測定する微粒子測定装置において、試料流路に、波長
可変の測定光を発生させる照射手段が設けられているこ
とを特徴とする微粒子測定装置。 - 【請求項3】 上記試料流路に設置され、当該試料が吸
収する光の波長を検出する波長測定手段と、該波長測定
手段にて測定された波長に基いて、上記照射手段から照
射される測定光を選択し、斯く選択した測定光に係る散
乱光の測定結果に基いて、粒径、粒子量を算出する制御
手段とを具えてなることを特徴とする請求項1又は2に
記載の微粒子測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5268910A JPH07120376A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 微粒子測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5268910A JPH07120376A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 微粒子測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07120376A true JPH07120376A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17464972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5268910A Pending JPH07120376A (ja) | 1993-10-27 | 1993-10-27 | 微粒子測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07120376A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243623A (ja) * | 2001-02-19 | 2002-08-28 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
| JP2019501365A (ja) * | 2015-10-01 | 2019-01-17 | ナノテンパー・テクノロジーズ・ゲーエムベーハー | 粒子の安定性と凝集を光学的に測定するためのシステム及び方法 |
-
1993
- 1993-10-27 JP JP5268910A patent/JPH07120376A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243623A (ja) * | 2001-02-19 | 2002-08-28 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
| JP2019501365A (ja) * | 2015-10-01 | 2019-01-17 | ナノテンパー・テクノロジーズ・ゲーエムベーハー | 粒子の安定性と凝集を光学的に測定するためのシステム及び方法 |
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