JPH07122067A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH07122067A
JPH07122067A JP5285957A JP28595793A JPH07122067A JP H07122067 A JPH07122067 A JP H07122067A JP 5285957 A JP5285957 A JP 5285957A JP 28595793 A JP28595793 A JP 28595793A JP H07122067 A JPH07122067 A JP H07122067A
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address buffer
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 アドレスマルチプレックス方式を採るシンク
ロナスDRAM等のアドレスセットアップ時間及びホー
ルド時間を短縮し、その高速化を推進する。 【構成】 アドレスマルチプレックス方式を採るシンク
ロナスDRAM等において、アドレス入力端子A0〜A
iに近接して配置されクロック信号CLKの立ち上がり
を受けて選択的に有効レベルとされる内部制御信号PL
Bに従ってアドレス入力端子A0〜Aiを介して入力さ
れるXアドレス信号又はYアドレス信号を取り込み保持
するプリアドレスバッファPBを設け、その後段に、内
部制御信号RL又はCLに従ってプリアドレスバッファ
PBに保持されるXアドレス信号又はYアドレス信号を
取り込み保持するロウアドレスバッファRB及びカラム
アドレスバッファCBを設ける。これにより、アドレス
入力端子A0〜Aiを介して入力されるXアドレス信号
及びYアドレス信号を、まず最適配置されたプリアドレ
スバッファPBに取り込んだ後、それぞれの条件下で最
適配置されたロウアドレスバッファRB及びカラムアド
レスバッファCBに取り込む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体記憶装置に関
し、例えば、アドレスマルチプレックス方式を採るシン
クロナスDRAM(Dynamic Random A
ccess Memory:ダイナミック型ランダムア
クセスメモリ)ならびにそのサイクルタイムの高速化に
利用して特に有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】その動作が所定のクロック信号に従って
同期化されるいわゆるシンクロナスDRAMがある。シ
ンクロナスDRAMは、メモリアレイの行選択に供され
るXアドレス信号と列選択に供されるYアドレス信号と
が共通の外部端子を介して時分割的に入力されるいわゆ
るアドレスマルチプレックス方式を採る。
【0003】アドレスマルチプレックス方式を採るシン
クロナスDRAMについては、例えば、1993年1月
18日、株式会社日立製作所発行の『HM521680
0,HM5416800シリーズ データブック』に記
載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】アドレスマルチプレッ
クス方式を採る従来のシンクロナスDRAMは、図4に
例示されるように、その入力端子がアドレス入力のため
の共通外部端子つまりアドレス入力端子A0〜Aiに共
通結合されるロウアドレスバッファRB及びカラムアド
レスバッファCBを含む。アドレス入力端子A0〜Ai
を介して時分割的に入力されるXアドレス信号は、図5
に例示されるように、内部制御信号RLのハイレベルへ
の立ち上がりを受けてロウアドレスバッファRBに取り
込まれ、Yアドレス信号は、内部制御信号CLの立ち上
がりを受けてカラムアドレスバッファCBに取り込まれ
る。内部制御信号RLは、クロック信号CLKの立ち上
がりエッジにおいてロウアドレスストローブ信号RAS
B(ここで、それが有効とされるとき選択的にロウレベ
ルとされるいわゆる反転信号等については、その名称の
末尾にBを付して表す。以下同様)がロウレベルとされ
ていることを条件に選択的にハイレベルとされ、内部制
御信号CLは、クロック信号CLKの立ち上がりエッジ
においてカラムアドレスストローブ信号CASBがロウ
レベルとされていることを条件に選択的にハイレベルと
される。
【0005】ところが、本願発明者等は、シンクロナス
DRAMのさらなる高速化を図ろうとして次のような問
題点に直面した。すなわち、シンクロナスDRAMは、
前述のように、その動作がクロック信号CLKに従って
同期化され、その主な入出力仕様は、クロック信号CL
Kの立ち上がりエッジを基準にして規定される。しか
し、クロック信号CLKとアドレス入力端子A0〜Ai
を介して入力されるXアドレス信号及びYアドレス信号
との間の時間関係に着目した場合、クロック信号CLK
