JPH0714109A - 磁気記録装置のためのループバック型試験回路 - Google Patents
磁気記録装置のためのループバック型試験回路Info
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- JPH0714109A JPH0714109A JP5307092A JP30709293A JPH0714109A JP H0714109 A JPH0714109 A JP H0714109A JP 5307092 A JP5307092 A JP 5307092A JP 30709293 A JP30709293 A JP 30709293A JP H0714109 A JPH0714109 A JP H0714109A
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
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- G—PHYSICS
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
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- G11B2005/0005—Arrangements, methods or circuits
- G11B2005/001—Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure
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- Signal Processing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 記録ヘッドへ書き込まれる一定信号を対応す
る読取り信号との比較のため試験するループバック試験
回路を提供すること。 【構成】 最初に、書込み回路により読取り／書込みヘ
ッドへ送られる電流である試験信号が、試験電流により
ヘッドで発生される電圧を通じ当該試験信号の小さな電
圧部分が抵抗を通じて読取り回路へ転送されるよう検出
される。電圧部分は、読取り信号が検出可能ピークに対
応するパルスと一緒に発生されるよう、順次キャパシタ
を通じてろ波され検出可能なピークを形成する。
る読取り信号との比較のため試験するループバック試験
回路を提供すること。 【構成】 最初に、書込み回路により読取り／書込みヘ
ッドへ送られる電流である試験信号が、試験電流により
ヘッドで発生される電圧を通じ当該試験信号の小さな電
圧部分が抵抗を通じて読取り回路へ転送されるよう検出
される。電圧部分は、読取り信号が検出可能ピークに対
応するパルスと一緒に発生されるよう、順次キャパシタ
を通じてろ波され検出可能なピークを形成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はデータ蓄積装置に関する
ものであり、詳述すると磁気記録装置を試験するための
回路に関する。
ものであり、詳述すると磁気記録装置を試験するための
回路に関する。
【０００２】
【従来の技術、発明が解決しようとする課題】磁性媒体
に電気信号を記録するための装置は信号を媒体に書き込
みそして記録された信号を媒体から読み取るという２つ
の基本的な動作を遂行する。従来の記録装置ではこれら
動作は個別の読取りおよび書込み回路により遂行され
る。
に電気信号を記録するための装置は信号を媒体に書き込
みそして記録された信号を媒体から読み取るという２つ
の基本的な動作を遂行する。従来の記録装置ではこれら
動作は個別の読取りおよび書込み回路により遂行され
る。
【０００３】もし記録装置の動作中に機能的な問題が生
ずれば、種々の試験が、たとえば磁性媒体、読取り回路
または書込み回路などのいずれか可能性のある問題の源
を隔離するよう遂行され得る。かかる問題は磁性媒体で
生ずることが多いので、最初読取り回路および書込み回
路を試験する回路を提供し、読取りおよび書込み回路を
潜在的問題源として除外することが望ましい。
ずれば、種々の試験が、たとえば磁性媒体、読取り回路
または書込み回路などのいずれか可能性のある問題の源
を隔離するよう遂行され得る。かかる問題は磁性媒体で
生ずることが多いので、最初読取り回路および書込み回
路を試験する回路を提供し、読取りおよび書込み回路を
潜在的問題源として除外することが望ましい。
【０００４】従って、「ループバック」として知られて
いる試験回路が磁気記録装置の読取りおよび書込み回路
を試験するために提供されている。一般にループバック
型回路は、書込み回路から読取り回路へこれら回路が磁
気ヘッドから切り離されている間に信号を送出すること
により動作する。このようにして、ループバック型回路
は読取りおよび書込み回路が正しく機能しているかどう
かを決定し得る。
いる試験回路が磁気記録装置の読取りおよび書込み回路
を試験するために提供されている。一般にループバック
型回路は、書込み回路から読取り回路へこれら回路が磁
気ヘッドから切り離されている間に信号を送出すること
により動作する。このようにして、ループバック型回路
は読取りおよび書込み回路が正しく機能しているかどう
かを決定し得る。
【０００５】従来のループバック型回路は試験中、読取
り−書込みヘッドから読取り回路および書込み回路を切
り離すので、ヘッドの機能的問題はかかるループバック
型回路によって検出不可能である。さらに、ディスク複
製装置として知られる記録装置を試験するために使用さ
れるとき、複数の信号チャンネルが磁気ディスクの両側
へ同時に書き込みまたは読み出すために使用され、ルー
プバック型回路がかかるチャンネル間の信号の干渉を生
じさせ得る。この交差結合問題は、たとえばループバッ
ク型回路が敏感な読取りまたは書込み回路に接近して配
