JPH0712748A - 曲面形状検査装置 - Google Patents
曲面形状検査装置Info
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- JPH0712748A JPH0712748A JP19757192A JP19757192A JPH0712748A JP H0712748 A JPH0712748 A JP H0712748A JP 19757192 A JP19757192 A JP 19757192A JP 19757192 A JP19757192 A JP 19757192A JP H0712748 A JPH0712748 A JP H0712748A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】はんだ付部位などの曲面体の曲面形状を短時間
で検出し、装置のコストの低減と信頼性の向上とを実現
する。 【構成】赤色光,緑色光.青色光を照射する円環状光源
9,10,11を検査位置から見て異なる仰角の方向に
設ける。対象物からの反射光は、色相選択性のフィルタ
27a,27b,27cにより各光源別に選別された
後、モノクロムカメラ26a,26b,26cにより個
別に撮像される。各カメラからの画像信号は制御処理部
7へ出力され、ティーチングまたは検査のための画像処
理が行われる。
で検出し、装置のコストの低減と信頼性の向上とを実現
する。 【構成】赤色光,緑色光.青色光を照射する円環状光源
9,10,11を検査位置から見て異なる仰角の方向に
設ける。対象物からの反射光は、色相選択性のフィルタ
27a,27b,27cにより各光源別に選別された
後、モノクロムカメラ26a,26b,26cにより個
別に撮像される。各カメラからの画像信号は制御処理部
7へ出力され、ティーチングまたは検査のための画像処
理が行われる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、表面が異なる方向に
配向する多数の曲面要素の集合より成る曲面体につき、
各曲面要素の配向性を検出するのに用いられる曲面状態
検査装置に関連し、特にこの発明は、プリント基板上に
実装された部品につき、そのはんだ付け部位の状態など
を検査するのに好適な曲面状態検査装置に関する。
配向する多数の曲面要素の集合より成る曲面体につき、
各曲面要素の配向性を検出するのに用いられる曲面状態
検査装置に関連し、特にこの発明は、プリント基板上に
実装された部品につき、そのはんだ付け部位の状態など
を検査するのに好適な曲面状態検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】多配向性曲面をもつ曲面体として、プリ
ント基板上に実装された部品におけるはんだ付け部位が
その代表例に挙げられる。従来、このはんだ付け部位
は、目視検査により検査されており、はんだ付け状態の
良否、すなわちはんだの有無,量,溶解性,短絡,導通
不良などがこの目視検査によって判定されている。とこ
ろがこのような目視検査による方法では、検査ミスの発
生が避けられず、判定結果も検査する者によりまちまち
であり、また検査処理能力にも限界がある。
ント基板上に実装された部品におけるはんだ付け部位が
その代表例に挙げられる。従来、このはんだ付け部位
は、目視検査により検査されており、はんだ付け状態の
良否、すなわちはんだの有無,量,溶解性,短絡,導通
不良などがこの目視検査によって判定されている。とこ
ろがこのような目視検査による方法では、検査ミスの発
生が避けられず、判定結果も検査する者によりまちまち
であり、また検査処理能力にも限界がある。
【0003】そこで近年、この種の検査を自動的に行う
ことができる自動検査装置が各種提案されている。とこ
ろではんだ付け部位の表面形状は、3次元の拡がりをも
つ立体形状であって、これを検査するには、3次元の形
状情報を検出できることが不可欠の条件となる。
ことができる自動検査装置が各種提案されている。とこ
ろではんだ付け部位の表面形状は、3次元の拡がりをも
つ立体形状であって、これを検査するには、3次元の形
状情報を検出できることが不可欠の条件となる。
【0004】図8はこの条件を満たす自動検査装置の一
例を示すものであり、レーザなどの光源から板状をなす
スリット光50を基板51上のはんだ付け部位へ照射し
ている。このスリット光50の照射により、はんだ付け
部位を含む基板51の表面には、立体形状に沿って歪を
受けた光切断線52が生成されるもので、その光切断線
52の反射光像を撮像装置53で撮像して、その撮像パ
ターンの歪状態をチェックすることにより、はんだ付け
部位の立体形状を検出する。
例を示すものであり、レーザなどの光源から板状をなす
スリット光50を基板51上のはんだ付け部位へ照射し
ている。このスリット光50の照射により、はんだ付け
部位を含む基板51の表面には、立体形状に沿って歪を
受けた光切断線52が生成されるもので、その光切断線
52の反射光像を撮像装置53で撮像して、その撮像パ
ターンの歪状態をチェックすることにより、はんだ付け
部位の立体形状を検出する。
【0005】ところがこの検査装置の場合、スリット光
50が照射された部分の形状情報が得られるのみであっ
て、それ以外の部分の立体形状を把握することは困難で
ある。しかもはんだ付け部位の表面は、その配向方向が
基板51の垂直方向に対して不定であるため、光源と撮
像装置53との組み合わせが少なくとも4組以上は必要
であり、これがため装置が複雑化し、かつ高精度の組立
作業が必要となり、コスト高を招くなどの問題がある。
50が照射された部分の形状情報が得られるのみであっ
て、それ以外の部分の立体形状を把握することは困難で
ある。しかもはんだ付け部位の表面は、その配向方向が
基板51の垂直方向に対して不定であるため、光源と撮
像装置53との組み合わせが少なくとも4組以上は必要
であり、これがため装置が複雑化し、かつ高精度の組立
作業が必要となり、コスト高を招くなどの問題がある。
【0006】そこでこの種問題を解消した方法として、
検査対象である曲面体の表面へ入射角が異なる光を照射
し、曲面体の表面からの各反射光像を撮像して、それぞ
れの撮像パターンより曲面体の有する各曲面要素の配向
性を検出するという方法が存在する。この方法の原理
は、3次元画像情報検出のひとつである「アクティブ・
センシング法」に属するものである。すなわちこの方法
は、一定のパターンをもった光束を検査対象に投光した
とき、その検査対象から得られる反射光束のパターンが
検査対象の立体的形状に対応して変形を受けることに着