がハイレベルとされてから内部制御信号RL及びCLが
ハイレベルとされるまでにはタイミング発生回路の対応
する論理ゲートの伝達遅延時間等に相当する遅延時間t
dr又はtdcが必要とされるとともに、ロウアドレス
バッファRB及びカラムアドレスバッファCBがそれぞ
れの条件下で最適配置されるためにその配置位置やビッ
ト間バラツキに起因する比較的大きなスキューが発生す
る。この結果、クロック信号CLKとXアドレス信号つ
まりロウアドレスRAD又はYアドレス信号つまりカラ
ムアドレスCADとの間に比較的大きなセットアップ時
間tAS及びホールド時間tAHが必要となり、これによっ
てシンクロナスDRAMのサイクルタイムの高速化が制
約を受けるものである。
【0006】この発明の目的は、アドレスマルチプレッ
クス方式を採るシンクロナスDRAM等のアドレスセッ
トアップ時間及びアドレスホールド時間を短縮し、その
サイクルタイムの高速化を推進することにある。
【0007】この発明の前記ならびにその他の目的と新
規な特徴は、この明細書の記述及び添付図面から明らか
になるであろう。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次
の通りである。すなわち、行選択に供されるXアドレス
信号と列選択に供されるYアドレス信号とが共通のアド
レス入力端子を介して時分割的に入力されるアドレスマ
ルチプレックス方式を採りかつその動作が所定のクロッ
ク信号に従って同期化されるシンクロナスDRAM等に
おいて、アドレス入力端子に近接して配置されクロック
信号の立ち上がりを受けて選択的に有効レベルとされる
第1の内部制御信号に従ってアドレス入力端子を介して
入力されるXアドレス信号又はYアドレス信号を取り込
み保持するプリアドレスバッファを設け、その後段に、
クロック信号の有効レベルへの変化時点においてすでに
ロウアドレスストローブ信号又はカラムアドレスストロ
ーブ信号が有効レベルとされているのを受けてそれぞれ
選択的に有効レベルとされる第2又は第3の内部制御信
号に従ってプリアドレスバッファに保持されるXアドレ
ス信号又はYアドレス信号を取り込み保持するロウアド
レスバッファ及びカラムアドレスバッファを設ける。
【0009】
【作用】上記した手段によれば、アドレス入力端子を介
して時分割的に入力されるXアドレス信号及びYアドレ
ス信号をまず最適配置されたプリアドレスバッファに取
り込んだ後、それぞれの条件下で最適配置されたロウア
ドレスバッファ及びカラムアドレスバッファに伝達でき
るため、クロック信号に対するXアドレス信号及びYア
ドレス信号のセットアップ時間及びホールド時間を短縮
し、シンクロナスDRAM等のサイクルタイムの高速化
を推進することができる。
【0010】
【実施例】図1には、この発明が適用されたシンクロナ
スDRAMの一実施例のブロック図が示されている。ま
た、図2には、図1のシンクロナスDRAMの一実施例
の信号波形図が示されている。これらの図をもとに、こ
の実施例のシンクロナスDRAMの構成及び動作ならび
にその特徴について説明する。なお、図1の各ブロック
を構成する回路素子は、特に制限されないが、公知のM
OSFET(金属酸化物半導体型電界効果トランジス
タ。この明細書では、MOSFETをして絶縁ゲート型
電界効果トランジスタの総称とする)集積回路の製造技
術により、単結晶シリコンのような1個の半導体基板面
上に形成される。
【0011】図1において、この実施例のシンクロナス
DRAMは、2個のバンクBANK0及びBANK1を
備え、これらのバンクのそれぞれは、レイアウト面積の
大半を占めて配置されるメモリアレイと、その直接周辺
回路となるロウアドレスデコーダRD,センスアンプS
A及びカラムアドレスデコーダCDとを含む。
【0012】ここで、バンクBANK0及びBANK1
を構成するメモリアレイMARYのそれぞれは、図の垂
直方向に平行して配置される複数のワード線と、水平方
向に平行して配置される複数の相補ビット線とを含む。
これらのワード線及び相補ビット線の交点には、情報蓄
積キャパシタ及びアドレス選択MOSFETからなる多
数のダイナミック型メモリセルが格子状に配置される。
【0013】バンクBANK0及びBANK1のメモリ
アレイMARYを構成するワード線は、対応するロウア
ドレスデコーダRDにそれぞれ結合され、択一的に選択
状態とされる。ロウアドレスデコーダRDには、ロウア
ドレスバッファRBからその最上位ビットを除くiビッ
トの内部アドレス信号X0〜Xi−1が共通に供給さ
れ、タイミング発生回路TGから図示されない内部制御
信号RG0及びRG1がそれぞれ供給される。また、ロ
ウアドレスバッファRBには、プリアドレスバッファP
Bから内部アドレス信号P0〜Piが供給され、リフレ
ッシュアドレスカウンタRFCからリフレッシュアドレ
ス信号R0〜Riが供給される。ロウアドレスバッファ
RBには、さらにタイミング発生回路TGから内部制御
