JPH07218455A - X線回折装置の試料保持装置 - Google Patents
X線回折装置の試料保持装置Info
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- JPH07218455A JPH07218455A JP6013579A JP1357994A JPH07218455A JP H07218455 A JPH07218455 A JP H07218455A JP 6013579 A JP6013579 A JP 6013579A JP 1357994 A JP1357994 A JP 1357994A JP H07218455 A JPH07218455 A JP H07218455A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料台をゴニオメータの基台から取り外すこ
となく試料回転治具のメンテナンスを行えるようにする
とともに、試料で回折してきたX線を試料保持装置の周
囲で効率的に遮蔽する。 【構成】 X線回折装置において、X線源に対し回転可
能なゴニオメータの基台5上に設置される試料保持装置
であって、ゴニオメータの基台5上に装着される試料台
1と、この試料台1へ着脱自在な試料回転治具2と、試
料Sを保持し前記試料回転治具2に着脱自在な試料ホル
ダ3と、X線を遮蔽可能な材料で形成され試料回転治具
2を被覆するように試料台1へ装着可能なX線遮蔽部材
4とを備えている。
となく試料回転治具のメンテナンスを行えるようにする
とともに、試料で回折してきたX線を試料保持装置の周
囲で効率的に遮蔽する。 【構成】 X線回折装置において、X線源に対し回転可
能なゴニオメータの基台5上に設置される試料保持装置
であって、ゴニオメータの基台5上に装着される試料台
1と、この試料台1へ着脱自在な試料回転治具2と、試
料Sを保持し前記試料回転治具2に着脱自在な試料ホル
ダ3と、X線を遮蔽可能な材料で形成され試料回転治具
2を被覆するように試料台1へ装着可能なX線遮蔽部材
4とを備えている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線回折装置における
ゴニオメータの基台上に装着し、試料を回転自在に支持
する試料保持装置に関する。
ゴニオメータの基台上に装着し、試料を回転自在に支持
する試料保持装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線回折装置は、X線源に対して回転自
在なゴニオメータと称する測角器を備えており、このゴ
ニオメータの基台上に試料保持装置を搭載し、試料保持
装置に保持された試料にX線を照射して、試料で回折し
てきたX線(回折X線)を検出し、その検出角度等に基
づき試料の分析を行う装置である。ここで、試料(粉末
試料)は、角板状の試料ホルダに形成した試料充填孔に
詰め、試料保持装置に装着される。
在なゴニオメータと称する測角器を備えており、このゴ
ニオメータの基台上に試料保持装置を搭載し、試料保持
装置に保持された試料にX線を照射して、試料で回折し
てきたX線(回折X線)を検出し、その検出角度等に基
づき試料の分析を行う装置である。ここで、試料(粉末
試料)は、角板状の試料ホルダに形成した試料充填孔に
詰め、試料保持装置に装着される。
【0003】さて、試料に配向性があるような場合、試
料ホルダへの詰め込み方によって配向度が変るため、試
料の一定個所のみにX線を照射しても、本来検出できる
はずの回折X線が明瞭に得られないときがある。そこで
このような場合、試料を回転させることにより入射X線
に対する試料の配置状態を変え、配向性のある試料や粒
径の粗い試料であっても明瞭に回折X線を検出できるよ
うにした回転式の試料保持装置が用いられている。
料ホルダへの詰め込み方によって配向度が変るため、試
料の一定個所のみにX線を照射しても、本来検出できる
はずの回折X線が明瞭に得られないときがある。そこで
このような場合、試料を回転させることにより入射X線
に対する試料の配置状態を変え、配向性のある試料や粒
径の粗い試料であっても明瞭に回折X線を検出できるよ
うにした回転式の試料保持装置が用いられている。
【0004】図9は従来のこの種の回転式試料保持装置
を示す一部断面正面図である。試料台100と試料回転
治具101は一体に形成されており、装置全体としてゴ
ニオメータの基台5に装着する構成となっている。すな
わち、試料台100の底面中央部に突出している位置決
め固定用の突起部102を、ゴニオメータの基台5に形
成した装着凹部51に挿入固定して試料保持装置の全体
を装着する。
を示す一部断面正面図である。試料台100と試料回転
治具101は一体に形成されており、装置全体としてゴ
ニオメータの基台5に装着する構成となっている。すな
わち、試料台100の底面中央部に突出している位置決
め固定用の突起部102を、ゴニオメータの基台5に形
成した装着凹部51に挿入固定して試料保持装置の全体
を装着する。
【0005】試料回転治具101は、モータ103の駆
動力を得て回転する筒状の回転部材104を有してお
り、この回転部材104の一端部へ図10に示した試料
ホルダ105を取付ける構成となっている。試料ホルダ
105は、同図に示すように角板状のホルダ本体106
に円形状の試料充填孔107が形成してあり、この試料
充填孔107に試料(粉末試料)Sを詰め込む。また、
回転部材104の一端部に形成した試料ホルダ105の
取付部は、押え板108によって試料ホルダ105の前
面を押圧し、回転部材104の端面に押えつけて支持す
る構造となっており、したがって試料ホルダ105の前
方に押え板108が突き出していた。
動力を得て回転する筒状の回転部材104を有してお
り、この回転部材104の一端部へ図10に示した試料
ホルダ105を取付ける構成となっている。試料ホルダ
105は、同図に示すように角板状のホルダ本体106
に円形状の試料充填孔107が形成してあり、この試料
充填孔107に試料(粉末試料)Sを詰め込む。また、
回転部材104の一端部に形成した試料ホルダ105の
取付部は、押え板108によって試料ホルダ105の前
面を押圧し、回転部材104の端面に押えつけて支持す
る構造となっており、したがって試料ホルダ105の前
方に押え板108が突き出していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の回転式
試料保持装置は、試料回転治具が試料台と一体となって
いたので、これをX線回折装置に装着する場合、ゴニオ
メータの基台に直接装着しなければならない。また、試
料回転治具のメンテナンスに際しては、試料台ごとゴニ
オメータの基台から取外さなければならない。ところ
が、ゴニオメータの基台と試料台との間は、正確な角度
検出を実現するために、例えば3/1000mmという