目したもので、その変形パターンから検査対象の形状を
推定するという方法である。
検査対象である曲面体の表面へ入射角が異なる光を照射
し、曲面体の表面からの各反射光像を撮像して、それぞ
れの撮像パターンより曲面体の有する各曲面要素の配向
性を検出するという方法が存在する。この方法の原理
は、3次元画像情報検出のひとつである「アクティブ・
センシング法」に属するものである。すなわちこの方法
は、一定のパターンをもった光束を検査対象に投光した
とき、その検査対象から得られる反射光束のパターンが
検査対象の立体的形状に対応して変形を受けることに着
目したもので、その変形パターンから検査対象の形状を
推定するという方法である。
【0007】図9は、この方法の原理説明図であり、光
源57と撮像装置58とから成る観測系と、観測対象で
ある曲面体59との位置関係を示している。同図におい
て、光源57より曲面体58の表面に対して入射仰角i
で光束60を投光すると、角度i′(=i)の反射光束
61が真上に置かれた撮像装置58に入射して検出され
る。これにより前記光束60で照明された曲面体59の
曲面要素は基準面62に対してiの仰角をなして配向し
ていることが検出されたことになる。従ってもし曲面体
59の表面形状が、はんだ付け面のように異なる仰角方
向に配向している多数の曲面要素から成るものであれ
ば、入射仰角が異なる複数の光源を用いて曲面体59の
表面に投光すれば、それぞれの入射仰角に対応する曲面
要素の群が撮像装置58により検出され、これにより曲
面体58の表面の各曲面要素がそれぞれどんな仰角をな
して配向をしているか、すなわちはんだ付け部位の表面
形状がどのようであるかを検出できる。
源57と撮像装置58とから成る観測系と、観測対象で
ある曲面体59との位置関係を示している。同図におい
て、光源57より曲面体58の表面に対して入射仰角i
で光束60を投光すると、角度i′(=i)の反射光束
61が真上に置かれた撮像装置58に入射して検出され
る。これにより前記光束60で照明された曲面体59の
曲面要素は基準面62に対してiの仰角をなして配向し
ていることが検出されたことになる。従ってもし曲面体
59の表面形状が、はんだ付け面のように異なる仰角方
向に配向している多数の曲面要素から成るものであれ
ば、入射仰角が異なる複数の光源を用いて曲面体59の
表面に投光すれば、それぞれの入射仰角に対応する曲面
要素の群が撮像装置58により検出され、これにより曲
面体58の表面の各曲面要素がそれぞれどんな仰角をな
して配向をしているか、すなわちはんだ付け部位の表面
形状がどのようであるかを検出できる。
【0008】また光源57が、入射仰角がi+Δiから
i−Δiまでの2Δiの幅をもつ光束60を投光するな
らば、その幅に対応した幅を有する反射光束61が撮像
装置58により検出されることになる。すなわちこの場
合は、基準面62となす仰角がi+Δiからi−Δiま
での幅の角度をもつ曲面要素が検出できることになる。
i−Δiまでの2Δiの幅をもつ光束60を投光するな
らば、その幅に対応した幅を有する反射光束61が撮像
装置58により検出されることになる。すなわちこの場
合は、基準面62となす仰角がi+Δiからi−Δiま
での幅の角度をもつ曲面要素が検出できることになる。
【0009】さらに図10に示すように、曲面体59へ
の入射仰角が異なる複数の光源57a,57b,57c
をもって照明装置を構成すれば、各光源による光束63
a,63b,63cの入射仰角に対応した配向をもつ曲
面要素がそれだけ詳細に検出できることになる。
の入射仰角が異なる複数の光源57a,57b,57c
をもって照明装置を構成すれば、各光源による光束63
a,63b,63cの入射仰角に対応した配向をもつ曲
面要素がそれだけ詳細に検出できることになる。
【0010】前記光源57a,57b,57cは、半径
が異なる3個の円環状の白色光源であって、各光源57
a,57b,57cは基準面62に対して異なる高さ位
置に水平に配置されている。いま各光源57a,57
b,57cの半径がrn (ただしn=1,2,3 )、基準面
62に対する高さがhn (n=1,2,3 )とすると、曲面
体59への各光束の入射仰角はそれぞれin (n=1,2,
3 )となり、曲面体59における仰角がそれぞれin で
ある各曲面要素を撮像装置6により検出することができ
る。このとき各光源57a,57b,57cから曲面体
59の表面を経て撮像装置58に至る全光路長に比して
曲面要素の大きさが十分に小さいので、次式により入射
仰角、すなわち検出しようとする曲面要素の仰角を定め
ればよい。
が異なる3個の円環状の白色光源であって、各光源57
a,57b,57cは基準面62に対して異なる高さ位
置に水平に配置されている。いま各光源57a,57
b,57cの半径がrn (ただしn=1,2,3 )、基準面
62に対する高さがhn (n=1,2,3 )とすると、曲面
体59への各光束の入射仰角はそれぞれin (n=1,2,
3 )となり、曲面体59における仰角がそれぞれin で
ある各曲面要素を撮像装置6により検出することができ
る。このとき各光源57a,57b,57cから曲面体
59の表面を経て撮像装置58に至る全光路長に比して
曲面要素の大きさが十分に小さいので、次式により入射
仰角、すなわち検出しようとする曲面要素の仰角を定め
ればよい。
【0011】
【数1】
【0012】上記の原理に基づきはんだ付け部位の外観
を検査する装置として、円環状の白色光源を複数用いた
ものが提案されている(特開昭61−293657
号)。この検査装置では、はんだ付け部位の表面に対す
る入射仰角の異なる3個の光源57a〜57cによる反
射光像を相互に識別するために、それぞれ光源57a〜
57cを時間的に異なったタイミングで点灯し、また消
灯するようにしている。
を検査する装置として、円環状の白色光源を複数用いた
ものが提案されている(特開昭61−293657
号)。この検査装置では、はんだ付け部位の表面に対す
る入射仰角の異なる3個の光源57a〜57cによる反
射光像を相互に識別するために、それぞれ光源57a〜
57cを時間的に異なったタイミングで点灯し、また消
灯するようにしている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な方法では、異なる点灯タイミングで得た各画像を貯蔵
するためのメモリや、これら画像を同一視野像として演
算処理するための演算装置や、各光源を瞬間的に点灯動
作させるための照明制御装置などが必要であり、技術面
での煩雑さが多い。
な方法では、異なる点灯タイミングで得た各画像を貯蔵
するためのメモリや、これら画像を同一視野像として演