信号RL(第2の内部制御信号)及びRFが供給され
る。リフレッシュアドレスカウンタRFCには、タイミ
ング発生回路TGから内部制御信号RCが供給される。
なお、内部制御信号RG0及びRG1は、バンク選択回
路BSからタイミング発生回路TGに供給されるバンク
選択信号BS0及びBS1に従って選択的に形成され、
これらのバンク選択信号BS0及びBS1は、ロウアド
レスバッファRBからバンク選択回路BSに供給される
最上位ビットの内部アドレス信号Xiに従って選択的に
形成される。また、ロウアドレスバッファRBは、バン
クBANK0及びBANK1のロウアドレスデコーダR
DやリフレッシュアドレスカウンタRFCとの間の距離
が極力短くなるように最適配置される。
【0014】この実施例において、シンクロナスDRA
Mは、その動作がクロック信号CLKに従って同期化さ
れ、メモリアレイの行選択に供されるXアドレス信号A
X0〜AXiと列選択に供されるYアドレス信号AY0
〜AYiとが共通の外部端子つまりアドレス入力端子A
0〜Aiを介して時分割的に入力されるアドレスマルチ
プレックス方式を採る。アドレス入力端子A0〜Aiに
は、図2に示されるように、クロック信号CLKの最初
の立ち上がりエッジに同期してロウアドレスRADを指
定するXアドレス信号AX0〜AXiが入力され、クロ
ック信号CLKの次の立ち上がりエッジに同期してカラ
ムアドレスCADを指定するYアドレス信号AY0〜A
Yiが入力される。プリアドレスバッファPBには、ア
ドレス入力端子A0〜Aiを介してこれらのXアドレス
信号AX0〜AXiならびにYアドレス信号AY0〜A
Yiが供給され、タイミング発生回路TGから反転内部
制御信号PLB(第1の内部制御信号)が供給される。
なお、プリアドレスバッファPBは、アドレス入力端子
A0〜Aiに近接して配置され、これらのアドレス入力
端子との間の距離が極力短くなるように最適配置され
る。
【0015】ここで、反転内部制御信号PLBは、図2
に示されるように、クロック信号CLKの有効レベルつ
まりハイレベルへの変化を受けて選択的に有効レベルつ
まりロウレベルとされる。また、内部制御信号RLは、
クロック信号CLKのハイレベルへの変化時点ですでに
ロウアドレスストローブ信号RASBが有効レベルつま
りロウレベルとされているのを受けて選択的に有効レベ
ルつまりハイレベルとされるが、クロック信号CLKの
ハイレベルへの立ち上がりから内部制御信号RLの立ち
上がりまでの時間は比較的余裕をもって設定される。さ
らに、内部制御信号RFは、シンクロナスDRAMがリ
フレッシュモードとされるとき選択的にハイレベルとさ
れ、内部制御信号RCは、シンクロナスDRAMがリフ
レッシュモードとされるとき所定のタイミングでハイレ
ベルとされる。
【0016】プリアドレスバッファPBは、シンクロナ
スDRAMが通常の動作モードとされるとき、アドレス
入力端子A0〜Aiを介して入力されるXアドレス信号
AX0〜AXiあるいはYアドレス信号AY0〜AYi
を反転内部制御信号PLBのロウレベルへの立ち下がり
変化を受けて取り込み、保持するとともに、内部アドレ
ス信号P0〜PiとしてロウアドレスバッファRB及び
カラムアドレスバッファCBに伝達する。また、リフレ
ッシュアドレスカウンタRFCは、シンクロナスDRA
Mがリフレッシュモードとされるとき、内部制御信号R
Cに従って歩進動作を行い、リフレッシュアドレス信号
R0〜Riを形成する。
【0017】一方、ロウアドレスバッファRBは、シン
クロナスDRAMが通常の動作モードとされ内部制御信
号RFがロウレベルとされるとき、プリアドレスバッフ
ァPBから供給される内部アドレス信号P0〜Piつま
りはXアドレス信号AX0〜AXiを内部制御信号RL
に従って取り込み、保持する。また、シンクロナスDR
AMがリフレッシュモードされ内部制御信号RFがハイ
レベルとされるとき、リフレッシュアドレスカウンタR
FCから供給されるリフレッシュアドレス信号R0〜R
iを内部制御信号RLに従って取り込み、保持する。そ
して、これらのXアドレス信号又はリフレッシュアドレ
ス信号をもとに、内部アドレス信号X0〜Xiを形成す
る。このうち、最上位ビットの内部アドレス信号Xiは
バンク選択回路BSに供給され、他の内部アドレス信号
X0〜Xi−1はバンクBANK0及びBANK1のロ
ウアドレスデコーダRDに共通に供給される。
【0018】バンク選択回路BSは、ロウアドレスバッ
ファRBから供給される最上位ビットの内部アドレス信
号Xiをデコードして、対応するバンク選択信号BS0
及びBS1を選択的に形成し、タイミング発生回路TG
及びデータ入出力回路IO等に供給する。また、バンク
BANK0及びBANK1のロウアドレスデコーダRD
は、内部制御信号RG0又はRG1がハイレベルとされ
ることで選択的に動作状態とされ、内部アドレス信号X