置されているときに生じ得る。
り−書込みヘッドから読取り回路および書込み回路を切
り離すので、ヘッドの機能的問題はかかるループバック
型回路によって検出不可能である。さらに、ディスク複
製装置として知られる記録装置を試験するために使用さ
れるとき、複数の信号チャンネルが磁気ディスクの両側
へ同時に書き込みまたは読み出すために使用され、ルー
プバック型回路がかかるチャンネル間の信号の干渉を生
じさせ得る。この交差結合問題は、たとえばループバッ
ク型回路が敏感な読取りまたは書込み回路に接近して配
置されているときに生じ得る。
【０００６】ループバック型回路は低コスト型記録装置
で幅広く使用されていない。なぜなら、ループバック回
路は相当に複雑でありそして標準的に切替リレーおよび
変成器などの複数の構成要素を必要とし、それぞれの装
置のコストを高くするからである。たとえば、適正に動
作するために、各ループバック回路は書込み回路から読
取り回路へ送られる信号を修正するための回路を具備し
なければならない。修正回路は読取り回路へ適正に与え
られる信号よりも振幅が標準的には数千倍程度大きい書
込み信号を減衰するのに必要とされる。
で幅広く使用されていない。なぜなら、ループバック回
路は相当に複雑でありそして標準的に切替リレーおよび
変成器などの複数の構成要素を必要とし、それぞれの装
置のコストを高くするからである。たとえば、適正に動
作するために、各ループバック回路は書込み回路から読
取り回路へ送られる信号を修正するための回路を具備し
なければならない。修正回路は読取り回路へ適正に与え
られる信号よりも振幅が標準的には数千倍程度大きい書
込み信号を減衰するのに必要とされる。
【０００７】さらに、ディジタル記録装置では、修正回
路は、ディジタル記録リードバック中に生ずる信号微分
をシミュレートすることにより書込み信号を処理するの
に必要とされる。かくして、書込み信号処理中、修正回
路はかかるシミュレート信号が読取り回路により適正に
受信されるよう書込み信号のシミュレートされた微分波
形を発生する。
路は、ディジタル記録リードバック中に生ずる信号微分
をシミュレートすることにより書込み信号を処理するの
に必要とされる。かくして、書込み信号処理中、修正回
路はかかるシミュレート信号が読取り回路により適正に
受信されるよう書込み信号のシミュレートされた微分波
形を発生する。
【０００８】それゆえ読取り−書込みヘッド試験が可能
でありかつ信号干渉および構成要素数が低減される磁気
記録装置試験のための改善された回路を提供することが
所望されるであろう。
でありかつ信号干渉および構成要素数が低減される磁気
記録装置試験のための改善された回路を提供することが
所望されるであろう。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は記録ヘッドで試
験書込み信号により発生される電圧の一部分を読取り回
路へ転送することにある。電圧部分のピークがピークに
対応するパルスを有する読取り信号を発生するために検
出されそしてろ波される。試験信号は順次読取り信号と
比較され得る。
験書込み信号により発生される電圧の一部分を読取り回
路へ転送することにある。電圧部分のピークがピークに
対応するパルスを有する読取り信号を発生するために検
出されそしてろ波される。試験信号は順次読取り信号と
比較され得る。
【００１０】好ましくは、試験信号により発生される電
圧の一部はかかる電圧部分を抵抗性スイッチ回路を通じ
て読取り回路の増幅入力へ通すことにより転送される。
さらに、試験信号は信号を容量性回路を通すことにより
ろ波され得る。
圧の一部はかかる電圧部分を抵抗性スイッチ回路を通じ
て読取り回路の増幅入力へ通すことにより転送される。
さらに、試験信号は信号を容量性回路を通すことにより
ろ波され得る。
【００１１】
【実施例】図１は、従来のプロセッサ１２と入出力（Ｉ
／Ｏ）回路１４と、蓄積ディスク、テープ、ドラムまた
はその他の磁性素子６を含む磁気媒体４へ結合された読
取り−書込み記録ヘッド８を具備するコントローラ１０
とを具備する磁気記録装置２のブロック図である。コン
トローラ１０はさらに好ましくは抵抗−容量回路網によ
り画定される修正回路２４を有するループバック回路２
０、書込み回路１６および読取り回路１８をも具備す
る。ループバック回路２０に結合される切替回路２２が
読取り回路１８をヘッド８から切り離し得る。本発明に
よれば、書込み中、スイッチ２２が読取り回路１８を書
込み回路１６から切り離すとき、改善されたループバッ
ク型回路２０が、書込み回路１６から記録ヘッドを横切
って発生されたループバック型試験または書込み信号の
好ましくは１：５００の電圧比を有する相当に小さな電
圧部分を読取り回路１８へ転送または「漏洩」すること
によりヘッド回路系８、１６、１８の試験に影響する。
なお試験信号はろ波され後述するごとくパルス作動信号
を発生し得る。
／Ｏ）回路１４と、蓄積ディスク、テープ、ドラムまた
はその他の磁性素子６を含む磁気媒体４へ結合された読
取り−書込み記録ヘッド８を具備するコントローラ１０
とを具備する磁気記録装置２のブロック図である。コン
トローラ１０はさらに好ましくは抵抗−容量回路網によ
り画定される修正回路２４を有するループバック回路２
０、書込み回路１６および読取り回路１８をも具備す
る。ループバック回路２０に結合される切替回路２２が
読取り回路１８をヘッド８から切り離し得る。本発明に
よれば、書込み中、スイッチ２２が読取り回路１８を書
込み回路１６から切り離すとき、改善されたループバッ
ク型回路２０が、書込み回路１６から記録ヘッドを横切
って発生されたループバック型試験または書込み信号の
好ましくは１：５００の電圧比を有する相当に小さな電
圧部分を読取り回路１８へ転送または「漏洩」すること
によりヘッド回路系８、１６、１８の試験に影響する。
