JPH0712936A - 光波測距装置 - Google Patents
光波測距装置Info
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- JPH0712936A JPH0712936A JP5156868A JP15686893A JPH0712936A JP H0712936 A JPH0712936 A JP H0712936A JP 5156868 A JP5156868 A JP 5156868A JP 15686893 A JP15686893 A JP 15686893A JP H0712936 A JPH0712936 A JP H0712936A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 114
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度変化等による測距バイアス誤差をキャン
セルし、高精度な測定を行える光波測距装置を提供す
る。 【構成】 一定周波数の変調信号を出力する信号発生器
２と、直線偏光を出力する光送信器３と、光送信器３の
出射光を所要のビーム幅に変換する投光レンズ４と、入
射光の偏光方向をＰまたはＳ偏光のいずれかの方向に切
換える偏光制御器５と、偏光制御器５を出た光がＰ偏光
の場合透過し、Ｓ偏光の場合入射方向と直角方向に反射
する偏光ビームスプリッタ６と、計測点に設置されるコ
ーナーキューブリフレクタ７と、光波測距装置内に置か
れ内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレクタ
８と、集光レンズ９により集光された光を電気信号に変
換する光受信器１０と、信号発生器２の出力信号と光受
信器１０の出力信号との位相差を測定する位相差測定器
１１から構成される。
セルし、高精度な測定を行える光波測距装置を提供す
る。 【構成】 一定周波数の変調信号を出力する信号発生器
２と、直線偏光を出力する光送信器３と、光送信器３の
出射光を所要のビーム幅に変換する投光レンズ４と、入
射光の偏光方向をＰまたはＳ偏光のいずれかの方向に切
換える偏光制御器５と、偏光制御器５を出た光がＰ偏光
の場合透過し、Ｓ偏光の場合入射方向と直角方向に反射
する偏光ビームスプリッタ６と、計測点に設置されるコ
ーナーキューブリフレクタ７と、光波測距装置内に置か
れ内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレクタ
８と、集光レンズ９により集光された光を電気信号に変
換する光受信器１０と、信号発生器２の出力信号と光受
信器１０の出力信号との位相差を測定する位相差測定器
１１から構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光波測距装置に関し、
特に送信信号と受信信号の位相差から距離を測定する光
波測距装置に関する。
特に送信信号と受信信号の位相差から距離を測定する光
波測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の光波測距装置は、図３に
示すように光波測距装置１内の信号発生器２が出力する
一定周波数の変調信号で光送信器３が出力する光を強度
変調し、その強度変調光を投光レンズ４にて所要のビー
ム幅に変換した後、ビームスプリッタ１２を通して、計
測点に置かれたコーナーキューブリフレクタ７へ送る。
示すように光波測距装置１内の信号発生器２が出力する
一定周波数の変調信号で光送信器３が出力する光を強度
変調し、その強度変調光を投光レンズ４にて所要のビー
ム幅に変換した後、ビームスプリッタ１２を通して、計
測点に置かれたコーナーキューブリフレクタ７へ送る。
【０００３】コーナーキューブリフレクタ７からの反射
光は、光波測距装置１へ戻り、ビームスプリッタ１２で
その一部が反射された後、集光レンズ９で光受信器１０
へ集光される。光受信器１０において光信号は、信号発
生器２が出力する信号と同一周波数の電気信号に変換さ
れ、位相差測定器１１へ送られる。
光は、光波測距装置１へ戻り、ビームスプリッタ１２で
その一部が反射された後、集光レンズ９で光受信器１０
へ集光される。光受信器１０において光信号は、信号発
生器２が出力する信号と同一周波数の電気信号に変換さ
れ、位相差測定器１１へ送られる。
【０００４】位相差測定器１１は、信号発生器２からの
出力信号と光受信器１０からの出力信号との位相差を測
定し、その位相差から光波測距装置１とコーナーキュー
ブリフレクタ７との間の距離を求めている。
出力信号と光受信器１０からの出力信号との位相差を測
定し、その位相差から光波測距装置１とコーナーキュー
ブリフレクタ７との間の距離を求めている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この従来の光波測距装
置では、光送信器３，光受信器１０および位相差測定器
１１において生じる信号遅延時間の温度変化によって、
測距バイアス誤差が生じ、正確な測定が行えないという