0〜Xi−1をデコードして、対応するメモリアレイM
ARYのワード線を択一的にハイレベルの選択状態とす
る。
【0019】次に、バンクBANK0及びBANK1の
メモリアレイMARYを構成する相補ビット線は、対応
するセンスアンプSAに結合される。これらのセンスア
ンプSAには、対応するカラムアドレスデコーダCDか
ら所定ビットのビット線選択信号が供給され、タイミン
グ発生回路TGから図示されない内部制御信号PA0又
はPA1がそれぞれ供給される。なお、内部制御信号P
L0及びPL1は、バンク選択信号BS0及びBS1に
従って選択的に形成される。
【0020】バンクBANK0及びBANK1のセンス
アンプSAは、対応するメモリアレイMARYの各相補
ビット線に対応して設けられる複数の単位回路をそれぞ
れ含み、これらの単位回路のそれぞれは、一対のCMO
Sインバータが交差接続されてなる単位増幅回路と一対
のスイッチMOSFETとを含む。このうち、各単位回
路の単位増幅回路には、対応する内部制御信号PA0又
はPA1に従って選択的にオン状態とされる一対の駆動
MOSFETを介して、回路の電源電圧及び接地電位が
選択的に供給される。また、各単位回路のスイッチMO
SFETのゲートは16対ごとにそれぞれ共通結合さ
れ、対応するカラムアドレスデコーダCDから対応する
上記ビット線選択信号が共通に供給される。
【0021】これにより、センスアンプSAの各単位回
路を構成する単位増幅回路は、対応する内部制御信号P
A0又はPA1がハイレベルとされることで選択的にか
つ一斉に動作状態とされ、対応するメモリアレイMAR
Yの選択されたワード線に結合される複数のメモリセル
から対応する相補ビット線を介して出力される微小読み
出し信号を増幅して、ハイレベル又はロウレベルの2値
読み出し信号とする。また、センスアンプSAの各単位
回路を構成するスイッチMOSFET対は、対応するビ
ット線選択信号がハイレベルとされることで16対ずつ
選択的にオン状態とされ、対応するメモリアレイMAR
Yの対応する16組の相補ビット線と相補共通データ線
CD00*〜CD015*あるいはCD10*〜CD1
15*(ここで、例えば非反転共通データ線CD00T
及び反転共通データ線CD00Bをあわせて相補ビット
線CD00*のように*を付して表す。また、それが有
効とされるとき選択的にハイレベルとされる非反転信号
等については、その名称の末尾にTを付して表す。以下
同様)とを選択的に接続状態とする。
【0022】バンクBANK0及びBANK1のカラム
アドレスデコーダCDには、カラムアドレスバッファC
Bからi+1ビットの内部アドレス信号Y0〜Yiが共
通に供給され、タイミング発生回路TGから対応する図
示されない内部制御信号CG0及びCG1がそれぞれ供
給される。また、カラムアドレスバッファCBには、プ
リアドレスバッファPBからi+1ビットの内部アドレ
ス信号P0〜Piが供給され、タイミング発生回路TG
から内部制御信号CL(第3の内部制御信号)が供給さ
れる。なお、内部制御信号CG0及びCG1は、カラム
アドレスストローブ信号CASBに同期して再度入力さ
れる最上位ビットのアドレス信号つまりバンク選択信号
BS0及びBS1に従って選択的に形成される。また、
カラムアドレスバッファCBは、バンクBANK0及び
BANK1のカラムアドレスデコーダCDとの間の距離
が極力短くなるように最適配置される。
【0023】この実施例において、内部制御信号CL
は、図2に示されるように、クロック信号CLKのハイ
レベルへの変化時点ですでにカラムアドレスストローブ
信号CASBが有効レベルつまりロウレベルとされてい
るのを受けて選択的に有効レベルつまりハイレベルとさ
れるが、クロック信号CLKのハイレベルへの立ち上が
りから内部制御信号CLの立ち上がりまでの時間は比較
的余裕をもって設定される。また、シンクロナスDRA
Mは、選択されたワード線に結合される複数のメモリセ
ルの読み出しデータを連続出力するバーストモードを有
し、カラムアドレスバッファCBは、このバーストモー
ドにおいて一連のメモリセルに対応するカラムアドレス
を順次指定するためのバーストカウンタを含む。
【0024】カラムアドレスバッファCBは、プリアド
レスバッファPBから供給される内部アドレス信号P0
〜PiつまりはYアドレス信号AY0〜AYiを内部制
御信号CLに従って取り込み、保持するとともに、これ
らのYアドレス信号をもとに内部アドレス信号Y0〜Y
iを形成し、各バンクのカラムアドレスデコーダCDに
供給する。また、シンクロナスDRAMがバーストモー
ドとされるとき、取り込んだYアドレス信号AY0〜A
Yiを先頭アドレスとして歩進動作を行い、連続アクセ
スされる一連のメモリセルのカラムアドレスを指定す
る。
【0025】バンクBANK0及びバンクBANK1の
カラムアドレスデコーダCDは、対応する内部制御信号
CG0又はCG1がハイレベルとされることで選択的に
