JPH07146965A - 円板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 円板の一方の面を支持する傾斜した滑り面
６と、円板の周面を支持して案内すべく滑り面６に沿っ
て付設された少なくとも一本のガイド１５とを備え、ガ
イド１５の上流側に接続する少なくとも１本の傾斜した
捕捉レール７，１０が滑り面６に沿って付設され、上方
から供給された円板４が滑り面６に沿って滑り落ちたの
ち捕捉レール７，１０に補足され、この捕捉レール７、
１０に沿って、そしてこれに続くガイド１５に沿って移
動する。その途中で、円板の直径及び厚さを検査するた
めの光学式の直径ゲージ１６及び厚さゲージ１７が備え
られている。 【効果】 多数の円板を光学系による非接触で検査す
ること及び円板の供給・移動方法の工夫により、従来装
置に比べて速い処理が可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、円板の外形を検査する
ための装置であって、円板を案内する案内手段と、その
途中に設けられたゲージとを備えている円板検査装置に
関する。尚、、本明細書の記載において「円板」には多
角形板も含まれるものとし、又、打ち抜かれたものや周
縁部が刻まれたもの、さらには仕上げ刻印された硬貨等
を含んでいる。

【０００２】

【従来の技術】この種の検査装置は、種々の加工段階で
の硬貨（円板）の寸法、特に直径、厚さ、真円度、平面
度、及び外形の完成度に関して検査するために用いられ
ている。このような検査は各作業工程の機械、例えば硬
貨刻印機の前後で行われている。この種の刻印機は通常
１分間に１０００ストローク未満で稼働するので、従来
の機械式ゲージや限界ゲージを用いた検査装置でも十分
対応することができている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、刻印機
等の機械が複数稼働する場合に、各機械ごとに検査装置
を備えなければならないとすれば、そのゲージに高い精
度が要求されることもあって、設備全体のコストが高く
なる。そこで複数の機械に対して１台の検査装置を組み
合わせて稼働させることができれば好都合であるが、こ
の場合、従来の検査装置では処理速度が不足し、複数の
機械の並列処理速度に間に合わなくなる。又、検査精度
が粗くなるおそれもある。

【０００４】そこで、本発明の目的は、従来のものに比
べて高い処理能力を有する検査装置を提供することにあ
る。この検査装置は、動作が確実で、耐久性に優れ、種
々の円板（硬貨）に対応できることも要求される。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明による検査装置の
特徴は、先ず、円板の外形を検査するためのゲージを途
中に備える案内手段が、円板の一方の面を支持する傾斜
した滑り面と、円板の周面を支持して案内すべく前記滑
り面に沿って付設された少なくとも一本のガイドとを備
え、前記ガイドの上流側に接続する少なくとも１本の傾
斜した捕捉レールが前記滑り面に沿って付設され、上方
から供給された円板が前記滑り面に沿って滑り落ちたの
ち前記捕捉レールに補足され、この捕捉レールに沿っ
て、そしてこれに続く前記ガイドに沿って転動する点に
ある。

【０００６】又、前記ゲージが円板の直径を検査するた
めの直径ゲージであり、この直径ゲージは、円板にほぼ
平行に配置された平面状又は２本の直線状の受光素子ア
レイと、円板を挟んで前記受光素子アレイと対向するよ
うに配置されて前記受光素子アレイに光を投射するする
光源と、前記受光素子アレイの出力信号を処理する評価
ユニットとを備えている。

【０００７】さらに、前記ゲージとして、円板の厚さを
検査するための厚さゲージを備え、この厚さゲージは、
前記ガイドの上方又は下方において円板にほぼ垂直に配
置された平面状又は直線状の受光素子アレイと、円板を
挟んで前記受光素子アレイと対向するように配置されて
前記受光素子アレイに光を投射する位置のずれた複数の
光源と、前記受光素子アレイの出力信号を処理する評価
ユニットとを備えている。本発明による検査装置の他の
好ましい構成については後述する。

【０００８】

【作用】上記の特徴構成によれば、検査装置にバラバラ
で供給される大量の円板を高速で検査することが可能に
なる。硬貨は傾斜した滑り面を自重で滑り落ち、その落
下方向を横切るように滑り面に付設された捕捉レールに
当たると、その捕捉レールに沿って転がり落ちていく。
そして、この捕捉レールに続くガイドに沿って転動し、
その途中でゲージによって外形の検査が行われることに
なる。