なお試験信号はろ波され後述するごとくパルス作動信号
を発生し得る。
【００１２】図２は本発明に向けられる方法の簡単な流
れ図であり、一般に、信号書込み２６、感知２８、処理
３０および試験３２という段階を含む。
れ図であり、一般に、信号書込み２６、感知２８、処理
３０および試験３２という段階を含む。
【００１３】図１の装置２と機能的に等価な磁気記録装
置が与えられたと仮定すると、試験または記録書込み信
号が書込み回路１６から磁気記録ヘッド８を通じて送ら
れる。試験信号は従来の方形波のごとき通常ディスクへ
書き込まれるいずれの信号でもよい。
置が与えられたと仮定すると、試験または記録書込み信
号が書込み回路１６から磁気記録ヘッド８を通じて送ら
れる。試験信号は従来の方形波のごとき通常ディスクへ
書き込まれるいずれの信号でもよい。
【００１４】書込み信号は好ましくはヘッド８電圧の相
当に小部分を読取り回路１８の増幅器入力へ結合された
ループバック回路２０の抵抗性回路を通じて転送するこ
とにより順次アクセスまたは感知（２８）される。
当に小部分を読取り回路１８の増幅器入力へ結合された
ループバック回路２０の抵抗性回路を通じて転送するこ
とにより順次アクセスまたは感知（２８）される。
【００１５】電圧部分が転送された後、アクセスされた
信号はループバック回路２０により少くとも一つの検出
可能なピークを含むよう処理（３０）される。好ましく
は、アクセスされた信号はろ波され、かかる信号を読取
り回路１８に結合されたループバック回路の容量性回路
を通すことにより信号ピークを形成する。形成されたピ
ークは順次検出され、ピークに対応するパルスを有する
読取りまたはデータ信号を発生する。
信号はループバック回路２０により少くとも一つの検出
可能なピークを含むよう処理（３０）される。好ましく
は、アクセスされた信号はろ波され、かかる信号を読取
り回路１８に結合されたループバック回路の容量性回路
を通すことにより信号ピークを形成する。形成されたピ
ークは順次検出され、ピークに対応するパルスを有する
読取りまたはデータ信号を発生する。
【００１６】書込み回路１６、読取り回路１８および読
取り−書込みヘッド８の機能的動作を検査するために、
発生された読取り信号は、かかる発生信号をヘッド８に
記録されるもとの試験信号と比較することにより検査
（３２）される。もし両方の信号が実質的に等価（すな
わち、全ての対応するディジタルデータパルスおよびピ
ークが整合する）であれば、ヘッド回路系８、１６、１
８は適正に機能していることがループバック回路２０に
より決定される。
取り−書込みヘッド８の機能的動作を検査するために、
発生された読取り信号は、かかる発生信号をヘッド８に
記録されるもとの試験信号と比較することにより検査
（３２）される。もし両方の信号が実質的に等価（すな
わち、全ての対応するディジタルデータパルスおよびピ
ークが整合する）であれば、ヘッド回路系８、１６、１
８は適正に機能していることがループバック回路２０に
より決定される。
【００１７】従来の「ヘッドエンド」回路が図３に図示
されている。この装置は読取りおよび書込み動作の両方
のためにアースに結合（５８）された単一磁気ヘッド５
０を使用しそして本発明により改善され得る。高レベル
の書込み電流が、書込み信号（＋／−）３６、３８の制
御下で、磁気ヘッド５０を通じて一方の方向へそして順
次他の方向へと交互にトランジスタ４０、４２により発
生される。ダイオード４６、４８が、書込み回路１６の
構成部品、詳述すると書込み電流減衰抵抗４４が、非常
に大きさが小さくダイオード４６、４８をターンオンで
きない読取り信号に悪影響を与えないようにする。
されている。この装置は読取りおよび書込み動作の両方
のためにアースに結合（５８）された単一磁気ヘッド５
０を使用しそして本発明により改善され得る。高レベル
の書込み電流が、書込み信号（＋／−）３６、３８の制
御下で、磁気ヘッド５０を通じて一方の方向へそして順
次他の方向へと交互にトランジスタ４０、４２により発
生される。ダイオード４６、４８が、書込み回路１６の
構成部品、詳述すると書込み電流減衰抵抗４４が、非常
に大きさが小さくダイオード４６、４８をターンオンで
きない読取り信号に悪影響を与えないようにする。
【００１８】書込み回路１６が活動的ないしアクティブ
な状態であるとき、読取り回路１８、３４は、通常、電
界効果トランジスタ（ＦＥＴ）であるスイッチ５２、５
４によりヘッド５０から切り離され高い度合いの信号減
結合を得る。読取り回路１８、３４が書込み動作中切り
離される。なぜなら大きな電圧信号の存在が読取り増幅
器３４の敏感な入力段に損害を与えるからである。さら
に、かかる高い信号が読取り電子回路系全体を飽和し、
それゆえかかる回路は、普通の「書込み順次読取り」型
データ確認を行うのに十分なほど迅速に回復しないであ
ろう。
な状態であるとき、読取り回路１８、３４は、通常、電
界効果トランジスタ（ＦＥＴ）であるスイッチ５２、５
４によりヘッド５０から切り離され高い度合いの信号減
結合を得る。読取り回路１８、３４が書込み動作中切り
離される。なぜなら大きな電圧信号の存在が読取り増幅
器３４の敏感な入力段に損害を与えるからである。さら
に、かかる高い信号が読取り電子回路系全体を飽和し、
それゆえかかる回路は、普通の「書込み順次読取り」型
データ確認を行うのに十分なほど迅速に回復しないであ
ろう。
【００１９】読取り動作中、書込み信号３６、３８が不
在であり、それゆえスイッチ５２、５４がターンオンさ
れ、ヘッドによりピックアップされた信号は読取り電子
回路系３４へ送信される。書込み減衰抵抗４４がダイオ
ード４６、４８により隔絶された状態で、アース８４に
結合される読取り減衰抵抗８０、８２が読取り機能のた
め適当な減衰動作を提供する。
在であり、それゆえスイッチ５２、５４がターンオンさ
れ、ヘッドによりピックアップされた信号は読取り電子
