JPH0714871Y2 - 制限照射野絞り付きx線回折用薄片試料ホルダ−装置 - Google Patents

制限照射野絞り付きx線回折用薄片試料ホルダ−装置

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JPH0714871Y2
JPH0714871Y2 JP10529885U JP10529885U JPH0714871Y2 JP H0714871 Y2 JPH0714871 Y2 JP H0714871Y2 JP 10529885 U JP10529885 U JP 10529885U JP 10529885 U JP10529885 U JP 10529885U JP H0714871 Y2 JPH0714871 Y2 JP H0714871Y2
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JP
Japan
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diaphragm
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thin
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ray
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JP10529885U
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康夫 金沢
勝宏 月村
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工業技術院長
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、顕微鏡下でX線制限照射野絞りを薄片または
薄膜固定(以下、薄片と略記する。)表面上の任意の測
定位置に密着固定し、X線回折装置で絞り内にある薄片
物質に対してX線の照射・回折を可能にした制限照射野
絞り付きX線回折用薄片試料ホルダー装置に関するもの
である。
[従来の技術] X線回折においては、従来からの試料へのX線照射に、
通常、金属円筒形のコリメータ等が用いられている。こ
の方法は、測定すべき試料箇所をコリメータの光軸に合
わせて、X線を照射・回折するものである。試料に照射
する領域は、線源の大きさ、コメータの内径と長さおよ
びコリメータ先端から試料位置までの長さによって決ま
る。この方法は単結晶法のように試料をX線に完浴させ
る場合には有効であるが、薄片等の平面内に存在する特
定の試料に対しては、その測定領域が微小になればなる
ほどコリメータとの光軸合わせが極めて困難にある。も
し仮に、顕微鏡をX線回折装置に組み入れたとしても、
高倍率では顕微鏡の作動距離(対物レンズと試料位置ま
での距離)が短くなり、現実の装置では取り付けが難し
い。そして、物質を振動して回折させる場合には振動軸
の機械的交差精度が問題となり、実際に薄片中の目的位
置にX線が照射されているかどうか確認できないという
欠点がある。
[考案が解決しようとする課題] 本考案の技術的課題は、試料の測定位置決めを回折装置
と独立に顕微鏡下で行い、顕微鏡下で確認した試料の測
定位置と領域をX線の制限照射野絞りで選択固定してX
線を照射・回折できるようにした試料ホルダー装置を提
供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するための本考案試料ホルダー装置は、
薄片または薄膜固体の試料を保持固定するわく状で顕微
鏡の載物台に載置可能に形成したX線回折用試料ホルダ
ーを備え、この試料ホルダーのわくに、X線の制限照射
野絞りを先端に備えた絞り移動アームを、上記X線の制
限照射野絞りを試料表面上の任意の測定位置に移動して
密着固定可能に取り付け、X線回折装置上でその絞り内
にある薄片物質についてのX線回折を可能にしたもので
ある。
[作用] 本考案の試料ホルダー装置を使用するには、まず、薄片
試料を試料ホルダーにはめて固定し、この状態で薄片試
料を顕微鏡で観察し、測定すべき領域を決める。つぎ
に、X線の制限照射野絞りを先端に備えた絞り移動アー
ムの移動によりアームの絞りを測定すべき位置に合わせ
て固定する。このようにアームの絞りを薄片試料に密着
固定すれば、絞り内に露出している物質のみがX線によ
って照射・回折できる。
したがって、試料の測定位置決めを回折装置と独立に顕
微鏡下で行い、顕微鏡下で確認した試料の測定位置と領
域をX線の制限照射野絞りで選択固定してX線を照射・
回折することができる。
[考案の効果] このような本考案の試料ホルダー装置によれば次の2つ
の利点が得られる。
1つには、試料の測定位置決めを回折装置と独立に顕微
鏡下で行うことができる。この場合、鏡下で観察しなが
ら試料位置と領域を確認し、それに合わせて絞りを最適
の測定位置に移動して密着固定することができる。2つ
目には、X線回折装置上において薄片を振動する時、絞
りを薄片上に固定しているので、振動のずれを容認する
くらいの少し大きめのコリメータを用いれば、絞り内の
物質のみがたえずX線に完浴することになり、正確に測
定すべき領域のみの回折が得られることになる。すなわ
ち、従来の方法に比べて、測定物質とコリメータの光軸
合わせおよび振動軸と光軸の微小調整を厳密に行わなく
とも、絞り穴を完浴するようなコリメータを選ぶだけ
で、測定すべき物質の回折情報が得られるという保証が
ある。
[実施例] 本考案の薄片試料ホルダー装置の実施様態を、図面に基
づいて以下説明する。
第1図および第2図において、1はX線回折用試料ホル
ダーで、薄片試料aを保持固定するわく状で顕微鏡の載
物台に載置可能に形成し、上記試料ホルダー1の先端に
X線制限照射野絞り3を備えた絞り移動アーム2をネジ
4により固定可能に構成している。X線制限照射野絞り
3はX線遮蔽板に小径の孔を設けることにより形成した