欠点がある。
置では、光送信器３，光受信器１０および位相差測定器
１１において生じる信号遅延時間の温度変化によって、
測距バイアス誤差が生じ、正確な測定が行えないという
欠点がある。
【０００６】また、正確な測定を行うためには、あらか
じめ既知の距離で較正した後、測定を行う必要があるた
め、測定が煩雑であることや、リアルタイムの測定が行
えないという問題点があった。
じめ既知の距離で較正した後、測定を行う必要があるた
め、測定が煩雑であることや、リアルタイムの測定が行
えないという問題点があった。
【０００７】本発明の目的は、このような欠点および問
題点を解決した光波測距装置を提供することにある。
題点を解決した光波測距装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の光波測距装置
は、直線偏光を出力する光送信器と、この光送信器の出
射光の偏光方向をＰ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向
に切換える偏光制御器と、Ｐ偏光の場合透過しＳ偏光の
場合入射方向と直角方向に反射する偏光ビームスプリッ
タと、内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレ
クタとを備えることを特徴とする。
は、直線偏光を出力する光送信器と、この光送信器の出
射光の偏光方向をＰ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向
に切換える偏光制御器と、Ｐ偏光の場合透過しＳ偏光の
場合入射方向と直角方向に反射する偏光ビームスプリッ
タと、内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレ
クタとを備えることを特徴とする。
【０００９】また、本発明の光波測距装置は、光送信器
出射光を光ファイバにて導いた後、光バイパススイッチ
により２つの光路の一部を構成する２本の光ファイバの
内のいずれか一方に選択的に切替えて接続する構成を有
し、２つの光路の一方を光路長が正確に較正された内部
較正光路として用いることを特徴とする。
出射光を光ファイバにて導いた後、光バイパススイッチ
により２つの光路の一部を構成する２本の光ファイバの
内のいずれか一方に選択的に切替えて接続する構成を有
し、２つの光路の一方を光路長が正確に較正された内部
較正光路として用いることを特徴とする。
【００１０】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１１】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。本実施例の光波測距装置１は、一定周波数の変
調信号を出力する信号発生器２と、直線偏光を出力する
光送信器３と、光送信器３の出射光を所要のビーム幅に
変換する投光レンズ４と、入射光の偏光方向をＰまたは
Ｓ偏光のいずれかの方向に切換える偏光制御器５と、偏
光制御器５を出た光がＰ偏光の場合透過し、Ｓ偏光の場
合入射方向と直角方向に反射する偏光ビームスプリッタ
６と、光波測距装置内に置かれ内部較正光路を形成する
コーナーキューブリフレクタ８と、集光レンズ９により
集光された光を電気信号に変換する光受信器１０と、信
号発生器２の出力信号と光受信器１０の出力信号との位
相差を測定する位相差測定器１１とから構成される。
である。本実施例の光波測距装置１は、一定周波数の変
調信号を出力する信号発生器２と、直線偏光を出力する
光送信器３と、光送信器３の出射光を所要のビーム幅に
変換する投光レンズ４と、入射光の偏光方向をＰまたは
Ｓ偏光のいずれかの方向に切換える偏光制御器５と、偏
光制御器５を出た光がＰ偏光の場合透過し、Ｓ偏光の場
合入射方向と直角方向に反射する偏光ビームスプリッタ
６と、光波測距装置内に置かれ内部較正光路を形成する
コーナーキューブリフレクタ８と、集光レンズ９により
集光された光を電気信号に変換する光受信器１０と、信
号発生器２の出力信号と光受信器１０の出力信号との位
相差を測定する位相差測定器１１とから構成される。
【００１２】計測点には、コーナーキューブリフレクタ
７を設置する。
７を設置する。
【００１３】次に、本実施例の動作を説明する。
【００１４】光送信器３の出射光は、直線偏光状態にあ
り、信号発生器２が出力する一定周波数の信号で強度変
調される。強度変調された光は、投光レンズ４により所
要のビーム幅に変換された後、偏光制御器５に入る。
り、信号発生器２が出力する一定周波数の信号で強度変
調される。強度変調された光は、投光レンズ４により所
要のビーム幅に変換された後、偏光制御器５に入る。
【００１５】偏光制御器５で、入射ビームの偏光方向は
Ｐ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向に任意に切換えら
れ、偏光ビームスプリッタ６へ送られる。
Ｐ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向に任意に切換えら