動作状態とされる。この動作状態において、各カラムア
ドレスデコーダCDは、カラムアドレスバッファCBか
ら供給される内部アドレス信号Y0〜Yiをデコードし
て、対応するビット線選択信号を択一的にハイレベルと
する。
【0026】バンクBANK0及びBANK1を構成す
るメモリアレイMARYの指定された16組の相補ビッ
ト線がそれぞれ選択的に接続状態とされる相補共通デー
タ線CD00*〜CD015*ならびにCD10*〜C
D115*は、データ入出力回路IOに結合される。デ
ータ入出力回路IOには、バンク選択回路BSからバン
ク選択信号BS0及びBS1が供給され、タイミング発
生回路TGから内部制御信号MU及びMLが供給され
る。なお、内部制御信号MUは、クロック信号CLKの
立ち上がりエッジにおいてデータマスク信号DQMUが
ハイレベルとされることで選択的にハイレベルとされ、
内部制御信号MLは、データマスク信号DQMLがハイ
レベルとされることで選択的にハイレベルとされる。ま
た、バンク選択信号BS0及びBS1は、カラムアドレ
スストローブ信号CASBに同期して入力される最上位
ビットのアドレス信号に従って選択的に形成される。
【0027】データ入出力回路IOは、相補共通データ
線CD00*〜CD015*ならびにCD10*〜CD
115*に対応して設けられるそれぞれ32個のライト
アンプ及びメインアンプと、それぞれ16個のデータ入
力バッファ及びデータ出力バッファとを含む。このう
ち、各ライトアンプの出力端子とメインアンプの入力端
子は、対応する相補共通データ線CD00*〜CD01
5*あるいはCD10*〜CD115にそれぞれ共通結
合される。また、各ライトアンプの入力端子は、2個ず
つ対応するデータ入力バッファの出力端子に共通結合さ
れ、各データ入力バッファの入力端子は、対応するデー
タ入出力端子D0〜D15に結合される。さらに、各メ
インアンプの出力端子は、2個ずつ対応するデータ出力
バッファの入力端子に共通結合され、各データ出力バッ
ファの出力端子は、対応するデータ入出力端子D0〜D
15に結合される。バンクBANK0に対応するライト
アンプ及びメインアンプには、バンク選択信号BS0が
共通に供給され、バンクBANK1に対応するライトア
ンプ及びメインアンプには、バンク選択信号BS1が共
通に供給される。また、下位8ビットのデータ入出力端
子D0〜D7に対応するライトアンプ及びデータ出力バ
ッファには、内部制御信号MLが共通に供給され、上位
8ビットのデータ入出力端子D8〜D15に対応するラ
イトアンプ及びデータ出力バッファには、内部制御信号
MUが共通に供給される。
【0028】データ入出力回路IOの各データ入力バッ
ファは、シンクロナスDRAMが書き込みモードで選択
状態とされるとき対応するデータ入出力端子D0〜D1
5を介して供給される16ビットの書き込みデータを取
り込み、対応する2個のライトアンプにそれぞれ伝達す
る。また、各ライトアンプは、対応するバンク選択信号
BS0又はBS1がハイレベルとされかつ対応する内部
制御信号MU又はMLがロウレベルとされることで選択
的に動作状態とされ、対応するデータ入力バッファから
伝達される書き込みデータを所定の相補書き込み信号と
した後、対応する相補共通データ線CD00*〜CD0
15*あるいはCD10*〜CD115*を介してバン
クBANK0又はBANK1のメモリアレイMARYの
選択された16個のメモリセルに8個ずつ選択的に書き
込む。
【0029】一方、データ入出力回路IOの各メインア
ンプは、シンクロナスDRAMが読み出しモードで選択
状態とされるとき、対応するバンク選択信号BS0又は
BS1がハイレベルとされることで選択的に動作状態と
される。この動作状態において、各メインアンプは、バ
ンクBANK0又はBANK1のメモリアレイMARY
の選択された16個のメモリセルから対応する相補共通
データ線CD00*〜CD015*あるいはCD10*
〜CD115*を介して出力される2値読み出し信号を
さらに増幅して、対応するデータ出力バッファに伝達す
る。また、各データ出力バッファは、対応する内部制御
信号MU又はMLがロウレベルとされることで一斉に又
は8個ずつ選択的に動作状態とされ、対応するメインア
ンプから伝達される読み出しデータをさらに増幅した
後、対応するデータ入出力端子D0〜D15を介してシ
ンクロナスDRAMの外部に出力する。なお、データ入
出力回路IOは、読み出しデータをクロック信号CLK
の指定サイクルだけ選択的に遅延して出力するためのC
ASレイテンシー制御回路を含む。
【0030】以上の結果、この実施例のシンクロナスD
RAMは、指定されたバンクBANK0又はBANK1
に対して16ビットの記憶データを同時に入力又は出力
するいわゆる2バンク×16ビット構成のメモリとされ
るが、記憶データの入力及び出力動作は、データマスク
