JPH0712948A - 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 - Google Patents
散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置Info
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- JPH0712948A JPH0712948A JP5178546A JP17854693A JPH0712948A JP H0712948 A JPH0712948 A JP H0712948A JP 5178546 A JP5178546 A JP 5178546A JP 17854693 A JP17854693 A JP 17854693A JP H0712948 A JPH0712948 A JP H0712948A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 101
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】放射線画像診断装置、特にＸ線ＣＴ装置におい
て、散乱線補正と線質補正を同時に、かつ各検出データ
（角度データ）毎に可能とし、総合的に精度の高い補正
を実現する。 【構成】散乱線検出器７を２段構造とし、上段７ａにお
いて比較的低エネルギのＸ線、下段７ｂにおいて比較的
高エネルギのＸ線を検出し、上段からの出力Ｉ1による
散乱線量の検出と同時に、上段からの出力Ｉ1と下段か
らの出力Ｉ2の比による散乱線の線質、換言すれば主線
の線質の推定を可能とした。
て、散乱線補正と線質補正を同時に、かつ各検出データ
（角度データ）毎に可能とし、総合的に精度の高い補正
を実現する。 【構成】散乱線検出器７を２段構造とし、上段７ａにお
いて比較的低エネルギのＸ線、下段７ｂにおいて比較的
高エネルギのＸ線を検出し、上段からの出力Ｉ1による
散乱線量の検出と同時に、上段からの出力Ｉ1と下段か
らの出力Ｉ2の比による散乱線の線質、換言すれば主線
の線質の推定を可能とした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばＸ線ＣＴ装置な
どの放射線画像診断装置における散乱線や線質変化の影
響による放射線検出器の出力を補正するための散乱線検
出器及び散乱線・線質検出装置に関するものである。
どの放射線画像診断装置における散乱線や線質変化の影
響による放射線検出器の出力を補正するための散乱線検
出器及び散乱線・線質検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】放射線を用いた画像診断装置、例えばＸ
線ＣＴ装置においては、散乱線及び線質変化の影響を排
除することが画質向上の重要な要素である。散乱線の影
響を排除する方法としては、従来からコリメータやグリ
ッドを用いる方法や、散乱線検出用の放射線検出器（散
乱線検出器）により散乱線量を測定し、補正する方法な
どがある。また、線質変化についても大きさの異なった
ファントムを用いたデータによるものなど、種々の補正
方法がある。
線ＣＴ装置においては、散乱線及び線質変化の影響を排
除することが画質向上の重要な要素である。散乱線の影
響を排除する方法としては、従来からコリメータやグリ
ッドを用いる方法や、散乱線検出用の放射線検出器（散
乱線検出器）により散乱線量を測定し、補正する方法な
どがある。また、線質変化についても大きさの異なった
ファントムを用いたデータによるものなど、種々の補正
方法がある。
【０００３】散乱線検出器により散乱線の影響を排除す
る方法は、Ｘ線の主線を外れた領域に散乱線専用の検出
器、すなわち散乱線検出器を設置し、この検出器からの
信号を基に散乱線量を推定し、補正するものである。従
来、この方法で用いられている検出器は、例えば特願平
３−２２１８２６号に述べられているように、Ｘ線を阻
止し、最終的に信号電流に変換する１段の検出素子から
の出力信号により散乱線補正量を決定していた。
る方法は、Ｘ線の主線を外れた領域に散乱線専用の検出
器、すなわち散乱線検出器を設置し、この検出器からの
信号を基に散乱線量を推定し、補正するものである。従
来、この方法で用いられている検出器は、例えば特願平
３−２２１８２６号に述べられているように、Ｘ線を阻
止し、最終的に信号電流に変換する１段の検出素子から
の出力信号により散乱線補正量を決定していた。
【０００４】図３において、Ｘ線焦点１からコリメータ
２を通して被検体３にＸ線（主線）４が照射され、Ｘ線
検出器（主検出器）６によりＸ線を電流に変換する。ま
た、散乱線５は散乱線検出器７により検出され、データ
処理装置８に送られる。データ処理装置８では散乱線検
出器７からの信号により散乱線補正量を決定し、Ｘ線検
出器６からの信号を補正する。
２を通して被検体３にＸ線（主線）４が照射され、Ｘ線
検出器（主検出器）６によりＸ線を電流に変換する。ま
た、散乱線５は散乱線検出器７により検出され、データ
処理装置８に送られる。データ処理装置８では散乱線検
