JPH0829534A - 光波測距システム - Google Patents
光波測距システムInfo
- Publication number
- JPH0829534A JPH0829534A JP6160956A JP16095694A JPH0829534A JP H0829534 A JPH0829534 A JP H0829534A JP 6160956 A JP6160956 A JP 6160956A JP 16095694 A JP16095694 A JP 16095694A JP H0829534 A JPH0829534 A JP H0829534A
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- Japan
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- distance measuring
- light
- distance
- corner cube
- cube reflector
- Prior art date
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- Pending
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 21
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ２つの光波測距装置で構成される光波測距シ
ステムについて、２つのコーナーキューブリフレクタか
らの反射光を受光することによって生じるバイアス誤差
の発生を防止する。 【構成】 一方の光波測距装置１からはＰ偏光した測距
光を、他方の光波測距装置２からはＳ偏光した光を出力
する。２つのコーナーキューブリフレクタ４，６の前面
に、一方にはＰ偏光、他方にはＳ偏光を透過する偏光板
３，５を置くことにより、一方のコーナーキューブリフ
レクタからの反射光だけが戻ってくるため、互いの干渉
による測距バイアス誤差が生じず、精度の高い測定を行
うことができる。
ステムについて、２つのコーナーキューブリフレクタか
らの反射光を受光することによって生じるバイアス誤差
の発生を防止する。 【構成】 一方の光波測距装置１からはＰ偏光した測距
光を、他方の光波測距装置２からはＳ偏光した光を出力
する。２つのコーナーキューブリフレクタ４，６の前面
に、一方にはＰ偏光、他方にはＳ偏光を透過する偏光板
３，５を置くことにより、一方のコーナーキューブリフ
レクタからの反射光だけが戻ってくるため、互いの干渉
による測距バイアス誤差が生じず、精度の高い測定を行
うことができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光波測距システムに関
し、特にコーナーキューブリフレクタを反射鏡とし、主
系，冗長系の２式の光波測距装置を同時に使用する光波
測距システムに関する。
し、特にコーナーキューブリフレクタを反射鏡とし、主
系，冗長系の２式の光波測距装置を同時に使用する光波
測距システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】主系，冗長系の２式の光波測距装置で構
成される測距システムは、図２に示すように、主系の光
波測距装置１と冗長系の光波測距装置２と、測距対象に
取り付けられた第１および第２のコーナーキューブリフ
レクタとを備え、光波測距装置１およびコーナーキュー
ブリフレクタ４と、光波測距装置２およびコーナーキュ
ーブリフレクタ６とで、２系統の測距系が独立に形成さ
れている。
成される測距システムは、図２に示すように、主系の光
波測距装置１と冗長系の光波測距装置２と、測距対象に
取り付けられた第１および第２のコーナーキューブリフ
レクタとを備え、光波測距装置１およびコーナーキュー
ブリフレクタ４と、光波測距装置２およびコーナーキュ
ーブリフレクタ６とで、２系統の測距系が独立に形成さ
れている。
【０００３】このような２式の光波測距システムでは、
コーナーキューブリフレクタ４，６は互いに接近して測
距対象に配置されているので、光波測距装置１および２
からの測距光は、それぞれコーナーキューブリフレクタ
４および６の両方に入射する。
コーナーキューブリフレクタ４，６は互いに接近して測
距対象に配置されているので、光波測距装置１および２
からの測距光は、それぞれコーナーキューブリフレクタ
４および６の両方に入射する。
【０００４】コーナーキューブリフレクタ４，６は、入
射した光を入射方向と同じ方向に反射するので、光波測
距装置１から照射された光路７，９の測距光は、コーナ
ーキューブリフレクタ４，６でそれぞれ反射され、光路
８，１３を通って、光波測距装置１に戻ってくる。
射した光を入射方向と同じ方向に反射するので、光波測
距装置１から照射された光路７，９の測距光は、コーナ
ーキューブリフレクタ４，６でそれぞれ反射され、光路
８，１３を通って、光波測距装置１に戻ってくる。
【０００５】同様に、冗長系の光波測距装置２から照射
された光路１０，１２の測距光は、それぞれコーナーキ
ューブリフレクタ６，４で反射され、光路１１，１４を
通って光波測距装置２に戻ってくる。
された光路１０，１２の測距光は、それぞれコーナーキ
ューブリフレクタ６，４で反射され、光路１１，１４を
通って光波測距装置２に戻ってくる。
【０００６】光波測距装置では、照射した測距光と反射
して戻ってきた測距光との位相差から距離を測定する。