高い嵌め合い精度に加工され、がたつきなく嵌合するよ
うになっている。したがって、試料台の取付け、取外し
は慎重に行わなければうまくいかず、熟練した作業者で
も困難をともなっていた。
試料保持装置は、試料回転治具が試料台と一体となって
いたので、これをX線回折装置に装着する場合、ゴニオ
メータの基台に直接装着しなければならない。また、試
料回転治具のメンテナンスに際しては、試料台ごとゴニ
オメータの基台から取外さなければならない。ところ
が、ゴニオメータの基台と試料台との間は、正確な角度
検出を実現するために、例えば3/1000mmという
高い嵌め合い精度に加工され、がたつきなく嵌合するよ
うになっている。したがって、試料台の取付け、取外し
は慎重に行わなければうまくいかず、熟練した作業者で
も困難をともなっていた。
【0007】また、通常の固定式試料保持装置を搭載す
る試料台には、試料から飛散するX線を遮蔽するため、
プロテクタと称するX線遮蔽部材が取付け可能となって
いる。しかしながら、上述した従来の回転式試料保持装
置では、この固定式試料保持装置を被覆するX線遮蔽部
材を用いることができず、X線回折装置の装置の上面全
体を被覆するX線遮蔽用ケースによってのみX線を遮蔽
する構造となっていた。このため、回転式試料保持装置
を搭載可能となっているX線回折装置は、固定式試料保
持装置専用のものに比べ、X線遮蔽用ケースを厚肉に形
成しなけらばならず、材料コストが高価格であるととも
に、同ケースの開閉には細心の注意が必要であり、厳格
な安全管理を行わなければならなかった。
る試料台には、試料から飛散するX線を遮蔽するため、
プロテクタと称するX線遮蔽部材が取付け可能となって
いる。しかしながら、上述した従来の回転式試料保持装
置では、この固定式試料保持装置を被覆するX線遮蔽部
材を用いることができず、X線回折装置の装置の上面全
体を被覆するX線遮蔽用ケースによってのみX線を遮蔽
する構造となっていた。このため、回転式試料保持装置
を搭載可能となっているX線回折装置は、固定式試料保
持装置専用のものに比べ、X線遮蔽用ケースを厚肉に形
成しなけらばならず、材料コストが高価格であるととも
に、同ケースの開閉には細心の注意が必要であり、厳格
な安全管理を行わなければならなかった。
【0008】また、従来の回転式試料保持装置では、回
転部材の内部を貫通するX線透過孔が、直径11mm程
度と小径に形成されていた。そして、X線透過式の測定
を実施する場合には、このX線透過孔内にコリメータと
称するX線収束器を配置して、コリメータの先端から試
料の裏面へとX線を発射し、試料を通過してきたX線を
表面側で検出している。このように小径のX線透過孔内
にコリメータを配置したとき、試料台の回転角(一般に
θと称する)は、コリメータが小径であるX線透過孔の
内壁に衝突しないきわめて狭い範囲に限られ、測定の自
由度が制限されていた。
転部材の内部を貫通するX線透過孔が、直径11mm程
度と小径に形成されていた。そして、X線透過式の測定
を実施する場合には、このX線透過孔内にコリメータと
称するX線収束器を配置して、コリメータの先端から試
料の裏面へとX線を発射し、試料を通過してきたX線を
表面側で検出している。このように小径のX線透過孔内
にコリメータを配置したとき、試料台の回転角(一般に
θと称する)は、コリメータが小径であるX線透過孔の
内壁に衝突しないきわめて狭い範囲に限られ、測定の自
由度が制限されていた。
【0009】さらに、X線回折装置では、測定に先立っ
てゴニオメータの原点設定、及び回折角度位置の既知な
試料(例えば、Si粉末)を試料保持装置に保持して回
折ピークの角度位置を測定することにより、測角精度の
確認を行っている。従来、これらゴニオメータの原点設
定及び測角精度の確認は、本出願人が先に提案したゴニ
オメータ光軸調整治具(実開平1−85659公報)等
を用い、もっぱら固定式の試料保持装置をゴニオメータ
の基台に装着して行っており、これらの設定,確認が終
了した後、回転式試料保持装置に付け替えるという煩雑
な作業を行わなければならなかった。
てゴニオメータの原点設定、及び回折角度位置の既知な
試料(例えば、Si粉末)を試料保持装置に保持して回
折ピークの角度位置を測定することにより、測角精度の
確認を行っている。従来、これらゴニオメータの原点設
定及び測角精度の確認は、本出願人が先に提案したゴニ
オメータ光軸調整治具(実開平1−85659公報)等
を用い、もっぱら固定式の試料保持装置をゴニオメータ
の基台に装着して行っており、これらの設定,確認が終
了した後、回転式試料保持装置に付け替えるという煩雑
な作業を行わなければならなかった。
【0010】すなわち、特にX線検出器の回転角(一般
に2θと称する)に関するゴニオメータの原点設定に際
しては、X線源から発射されたX線の光軸に対し試料面
を直角に配置する。そして、X線源からのX線を試料に
照射し、該試料を透過してきたX線をX線検出器で検出
し、その検出位置を2θ=0として設定する。ところ
が、従来の回転式試料保持装置では、回転部材のX線透
過孔が小径のためX線が充分に透過せず、上記のように
X線を導くことができなかった。
に2θと称する)に関するゴニオメータの原点設定に際
しては、X線源から発射されたX線の光軸に対し試料面
を直角に配置する。そして、X線源からのX線を試料に
照射し、該試料を透過してきたX線をX線検出器で検出
し、その検出位置を2θ=0として設定する。ところ
が、従来の回転式試料保持装置では、回転部材のX線透
過孔が小径のためX線が充分に透過せず、上記のように
X線を導くことができなかった。
【0011】本発明はこのような従来の課題に鑑みてな
されたもので、試料台をゴニオメータの基台から取り外
すことなく試料回転治具のメンテナンスを行えるように
することを第一の目的とする。また、試料で回折してき
たX線を試料保持装置の周囲で効率的に遮蔽して、X線
回折装置の上面全体を被覆するための大形構造物である
X線遮蔽用ケースを薄肉にでき、しかも安全性を向上さ
せることを第二の目的とする。また、試料台の回転角θ
を広い範囲にわたり許容でき、しかも回転式の試料保持
装置のまま、ゴニオメータの原点設定及び測角精度の確
認を可能とすることを第三の目的とする。さらに、試料
保持形態を容易に固定式と回転式のいずれにも変更でき
るようにすることを第四の目的とする。
されたもので、試料台をゴニオメータの基台から取り外
すことなく試料回転治具のメンテナンスを行えるように
することを第一の目的とする。また、試料で回折してき
たX線を試料保持装置の周囲で効率的に遮蔽して、X線
回折装置の上面全体を被覆するための大形構造物である
X線遮蔽用ケースを薄肉にでき、しかも安全性を向上さ
せることを第二の目的とする。また、試料台の回転角θ
を広い範囲にわたり許容でき、しかも回転式の試料保持
装置のまま、ゴニオメータの原点設定及び測角精度の確