回路系３４へ送信される。書込み減衰抵抗４４がダイオ
ード４６、４８により隔絶された状態で、アース８４に
結合される読取り減衰抵抗８０、８２が読取り機能のた
め適当な減衰動作を提供する。
【００２０】図４が書込み動作中ヘッド５０へ送られる
書込み電流信号３６、３８を表わす方形波を図示するタ
イミング図である。かかる書込み電流信号３６、３８
が、たとえ電圧に変換されそして振幅が減少されても、
読取り回路１８にとって適当な入力信号ではない。これ
は標準的なディジタル記録装置２の読取り回路１８は、
図５に図示されるごとき通常の読取り信号のピーク６２
に応答するよう設計されているからである。ところで書
込み動作中ヘッド５０の電圧波形は図４の書込み電流信
号３６、３８と類似に現れない。
書込み電流信号３６、３８を表わす方形波を図示するタ
イミング図である。かかる書込み電流信号３６、３８
が、たとえ電圧に変換されそして振幅が減少されても、
読取り回路１８にとって適当な入力信号ではない。これ
は標準的なディジタル記録装置２の読取り回路１８は、
図５に図示されるごとき通常の読取り信号のピーク６２
に応答するよう設計されているからである。ところで書
込み動作中ヘッド５０の電圧波形は図４の書込み電流信
号３６、３８と類似に現れない。
【００２１】ヘッド８での標準的な書込み電圧波形６８
が図６に図示されている。ヘッド８のインダクタンスは
図５の通常の読取り信号に外観が非常に近い微分信号６
４を発生することに注意されたい。ヘッドから隔絶され
る書込み信号を使用する従来のスイッチングループバッ
ク型回路では、この信号微分は種々の修正回路により実
現またはシミュレートされねばならない。
が図６に図示されている。ヘッド８のインダクタンスは
図５の通常の読取り信号に外観が非常に近い微分信号６
４を発生することに注意されたい。ヘッドから隔絶され
る書込み信号を使用する従来のスイッチングループバッ
ク型回路では、この信号微分は種々の修正回路により実
現またはシミュレートされねばならない。
【００２２】図６の書込み電圧波形６４は、読取り回路
１８による正確なピーク検出のために適当ではないので
（すなわちピーク６４が標準的な読取り回路にとって非
常に鋭いかぎり）ある丸め動作が依然として必要とされ
る。いくつかの実施例では、読取り回路１８の通常の構
成要素である読取りフィルタ回路が十分な丸め動作を提
供する。
１８による正確なピーク検出のために適当ではないので
（すなわちピーク６４が標準的な読取り回路にとって非
常に鋭いかぎり）ある丸め動作が依然として必要とされ
る。いくつかの実施例では、読取り回路１８の通常の構
成要素である読取りフィルタ回路が十分な丸め動作を提
供する。
【００２３】図７、９および１０の代替え実施例で示さ
れるごとく、本発明によれば、ヘッド電圧のあらかじめ
定められる部分である試験信号をブロッキングスイッチ
７０、７２を通して制御可能に転送または「漏洩」する
ことにより提供される。この熟慮した態様において、転
送されるループバック信号は書込み回路１６が書き込ん
でいるときはいつでも読取りチャンネル３４への入力と
して与えられ、ターンオンされた読取りチャンネル３４
の出力に現れる。さらに、本発明はループバック信号を
効果的にろ波しピーク６４を丸める。
れるごとく、本発明によれば、ヘッド電圧のあらかじめ
定められる部分である試験信号をブロッキングスイッチ
７０、７２を通して制御可能に転送または「漏洩」する
ことにより提供される。この熟慮した態様において、転
送されるループバック信号は書込み回路１６が書き込ん
でいるときはいつでも読取りチャンネル３４への入力と
して与えられ、ターンオンされた読取りチャンネル３４
の出力に現れる。さらに、本発明はループバック信号を
効果的にろ波しピーク６４を丸める。
【００２４】図７において、磁気記録装置２の「ヘッド
エンド」部８、１６、１８の回路図が図示されている。
漏洩パス回路７４、７６、７８が図３の従来の電子回路
系に付加されて示されている。スイッチ７０、７２を連
絡するのに供する抵抗７４、７６が第１の読取り増幅器
３４の入力に現れる電圧が通常の所定の読取り信号と同
様の大きさであるように十分高い値（好ましくはそれぞ
れ約２メガオーム）であるよう選択される。標準的には
スイッチ７０、７２のゲート端子が一緒に結合される。
追加のピーク６４の丸め込みがキャパシタ７８の積分効
果により与えられる。図８が図７の回路により発生され
るループバック信号電圧を図示し、図５の標準的な読取
り信号により接近した近似である減衰およびろ波動作の
結合効果（６６）を示している。バイパス抵抗７４、７
６の高インピーダンス値により、積分キャパシタ７８が
非常に小さく（約２０ピコファラド）とし得、それゆえ
読取り回路１８の通常の動作に影響を与えない。
エンド」部８、１６、１８の回路図が図示されている。
漏洩パス回路７４、７６、７８が図３の従来の電子回路
系に付加されて示されている。スイッチ７０、７２を連
絡するのに供する抵抗７４、７６が第１の読取り増幅器
３４の入力に現れる電圧が通常の所定の読取り信号と同
様の大きさであるように十分高い値（好ましくはそれぞ
れ約２メガオーム）であるよう選択される。標準的には
スイッチ７０、７２のゲート端子が一緒に結合される。
追加のピーク６４の丸め込みがキャパシタ７８の積分効
果により与えられる。図８が図７の回路により発生され
るループバック信号電圧を図示し、図５の標準的な読取
り信号により接近した近似である減衰およびろ波動作の
結合効果（６６）を示している。バイパス抵抗７４、７
６の高インピーダンス値により、積分キャパシタ７８が
非常に小さく（約２０ピコファラド）とし得、それゆえ
読取り回路１８の通常の動作に影響を与えない。
【００２５】本発明の代替え実施例が図９に図示されて
おり、抵抗８６、８８がスイッチ７０、７２間に付加さ
れている。上述のごとく読取り回路１８、３４はピーク