して戻ってきた測距光との位相差から距離を測定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】この従来の主系，冗長
系の２式の光波測距装置で構成される光波測距システム
では、各光波測距装置には、他系統のコーナーキューブ
リフレクタからの反射光も共に戻ってくるために、２つ
の反射光を受光することによって、互いの干渉による測
距バイアス誤差を生じ、測距精度が悪化するという問題
点があった。
系の２式の光波測距装置で構成される光波測距システム
では、各光波測距装置には、他系統のコーナーキューブ
リフレクタからの反射光も共に戻ってくるために、２つ
の反射光を受光することによって、互いの干渉による測
距バイアス誤差を生じ、測距精度が悪化するという問題
点があった。
【０００８】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決した光波測距システムを提供することにある。
決した光波測距システムを提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、第１および第
２の光波測距装置で構成され、測距対象に出射された測
距光と、測距光に対する前記測距対象からの反射光との
位相差から前記測距対象までの距離を測定する光波測距
システムであって、前記第１および第２の光波測距装置
は、各々直交した偏光の測距光を発光する発光部を有
し、発光された測距光のうち各々予め割り当てられた偏
光の測距光のみを選択的に透過して反射する第１および
第２の反射手段を前記測距対象に設けたことを特徴とす
る。
２の光波測距装置で構成され、測距対象に出射された測
距光と、測距光に対する前記測距対象からの反射光との
位相差から前記測距対象までの距離を測定する光波測距
システムであって、前記第１および第２の光波測距装置
は、各々直交した偏光の測距光を発光する発光部を有
し、発光された測距光のうち各々予め割り当てられた偏
光の測距光のみを選択的に透過して反射する第１および
第２の反射手段を前記測距対象に設けたことを特徴とす
る。
【００１０】
【作用】第１の光波測距装置から出射された偏光は、第
１の反射手段により反射され、第１の光波測距装置に入
射する。また、第２の光波測距装置から出射された偏光
は、第２の反射手段により反射され、第２の光波測距装
置に入射する。したがって、各光波測距装置では、１つ
の反射手段からの反射光だけが戻ってくるため、互いの
干渉による測距バイアス誤差が生じず、精度の高い測定
を行うことができる。
１の反射手段により反射され、第１の光波測距装置に入
射する。また、第２の光波測距装置から出射された偏光
は、第２の反射手段により反射され、第２の光波測距装
置に入射する。したがって、各光波測距装置では、１つ
の反射手段からの反射光だけが戻ってくるため、互いの
干渉による測距バイアス誤差が生じず、精度の高い測定
を行うことができる。
【００１１】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１２】図１は本発明の光波測距システムの一実施
例を示す構成図である。この光波測距システムは、主系
の光波測距装置１と冗長系の光波測距装置２とを備えて
いる。光波測距装置１は、直線偏光であるＰ偏光の測距
光を発生する発光部とを有し、光波測距装置２は、直線
偏光であるＳ偏光の測距光を発生する発光部とを有して
いる。
例を示す構成図である。この光波測距システムは、主系
の光波測距装置１と冗長系の光波測距装置２とを備えて
いる。光波測距装置１は、直線偏光であるＰ偏光の測距
光を発生する発光部とを有し、光波測距装置２は、直線
偏光であるＳ偏光の測距光を発生する発光部とを有して
いる。
【００１３】本実施例の光波測距システムは、測距対象
上に、主系の光波測距装置１からの測距光を反射するコ
ーナーキューブリフレクタ４と、冗長系の光波測距装置
２からの測距光を反射するコーナーキューブリフレクタ
６とを備えている。コーナーキューブリフレクタ４の前
であって光波測距装置２に対向する側に、Ｐ偏光のみを
透過する偏光板３を、コーナーキューブリフレクタ６の
前であって光波測距装置に対向する側に、Ｓ偏光のみを
透過する偏光板５を設ける。
上に、主系の光波測距装置１からの測距光を反射するコ
ーナーキューブリフレクタ４と、冗長系の光波測距装置
２からの測距光を反射するコーナーキューブリフレクタ
６とを備えている。コーナーキューブリフレクタ４の前
であって光波測距装置２に対向する側に、Ｐ偏光のみを
透過する偏光板３を、コーナーキューブリフレクタ６の
前であって光波測距装置に対向する側に、Ｓ偏光のみを
透過する偏光板５を設ける。
【００１４】光波測距装置１，コーナーキューブリフレ
クタ４，偏光板３で１系統の測距系が構成され、光波測
距装置２，コーナーキューブリフレクタ６，偏光板５で
１系統の測距系が構成される。
クタ４，偏光板３で１系統の測距系が構成され、光波測
距装置２，コーナーキューブリフレクタ６，偏光板５で
１系統の測距系が構成される。
【００１５】以上のような構成の２系統の測距系よりな
る光波測距システムにおいては、各系統の測距系を独立
に使用して距離測定が行われる。主系の光波測距装置１
を用いて測距する場合には、光波測距装置１からの測距
光（Ｐ偏光）は、光路７，９を通ってコーナーキューブ
リフレクタ４，６へ照射される。偏光板３は、Ｐ偏光の
光のみを透過するので、コーナーキューブリフレクタ４