算処理するための演算装置や、各光源を瞬間的に点灯動
作させるための照明制御装置などが必要であり、技術面
での煩雑さが多い。
【0014】このようなタイムシェアリング方式の問題
を解決するため、この発明の発明者は、先般、はんだ付
部位を検査するための新たな曲面状態検査装置を提案し
た。この装置は、検査対象に対し異なる色彩光を異なる
入射角で同時照射するための複数の光源より成る投光部
と、曲面体の表面からの反射光を撮像するカラーカメラ
より成る撮像部と、撮像部で得た撮像パターンより曲面
の状態を判別する処理部とから成るものである。
を解決するため、この発明の発明者は、先般、はんだ付
部位を検査するための新たな曲面状態検査装置を提案し
た。この装置は、検査対象に対し異なる色彩光を異なる
入射角で同時照射するための複数の光源より成る投光部
と、曲面体の表面からの反射光を撮像するカラーカメラ
より成る撮像部と、撮像部で得た撮像パターンより曲面
の状態を判別する処理部とから成るものである。
【0015】前記投光部は、例えば赤色光,緑色光,青
色光を発する3個の円環状光源を検査位置に対し異なる
仰角の位置に配備した構成のものであり、各光源から同
時照射された赤色光,緑色光,青色光の曲面体表面での
反射光像を前記カラーカメラにより撮像して三原色のカ
ラー信号R,G,Bに分解し、これらを処理部へ供給し
て画像処理を行っている。
色光を発する3個の円環状光源を検査位置に対し異なる
仰角の位置に配備した構成のものであり、各光源から同
時照射された赤色光,緑色光,青色光の曲面体表面での
反射光像を前記カラーカメラにより撮像して三原色のカ
ラー信号R,G,Bに分解し、これらを処理部へ供給し
て画像処理を行っている。
【0016】上記の構成によれば、各光源より光を一斉
照射してその反射光像を一度に処理できるため、検査が
高速化し、技術面での煩雑さも解消できるが、撮像部に
カラーカメラを用いるため、カラー画像入力装置が著し
くコスト高となり、これが検査装置の普及に大きな障害
となっている。
照射してその反射光像を一度に処理できるため、検査が
高速化し、技術面での煩雑さも解消できるが、撮像部に
カラーカメラを用いるため、カラー画像入力装置が著し
くコスト高となり、これが検査装置の普及に大きな障害
となっている。
【0017】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、はんだ付け部位などの曲面体の曲面形状を短時
間で検出でき、しかもコストの低減と信頼性の向上とを
実現した曲面状態検査装置を提供することを目的とす
る。
もので、はんだ付け部位などの曲面体の曲面形状を短時
間で検出でき、しかもコストの低減と信頼性の向上とを
実現した曲面状態検査装置を提供することを目的とす
る。
【0018】
【課題を解決するための手段】この発明の曲面状態検査
装置は、検査位置に対し異なる仰角の位置に配備された
複数の円環状光源と、検査位置にある曲面体の表面での
反射光を各光源別に選別する光学系と、前記光学系で選
別された曲面体の表面での反射光を個別に撮像する光源
数に一致する数のモノクロム撮像装置と、各モノクロム
撮像装置で得られた撮像パターンより曲面体が有する各
曲面要素の形状を検出する制御処理装置とを備えたもの
である。
装置は、検査位置に対し異なる仰角の位置に配備された
複数の円環状光源と、検査位置にある曲面体の表面での
反射光を各光源別に選別する光学系と、前記光学系で選
別された曲面体の表面での反射光を個別に撮像する光源
数に一致する数のモノクロム撮像装置と、各モノクロム
撮像装置で得られた撮像パターンより曲面体が有する各
曲面要素の形状を検出する制御処理装置とを備えたもの
である。
【0019】
【作用】各光源より曲面体へ一斉に光を照射すると、曲
面体表面での反射光が光学系により光源別に分離され、
各モノクロム撮像装置により個別に撮像される。制御処
理装置は、各モノクロム撮像装置より得られた撮像パタ
ーンを用いて曲面体の形状を認識する。
面体表面での反射光が光学系により光源別に分離され、
各モノクロム撮像装置により個別に撮像される。制御処
理装置は、各モノクロム撮像装置より得られた撮像パタ
ーンを用いて曲面体の形状を認識する。
【0020】
【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる基板検
査装置の全体構成を示す。この基板検査装置は、基準基
板1Sを撮像して得られた前記基準基板1S上にある各
部品2Sの検査領域の特徴パラメータと、被検査基板1
Tを撮像して得られた前記被検査基板1T上にある各部
品2Tの検査領域の特徴パラメータとを比較して、各部
品2Tの実装品質を検査するためのもので、X軸テーブ
ル部3,Y軸テーブル部4,投光部5,撮像部6,制御
処理部7などをその構成として含んでいる。
査装置の全体構成を示す。この基板検査装置は、基準基
板1Sを撮像して得られた前記基準基板1S上にある各
部品2Sの検査領域の特徴パラメータと、被検査基板1
Tを撮像して得られた前記被検査基板1T上にある各部
品2Tの検査領域の特徴パラメータとを比較して、各部
品2Tの実装品質を検査するためのもので、X軸テーブ
ル部3,Y軸テーブル部4,投光部5,撮像部6,制御
処理部7などをその構成として含んでいる。
【0021】前記X軸テーブル部3およびY軸テーブル
部4は、それぞれ制御処理部7からの制御信号に基づい
て動作するモータ(図示せず)を備えており、これらモ
ータの駆動によりX軸テーブル部3が撮像部6をX方向
へ移動させ、またY軸テーブル部4が基板1S,1Tを
支持するコンベヤ8をY方向へ移動させる。
部4は、それぞれ制御処理部7からの制御信号に基づい
て動作するモータ(図示せず)を備えており、これらモ
ータの駆動によりX軸テーブル部3が撮像部6をX方向
へ移動させ、またY軸テーブル部4が基板1S,1Tを
支持するコンベヤ8をY方向へ移動させる。
【0022】前記投光部5は、異なる径を有しかつ制御
処理部7からの制御信号に基づき赤色光,緑色光,青色
光を同時に照射する3個の円環状光源9,10,11に
より構成されており、各光源9,10,11を検査位置
の真上位置に中心を合わせかつ検査位置から見て異なる
仰角に対応する方向に位置させている。
処理部7からの制御信号に基づき赤色光,緑色光,青色
光を同時に照射する3個の円環状光源9,10,11に
より構成されており、各光源9,10,11を検査位置
の真上位置に中心を合わせかつ検査位置から見て異なる
仰角に対応する方向に位置させている。
【0023】この実施例では、各光源9,10,11と
して白色光源に赤色,緑色,青色の各着色透明板を被せ
