JPH0714199A - 光ヘッドのサーボ信号安定回路 - Google Patents
光ヘッドのサーボ信号安定回路Info
- Publication number
- JPH0714199A JPH0714199A JP17766493A JP17766493A JPH0714199A JP H0714199 A JPH0714199 A JP H0714199A JP 17766493 A JP17766493 A JP 17766493A JP 17766493 A JP17766493 A JP 17766493A JP H0714199 A JPH0714199 A JP H0714199A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- servo
- optical head
- optical
- stamper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクの原盤、スタンパ、および完成さ
れた光ディスクを対象とする総合的な光ディスク検査装
置において、各ディスクの種類ごとに異なるサーボ信号
を安定化する。 【構成】 上記の光ディスク検査装置１０において、信
号処理部62の差分器621と加算器622 の出力側に設け
た、２個の可変増幅率アンプ71,72 と、これらの増幅率
を切替える切替え回路73,74 、および切替え回路に対す
るＣＰＵ５とにより構成される。 【効果】 各ディスクは種類別に、それぞれのサーボ信
号の変調度が最適値とされ、光ヘッドのトラッキング動
作が確実になされる。
れた光ディスクを対象とする総合的な光ディスク検査装
置において、各ディスクの種類ごとに異なるサーボ信号
を安定化する。 【構成】 上記の光ディスク検査装置１０において、信
号処理部62の差分器621と加算器622 の出力側に設け
た、２個の可変増幅率アンプ71,72 と、これらの増幅率
を切替える切替え回路73,74 、および切替え回路に対す
るＣＰＵ５とにより構成される。 【効果】 各ディスクは種類別に、それぞれのサーボ信
号の変調度が最適値とされ、光ヘッドのトラッキング動
作が確実になされる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク検査装置
において、光ヘッドの位置を制御するサーボ信号の安定
化回路に関する。
において、光ヘッドの位置を制御するサーボ信号の安定
化回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、磁気ディスクに比較して
膨大な記録容量を有し、非接触でデータがアクセスでき
るものとして、その利用範囲が漸次拡張されつつある。
図２により、光ディスクの製造工程の概略を説明する。
(a) は原盤を示し、ガラスディスク（Ｇ）の表面にホト
レジストＨＲを塗布し、これに対する露光と現像によ
り、スパイラル状の案内トラックＴR と、これに沿った
サーボ用およびＩＤ用の各ピットｐT とが連続して穿溝
されている。サーボピットは光ヘッドの位置制御用に、
またＩＤピットはトラックＴR と各トラックに設けたセ
クターなどの番号の識別に使用される。原盤の表面に対
してニッケル（Ｎｉ）を蒸着などによりメッキし、メッ
キ部分を原盤から剥離すると、(b) に示すように、トラ
ックＴR と各ピットｐT が反転されて突起となったスタ
ンパが形成される。さらに、スタンパを適当なプラスチ
ック材のサブストレート（ＳB)に押圧すると、スタンパ
のトラックＴR と各ピットｐT が再度反転して転写さ
れ、(c) に示す光ディスクが複製され、その表面には反
射と保護を兼ねてアルミニウムＡｌの薄膜がコーティン
グされて光ディスクが完成する。光ディスクを使用する
ときは、ＩＤピットに続くデータ部に情報などのデータ
ピットｐD が書込まれ、これを読出して再生される。ま
た書き換え可能型の光ディスクの場合は、すでに記録さ
れたデータピットｐD をイレーズして、新しいデータが
アクセスされる。
膨大な記録容量を有し、非接触でデータがアクセスでき
るものとして、その利用範囲が漸次拡張されつつある。
図２により、光ディスクの製造工程の概略を説明する。
(a) は原盤を示し、ガラスディスク（Ｇ）の表面にホト
レジストＨＲを塗布し、これに対する露光と現像によ
り、スパイラル状の案内トラックＴR と、これに沿った
サーボ用およびＩＤ用の各ピットｐT とが連続して穿溝
されている。サーボピットは光ヘッドの位置制御用に、
またＩＤピットはトラックＴR と各トラックに設けたセ