には測距光が入射される。一方、偏光板５はＰ偏光を透
過しないので、コーナーキューブリフレクタ６には測距
光が入射されない。
る光波測距システムにおいては、各系統の測距系を独立
に使用して距離測定が行われる。主系の光波測距装置１
を用いて測距する場合には、光波測距装置１からの測距
光（Ｐ偏光）は、光路７，９を通ってコーナーキューブ
リフレクタ４，６へ照射される。偏光板３は、Ｐ偏光の
光のみを透過するので、コーナーキューブリフレクタ４
には測距光が入射される。一方、偏光板５はＰ偏光を透
過しないので、コーナーキューブリフレクタ６には測距
光が入射されない。
【００１６】コーナーキューブリフレクタ４は入射され
たＰ偏光を、光路８を通って光波測距装置１へ反射す
る。光波測距装置１では、コーナーキューブリフレクタ
４に出射された測距光とコーナーキューブリフレクタ４
からの反射光との位相差からコーナーキューブリフレク
タ４までの距離を測定する。コーナーキューブリフレク
タ６からの反射光はないので、従来のように測距バイア
ス誤差による測距精度の悪化は生じない。
たＰ偏光を、光路８を通って光波測距装置１へ反射す
る。光波測距装置１では、コーナーキューブリフレクタ
４に出射された測距光とコーナーキューブリフレクタ４
からの反射光との位相差からコーナーキューブリフレク
タ４までの距離を測定する。コーナーキューブリフレク
タ６からの反射光はないので、従来のように測距バイア
ス誤差による測距精度の悪化は生じない。
【００１７】冗長系の光波測距装置２を使用する場合に
は、光波測距装置２からの測距光（Ｓ偏光）は、光路１
０，１２を通って、コーナーキューブリフレクタ６，４
へ照射される。偏光板５は、Ｓ偏光の光のみを透過する
ので、コーナーキューブリフレクタ６には測距光が入射
される。一方、偏光板３はＳ偏光を透過しないので、コ
ーナーキューブリフレクタ４には測距光が入射されな
い。
は、光波測距装置２からの測距光（Ｓ偏光）は、光路１
０，１２を通って、コーナーキューブリフレクタ６，４
へ照射される。偏光板５は、Ｓ偏光の光のみを透過する
ので、コーナーキューブリフレクタ６には測距光が入射
される。一方、偏光板３はＳ偏光を透過しないので、コ
ーナーキューブリフレクタ４には測距光が入射されな
い。
【００１８】コーナーキューブリフレクタ６は、入射さ
れたＳ偏光を、光路１１を通って光波測距装置２へ反射
する。光波測距装置２では、コーナーキューブリフレク
タ６に出射された測距光とコーナーキューブリフレクタ
６からの反射光との位相差からコーナーキューブリフレ
クタ６までの距離を測定する。コーナーキューブリフレ
クタ４からの反射光はないので、精度の高い測定が可能
になる。
れたＳ偏光を、光路１１を通って光波測距装置２へ反射
する。光波測距装置２では、コーナーキューブリフレク
タ６に出射された測距光とコーナーキューブリフレクタ
６からの反射光との位相差からコーナーキューブリフレ
クタ６までの距離を測定する。コーナーキューブリフレ
クタ４からの反射光はないので、精度の高い測定が可能
になる。
【００１９】以上の２系統の測距系は、同時に使用して
も良いし、また常時は一方の測距系を使用し、この測距
系が故障等により使用不能となったような場合に、他方
の測距系を使用するといった用い方もできる。
も良いし、また常時は一方の測距系を使用し、この測距
系が故障等により使用不能となったような場合に、他方
の測距系を使用するといった用い方もできる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、各々偏光
の方向が直交した測距光を発光する２つの光波測距装置
と、偏光板を有するコーナーキューブリフレクタにより
各々予め割り当てられた偏光の測距光のみを選択的に透
過して反射させることで、２つのコーナーキューブリフ
レクタからの反射光を受光することによって生じる測距
バイアス誤差を防止し、精度よく距離を求めることがで
きるという効果を有する。
の方向が直交した測距光を発光する２つの光波測距装置
と、偏光板を有するコーナーキューブリフレクタにより
各々予め割り当てられた偏光の測距光のみを選択的に透
過して反射させることで、２つのコーナーキューブリフ
レクタからの反射光を受光することによって生じる測距
バイアス誤差を防止し、精度よく距離を求めることがで
きるという効果を有する。
【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図２】従来例を示す構成図である。
１〜２ 光波測距装置 ３，５ 偏光板 ４，６ コーナーキューブリフレクタ ７〜１４ 光路
Claims (3)
- 【請求項１】第１および第２の光波測距装置で構成さ
れ、測距対象に出射された測距光と、測距光に対する前
記測距対象からの反射光との位相差から前記測距対象ま
での距離を測定する光波測距システムであって、 前記第１および第２の光波測距装置は、各々直交した偏
光の測距光を発光する発光部を有し、 発光された測距光のうち各々予め割り当てられた偏光の
測距光のみを選択的に透過して反射する第１および第２
の反射手段を前記測距対象に設けたことを特徴とする光
波測距システム。 - 【請求項２】前記第１の反射手段は、第１のコーナーキ
ューブリフレクタと、第１のコーナーキューブリフレク
タの前に設けられた、直交する偏光の一方のみを透過す
る第１の偏光板とからなり、 前記第２の反射手段は、第２のコーナーキューブリフレ
クタと、第２のコーナーキューブリフレクタの前に設け
られた、直交する偏光の他方のみを透過する第２の偏光