出器７からの信号により散乱線補正量を決定し、Ｘ線検
出器６からの信号を補正する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来技術
では、散乱線５の線質に関する情報は得られず、特にＸ
線ＣＴ装置において、各角度データ毎に主線４の線質変
化を推定して散乱線量も含めた総合的な補正をすること
ができなという問題点があった。
では、散乱線５の線質に関する情報は得られず、特にＸ
線ＣＴ装置において、各角度データ毎に主線４の線質変
化を推定して散乱線量も含めた総合的な補正をすること
ができなという問題点があった。
【０００６】本発明の目的は、散乱線量及びＸ線の線質
変化を同時に、かつ各検出データ（Ｘ線ＣＴ装置の場合
は角度データ）毎に検出し、それらの補正を可能とした
散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置を提供すること
にある。
変化を同時に、かつ各検出データ（Ｘ線ＣＴ装置の場合
は角度データ）毎に検出し、それらの補正を可能とした
散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的は、放射線を電
流に変換する２つの放射線検出器を２段重ねて散乱線検
出器を構成することにより達成される。
流に変換する２つの放射線検出器を２段重ねて散乱線検
出器を構成することにより達成される。
【０００８】
【作用】散乱線検出器の散乱線入射側（上段）の放射線
検出器では比較的エネルギの低いＸ線を検出し、下段の
放射線検出器では上段の放射線検出器を透過した比較的
エネルギの高いＸ線を検出する。上段の放射線検出器か
らの出力と、下段の放射線検出器からの出力の比によ
り、入射するＸ線の線質を推定することができる。散乱
線の線質と主線の線質との間には、一定の関係があるた
め、前記上段の放射線検出器と下段の放射線検出器の出
力の比により主線の線質を推定することができ、線質変
化の補正量を算出することができる。散乱線の補正量
は、いずれかの放射線検出器、通常は上段の放射線検出
器の出力により、従来技術と同様にして算出できる。
検出器では比較的エネルギの低いＸ線を検出し、下段の
放射線検出器では上段の放射線検出器を透過した比較的
エネルギの高いＸ線を検出する。上段の放射線検出器か
らの出力と、下段の放射線検出器からの出力の比によ
り、入射するＸ線の線質を推定することができる。散乱
線の線質と主線の線質との間には、一定の関係があるた
め、前記上段の放射線検出器と下段の放射線検出器の出
力の比により主線の線質を推定することができ、線質変
化の補正量を算出することができる。散乱線の補正量
は、いずれかの放射線検出器、通常は上段の放射線検出
器の出力により、従来技術と同様にして算出できる。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明による散乱線検出器及び散乱線・
線質検出装置が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブ
ロック図である。この図１において、１〜６は図３と同
様である。７及び８も図３と同様に散乱線検出器及びデ
ータ処理装置を示すが、本発明では以下のように構成さ
れている。
する。図１は、本発明による散乱線検出器及び散乱線・
線質検出装置が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブ
ロック図である。この図１において、１〜６は図３と同
様である。７及び８も図３と同様に散乱線検出器及びデ
ータ処理装置を示すが、本発明では以下のように構成さ
れている。
【００１０】すなわち、散乱線検出器７は上下２段構造
とされ、上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂから信号を取
り出すように構成されている。また、データ処理装置８
は、散乱線検出器７の例えば上部散乱線検出器７ａから
の信号により散乱線補正量を決定し、Ｘ線検出器６から
の信号を補正するのみならず、上，下部散乱線検出器７
ａ，７ｂからの信号（大きさ）の比により、入射するＸ
線（散乱線５）の線質を推定する。散乱線５の線質と主
線４の線質との間には、一定の関係があるため、前記
上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂの出力信号の比により
主線４の線質を推定することができるもので、データ処
理装置８は、これにより主線４の線質を推定し、従来か
らの散乱線量の補正に加えて線質変化についての補正も
同時に行う。
とされ、上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂから信号を取
り出すように構成されている。また、データ処理装置８
は、散乱線検出器７の例えば上部散乱線検出器７ａから
の信号により散乱線補正量を決定し、Ｘ線検出器６から
の信号を補正するのみならず、上，下部散乱線検出器７
ａ，７ｂからの信号（大きさ）の比により、入射するＸ
線（散乱線５）の線質を推定する。散乱線５の線質と主