た構造のものが用いてあるが、これに代えて、赤色光,
緑色光,青色光をそれぞれ発生する3本の円環状のカラ
ー蛍光灯やネオン管を用いてもよい。
して白色光源に赤色,緑色,青色の各着色透明板を被せ
た構造のものが用いてあるが、これに代えて、赤色光,
緑色光,青色光をそれぞれ発生する3本の円環状のカラ
ー蛍光灯やネオン管を用いてもよい。
【0024】またこの投光部5による照明下で基板1
S,1T上の部品に関する情報(部品番号、極性、カラ
ーコードなど)やパターン情報(種々のマークなど)を
検出することを可能となすため、各光源9,10,11
が発する各色相の光が混色されると完全な白色光となる
よう工夫してある。すなわち各光源9,10,11は混
色により白色となるような対波長発光エネルギー分布を
有する赤色光スペクトル、緑色光スペクトル、青色光ス
ペクトルの光を発する光源をもって構成されると共に、
各光源9,10,11から照射された赤色光、緑色光、
青色光が混色して白色光となるよう後記する撮像コント
ーラ18による各色相光の光量の調整を可能としてい
る。
S,1T上の部品に関する情報(部品番号、極性、カラ
ーコードなど)やパターン情報(種々のマークなど)を
検出することを可能となすため、各光源9,10,11
が発する各色相の光が混色されると完全な白色光となる
よう工夫してある。すなわち各光源9,10,11は混
色により白色となるような対波長発光エネルギー分布を
有する赤色光スペクトル、緑色光スペクトル、青色光ス
ペクトルの光を発する光源をもって構成されると共に、
各光源9,10,11から照射された赤色光、緑色光、
青色光が混色して白色光となるよう後記する撮像コント
ーラ18による各色相光の光量の調整を可能としてい
る。
【0025】つぎに撮像部6は、3台のモノクロムカメ
ラ26a,26b,26c(以下単に「カメラ26a,
26b,26c」という)より成り、各カメラ26a,
26b,26cを、検査位置の真上位置に下方に向けて
位置決めしてある。各カメラ26a,26b,26cの
真下には、赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ透過させ
る色相選択性のフィルタ27a,27b,27cより成
る光学系27が配置され、さらにその下方の入射光路上
に同一像分離用の光学系28が位置させてある。この光
学系28は複数のハーフミラーなどを組み合わせて構成
されており、各カメラ26a,26b,26cはこれら
光学系27,28を介して同一視野内の赤色光,緑色
光,青色光の各反射光像を個別かつ同時に撮像できる。
各カメラ26a,26b,26cにより撮像された赤
色,緑色,青色の各反射光は濃淡画像信号にそれぞれ変
換されて制御処理部7へ供給される。
ラ26a,26b,26c(以下単に「カメラ26a,
26b,26c」という)より成り、各カメラ26a,
26b,26cを、検査位置の真上位置に下方に向けて
位置決めしてある。各カメラ26a,26b,26cの
真下には、赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ透過させ
る色相選択性のフィルタ27a,27b,27cより成
る光学系27が配置され、さらにその下方の入射光路上
に同一像分離用の光学系28が位置させてある。この光
学系28は複数のハーフミラーなどを組み合わせて構成
されており、各カメラ26a,26b,26cはこれら
光学系27,28を介して同一視野内の赤色光,緑色
光,青色光の各反射光像を個別かつ同時に撮像できる。
各カメラ26a,26b,26cにより撮像された赤
色,緑色,青色の各反射光は濃淡画像信号にそれぞれ変
換されて制御処理部7へ供給される。
【0026】制御処理部7は、A/D変換部12,メモ
リ13,ティーチングテーブル14,画像処理部15,
判定部16,XYテーブルコントローラ17,撮像コン
トローラ18,表示部20,プリンタ21,キーボード
22,フロッピディスク装置23,制御部24などで構
成されるもので、ティーチングモードのとき、基準基板
1Sについての、赤色,緑色,青色の各濃淡画像信号を
処理し、はんだ付け状態が良好な各部品2Sの所定領域
につき、各色の撮像パターンを検出して判定データファ
イルを作成する。
リ13,ティーチングテーブル14,画像処理部15,
判定部16,XYテーブルコントローラ17,撮像コン
トローラ18,表示部20,プリンタ21,キーボード
22,フロッピディスク装置23,制御部24などで構
成されるもので、ティーチングモードのとき、基準基板
1Sについての、赤色,緑色,青色の各濃淡画像信号を
処理し、はんだ付け状態が良好な各部品2Sの所定領域
につき、各色の撮像パターンを検出して判定データファ
イルを作成する。
【0027】また検査モードのとき、被検査基板1Sに
ついての赤色,緑色,青色の各濃淡画像信号を処理し、
被検査基板1T上の各部品2Tの検査領域につき同様の
撮像パターンを検出して特徴パラメータを生成し、被検
査データファイルを作成する。そしてこの被検査データ
ファイルと前記判定データファイルとを比較して、この
比較結果から被検査基板1T上の各部品2Tにつきはん
だ付けの良否などの実装品質を自動的に判定する。
ついての赤色,緑色,青色の各濃淡画像信号を処理し、
被検査基板1T上の各部品2Tの検査領域につき同様の
撮像パターンを検出して特徴パラメータを生成し、被検
査データファイルを作成する。そしてこの被検査データ
ファイルと前記判定データファイルとを比較して、この
比較結果から被検査基板1T上の各部品2Tにつきはん
だ付けの良否などの実装品質を自動的に判定する。
【0028】図2は、はんだ付けが良好であるとき、部
品が欠落しているとき、はんだ不足の状態にあるときの
はんだ30の断面形態と、各場合における各色の撮像パ
ターンとの関係を一覧表で例示したものである。
品が欠落しているとき、はんだ不足の状態にあるときの
はんだ30の断面形態と、各場合における各色の撮像パ
ターンとの関係を一覧表で例示したものである。
【0029】図中、31,32,33は、それぞれ赤色
光,緑色光,青色光の反射光が検出された領域である。
同図によれば、はんだの状態が良好な場合の各撮像パタ
ーンと不良な場合の各撮像パターンとは明確に相違する
ため、検査対象にかかる各撮像パターンを正常なパター
ンと比較することにより、部品の有無やはんだ付けの良
否を判定することが可能となる。
光,緑色光,青色光の反射光が検出された領域である。
同図によれば、はんだの状態が良好な場合の各撮像パタ
ーンと不良な場合の各撮像パターンとは明確に相違する
ため、検査対象にかかる各撮像パターンを正常なパター