６６が検出されるときはいつでもパルスを送信すること
により機能する。書込み−電圧波形は非常に鋭いピーク
を有しそして適当な読取り信号を提供するため処理され
ねばならない。かくして、読取りヘッド３４を横切る少
量のキャパシタンスでさえ所望されない回路では、キャ
パシタ７８（使用されるのであれば）は図９に図示の抵
抗−キャパシタ回路によってより有効に隔絶され得る。
このように、抵抗８６、８８が十分に高い抵抗を与え、
かかる隔絶を保証し、抵抗値はそれぞれの特定の装置２
のヘッド８、５０の動的特性に依存する。
おり、抵抗８６、８８がスイッチ７０、７２間に付加さ
れている。上述のごとく読取り回路１８、３４はピーク
６６が検出されるときはいつでもパルスを送信すること
により機能する。書込み−電圧波形は非常に鋭いピーク
を有しそして適当な読取り信号を提供するため処理され
ねばならない。かくして、読取りヘッド３４を横切る少
量のキャパシタンスでさえ所望されない回路では、キャ
パシタ７８（使用されるのであれば）は図９に図示の抵
抗−キャパシタ回路によってより有効に隔絶され得る。
このように、抵抗８６、８８が十分に高い抵抗を与え、
かかる隔絶を保証し、抵抗値はそれぞれの特定の装置２
のヘッド８、５０の動的特性に依存する。
【００２６】非常に高い抵抗８６、８８値が必要とされ
るのであればキャパシタ７８の直流隔絶が、これら構成
要素のためのアース基準がない場合、キャパシタ７８に
徐々に累積する高電圧ポテンシャルによって、問題とな
り得る。したがって、図１０に図示されるごとく、アー
スされたキャパシタ７８、９０を具備する本発明の代替
え実施例が提供される。この実施例において、キャパシ
タ７８、９０がアースに結合され、図９の回路の積分効
果と同様の効果を提供するが、キャパシタ７８、９０は
図９の単一のキャパシタ７８の容量の２倍とする必要が
ある（他の全ての因子が等しいままであると仮定し
て）。他の抵抗または容量回路構成が所望される減衰と
積分を同様に提供するであろう。書込み電流波形の微分
はヘッド８、５０により提供され、かかるヘッドコイル
または磁性材料のいずれの欠陥もループバック波形に影
響を招き、それにより読取り−データ信号にも同様に影
響を招くことに注意されたい。こうして、このループバ
ック技術は、ヘッドをループバック試験中に回路から切
り離す標準的な方法とは異なり、欠陥ヘッド８、５０の
存在をも検出できる。
るのであればキャパシタ７８の直流隔絶が、これら構成
要素のためのアース基準がない場合、キャパシタ７８に
徐々に累積する高電圧ポテンシャルによって、問題とな
り得る。したがって、図１０に図示されるごとく、アー
スされたキャパシタ７８、９０を具備する本発明の代替
え実施例が提供される。この実施例において、キャパシ
タ７８、９０がアースに結合され、図９の回路の積分効
果と同様の効果を提供するが、キャパシタ７８、９０は
図９の単一のキャパシタ７８の容量の２倍とする必要が
ある（他の全ての因子が等しいままであると仮定し
て）。他の抵抗または容量回路構成が所望される減衰と
積分を同様に提供するであろう。書込み電流波形の微分
はヘッド８、５０により提供され、かかるヘッドコイル
または磁性材料のいずれの欠陥もループバック波形に影
響を招き、それにより読取り−データ信号にも同様に影
響を招くことに注意されたい。こうして、このループバ
ック技術は、ヘッドをループバック試験中に回路から切
り離す標準的な方法とは異なり、欠陥ヘッド８、５０の
存在をも検出できる。
【００２７】図１１は本発明の通常の動作を図示するブ
ロック図であり、コントローラ１０が書込み回路１６お
よび読取り回路１８を通じて読取り−書込みヘッド８へ
結合される。読取り／書込み信号９４がコントローラ１
０により読取り回路１８のスイッチ７０、７２へ適用さ
れる。上述したごとく、ドライブコントローラ１０の中
のループバック回路２０が、ヘッド電子回路系８を駆動
するため書込み回路１６により書き込まれる書込みデー
タ試験信号を発生することにより書込みモードで動作
し、順次、読取り回路１８がループバック信号を読取
り、読取りデータを書込みデータと比較する。データ信
号のいずれの不一致も欠陥のある読取り／書込み回路１
６、１８またはヘッド８を指示する。
ロック図であり、コントローラ１０が書込み回路１６お
よび読取り回路１８を通じて読取り−書込みヘッド８へ
結合される。読取り／書込み信号９４がコントローラ１
０により読取り回路１８のスイッチ７０、７２へ適用さ
れる。上述したごとく、ドライブコントローラ１０の中
のループバック回路２０が、ヘッド電子回路系８を駆動
するため書込み回路１６により書き込まれる書込みデー
タ試験信号を発生することにより書込みモードで動作
し、順次、読取り回路１８がループバック信号を読取
り、読取りデータを書込みデータと比較する。データ信
号のいずれの不一致も欠陥のある読取り／書込み回路１
６、１８またはヘッド８を指示する。
【００２８】ほとんどのディジタルドライブコントロー
ラ１０が読取りおよび書込みデータ信号を同時に処理で
きないので、かかる場合のループバック技術はたとえば
ディスク複製装置から入手可能な複数の読取り−書込み
チャンネルが使用される場合にのみ可能である。図１２
は本発明のさらに別の実施例のブロック図を図示してお
り、デュアルコントローラ１０、１０’がデュアル読取
り−書込みヘッド８、８’にデュアル書込み回路１６、
１６’およびデュアル読取り回路１８、１８’を通じて
結合する。
ラ１０が読取りおよび書込みデータ信号を同時に処理で
きないので、かかる場合のループバック技術はたとえば
ディスク複製装置から入手可能な複数の読取り−書込み
チャンネルが使用される場合にのみ可能である。図１２
は本発明のさらに別の実施例のブロック図を図示してお
り、デュアルコントローラ１０、１０’がデュアル読取
り−書込みヘッド８、８’にデュアル書込み回路１６、
