JPH0712873A - 検査用電磁遮蔽箱 - Google Patents
検査用電磁遮蔽箱Info
- Publication number
- JPH0712873A JPH0712873A JP15000793A JP15000793A JPH0712873A JP H0712873 A JPH0712873 A JP H0712873A JP 15000793 A JP15000793 A JP 15000793A JP 15000793 A JP15000793 A JP 15000793A JP H0712873 A JPH0712873 A JP H0712873A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electromagnetic shielding
- shielding box
- light source
- signal
- box
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 検査対象物の微弱な変化が検出可能な、外来
のノイズの遮断性に優れた安価な電磁遮蔽箱を提供す
る。 【構成】 電磁遮蔽箱１の外部に処理装置２，光源駆動
部３，光源Ａ４が設置される。処理装置２は光源駆動部
３を制御し光源Ａ４を駆動する。光源Ａ４の光は光ファ
イバ６を介し光電変換部Ａ８に入力し、電気信号に変換
しセンサ１０，処理回路１１に供給する。センサ１０は
電磁遮蔽箱１内の検査対象物の変化を検出し検出信号ａ
を出力する。処理回路１１はセンサ１０からの検出信号
ａにより光源Ｂ５を制御し光信号に変換する。光源Ｂ５
の光は光ファイバＢ１０を介して光電変換部Ｂ９に入力
し電気信号ｂに変換する。処理装置２は光電変換部Ｂ９
から電気信号ｂを入力し処理する。これにより電磁遮蔽
箱１内の検査対象物の変化を処理装置２が検出する。
のノイズの遮断性に優れた安価な電磁遮蔽箱を提供す
る。 【構成】 電磁遮蔽箱１の外部に処理装置２，光源駆動
部３，光源Ａ４が設置される。処理装置２は光源駆動部
３を制御し光源Ａ４を駆動する。光源Ａ４の光は光ファ
イバ６を介し光電変換部Ａ８に入力し、電気信号に変換
しセンサ１０，処理回路１１に供給する。センサ１０は
電磁遮蔽箱１内の検査対象物の変化を検出し検出信号ａ
を出力する。処理回路１１はセンサ１０からの検出信号
ａにより光源Ｂ５を制御し光信号に変換する。光源Ｂ５
の光は光ファイバＢ１０を介して光電変換部Ｂ９に入力
し電気信号ｂに変換する。処理装置２は光電変換部Ｂ９
から電気信号ｂを入力し処理する。これにより電磁遮蔽
箱１内の検査対象物の変化を処理装置２が検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は検査用電磁遮蔽箱に関
し、特に検査対象の微弱な変化を検出する必要があり，
且つノイズを十分に遮断する必要がある検査を行う際に
用いる検査用電磁遮蔽箱に関する。
し、特に検査対象の微弱な変化を検出する必要があり，
且つノイズを十分に遮断する必要がある検査を行う際に
用いる検査用電磁遮蔽箱に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の電磁遮蔽箱の一例として、実公平
１−１５４６９７号公報に記載されているが、この公報
に記載された従来の電磁遮蔽箱について図面を参照して
詳細に説明する。
１−１５４６９７号公報に記載されているが、この公報
に記載された従来の電磁遮蔽箱について図面を参照して
詳細に説明する。
【０００３】従来の電磁遮蔽箱は、図２に示すように、
シールドボックス本体２１が蓋体２２と箱体２３の２つ
の部分から構成される。蓋体２２は電波の遮蔽を施した
覗き窓２４が設けられており、シールドボックス本体２
１は、金属もしくは金属と非金属との複合材からなる一
重体、または二重体よりなっている。また、箱体２３に
は被検査機置台２５および電池２７が配設され、被検査
機置台２５上に被検査機２６を設置する。
シールドボックス本体２１が蓋体２２と箱体２３の２つ
の部分から構成される。蓋体２２は電波の遮蔽を施した
覗き窓２４が設けられており、シールドボックス本体２
１は、金属もしくは金属と非金属との複合材からなる一
重体、または二重体よりなっている。また、箱体２３に
は被検査機置台２５および電池２７が配設され、被検査
機置台２５上に被検査機２６を設置する。
【０００４】蓋体２３に設けられた覗き窓２４は、電磁
波を遮蔽するように施され、外来ノイズ等の電波は減衰
して内部への侵入を阻み、かつ内部の状態を外部から見
ることができる。さらに、箱体２３に設置された電池２
７は、被検査機２６やシールドボックス本体２１内に設
置される他の機器の電源として使用する。
波を遮蔽するように施され、外来ノイズ等の電波は減衰
して内部への侵入を阻み、かつ内部の状態を外部から見
ることができる。さらに、箱体２３に設置された電池２
７は、被検査機２６やシールドボックス本体２１内に設
置される他の機器の電源として使用する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電磁遮