認を可能とすることを第三の目的とする。さらに、試料
保持形態を容易に固定式と回転式のいずれにも変更でき
るようにすることを第四の目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、X線回折装置において、X線源に対し回転
可能なゴニオメータの基台上に設置される試料保持装置
であって、ゴニオメータの基台上に装着される試料台
と、この試料台へ着脱自在な試料回転治具と、試料を保
持し前記試料回転治具に着脱自在な試料ホルダとを備
え、かつ上記試料回転治具は、試料台へ着脱自在に装着
される治具本体と、この治具本体に搭載した回転駆動源
と、軸受を介して前記治具本体に回転自在に設けられ前
記回転駆動源からの駆動力によって軸中心に回転する筒
状の回転部材と、この回転部材の一端部に形成した試料
ホルダの取付部とを具備することを特徴としている。
に本発明は、X線回折装置において、X線源に対し回転
可能なゴニオメータの基台上に設置される試料保持装置
であって、ゴニオメータの基台上に装着される試料台
と、この試料台へ着脱自在な試料回転治具と、試料を保
持し前記試料回転治具に着脱自在な試料ホルダとを備
え、かつ上記試料回転治具は、試料台へ着脱自在に装着
される治具本体と、この治具本体に搭載した回転駆動源
と、軸受を介して前記治具本体に回転自在に設けられ前
記回転駆動源からの駆動力によって軸中心に回転する筒
状の回転部材と、この回転部材の一端部に形成した試料
ホルダの取付部とを具備することを特徴としている。
【0013】また本発明は、上記構成に加えて、X線を
遮蔽可能な材料で形成され試料回転治具を被覆するよう
に試料台へ装着可能なX線遮蔽部材を備えたことを特徴
としている。ここで、上記回転部材の内径は、X線源か
ら発射されたX線をほぼ全幅にわたって透過する寸法に
形成することが好ましい。また、上記試料保持装置の構
成に、さらに試料ホルダを着脱自在に固定する試料ホル
ダ固定治具を備えた構成とし、かつ試料台における試料
回転治具の装着部へ、試料回転治具に代えて上記試料ホ
ルダ固定治具を取付可能とすることもできる。
遮蔽可能な材料で形成され試料回転治具を被覆するよう
に試料台へ装着可能なX線遮蔽部材を備えたことを特徴
としている。ここで、上記回転部材の内径は、X線源か
ら発射されたX線をほぼ全幅にわたって透過する寸法に
形成することが好ましい。また、上記試料保持装置の構
成に、さらに試料ホルダを着脱自在に固定する試料ホル
ダ固定治具を備えた構成とし、かつ試料台における試料
回転治具の装着部へ、試料回転治具に代えて上記試料ホ
ルダ固定治具を取付可能とすることもできる。
【0014】
【作用】このような構成の本発明は、ゴニオメータの基
台へ設置した試料台に対して試料回転治具を着脱できる
ので、高い嵌め合い精度が要求されるゴニオメータへの
試料台の着脱を繰り返すことなく試料回転治具の交換,
メンテナンス等を行うことができる。特に、試料回転治
具の装着部へ固定式の試料ホルダ固定治具を着脱できる
ようにすれば、回転式と固定式のいずれの保持形態にす
るのも容易となる。
台へ設置した試料台に対して試料回転治具を着脱できる
ので、高い嵌め合い精度が要求されるゴニオメータへの
試料台の着脱を繰り返すことなく試料回転治具の交換,
メンテナンス等を行うことができる。特に、試料回転治
具の装着部へ固定式の試料ホルダ固定治具を着脱できる
ようにすれば、回転式と固定式のいずれの保持形態にす
るのも容易となる。
【0015】また、試料台にX線遮蔽部材を着脱自在と
することにより、X線の遮蔽を該X線遮蔽部材によって
実現し、これにより大形構造物であるX線遮蔽用ケース
を薄肉にできる。しかもX線遮蔽用ケースを不用意に開
放した場合にも既にX線遮蔽部材によってX線が遮蔽さ
れているので、安全性が確保される。さらに、回転部材
の内径を、X線源から発射されたX線をほぼ全幅にわた
って透過できる寸法とすることで、回転部材の中空部を
通してX線源からのX線をX線検出器へと導くことがで
きる。したがって、ゴニオメータの原点設定及び測角精
度の確認が、試料回転治具を装着したままで行うことが
できる。また、コリメータを回転部材の中空部内に配置
した場合にも、回転部材の内径が大きくなっているた
め、広い角度範囲でθ回転を行うことができる。
することにより、X線の遮蔽を該X線遮蔽部材によって
実現し、これにより大形構造物であるX線遮蔽用ケース
を薄肉にできる。しかもX線遮蔽用ケースを不用意に開
放した場合にも既にX線遮蔽部材によってX線が遮蔽さ
れているので、安全性が確保される。さらに、回転部材
の内径を、X線源から発射されたX線をほぼ全幅にわた
って透過できる寸法とすることで、回転部材の中空部を
通してX線源からのX線をX線検出器へと導くことがで
きる。したがって、ゴニオメータの原点設定及び測角精
度の確認が、試料回転治具を装着したままで行うことが
できる。また、コリメータを回転部材の中空部内に配置
した場合にも、回転部材の内径が大きくなっているた
め、広い角度範囲でθ回転を行うことができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図1は本発明の実施例に係る試料保持装
置を示す縦断面図である。本実施例に係る試料保持装置
は、試料台1、試料回転治具2、試料ホルダ3及びX線
遮蔽部材4の各構成要素を備えている。
して説明する。図1は本発明の実施例に係る試料保持装
置を示す縦断面図である。本実施例に係る試料保持装置
は、試料台1、試料回転治具2、試料ホルダ3及びX線
遮蔽部材4の各構成要素を備えている。
【0017】試料台1は、円盤状に形成した底板10の
上面中央部に、試料回転治具2を支持するための支持ブ
ロック11を備えた構造となっている。底板10の底面
中央部には位置決め固定用の突起部12が突出してお
り、X線回折装置におけるゴニオメータの基台5に形成
した装着凹部51にこの突起部12を嵌合することによ
って同基台5に装着できるようになっている。これら突
起部12と装着凹部51との間の嵌合い精度は、例えば
3/1000mm程度となっている。この嵌合部分はゴ
ニオメータの基台5の回転中心と同軸上に形成してあ
る。
上面中央部に、試料回転治具2を支持するための支持ブ
ロック11を備えた構造となっている。底板10の底面
中央部には位置決め固定用の突起部12が突出してお
り、X線回折装置におけるゴニオメータの基台5に形成
した装着凹部51にこの突起部12を嵌合することによ
って同基台5に装着できるようになっている。これら突
起部12と装着凹部51との間の嵌合い精度は、例えば
3/1000mm程度となっている。この嵌合部分はゴ
ニオメータの基台5の回転中心と同軸上に形成してあ
る。
【0018】試料台1の支持ブロック11の上端部には
試料回転治具2の装着部13が形成してある。この装着
部13には、後述する試料回転治具2の治具本体20を