１６’およびデュアル読取り回路１８、１８’を通じて
結合する。
【００２９】かかる多重チャンネル装置では、本発明に
よる改善されたループバックが、第１の書込みチャンネ
ルにより発生される第１の書込み信号が処理のため第２
の対向するチャンネルへ切り替えられるようにして実施
される。この技術は、可能な限り従来のディジタルデー
タスイッチ９６、９８を使用する、ピーク検出回路の出
力で実施されるスイッチング回路２２で実現され得る。
本発明は、書込みおよび読取りのため個別のヘッドを使
用し実施することも企図できる。このようにして、ヘッ
ドでの追加のスイッチングがループバック信号と記録媒
体により発生される信号との間の干渉を除去するのに必
要とされ得る。
よる改善されたループバックが、第１の書込みチャンネ
ルにより発生される第１の書込み信号が処理のため第２
の対向するチャンネルへ切り替えられるようにして実施
される。この技術は、可能な限り従来のディジタルデー
タスイッチ９６、９８を使用する、ピーク検出回路の出
力で実施されるスイッチング回路２２で実現され得る。
本発明は、書込みおよび読取りのため個別のヘッドを使
用し実施することも企図できる。このようにして、ヘッ
ドでの追加のスイッチングがループバック信号と記録媒
体により発生される信号との間の干渉を除去するのに必
要とされ得る。
【図１】プロセッサ１２、入出力回路１４、コントロー
ラ１０および磁性媒体４を具備する磁気記録装置２のブ
ロック図である。
ラ１０および磁性媒体４を具備する磁気記録装置２のブ
ロック図である。
【図２】本発明方法の簡単な流れ図である。
【図３】磁気記録装置の従来のヘッドエンド部分の回路
図である。
図である。
【図４】書込み電流信号を表わす方形波を図示するタイ
ミング図である。
ミング図である。
【図５】図４の書込み信号とともに行われる記録動作に
より発生される標準的な読取り信号を図示するタイミン
グ図である。
より発生される標準的な読取り信号を図示するタイミン
グ図である。
【図６】記録ヘッド８での書込み電圧を図示するタイミ
ング図である。
ング図である。
【図７】本発明の一実施例を図示する磁気記録装置のヘ
ッドエンド部分の回路図である。
ッドエンド部分の回路図である。
【図８】図７の回路を流れた後の書込み電圧を図示する
タイミング図である。
タイミング図である。
【図９】追加の抵抗を８６、８８を含む、本発明の代替
え実施例の回路図である。
え実施例の回路図である。
【図１０】アース容量７８、９０を含む、本発明の代替
え実施例の回路図である。
え実施例の回路図である。
【図１１】書込み回路１６および読取り回路１８を通じ
て読取り−書込みヘッド８へ結合されるコントローラ１
０を図示する本発明の実施例のブロック図である。
て読取り−書込みヘッド８へ結合されるコントローラ１
０を図示する本発明の実施例のブロック図である。
【図１２】デュアル書込み回路１６、１６’およびデュ
アル読取り回路１８、１８’を通じてデュアル読取り−
書込みヘッド８、８’へ結合されるデュアルコントロー
ラ１０、１０’を図示する本発明の代替え実施例のブロ
ック図である。
アル読取り回路１８、１８’を通じてデュアル読取り−
書込みヘッド８、８’へ結合されるデュアルコントロー
ラ１０、１０’を図示する本発明の代替え実施例のブロ
ック図である。
２ 磁気記録装置 ４ 磁気媒体 ６ 磁性素子 ８ 読取り−書込み記録ヘッド １０ コントローラ １２ プロセッサ １４ 入出力（Ｉ／Ｏ）回路 １６ 書込み回路 １８ 読取り回路 ２０ ループバック型回路 ２２ 切替回路 ２４ 修正回路 ３６、３８ 書込み信号（＋／−） ４０、４２ トランジスタ ４４ 書込み電流減衰抵抗 ４６、４８ ダイオード ５０ 単一磁気ヘッド ５２、５４ スイッチ
Claims (17)
- 【請求項１】 書込み電圧信号にアクセスし、 少くとも一つの検出可能なピークを包含するようアクセ
スされた信号を修正し、 それぞれの検出可能なピークに対応するパルスを有する
読取り信号を発生し、 当該読取り信号を試験することからなる記憶装置に記録
される信号を試験するための方法。 - 【請求項２】 書込み電圧信号は、書込み回路により記
録ヘッドへ送られる電流により発生される電圧を有する
試験信号から構成される請求項１の方法。 - 【請求項３】 試験信号は、試験信号の電圧の一部を読
取り回路へ転送することによりアクセスされる請求項２
の方法。 - 【請求項４】 前記電圧部分は読取り回路の増幅器入力
へ転送される請求項３の方法。 - 【請求項５】 前記試験信号はディジタル信号から構成
され、当該ディジタル信号がディジタル読取り回路に転
送される請求項３の方法。 - 【請求項６】 前記ディジタル読取り回路は読取り回路
と同時に動作可能な請求項５の方法。 - 【請求項７】 前記電圧部分は当該電圧部分を抵抗回路
を通ずることにより転送される請求項２の方法。 - 【請求項８】 前記アクセス信号は当該アクセス信号を
ろ波しそれぞれの検出可能なピークを形成する請求項１
の方法。 - 【請求項９】 前記アクセス信号は当該アクセス信号を
容量回路を通ずることによりろ波される請求項８の方
法。 - 【請求項１０】 前記容量回路は読取り回路へ結合され
る請求項９の方法。 - 【請求項１１】 前記読取り信号は書込み電圧信号を読
取り信号と比較することにより試験される請求項１の方
法。 - 【請求項１２】 磁気記録装置に書き込まれる信号を試
験するための方法において、 磁気記録ヘッドにて書込み回路により発生された試験信
号に、当該試験信号の一電圧部分を読取り回路の増幅器
入力に転送することによりアクセスし、 少くとも一つの検出可能なピークを形成するよう当該ア
クセス信号をろ波し、 各検出可能なピークに対応するパルスを有する読取り信
号を発生し、 前記試験信号と当該読取り信号を比較することから構成
される方法。 - 【請求項１３】 前記試験信号の前記電圧部分は抵抗を