クターなどの番号の識別に使用される。原盤の表面に対
してニッケル（Ｎｉ）を蒸着などによりメッキし、メッ
キ部分を原盤から剥離すると、(b) に示すように、トラ
ックＴR と各ピットｐT が反転されて突起となったスタ
ンパが形成される。さらに、スタンパを適当なプラスチ
ック材のサブストレート（ＳB)に押圧すると、スタンパ
のトラックＴR と各ピットｐT が再度反転して転写さ
れ、(c) に示す光ディスクが複製され、その表面には反
射と保護を兼ねてアルミニウムＡｌの薄膜がコーティン
グされて光ディスクが完成する。光ディスクを使用する
ときは、ＩＤピットに続くデータ部に情報などのデータ
ピットｐD が書込まれ、これを読出して再生される。ま
た書き換え可能型の光ディスクの場合は、すでに記録さ
れたデータピットｐD をイレーズして、新しいデータが
アクセスされる。
【０００３】上記のトラックＴR と各ピットｐT,ｐD
は、その幅と深さ寸法が正確なこと、または傷や付着異
物が存在しないことが重要であり、これらの欠陥は検査
装置により物理的に測定されて検査される。また、完成
された光ディスクに対して検査装置によりテストデータ
の書込み／読出しを行って、その記録性能の良否がソフ
ト的に検査されている。上記の幅と深さ寸法の良否と、
傷や付着異物の存在は、原盤とスタンパでは特に重要で
あるので、従来はこれらに対する専用の検査装置により
検査されていた。一方、完成された光ディスクに対して
は、別個に検査装置を設けて上記のソフト検査がなされ
ていた。しかし、両検査装置には共通部分が多いので、
検査の効率化と装置の経費の節減のために、最近では１
台の検査装置により、原板とスタンパおよび光ディスク
に対して、上記の物理的とソフト検査をすべて行う多機
能で総合的な検査装置が開発されている。
は、その幅と深さ寸法が正確なこと、または傷や付着異
物が存在しないことが重要であり、これらの欠陥は検査
装置により物理的に測定されて検査される。また、完成
された光ディスクに対して検査装置によりテストデータ
の書込み／読出しを行って、その記録性能の良否がソフ
ト的に検査されている。上記の幅と深さ寸法の良否と、
傷や付着異物の存在は、原盤とスタンパでは特に重要で
あるので、従来はこれらに対する専用の検査装置により
検査されていた。一方、完成された光ディスクに対して
は、別個に検査装置を設けて上記のソフト検査がなされ
ていた。しかし、両検査装置には共通部分が多いので、
検査の効率化と装置の経費の節減のために、最近では１
台の検査装置により、原板とスタンパおよび光ディスク
に対して、上記の物理的とソフト検査をすべて行う多機
能で総合的な検査装置が開発されている。
【０００４】図３は、上記の総合的な光ディスク検査装
置１０の概略の構成を示す。検査装置１０は、従来の個
別の検査装置と同様に、被検査の原盤またはスタンパま
たは光ディスク（以下一括して単にディスクという）１
を装着して回転する回転機構２と、ヘッド駆動機構３a
を有する光ヘッド３、キャリッジ制御回路４a を有し、
光ヘッド３を移動するキャリッジ機構４、出力器５a を
有するコンピュータ（ＣＰＵ）５、および検査部６とを
具備し、検査部６は、書込み回路61と信号処理部62、測
定部63などにより構成される。原板またはスタンパを検
査する場合は、これらのディスク１を回転機構２のスピ
ンドル21に装着し、ＣＰＵ５の指示により、モータ22を
駆動してディスク１を回転し、またキャリッジ機構４に
より光ヘッド３をディスク１の半径Ｒの方向に移動し、
所定のトラックＴR の位置に停止する。これに対して、
光ヘッド３より読出しレーザビームが投射され、サーボ
ピットｐT の反射光が光ヘッド３に受光される。受光信
号は信号処理部62に入力してサーボ信号Ｋが作成され、
これによりヘッド駆動機構３a が動作して光ヘッド３が
トラックＴR を追従し、と各ピットｐT が正しく検出さ
れる。これらの検出信号は信号処理部62を経て測定部63
に転送され、例えば波形解析装置により、それぞれの
幅、深さ、傷または付着異物などが物理的に測定されて
良否が判定される。判定された結果はＣＰＵ５に取り込
まれて適当に編集され、出力器５a に出力される。次に
光ディスクの場合は、ＣＰＵ５の指示により、検査部６
の書込み回路61より、光ヘッド３に対してテストデータ
の書込み電流が供給されて、所定のトラックＴR のデー
タ部にデータピットｐD が書込みされる。これが終了す
ると上記と同様に、サーボ信号Ｋにより光ヘッド３を制
御してデータピットの読出しがなされ、読出信号は信号
