JPH0714928Y2 - Pin board equipment for printed circuit board inspection equipment - Google Patents
Pin board equipment for printed circuit board inspection equipmentInfo
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- JPH0714928Y2 JPH0714928Y2 JP3306189U JP3306189U JPH0714928Y2 JP H0714928 Y2 JPH0714928 Y2 JP H0714928Y2 JP 3306189 U JP3306189 U JP 3306189U JP 3306189 U JP3306189 U JP 3306189U JP H0714928 Y2 JPH0714928 Y2 JP H0714928Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、プリント基板の回路パターンを検査するため
の検査装置に関し、更に詳しくは、プリント基板上のパ
ターン電極部にプローブを押し当てて信号を有効に検出
するインサーキットテスター用のピンボード装置に関す
るものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to an inspection device for inspecting a circuit pattern of a printed circuit board, and more specifically, a signal is obtained by pressing a probe against a pattern electrode portion on the printed circuit board. The present invention relates to a pinboard device for an in-circuit tester that effectively detects
［従来の技術］ プリント基板上のパターン電極部にプローブを押し当て
てプリント基板の回路パターンの導通状態を検査するプ
リント基板検査装置はピンボード装置を有している。こ
のようなピンボード装置の１つとして、ピンボードの所
定位置、すなわち検査されるプリント基板の回路パター
ンに対応した位置に多数本（数百本程度）のプローブを
植設したものがある。このピンボード装置のプローブ
は、検査するプリント基板ごとに植設パターンが異なっ
ているので、ピンボード装置は検査するプリント基板の
種類ごとに用意する必要がある。[Prior Art] A printed circuit board inspection device for inspecting a conductive state of a circuit pattern of the printed circuit board by pressing a probe against a pattern electrode portion on the printed circuit board has a pin board device. As one of such pinboard devices, there is one in which a large number (several hundreds) of probes are implanted at a predetermined position of the pinboard, that is, at a position corresponding to the circuit pattern of the printed circuit board to be inspected. Since the probe of this pinboard device has a different implantation pattern for each printed circuit board to be inspected, it is necessary to prepare the pinboard device for each type of printed circuit board to be inspected.
また、特開昭60−93969号公報には、別のピンボード装
置が提案されている。このピンボード装置は、ピンボー
ドには多数本のプローブが出没可能に植設され、このピ
ンボードの裏側には少なくとも１本以上のペンシリンダ
が移動可能に設けられ、この移動するペンシリンダによ
って、植設された前記多数本のプローブの内で、検査さ
れるプリント基板の回路パターンに対応したプローブが
プリント基板の側に押し出されるようになっている。Further, Japanese Patent Laid-Open No. 60-93969 proposes another pinboard device. In this pinboard device, a large number of probes are planted in a pinboard so that they can appear and disappear, and at least one or more pen cylinders are movably provided on the back side of this pinboard. Among the many implanted probes, the probe corresponding to the circuit pattern of the printed board to be inspected is pushed out to the printed board side.
［考案が解決しようとする課題］ しかし、ピンボードへのプローブの取り付け間隔の精度
は非常に厳しく、また、数百本のプローブからコネクタ
までを導線で決められた通り結線しなければならず、ピ
ンボード１枚当りの製造コストはかなり高価になるの
で、初めに説明した従来のピンボード装置のように、検
査するプリント基板の種類ごとにピンボードを用意する
と非常にコスト高になるという問題点があった。[Problems to be solved by the invention] However, the accuracy of the probe mounting interval on the pin board is very strict, and it is necessary to connect several hundred probes to connectors by conducting wires as determined. Since the manufacturing cost per pinboard becomes considerably high, it is very costly to prepare a pinboard for each type of printed circuit board to be inspected like the conventional pinboard device described at the beginning. was there.