ンと比較することにより、部品の有無やはんだ付けの良
否を判定することが可能となる。
【0030】図1に戻って、A/D変換部12は前記撮
像部6の各カメラ26a,26b,26cより濃淡画像
信号が与えられたとき、走査同期信号を用いてこれらを
同期的に取り入れ、それぞれディジタル信号に変換して
制御部24へ出力する。メモリ13はRAMなどを備
え、制御部24の作業エリアとして使用される。画像処
理部15は制御部24を介して供給された画像データを
画像処理して前記被検査データファイルや判定データフ
ァイルを作成し、これらを制御部24や判定部16へ供
給する。
像部6の各カメラ26a,26b,26cより濃淡画像
信号が与えられたとき、走査同期信号を用いてこれらを
同期的に取り入れ、それぞれディジタル信号に変換して
制御部24へ出力する。メモリ13はRAMなどを備
え、制御部24の作業エリアとして使用される。画像処
理部15は制御部24を介して供給された画像データを
画像処理して前記被検査データファイルや判定データフ
ァイルを作成し、これらを制御部24や判定部16へ供
給する。
【0031】ティーチングテーブル14はティーチング
時に制御部24から判定データファイルが供給されたと
き、これを記憶し、また検査時に制御部24が転送要求
を出力したとき、この要求に応じて判定データファイル
を読み出してこれを制御部24や判定部16などへ供給
する。
時に制御部24から判定データファイルが供給されたと
き、これを記憶し、また検査時に制御部24が転送要求
を出力したとき、この要求に応じて判定データファイル
を読み出してこれを制御部24や判定部16などへ供給
する。
【0032】判定部16は、検査時に制御部24から供
給された判定データファイルと、前記画像処理部15か
ら転送された被検査データファイルとを比較して、被検
査基板1Tの各部品2Tにつきはんだ付け状態の良否な
どを判定し、その判定結果を制御部24へ出力する。
給された判定データファイルと、前記画像処理部15か
ら転送された被検査データファイルとを比較して、被検
査基板1Tの各部品2Tにつきはんだ付け状態の良否な
どを判定し、その判定結果を制御部24へ出力する。
【0033】撮像コントローラ18は、制御部24と投
光部5および撮像部6とを接続するインターフェイスな
どを備え、制御部24の出力に基づき投光部5の各光源
9〜11の光量を調整したり、撮像部6の各色相光出力
の相互バランスを保つなどの制御を行う。
光部5および撮像部6とを接続するインターフェイスな
どを備え、制御部24の出力に基づき投光部5の各光源
9〜11の光量を調整したり、撮像部6の各色相光出力
の相互バランスを保つなどの制御を行う。
【0034】XYテーブルコントローラ17は制御部2
4と前記X軸テーブル部3およびY軸テーブル部4とを
接続するインターフェイスなどを備え、制御部24の出
力に基づきX軸テーブル部3およびY軸テーブル部4を
制御する。
4と前記X軸テーブル部3およびY軸テーブル部4とを
接続するインターフェイスなどを備え、制御部24の出
力に基づきX軸テーブル部3およびY軸テーブル部4を
制御する。
【0035】表示部20は、制御部24から画像デー
タ、検査結果、キー入力データなどが供給されたとき、
これを表示画面上に表示する。プリンタ21は、制御部
24から検査結果などが供給されたとき、これを予め決
められた書式(フォーマット)でプリントアウトする。
タ、検査結果、キー入力データなどが供給されたとき、
これを表示画面上に表示する。プリンタ21は、制御部
24から検査結果などが供給されたとき、これを予め決
められた書式(フォーマット)でプリントアウトする。
【0036】キーボード22は、操作情報、基準基板1
Sや被検査基板1Tに関するデータなどを入力するのに
必要な各種キーを備えており、キー入力データは前記制
御部24へ供給される。制御部24は,マイクロプロセ
ッサなどを備えており、図6,7に示す手順(詳細は後
述する)に従ってティーチングおよび、はんだ付検査に
おける基板検査装置の各動作を制御する。
Sや被検査基板1Tに関するデータなどを入力するのに
必要な各種キーを備えており、キー入力データは前記制
御部24へ供給される。制御部24は,マイクロプロセ
ッサなどを備えており、図6,7に示す手順(詳細は後
述する)に従ってティーチングおよび、はんだ付検査に
おける基板検査装置の各動作を制御する。
【0037】なお上記の実施例は、赤色光,緑色光,青
色光を照射する3個の円環状光源9,10,11と各色
の反射光像を撮像する3台のモノクロムカメラ26a,
26b,26cとを用いて検査を行うものであるが、実
質的な検査条件によっては、色相の数を2つに減少させ
ても十分な検査性能が得られる場合がある。たとえば、
プリント基板のリード挿入孔へ挿入された部品のリード
のはんだ付け部位は、一般的に単純な形態をなしてお
り、また不良の種類も、はんだ無し、穴あき、ブリッジ
など少数である。
色光を照射する3個の円環状光源9,10,11と各色
の反射光像を撮像する3台のモノクロムカメラ26a,
26b,26cとを用いて検査を行うものであるが、実
質的な検査条件によっては、色相の数を2つに減少させ
ても十分な検査性能が得られる場合がある。たとえば、
プリント基板のリード挿入孔へ挿入された部品のリード
のはんだ付け部位は、一般的に単純な形態をなしてお
り、また不良の種類も、はんだ無し、穴あき、ブリッジ
など少数である。
【0038】図3は、この種挿入リードのはんだ付部位
の検査に用いられる基板検査装置の構成を示す。この基
板検査装置も、第1の実施例と同様、X軸テーブル部
3,Y軸テーブル部4,投光部5,撮像部6,制御処理
部7などを含んでいるが、投光部5は赤色光、緑色光を
発する2個の円環状光源10,11をもって、また撮像
部6は、2台のモノクロムカメラ26a,26bをもっ
て、それぞれ構成されている。各カメラに対応して赤色
光、緑色光を透過させる色相選択性のフィルタ27a,
27bより成る光学系27と、入射光路上に同一像分離
用の光学系28とを設けることは先の実施例と同様であ
る。なお、その他の構成は、図1の実施例と同様であ
り、ここではその説明を省略する。
の検査に用いられる基板検査装置の構成を示す。この基
板検査装置も、第1の実施例と同様、X軸テーブル部
3,Y軸テーブル部4,投光部5,撮像部6,制御処理
部7などを含んでいるが、投光部5は赤色光、緑色光を
発する2個の円環状光源10,11をもって、また撮像
部6は、2台のモノクロムカメラ26a,26bをもっ
て、それぞれ構成されている。各カメラに対応して赤色
光、緑色光を透過させる色相選択性のフィルタ27a,
