JPH07134180A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPH07134180A JPH07134180A JP28258393A JP28258393A JPH07134180A JP H07134180 A JPH07134180 A JP H07134180A JP 28258393 A JP28258393 A JP 28258393A JP 28258393 A JP28258393 A JP 28258393A JP H07134180 A JPH07134180 A JP H07134180A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 線量率の変動に追従して自動的に最適なアベ
レージング期間を設定する。 【構成】 各時刻での線量率の変動を経時的に記憶して
おき、一定期間Ｔ毎に順次加算を行う。現時点での加算
値を基準として、標準偏差（分散値）を基礎に上下にし
きい値を定め、そのしきい値を超えるまでの期間を積算
幅とする。その積算幅内で計数率の平均化が行われる。
レージング期間を設定する。 【構成】 各時刻での線量率の変動を経時的に記憶して
おき、一定期間Ｔ毎に順次加算を行う。現時点での加算
値を基準として、標準偏差（分散値）を基礎に上下にし
きい値を定め、そのしきい値を超えるまでの期間を積算
幅とする。その積算幅内で計数率の平均化が行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線測定装置特にア
ベレージング期間を自動的に最適化できる放射線測定装
置に関する。
ベレージング期間を自動的に最適化できる放射線測定装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】環境放射線等は、その線量率が経時的に
激しく変動しており、放射線測定装置にて測定された線
量率を仮にそのまま表示すると、その値を正確に読み取
ることができない。特に、デジタル表示ではその傾向が
強い。
激しく変動しており、放射線測定装置にて測定された線
量率を仮にそのまま表示すると、その値を正確に読み取
ることができない。特に、デジタル表示ではその傾向が
強い。
【０００３】そこで、従来の放射線測定装置において
は、アベレージング機能が付加されており、平滑化によ
って表示を見やすくしている。そして、一般的な装置に
おいては、時定数が切り換えられるようになっており、
放射線の線量率変動の激しさに応じて人為的にアベレー
ジング期間を切り換えることができる。なお、そのアベ
レージング（平滑化）には各種の方式が適用される。
は、アベレージング機能が付加されており、平滑化によ
って表示を見やすくしている。そして、一般的な装置に
おいては、時定数が切り換えられるようになっており、
放射線の線量率変動の激しさに応じて人為的にアベレー
ジング期間を切り換えることができる。なお、そのアベ
レージング（平滑化）には各種の方式が適用される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の装置において、
アベレージングに係る期間が固定的の場合には、線量率
の変動に応じた適切な平滑化を行うことができない。ま
た、人為的に時定数を切り換える場合には、最適化され
ないことが多く、また煩雑である。特に、装置の操作に
熟知している者以外が操作した場合、時定数が大きすぎ
ると応答性が悪くなり、逆に時定数が小さすぎると変動
が急激すぎて値を読むのが困難となる。
アベレージングに係る期間が固定的の場合には、線量率
の変動に応じた適切な平滑化を行うことができない。ま
た、人為的に時定数を切り換える場合には、最適化され
ないことが多く、また煩雑である。特に、装置の操作に
熟知している者以外が操作した場合、時定数が大きすぎ
ると応答性が悪くなり、逆に時定数が小さすぎると変動
が急激すぎて値を読むのが困難となる。
【０００５】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、線量率の変動に追従して自動
的に最適なアベレージング期間を設定できる放射線測定
装置を提供することにある。
ものであり、その目的は、線量率の変動に追従して自動
的に最適なアベレージング期間を設定できる放射線測定
装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射線検出器と、検出された放射線の測
定値を時系列的に格納する記憶手段と、現時点から戻っ
て所定期間内の複数の測定値について分散値を求める分
散値演算手段と、前記分散値に従って積算幅を判定する
積算幅判定部と、前記積算幅内の測定値を積算して積算
値を求める積算部と、前記積算値から求められる測定結
果を表示する表示器と、を含むことを特徴とする。
に、本発明は、放射線検出器と、検出された放射線の測
定値を時系列的に格納する記憶手段と、現時点から戻っ
て所定期間内の複数の測定値について分散値を求める分
散値演算手段と、前記分散値に従って積算幅を判定する
積算幅判定部と、前記積算幅内の測定値を積算して積算
値を求める積算部と、前記積算値から求められる測定結
果を表示する表示器と、を含むことを特徴とする。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、現時点の測定値を含む複数
の測定値を要素として、分散値が演算され、その分散値
に従ってアベレージングに係る期間（積算幅）が決定さ
れる。そして、その積算幅内の測定値が積算されて、そ
れに基づいて測定結果が演算され、最終的にその測定結
果が表示される。
の測定値を要素として、分散値が演算され、その分散値
に従ってアベレージングに係る期間（積算幅）が決定さ
れる。そして、その積算幅内の測定値が積算されて、そ