しかも、このピンボードの取り換え作業は面倒であり、
取り換えのために時間がかかるので、数種類のプリント
基板が流れる製造ラインなどでは、プリント基板の切り
換えごとに製造ラインを止めてピンボードを取り換えに
ければならないし、また、ピンボードのプローブはたい
へん細いものであるので、取り換えの際に破損させる虞
れもあり、更に、多種類のピンボードの保管場所も考え
なければならないなどの問題点もあった。Moreover, this pinboard replacement work is troublesome,
Since it takes time to replace, in a production line where several types of printed circuit boards flow, you have to stop the production line and replace the pinboard every time you switch the printed circuit boards, and the probe of the pinboard is very thin. Since it is a thing, there is a possibility that it may be damaged when it is replaced, and there is also a problem that it is necessary to consider a storage place for various types of pinboards.
また、後で説明した特開昭60−93969号公報記載のピン
ボード装置は、ペンシリンダの移動のための移動機構が
必要であり、しかも、ペンシリンダがプローブに対応し
た位置に正確に来るようにこの移動機構を精度良く制御
しなければならず、また、このピンボード機構はプロー
ブをペンシリンダで順次押してプローブを出没させて行
くので、プローブのパターン変更にも時間がかかるとい
う問題点があった。Further, the pinboard device described in Japanese Patent Laid-Open No. 60-93969, which will be described later, requires a moving mechanism for moving the pen cylinder, and moreover, the pen cylinder is accurately located at a position corresponding to the probe. This movement mechanism must be controlled accurately, and because this pinboard mechanism pushes the probe sequentially with the pen cylinder to move the probe in and out, changing the probe pattern also takes time. It was
本考案は、多種類のプリント基板に対応でき、かつ数種
類のプリント基板のパターン変更において費す時間が著
しく短くなるようにした安価なインサーキットテスター
用のピンボード装置を提供することを目的とするもので
ある。An object of the present invention is to provide a low-priced pinboard device for an in-circuit tester, which can be applied to various types of printed circuit boards and which can significantly reduce the time required for changing the patterns of several types of printed circuit boards. It is a thing.
［課題を解決するための手段］ 本考案に係るプリント基板検査装置のピンボード装置
は、エア通路及びこのエア通路への供給ポートを形成し
た非導電性を有する配管プレートを複数積層してなるピ
ンボードと、進退可能なプローブピンを先端に有し、前
記ピンボードを貫通して一側へ突出配置した多数のプロ
ーブとから成り、前記エア通路と前記プローブのプロー
ブピンの駆動室とをそれぞれ選択的に連通させることに
より上記課題解決したものである。[Means for Solving the Problems] A pin board device of a printed circuit board inspection device according to the present invention is a pin formed by stacking a plurality of non-conductive piping plates having an air passage and a supply port to the air passage. It consists of a board and a large number of probes that have a retractable probe pin at the tip and project through the pin board to one side, and select the air passage and the probe pin drive chamber of the probe, respectively. The above-mentioned problems are solved by making them communicate with each other.
［作用］ 本考案においては、積層された複数枚の非導電性プレー
トからなるピンボードの各プレートの間に２以上のエア
通路を有し、エア圧の変化によってプローブピンが出没
するプローブがピンボードに複数本着脱可能に取り付け
られ、前記各プローブと前記各エア通路とが少なくとも
いずれか一方のエア通路から前記各プローブに選択的に
エア圧を供給されるように接続されているので、少なく
ともいずれか一方のエア通路にエアを供給すると、エア
圧の変化によってプローブピンが、検査されるプリント
基板の電極パターンに対応して、プローブから選択的に
出没する。[Operation] In the present invention, a probe having two or more air passages between each plate of a pin board composed of a plurality of non-conductive plates that are stacked, and a probe pin protruding and retracting due to a change in air pressure is a pin. A plurality of boards are removably attached to the board, and at least one of the probes and the air passages is connected so that the air pressure is selectively supplied to the probes from at least one of the air passages. When air is supplied to either one of the air passages, the probe pin selectively appears and disappears from the probe according to the electrode pattern of the printed circuit board to be inspected due to the change in air pressure.
［実施例］ 以下、本考案の一実施例を添付図面を参照しながら説明
する。[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
まず、本考案の実施例の説明に先立って、チェッカーボ
ードを取り付ける検査装置の概略構成について説明す
る。First, prior to the description of the embodiments of the present invention, a schematic configuration of an inspection device for attaching a checkerboard will be described.