【０００９】滑り落ちる円板の数が多くなると、全ての
円板を捕捉レールで捕捉することが難しくなる。捕捉レ
ールを越えてさらに滑り面に沿って滑り落ちる円板は、
滑り面の下方に設けられたオーバーフロー受けに落ち、
回収されて再び滑り面の上方から供給される。必要に応
じて、第２の捕捉レールを第１の捕捉レールの下方に平
行に設け、第１の捕捉レールを越えて滑り面を滑り落ち
る円板をさらに第２の捕捉レールで捕捉するようにして
もよい。この場合、２系統のガイド及びゲージが備えら
れることになり、検査処理速度は一層向上する。

【００１０】円板が滑り面を適当な速さで滑り落ち、捕
捉レールに捕捉されて捕捉レール上を適当な速さで転が
り落ちるためには、滑り面が鉛直線に対して約２５度を
中心に１０〜７０度の範囲内の角度で傾斜しており、捕
捉レールが水平線に対して約３０度を中心に１０〜６０
度の範囲内の角度で傾斜していることが好ましい。

【００１１】又、捕捉レールは円板の厚さより大きくそ
の半径より小さい幅を備えていると好都合である。これ
によって、捕捉レールができるだけ多くの円板を捕捉す
る一方、倒れた円板が捕捉レール上に残ることなくすぐ
に捕捉レールを越えて落ちていくので、転動している他
の円板を妨害することはない。

【００１２】捕捉レールの幅が広い場合に、２枚の円板
が完全に又は部分的に重なって捕捉レールを転がる場合
がある。このような２枚の円板を分離して１枚だけをガ
イド上に残し、他を落下させるために、捕捉レールの下
流側に円板の厚さに比べて等しいか小さい幅を有する円
板分離部が備えられていることが好ましい。

【００１３】又、捕捉レールが取外し交換自在に滑り面
に取り付けられていることが好ましく、これによって円
板の寸法に合わせて最適の幅を有する捕捉レールに交換
することが可能になる。又、捕捉レールと滑り面との間
に隙間を設けてもよく、これによってレール上に塵埃が
堆積することを抑え、もって円板の転動を滑らかなもの
とすることができる。さらに、捕捉レールの領域におい
て、空気の噴出を間欠的に行うための噴射ノズルを設
け、堆積したほこりをこの空気噴出によって取り除くよ
うにしてもよい。

【００１４】円板分離部で分離された円板はその後ゲー
ジを通過する。従来の検査装置では、円板（硬貨）はス
リット又は貫通孔で形成された一連のゲージを通り抜け
ていたが、これらのゲージは外形が許容範囲を越える円
板を一つ一つ着実に取り除くので、円板の流れる速さは
このゲージのところで制限される。これに対して、本発
明による直径ゲージ及び厚さゲージは、円板の通過路に
配置された受光素子アレイとこれに光を投射するする光
源、そして受光素子アレイの出力信号を処理する評価ユ
ニットとを用いて通過する円板の外形を非接触で検査す
るので、従来の機械的な検査に比べて高速な処理が可能
となる。

【００１５】直径ゲージを構成する平面状又は２本の直
線状の受光素子アレイに光源から光が投射され、通過す
る円板がこの光を遮ることによって得られる受光素子ア
レイの出力信号から評価ユニットが演算によって円板の
直径を求め、これが許容範囲内か否かを判断する。２本
の直線状の受光素子アレイを備える場合は、一方がガイ
ドにほぼ平行に、且つ、他方がガイドにほぼ垂直に配置
されていることが好ましい。この場合は、投影される円
板の影の外周縁と両受光素子アレイとの４つの交点から
容易にその直径を計算することができる。但し、２本の
直線状の受光素子アレイを平行に、又は所定の角度で交
差するように配置した場合であっても、やはり円板の影
の外周縁と両受光素子アレイとの４つの交点から通過す
る円板の直径を計算によって求めることができる。この
際、ある瞬間の４つの交点を同時に読み取る必要がある
が、光源として間欠的に短期間のみ発光するパルス光源
を用いてもよい。

【００１６】又、円板の周部を支持しているガイドとこ
れに平行な受光素子アレイとの間隔が円板の直径の５分
の４より小さいことが好ましい。これによって、上記４
つの交点が確実に得られる。