れ、偏光ビームスプリッタ６へ送られる。
【００１６】偏光ビームスプリッタ６では、入射光はＰ
偏光の場合透過し、Ｓ偏光の場合入射方向と直角方向に
反射する。
偏光の場合透過し、Ｓ偏光の場合入射方向と直角方向に
反射する。
【００１７】距離計測時においては、偏光制御器５の出
射光は、Ｐ偏光が選択され、偏光ビームスプリッタ６を
透過し、計測点に置かれたコーナーキューブリフレクタ
７へ向け出射される。
射光は、Ｐ偏光が選択され、偏光ビームスプリッタ６を
透過し、計測点に置かれたコーナーキューブリフレクタ
７へ向け出射される。
【００１８】コーナーキューブリフレクタ７で反射され
た光は、非直線偏光となって光波測距装置１へ戻り、偏
光ビームスプリッタ６で、一部が入射方向と直角に反射
された後、集光レンズ９により光受信器１０上に集光さ
れる。
た光は、非直線偏光となって光波測距装置１へ戻り、偏
光ビームスプリッタ６で、一部が入射方向と直角に反射
された後、集光レンズ９により光受信器１０上に集光さ
れる。
【００１９】光受信器１０では、強度変調光をそれと同
一周波数の電気信号に変換し、位相差測定器１１へ出力
する。
一周波数の電気信号に変換し、位相差測定器１１へ出力
する。
【００２０】位相差測定器１１では、信号発生器２が出
力する信号と光受信器１０が出力する信号とを受けて、
２つの信号の位相差を測定し、光波測距装置１とコーナ
ーキューブリフレクタ７との間の距離を得る。
力する信号と光受信器１０が出力する信号とを受けて、
２つの信号の位相差を測定し、光波測距装置１とコーナ
ーキューブリフレクタ７との間の距離を得る。
【００２１】次に較正時においては、偏光制御器５の出
射光は、Ｓ偏光が選択され、偏光ビームスプリッタ６で
入射方向と直角方向に反射され、内部較正光路上に置か
れたコーナーキューブリフレクタ８へ向かう。
射光は、Ｓ偏光が選択され、偏光ビームスプリッタ６で
入射方向と直角方向に反射され、内部較正光路上に置か
れたコーナーキューブリフレクタ８へ向かう。
【００２２】コーナーキューブリフレクタ８で反射され
た光は、非直線偏光となって偏光ビームスプリッタ６へ
戻り、一部が透過した後、集光レンズ９により光受信器
１０上に集光され、電気信号に変換される。
た光は、非直線偏光となって偏光ビームスプリッタ６へ
戻り、一部が透過した後、集光レンズ９により光受信器
１０上に集光され、電気信号に変換される。
【００２３】位相差測定器１１では、信号発生器２の出
力信号と光受信器１０の出力信号との位相差が測定さ
れ、それから内部較正光路の光路長が求められる。
力信号と光受信器１０の出力信号との位相差が測定さ
れ、それから内部較正光路の光路長が求められる。
【００２４】今、光波測距装置１からコーナーキューブ
リフレクタ７までの距離の測定値をＲm 、距離の真値を
Ｒo 、距離測定時の光波測距装置内部の光路長をＲi 、
光送信器３と光受信器１０と位相差測定器１１における
信号遅延時間の温度変化によって生じる測定誤差をΔＲ
とすると、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒi −ΔＲ で与えられる。
リフレクタ７までの距離の測定値をＲm 、距離の真値を
Ｒo 、距離測定時の光波測距装置内部の光路長をＲi 、
光送信器３と光受信器１０と位相差測定器１１における
信号遅延時間の温度変化によって生じる測定誤差をΔＲ
とすると、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒi −ΔＲ で与えられる。
【００２５】一方、内部較正時の光路長の測定値を
Ｌm 、真値をＬo とすると、ΔＲは、 ΔＲ＝Ｌm −Ｌo で与えられ、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒi −（Ｌm −Ｌo ） で計算できることから、信号遅延時間の温度変化によっ
て生じる測距誤差ΔＲは、光路長が正確に較正された内
部較正光路を用いてキャンセルすることができる。
Ｌm 、真値をＬo とすると、ΔＲは、 ΔＲ＝Ｌm −Ｌo で与えられ、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒi −（Ｌm −Ｌo ） で計算できることから、信号遅延時間の温度変化によっ
て生じる測距誤差ΔＲは、光路長が正確に較正された内
部較正光路を用いてキャンセルすることができる。
【００２６】以上説明したように本実施例は、直線偏光
を出力する光送信器と、光送信器の出射光の偏光方向を
Ｐ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向に切換える偏光制
御器と、偏光ビームスプリッタと、内部較正光路を形成
するコーナーキューブリフレクタとを用い、偏光制御器
により光の偏光方向を切換えることで、光を内部較正光
路側へ切換えることによって、光送信器，光受信器およ
び位相差測定器などの電気回路における信号遅延時間の
温度変化に起因する測距値の誤差の較正が、光路長があ