第３図は本考案に係るチェッカーボードを組み込んだ検
査装置の斜視図であり、この検査装置は、架台２の下部
に取付けられたチェッカーボード４と、架台２の上部に
取り付けられた押圧装置６よりなる。FIG. 3 is a perspective view of an inspection device incorporating a checkerboard according to the present invention, which comprises a checkerboard 4 attached to the lower part of the pedestal 2 and a pressing device 6 attached to the upper part of the pedestal 2. Consists of.
チェッカーボード４は検査されるプリント基板８の回路
パターンに合せて適宜箇所に多数本のプローブ10が上方
に向って突設され、各プローブ10の下端部は、リード線
を介して回路検査制御部に電気的に接続されており、検
査するプリント基板８は、このチェッカーボード４のプ
ローブ10の上に位置決めして載置されている。The checkerboard 4 is provided with a large number of probes 10 projecting upward at appropriate positions according to the circuit pattern of the printed circuit board 8 to be inspected, and the lower end of each probe 10 has a circuit inspection controller via lead wires. The printed circuit board 8 to be inspected is electrically positioned and mounted on the probe 10 of the checker board 4.
押圧装置６はシリンダー等の昇降手段によって矢印Ａで
示すように上下動ができるようになっており、検査時に
は降下し、複数個の押圧ピン12が、搭載された部品等を
避けるようにして、載置されたプリント基板８に向けて
突出し、プリント基板８を下方に押圧するようになって
いる。The pressing device 6 can be moved up and down by an elevating means such as a cylinder as shown by an arrow A, and is lowered at the time of inspection so that the plurality of pressing pins 12 avoid the mounted parts, The printed circuit board 8 is projected toward the mounted printed circuit board 8 and presses the printed circuit board 8 downward.
次に、本発明に係るチェッカーボードについて、第１
図、第２図及び第４図を参照しながら説明する。Next, regarding the checkerboard according to the present invention,
This will be described with reference to FIGS. 2, 2 and 4.
チェッカーボード４は、第２図に示すように、配管ブロ
ック14に多数のプローブ10が植設された構造になってい
る。この配管ブロック14は、第４図に分解斜視図で示す
ように、最上層のプローブ接続用の配管プレート16と、
中層の配管プレート18と、最下層の配線プレート20とか
らなり、四隅の取付ボルト14aによって積層一体化され
ている。配管プレート16と配管プレート18と配線プレー
ト20は非導電性プレートからなる。As shown in FIG. 2, the checkerboard 4 has a structure in which a large number of probes 10 are planted in a piping block 14. As shown in an exploded perspective view in FIG. 4, this piping block 14 includes a piping plate 16 for connecting the probe on the uppermost layer,
It is composed of a middle-layer piping plate 18 and a lowermost wiring plate 20, and is laminated and integrated by mounting bolts 14a at four corners. The piping plate 16, the piping plate 18, and the wiring plate 20 are non-conductive plates.
プローブ接続用の配管プレート16にはプローブ接続用の
ネジ穴16aが多種類のプリント基板に対応できるよう
に、例えば500〜1500個程度が穿設されており、配管プ
レート18には同様にプローブ接続用のネジ穴16aから続
く貫通穴18aが穿設され、更に配線プレート20には同様
に貫通穴18aから続く貫通穴20aが穿設されている。The pipe plate 16 for probe connection is provided with screw holes 16a for probe connection, for example, about 500 to 1500 holes are formed so as to be compatible with various types of printed circuit boards, and the pipe plate 18 is similarly connected with the probe. A through hole 18a is formed from the screw hole 16a for use with the wiring plate 20. Further, a through hole 20a is also formed in the wiring plate 20 from the through hole 18a.