もので、例えば鉛や白金などのX線をよく遮蔽する金属
で製作するのが適している。図示したように、1枚のX
線遮蔽板に幾つかの径の異なる絞りを用意しておくこと
ができる。遮蔽板の厚さは、薄片試料aを振動した時、
絞りのへりのかげが内側にできないように、なるべく薄
くしたほうがよいが、使用X線の90%以上を遮蔽できる
厚さが望ましい。
絞り移動アーム2は、ステンレス等の弾力性に富む材質
がよい。この絞り移動アーム2は、一端に設けた孔5に
X線制限照射野絞り3を臨ませ、ほぼ全長にわたって設
けた長孔6にネジ4を挿通することにより、X線制限照
射野絞り3を薄片試料aの任意の測定位置に移動して密
着固定可能に取り付けたものである。ネジ4の締付け位
置を、図示したように試料ホルダー1の周辺部の傾斜面
7とすれば、X線制限照射野絞り3を絞り移動アーム2
の弾力性により薄片試料aに密着固定させることができ
る。
図中、8は薄片試料おさえ、9はX線回折装置用やX線
回折カメラ用などのゴニオメータヘッドに固定するため
の真ちゅう等の円柱棒を示す。
次に、上記試料ホルダー装置の使用方法について説明す
る。
まず、薄片試料aを試料ホルダー1の内わくの寸法に合
うように作成し、整形した薄片試料aを、観察したい面
を上にして試料ホルダー1の内わくに保持し、おさえ8
で固定する。
この状態で試料ホルダー1を顕微鏡の載物台に水平に載
置し、観察する。鏡下で測定すべき位置が決まったな
ら、そこを顕微鏡視野の中心に合わせて、試料ホルダー
1を固定する。次に、測定領域に合う絞りの大きさを選
択したのち、絞り移動アーム2で視野中心位置に選択し
た絞り3の中心を合わせて、絞り移動アーム2をネジ4
で固定する。絞り3は薄片試料aの表面と接しており、
ネジ4をゆるめた状態では、薄片試料表面上を滑りなが
ら移動させることができる。ネジ4を傾斜面7に固定で
きるように形成すれば、ネジ4で絞り移動アーム2を固
定したときに、絞り移動アーム2の弾力により絞り3が
薄片試料aに密着固定することができる。
絞り移動アーム2による絞り3の移動は、アーム2にお
ける絞り3と反対側の部分を手で動かせば、ネジ4を中
心にした回転と長孔6に沿う移動により、自由に行うこ
とができる。この方法で10μm程度の精度で絞り3を固
定できるが、より精密に行う場合には、微調整の可能な
XY移動機構を絞り移動アーム2に取りつけてもよい。
上述の要領で絞り3を薄片試料a上に密着固定したホル
ダー装置は、X線回折装置用やX線回折カメラ用などの
ゴニオメータヘッド頂部の円筒形の溝に円柱棒9をさし
込んで固定する。回折装置の回転軸上における試料のセ
ンターリングは、装置に取り付けてある10倍程度の望遠
鏡でも、絞り3の穴を目印にすれば容易に行える。ま
た、絞り径に対してコリメータの径は十分大きいので、
絞り内の薄片物質はX線に完浴する。そのため、厳密な
光軸合わせも必要ない。
また、薄片試料aを振動した場合、実際に照射される領
域は絞りの径と厚さおよび振動角度によって決まる。し
ぼり3の遮蔽板は薄いほど、そして振動角が小さいほど
照射ブラインド領域は小さくなる。振動角を小さくする
ためには、より短波長のX線を選べばよい。もし、エネ
ルギー分散型の検出器を用いるならば、薄片試料aをあ
まり振動しなくても効率的な回折線の収集が可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す薄片試料ホルダー装置
の正面図、第2図は第1図の中央縦断側面図である。 1……試料ホルダー、2……絞り移動用アーム、3……
制限照射野絞り、a……薄片試料。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】薄片または薄膜固体の試料を保持固定する
    わく状で顕微鏡の載物台に載置可能に形成したX線回折
    用試料ホルダーを備え、この試料ホルダーのわくに、X
    線の制限照射野絞りを先端に備えた絞り移動アームを、
    上記X線の制限照射野絞りを試料表面上の任意の測定位
    置に移動して密着固定可能に取り付け、X線回折装置上
    でその絞り内にある薄片物質についてのX線回折を可能
    にしたことを特徴とする制限照射野絞り付きX線回折用
    薄片試料ホルダー装置。
JP10529885U 1985-07-10 1985-07-10 制限照射野絞り付きx線回折用薄片試料ホルダ−装置 Expired - Lifetime JPH0714871Y2 (ja)

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JP10529885U JPH0714871Y2 (ja) 1985-07-10 1985-07-10 制限照射野絞り付きx線回折用薄片試料ホルダ−装置

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6212859U JPS6212859U (ja) 1987-01-26
JPH0714871Y2 true JPH0714871Y2 (ja) 1995-04-10

Family

ID=30979595

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JP10529885U Expired - Lifetime JPH0714871Y2 (ja) 1985-07-10 1985-07-10 制限照射野絞り付きx線回折用薄片試料ホルダ−装置

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JP2023096884A (ja) * 2021-12-27 2023-07-07 株式会社不二越 X線測定装置

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JPS6212859U (ja) 1987-01-26

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