信号DQMU及びDQMLつまりは内部制御信号MU及
びMLに従って8ビット単位で選択的に禁止することが
できる。
【0031】タイミング発生回路TGは、外部から供給
されるクロック信号CLKと、起動制御信号となるクロ
ックイネーブル信号CKE,チップ選択信号CSB,ロ
ウアドレスストローブ信号RASB,カラムアドレスス
トローブ信号CASB,ライトイネーブル信号WEBな
らびにデータマスク信号DQMU及びDQMLと、バン
ク選択回路BSから供給されるバンク選択信号BS0及
びBS1とをもとに上記各種内部制御信号を選択的に形
成し、各部に供給する。
【0032】ところで、この実施例のシンクロナスDR
AMは、前述のように、アドレス入力端子A0〜Aiを
介して時分割的に入力されるXアドレス信号AX0〜A
XiあるいはYアドレス信号AY0〜AYiを内部制御
信号PLに従って取り込み保持するプリアドレスバッフ
ァPBを備え、ロウアドレスバッファRB及びカラムア
ドレスバッファCBは、対応する内部制御信号RL又は
CLに従ってプリアドレスバッファPBに保持されるX
アドレス信号AX0〜AXiあるいはYアドレス信号A
Y0〜AYiを取り込む。この実施例において、プリア
ドレスバッファPBは、アドレス入力端子A0〜Aiと
の間の距離が極力短くなるように最適配置され、ロウア
ドレスバッファRB及びカラムアドレスデコーダCD
は、バンクBANK0及びBANK1のロウアドレスデ
コーダRD等又はカラムアドレスデコーダCDとの間の
距離が極力短くなるように最適配置される。また、内部
制御信号PLは、クロック信号CLKの立ち上がり変化
を受けて選択的に有効レベルとされ、内部制御信号RL
及びCLは、クロック信号の立ち上がりエッジにおいて
ロウアドレスストローブ信号又はカラムアドレスストロ
ーブ信号がロウレベルとされているのを受けてそれぞれ
選択的に有効レベルとされる。
【0033】これらのことから、この実施例のシンクロ
ナスDRAMでは、ロウアドレスバッファRB及びカラ
ムアドレスバッファCBがそれぞれの条件下で最適配置
されかつその出力信号つまり内部アドレス信号X0〜X
iならびにY0〜Yiには、図2に示されるように、各
アドレスバッファの配置位置やビット間バラツキに起因
する比較的大きなスキューが生じるにもかかわらず、ク
ロック信号CLKの立ち上がりエッジとXアドレス信号
AX0〜AXiならびにAY0〜AYiとの間のタイミ
ング条件は、最適配置されたプリアドレスバッファPB
への伝達時間のみに対応するものとなり、プリアドレス
バッファPBを備えない従来のシンクロナスDRAMに
比較して充分に短縮される。この結果、相応してクロッ
ク信号CLKに対するXアドレス信号AX0〜AXiな
らびにYアドレス信号AY0〜AYiのセットアップ時
間tAS及びホールド時間tAHを短縮し、シンクロナスD
RAMのサイクルタイムの高速化を推進することができ
るものとなる。
【0034】図3には、図1のシンクロナスDRAMを
応用したコンピュータシステムの一実施例のブロック図
が示されている。同図をもとに、この実施例のシンクロ
ナスDRAMの応用例とその特徴について説明する。
【0035】図3において、この実施例のコンピュータ
システムは、いわゆるストアドプログラム方式の中央処
理装置CPUをその基本構成要素とする。中央処理装置
CPUには、特に制限されないが、システムバスSBU
Sを介して、通常のスタティック型RAMからなるラン
ダムアクセスメモリRAM1と、この発明が適用された
シンクロナスDRAMからなるランダムアクセスメモリ
RAM2とが結合される。システムバスSBUSには、
さらにマスクROM等からなるリードオンリーメモリR
OM,ディスプレイ制御装置DPYC,周辺装置コント
ローラPERCならびに電源装置POWSが結合され
る。また、ディスプレイ制御装置DPYCには、ディス
プレイ装置DPYが結合され、周辺装置コントローラP
ERCにはキーボードKBD及び外部記憶装置EXMが
結合される。
【0036】中央処理装置CPUは、予めリードオンリ
ーメモリROMに格納された制御プログラムに従ってス
テップ動作し、コンピュータシステムの各部を制御・統
轄する。また、ランダムアクセスメモリRAM1は、例
えばキャッシュメモリ等として使用され、ランダムアク
セスメモリRAM2は、例えばリードオンリーメモリR
OMから中央処理装置CPUに伝達される制御プログラ
ムや演算データ等を一時的に格納し、中継するバッファ
メモリとして使用される。
【0037】一方、ディスプレイ制御装置DPYCは、
画像メモリVRAMを内蔵し、ディスプレイ装置DPY
の表示制御に供される。また、周辺装置コントローラP
ERCは、キーボードKBD及び外部記憶装置EXM等
の各種周辺装置を制御・統轄し、電源装置POWSは、
所定の入力交流電圧をもとに安定した所定の直流電源電
圧を形成してコンピュータシステムの各部に供給する。