らかじめ正確に決められた内部較正光路を用いてリアル
タイムで行えるため、高精度な測定が可能となる。
を出力する光送信器と、光送信器の出射光の偏光方向を
Ｐ偏光またはＳ偏光のいずれかの方向に切換える偏光制
御器と、偏光ビームスプリッタと、内部較正光路を形成
するコーナーキューブリフレクタとを用い、偏光制御器
により光の偏光方向を切換えることで、光を内部較正光
路側へ切換えることによって、光送信器，光受信器およ
び位相差測定器などの電気回路における信号遅延時間の
温度変化に起因する測距値の誤差の較正が、光路長があ
らかじめ正確に決められた内部較正光路を用いてリアル
タイムで行えるため、高精度な測定が可能となる。
【００２７】図２は本発明の他の実施例を示すブロック
図である。本実施例の光波測距装置１は、信号発生器２
から出力される一定周波数の信号で変調された光を出射
する光送信器３と、光ファイバ１３により導かれた光送
信器３の出射光を、計測光路の一部を構成する光ファイ
バ１４または内部較正光路の一部を構成する光ファイバ
１５のいずれか一方に切り替えて接続する光バイパスス
イッチ１６と、光ファイバ１４および１５の出射光を所
要のビーム幅に変換する投光レンズ４および１７と、光
を２分岐するビームスプリッタ１２と、集光レンズ９に
より集光された光を電気信号に変換する光受信器１０
と、信号発生器２の出力信号と光受信器１０の出力信号
との位相差を測定する位相差測定器１１とから構成され
る。
図である。本実施例の光波測距装置１は、信号発生器２
から出力される一定周波数の信号で変調された光を出射
する光送信器３と、光ファイバ１３により導かれた光送
信器３の出射光を、計測光路の一部を構成する光ファイ
バ１４または内部較正光路の一部を構成する光ファイバ
１５のいずれか一方に切り替えて接続する光バイパスス
イッチ１６と、光ファイバ１４および１５の出射光を所
要のビーム幅に変換する投光レンズ４および１７と、光
を２分岐するビームスプリッタ１２と、集光レンズ９に
より集光された光を電気信号に変換する光受信器１０
と、信号発生器２の出力信号と光受信器１０の出力信号
との位相差を測定する位相差測定器１１とから構成され
る。
【００２８】計測点には、コーナーキューブリフレクタ
７を設置する。
７を設置する。
【００２９】次に、本実施例の動作を説明する。
【００３０】信号発生器２から出力される一定周波数の
信号で強度変調された光送信器３の出射光は、光ファイ
バ１３に導かれ、光バイパススイッチ１６へ入る。光バ
イパススイッチ１６では、ポートＡまたはポートＢが任
意に選択され、それぞれ計測光路の一部を構成する光フ
ァイバ１４または内部較正光路の一部を構成する光ファ
イバ１５のいずれか一方へ接続される。
信号で強度変調された光送信器３の出射光は、光ファイ
バ１３に導かれ、光バイパススイッチ１６へ入る。光バ
イパススイッチ１６では、ポートＡまたはポートＢが任
意に選択され、それぞれ計測光路の一部を構成する光フ
ァイバ１４または内部較正光路の一部を構成する光ファ
イバ１５のいずれか一方へ接続される。
【００３１】距離計測時においては、まずポートＡが選
択され、光ファイバ１４を通った光は、投光レンズ４に
より所要のビーム幅に変換され、ビームスプリッタ１２
を透過した光が測定点に設置されたコーナーキューブリ
フレクタ７に向け送られる。コーナーキューブリフレク
タ７で反射した光は、光波測距装置１へ戻り、ビームス
プリッタ１２で反射した光が集光レンズ９により集光さ
れ、光受信器１０に入る。
択され、光ファイバ１４を通った光は、投光レンズ４に
より所要のビーム幅に変換され、ビームスプリッタ１２
を透過した光が測定点に設置されたコーナーキューブリ
フレクタ７に向け送られる。コーナーキューブリフレク
タ７で反射した光は、光波測距装置１へ戻り、ビームス
プリッタ１２で反射した光が集光レンズ９により集光さ
れ、光受信器１０に入る。
【００３２】光受信器１０では、変調光を、それと同一
周波数の電気信号に変換し、位相差測定器１１へ出力す
る。
周波数の電気信号に変換し、位相差測定器１１へ出力す
る。
【００３３】位相差測定器１１では、信号発生器２が出
力する信号と光受信器１０が出力する信号とを受けて、
２つの信号の位相差から、光波測距装置１とコーナーキ
ューブリフレクタ７との間の距離を測定する。
力する信号と光受信器１０が出力する信号とを受けて、
２つの信号の位相差から、光波測距装置１とコーナーキ
ューブリフレクタ７との間の距離を測定する。
【００３４】次に、測距値の較正のため、光バイパスス
イッチ１６のポートＢが選択され、内部較正用光ファイ
バ１５を通った光は、投光レンズ１７により所要のビー
ム幅に変換され、ビームスプリッタ１２を通り、集光レ
ンズ９により集光された後、光受信器１０に入り、電気
信号に変換される。
イッチ１６のポートＢが選択され、内部較正用光ファイ
バ１５を通った光は、投光レンズ１７により所要のビー
ム幅に変換され、ビームスプリッタ１２を通り、集光レ
ンズ９により集光された後、光受信器１０に入り、電気
信号に変換される。
【００３５】光受信器１０の出力信号は位相差測定器１