搭載する平面部14と、試料の基準位置となる基準面1
5とが形成されている。基準面15には試料回転治具2
の締結部として、例えば締結孔15aが設けてあり、試
料回転治具2をボルト等の締結具によって固定すること
ができる。また、基準面15は突起部12の中心と同一
平面上に形成してある。後述するように試料ホルダ3に
詰め込まれた試料Sの表面は、この基準面15と同一平
面となるように位置決めし、これによって試料台1の回
転中心軸上へおかれる。
試料回転治具2の装着部13が形成してある。この装着
部13には、後述する試料回転治具2の治具本体20を
搭載する平面部14と、試料の基準位置となる基準面1
5とが形成されている。基準面15には試料回転治具2
の締結部として、例えば締結孔15aが設けてあり、試
料回転治具2をボルト等の締結具によって固定すること
ができる。また、基準面15は突起部12の中心と同一
平面上に形成してある。後述するように試料ホルダ3に
詰め込まれた試料Sの表面は、この基準面15と同一平
面となるように位置決めし、これによって試料台1の回
転中心軸上へおかれる。
【0019】試料回転治具2は、図2及び図3に示すよ
うに、治具本体20の底部に電動モータ等の回転駆動源
21を搭載するとともに、軸受22を介して回転部材2
3を回転自在に支持している。治具本体20の側壁20
aには、上述した試料台1の基準面15に設けた締結部
(締結孔15a)への固定手段として、例えばねじ孔2
0bが設けてある。すなわち、本実施例では、試料台1
の基準面15に治具本体20の側壁20aを接触させた
状態で、締結孔15aとねじ孔20bとを対向させ、ボ
ルト201を締結孔15aに貫通させてねじ孔20bに
螺合することにより、試料台1へ試料回転治具2を固定
する。
うに、治具本体20の底部に電動モータ等の回転駆動源
21を搭載するとともに、軸受22を介して回転部材2
3を回転自在に支持している。治具本体20の側壁20
aには、上述した試料台1の基準面15に設けた締結部
(締結孔15a)への固定手段として、例えばねじ孔2
0bが設けてある。すなわち、本実施例では、試料台1
の基準面15に治具本体20の側壁20aを接触させた
状態で、締結孔15aとねじ孔20bとを対向させ、ボ
ルト201を締結孔15aに貫通させてねじ孔20bに
螺合することにより、試料台1へ試料回転治具2を固定
する。
【0020】回転駆動源21の駆動軸21aには駆動歯
車24が取り付けてあり、一方、回転部材23の周壁に
は従動歯車25が設けてあり、これら駆動歯車24と従
動歯車25が噛み合って回転駆動源21からの駆動力を
回転部材23に伝達するようになっている。
車24が取り付けてあり、一方、回転部材23の周壁に
は従動歯車25が設けてあり、これら駆動歯車24と従
動歯車25が噛み合って回転駆動源21からの駆動力を
回転部材23に伝達するようになっている。
【0021】回転部材23は円筒状に形成してあり、中
空部がX線透過孔26となっている。ここで、X線透過
孔26の内径は、少なくともX線源から発散スリットを
介して導かれてきたX線の全幅より大きく設定すること
が好ましい。このようにX線透過孔26の内径を設定す
れば、X線源からのX線を遮ることなく透過させること
ができる。現在市販されているX線回折装置では、X線
源から発散スリットを介して試料保持装置上の試料に照
射されるX線の照射幅は24mm程度であるため、かか
るX線回折装置に本実施例装置を適用する場合には、X
線透過孔26の内径を24mm程度に設定すればよい。
空部がX線透過孔26となっている。ここで、X線透過
孔26の内径は、少なくともX線源から発散スリットを
介して導かれてきたX線の全幅より大きく設定すること
が好ましい。このようにX線透過孔26の内径を設定す
れば、X線源からのX線を遮ることなく透過させること
ができる。現在市販されているX線回折装置では、X線
源から発散スリットを介して試料保持装置上の試料に照
射されるX線の照射幅は24mm程度であるため、かか
るX線回折装置に本実施例装置を適用する場合には、X
線透過孔26の内径を24mm程度に設定すればよい。
【0022】回転部材23の一端部には、試料ホルダ取
付部27が形成してある。この試料ホルダ取付部27
は、後述する試料ホルダ3が嵌合する段付形状となって
いる。ここで、試料ホルダ取付部27は鉄鋼材料等の磁
性体で形成してある。なお、回転部材23における試料
ホルダ取付部27のみを別種部材(磁性体)で形成する
必要はなく(勿論、別種部材で形成してもよい)、試料
ホルダ取付部27を含む回転部材23の全体を磁性体で
形成してもよい。
付部27が形成してある。この試料ホルダ取付部27
は、後述する試料ホルダ3が嵌合する段付形状となって
いる。ここで、試料ホルダ取付部27は鉄鋼材料等の磁
性体で形成してある。なお、回転部材23における試料
ホルダ取付部27のみを別種部材(磁性体)で形成する
必要はなく(勿論、別種部材で形成してもよい)、試料
ホルダ取付部27を含む回転部材23の全体を磁性体で
形成してもよい。
【0023】試料ホルダ3は、図4に示すようにリング
状に形成してあり、中空部が試料充填部30となってい
る。この試料充填部30に試料(粉末試料)Sを保持す
るには、試料Sを充填した後、圧力を加えて押し固めれ
ばよい。試料充填部30の内径は上述した回転部材23
のX線透過孔26とほぼ同径となっている。また、試料
ホルダ3の外周は、試料ホルダ取付部27の段付部に嵌
合する段付形状となっている。この試料ホルダ3は、例
えばアルミ合金やプラスチック等のX線の反射が少ない
材料で、厚さ3mm程度に形成してある。
状に形成してあり、中空部が試料充填部30となってい
る。この試料充填部30に試料(粉末試料)Sを保持す
るには、試料Sを充填した後、圧力を加えて押し固めれ
ばよい。試料充填部30の内径は上述した回転部材23
のX線透過孔26とほぼ同径となっている。また、試料
ホルダ3の外周は、試料ホルダ取付部27の段付部に嵌
合する段付形状となっている。この試料ホルダ3は、例
えばアルミ合金やプラスチック等のX線の反射が少ない
材料で、厚さ3mm程度に形成してある。
【0024】試料ホルダ3には、複数個所(図では2個
所)に回転部材23への固定手段としてマグネット31
が端面を露出した状態で埋設してあり、試料ホルダ取付
部27へ装着したとき、このマグネット31が磁性体か
らなる試料ホルダ取付部27に吸着して、装着状態が保
持される構造となっている。なお、試料ホルダ取付部2
7に接触する試料ホルダ3の端面に、マグネット板を接
着して回転部材23への固定手段としてもよい。
所)に回転部材23への固定手段としてマグネット31
が端面を露出した状態で埋設してあり、試料ホルダ取付
部27へ装着したとき、このマグネット31が磁性体か
らなる試料ホルダ取付部27に吸着して、装着状態が保
持される構造となっている。なお、試料ホルダ取付部2