れに基づいて測定結果が演算され、最終的にその測定結
果が表示される。
【０００８】本発明では、測定値のばらつきの大きさを
基礎として平滑化期間を設定できるので、ばらつきが大
きい場合には、積算幅を大きくして平滑化の度合いを大
きくし、表示を見やすくできる。一方、ばらつきが小さ
い場合には、積算幅を小さくして平滑化の度合いを小さ
くし、応答性を向上できる。
基礎として平滑化期間を設定できるので、ばらつきが大
きい場合には、積算幅を大きくして平滑化の度合いを大
きくし、表示を見やすくできる。一方、ばらつきが小さ
い場合には、積算幅を小さくして平滑化の度合いを小さ
くし、応答性を向上できる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を図面に基づい
て説明する。
て説明する。
【００１０】図１には、本発明に係る放射線測定装置の
全体構成が示されている。また、図２には、本発明の原
理が示されており、まず、図２を用いて本発明の原理に
ついて説明する。
全体構成が示されている。また、図２には、本発明の原
理が示されており、まず、図２を用いて本発明の原理に
ついて説明する。
【００１１】図２において、（Ａ）には、放射線の測定
値である計数率の変動が経時的に示されている。すなわ
ち、横軸は時間軸であり、縦軸は計数率である。ここ
で、ｔはＡ／Ｄ変換器（図示せず）のサンプリング期間
を示しており、Ｔは後述するように、分散値演算のため
の期間を示している。なお、Ｔは各時刻毎に設定され、
各期間Ｔは相互に重複している。
値である計数率の変動が経時的に示されている。すなわ
ち、横軸は時間軸であり、縦軸は計数率である。ここ
で、ｔはＡ／Ｄ変換器（図示せず）のサンプリング期間
を示しており、Ｔは後述するように、分散値演算のため
の期間を示している。なお、Ｔは各時刻毎に設定され、
各期間Ｔは相互に重複している。
【００１２】（Ｂ）には、各期間Ｔについての加算値を
経時的にグラフ化したものが示されている。
経時的にグラフ化したものが示されている。
【００１３】（Ａ）に示されるように、計数率は経時的
に変動しており、そのままの測定値を表示したのでは、
表示を読むことが困難である。
に変動しており、そのままの測定値を表示したのでは、
表示を読むことが困難である。
【００１４】そこで、本発明では、計数率のばらつきの
大きさ（標準偏差）を求め、それに基づいてアベレージ
ング期間１００を設定する。すなわち、Ｔが仮に３であ
るとすると、現時点の加算値Ｎ0 は、 Ｎ0 ＝ｎ0 ＋ｎ1 ＋ｎ2 となり、そのＮ0 を基準として、上下のしきい値とし
て、 （上）Ｎ0 ＋Ｋ√Ｎ0 （下）Ｎ0 −Ｋ√Ｎ0 を設定する。ただし、ｎi は計数率であり、Ｋは定数で
ある。
大きさ（標準偏差）を求め、それに基づいてアベレージ
ング期間１００を設定する。すなわち、Ｔが仮に３であ
るとすると、現時点の加算値Ｎ0 は、 Ｎ0 ＝ｎ0 ＋ｎ1 ＋ｎ2 となり、そのＮ0 を基準として、上下のしきい値とし
て、 （上）Ｎ0 ＋Ｋ√Ｎ0 （下）Ｎ0 −Ｋ√Ｎ0 を設定する。ただし、ｎi は計数率であり、Ｋは定数で
ある。
【００１５】そして、（Ｂ）に示すように、現時点から
戻って、上方のしきい値又は下方のしきい値を最初に超
える時刻までを積算幅１００とする。次に、その積算幅
内で計数率の積算が行われ、計数率の個数で積算値を割
れば、最終的に平均化された計数率を求めることができ
る。
戻って、上方のしきい値又は下方のしきい値を最初に超
える時刻までを積算幅１００とする。次に、その積算幅
内で計数率の積算が行われ、計数率の個数で積算値を割
れば、最終的に平均化された計数率を求めることができ
る。
【００１６】すなわち、本発明では、測定値のばらつき
の大きさを積算幅の大きさに連動することによって、最
適な平滑化期間を自動的に設定するものである。
の大きさを積算幅の大きさに連動することによって、最
適な平滑化期間を自動的に設定するものである。
【００１７】図１に戻って、放射線検出器１０からの検
出信号は、アンプやスケーラなどを通過した後、メモリ
１２に格納される。ここで、その格納は図２（Ａ）に示
したように、時系列的に行われ、常に現在の時刻から一
定時間内の計数率が保持される。すなわち、メモリ１２
は例えばリングバッファなどで構成される。なお、図１
においては、現在測定された計数率がｎ0 で示され、そ
れより前の計数率がｎ1 、ｎ2 …で示されている。
出信号は、アンプやスケーラなどを通過した後、メモリ
１２に格納される。ここで、その格納は図２（Ａ）に示
したように、時系列的に行われ、常に現在の時刻から一
定時間内の計数率が保持される。すなわち、メモリ１２
は例えばリングバッファなどで構成される。なお、図１
においては、現在測定された計数率がｎ0 で示され、そ
れより前の計数率がｎ1 、ｎ2 …で示されている。
【００１８】メモリ１２の出力は、積算部１４に出力さ
れると共に、加算部１６に出力されている。
れると共に、加算部１６に出力されている。
【００１９】加算部１６では、図２（Ａ）から（Ｂ）へ
の変換、すなわち、各期間Ｔでの加算を行う。図では説
明のためＴ＝３としているが、Ｔは例えば５〜２０程度
が適当である。なお、加算部１６は、入力の切換えと出
力の切換えとを行うことにより、基本的に１つの加算器
で構成できる。
の変換、すなわち、各期間Ｔでの加算を行う。図では説
明のためＴ＝３としているが、Ｔは例えば５〜２０程度
が適当である。なお、加算部１６は、入力の切換えと出
力の切換えとを行うことにより、基本的に１つの加算器
で構成できる。
【００２０】メモリ１８には、図２（Ｂ）で示した各加
算値が経時的に格納される。そして、積算幅判定部２０
は、加算値Ｎ0 を基準として、しきい値Ｎ0 ＋Ｋ√Ｎ0
及びＮ0 −Ｋ√Ｎ0 を設定し、現時点から戻って最初に
いずれかのしきい値を超える加算値を判定する。そし
て、その加算値までの期間を積算幅１００として積算部