１へ送られ、そこで信号発生器２からの出力信号との位
相比較が行われ、位相差から内部較正光路の光路長が測
定される。
１へ送られ、そこで信号発生器２からの出力信号との位
相比較が行われ、位相差から内部較正光路の光路長が測
定される。
【００３６】図１の実施例同様に、光波測距装置１から
のコーナーキューブリフレクタ７までの距離の測定値を
Ｒm 、距離の真値をＲo 、光波測距装置内部の計測光路
長をＲ′、光送信器３，光受信器１０および位相差測定
器１１における信号遅延時間の温度変動によって生じる
測距誤差をΔＲとすると、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒ′−ΔＲ で与えられる。一方、内部較正光路の光路長の測定値を
Ｌm 、真値をＬo とすると、ΔＲは、 ΔＲ＝Ｌm −Ｌo で与えられることから、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒ′−（Ｌm −Ｌo ） で計算でき、信号遅延時間の温度変動によって生じる測
距誤差ΔＲは、光路長が正確に較正された内部較正光路
を用いてキャンセルすることができる。
のコーナーキューブリフレクタ７までの距離の測定値を
Ｒm 、距離の真値をＲo 、光波測距装置内部の計測光路
長をＲ′、光送信器３，光受信器１０および位相差測定
器１１における信号遅延時間の温度変動によって生じる
測距誤差をΔＲとすると、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒ′−ΔＲ で与えられる。一方、内部較正光路の光路長の測定値を
Ｌm 、真値をＬo とすると、ΔＲは、 ΔＲ＝Ｌm −Ｌo で与えられることから、距離の真値Ｒo は、 Ｒo ＝Ｒm −Ｒ′−（Ｌm −Ｌo ） で計算でき、信号遅延時間の温度変動によって生じる測
距誤差ΔＲは、光路長が正確に較正された内部較正光路
を用いてキャンセルすることができる。
【００３７】以上説明したように本実施例は、光バイパ
ススイッチを任意の時間に切り換えることで、光送信
器，光受信器および位相差測定器などの電気回路におけ
る信号遅延時間の温度変化によって生じる測距値の誤差
の較正が、光路長があらかじめ正確に決められた内部較
正光路を用いてリアルタイムで行えるため、高精度な測
定が可能となる。また、光ファイバと光バイパススイッ
チを用いることによって装置構成の自由度が改善される
という効果もある。
ススイッチを任意の時間に切り換えることで、光送信
器，光受信器および位相差測定器などの電気回路におけ
る信号遅延時間の温度変化によって生じる測距値の誤差
の較正が、光路長があらかじめ正確に決められた内部較
正光路を用いてリアルタイムで行えるため、高精度な測
定が可能となる。また、光ファイバと光バイパススイッ
チを用いることによって装置構成の自由度が改善される
という効果もある。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光波測距
装置によれば、温度変動等による測距バイアス誤差をキ
ャンセルし、高精度な測定を提供する。
装置によれば、温度変動等による測距バイアス誤差をキ
ャンセルし、高精度な測定を提供する。
【図１】本発明の一実施例の光波測距装置を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】本発明の他の実施例の光波測距装置を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】従来の光路測距装置の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
１ 光波測距装置 ２ 信号発生器 ３ 光送信器 ４，１７ 投光レンズ ５ 偏光制御器 ６ 偏光ビームスプリッタ ７，８ コーナーキューブリフレクタ ９ 集光レンズ １０ 光受信器 １１ 位相差測定器 １２ ビームスプリッタ １３，１４，１５ 光ファイバ １６ 光バイパススイッチ
Claims (4)
- 【請求項１】直線偏光を出力する光送信器と、前記光送
信器の出射光の偏光方向をＰ方向またはＳ方向のいずれ
かの方向に切換える偏光制御器と、偏光ビームスプリッ
タと、内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレ
クタとを有する光波測距装置であって、前記偏光制御器
で光の偏光方向を切換えることにより光を内部較正光路
側へ切換えることを特徴とする光波測距装置。 - 【請求項２】一定周波数の変調信号を出力する信号発生
器と、 直線偏光を出力する光送信器と、 光送信器の出射光を所要のビーム幅に変換する投光レン
ズと、 投光レンズの出射光の偏光方向をＰまたはＳ偏光のいず
れかの方向に切換える偏光制御器と、 偏光制御器を出た光がＰ偏光の場合透過し、Ｓ偏光の場
合入射方向と直角方向に反射する偏光ビームスプリッタ
と、 内部較正光路を形成するコーナーキューブリフレクタ
と、 偏光ビームスプリッタからの光を集光する集光レンズ