【００１７】円板の厚さは、前述の構成の厚さゲージに
よれば、ガイドの上方又は下方に配置した受光素子アレ
イの出力信号に基づいて評価ユニットが評価する。ガイ
ドの反対側に配置した位置のずれた複数の光源は、通過
する円板の周部をずれた方向から照射し、それぞれの光
束によって得られるずれた影が受光素子によって検出さ
れる。円板が一方の光束に対して傾いている場合は検出
された影の幅は実際の円板の幅より大きくなる。最も小
さい検出結果が実際の円板の幅に最も近い。これによ
り、検査される円板がガイド上をふらつきながら転動し
た場合の検出誤差を補償することできる。

【００１８】ガイド上を転動する円板の周部に対して上
下方向に光線を投射して円板の幅に相当する影を得るた
めには、光源から受光素子への光路においてガイドの幅
が円板の幅より狭くなければならず、又、他の障害物が
無い必要がある。そこで、受光素子と光源との間の領域
において、円板の側面を支持している滑り面に切り欠き
を設け、且つ、円板の周部を支持しているガイドの幅を
細く形成することが好ましい。その他、受光素子アレイ
及び光源からなる測定系が、ガイドに対して異なる角度
で２以上配置されていることも検出精度の向上のために
好ましい。

【００１９】円板の直径や幅をより正確に検査するため
に、２本の直線状の受光素子アレイを用いる代わりに平
面状の受光素子アレイ、即ち二次元イメージセンサを用
いることも好ましい。

【００２０】直径や幅が許容範囲内にない円板を取り除
くために、ゲージの終端部に空気ノズル等による放出ユ
ニットを備えていることが好ましい。空気ノズルからの
空気噴流を円板に当てることによって不良の円板をガイ
ド上から落下させることができる。落下した円板は下方
に備えられた不良品回収箱に回収される。円板に渦電流
を発生させるマグネットによる放出ユニットを空気ノズ
ルに代えて用いることもできる。ガイドは良品の円板を
回収するための回収箱に接続しており、円板はこの回収
箱から後の処理工程や包装工程等に送られる。

【００２１】

【発明の効果】以上のように本発明円板検査装置によれ
ば、多数の円板を光学系を用いて非接触で検査すること
及び円板の供給・移動方法の工夫により、従来装置に比
べて速い処理が可能になった。

【００２２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１に本発明による検査装置が示されている。検
査される円板（又は多角形板）として、例えば打ち抜か
れたもの、刻まれた縁をもつもの、さらに仕上げ刻印さ
れた硬貨、その他、種々の円板や多角形板が扱われる。
円板４はバラバラの堆積物１として振動台２に載せられ
ている。尚、説明中で「円板」には上述のような種々の
円板や多角形板が含まれるものとする。振動台２は振動
駆動部３によって公知の方法で振動させられ、これによ
って堆積物１から崩された円板４が渡り板５を経て滑り
面６へ滑り落ちていく。この滑り面６は鉛直線に対して
約２５度傾斜している。

【００２３】滑り面６上には横断方向に捕捉レール７が
傾斜して設けられている。円板４は、滑り面６を滑り落
ちて捕捉レール７に当たると、矢印８で示すように捕捉
レール７上を転がり落ちる。滑り面６を滑り落ちる円板
４の中には、矢印９で示すように、捕捉レール７を越え
てさらに滑り面６に沿って滑り落ちるものがある。この
ような円板は、捕捉レール７の下側にこれと平行に設け
られた第２の捕捉レール１０に当たり、この捕捉レール
１０上を転がり落ちる。第２の捕捉レール１０でも捕捉
されなかった円板１１はオーバーフロー受け１２に落ち
て図示しない搬送装置によって回収されて振動台２へ戻
される。

【００２４】２枚の円板１３が重なって捕捉レール７，
１０上を転がる場合がある。捕捉レールの後に接続され
ているゲージを２枚の円板が同時に通ることはできない
ので、１枚ずつに分離するための円板分離部１４が捕捉
レール７，１０の下流側端部に接続されている。この円
板分離部１４は円板１枚分の幅を有し、捕捉レール７，
１０から２枚の円板が重なって転がって来た場合、その
うちの１枚は円板分離部１４において下からの支えがな
くなってしまうので、オーバーフロー受け１２に落下す
る。そして上述のように振動台２へ戻される。

【００２５】上述のようにして円板は、円板分離部１４
（ガイド１５）を通過した後、直径ゲージ１６及び厚さ
ゲージ１７のところを通過する。これらのゲージによる
検査の結果、円板の直径や厚さが所定の範囲内に入って
いないと判断された場合は、ゲージ１６，１７の終端部
に設けられた空気ノズル１８によって円板に空気噴流が
当てられ、その円板はガイド１５から不良品回収箱１９
に落下する。直径や厚さが所定の範囲内に入っている円
板は、ガイド１５の終端まで転がり、次の処理工程や最
終チェック等に入る。