処理部62を経由して測定部63に転送され、書込みデータ
と比較されてデータエラーなどがチェックされ、チェッ
クされたエラーのデータは出力器５a に表示される。な
お、必要により光ディスクに対しても、前記の物理的検
査を行うことができる。
置１０の概略の構成を示す。検査装置１０は、従来の個
別の検査装置と同様に、被検査の原盤またはスタンパま
たは光ディスク（以下一括して単にディスクという）１
を装着して回転する回転機構２と、ヘッド駆動機構３a
を有する光ヘッド３、キャリッジ制御回路４a を有し、
光ヘッド３を移動するキャリッジ機構４、出力器５a を
有するコンピュータ（ＣＰＵ）５、および検査部６とを
具備し、検査部６は、書込み回路61と信号処理部62、測
定部63などにより構成される。原板またはスタンパを検
査する場合は、これらのディスク１を回転機構２のスピ
ンドル21に装着し、ＣＰＵ５の指示により、モータ22を
駆動してディスク１を回転し、またキャリッジ機構４に
より光ヘッド３をディスク１の半径Ｒの方向に移動し、
所定のトラックＴR の位置に停止する。これに対して、
光ヘッド３より読出しレーザビームが投射され、サーボ
ピットｐT の反射光が光ヘッド３に受光される。受光信
号は信号処理部62に入力してサーボ信号Ｋが作成され、
これによりヘッド駆動機構３a が動作して光ヘッド３が
トラックＴR を追従し、と各ピットｐT が正しく検出さ
れる。これらの検出信号は信号処理部62を経て測定部63
に転送され、例えば波形解析装置により、それぞれの
幅、深さ、傷または付着異物などが物理的に測定されて
良否が判定される。判定された結果はＣＰＵ５に取り込
まれて適当に編集され、出力器５a に出力される。次に
光ディスクの場合は、ＣＰＵ５の指示により、検査部６
の書込み回路61より、光ヘッド３に対してテストデータ
の書込み電流が供給されて、所定のトラックＴR のデー
タ部にデータピットｐD が書込みされる。これが終了す
ると上記と同様に、サーボ信号Ｋにより光ヘッド３を制
御してデータピットの読出しがなされ、読出信号は信号
処理部62を経由して測定部63に転送され、書込みデータ
と比較されてデータエラーなどがチェックされ、チェッ
クされたエラーのデータは出力器５a に表示される。な
お、必要により光ディスクに対しても、前記の物理的検
査を行うことができる。
【０００５】ここで、上記の信号処理部62におけるサー
ボ信号Ｋの作成方法を説明する。図４は光ヘッド３と信
号処理部62の概略の構成を示す。光ヘッド３のレーザ光
源31が発振したレーザビームＬT は、ビームスプリッタ
32を透過して対物レンズ33によりスポットに集束され、
回転するディスク１の表面に投射される。スポットが投
射されたサーボピットｐT の反射光ＬR は、対物レンズ
33とビームスプリッタ32を経て結像レンズ34に入力し、
サーボピットｐT の映像が２分割受光器35に結像され
る。２分割受光器35は、受光面が２分割された受光面35
a,35b を有し、それぞれより出力信号（電流）Ｉ1,Ｉ2
が出力される。両出力信号は差分器621 と加算器622 に
入力して、それぞれより差信号（Ｉ1 −Ｉ2)と和信号
（Ｉ1 ＋Ｉ2)とが割り算器623 に対して出力され、両信
号（Ｉ1 −Ｉ2)と（Ｉ1 ＋Ｉ2)の比数Ｒ＝（Ｉ1 −Ｉ2)
／（Ｉ1 ＋Ｉ2)が算出される。比数Ｒは各サーボピット
ｐT に対する連続パルスであるので、この波形を低域フ
ィルタ（ＬＰＦ）624 により円滑にしてサーボ信号Ｋが
えられる。いま、レーザのスポットがサーボピットｐT
に一致していると、両出力信号Ｉ1,Ｉ2 は同一であるの
で、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)は０となる。これに対して、両
者が偏位すると差信号（Ｉ1 −Ｉ2)は偏位に相当した値
となる。ただし、両出力信号Ｉ1,Ｉ2 は、スポットの強
度や、サーボピットｐT の形状、またはこれを形成する
媒質の反射率などにより変化するので、両者の偏位が同
一でも、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)の値は一定値とはならな
い。これに対して、上記の比数Ｒにおいては、分子と分
母の両出力信号Ｉ1,Ｉ2 の大きさが除算によりノルマラ
イズされ、スポットの強度の変動には無関係とされる。
ボ信号Ｋの作成方法を説明する。図４は光ヘッド３と信
号処理部62の概略の構成を示す。光ヘッド３のレーザ光
源31が発振したレーザビームＬT は、ビームスプリッタ
32を透過して対物レンズ33によりスポットに集束され、