と、 集光レンズにより集光された光を電気信号に変換する光
受信器と、 信号発生器の出力信号と光受信器の出力信号との位相差
を測定する位相差測定器と、を備えることを特徴とする
光波測距装置。 - 【請求項３】光送信器の出射光を光ファイバにて導いた
後、光バイパススイッチにより２つの光路の一部を構成
する２本の光ファイバの内のいずれか一方に選択的に切
替えて接続する構成を有し、２つの光路の一方を光路長
が正確に較正された内部較正光路として用いることを特
徴とする光波測距装置。 - 【請求項４】信号発生器から出力される一定周波数の信
号で変調された光を出射する光送信器と、 第１の光ファイバにより導かれた光送信器の出射光を、
計測光路の一部を構成する第２の光ファイバまたは内部
較正光路の一部を構成する第３の光ファイバのいずれか
一方に切替えて接続する光バイパススイッチと、 第２の光ファイバおよび第３の光ファイバ出射光を所要
のビーム幅に変換する２つのレンズと、 光を２分岐するビームスプリッタと、 ビームスプリッタからの光を集光する集光レンズと、 集光レンズにより集光された光を電気信号に変換する光
受信器と、 信号発生器の出力信号と光受信器の出力信号との位相差
を測定する位相差測定器と、を備えることを特徴とする
光波測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5156868A JP2550866B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 光波測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5156868A JP2550866B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 光波測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712936A true JPH0712936A (ja) | 1995-01-17 |
| JP2550866B2 JP2550866B2 (ja) | 1996-11-06 |
Family
ID=15637150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5156868A Expired - Lifetime JP2550866B2 (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 光波測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2550866B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015517094A (ja) * | 2012-03-23 | 2015-06-18 | ウインダー フォトニクス エー／エスＷｉｎｄａｒ Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ Ａ／Ｓ | 複数方向のｌｉｄａｒシステム |
| WO2020100808A1 (ja) * | 2018-11-16 | 2020-05-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光測距装置及び光測距方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6435306A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-06 | Ricoh Kk | Incidence angle determining method for refractive index and film thickness measurement |
| JPH01235889A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | Topcon Corp | 直線性誤差補正機能を有する光波測距装置 |
| JPH0378948A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-04 | Mitsubishi Electric Corp | プロジエクシヨンテレビ装置 |
| JPH04332805A (ja) * | 1991-05-09 | 1992-11-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 微小変位検出装置 |
-
1993
- 1993-06-28 JP JP5156868A patent/JP2550866B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2550866B2 (ja) | 1996-11-06 |
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