【００２６】次に、直径ゲージ１６の原理を図２及び３
に基づいて説明する。図３の上部に，光源２０が受光素
子アレイ２４，２５に平行光２１を投射し、その光の一
部を遮るようにして受光素子アレイ２４，２５の前を円
板２２が通過する様子を示している。図２にも示すよう
に、２本の直線状の受光素子アレイ２４，２５が直交す
るように配設されている。つまり、一方の受光素子アレ
イ２４がガイド２３に対して所定距離ｙ’をあけて平行
に配置され、他方の受光素子アレイ２５は位置ｘ’のと
ころでガイド２３に垂直に配置されている。円板２２が
光を遮ることによって投影される影の外周縁の受光素子
アレイ（以下、単にアレイという）２４，２５上の点ｘ
₀，ｘ₁，ｙ₀，及びｙ₁が求まり、これらから中心点の位
置（ｘ_M，ｙ_M）が下式によって求まる。 ｘ_M＝（ｘ₀＋ｘ₁）／２ ｙ_M＝（ｙ₀＋ｙ₁）／２

【００２７】偏差計算によっても中心点を求めることが
できる。つまり、次の式が成り立つ。

【数１】 さらに次の式が成り立つ。

【数２】

【００２８】未知数ｘ_M及びｙ_Mのための２つの方程式が
得られる。その他、２つの中心点計算において次の式が
成立する。

【数３】 全ての４つの値ｒ₀₀〜ｒ₁₁は予め定められた円板の径の
許容範囲内に入る必要があり、そうでない円板２２は位
置ｘ_Dに達するに伴い空気ノズル２６からの空気噴流に
よってガイド２３から吹き飛ばされる。尚、アレイ２４
及び２５の直前を円板２２が通過するように配置する代
わりに、円板２２の像をレンズ系によってアレイ２４，
２５上に形成することも可能である。

【００２９】次に、図３に示す直径ゲージの周辺構成を
説明する。ＣＣＤアレイを代表とする受光素子アレイ２
４，２５は、ドライバー２７によって駆動される。平行
光２１によって生じるアレイ２４，２５の信号はＡ／Ｄ
変換器２８を通って信号処理部を有する評価ユニット
（コンピュータ）２９に送られる。このコンピュータ２
９はインターフェース回路３０を備えており、これを介
して光源２０を駆動するドライバー３１を制御する。光
源２０はＣＣＤアレイによって得られる信号が過大にぼ
やけないような時間間隔で間欠発光する。

【００３０】コンピュータ２９にプログラマブルコント
ローラ３２が接続されており、これをプログラミングす
るためのモニター３３及びキーボード３４も備えられて
いる。このプログラマブルコントローラ３２は弁３６を
開閉する弁ドライバー３５を制御する。弁３６が開成さ
れると圧縮空気３７が空気ノズル２６に送られ、前述し
たように検査結果が許容範囲内に入っていない円板が吹
き飛ばされる。

【００３１】同様な制御は厚さゲージのためにも用意さ
れており、厚さゲージの作用については図４（ａ）に概
略的に示されている。光源３８からの光がレンズ３９に
よって平行光線とされて受光素子アレイ（４３）に投射
される。ガイド４１上を移動する円板４０がこの平行光
を遮ることによって円板４０の影４２が円板の面に垂直
に配設された受光素子アレイ４３に投影される。受光素
子アレイ４３の出力信号を評価することにより円板４０
の厚さが決定される。

【００３２】図４（ｂ）では、光源３８に並設された光
源４４から出た光がレンズ３９により平行光とされて円
板４０に斜めから投射されている。これによって幅の広
い影４５が受光素子アレイ４３に生ずることになる。円
板４０がふらつきながら移動している場合は逆に、光源
３８による影よりも光源４４による影の方が狭くなる場
合もあり、両光源による組み合わせ評価によって円板が
ふらついている場合でも円板の実際の厚さを求めること
ができる。尚、この厚さゲージにおいても前述の直径ゲ
ージと同様に、円板２２の影を受光素子アレイ４３に直
接投影する代わりに、レンズ系を通して投影することが
できる。