7に接触する試料ホルダ3の端面に、マグネット板を接
着して回転部材23への固定手段としてもよい。
【0025】前述したように、従来の試料回転治具10
1(図9参照)は、試料Sの表面より外方に試料ホルダ
105の押え板108が突き出していたが、上述したご
とくマグネット31の吸引力を利用して回転部材23に
試料ホルダ3を装着する本実施例装置では、押え板10
8のごとき突き出し部分がない。したがって、例えば、
集中法と称する測定法のように、試料Sの表面に対して
任意の角度からX線を照射し、試料Sの同表面から出射
した回折X線を検出する場合、試料表面とほぼ平行に近
い角度からX線を照射することができ、測定角度範囲が
広がるという利点がある。
1(図9参照)は、試料Sの表面より外方に試料ホルダ
105の押え板108が突き出していたが、上述したご
とくマグネット31の吸引力を利用して回転部材23に
試料ホルダ3を装着する本実施例装置では、押え板10
8のごとき突き出し部分がない。したがって、例えば、
集中法と称する測定法のように、試料Sの表面に対して
任意の角度からX線を照射し、試料Sの同表面から出射
した回折X線を検出する場合、試料表面とほぼ平行に近
い角度からX線を照射することができ、測定角度範囲が
広がるという利点がある。
【0026】X線遮蔽部材4は、図1に示すように蓋付
きの円筒形状に形成してあり、試料台1における底板1
0の周面に下端開口部を嵌め込み、ねじ等の締結具41
によって固定する構造となっている。試料回転治具2
は、このX線遮蔽部材4の内部に収納される。X線遮蔽
部材4はX線を遮蔽可能な材料、例えば真鍮や銅合金等
の非鉄材料で形成してある。このX線遮蔽部材4の材料
としては、鉛が一般的であるが、X線回折測定に際し試
料から出射する微弱なX線を遮蔽するには、例えば真鍮
でも充分に目的を達成することができる。もっとも、鉛
又は鉛合金でX線遮蔽部材4を形成してもよいことは勿
論である。また、X線遮蔽部材4の肉圧は、試料Sから
出射するX線の強度に応じて適宜決定する。
きの円筒形状に形成してあり、試料台1における底板1
0の周面に下端開口部を嵌め込み、ねじ等の締結具41
によって固定する構造となっている。試料回転治具2
は、このX線遮蔽部材4の内部に収納される。X線遮蔽
部材4はX線を遮蔽可能な材料、例えば真鍮や銅合金等
の非鉄材料で形成してある。このX線遮蔽部材4の材料
としては、鉛が一般的であるが、X線回折測定に際し試
料から出射する微弱なX線を遮蔽するには、例えば真鍮
でも充分に目的を達成することができる。もっとも、鉛
又は鉛合金でX線遮蔽部材4を形成してもよいことは勿
論である。また、X線遮蔽部材4の肉圧は、試料Sから
出射するX線の強度に応じて適宜決定する。
【0027】また、X線遮蔽部材4にはX線透過窓42
が設けてあり、このX線透過窓42を通してX線源から
のX線を試料Sに導くとともに、試料Sから出射した回
折X線をX線検出器へ導くようになっている。
が設けてあり、このX線透過窓42を通してX線源から
のX線を試料Sに導くとともに、試料Sから出射した回
折X線をX線検出器へ導くようになっている。
【0028】次に、上述した試料保持装置の作用を説明
する。X線回折装置におけるゴニオメータの基台5へ本
実施例装置を装着するには、試料台1の底板10に設け
た突起部12を、ゴニオメータの基台5に形成した装着
凹部51に嵌合すればよい。この装着を一度行えば、そ
の後、メンテナンス等のために試料回転治具2を取外す
必要が生じた場合には、試料台1をそのまま残し、試料
回転治具2のみを試料台1から取外せばよいため、着脱
作業が容易となる。
する。X線回折装置におけるゴニオメータの基台5へ本
実施例装置を装着するには、試料台1の底板10に設け
た突起部12を、ゴニオメータの基台5に形成した装着
凹部51に嵌合すればよい。この装着を一度行えば、そ
の後、メンテナンス等のために試料回転治具2を取外す
必要が生じた場合には、試料台1をそのまま残し、試料
回転治具2のみを試料台1から取外せばよいため、着脱
作業が容易となる。
【0029】すなわち、ゴニオメータの基台5と試料台
1との間は、前述したように高い嵌合精度を有している
ので、装着に際して高度な位置合わせが必要となる。こ
れに対し、試料台1と試料回転治具2の間は、例えばボ
ルト201による締結といった簡易な着脱構造でよいた
め、装着作業が容易である。
1との間は、前述したように高い嵌合精度を有している
ので、装着に際して高度な位置合わせが必要となる。こ
れに対し、試料台1と試料回転治具2の間は、例えばボ
ルト201による締結といった簡易な着脱構造でよいた
め、装着作業が容易である。
【0030】ところで、試料Sに対するX線の入射角度
及び回折X線の出力角度をゴニオメータで検出するに
は、ゴニオメータの基台5の回転中心上に試料Sの表面
が配置されていなければならない。本実施例では、試料
台1の基準面15がゴニオメータの基台5の回転中心と
同一平面となるように形成してあるので、この基準面1
5に位置決めされた試料ホルダ3の表面3a、すなわち
試料Sの表面Saは必然的にゴニオメータの回転中心軸
上に配置されることになる。
及び回折X線の出力角度をゴニオメータで検出するに
は、ゴニオメータの基台5の回転中心上に試料Sの表面
が配置されていなければならない。本実施例では、試料
台1の基準面15がゴニオメータの基台5の回転中心と
同一平面となるように形成してあるので、この基準面1
5に位置決めされた試料ホルダ3の表面3a、すなわち
試料Sの表面Saは必然的にゴニオメータの回転中心軸
上に配置されることになる。
【0031】また、本実施例の試料保持装置は、試料台
1にX線遮蔽部材4を装着可能となっているので、試料
Sから飛散したX線を試料回転治具2の周囲で効率的に
遮蔽することができる。したがって、X線回折装置の上
面全体を被覆する大形構造物であるX線遮蔽用ケースを
薄肉にすることができ、コスト低減を実現できる。しか
もX線被曝に対する安全性が向上する。
1にX線遮蔽部材4を装着可能となっているので、試料
Sから飛散したX線を試料回転治具2の周囲で効率的に
遮蔽することができる。したがって、X線回折装置の上
面全体を被覆する大形構造物であるX線遮蔽用ケースを
薄肉にすることができ、コスト低減を実現できる。しか
もX線被曝に対する安全性が向上する。
【0032】図5は本実施例装置を装着したX線回折装
置におけるゴニオメータの原点設定及び測角精度の確認
方法を説明するための図である。これらゴニオメータの
原点設定及び測角精度の確認を行う場合には、試料ホル
ダ3の試料充填部30に回折角度位置が既知の標準試料
(例えば、シリコン粉末)Sを充填した標準試料ホルダ
3を試料回転治具2の試料ホルダ取付部27に装着す
る。なお、標準試料ホルダ3は、X線が透過できる厚さ
に標準試料Sを保持する構成としてある。
置におけるゴニオメータの原点設定及び測角精度の確認