１４へ出力する。
算値が経時的に格納される。そして、積算幅判定部２０
は、加算値Ｎ0 を基準として、しきい値Ｎ0 ＋Ｋ√Ｎ0
及びＮ0 −Ｋ√Ｎ0 を設定し、現時点から戻って最初に
いずれかのしきい値を超える加算値を判定する。そし
て、その加算値までの期間を積算幅１００として積算部
１４へ出力する。
【００２１】一方、積算部１４では、積算幅１００内の
計数率をすべて積算し、その積算値を表示演算部２２へ
出力する。
計数率をすべて積算し、その積算値を表示演算部２２へ
出力する。
【００２２】表示演算部２２では、その積算値を積算個
数で割ることによって平均化を行う。そして、その平均
値に対して所定の係数を乗算することにより、線量率が
演算され、それが表示器２４にて測定値として表示され
る。
数で割ることによって平均化を行う。そして、その平均
値に対して所定の係数を乗算することにより、線量率が
演算され、それが表示器２４にて測定値として表示され
る。
【００２３】ちなみに、測定値の表示は、デジタル表示
及びアナログ表示のいずれでも可能であるが、特にデジ
タル表示の場合には平滑化の自動設定の意義が大きい。
そのデジタル表示においては、統計的に有意な有効桁の
部分とそれ以外の桁の部分を識別できるようにしてもよ
い。また、標準偏差の大きさを併せて表示するように構
成してもよい。そのための表示形態は各種の方式を適用
できる。
及びアナログ表示のいずれでも可能であるが、特にデジ
タル表示の場合には平滑化の自動設定の意義が大きい。
そのデジタル表示においては、統計的に有意な有効桁の
部分とそれ以外の桁の部分を識別できるようにしてもよ
い。また、標準偏差の大きさを併せて表示するように構
成してもよい。そのための表示形態は各種の方式を適用
できる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
線量率の変動に追従して自動的に最適なアベレージング
期間を設定できる。
線量率の変動に追従して自動的に最適なアベレージング
期間を設定できる。
【図１】本発明に係る放射線測定装置の全体構成を示す
図である。
図である。
【図２】本発明の原理を示す図である。
１２ メモリ １４ 積算部 １６ 加算部 １８ メモリ ２０ 積算幅判定部 １００ 積算幅
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線検出器と検出された放射線の測定
値を時系列的に格納する記憶手段と、 現時点から戻って所定期間内の複数の測定値について分
散値を求める分散値演算手段と、 前記分散値に従って時間的な積算幅を判定する積算幅判
定部と、 前記積算幅内の測定値を積算して積算値を求める積算部
と、 前記積算値から求められる測定結果を表示する表示器
と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28258393A JP3304566B2 (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28258393A JP3304566B2 (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134180A true JPH07134180A (ja) | 1995-05-23 |
| JP3304566B2 JP3304566B2 (ja) | 2002-07-22 |
Family
ID=17654391
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28258393A Expired - Lifetime JP3304566B2 (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3304566B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006098081A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Aloka Co Ltd | 放射線測定器 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012158106A1 (en) * | 2011-05-13 | 2012-11-22 | Unfors Raysafe Ab | Radiation meter and method |
| JP5868256B2 (ja) | 2012-04-26 | 2016-02-24 | 三菱電機株式会社 | 線量率測定装置 |
| US11049625B2 (en) | 2016-11-25 | 2021-06-29 | Korea Advanced Institute Of Science And Technology | Nuclear fuel pellet with central burnable absorber |
-
1993
- 1993-11-11 JP JP28258393A patent/JP3304566B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006098081A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Aloka Co Ltd | 放射線測定器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3304566B2 (ja) | 2002-07-22 |
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Legal Events
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