回転するディスク１の表面に投射される。スポットが投
射されたサーボピットｐT の反射光ＬR は、対物レンズ
33とビームスプリッタ32を経て結像レンズ34に入力し、
サーボピットｐT の映像が２分割受光器35に結像され
る。２分割受光器35は、受光面が２分割された受光面35
a,35b を有し、それぞれより出力信号（電流）Ｉ1,Ｉ2
が出力される。両出力信号は差分器621 と加算器622 に
入力して、それぞれより差信号（Ｉ1 −Ｉ2)と和信号
（Ｉ1 ＋Ｉ2)とが割り算器623 に対して出力され、両信
号（Ｉ1 −Ｉ2)と（Ｉ1 ＋Ｉ2)の比数Ｒ＝（Ｉ1 −Ｉ2)
／（Ｉ1 ＋Ｉ2)が算出される。比数Ｒは各サーボピット
ｐT に対する連続パルスであるので、この波形を低域フ
ィルタ（ＬＰＦ）624 により円滑にしてサーボ信号Ｋが
えられる。いま、レーザのスポットがサーボピットｐT
に一致していると、両出力信号Ｉ1,Ｉ2 は同一であるの
で、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)は０となる。これに対して、両
者が偏位すると差信号（Ｉ1 −Ｉ2)は偏位に相当した値
となる。ただし、両出力信号Ｉ1,Ｉ2 は、スポットの強
度や、サーボピットｐT の形状、またはこれを形成する
媒質の反射率などにより変化するので、両者の偏位が同
一でも、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)の値は一定値とはならな
い。これに対して、上記の比数Ｒにおいては、分子と分
母の両出力信号Ｉ1,Ｉ2 の大きさが除算によりノルマラ
イズされ、スポットの強度の変動には無関係とされる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】さて上記したように、
比数Ｒはスポット強度の変動に対して無関係であるが、
しかし、各ディスクは種類により反射率はかなり相違す
るので、種類ごとにサーボ信号Ｋの変調度が変化して、
光ヘッドのトラッキング動作が不確実または不安定とな
る問題がある。この変調度について、図５により一応説
明する。図５は、縦軸を任意スケールとする比数Ｒとサ
ーボ信号Ｋを示す。比数Ｒの直線部分はディスク１の表
面の反射光による直流（ＤＣ）で、その上にサーボピッ
トの反射光によるパルスｐT が重畳している。図中の点
線は、各パルスｐT を低域フィルタ624 を通して平滑化
してえられたサーボ信号Ｋを示す。前記の変調度は、Ｄ
Ｃの値に対するパルスｐT 、またはサーボ信号Ｋの波高
値を意味する。光ヘッド３は、この変調度に比例した距
離を偏位してトラッキング動作がなされるものである。
一方、各ディスクの反射率をみると、原盤のホトレジス
トＨＲは、５０〜７０％（ただし、ピットｐT の穿溝前
の状態）であり、スタンパのニッケル（Ｎｉ）は７０〜
８０％で、両者には大きい差異はない。これに対して、
光ディスクのアルミニウム（Ａｌ）は１５〜３５％で、
大きく相違する。また、サーボピットｐT はエッジの形
状がディスクの種類ごとにいくらか異なり、それぞれの
反射光は散乱するために反射方向が変化して受光器の受
光量が異なる。これらの相違により、各ディスクの変調
度は、原盤とスタンパが小さく、光ディスクのそれは大
きい値を示している。従って、このような差異のある変
調度により、光ヘッドはディスクの種類ごとに異なる距
離を偏位するので、トラッキング動作が不確実ないしは
不安定となるわけである。この発明は上記の問題に対し
てなされたもので、光ヘッドのトラッキング動作を確実
とする手段を提供することを目的とする。
比数Ｒはスポット強度の変動に対して無関係であるが、
しかし、各ディスクは種類により反射率はかなり相違す
るので、種類ごとにサーボ信号Ｋの変調度が変化して、
光ヘッドのトラッキング動作が不確実または不安定とな
る問題がある。この変調度について、図５により一応説
明する。図５は、縦軸を任意スケールとする比数Ｒとサ
ーボ信号Ｋを示す。比数Ｒの直線部分はディスク１の表
面の反射光による直流（ＤＣ）で、その上にサーボピッ
トの反射光によるパルスｐT が重畳している。図中の点
線は、各パルスｐT を低域フィルタ624 を通して平滑化
してえられたサーボ信号Ｋを示す。前記の変調度は、Ｄ
Ｃの値に対するパルスｐT 、またはサーボ信号Ｋの波高
値を意味する。光ヘッド３は、この変調度に比例した距
離を偏位してトラッキング動作がなされるものである。
一方、各ディスクの反射率をみると、原盤のホトレジス
トＨＲは、５０〜７０％（ただし、ピットｐT の穿溝前