プローブ接続用の配管プレート16と中層の配管プレート
18との間にはパッキン22aが介挿され、配管プレート18
と配線プレート20との間にはパッキン22bが介挿され、
パッキン22aはプローブ接続用の配管プレート16と配管
プレート18との接合面のシールをする働きをし、パッキ
ン22bは配管プレート18と配線プレート20との接合面の
シールをする働きをしている。Pipe plate 16 for probe connection and pipe plate in middle layer
The packing 22a is inserted between the piping plate 18 and
The packing 22b is inserted between the wiring plate 20 and the wiring plate 20,
The packing 22a functions to seal the joint surface between the probe connecting piping plate 16 and the piping plate 18, and the packing 22b functions to seal the joint surface between the piping plate 18 and the wiring plate 20.
そして、第１図に示すように、プローブ接続用の配管プ
レート16と配管プレート18との間にはエア通路24が形成
され、また、配管プレート18と配線プレート20との間に
はエア通路26が形成されている。更に、プローブ接続用
の配管プレート16の側部にはエア通路24にエアを供給す
るためのポート24aが形成され、配管プレート18の側部
にはエア通路26にエアを供給するためのポート26aが形
成されている。As shown in FIG. 1, an air passage 24 is formed between the probe connecting pipe plate 16 and the pipe plate 18, and an air passage 26 is formed between the pipe plate 18 and the wiring plate 20. Are formed. Further, a port 24a for supplying air to the air passage 24 is formed on a side portion of the piping plate 16 for connecting the probe, and a port 26a for supplying air to the air passage 26 is formed on a side portion of the piping plate 18. Are formed.
プローブ10は細長い管状の部材から成り、プローブ10の
内部にはプローブピン28が挿入され、このプローブピン
28の後端にはプローブ10の内部を摺動するピストン30が
取り付けられ、ピストン30の周囲にはリング状のパッキ
ン32が装着されている。The probe 10 is made of an elongated tubular member, and a probe pin 28 is inserted inside the probe 10 and
A piston 30 that slides inside the probe 10 is attached to the rear end of the probe 10, and a ring-shaped packing 32 is attached around the piston 30.
プローブ10のピストン30から後部には駆動室31が形成さ
れ、駆動室31にエア圧を供給する管通路34が設けられて
いる。また、プローブ10の後端部の周囲にはプローブ接
続用の配管プレート16にプローブ10を接続するためのネ
ジ部10aが設けられ、プローブ10は配管プレート16に対
して着脱可能に取り付けられている。A drive chamber 31 is formed behind the piston 30 of the probe 10, and a pipe passage 34 for supplying air pressure to the drive chamber 31 is provided. Further, a screw portion 10a for connecting the probe 10 to the piping plate 16 for probe connection is provided around the rear end of the probe 10, and the probe 10 is detachably attached to the piping plate 16. .
管通路34とプローブ接続用の配管プレート16との間、及
び管通路34と配管プレート18との間にはＯリング36が装
着され、Ｏリング36の下方にはこのＯリング36を固定す
るためのスペーサ38が装着され、このスペーサ38にはエ
ア通路24,26のエア圧を通すために穴38aが設けられてい
る。An O ring 36 is mounted between the pipe passage 34 and the pipe plate 16 for connecting the probe, and between the pipe passage 34 and the pipe plate 18, and the O ring 36 is fixed below the O ring 36. The spacer 38 is attached, and the spacer 38 is provided with a hole 38a for allowing the air pressure of the air passages 24 and 26 to pass therethrough.
なお、プローブ10には管通路34の長さの異なった、エア
通路24までのものと、エア通路26までのものの２種類が
あり、エア通路24までのプローブ10はスプリング40との
間に連結ロッド42を介在させている。盲栓44はプローブ
10を使用しない場合、プローブ接続用の配管プレート16
のプローブ接続のためのネジ部に装着され、エアの吹き
出しが防止されるようなっている。There are two types of probes 10 up to the air passage 24 and up to the air passage 26 with different lengths of the pipe passage 34. The probe 10 up to the air passage 24 is connected to the spring 40. The rod 42 is interposed. Blind plug 44 is a probe
Piping plate for probe connection 16 if not used
It is attached to the screw part for connecting the probe to prevent air from blowing out.
プローブピン28の電気的な接続は、配管ブロック14の下
面、すなわち配線プレート20の下面に設けられたネジ部
46にコネクタ48を固定し、このコネクタ48に圧着端子50
を固定し、この圧着端子50を導線でもって図示しないが
インターフェイスコネクタに接続することによって行な
われている。The electrical connection of the probe pin 28 is performed by the screw portion provided on the lower surface of the piping block 14, that is, the lower surface of the wiring plate 20.