【００３３】図５には、上記の厚さ測定系を２組備え、
これらをガイド４１に対して異なる角度α，βで配置し
たものを示している。円板４０が２組の厚さ測定系によ
って評価される。図４又は図５による厚さゲージによる
検査の結果、厚さが所定の許容範囲内に入っていない円
板は前述の直径ゲージによる検査の場合と同様にしてガ
イド４１上から不良品回収箱１９にに落とされる。

【００３４】以上のように、本発明は多数の円板即ち検
査対象物を非接触で検査すること及び供給方法等の工夫
により、従来装置に比べて速い処理を可能にしている。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による検査装置の全体斜視図

【図２】本発明による直径ゲージの原理図

【図３】本発明による直径ゲージの周辺ブロック図

【図４】本発明による厚さゲージの模式図

【図５】２組の測定系を有する厚さゲージの模式図

【符号の説明】

４，１１，１３ 円板 ６ 滑り面 ７，１０ 捕捉レール １２ オーバーフロー受け １４ 円板分離部 １５，２３，４１ ガイド １６ 直径ゲージ １７ 厚さゲージ １８，２６ 空気ノズル １９ 不良品回収箱 ２０，３８，４４ 光源 ２１ 光 ２３，４１ ガイド ２４，２５，４３ 受光素子アレイ ２９ 評価ユニット

フロントページの続き (71)出願人 594102245 ハンス‐ミヒャエル・シュヴァルツ ＨＡＮＳ‐ＭＩＣＨＡＥＬ ＳＣＨＷＡＲ Ｚ ドイツ連邦共和国 デー‐76307 カール スバート ベッカー‐ゲーリング‐シュト ラーセ １ (71)出願人 594102256 ボド・モルゲンシュテルン ＢＯＤＯ ＭＯＲＧＥＮＳＴＥＲＮ ドイツ連邦共和国 デー‐35041 マール ブルク アム・シュトラウホ ２ (72)発明者 ヴィンフリート・バイゼル ドイツ連邦共和国 デー‐57234 ヴィル ンスドルフ アム・シュトース ７ (72)発明者 ハンス‐ミヒャエル・シュヴァルツ ドイツ連邦共和国 デー‐76307 カール スバート ベッカー‐ゲーリング‐シュト ラーセ １ (72)発明者 ボド・モルゲンシュテルン ドイツ連邦共和国 デー‐35041 マール ブルク アム・シュトラウホ ２