の状態）であり、スタンパのニッケル（Ｎｉ）は７０〜
８０％で、両者には大きい差異はない。これに対して、
光ディスクのアルミニウム（Ａｌ）は１５〜３５％で、
大きく相違する。また、サーボピットｐT はエッジの形
状がディスクの種類ごとにいくらか異なり、それぞれの
反射光は散乱するために反射方向が変化して受光器の受
光量が異なる。これらの相違により、各ディスクの変調
度は、原盤とスタンパが小さく、光ディスクのそれは大
きい値を示している。従って、このような差異のある変
調度により、光ヘッドはディスクの種類ごとに異なる距
離を偏位するので、トラッキング動作が不確実ないしは
不安定となるわけである。この発明は上記の問題に対し
てなされたもので、光ヘッドのトラッキング動作を確実
とする手段を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、光ヘッドの
サーボ信号安定回路であって、前記の光ディスク検査装
置において、その信号処理部に設けた可変増幅率アンプ
と、この可変増幅率を切替える切替え回路、および切替
え回路に対する制御部とにより構成される。原盤、スタ
ンパ、光ディスクの反射率の差異により生じた、それぞ
れのサーボ信号の変調度の相違を補正する適切な増幅率
を、予め測定してメモリに記憶する。制御部による切替
え回路の切替により、原盤、スタンパ、光ディスクに対
して該メモリに記憶された増幅率をそれぞれ設定し、各
サーボ信号の変調度を最適値として、光ヘッドのトラッ
キング動作を確実とする。上記において、光ディスクの
反射光を受光する受光面が２分割された２分割受光器
と、各受光面が出力する出力信号Ｉ1,Ｉ2 の、差信号
（Ｉ1 −Ｉ2)と和信号（Ｉ1 ＋Ｉ2)をそれぞれ出力する
差分器および加算器と、差信号と和信号の比数Ｒ＝（Ｉ
1 −Ｉ2)／（Ｉ1 ＋Ｉ2)を算出する割り算器、ならびに
該比数の波形を円滑化して、サーボ信号Ｋを出力する低
域フィルタとを具備する信号処理部において、差分器と
加算器のそれぞれの出力側に対して、上記の可変増幅率
アンプと切替え回路とを付加して上記のサーボ信号安定
回路を構成し、各切替え回路により各可変増幅率を切替
えて差信号と和信号の波高値をそれぞれ調整し、原盤、
スタンパ、光ディスクのサーボ信号の変調度をそれぞれ
最適値に設定するものである。
サーボ信号安定回路であって、前記の光ディスク検査装
置において、その信号処理部に設けた可変増幅率アンプ
と、この可変増幅率を切替える切替え回路、および切替
え回路に対する制御部とにより構成される。原盤、スタ
ンパ、光ディスクの反射率の差異により生じた、それぞ
れのサーボ信号の変調度の相違を補正する適切な増幅率
を、予め測定してメモリに記憶する。制御部による切替
え回路の切替により、原盤、スタンパ、光ディスクに対
して該メモリに記憶された増幅率をそれぞれ設定し、各
サーボ信号の変調度を最適値として、光ヘッドのトラッ
キング動作を確実とする。上記において、光ディスクの
反射光を受光する受光面が２分割された２分割受光器
と、各受光面が出力する出力信号Ｉ1,Ｉ2 の、差信号
（Ｉ1 −Ｉ2)と和信号（Ｉ1 ＋Ｉ2)をそれぞれ出力する
差分器および加算器と、差信号と和信号の比数Ｒ＝（Ｉ
1 −Ｉ2)／（Ｉ1 ＋Ｉ2)を算出する割り算器、ならびに
該比数の波形を円滑化して、サーボ信号Ｋを出力する低
域フィルタとを具備する信号処理部において、差分器と
加算器のそれぞれの出力側に対して、上記の可変増幅率
アンプと切替え回路とを付加して上記のサーボ信号安定
回路を構成し、各切替え回路により各可変増幅率を切替
えて差信号と和信号の波高値をそれぞれ調整し、原盤、
スタンパ、光ディスクのサーボ信号の変調度をそれぞれ
最適値に設定するものである。
【０００８】
【作用】上記のサーボ信号安定回路においては、原盤、
スタンパ、光ディスクの反射率の差異により生じた、そ
れぞれのサーボ信号の変調度の相違を補正する適切な増
幅率が、予め測定されてメモリに記憶される。信号処理
部に設けた可変増幅率アンプは、その可変増幅率が切替
えられて、各ディスクの種類別にメモリに記憶された適
切な増幅率が設定され、それぞれのサーボ信号の変調度
の相違が補正されて最適値が設定されるので、光ヘッド
のトラッキング動作が確実となる。上記の信号処理部に
おいては、差分器と加算器のそれぞれの出力側に対して
付加された可変増幅率アンプは、切替え回路により各可
変増幅率が切替えられて、差信号と和信号の波高値とが
それぞれ調整され、各ディスクは種類別に、それぞれの
サーボ信号の変調度が最適値とされる。