Fix the connector 48 to the 46 and crimp the terminal 50 to the connector 48.
Is fixed and the crimp terminal 50 is connected to an interface connector (not shown) with a conductor.
なお、スプリング40はコネクタ48のネジ部あるいはプロ
ーブ10のヘッドのネジ部の締め込み具合による寸法の変
化、あるいは各部品の寸法のばらつきがあっても、これ
らに電気を確実に通じさせる働きを持たせている。It should be noted that the spring 40 has a function of reliably conducting electricity to these even if there is a change in dimension due to the degree of tightening of the screw portion of the connector 48 or the screw portion of the head of the probe 10 or variation in the dimensions of each component. I am making it.
次に、このチェッカーボード装置の動作について説明す
る。Next, the operation of this checkerboard device will be described.
エア通路24に通じるポート24aに、例えば３ポート電磁
弁（図示せず）を取り付け、エア通路24内に正圧と負圧
とを矢印Ｂに示すように供給すると、このエア圧は矢印
b1に示すようにエア通路24を通り、矢印b2に示すように
スペーサ38の穴38aからスプリング40の中心を通り、管
通路34を通ってプローブ10内に入り、一方（第１図の右
側）のプローブピン28を出没させる。また、ポート26a
についても上記同様にし、エア通路26内に正圧と負圧と
を矢印Ｃに示すように供給すると、このエア圧は矢印c1
〜c2に示すように各通路を通り、他方（第１図の左側）
のプローブ10を上記プローブピン28とは独立して出没さ
せる。For example, a three-port solenoid valve (not shown) is attached to the port 24a communicating with the air passage 24, and when positive pressure and negative pressure are supplied into the air passage 24 as shown by arrow B, this air pressure is indicated by the arrow.
b 1 through the air passage 24, and as shown by an arrow b 2 through the hole 38a of the spacer 38 through the center of the spring 40, through the pipe passage 34 and into the probe 10, while (see FIG. 1). The probe pin 28 (on the right side) is retracted. Also port 26a
In the same manner as above, when positive pressure and negative pressure are supplied into the air passage 26 as shown by the arrow C, the air pressure is changed to the arrow c 1
Through each passage as shown in ~ c 2 and the other (left side in Fig. 1)
The probe 10 of FIG.
ここで、例えば、プリント基板8aとプリント基板8bとい
う２種類の基板をテストする場合、プローブ接続用の配
管プレート16の内で、プリント基板8aの測定したい箇所
に対応した位置が、例えば、第５図のP1，P3，P5，P7，
P9であるとすると、第１図の右側に示すプローブ10、す
なわち上方のエア通路24に通じる管通路34を有するプロ
ーブ10をこれらの位置に取り付ける。また、プローブ接
続用の配管プレート16の内で、プリント基板8aの測定し
たい箇所に対応した位置が、例えば、第５図のP2，P4，
P6，P8，P10であるとすると、第１図の左側に示すプロ
ーブ10、すなわち下方のエア通路26に通じる管通路34を
有するプローブ10をこれらの位置に取り付ける。プロー
ブ10を必要としない位置には全て盲栓44を取り付ける。Here, for example, when testing two types of boards, that is, the printed board 8a and the printed board 8b, the position corresponding to the position to be measured of the printed board 8a in the piping plate 16 for probe connection is, for example, the fifth. P 1 , P 3 , P 5 , P 7 , and
When a P 9, the probe 10 shown on the right side in FIG. 1, namely a probe 10 having a tube passage 34 leading to the upper side of the air passage 24 attached to these positions. Further, in the piping plate 16 for connecting the probe, the position corresponding to the position to be measured of the printed circuit board 8a is, for example, P 2 , P 4 ,
Assuming P 6 , P 8 and P 10 , the probe 10 shown on the left side of FIG. 1, that is, the probe 10 having the pipe passage 34 leading to the lower air passage 26 is attached to these positions. Blind plugs 44 are attached to all positions where the probe 10 is not required.