蔽箱では、内部に設置した機器の電源として電池を用い
ているため、検査の途中で電池の交換が必要となること
がある。そのため、長時間に亘る検査を実施できなかっ
たり、消費電力が大きいため検査が実施できないという
欠点がある。
蔽箱では、内部に設置した機器の電源として電池を用い
ているため、検査の途中で電池の交換が必要となること
がある。そのため、長時間に亘る検査を実施できなかっ
たり、消費電力が大きいため検査が実施できないという
欠点がある。
【０００６】また、被検査機の変化を観察するには覗き
窓を通してのみ可能なため、視認の困難な微小変化は検
出できないという欠点がある。
窓を通してのみ可能なため、視認の困難な微小変化は検
出できないという欠点がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の検査用電磁遮蔽
箱は、開閉可能な電磁遮蔽箱と、前記電磁遮蔽箱の外部
に設置される処理装置と、前記電磁遮蔽箱の外部に設置
され前記処理装置に制御される光源駆動部と、前記電磁
遮蔽箱の外部に設置され前記光源駆動部に駆動されて電
気信号を光信号に変換出力する第１の光源と、前記電磁
遮蔽箱の側面を貫通し前記第１の光源の出力する光信号
を前記電磁遮蔽箱の中へ伝送する第１の光ファイバと、
前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光ファイバ
が伝送する光信号を入力し電気信号に変換出力する第１
の光電変換部と、前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記
第１の光電変換部から入力する電気信号を電源として作
動し検出結果を検出信号として出力するセンサと、前記
電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光電変換部から
入力する電気信号を電源とし前記センサから入力する検
出信号を所定の信号処理を行う処理回路と、前記電磁遮
蔽箱の内部に設置され前記処理回路から入力する電気信
号を光信号に変換出力する第２の光源と、前記電磁遮蔽
箱の側面を貫通し前記第２の光源の出力する光信号を前
記電磁遮蔽箱の外へ伝送する第２の光ファイバと、前記
電磁遮蔽箱の外部に設置され第２の光ファイバが伝送す
る光信号を入力し電気信号に変換して前記処理装置に出
力する第２の光電変換部とを備えている。
箱は、開閉可能な電磁遮蔽箱と、前記電磁遮蔽箱の外部
に設置される処理装置と、前記電磁遮蔽箱の外部に設置
され前記処理装置に制御される光源駆動部と、前記電磁
遮蔽箱の外部に設置され前記光源駆動部に駆動されて電
気信号を光信号に変換出力する第１の光源と、前記電磁
遮蔽箱の側面を貫通し前記第１の光源の出力する光信号
を前記電磁遮蔽箱の中へ伝送する第１の光ファイバと、
前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光ファイバ
が伝送する光信号を入力し電気信号に変換出力する第１
の光電変換部と、前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記
第１の光電変換部から入力する電気信号を電源として作
動し検出結果を検出信号として出力するセンサと、前記
電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光電変換部から
入力する電気信号を電源とし前記センサから入力する検
出信号を所定の信号処理を行う処理回路と、前記電磁遮
蔽箱の内部に設置され前記処理回路から入力する電気信
号を光信号に変換出力する第２の光源と、前記電磁遮蔽
箱の側面を貫通し前記第２の光源の出力する光信号を前
記電磁遮蔽箱の外へ伝送する第２の光ファイバと、前記
電磁遮蔽箱の外部に設置され第２の光ファイバが伝送す
る光信号を入力し電気信号に変換して前記処理装置に出
力する第２の光電変換部とを備えている。
【０００８】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
【０００９】図１は、本発明の一実施例を示すブロック
図である。本発明の検査用電磁遮蔽箱は、図１に示すよ
うに、電磁遮蔽箱１と、処理装置２と、光電変換部３
と、光源Ａ４，光源Ｂ５と、光ファイバＡ６，光ファイ
バＢ６と、光電変換部Ａ８，光電変換部Ｂ９と、センサ
１０と、処理回路１１とから構成される。
図である。本発明の検査用電磁遮蔽箱は、図１に示すよ
うに、電磁遮蔽箱１と、処理装置２と、光電変換部３
と、光源Ａ４，光源Ｂ５と、光ファイバＡ６，光ファイ
バＢ６と、光電変換部Ａ８，光電変換部Ｂ９と、センサ
１０と、処理回路１１とから構成される。
【００１０】開閉可能な電磁遮蔽箱１の外部には処理装
置２，光源駆動部３，および光源Ａ４が設置されてい
る。処理装置２は、光源駆動部３を制御し光源Ａ４を駆
動する。光源Ａ４から出力される光信号は、電磁遮蔽箱
１の側面を貫通する光ファイバＡ６により伝送され、電