線４の線質との間には、一定の関係があるため、前記
上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂの出力信号の比により
主線４の線質を推定することができるもので、データ処
理装置８は、これにより主線４の線質を推定し、従来か
らの散乱線量の補正に加えて線質変化についての補正も
同時に行う。
【００１１】データ処理装置８による補正処理を以下に
述べる。すなわち、被検体３において発生した散乱線５
は２段重ねの散乱線検出器７（上，下部散乱線検出器７
ａ，７ｂ）に入射する。上，下部散乱線検出器７ａ，７
ｂからの信号はデータ処理装置８の送られ、補正すべき
量が決定される。この補正すべき量は例えば次のように
表される。
述べる。すなわち、被検体３において発生した散乱線５
は２段重ねの散乱線検出器７（上，下部散乱線検出器７
ａ，７ｂ）に入射する。上，下部散乱線検出器７ａ，７
ｂからの信号はデータ処理装置８の送られ、補正すべき
量が決定される。この補正すべき量は例えば次のように
表される。
【００１２】 α＝ｆ1（Ｉ1） ……（１） β＝ｆ2（Ｉ1，Ｉ2） ……（２） γ＝ｆ3（α，β） ……（３） ＸＨ＝Ｘ＋γ ……（４）
【００１３】ここで、α：散乱線補正量 Ｉ1：上部散乱線検出器７ａの出力 ｆ1：（Ｉ1）の関数 β：線質補正量 Ｉ2：下部散乱線検出器７ｂの出力 ｆ2：（Ｉ1，Ｉ2）の関数 γ：総合補正量 ｆ3：（α，β）の関数 ＸＨ：補正後のデータ Ｘ：Ｘ線検出器６の出力 である。（２）式の線質補正分については、現実的には
予めＩ1とＩ2の比と線質の関係を例えばＲＩなどを用い
てファントムに照射することにより求めておけばよい。
予めＩ1とＩ2の比と線質の関係を例えばＲＩなどを用い
てファントムに照射することにより求めておけばよい。
【００１４】図１のＸ線ＣＴ装置において、散乱線検出
器７をＸ線検出器６近傍の適宜位置に配置しておけば、
散乱線補正と線質補正に必要なデータを同時に取得する
ことができる。
器７をＸ線検出器６近傍の適宜位置に配置しておけば、
散乱線補正と線質補正に必要なデータを同時に取得する
ことができる。
【００１５】図２は、図１中の散乱線検出器７の具体例
を示した断面図である。２段重ねの散乱線検出器７を構
成する上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂは、各々、主と
して蛍光体（シンチレータ）と光電変換素子（フォトダ
イオード）とで構成されている。
を示した断面図である。２段重ねの散乱線検出器７を構
成する上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂは、各々、主と
して蛍光体（シンチレータ）と光電変換素子（フォトダ
イオード）とで構成されている。
【００１６】このような２段重ねの散乱線検出器７
（上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂ）において、散乱線
５は、上部散乱線検出器７ａのシンチレータ１１に入射
し、蛍光に変換され、フォトダイオード１２により電流
（Ｉ1）に変換する。この電流は、配線基板１３を経由
して前記データ処理装置８（図１参照）に導かれる。こ
の上部散乱線検出器７ａでは、比較的エネルギの低いＸ
線が検出される。
（上，下部散乱線検出器７ａ，７ｂ）において、散乱線
５は、上部散乱線検出器７ａのシンチレータ１１に入射
し、蛍光に変換され、フォトダイオード１２により電流
（Ｉ1）に変換する。この電流は、配線基板１３を経由
して前記データ処理装置８（図１参照）に導かれる。こ
の上部散乱線検出器７ａでは、比較的エネルギの低いＸ
線が検出される。
【００１７】上部散乱線検出器７ａを透過した散乱線５
´は、下部散乱線検出器７ｂのシンチレータ１６に入射
し、フォトダイオード１７により電流（Ｉ2）に変換さ
れ、配線基板１８を経て前記データ処理装置８に導かれ
る。この下部散乱線検出器７ｂでは、上部散乱線検出器
７ａを透過した比較的エネルギの高いＸ線が検出され
る。
´は、下部散乱線検出器７ｂのシンチレータ１６に入射
し、フォトダイオード１７により電流（Ｉ2）に変換さ
れ、配線基板１８を経て前記データ処理装置８に導かれ
る。この下部散乱線検出器７ｂでは、上部散乱線検出器
７ａを透過した比較的エネルギの高いＸ線が検出され
る。
【００１８】１４及び１９は、各々上，下部散乱線検出
器７ａ，７ｂを収納する容器である。また、２１は上，
下部散乱線検出器７ａ，７ｂからの出力Ｉ1，Ｉ2の比を
適正にするための調整用金属板である。
器７ａ，７ｂを収納する容器である。また、２１は上，
下部散乱線検出器７ａ，７ｂからの出力Ｉ1，Ｉ2の比を
適正にするための調整用金属板である。
【００１９】上記散乱線検出器７は、主検出器６近傍に
１個あるいは複数個配列するが、複数個配列する場合
は、それぞれの散乱線検出器７に対し補正すべき主検出
器６の素子を区分して割り当てる。
１個あるいは複数個配列するが、複数個配列する場合
は、それぞれの散乱線検出器７に対し補正すべき主検出