スタンパ、光ディスクの反射率の差異により生じた、そ
れぞれのサーボ信号の変調度の相違を補正する適切な増
幅率が、予め測定されてメモリに記憶される。信号処理
部に設けた可変増幅率アンプは、その可変増幅率が切替
えられて、各ディスクの種類別にメモリに記憶された適
切な増幅率が設定され、それぞれのサーボ信号の変調度
の相違が補正されて最適値が設定されるので、光ヘッド
のトラッキング動作が確実となる。上記の信号処理部に
おいては、差分器と加算器のそれぞれの出力側に対して
付加された可変増幅率アンプは、切替え回路により各可
変増幅率が切替えられて、差信号と和信号の波高値とが
それぞれ調整され、各ディスクは種類別に、それぞれの
サーボ信号の変調度が最適値とされる。
【０００９】
【実施例】図１は、この発明の一実施例におけるサーボ
信号安定回路７のブロック構成図を示す。サーボ信号安
定回路７は、前記した信号処理部62の差分器621 と加算
器622 の出力側に接続された、２個の可変増幅率アンプ
71,72 と、各可変増幅率アンプ71,72 の増幅率を切替え
る２個の切替え回路73,74 とを有し、各可変増幅率アン
プ71,72 の出力側は、前記の割り算器623 に接続され、
また各切替え回路73,74 の切替え制御は、ＣＰＵ５の指
示により行われる。一方、ＣＰＵ５のメモリ（ＭＥＭ）
５b には、原盤、スタンパ、光ディスクの種類別に、予
め、それぞれのサーボ信号の変調度の相違を補正する適
切な増幅率が測定されて記憶される。
信号安定回路７のブロック構成図を示す。サーボ信号安
定回路７は、前記した信号処理部62の差分器621 と加算
器622 の出力側に接続された、２個の可変増幅率アンプ
71,72 と、各可変増幅率アンプ71,72 の増幅率を切替え
る２個の切替え回路73,74 とを有し、各可変増幅率アン
プ71,72 の出力側は、前記の割り算器623 に接続され、
また各切替え回路73,74 の切替え制御は、ＣＰＵ５の指
示により行われる。一方、ＣＰＵ５のメモリ（ＭＥＭ）
５b には、原盤、スタンパ、光ディスクの種類別に、予
め、それぞれのサーボ信号の変調度の相違を補正する適
切な増幅率が測定されて記憶される。
【００１０】各ディスクの検査においては、メモリ５b
に記憶された適切な増幅率がＣＰＵ５により読出され、
その指示により各切替え回路73,74 が切替えられて各可
変増幅率アンプ71,72 の増幅率が適切に設定される。こ
れにより、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)と、和信号（Ｉ1 ＋Ｉ2)
の波高値がそれぞれ調整されて、原盤、スタンパ、光デ
ィスクの反射率の差異により生じた、それぞれのサーボ
信号Ｋの変調度の相違が補正されて最適値とされ、光ヘ
ッドのトラッキング動作が確実になされるものである。
に記憶された適切な増幅率がＣＰＵ５により読出され、
その指示により各切替え回路73,74 が切替えられて各可
変増幅率アンプ71,72 の増幅率が適切に設定される。こ
れにより、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)と、和信号（Ｉ1 ＋Ｉ2)
の波高値がそれぞれ調整されて、原盤、スタンパ、光デ
ィスクの反射率の差異により生じた、それぞれのサーボ
信号Ｋの変調度の相違が補正されて最適値とされ、光ヘ
ッドのトラッキング動作が確実になされるものである。
【００１１】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による光
ヘッドのサーボ信号安定回路によれば、光ディスク検査
装置の信号処理部の差分器と加算器の出力側に付加し
た、可変増幅率アンプの増幅率の切替えにより、各ディ
スクは種類別に、それぞれのサーボ信号の変調度が補正
されて最適値とされ、光ヘッドのトラッキング動作が確
実になされるもので、光ディスクの原盤、スタンパ、お
よび完成された光ディスクを対象とする、多機能で総合
的な光ディスク検査装置における検査の信頼性の向上に
寄与するところには、大きいものがある。
ヘッドのサーボ信号安定回路によれば、光ディスク検査
装置の信号処理部の差分器と加算器の出力側に付加し
た、可変増幅率アンプの増幅率の切替えにより、各ディ
スクは種類別に、それぞれのサーボ信号の変調度が補正
されて最適値とされ、光ヘッドのトラッキング動作が確
実になされるもので、光ディスクの原盤、スタンパ、お
よび完成された光ディスクを対象とする、多機能で総合
的な光ディスク検査装置における検査の信頼性の向上に