27bより成る光学系27と、入射光路上に同一像分離
用の光学系28とを設けることは先の実施例と同様であ
る。なお、その他の構成は、図1の実施例と同様であ
り、ここではその説明を省略する。
【0039】図4は、挿入リードのはんだ付部位につい
て、はんだ42の断面形態と各カメラ26a,26bよ
り得られる撮像パターンとの関係を示したものである。
て、はんだ42の断面形態と各カメラ26a,26bよ
り得られる撮像パターンとの関係を示したものである。
【0040】図中、(1)はリード挿入孔へ垂直に挿入
されたままの垂直リード40について、正常な状態およ
びリードが欠落した状態を示し、(2)はリード挿入孔
へ挿入された後に折り曲げるクリンチリード41につい
て、正常な状態,リードが短い状態,リードが欠落した
状態を示す。なお、図中、43はプリント基板を示す。
されたままの垂直リード40について、正常な状態およ
びリードが欠落した状態を示し、(2)はリード挿入孔
へ挿入された後に折り曲げるクリンチリード41につい
て、正常な状態,リードが短い状態,リードが欠落した
状態を示す。なお、図中、43はプリント基板を示す。
【0041】さらに、各撮像パターンにおいて、44,
45は、それぞれ赤色光,緑色光の各反射光が検出され
た領域である。また46,47は、赤色光,緑色光の各
反射光がわずかに検出された低明度領域である。
45は、それぞれ赤色光,緑色光の各反射光が検出され
た領域である。また46,47は、赤色光,緑色光の各
反射光がわずかに検出された低明度領域である。
【0042】同図によれば、正常なはんだ付部位の各撮
像パターンと、異常があるはんだ付部位の各撮像パター
ンとは明確に相違するため、検査対象にかかる各撮像パ
ターンを正常なパターンと比較することにより、はんだ
付の良否を判定することが可能である。
像パターンと、異常があるはんだ付部位の各撮像パター
ンとは明確に相違するため、検査対象にかかる各撮像パ
ターンを正常なパターンと比較することにより、はんだ
付の良否を判定することが可能である。
【0043】図5は、光源として白色光源が用いられた
この発明の第3の実施例を示す。この実施例の投光部6
は、径が異なる2個の円環状の白色光源10′,11′
が検査位置の真上位置に中心を合わせ、かつ検査位置か
ら見て異なる仰角に対応する方向に設置されている。
この発明の第3の実施例を示す。この実施例の投光部6
は、径が異なる2個の円環状の白色光源10′,11′
が検査位置の真上位置に中心を合わせ、かつ検査位置か
ら見て異なる仰角に対応する方向に設置されている。
【0044】各光源10′,11′の真下には、それぞ
れ偏光フィルタ30a,30bが一周して設けられてい
る。一方の偏光フィルタ30aの偏光角がα、他方の偏
光フィルタ30bの偏光角がβであり、撮像部6の一方
のカメラ26aの真下に偏光角αの偏光フィルタ31a
を、他方のカメラ26bの真下に偏光角βの偏光フィル
タ31bを、それぞれ配置して光学系を構成する。この
構成によれば、一方の光源10′からの光の反射光は一
方のカメラ26aで、他方の光源11′からの光の反射
光は、他方のカメラ26bで、それぞれ観測される。
れ偏光フィルタ30a,30bが一周して設けられてい
る。一方の偏光フィルタ30aの偏光角がα、他方の偏
光フィルタ30bの偏光角がβであり、撮像部6の一方
のカメラ26aの真下に偏光角αの偏光フィルタ31a
を、他方のカメラ26bの真下に偏光角βの偏光フィル
タ31bを、それぞれ配置して光学系を構成する。この
構成によれば、一方の光源10′からの光の反射光は一
方のカメラ26aで、他方の光源11′からの光の反射
光は、他方のカメラ26bで、それぞれ観測される。
【0045】図6は、上記各実施例におけるティーチン
グの手順をステップ1(図中「ST1」で示す)〜ST
7で示す。まず同図のステップ1において、オペレータ
はキーボード22を操作して教示対象とする基板名の登
録を行い、また基板サイズをキー入力した後、つぎのス
テップ2で、基準基板1SをY軸テーブル部4上にセッ
トしてスタートキーを押操作する。
グの手順をステップ1(図中「ST1」で示す)〜ST
7で示す。まず同図のステップ1において、オペレータ
はキーボード22を操作して教示対象とする基板名の登
録を行い、また基板サイズをキー入力した後、つぎのス
テップ2で、基準基板1SをY軸テーブル部4上にセッ
トしてスタートキーを押操作する。
【0046】つぎにステップ3でその基準基板1Sの原
点と右上および左下の各角部を撮像部6にて撮像させて
各点の位置により実際の基準基板1Sのサイズを入力し
た後、制御部24は入力データに基づきX軸テーブル部
3およびY軸テーブル部4を制御して基準基板1Sを初
期位置に位置出しする。
点と右上および左下の各角部を撮像部6にて撮像させて
各点の位置により実際の基準基板1Sのサイズを入力し
た後、制御部24は入力データに基づきX軸テーブル部
3およびY軸テーブル部4を制御して基準基板1Sを初
期位置に位置出しする。
【0047】前記基準基板1Sは、部品実装位置に所定
の部品2Sが適正にはんだ付けされた良好な実装品質を
有するものであって、この基準基板1Sが初期位置に位
置決めされると、つぎのステップ4で撮像部6が基準基
板1S上の領域を撮像して部品の実装位置に関する教示
データを作成する。
の部品2Sが適正にはんだ付けされた良好な実装品質を
有するものであって、この基準基板1Sが初期位置に位
置決めされると、つぎのステップ4で撮像部6が基準基
板1S上の領域を撮像して部品の実装位置に関する教示
データを作成する。
【0048】つぎのステップ5では、各カメラ26a,
26b,26cにより、良好な実装品質を持つ部品の実
装位置の画像を撮像し、ステップ4で実装位置が教示さ
れた部品2Sについての検査情報を教示データとして作
成する。
26b,26cにより、良好な実装品質を持つ部品の実
装位置の画像を撮像し、ステップ4で実装位置が教示さ
れた部品2Sについての検査情報を教示データとして作
成する。
【0049】同様の手順が基準基板1S上のすべての部
品について繰り返し実行されると、ステップ6の判定が
「YES」となってステップ7へ移行し、ステップ4,
5で作成した教示データより被検査基板1Tを検査する
のに必要な判定データファイルを作成し、これをティー
チングテーブル14に記憶させた後、ティーチングを終
了する。
品について繰り返し実行されると、ステップ6の判定が
「YES」となってステップ7へ移行し、ステップ4,
5で作成した教示データより被検査基板1Tを検査する
のに必要な判定データファイルを作成し、これをティー
チングテーブル14に記憶させた後、ティーチングを終