Claims (23)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多角形板を含む硬貨等の円板を案内する
   案内手段と、円板の外形を検査すべく前記案内手段の途
   中に設けられたゲージとを備えている円板検査装置であ
   って、 前記案内手段は、円板の一方の面を支持する傾斜した滑
   り面（６）と、円板の周面を支持して案内すべく前記滑
   り面（６）に沿って付設された少なくとも一本のガイド
   （１５，２３，４１）とを備え、 前記ガイド（１５，２３，４１）の上流側に接続する少
   なくとも１本の傾斜した捕捉レール（７，１０）が前記
   滑り面（６）に沿って付設され、 上方から供給された円板（４，１１，１３）が前記滑り
   面（６）に沿って滑り落ちたのち前記捕捉レール（７，
   １０）に補足され、この捕捉レール（７、１０）に沿っ
   て、そしてこれに続く前記ガイド（１５，２３，４１）
   に沿って転動することを特徴とする円板検査装置。
2. 【請求項２】 前記滑り面（６）が鉛直線に対して約２
   ５度を中心に１０〜７０度の範囲内の角度で傾斜してい
   ることを特徴とする請求項１記載の円板検査装置。
3. 【請求項３】 前記捕捉レール（７，１０）が水平線に
   対して約３０度を中心に１０〜６０度の範囲内の角度で
   傾斜していることを特徴とする請求項１記載の円板検査
   装置。
4. 【請求項４】 前記捕捉レール（７，１０）の幅が円板
   （４，１１，１３）の厚さより大きく、その半径より小
   さいことを特徴とする請求項１記載の円板検査装置。
5. 【請求項５】 前記捕捉レール（７，１０）の下流側に
   円板（４，１１，１３）の厚さに比べて等しいか小さい
   幅を有する円板分離部（１４）が備えられていることを
   特徴とする請求項１記載の円板検査装置。
6. 【請求項６】 前記円板分離部（１４）が前記滑り面
   （６）に垂直な方向に位置調節可能であることを特徴と
   する請求項５記載の円板検査装置。
7. 【請求項７】 前記捕捉レール（７，１０）が取外し交
   換自在に前記滑り面（６）に取り付けられていることを
   特徴とする請求項１記載の円板検査装置。
8. 【請求項８】 前記捕捉レール（７，１０）と前記滑り
   面（６）との間に隙間が設けられていることを特徴とす
   る請求項１記載の円板検査装置。
9. 【請求項９】 前記捕捉レール（７，１０）の領域にお
   いて前記滑り面（６）に空気噴射ノズルが備えられてい
   ることを特徴とする請求項１記載の円板の外形検査装
   置。
10. 【請求項１０】 前記滑り面（６）の下方にオーバーフ
    ロー受け（１２）が備えられていることを特徴とする請
    求項１記載の円板の外形検査装置。
11. 【請求項１１】 前記ゲージが円板の直径を検査するた
    めの直径ゲージ（１６）であり、この直径ゲージ（１
    ６）は、円板にほぼ平行に配置された平面状又は２本の
    直線状の受光素子アレイ（２４，２５）と、円板を挟ん
    で前記受光素子アレイ（２４，２５）と対向するように
    配置されて前記受光素子アレイ（２４，２５）に光（２
    １）を投射するする光源（２０）と、前記受光素子アレ
    イ（２４，２５）の出力信号を処理する評価ユニット
    （２９）とを備えていることを特徴とする請求項１記載
    の円板検査装置。
12. 【請求項１２】 前記２本の直線状の受光素子アレイ
    （２４，２５）の一方（２４）が前記ガイド（２３）に
    ほぼ平行に、且つ、他方（２５）が前記ガイド（２３）
    にほぼ垂直に配置されていることを特徴とする請求項１
    １記載の円板検査装置。
13. 【請求項１３】 前記光源（２０）が間欠的に短期間の
    み発光するパルス光源であることを特徴とする請求項１
    １記載の円板検査装置。
14. 【請求項１４】 前記受光素子アレイ（２４，２５）が
    間欠的に信号を出力することを特徴とする請求項１１記
    載の円板検査装置。
15. 【請求項１５】 前記ガイド（２３）にほぼ平行に配設
    された受光素子アレイ（２４）と前記ガイド（２３）と
    の間隔が円板の直径の５分の４より小さいことを特徴と
    する請求項１１記載の円板検査装置。
16. 【請求項１６】 前記ゲージが円板の厚さを検査するた
    めの厚さゲージ（１７）であり、この厚さゲージ（１
    ７）は、前記ガイド（４１）の上方又は下方において円
    板にほぼ垂直に配置された平面状又は直線状の受光素子
    アレイ（４３）と、円板を挟んで前記受光素子アレイ
    （４３）と対向するように配置されて前記受光素子アレ
    イ（４３）に光（２１）を投射する位置のずれた複数の
    光源（３８，４４）と、前記受光素子アレイ（４３）の
    出力信号を処理する評価ユニット（２９）とを備えてい
    る請求項１記載の円板検査装置。
17. 【請求項１７】 前記光源（３８，４４）が間欠的に短
    時間のみ発光するパルス光源であることを特徴とする請
    求項１６記載の円板検査装置。
18. 【請求項１８】 前記受光素子アレイ（４３）と光源
    （３８，４４）との間の領域において、円板の側面を支
    持している前記滑り面（６）に切り欠きが設けられ、且
    つ、円板の周部を支持している前記ガイド（４１）の幅
    が細く形成されていることを特徴とする請求項１６記載
    の円板検査装置。
19. 【請求項１９】 前記厚さゲージ（１７）の受光素子ア
    レイ及び光源からなる測定系が、ガイド（４１）に対し
    て異なる角度で２以上配置されていることを特徴とする
    請求項１６記載の円板検査装置。
20. 【請求項２０】 前記ゲージ（１６，１７）の終端部
    に、円板をガイド上から落下させるための放出ユニット
    を備えていることを特徴とする請求項１６記載の円板検
    査装置。
21. 【請求項２１】 前記放出ユニットが、円板の側面を支
    持している前記滑り面（６）に配置された渦電流を発生
    させるマグネット又は空気ノズル（１８，２６）である
    ことを特徴とする請求項２０記載の円板検査装置。
22. 【請求項２２】 前記放出ユニットの下方に不良品回収
    箱（１９）が備えられていることを特徴とする請求項２
    ０記載の円板検査装置。
23. 【請求項２３】 前記ガイド（１５）が検査に合格した
    円板を回収するための回収箱に接続していることを特徴
    とする請求項１記載の円板検査装置。