磁遮蔽箱１内に設置される光電変換部Ａ８に導かれる。
光電変換部Ａ８に導かれた光信号は、電気信号に変換さ
れ出力される。
置２，光源駆動部３，および光源Ａ４が設置されてい
る。処理装置２は、光源駆動部３を制御し光源Ａ４を駆
動する。光源Ａ４から出力される光信号は、電磁遮蔽箱
１の側面を貫通する光ファイバＡ６により伝送され、電
磁遮蔽箱１内に設置される光電変換部Ａ８に導かれる。
光電変換部Ａ８に導かれた光信号は、電気信号に変換さ
れ出力される。
【００１１】電磁遮蔽箱１の内部に設置したセンサ１０
と処理回路１１は、光電変換部Ａ８から入力する電気信
号を電源として動作する。センサ１０は、電磁遮蔽箱１
内の検査対象の変化を検出し、検出信号ａとして出力す
る。処理回路１１は、センサ１０から入力する検出信号
ａを電磁遮蔽箱１内に設置される光源Ｂ５を制御して光
に変換する。
と処理回路１１は、光電変換部Ａ８から入力する電気信
号を電源として動作する。センサ１０は、電磁遮蔽箱１
内の検査対象の変化を検出し、検出信号ａとして出力す
る。処理回路１１は、センサ１０から入力する検出信号
ａを電磁遮蔽箱１内に設置される光源Ｂ５を制御して光
に変換する。
【００１２】光源Ｂ５から出力される光信号は、電磁遮
蔽箱１の側面を貫通する光ファイバＢ７により伝送さ
れ、電磁遮蔽箱１の外部に設置される光電変換部Ｂ９に
導かれる。光電変換部Ｂ９に導かれた光信号は、電気信
号ｂに変換され出力される。処理装置２は、光電変換部
Ｂ９から電気信号ｂを入力し処理する。これにより電磁
遮蔽箱１内の検査対象の変化を処理装置２が検出する。
蔽箱１の側面を貫通する光ファイバＢ７により伝送さ
れ、電磁遮蔽箱１の外部に設置される光電変換部Ｂ９に
導かれる。光電変換部Ｂ９に導かれた光信号は、電気信
号ｂに変換され出力される。処理装置２は、光電変換部
Ｂ９から電気信号ｂを入力し処理する。これにより電磁
遮蔽箱１内の検査対象の変化を処理装置２が検出する。
【００１３】本発明の検査用電磁遮蔽箱は、光ファイバ
Ａ６および光ファイバＢ７とを用いて２つの光源と光電
変換部とをそれぞれ接続しているため、電磁遮蔽箱１の
側面には貫通穴を開ける必要があるが、次に、その貫通
穴による電磁波の遮蔽効果について説明する。
Ａ６および光ファイバＢ７とを用いて２つの光源と光電
変換部とをそれぞれ接続しているため、電磁遮蔽箱１の
側面には貫通穴を開ける必要があるが、次に、その貫通
穴による電磁波の遮蔽効果について説明する。
【００１４】平板に穴を開けた場合の遮蔽効果は、次式
Ｓで与えられ、周波数には無関係である。
Ｓで与えられ、周波数には無関係である。
【００１５】 Ｓ＝２０ｌｏｇ（ｃ2 Ｌ／ｄ3 ）＋３２ｔ／ｄ＋３．８（ｄＢ） … (１) ここで、ｃは穴のピッチ，ｄは穴の直径，Ｌは最遠の穴
の中心間の距離，ｔは板厚をそれぞれ示す。ただし、ｄ
＜波長／２πの場合に（１）式は成立する。
の中心間の距離，ｔは板厚をそれぞれ示す。ただし、ｄ
＜波長／２πの場合に（１）式は成立する。
【００１６】従って、例えば、直径２ｍｍの２つの穴を
１００ｍｍ隔てて開けた場合、ｃ＝５０ｍｍ，Ｌ＝１０
０ｍｍ，ｄ＝２ｍｍ，ｔ＝５ｍｍとすると、遮蔽効果は
Ｓ≒１７３ｄＢとなり、検査を行う上で十分な電磁遮蔽
効果が得られる。
１００ｍｍ隔てて開けた場合、ｃ＝５０ｍｍ，Ｌ＝１０
０ｍｍ，ｄ＝２ｍｍ，ｔ＝５ｍｍとすると、遮蔽効果は
Ｓ≒１７３ｄＢとなり、検査を行う上で十分な電磁遮蔽
効果が得られる。
【００１７】また、より高い電磁遮蔽効果を必要とする
場合は、穴間の距離Ｌを長くするか、もしくは板厚ｔを
厚くすればよい。
場合は、穴間の距離Ｌを長くするか、もしくは板厚ｔを
厚くすればよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明では、電磁遮蔽箱内への電力供給
と電磁遮蔽箱内部のセンサの検出信号の外部への伝送と
をそれぞれ２つの光源により電気信号を光信号に変換
し、さらに光ファイバを用いて電磁遮蔽箱に入出力する
ため、電磁遮蔽箱に貫通穴を開けることによる電磁遮蔽
能力の低下を抑え、外来ノイズの遮断性に優れた電磁遮
蔽箱を安価に提供できるという効果がある。
と電磁遮蔽箱内部のセンサの検出信号の外部への伝送と
をそれぞれ２つの光源により電気信号を光信号に変換
し、さらに光ファイバを用いて電磁遮蔽箱に入出力する
ため、電磁遮蔽箱に貫通穴を開けることによる電磁遮蔽
能力の低下を抑え、外来ノイズの遮断性に優れた電磁遮
蔽箱を安価に提供できるという効果がある。
【００１９】また、電磁遮蔽箱内に設置したセンサ、お
よび処理回路に電力を供給できるため、検査対象物の微
小変化も検出できるという効果がある。
よび処理回路に電力を供給できるため、検査対象物の微
小変化も検出できるという効果がある。
【図１】本発明の１実施例を示すブロック図である。
【図２】従来の電磁遮蔽箱の概要を説明する斜視図であ
る。
る。
１ 電磁遮蔽箱 ２ 処理装置 ３ 光源駆動部 ４ 光源Ａ ５ 光源Ｂ ６ 光ファイバＡ ７ 光ファイバＢ ８ 光電変換部Ａ ９ 光電変換部Ｂ １０ センサ １１ 処理回路 ２１ シールドボックス本体 ２２ 蓋体 ２３ 箱体 ２４ 覗き窓 ２５ 被検査機置台 ２６ 被検査機 ２７ 電池 ａ 検出信号 ｂ 電気信号