寄与するところには、大きいものがある。
【図１】 この発明の一実施例におけるサーボ信号安定
回路８のブロック構成図を示す。
回路８のブロック構成図を示す。
【図２】 光ディスクの原盤、スタンパ、および完成し
た光ディスクの説明図を示す。
た光ディスクの説明図を示す。
【図３】 この発明によるサーボ信号安定回路を適用す
る、総合的な光ディスク検査装置１０の概略の構成図を
示す。
る、総合的な光ディスク検査装置１０の概略の構成図を
示す。
【図４】 光ヘッド３と、検査装置１０の信号処理部62
の概略の構成図を示す。
の概略の構成図を示す。
【図５】 光ヘッドのサーボ信号Ｋの変調度に対する説
明図を示す。
明図を示す。
１…光ディスク、２…回転機構、３…光ヘッド、31…レ
ーザ光源、32…ビームスプリッタ、33…対物レンズ、34
…結像レンズ、35…２分割受光器、35a,35b …受光面、
３a …ヘッド駆動機構、４…キャリッジ機構、４a …キ
ャリッジ制御回路、５…コンピュータ（ＣＰＵ）、５a
…出力器、５b …メモリ（ＭＥＭ）、６…検査部、61…
書込み回路、62…信号処理部、63…測定部、７…この発
明によるサーボ信号安定回路、71,72 …可変増幅率アン
プ、73,74 …切替え回路、１０…総合的な光ディスク検
査装置、ＴR …案内トラック、ｐT …サーボ用またはＩ
Ｄ用のピット、ｐD …データピット、Ｉ1,Ｉ2 …２分割
受光器の出力信号、Ｒ…比数、Ｋ…サーボ信号。
ーザ光源、32…ビームスプリッタ、33…対物レンズ、34
…結像レンズ、35…２分割受光器、35a,35b …受光面、
３a …ヘッド駆動機構、４…キャリッジ機構、４a …キ
ャリッジ制御回路、５…コンピュータ（ＣＰＵ）、５a
…出力器、５b …メモリ（ＭＥＭ）、６…検査部、61…
書込み回路、62…信号処理部、63…測定部、７…この発
明によるサーボ信号安定回路、71,72 …可変増幅率アン
プ、73,74 …切替え回路、１０…総合的な光ディスク検
査装置、ＴR …案内トラック、ｐT …サーボ用またはＩ
Ｄ用のピット、ｐD …データピット、Ｉ1,Ｉ2 …２分割
受光器の出力信号、Ｒ…比数、Ｋ…サーボ信号。
Claims (2)
- 【請求項１】 スパイラル状の案内トラックと、該案内
トラックに沿ってサーボピットおよびＩＤピットとが設
定された原盤と、該原盤より作成されたスタンパ、およ
び該スタンパから複製された書き換え可能な光ディスク
とを検査対象ディスクとし、該各ディスクを回転して光
ヘッドにより前記サーボピットを検出し、該検出信号よ
り該光ヘッドのトラッキングを制御するサーボ信号Ｋを
作成する信号処理部を具備する光ディスク検査装置にお
いて、前記信号処理部に設けた可変増幅率アンプと、該
可変増幅率を切替える切替え回路、および該切替え回路
に対する制御部とにより構成され、前記原盤、スタン
パ、光ディスクの反射率の差異により生じた、それぞれ
の前記サーボ信号Ｋの変調度の相違を補正する適切な増
幅率を、予め測定してメモリに記憶し、前記制御部によ
る切替え回路の切替により、前記原盤、スタンパ、光デ
ィスクに対して該メモリに記憶された増幅率をそれぞれ
設定して前記各変調度を最適値とし、前記光ヘッドのト
ラッキング動作を確実とすることを特徴とする、光ヘッ
ドのサーボ信号安定回路。 - 【請求項２】 前記光ディスクの反射光を受光する受光
面が２分割された２分割受光器と、該各受光面が出力す
る出力信号Ｉ1,Ｉ2 の、差信号（Ｉ1 −Ｉ2)と和信号
（Ｉ1 ＋Ｉ2)をそれぞれ出力する差分器および加算器
と、該差信号と和信号の比数Ｒ＝（Ｉ1 −Ｉ2)／（Ｉ1
＋Ｉ2)を算出する割り算器、ならびに該比数の波形を円
滑化して、サーボ信号Ｋを出力する低域フィルタとを具
備する前記信号処理部において、前記差分器と加算器の
それぞれの出力側に対して、前記の可変増幅率アンプと
切替え回路とを付加して構成され、該各切替え回路によ
り各可変増幅率アンプの増幅率を切替えて前記差信号と
和信号の波高値をそれぞれ調整し、前記原盤、スタン
パ、光ディスクの前記サーボ信号Ｋの変調度を、それぞ
れ最適値とすることをことを特徴とする、請求項１記載