方法を説明するための図である。これらゴニオメータの
原点設定及び測角精度の確認を行う場合には、試料ホル
ダ3の試料充填部30に回折角度位置が既知の標準試料
(例えば、シリコン粉末)Sを充填した標準試料ホルダ
3を試料回転治具2の試料ホルダ取付部27に装着す
る。なお、標準試料ホルダ3は、X線が透過できる厚さ
に標準試料Sを保持する構成としてある。
【0033】同図(a)は、2θ=0の原点設定を行う
方法を示す。このときは、θ=90度にして、標準試料
Sの表面SaをX線源60からのX線61に対して直角
に配置する。X線源60から発射されたX線61は、発
散スリット62を通過して回転部材23のX線透過孔2
6内に入り、標準試料Sの裏面Sbにあたる。そして、
X線61の一部は標準試料Sを透過し、さらに受光スリ
ット63を通過してX線検出器64に達する。このX線
検出器64がX線61を検出したところが2θ=0とな
る。ここで、回転部材23のX線透過孔26は、X線6
1を全幅にわたり透過できる内径となっているので、支
障なくX線61を標準試料Sの裏面Sbへと導くことが
できる。
方法を示す。このときは、θ=90度にして、標準試料
Sの表面SaをX線源60からのX線61に対して直角
に配置する。X線源60から発射されたX線61は、発
散スリット62を通過して回転部材23のX線透過孔2
6内に入り、標準試料Sの裏面Sbにあたる。そして、
X線61の一部は標準試料Sを透過し、さらに受光スリ
ット63を通過してX線検出器64に達する。このX線
検出器64がX線61を検出したところが2θ=0とな
る。ここで、回転部材23のX線透過孔26は、X線6
1を全幅にわたり透過できる内径となっているので、支
障なくX線61を標準試料Sの裏面Sbへと導くことが
できる。
【0034】同図(b)は、θ=0の原点設定を行う方
法を示す。X線検出器64は2θ=0の位置に配置し、
X線源60とX線検出器64を一直線上におく。この状
態で標準試料Sの表面Saを該直線とほぼ平行に配置す
ると、X線源60から発射されたX線61は標準試料S
の表面をかすめて通過する。この状態において試料台1
を微小回転させX線検出強度が最大となるところを探
し、該回転位置がθ=0となる。
法を示す。X線検出器64は2θ=0の位置に配置し、
X線源60とX線検出器64を一直線上におく。この状
態で標準試料Sの表面Saを該直線とほぼ平行に配置す
ると、X線源60から発射されたX線61は標準試料S
の表面をかすめて通過する。この状態において試料台1
を微小回転させX線検出強度が最大となるところを探
し、該回転位置がθ=0となる。
【0035】同図(c)は、測角精度の確認方法を示
す。この場合は、試料台1の回転角θとX線検出器64
の回転角2θとを1対2の比率で連動させる。このと
き、標準試料Sに入射するX線61の少なくとも一部は
標準試料Sで反射し、回折ピークが得られる。この回折
ピークの角度位置を、理論的に計算され既知となってい
る標準試料Sの回折角度位置と比較することにより、測
角精度がチェックできる。なお、図1に想像線で示すよ
うに、コリメータ6を回転部材23のX線透過孔26内
に配置して測定を実施する場合にも、該X線透過孔26
が大径となっているので、試料台1の回転角θを広い範
囲にわたって許容することができる。
す。この場合は、試料台1の回転角θとX線検出器64
の回転角2θとを1対2の比率で連動させる。このと
き、標準試料Sに入射するX線61の少なくとも一部は
標準試料Sで反射し、回折ピークが得られる。この回折
ピークの角度位置を、理論的に計算され既知となってい
る標準試料Sの回折角度位置と比較することにより、測
角精度がチェックできる。なお、図1に想像線で示すよ
うに、コリメータ6を回転部材23のX線透過孔26内
に配置して測定を実施する場合にも、該X線透過孔26
が大径となっているので、試料台1の回転角θを広い範
囲にわたって許容することができる。
【0036】図6及び図7は本発明の他の実施例を示す
図である。本実施例は、試料台1に形成した試料回転治
具2の装着部13に、試料ホルダ固定治具7を装着でき
るようにしてある。試料ホルダ固定治具7は、試料回転
治具2のそれと同じ構造の試料ホルダ取付部71を有し
ており、図4に示した試料ホルダ3を着脱自在に保持す
る。ただし、この試料ホルダ固定治具7は回転部材23
を備えておらず、もっぱら固定状態で試料Sを保持す
る。
図である。本実施例は、試料台1に形成した試料回転治
具2の装着部13に、試料ホルダ固定治具7を装着でき
るようにしてある。試料ホルダ固定治具7は、試料回転
治具2のそれと同じ構造の試料ホルダ取付部71を有し
ており、図4に示した試料ホルダ3を着脱自在に保持す
る。ただし、この試料ホルダ固定治具7は回転部材23
を備えておらず、もっぱら固定状態で試料Sを保持す
る。
【0037】試料ホルダ固定治具7の試料台1への固定
手段は、例えば試料台1の平面部14にねじ孔(図示せ
ず)を設け、ボルト72によって板ばね73を試料台1
の平面部14に設置し、この板ばね73によって試料ホ
ルダ固定治具7を基準面15に当接させて固定する。こ
のとき、装着状態にある試料ホルダ3の表面3a、すな
わち試料Sの表面Saは、基準面15と同一平面となる
ようにする。
手段は、例えば試料台1の平面部14にねじ孔(図示せ
ず)を設け、ボルト72によって板ばね73を試料台1
の平面部14に設置し、この板ばね73によって試料ホ
ルダ固定治具7を基準面15に当接させて固定する。こ
のとき、装着状態にある試料ホルダ3の表面3a、すな
わち試料Sの表面Saは、基準面15と同一平面となる
ようにする。
【0038】このように、試料台1はゴニオメータの基
台5に装着したままで、試料回転治具2と試料ホルダ固
定治具7とを交換可能にすれば、試料Sの保持形態を回
転式又は固定式のいずれにも容易に変更することができ
る。また、いずれの治具を使用しても、試料ホルダ3は
共用することができる。さらに、本実施例の場合にも、
X線遮蔽部材4は先の実施例と同じ構造で試料台1に装
着できる。配向性が問題とならない試料等では、測定に
際して試料Sを回転させる必要はない。このような試料
Sに対しては、本実施例の試料ホルダ固定治具7を試料
台1に装着し、同固定治具7によって試料Sを保持すれ
ばよい。
台5に装着したままで、試料回転治具2と試料ホルダ固
定治具7とを交換可能にすれば、試料Sの保持形態を回
転式又は固定式のいずれにも容易に変更することができ
る。また、いずれの治具を使用しても、試料ホルダ3は
共用することができる。さらに、本実施例の場合にも、
X線遮蔽部材4は先の実施例と同じ構造で試料台1に装
着できる。配向性が問題とならない試料等では、測定に
際して試料Sを回転させる必要はない。このような試料
Sに対しては、本実施例の試料ホルダ固定治具7を試料
台1に装着し、同固定治具7によって試料Sを保持すれ
ばよい。