【0038】この実施例において、ランダムアクセスメ
モリRAM2を構成するシンクロナスDRAMは、前述
のように、プリアドレスバッファPBを備え、クロック
信号CLKに対するXアドレス信号AX0〜AXiなら
びにYアドレス信号AY0〜AYiのセットアップ時間
及びホールド時間が短縮されることによってそのサイク
ルタイムの高速化が図られる。この結果、ランダムアク
セスメモリRAM2の高速化が図られ、これによってラ
ンダムアクセスメモリRAM2を含むコンピュータシス
テムの高速化が推進されるものとなる。なお、ディスプ
レイ制御装置DPYCの画像メモリVRAMをあわせて
シンクロナスDRAMにより構成することで、コンピュ
ータシステムのさらなる高速化を推進できる。
【0039】以上の本実施例に示されるように、この発
明をアドレスマルチプレックス方式を採るシンクロナス
DRAM等の半導体記憶装置に適用することで、次のよ
うな作用効果を得ることができる。すなわち、 (1)行選択に供されるXアドレス信号と列選択に供さ
れるYアドレス信号とが共通のアドレス入力端子を介し
て時分割的に入力されるアドレスマルチプレックス方式
を採りかつその動作が所定のクロック信号に従って同期
化されるシンクロナスDRAM等において、アドレス入
力端子に近接して配置されクロック信号の立ち上がりを
受けて選択的に有効レベルとされる第1の内部制御信号
に従ってアドレス入力端子を介して入力されるXアドレ
ス信号又はYアドレス信号を取り込み保持するプリアド
レスバッファを設け、その後段に、クロック信号の有効
レベルへの変化時点においてロウアドレスストローブ信
号又はカラムアドレスストローブ信号が有効レベルとさ
れているのを受けてそれぞれ選択的に有効レベルとされ
る第2又は第3の内部制御信号に従ってプリアドレスバ
ッファに保持されるXアドレス信号又はYアドレス信号
を取り込み保持するロウアドレスバッファ及びカラムア
ドレスバッファを設けることで、アドレス入力端子を介
して入力されるXアドレス信号及びYアドレス信号をま
ず最適配置されたプリアドレスバッファに取り込んだ
後、それぞれの条件下で最適配置されたロウアドレスバ
ッファ及びカラムアドレスバッファに伝達できるという
効果が得られる。
【0040】(2)上記(1)項により、相応してクロ
ック信号に対するXアドレス信号及びYアドレス信号の
セットアップ時間及びホールド時間を短縮することがで
きるという効果が得られる。 (3)上記(1)項及び(2)項により、シンクロナス
DRAM等のサイクルタイムの高速化を推進できるとい
う効果が得られる。
【0041】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、この発明は、上記実
施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない
範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例え
ば、図1において、シンクロナスDRAMは、いわゆる
×1ビット又は×8ビット構成等、任意のビット構成を
採ることができる。また、シンクロナスDRAMには、
任意数のバンクを設けることができるし、各バンクを複
数のマットに分割することもできる。データ入出力端子
D0〜D15は、データ入力端子及びデータ出力端子と
して専用化できる。さらに、シンクロナスDRAMのブ
ロック構成は、この実施例による制約を受けないし、図
2に示される起動制御信号,アドレス信号及び内部制御
信号の組み合わせ及び論理レベル等は、種々の実施形態
を採りうる。
【0042】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその背景となった利用分野であるシン
クロナスDRAMに適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、例えば、同様なアドレ
スマルチプレックス方式を採るダイナミック型RAM等
の各種メモリ集積回路やこれらのメモリ集積回路を搭載
する論理集積回路装置等にも適用できる。この発明は、
少なくともアドレスマルチプレックス方式を採る半導体
記憶装置ならびにこのような半導体記憶装置を含む装置
及びシステムに広く適用できる。
【0043】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、行選択に供されるXアドレ
ス信号と列選択に供されるYアドレス信号とが共通のア
ドレス入力端子を介して時分割的に入力されるアドレス
マルチプレックス方式を採りかつその動作が所定のクロ
ック信号に従って同期化されるシンクロナスDRAM等
において、アドレス入力端子に近接して配置されクロッ
ク信号の立ち上がりを受けて選択的に有効レベルとされ
る第1の内部制御信号に従ってアドレス入力端子を介し
て入力されるXアドレス信号又はYアドレス信号を取り