そして、プリント基板8aをテストしたい場合は、ポート
24aに正圧を供給し、P1，P3，P5，P7，P9という位置の
プローブピン28を突出させて測定し、次にプリント基板
8bをテストしたい場合は、ポート24aに負圧を供給し、P
1，P3，P5，P7，P9という位置のプローブピン28を引っ
込ませ、ポート26aに正圧を供給し、P2，P4，P6，P8，P
10という位置のプローブピン28を突出させて測定する。And if you want to test the printed circuit board 8a,
The positive pressure is supplied to 24a, and the probe pin 28 at the positions of P 1 , P 3 , P 5 , P 7 , and P 9 is projected and measured, and then the printed circuit board is printed.
If you want to test 8b, supply negative pressure to port 24a
The probe pin 28 at the positions of 1 , P 3 , P 5 , P 7 , and P 9 is retracted, positive pressure is supplied to the port 26a, and P 2 , P 4 , P 6 , P 8 , P
The probe pin 28 at the position of 10 is projected and measured.
つまり、ポート24aから圧縮空気が供給されると、第１
図の右側の方に設けられた短い方の管通路34に取り付け
られたプローブ群の各プローブピン28が突出して基板8a
の検査が行なわれ、ポート26aから圧縮空気が供給され
ると、第１図の左側の方に設けられた長い方の管通路34
に取り付けられたプローブ群の各プローブピン28が突出
して基板8bの検査を行うことになるのである。That is, when compressed air is supplied from the port 24a, the first
Each probe pin 28 of the probe group attached to the shorter pipe passage 34 provided on the right side of the drawing protrudes to the substrate 8a.
When the compressed air is supplied from the port 26a, the longer pipe passage 34 provided on the left side in FIG. 1 is examined.
Each probe pin 28 of the probe group attached to the board protrudes to inspect the board 8b.
なお、上記実施例では２種類のプリント基板をテストす
る場合について説明したが、配管プレート18の層数を増
加し、それに応じてプローブ10のヘッドの管通路長さに
対応するプローブを用意することによって、より多種類
のプリント基板に対応できる。この場合に、管通路34は
配管プレート18の数と等しい数の種類だけ用意する必要
がある。In the above embodiment, the case where two types of printed circuit boards are tested has been described. However, the number of layers of the piping plate 18 is increased and a probe corresponding to the tube passage length of the head of the probe 10 is prepared accordingly. With this, it is possible to support more types of printed circuit boards. In this case, it is necessary to prepare the same number of types of pipe passages 34 as the number of piping plates 18.
また、ポートと検査するプリント基板は１対１の対応に
限らず、複数のポートから一度にエアを供給して、その
時に突出したプローブピンによって一つのプリント基板
８を検査する多対１としてもよい。Also, the ports and the printed circuit boards to be inspected are not limited to one-to-one correspondence, and air may be supplied from a plurality of ports at a time and one printed circuit board 8 may be inspected by the probe pins protruding at that time. Good.
［考案の効果］ 本考案は以上説明したように、プローブ接続用の配管プ
レートを複数積層することによってピンボードを構成す
ると共に、それぞれの配管プレートの貫通穴と接続する
プローブがプリント基板の種類に応じて設置されている
ので、どの配管プレートへエアを供給するかを選択する
ことにより多種類のプリント基板の検査に対応でき、し
かも、その選択を電磁弁などの手段により、自動的に行
うことによって検査パターンの変更に伴う時間を最小限
にできるものである。また、プローブを配管プレートに
対して着脱自在に構成したので、プリント基板に応じた
プローブピンを容易に選択することができる等の実用効
果を有するものである。[Effects of the Invention] As described above, the present invention configures a pin board by stacking a plurality of piping plates for connecting probes, and the probes connected to the through holes of each piping plate are different in type of printed circuit board. Since it is installed according to the requirements, it is possible to support inspection of many kinds of printed circuit boards by selecting which piping plate to supply air, and the selection can be done automatically by means such as a solenoid valve. Thus, the time required for changing the inspection pattern can be minimized. Further, since the probe is configured to be attachable / detachable to / from the piping plate, it has a practical effect such that the probe pin can be easily selected according to the printed circuit board.