【0039】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではない。試料回転治具2の固定手段としては、
ボルトによる固定のほか、例えば、平面部14に装着レ
ールを設けるとともに、試料回転治具2側にもこの装着
レールに係合する摺動部を設け、該摺動部を装着レール
に係合した状態で板ばね等の付勢力により固定する手段
が適用できる。このとき、装着レールに摺動部を係合し
た状態において、基準面15と試料ホルダ3の表面3a
とが平行になっていることが好ましい。その他にも、公
知となっている部材固定手段が種々適用できることは勿
論である。
るものではない。試料回転治具2の固定手段としては、
ボルトによる固定のほか、例えば、平面部14に装着レ
ールを設けるとともに、試料回転治具2側にもこの装着
レールに係合する摺動部を設け、該摺動部を装着レール
に係合した状態で板ばね等の付勢力により固定する手段
が適用できる。このとき、装着レールに摺動部を係合し
た状態において、基準面15と試料ホルダ3の表面3a
とが平行になっていることが好ましい。その他にも、公
知となっている部材固定手段が種々適用できることは勿
論である。
【0040】また、試料ホルダ取付部27及び試料ホル
ダ3を段付形状に加工する場合、高い平面精度をだすの
が困難である。そこで、これら各部材の接触部は平面に
加工し、かつ図8に示すような複数の位置決め突起27
aを回転部材23に設け、この位置決め突起27aによ
って試料ホルダ3を支持することで位置ずれを防止する
構造としてもよい。
ダ3を段付形状に加工する場合、高い平面精度をだすの
が困難である。そこで、これら各部材の接触部は平面に
加工し、かつ図8に示すような複数の位置決め突起27
aを回転部材23に設け、この位置決め突起27aによ
って試料ホルダ3を支持することで位置ずれを防止する
構造としてもよい。
【0041】さらに、X線遮蔽部材4に設けたX線透過
窓42を、Be板やAl蒸着のマイラー箔等、X線吸収
係数の小さな材料からなる部材で閉塞し、X線遮蔽部材
4内を気密状態とすれば、試料Sの周囲(X線遮蔽部材
4内)を各種のガス雰囲気や真空雰囲気又は湿度雰囲気
等に形成することができ、それらの雰囲気下での測定も
可能となる。さらに、X線遮蔽部材4に断熱性を付与し
た構造とすることにより、内部を高温又は低温雰囲気に
することもできる。
窓42を、Be板やAl蒸着のマイラー箔等、X線吸収
係数の小さな材料からなる部材で閉塞し、X線遮蔽部材
4内を気密状態とすれば、試料Sの周囲(X線遮蔽部材
4内)を各種のガス雰囲気や真空雰囲気又は湿度雰囲気
等に形成することができ、それらの雰囲気下での測定も
可能となる。さらに、X線遮蔽部材4に断熱性を付与し
た構造とすることにより、内部を高温又は低温雰囲気に
することもできる。
【0042】X線遮蔽部材の代わりに、各種のガス雰囲
気や真空雰囲気を形成するための専用容器、又は高温,
低温雰囲気を形成するための専用容器を試料台に装着可
能とすることもできる。
気や真空雰囲気を形成するための専用容器、又は高温,
低温雰囲気を形成するための専用容器を試料台に装着可
能とすることもできる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように本発明のX線回折装
置における試料保持装置によれば、試料台をゴニオメー
タの基台に装着したまま、試料回転治具のみを試料台か
ら取外すことができるので、試料回転治具のメンテナン
スを容易に行うことができる。また、試料台にX線遮蔽
部材を装着可能とすることで、試料で回折してきたX線
を試料保持装置の周囲において効率的に遮蔽することが
でき、これによりX線回折装置の上面全体を被覆する大
形構造物であるX線遮蔽用ケースを薄肉にすることが可
能となりコスト低減を実現できる。しかもX線被曝に対
する安全性が向上する。
置における試料保持装置によれば、試料台をゴニオメー
タの基台に装着したまま、試料回転治具のみを試料台か
ら取外すことができるので、試料回転治具のメンテナン
スを容易に行うことができる。また、試料台にX線遮蔽
部材を装着可能とすることで、試料で回折してきたX線
を試料保持装置の周囲において効率的に遮蔽することが
でき、これによりX線回折装置の上面全体を被覆する大
形構造物であるX線遮蔽用ケースを薄肉にすることが可
能となりコスト低減を実現できる。しかもX線被曝に対
する安全性が向上する。
【0044】回転部材の内径を、X線源からのX線をほ
ぼ全幅にわたって透過する寸法とすれば、回転部材の中
空部を通して該X線をX線検出器へと導くことが可能と
なり、ゴニオメータの原点設定及び測角精度の確認が、
試料回転治具を装着したままで行うことができる。ま
た、コリメータを回転部材の中空部内に配置した場合に
も、回転部材の内径が大きくなっているため、試料台の
回転角を広い範囲で確保することができる。
ぼ全幅にわたって透過する寸法とすれば、回転部材の中
空部を通して該X線をX線検出器へと導くことが可能と
なり、ゴニオメータの原点設定及び測角精度の確認が、
試料回転治具を装着したままで行うことができる。ま
た、コリメータを回転部材の中空部内に配置した場合に
も、回転部材の内径が大きくなっているため、試料台の
回転角を広い範囲で確保することができる。
【0045】さらに、試料回転治具に代えて試料台に試
料ホルダ固定治具を取付け可能とすることで、試料保持
形態を容易に固定式と回転式のいずれにも変更できるよ
うになり、試料に応じた保持形態を容易に形成すること
ができる。
料ホルダ固定治具を取付け可能とすることで、試料保持
形態を容易に固定式と回転式のいずれにも変更できるよ
うになり、試料に応じた保持形態を容易に形成すること
ができる。
【図1】本発明の実施例に係る試料保持装置を示す縦断
面図である。
面図である。
【図2】同装置の試料回転治具を示す縦断面図である。
【図3】同じく右側面図である。
【図4】同装置の試料ホルダを示す正面図である。
【図5】同装置を装着したX線回折装置におけるゴニオ
メータの原点設定及び測角精度の確認方法を説明するた
めの概略平面図である。
メータの原点設定及び測角精度の確認方法を説明するた
めの概略平面図である。
【図6】本発明の他の実施例に係る試料保持装置を示す
縦断面図である。
縦断面図である。
【図7】同装置の試料ホルダ固定治具部分を示す右側面
図である。
図である。
【図8】試料ホルダの取付け部分の変形例を示す右側面
図である。
図である。
【図9】従来の試料保持装置を示す縦断面図である。
【図10】同従来装置に装着される試料ホルダの正面図
である。
である。
1:試料台 2:試料回転治具 3:試料ホルダ 4:X線遮蔽部材 5:ゴニオメータの基台 6:コリメータ 7:試料ホルダ固定治具 10:底板 11:支持ブロック 12:突起部 13:装着部 14:平面部 15:基準面 20:治具本体 21:回転駆動源 22:軸受 23:回転部材 26:X線透過孔 27:試料ホルダ取付部 30:試料充填部 31:マグネット S:試料