Claims (1)
- 【請求項１】 開閉可能な電磁遮蔽箱と、前記電磁遮蔽
箱の外部に設置される処理装置と、前記電磁遮蔽箱の外
部に設置され前記処理装置に制御される光源駆動部と、
前記電磁遮蔽箱の外部に設置され前記光源駆動部に駆動
されて電気信号を光信号に変換出力する第１の光源と、
前記電磁遮蔽箱の側面を貫通し前記第１の光源の出力す
る光信号を前記電磁遮蔽箱の中へ伝送する第１の光ファ
イバと、前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光
ファイバが伝送する光信号を入力し電気信号に変換出力
する第１の光電変換部と、前記電磁遮蔽箱の内部に設置
され前記第１の光電変換部から入力する電気信号を電源
として作動し検出結果を検出信号として出力するセンサ
と、前記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記第１の光電変
換部から入力する電気信号を電源とし前記センサから入
力する検出信号を所定の信号処理を行う処理回路と、前
記電磁遮蔽箱の内部に設置され前記処理回路から入力す
る電気信号を光信号に変換出力する第２の光源と、前記
電磁遮蔽箱の側面を貫通し前記第２の光源の出力する光
信号を前記電磁遮蔽箱の外へ伝送する第２の光ファイバ
と、前記電磁遮蔽箱の外部に設置され第２の光ファイバ
が伝送する光信号を入力し電気信号に変換して前記処理
装置に出力する第２の光電変換部とを備えることを特徴
とする検査用電磁遮蔽箱。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15000793A JPH0712873A (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 検査用電磁遮蔽箱 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15000793A JPH0712873A (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 検査用電磁遮蔽箱 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712873A true JPH0712873A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=15487440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15000793A Pending JPH0712873A (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 検査用電磁遮蔽箱 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712873A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113899962A (zh) * | 2021-08-24 | 2022-01-07 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种后门防护装置高功率微波防护效能测试系统与方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04325844A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-16 | Nec Corp | 光による電源供給装置 |
-
1993
- 1993-06-22 JP JP15000793A patent/JPH0712873A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04325844A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-16 | Nec Corp | 光による電源供給装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113899962A (zh) * | 2021-08-24 | 2022-01-07 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种后门防护装置高功率微波防护效能测试系统与方法 |
| CN113899962B (zh) * | 2021-08-24 | 2023-04-25 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种后门防护装置高功率微波防护效能测试系统与方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19960416 |