第１図は第２図のＩ−Ｉ矢視断面図、第２図は第３図の
検査装置で使用されているピンボード、第３図はプリン
ト基板の検査装置の全体を示す斜視図、第４図は配管ブ
ロックの分解斜視図、第５図はプローブ接続用の配管プ
レートにおいてプローブピンを出没させる位置を示す説
明図である。 ２…架台、４…チェッカーボード、６…押圧装置、８…
プリント基板、10…プローブ、12…押圧ピン、14…配管
ブロック、16…プローブ接続用の配管プレート、16a…
ネジ穴、18…配管プレート、18a…貫通穴、20…配線プ
レート、20a…貫通穴、22a,22b…パッキン、24…エア通
路、24a…ポート、26…エア通路、26a…ポート、28…プ
ローブピン、30…ピストン、31…駆動室、32…パッキ
ン、34…管通路、36…Ｏリング、38…スペーサ、38a…
穴、40…スプリング、42…連結ロッド、44…盲栓、46…
ネジ部、48…コネクタ、50…圧着端子。1 is a cross-sectional view taken along the line II of FIG. 2, FIG. 2 is a pin board used in the inspection device of FIG. 3, and FIG. 3 is a perspective view showing the whole inspection device of a printed circuit board. FIG. 4 is an exploded perspective view of a piping block, and FIG. 5 is an explanatory view showing positions where probe pins are projected and retracted on a piping plate for connecting a probe. 2 ... Frame, 4 ... Checkerboard, 6 ... Pressing device, 8 ...
Printed circuit board, 10 ... Probe, 12 ... Push pin, 14 ... Piping block, 16 ... Piping plate for connecting probe, 16a ...
Screw hole, 18 ... Piping plate, 18a ... Through hole, 20 ... Wiring plate, 20a ... Through hole, 22a, 22b ... Packing, 24 ... Air passage, 24a ... Port, 26 ... Air passage, 26a ... Port, 28 ... Probe Pin, 30 ... Piston, 31 ... Drive chamber, 32 ... Packing, 34 ... Pipe passage, 36 ... O-ring, 38 ... Spacer, 38a ...
Hole, 40 ... spring, 42 ... connecting rod, 44 ... blind plug, 46 ...
Screw part, 48 ... Connector, 50 ... Crimp terminal.
Claims (3)
を形成した非導電性を有する配管プレートを複数積層し
てなるピンボードと、進退可能なプローブピンを先端に
有し、前記ピンボードを貫通して一側へ突出配置した多
数のプローブとから成り、前記エア通路と前記プローブ
のプローブピンの駆動室とをそれぞれ選択的に連通して
成るプリント基板検査装置のピンボード装置。1. A pin board comprising a plurality of non-conductive piping plates having an air passage and a supply port for the air passage, and a probe pin capable of advancing and retracting at a tip thereof. A pin board device for a printed circuit board inspection device, comprising a plurality of probes penetrating through and projecting to one side, wherein the air passage and a drive chamber of a probe pin of the probe are selectively communicated with each other.
選択的に切り換える手段を備えた前記第１項の装置。2. The apparatus according to claim 1, further comprising means for selectively switching the air supply to the air passage of each piping plate.
に構成して成る前記第１項の装置。3. The apparatus according to claim 1, wherein the probe pin is detachably attached to the probe.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3306189U JPH0714928Y2 (en) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Pin board equipment for printed circuit board inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3306189U JPH0714928Y2 (en) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Pin board equipment for printed circuit board inspection equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02124572U JPH02124572U (en) | 1990-10-15 |
| JPH0714928Y2 true JPH0714928Y2 (en) | 1995-04-10 |
Family
ID=31536423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3306189U Expired - Lifetime JPH0714928Y2 (en) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | Pin board equipment for printed circuit board inspection equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714928Y2 (en) |
-
1989
- 1989-03-23 JP JP3306189U patent/JPH0714928Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02124572U (en) | 1990-10-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |