JPH0714801Y2 - 測定具 - Google Patents
測定具Info
- Publication number
- JPH0714801Y2 JPH0714801Y2 JP6475383U JP6475383U JPH0714801Y2 JP H0714801 Y2 JPH0714801 Y2 JP H0714801Y2 JP 6475383 U JP6475383 U JP 6475383U JP 6475383 U JP6475383 U JP 6475383U JP H0714801 Y2 JPH0714801 Y2 JP H0714801Y2
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- JP
- Japan
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- probe
- cap
- spindle
- main body
- tip
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 本考案は測定具、主として工作機械の主軸に取付けて主
軸の軸方向(Z軸)の原点位置決めに使用する測定具に
関する。
軸の軸方向(Z軸)の原点位置決めに使用する測定具に
関する。
一般に、工作機械にあっては、第1図に示すように、主
軸1のテーパ孔2の基準寸法位置GLからテーブル5の基
準測定面M(あるいは治具取付面,ワーク基準面)まで
のZ軸方向の正確な基準寸法L(絶対寸法)を測定する
必要がある。これは上記基準寸法位置GLが加工精度の問
題上主軸ごとにばらつきがあり、各主軸ごとに基準寸法
Lを正確に測定しておかないとワークの加工精度の向上
が望めないからである。さらに、ワークの加工を行うこ
とにより機械に温度変化が生じ、基準寸法L等に誤差が
発生するため、定期的に基準寸法を確認,修正しなけれ
ばならない。
軸1のテーパ孔2の基準寸法位置GLからテーブル5の基
準測定面M(あるいは治具取付面,ワーク基準面)まで
のZ軸方向の正確な基準寸法L(絶対寸法)を測定する
必要がある。これは上記基準寸法位置GLが加工精度の問
題上主軸ごとにばらつきがあり、各主軸ごとに基準寸法
Lを正確に測定しておかないとワークの加工精度の向上
が望めないからである。さらに、ワークの加工を行うこ
とにより機械に温度変化が生じ、基準寸法L等に誤差が
発生するため、定期的に基準寸法を確認,修正しなけれ
ばならない。
また、第2図に示すように、回転可能なパレットテーブ
ル6を備えた工作機械でも同様であり、このものではロ
ケータ7,7′を基準としてワーク等を設置するため、ロ
ケータ7,7′を基準としてZ軸の位置決めが必要であ
る。従って、Z軸方向の基準寸法は基準寸法位置GLから
テーブル中心までのLにロケータ7,7′の基準測定面M,
M′までの寸法L1,L1′を加えた寸法となる。通常、ロケ
ータ7,7′は2ケ所設置されているが、その寸法L1,L1′
はそれぞれ誤差があるし、数個のパレットテーブル6の
使用する場合にもそれぞれに加工寸法誤差があるからで
ある。
ル6を備えた工作機械でも同様であり、このものではロ
ケータ7,7′を基準としてワーク等を設置するため、ロ
ケータ7,7′を基準としてZ軸の位置決めが必要であ
る。従って、Z軸方向の基準寸法は基準寸法位置GLから
テーブル中心までのLにロケータ7,7′の基準測定面M,
M′までの寸法L1,L1′を加えた寸法となる。通常、ロケ
ータ7,7′は2ケ所設置されているが、その寸法L1,L1′
はそれぞれ誤差があるし、数個のパレットテーブル6の
使用する場合にもそれぞれに加工寸法誤差があるからで
ある。
ここで、従来の測定方法の一例を第3図に示す。この方
法はテストバー8を使用するもので、機械主軸1のテー
パ孔2にテストバー8のテーパシャンク部9を挿入し、
主軸1をある程度下降させた状態でテストバー8の先端
と測定基準面Mとの間にブロックゲージ3を手でスライ
ドさせつつ挿入し、スライド時の感触にて主軸1の位置
決めを行う。
法はテストバー8を使用するもので、機械主軸1のテー
パ孔2にテストバー8のテーパシャンク部9を挿入し、
主軸1をある程度下降させた状態でテストバー8の先端
と測定基準面Mとの間にブロックゲージ3を手でスライ
ドさせつつ挿入し、スライド時の感触にて主軸1の位置
決めを行う。
しかしながら、この方法ではブロックゲージ3をスライ
ドさせて感触にて基準寸法Lを割り出すため、どうして
も測定誤差を生じ、個人差が大きいし、段取りが煩雑で
測定に長時間を必要とし、テストバー8等を傷付けるお
それもある。また、測定基準面Mに一定の面積を要し、
狭い面では測定できないし、ダイヤルゲージの目盛を読
み取る方法ではないので比較測定が不正確かつ困難であ
るという欠点をも有している。
ドさせて感触にて基準寸法Lを割り出すため、どうして
も測定誤差を生じ、個人差が大きいし、段取りが煩雑で
測定に長時間を必要とし、テストバー8等を傷付けるお
それもある。また、測定基準面Mに一定の面積を要し、
狭い面では測定できないし、ダイヤルゲージの目盛を読
み取る方法ではないので比較測定が不正確かつ困難であ
るという欠点をも有している。
本考案は上記の欠点に鑑みてなされたもので、その目的
は、工作機械主軸のZ軸の基準寸法を正確かつ簡単に測
定することができる測定具を提供することにある。
は、工作機械主軸のZ軸の基準寸法を正確かつ簡単に測
定することができる測定具を提供することにある。
以下、本考案の一実施例を添付図面に従って説明する。
第4図において、本考案に係る測定具は、概略、本体10
と、ダイヤルゲージ15と、キャップ20とから構成されて
いる。
と、ダイヤルゲージ15と、キャップ20とから構成されて
いる。
本体10は後端(図中上端)に機械主軸と同一のテーパを
有するシャンク部11を一体に形成したもので、内部には
周知のダイヤルゲージ15が設置され、その測定子16は先
端ねじ部12から若干突出している。
有するシャンク部11を一体に形成したもので、内部には
周知のダイヤルゲージ15が設置され、その測定子16は先
端ねじ部12から若干突出している。
キャップ20は測定子16の保護を図るもので、ねじ部12に
着脱自在である。ねじ部12に螺着した状態においてはキ
ャップの底部21が測定子16を一定量押し込むこととなる
が、このとき基準寸法位置GLから測定子16の先端までの
寸法はZ軸寸法Lとして例えば200.00mmに正確に調整さ
れ、本体10の表面にはその実測値が印字されている。即
ち、キャップ20にてダイヤルゲージ15の零調整又は零確
認が可能となっている。
着脱自在である。ねじ部12に螺着した状態においてはキ
ャップの底部21が測定子16を一定量押し込むこととなる
が、このとき基準寸法位置GLから測定子16の先端までの
寸法はZ軸寸法Lとして例えば200.00mmに正確に調整さ
れ、本体10の表面にはその実測値が印字されている。即
ち、キャップ20にてダイヤルゲージ15の零調整又は零確
認が可能となっている。
次に、以上の構成からなる測定具の使用方法について第
5図を参照して説明する。
5図を参照して説明する。
第5図はZ軸基準寸法Lを測定する場合を示す。まず、
前工程としてダイヤルゲージ15の零調整を、キャップ20
を装着した状態でダイヤルゲージ15の指針にダイヤル目
盛の零を合わせて行い、その後キャップ20を取外し、さ
らに本体10のシャンク部11を主軸1のテーパ孔2に挿入
固定し、主軸1をゆるやかに下降させ、基準測定面M上
に測定子16を当て、ダイヤルゲージ15の指針が零目盛を
指す位置で止める。これにて基準寸法Lが正確に200.00
mmに設定されたこととなる。
前工程としてダイヤルゲージ15の零調整を、キャップ20
を装着した状態でダイヤルゲージ15の指針にダイヤル目
盛の零を合わせて行い、その後キャップ20を取外し、さ
らに本体10のシャンク部11を主軸1のテーパ孔2に挿入
固定し、主軸1をゆるやかに下降させ、基準測定面M上
に測定子16を当て、ダイヤルゲージ15の指針が零目盛を
指す位置で止める。これにて基準寸法Lが正確に200.00
mmに設定されたこととなる。
なお、第4図に示すように、前記キャップ20に周知のセ
ンタリングアーム25とテストインジケータ30とを取り付
けて、基準孔の位置測定や基準面の平行度、直角度の測
定を行なうようにすることもできる。
ンタリングアーム25とテストインジケータ30とを取り付
けて、基準孔の位置測定や基準面の平行度、直角度の測
定を行なうようにすることもできる。
すなわち、センタリングアーム25は軸部26をキャップ20
の孔22に着脱自在であり、ピン27を支点として回動可能
である。また、テストインジケータ30はピン31を支点と
してセンタリングアーム25に回動可能であり、その測定
値は目盛部32で読み取るようになっている。
の孔22に着脱自在であり、ピン27を支点として回動可能
である。また、テストインジケータ30はピン31を支点と
してセンタリングアーム25に回動可能であり、その測定
値は目盛部32で読み取るようになっている。
第6A図は基準孔5aの位置測定を行なう場合を示し、本体
10にキャップ20を取付けるとともにキャップ20にセンタ
リングアーム25,テストインジケータ30を取付け、テス
トインジケータ30の測定子33を基準孔5aに突入させて主
軸1を回転させつつ位置測定を行う。
10にキャップ20を取付けるとともにキャップ20にセンタ
リングアーム25,テストインジケータ30を取付け、テス
トインジケータ30の測定子33を基準孔5aに突入させて主
軸1を回転させつつ位置測定を行う。
また、第6B図は基準面Nの平行度及び直角度の測定を示
し、テストインジケータ30の測定子33を基準面Nに沿わ
せて主軸1又はテーブルを左右上下に移動させつつ平行
度,直角度を測定する。
し、テストインジケータ30の測定子33を基準面Nに沿わ
せて主軸1又はテーブルを左右上下に移動させつつ平行
度,直角度を測定する。
以上の説明で明らかなように、本考案は、後端に機械主
軸と同一のテーパを有するシャンク部を一体に設けた本
体と、この本体内に固定され、測定子を本体の先端から
突出させたダイヤルゲージと、上記本体の先端に完全に
装着した状態で、底部が測定子の先端に当接して該測定
子を一定量押し込み、上記機械主軸の基準寸法位置から
上記キャップに当接した測定子の先端までの距離を一定
の寸法に設定するキャップと、を備えたため、上記シャ
ンク部を工作機械の主軸のテーパ孔に挿入した状態で上
記測定子を測定基準面に当てるという簡単な操作で基準
寸法を正確に測定することができ、従来の測定者の熟練
と勘に頼っていた測定を大巾に改善することができる。
もちろん絶対寸法を直読することができるし、基準面が
狭くても使用できる。また、キャップは本体から突出し
たダイヤルゲージ測定子の保護を兼ね、この測定子の損
傷を防止する。さらに、キャップにテストインジケータ
を容易に取り付けられるので、テストインジケータを取
り付けた測定具を機械主軸に装着し、この機械主軸又は
テーブルを移動させながら基準面の平行度や直角度を測
定することもできる。
軸と同一のテーパを有するシャンク部を一体に設けた本
体と、この本体内に固定され、測定子を本体の先端から
突出させたダイヤルゲージと、上記本体の先端に完全に
装着した状態で、底部が測定子の先端に当接して該測定
子を一定量押し込み、上記機械主軸の基準寸法位置から
上記キャップに当接した測定子の先端までの距離を一定
の寸法に設定するキャップと、を備えたため、上記シャ
ンク部を工作機械の主軸のテーパ孔に挿入した状態で上
記測定子を測定基準面に当てるという簡単な操作で基準
寸法を正確に測定することができ、従来の測定者の熟練
と勘に頼っていた測定を大巾に改善することができる。
もちろん絶対寸法を直読することができるし、基準面が
狭くても使用できる。また、キャップは本体から突出し
たダイヤルゲージ測定子の保護を兼ね、この測定子の損
傷を防止する。さらに、キャップにテストインジケータ
を容易に取り付けられるので、テストインジケータを取
り付けた測定具を機械主軸に装着し、この機械主軸又は
テーブルを移動させながら基準面の平行度や直角度を測
定することもできる。
第1図,第2図は基準寸法の測定に関する説明図、第3
図は従来の測定方法を示す正面図、第4図は本考案に係
る測定具の一実施例を示す正面図、第5図はその使用方
法の説明図、第6A図および第6B図は本考案に係る測定具
を他の測定方法に利用する場合の説明図である。 1…主軸、10…本体、11…シャンク部、12…ねじ部、15
…ダイヤルゲージ、16…測定子、20…キャップ、21…キ
ャップの底部。
図は従来の測定方法を示す正面図、第4図は本考案に係
る測定具の一実施例を示す正面図、第5図はその使用方
法の説明図、第6A図および第6B図は本考案に係る測定具
を他の測定方法に利用する場合の説明図である。 1…主軸、10…本体、11…シャンク部、12…ねじ部、15
…ダイヤルゲージ、16…測定子、20…キャップ、21…キ
ャップの底部。
Claims (1)
- 【請求項1】後端に機械主軸と同一のテーパを有するシ
ャンク部を一体に設けた本体と、この本体内に固定さ
れ、測定子を本体の先端から突出させたダイヤルゲージ
と、上記本体の先端に完全に装着した状態で、底部が測
定子の先端に当接して該測定子を一定量押し込み、上記
機械主軸の基準寸法位置から上記キャップに当接した測
定子の先端までの距離を一定の寸法に設定するキャップ
と、を備えたことを特徴とする測定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6475383U JPH0714801Y2 (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 測定具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6475383U JPH0714801Y2 (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 測定具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59170206U JPS59170206U (ja) | 1984-11-14 |
| JPH0714801Y2 true JPH0714801Y2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=30194938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6475383U Expired - Lifetime JPH0714801Y2 (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 測定具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714801Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5436392B2 (ja) * | 2010-10-28 | 2014-03-05 | 本田技研工業株式会社 | 主軸位置の測定装置および測定方法 |
-
1983
- 1983-04-28 JP JP6475383U patent/JPH0714801Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59170206U (ja) | 1984-11-14 |
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