了する。
【0050】図7は、自動検査の手順を示すもので、同
図のステップ1,2で検査すべき基板名を選択して基板
検査の開始操作を行う。つぎのステップ3は、基板検査
装置への被検査基板1Tの供給をチェックしており、
「YES」の判定でコンベヤ8が作動して、Y軸テーブ
ル部4に被検査基板1Tが搬入され、自動検査が開始さ
れる(ステップ4,5)。
図のステップ1,2で検査すべき基板名を選択して基板
検査の開始操作を行う。つぎのステップ3は、基板検査
装置への被検査基板1Tの供給をチェックしており、
「YES」の判定でコンベヤ8が作動して、Y軸テーブ
ル部4に被検査基板1Tが搬入され、自動検査が開始さ
れる(ステップ4,5)。
【0051】ステップ5において、制御部24はX軸テ
ーブル部3およびY軸テーブル部4を制御して、被検査
基板1T上の1番目の部品2Tに対し撮像部6の視野を
位置決めして撮像を行わせ、検査領域内の各ランド領域
を自動抽出すると共に、各ランド領域の特徴パラメータ
を算出して、被検査データファイルを作成する。ついで
制御部24は、前記被検査データファイルを判定部16
に転送させ、この被検査データファイルと前記判定デー
タファイルとを比較させて、1番目の部品2Tにつきは
んだ付の良否などの実装品質を判定させる。
ーブル部3およびY軸テーブル部4を制御して、被検査
基板1T上の1番目の部品2Tに対し撮像部6の視野を
位置決めして撮像を行わせ、検査領域内の各ランド領域
を自動抽出すると共に、各ランド領域の特徴パラメータ
を算出して、被検査データファイルを作成する。ついで
制御部24は、前記被検査データファイルを判定部16
に転送させ、この被検査データファイルと前記判定デー
タファイルとを比較させて、1番目の部品2Tにつきは
んだ付の良否などの実装品質を判定させる。
【0052】このような検査が被検査基板1T上の全て
の部品2Tにつき繰り返し実行され、その結果、はんだ
付不良などがあると、その不良部品と不良内容とが表示
部20に表示され或いはプリンタ21に印字された後、
基板を搬出する(ステップ6,7,8)。
の部品2Tにつき繰り返し実行され、その結果、はんだ
付不良などがあると、その不良部品と不良内容とが表示
部20に表示され或いはプリンタ21に印字された後、
基板を搬出する(ステップ6,7,8)。
【0053】
【発明の効果】この発明は上記の如く、異なる仰角の方
向に位置させた各円環状光源より検査位置へ光を一斉照
射し、曲面体での反射光を各光源別に選別して個別のモ
ノクロム撮像装置で撮像するようにしたから、カラーカ
メラを用いた従来例と比較して検査装置の大幅なコスト
ダウンを実現でき、しかも曲面体の状態を高速で検査で
きるという効果を奏する。
向に位置させた各円環状光源より検査位置へ光を一斉照
射し、曲面体での反射光を各光源別に選別して個別のモ
ノクロム撮像装置で撮像するようにしたから、カラーカ
メラを用いた従来例と比較して検査装置の大幅なコスト
ダウンを実現でき、しかも曲面体の状態を高速で検査で
きるという効果を奏する。
【図1】この発明の一実施例にかかる基板検査装置の全
体構成を示す説明図である。
体構成を示す説明図である。
【図2】はんだ付状態の良否と撮像パターンとの関係を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図3】この発明の第2の実施例の基板検査装置の全体
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
【図4】はんだ付状態の良否と第2実施例による撮像パ
ターンとの関係を示す説明図である。
ターンとの関係を示す説明図である。
【図5】この発明の第3の実施例の基板検査装置の全体
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
【図6】ティーチングの手順を示すフローチャートであ
る。
る。
【図7】自動検査の手順を示すフローチャートである。
【図8】従来のはんだ付自動検査装置の原理を示す説明
図である。
図である。
【図9】従来のはんだ付自動検査装置の原理を示す説明
図である。
図である。
【図10】従来のはんだ付自動検査装置の原理を示す説
明図である。
明図である。
5 投光部 6 撮像部 7 制御処理部 9,10,11,10′,11′ 円環状光源 24 制御部 26a,26b,26c モノクロムカメラ 27a,27b,27c フィルタ 30a,30b,31a,31b 偏光フィルタ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年8月20日
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 曲面形状検査装置
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、表面が異なる方向に
配向する多数の曲面要素の集合より成る曲面体につき、
各曲面要素の配向性を検出するのに用いられる曲面形状
検査装置に関連し、特にこの発明は、プリント基板上に
実装された部品につき、そのはんだ付け部位の形状など
を検査するのに好適な曲面形状検査装置に関する。
配向する多数の曲面要素の集合より成る曲面体につき、
各曲面要素の配向性を検出するのに用いられる曲面形状
検査装置に関連し、特にこの発明は、プリント基板上に
実装された部品につき、そのはんだ付け部位の形状など
を検査するのに好適な曲面形状検査装置に関する。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】このようなタイムシェアリング方式の問題
を解決するため、この発明の発明者は、先般、はんだ付
部位を検査するための新たな曲面形状検査装置を提案し
た。この装置は、検査対象に対し異なる色彩光を異なる
入射角で同時照射するための複数の光源より成る投光部
と、曲面体の表面からの反射光を撮像するカラーカメラ
より成る撮像部と、撮像部で得た撮像パターンより曲面
の形状を判別する処理部とから成るものである。
を解決するため、この発明の発明者は、先般、はんだ付
部位を検査するための新たな曲面形状検査装置を提案し
た。この装置は、検査対象に対し異なる色彩光を異なる
入射角で同時照射するための複数の光源より成る投光部
と、曲面体の表面からの反射光を撮像するカラーカメラ
より成る撮像部と、撮像部で得た撮像パターンより曲面
の形状を判別する処理部とから成るものである。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、はんだ付け部位などの曲面体の曲面形状を短時