器６の素子を区分して割り当てる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、散
乱線検出器により散乱線と線質変化に関する補正に必要
なデータを同時に取得することができる。これにより、
従来のファントムによる補正のように、散乱線の影響と
線質変化の影響を分離できずにまとめて補正する方法に
比べて、散乱線と線質変化の影響を個別に、しかも各検
出時毎に（各角度データ毎に）把握することができ、よ
り精度の高い補正が可能になるという効果がある。
乱線検出器により散乱線と線質変化に関する補正に必要
なデータを同時に取得することができる。これにより、
従来のファントムによる補正のように、散乱線の影響と
線質変化の影響を分離できずにまとめて補正する方法に
比べて、散乱線と線質変化の影響を個別に、しかも各検
出時毎に（各角度データ毎に）把握することができ、よ
り精度の高い補正が可能になるという効果がある。
【図１】本発明による散乱線検出器及び散乱線・線質検
出装置が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブロック
図である。
出装置が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブロック
図である。
【図２】図１中の散乱線検出器の具体例を示した断面図
である。
である。
【図３】従来の散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置
が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブロック図であ
る。
が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を示すブロック図であ
る。
１ Ｘ線焦点 ２ コリメータ ３ 被検体 ４ Ｘ線（主線） ５ 散乱線 ６ Ｘ線検出器（主検出器） ７ 散乱線検出器 ７ａ 上部散乱線検出器 ７ｂ 下部散乱線検出器 ８ データ処理装置 １１ シンチレータ（蛍光体） １２ フォトダイオード（光電変換素子） １３ 配線基板 １４ 容器 １６ シンチレータ（蛍光体） １７ フォトダイオード（光電変換素子） １８ 配線基板 １９ 容器 ２１ 調整用金属板
Claims (3)
- 【請求項１】放射線を電流に変換する２つの放射線検出
器を２段重ねて構成したことを特徴とする散乱線検出
器。 - 【請求項２】２つの放射線検出器は各々蛍光体と光電変
換素子とを備えてなることを特徴とする請求項１に記載
の散乱線検出器。 - 【請求項３】放射線を電流に変換する２つの放射線検出
器を２段重ねてなる散乱線検出器と、この散乱線検出器
のうちのいずれか一方の放射線検出器の出力（Ｉ1）に
基づき散乱線の補正量を算出すると共に上記出力（Ｉ
1）と他方の放射線検出器の出力（Ｉ2）とに基づき線質
の補正量を算出する処理装置とを具備することを特徴と
する散乱線・線質検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5178546A JPH0712948A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5178546A JPH0712948A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712948A true JPH0712948A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=16050378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5178546A Pending JPH0712948A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712948A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009201885A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2011067555A (ja) * | 2009-09-28 | 2011-04-07 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1993
- 1993-06-28 JP JP5178546A patent/JPH0712948A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009201885A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2011067555A (ja) * | 2009-09-28 | 2011-04-07 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
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