込み保持するプリアドレスバッファを設けるとともに、
その後段に、クロック信号の有効レベルへの変化時点に
おいてすでにロウアドレスストローブ信号又はカラムア
ドレスストローブ信号が有効レベルとされているのを受
けてそれぞれ選択的に有効レベルとされる第2又は第3
の内部制御信号に従ってプリアドレスバッファに保持さ
れるXアドレス信号又はYアドレス信号を取り込み保持
するロウアドレスバッファ及びカラムアドレスバッファ
を設けることで、アドレス入力端子を介して時分割的に
入力されるXアドレス信号及びYアドレス信号をまず最
適配置されたプリアドレスバッファに取り込んだ後、そ
れぞれの条件下で最適配置されたロウアドレスバッファ
及びカラムアドレスバッファに伝達できるため、クロッ
ク信号に対するXアドレス信号及びYアドレス信号のセ
ットアップ時間及びホールド時間を短縮し、シンクロナ
スDRAM等のサイクルタイムの高速化を推進すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明が適用されたシンクロナスDRAMの
一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1のシンクロナスDRAMの一実施例を示す
信号波形図である。
【図3】図1のシンクロナスDRAMを応用したコンピ
ュータシステムの一実施例を示すブロック図である。
【図4】従来のシンクロナスDRAMの一例を示すブロ
ック図である。
【図5】図4のシンクロナスDRAMの一例を示す信号
波形図である。
【符号の説明】
BANK0〜BANK1・・・バンク、MARY・・・
メモリアレイ、RD・・・ロウアドレスデコーダ、SA
・・・センスアンプ、CD・・・カラムアドレスデコー
ダ、BS・・・バンク選択回路、RB・・・ロウアドレ
スバッファ、CB・・・カラムアドレスバッファ、PB
・・・プリアドレスバッファ、RFC・・・リフレッシ
ュアドレスカウンタ、IO・・・データ入出力回路、T
G・・・タイミング発生回路。 CPU・・・中央処理装置、SBUS・・・システムバ
ス、RAM1〜RAM2・・・ランダムアクセスメモ
リ、ROM・・・・リードオンリーメモリ、DPYC・
・・ディスプレイ制御装置、VRAM・・・画像メモ
リ、DPY・・・ディスプレイ装置、PERC・・・周
辺装置コントローラ、KBD・・・キーボード、EXM
・・・外部記憶装置、POWS・・・電源装置。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 行選択に供されるXアドレス信号と列選
    択に供されるYアドレス信号とが共通の外部端子を介し
    て入力されるアドレスマルチプレックス方式を採り、第
    1の内部制御信号に従って上記外部端子を介して入力さ
    れるXアドレス信号又はYアドレス信号を取り込み保持
    するプリアドレスバッファと、第2の内部制御信号に従
    って上記プリアドレスバッファに保持されるXアドレス
    信号を取り込み保持するロウアドレスバッファと、第3
    の内部制御信号に従って上記プリアドレスバッファに保
    持されるYアドレス信号を取り込み保持するカラムアド
    レスバッファとを具備することを特徴とする半導体記憶
    装置。
  2. 【請求項2】 上記プリアドレスバッファは、上記外部
    端子に近接して配置されるものであることを特徴とする
    請求項1の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 上記半導体記憶装置は、その動作が所定
    のクロック信号に従って同期化されるシンクロナスDR
    AMであって、上記第1の内部制御信号は、上記クロッ
    ク信号の有効レベルへの変化を受けて選択的に有効レベ
    ルとされ、上記第2及び第3の内部制御信号は、上記ク
    ロック信号の有効レベルへの変化時点においてロウアド
    レスストローブ信号又はカラムアドレスストローブ信号
    が有効レベルとされているのを受けてそれぞれ選択的に
    有効レベルとされるものであることを特徴とする請求項
    1又は請求項2の半導体記憶装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001283590A (ja) * 2000-03-31 2001-10-12 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
KR100656446B1 (ko) * 2005-11-29 2006-12-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 어드레스 입력 회로

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