間で検出でき、しかもコストの低減と信頼性の向上とを
実現した曲面形状検査装置を提供することを目的とす
る。
もので、はんだ付け部位などの曲面体の曲面形状を短時
間で検出でき、しかもコストの低減と信頼性の向上とを
実現した曲面形状検査装置を提供することを目的とす
る。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0018
【補正方法】変更
【補正内容】
【0018】
【課題を解決するための手段】この発明の曲面形状検査
装置は、検査位置に対し異なる仰角の位置に配備された
複数の円環状光源と、検査位置にある曲面体の表面での
反射光を各光源別に選別する光学系と、前記光学系で選
別された曲面体の表面での反射光を個別に撮像する光源
数に一致する数のモノクロム撮像装置と、各モノクロム
撮像装置で得られた撮像パターンより曲面体が有する各
曲面要素の形状を検出する制御処理装置とを備えたもの
である。
装置は、検査位置に対し異なる仰角の位置に配備された
複数の円環状光源と、検査位置にある曲面体の表面での
反射光を各光源別に選別する光学系と、前記光学系で選
別された曲面体の表面での反射光を個別に撮像する光源
数に一致する数のモノクロム撮像装置と、各モノクロム
撮像装置で得られた撮像パターンより曲面体が有する各
曲面要素の形状を検出する制御処理装置とを備えたもの
である。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0053
【補正方法】変更
【補正内容】
【0053】
【発明の効果】この発明は上記の如く、異なる仰角の方
向に位置させた各円環状光源より検査位置へ光を一斉照
射し、曲面体での反射光を各光源別に選別して個別のモ
ノクロム撮像装置で撮像するようにしたから、カラーカ
メラを用いた従来例と比較して検査装置の大幅なコスト
ダウンを実現でき、しかも曲面体の形状を高速で検査で
きるという効果を奏する。
向に位置させた各円環状光源より検査位置へ光を一斉照
射し、曲面体での反射光を各光源別に選別して個別のモ
ノクロム撮像装置で撮像するようにしたから、カラーカ
メラを用いた従来例と比較して検査装置の大幅なコスト
ダウンを実現でき、しかも曲面体の形状を高速で検査で
きるという効果を奏する。
【手続補正9】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正10】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正11】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正12】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正13】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
【手続補正14】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図8
【補正方法】変更
【補正内容】
【図8】
【手続補正15】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図10
【補正方法】変更
【補正内容】
【図10】
Claims (1)
- 【請求項1】 検査対象である曲面体の表面の状態を検
査するための曲面状態検査装置であって、 検査位置に対し異なる仰角の位置に配備された複数の円
環状光源と、 検査位置にある前記曲面体の表面での反射光を各光源別
に選別する光学系と、 前記光学系で選別された曲面体の表面での反射光を個別
に撮像する光源数に一致する数のモノクロム撮像装置
と、 各モノクロム撮像装置で得られた撮像パターンより曲面
体が有する各曲面要素の形状を検出する制御処理装置と
から成る曲面形状検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19757192A JPH0712748A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 曲面形状検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19757192A JPH0712748A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 曲面形状検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712748A true JPH0712748A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=16376719
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19757192A Pending JPH0712748A (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 曲面形状検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712748A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6983066B2 (en) | 1999-10-18 | 2006-01-03 | Mv Research Limited | Machine vision |
| US8077307B2 (en) | 2008-04-09 | 2011-12-13 | Orbotech Ltd. | Illumination system for optical inspection |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP19757192A patent/JPH0712748A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6983066B2 (en) | 1999-10-18 | 2006-01-03 | Mv Research Limited | Machine vision |
| US8077307B2 (en) | 2008-04-09 | 2011-12-13 | Orbotech Ltd. | Illumination system for optical inspection |
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