通ずることにより転送され、 前記アクセス信号は当該アクセス信号を容量を通ずるこ
とによりろ波される請求項１２の方法。 - 【請求項１４】 記録された信号を試験するための装置
において、 読取り回路と書込み回路とを具備した磁気記憶装置と、 当該読取り回路を書込み回路から選択的にデカップリン
グするためのスイッチであって、書込み回路からの試験
信号の一電圧部分を読取り回路へ転送する前記スイッチ
とを具備する装置。 - 【請求項１５】 試験信号をろ波しパルス状の信号を発
生するための手段を具備した請求項１４の装置。 - 【請求項１６】 前記スイッチは抵抗性でありそして容
量性の回路を具備する請求項１４の装置。 - 【請求項１７】 前記抵抗性および容量性の回路はアー
スに結合されたキャパシタを具備する請求項１６の装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/033,167 US5479098A (en) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | Loop-back circuit for testing a magnetic recording system with simultaneous read and write functions |
| US033167 | 1993-03-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0714109A true JPH0714109A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=21868901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5307092A Withdrawn JPH0714109A (ja) | 1993-03-15 | 1993-11-15 | 磁気記録装置のためのループバック型試験回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5479098A (ja) |
| EP (1) | EP0616328A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0714109A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8730388B2 (en) | 2011-08-05 | 2014-05-20 | Calvin Osborn | Wearable video camera with dual rotatable imaging devices |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2674571B2 (ja) * | 1995-06-01 | 1997-11-12 | ティーディーケイ株式会社 | 複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置 |
| JPH09325403A (ja) * | 1996-06-05 | 1997-12-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 写真フイルム用磁気記録及び再生装置 |
| JP3368788B2 (ja) * | 1997-02-17 | 2003-01-20 | ティーディーケイ株式会社 | スピンバルブ磁気抵抗素子を備えた磁気ヘッドの検査方法及び検査装置 |
| US6534974B1 (en) * | 1997-02-21 | 2003-03-18 | Pemstar, Inc, | Magnetic head tester with write coil and read coil |
| US6111406A (en) * | 1997-08-28 | 2000-08-29 | International Business Machines Corporation | System and method for testing a write head in a combined magnetic head using an associated read sensor in the combined head |
| JP3603636B2 (ja) * | 1999-01-28 | 2004-12-22 | Ｔｄｋ株式会社 | 複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置 |
| JP3507368B2 (ja) * | 1999-08-06 | 2004-03-15 | アルプス電気株式会社 | 磁気ヘッド装置の検査方法及び磁気ヘッド装置の検査装置 |
| US6747828B2 (en) * | 2001-02-22 | 2004-06-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting an abnormality in a recorded signal |
| US7200170B1 (en) * | 2002-07-12 | 2007-04-03 | Pmc-Sierra, Inc. | High speed I-O loopback testing with low speed DC test capability |
| US7646555B2 (en) * | 2006-01-17 | 2010-01-12 | Marvell World Trade Ltd. | Testing storage system electronics using loopback |