板とからなる、ことを特徴とする請求項１記載の光波測
距システム。 - 【請求項３】Ｐ偏光を照射し、照射光と反射光との位相
差から測距対象の距離を測定する第１の光波測距装置
と、 Ｓ偏光を照射し、照射光と反射光との位相差から測距対
象の距離を測定する第１の光波測距装置と、 測距対象に設けられた第１のコーナーキューブリフレク
タおよびこのコーナーキューブリフレクタの前に取り付
けられたＰ偏光のみを透過する第１の偏光板と、 測距対象に設けられた第２のコーナーキューブリフレク
タおよびこのコーナーキューブリフレクタの前に取り付
けられたＳ偏光のみを透過する第２の偏光板と、を備え
ることを特徴とする光波測距システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6160956A JPH0829534A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光波測距システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6160956A JPH0829534A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光波測距システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829534A true JPH0829534A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15725831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6160956A Pending JPH0829534A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光波測距システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829534A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011191106A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
| JP2014134405A (ja) * | 2013-01-08 | 2014-07-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 計測システム、及び計測方法 |
| CN116165632A (zh) * | 2023-04-23 | 2023-05-26 | 枣庄学院 | 一种施工现场自动化测距机器人 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57198083A (en) * | 1981-05-14 | 1982-12-04 | Hoechst Ag | Obtaining of new bacteria strain |
| JPS62170869A (ja) * | 1986-01-20 | 1987-07-27 | メツセルシユミツト−ベルコウ−ブロ−ム・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング | 物体の位置測定法とその装置 |
-
1994
- 1994-07-13 JP JP6160956A patent/JPH0829534A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57198083A (en) * | 1981-05-14 | 1982-12-04 | Hoechst Ag | Obtaining of new bacteria strain |
| JPS62170869A (ja) * | 1986-01-20 | 1987-07-27 | メツセルシユミツト−ベルコウ−ブロ−ム・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング | 物体の位置測定法とその装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011191106A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
| JP2014134405A (ja) * | 2013-01-08 | 2014-07-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 計測システム、及び計測方法 |
| US10066937B2 (en) | 2013-01-08 | 2018-09-04 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Measurement system and measuring method |
| CN116165632A (zh) * | 2023-04-23 | 2023-05-26 | 枣庄学院 | 一种施工现场自动化测距机器人 |
| CN116165632B (zh) * | 2023-04-23 | 2023-07-21 | 枣庄学院 | 一种施工现场自动化测距机器人 |
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