Claims (4)
- 【請求項1】 X線回折装置において、X線源に対し回
転可能なゴニオメータの基台上に設置される試料保持装
置であって、 前記ゴニオメータの基台上に装着される試料台と、この
試料台へ着脱自在な試料回転治具と、試料を保持し前記
試料回転治具に着脱自在な試料ホルダとを備え、 かつ前記試料回転治具は、前記試料台へ着脱自在に装着
される治具本体と、この治具本体に搭載した回転駆動源
と、軸受を介して前記治具本体に回転自在に設けられ前
記回転駆動源からの駆動力によって軸中心に回転する筒
状の回転部材と、この回転部材の一端部に形成した前記
試料ホルダの取付部とを具備することを特徴としたX線
回折装置の試料保持装置。 - 【請求項2】 X線回折装置において、X線源に対し回
転可能なゴニオメータの基台上に設置される試料保持装
置であって、 前記ゴニオメータの基台上に装着される試料台と、この
試料台へ着脱自在な試料回転治具と、試料を保持し前記
試料回転治具に着脱自在な試料ホルダと、X線を遮蔽可
能な材料で形成され前記試料回転治具を被覆するように
前記試料台へ装着可能なX線遮蔽部材とを備え、 かつ前記試料回転治具は、前記試料台へ着脱自在に装着
される治具本体と、この治具本体に搭載した回転駆動源
と、軸受を介して前記治具本体に回転自在に設けられ前
記回転駆動源からの駆動力によって軸中心に回転する筒
状の回転部材と、この回転部材の一端部に形成した前記
試料ホルダの取付部とを具備することを特徴としたX線
回折装置の試料保持装置。 - 【請求項3】請求項1又は2のいずれか1項に記載した
X線回折装置の試料保持装置において、 前記回転部材の内径を、X線源から発射されたX線をほ
ぼ全幅にわたって透過する寸法に形成したことを特徴と
するX線回折装置の試料保持装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載し
たX線回折装置の試料保持装置において、 前記試料ホルダを着脱自在に固定する試料ホルダ固定治
具を備え、 前記試料台は、前記試料回転治具に代えて前記試料ホル
ダ固定治具をも取付可能としたことを特徴とするX線回
折装置の試料保持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6013579A JPH07218455A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | X線回折装置の試料保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6013579A JPH07218455A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | X線回折装置の試料保持装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218455A true JPH07218455A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11837088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6013579A Pending JPH07218455A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | X線回折装置の試料保持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218455A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008039436A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Rigaku Corp | X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置 |
| CN110715945A (zh) * | 2019-08-28 | 2020-01-21 | 广州中国科学院工业技术研究院 | 一种用于微焦点x射线工业ct的载物夹具 |
| CN113302484A (zh) * | 2018-11-22 | 2021-08-24 | 株式会社理学 | 单晶x射线构造解析装置用试样保持架单元 |
| JP2023538446A (ja) * | 2020-08-24 | 2023-09-07 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | X線回折分析装置用x線検出器 |
| CN117735236A (zh) * | 2023-11-28 | 2024-03-22 | 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 | 一种硅片氧化层的x射线衍射测量位错系统及检测方法 |
-
1994
- 1994-02-07 JP JP6013579A patent/JPH07218455A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008039436A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Rigaku Corp | X線回折測定における角度補正方法及びx線回折装置 |
| CN113302484A (zh) * | 2018-11-22 | 2021-08-24 | 株式会社理学 | 单晶x射线构造解析装置用试样保持架单元 |
| CN110715945A (zh) * | 2019-08-28 | 2020-01-21 | 广州中国科学院工业技术研究院 | 一种用于微焦点x射线工业ct的载物夹具 |
| CN110715945B (zh) * | 2019-08-28 | 2022-12-13 | 广州中国科学院工业技术研究院 | 一种用于微焦点x射线工业ct的载物夹具 |
| JP2023538446A (ja) * | 2020-08-24 | 2023-09-07 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | X線回折分析装置用x線検出器 |
| CN117735236A (zh) * | 2023-11-28 | 2024-03-22 | 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司 | 一种硅片氧化层的x射线衍射测量位错系统及检测方法 |
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