| US20100020435A1 (en) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | Agency For Science, Technology And Research | Recording device with write head spanning multiple rows of bit cells and multi-sensor read head |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3011160A (en) * | 1960-03-23 | 1961-11-28 | Gen Dynamics Corp | Error detection and compensation for quantized signal recording system |
| US3631335A (en) * | 1970-02-25 | 1971-12-28 | Burroughs Corp | Method and apparatus for measuring magnetic gap length |
| US4001673A (en) * | 1975-06-30 | 1977-01-04 | International Business Machines Corporation | Method of testing and repairing magnetic bubble domain chip |
| SU615529A1 (ru) * | 1977-02-07 | 1978-07-15 | Государственное Союзное Конструкторско-Технологическое Бюро По Проектированию Счетных Машин | Устройство дл магнитной записи и контрольного воспроизведени цифровой информации |
| US4321636A (en) * | 1980-03-17 | 1982-03-23 | Magnetic Peripherals Inc. | Cateye-signal intercept detector for aligning a read-write head above a computer data storage disk |
| US4533965A (en) * | 1984-04-18 | 1985-08-06 | General Signal Corporation | Magnetic read/write circuit |
| JPS61156513A (ja) * | 1984-12-27 | 1986-07-16 | Nec Corp | 記録再生試験器 |
| US4967155A (en) * | 1988-04-08 | 1990-10-30 | Micropolis Corporation | Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives |
| JPH03130967A (ja) * | 1989-03-31 | 1991-06-04 | Sharp Corp | 磁気再生ヘッドアンプ |
| US5087884A (en) * | 1990-06-28 | 1992-02-11 | Vtc Bipolar Corporation | Open head detection circuit and method |
| US5130866A (en) * | 1990-07-17 | 1992-07-14 | International Business Machines Corporation | Method and circuitry for in-situ measurement of transducer/recording medium clearance and transducer magnetic instability |
| US5212445A (en) * | 1991-02-13 | 1993-05-18 | Seagate Technology, Inc. | Method and apparatus for detection and identification of flaws in a magnetic medium by measuring the width of pulses stored on the medium |
-
1993
- 1993-03-15 US US08/033,167 patent/US5479098A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-11-15 JP JP5307092A patent/JPH0714109A/ja not_active Withdrawn
- 1993-12-21 EP EP93310400A patent/EP0616328A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8730388B2 (en) | 2011-08-05 | 2014-05-20 | Calvin Osborn | Wearable video camera with dual rotatable imaging devices |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5479098A (en) | 1995-12-26 |
| EP0616328A3 (en) | 1995-07-12 |
| EP0616328A2 (en) | 1994-09-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010130 |