の光ヘッドのサーボ信号安定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17766493A JPH0714199A (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 光ヘッドのサーボ信号安定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17766493A JPH0714199A (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 光ヘッドのサーボ信号安定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0714199A true JPH0714199A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=16034953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17766493A Pending JPH0714199A (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 光ヘッドのサーボ信号安定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714199A (ja) |
-
1993
- 1993-06-25 JP JP17766493A patent/JPH0714199A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0453308A2 (en) | Reducing amplitude variations of optical disk readback signals | |
| JPH0746435B2 (ja) | 光学的情報記録再生装置における光ピックアップの異常判別装置 | |
| JPH11149640A (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPS59157854A (ja) | 光学式デイスク・プレ−ヤ−の制御装置 | |
| JPH02165427A (ja) | 光ディスクのシーク及びトラッキング装置 | |
| JP3033066B2 (ja) | フォーカス位置の調整装置 | |
| JPH0714199A (ja) | 光ヘッドのサーボ信号安定回路 | |
| JP2626550B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP2773353B2 (ja) | データ記録トラック | |
| JPH09106551A (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPS62291550A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JP2804620B2 (ja) | 光デイスク評価装置 | |
| JPS63161538A (ja) | 情報記録再生装置のトラツキング制御装置 | |
| JP3017738B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP4085494B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP2869589B2 (ja) | 光磁気信号を用いた集光ビ−ム径測定方法及びそれを利用した光ディスク装置の光学系検査方法 | |
| TW200537474A (en) | Method and its device for correcting the aberration of the optical path emitted from the optical pickup head of an optical recording system | |
| JPH02246024A (ja) | 焦点位置の調整方法および焦点制御装置 | |
| JPH03273530A (ja) | 光デイスクシステムのクロストーク測定方法 | |
| JP2000163758A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
| JP2000113467A (ja) | 光ディスク媒体および光ディスク装置 | |
| JPS61239440A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
| JPH11144329A (ja) | 円盤型光情報記録媒体の検査方法及び検査装置 | |
| JPS63313327A (ja) | 光情報記録媒体のトラツクピツチ検出装置及び光情報記録媒体駆動装置 | |
| JPH08249658A (ja) | 光ディスクの共通検査装置 |