JPH0714933Y2 - タイミング発生装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は例えば半導体試験装置に用いられ、アドレス
カウンタの出力アドレスによりタイミング切換データメ
モリが読み出され、そのタイミング切換データメモリか
ら読み出されたタイミング切換データにより周期設定メ
モリが読み出され、そん周期設定メモリから読み出され
た周期設定データが周期発生部へ供給され、周期発生部
からその周期設定データと対応した周期のタイミングパ
ルスを出力するタイミング発生装置に関する。

「従来の技術」 第４図に従来のタイミング発生装置を示す。起動パルス
（第５図Ａ）によりアドレスカウンタ11がクリアされ、
そのアドレスカウンタ11の出力アドレス（第５図Ｂ）に
よりタイミング切換データメモリ12が読み出され、タイ
ミング切換データメモリ12から読み出されたタイミング
切換データ（第５図Ｃ）をアドレスとして周期設定メモ
リ13が読み出され、周期設定メモリ13から読み出された
周期設定データ（第５図Ｄ）は周期発生部14へ供給さ
れ、周期発生部14はその周期設定データと対応する時間
の後、タイミングパルス（第５図Ｅ）を出力する。この
タイミングパルスはアドレスカウンタ11へクロックとし
ても供給され、アドレスカウンタ11は＋１され、そのア
ドレスカウンタ11の出力アドレスにより再びタイミング
切換データメモリ12が再び読み出され、以下同様のこと
が行われる。

このタイミング発生装置が半導体試験装置に適用される
場合はタイミング切換データメモリ12は試験パターンメ
モリの一部として構成される。つまり試験パターンメモ
リの各アドレスに、タイミング切換データ（番号）と、
被試験半導体素子の各ピンへ印加すべきテストデータ
（“1"又は“0"）とがそれぞれ記憶されている。

「考案が解決しようとする課題」 タイミング切換データが異なっていても読み出される周
期設定データが同一の場合があった。第４図の例ではタ
イミング切換データが１の場合も10の場合も読み出され
る周期設定データは共に100nsである。つまり従来にお
いては周期設定メモリ13が冗長に利用され、周期設定メ
モリ13の規模を不必要に大きくしていた。

同一の周期設定データに対しては一つのタイミング切換
データを割り当てるようにタイミング切換データを統一
すべく試験パターンを修正すれば周期設定メモリ13の規
模を小さくすることができる。しかし試験パターンの修
正を行うごとにプログラムのほん訳、つまりハードウエ
アを動かすためのプログラムへのほん訳を行う必要があ
り、このほん訳に比較的時間がかゝる欠点が生じる。

「課題を解決するための手段」 この考案によればアドレスカウンタの出力アドレスによ
りタイミング切換データメモリが読み出され、そのタイ
ミング切換データメモリから読み出されたタイミング切
換データによりタイミング切換スクランブルメモリが読
み出され、そのタイミング切換スクランブルメモリから
読み出されたスクランブルデータ、つまりスクランブル
（変更）されたタイミング切換データにより周期設定メ
モリが読み出され、その周期設定メモリから読み出され
た周期設定データが周期発生部へ供給され、周期発生部
からその周期設定データと対応した周期のタイミングパ
ルスが出力される。

「実施例」 第１図はこの考案の実施例を示し、第４図と対応する部
分には同一符号を付けてある。この考案においてはタイ
ミング切換データメモリ12と周期設定メモリ13との間に
タイミング切換スクランブルメモリ15が介在され、タイ
ミング切換データメモリ12から読み出されたタイミング
切換データでタイミング切換スクランブルメモリ15が読
み出され、そのタイミング切換スクランブルメモリ15か
ら読み出されたスクランブルデータにより周期設定メモ
リ13が読み出される。このようにタイミング切換スクラ
ンブルメモリ15を介在させることにより、タイミング切
換データメモリ12から読み出されたタイミング切換デー
タをスクランブルし、つまり変更して周期設定メモリ13
へ供給する。例えば第１図に示した例にこの考案を適用
すると、タイミング切換データメモリ12から読み出され
るタイミング切換データ1,2,・・・・9,10がアドレスと
して与えられるタイミング切換スクランブルメモリ15の
アドレス1,2,・・・・9,10にはそれぞれスクランブルデ
ータ1,2,・・・・9,1が記憶される。

この構成によれば第２図に示すように起動パルス（第２
図Ａ）によりアドレスカウンタ11がクリアされて動作が
開始し、アドレスカウンタ11のアドレス（第２図Ｂ）に
よりタイミング切換データメモリ12が読み出され、その
読み出されたタイミング切換データ（第２図Ｃ）により
タイミング切換スクランブルメモリ15が読み出され、そ
の読み出されたスクランブルデータ（第２図Ｄ）により
周期設定メモリ13が読み出され、その読み出された周期
設定データ（第２図Ｅ）の周期のタイミングパルス（第
２図Ｆ）が周期発生部14で発生され、そのタイミングパ
ルスによりアドレスカウンタ11が＋１され、そのアドレ
スカウンタ11の出力アドレスにより再びタイミング切換
データメモリ12が読み出され、以下同様のことが繰返さ
れる。この場合アドレスカウンタ11のアドレスが１〜９
においてはタイミング切換データメモリ12から読み出さ
れたタイミング切換データ（第２図Ｃ）と同一のデータ
が、タイミング切換スクランブルメモリ15からスクラン
ブルデータ（第２図Ｄ）として読み出されるが、アドレ
スカウンタ11のアドレスが10となり、タイミング切換デ
ータメモリ12からタイミング切換データ10が読み出され
た場合は、タイミング切換スクランブルメモリ15からス
クランブルデータ１が読み出され、つまりタイミング切
換データ10が１に変更（スクランブル）され、このデー
タ１をアドレスとして周期設定メモリ13が読み出され
る。従ってこの例では周期設定メモリ13にアドレス10を
設ける必要がなくなり、周期設定メモリ13の規模を小さ
くすることができる。

第３図に示すように記憶内容が異なるタイミング切換ス
クランブルメモリ15を複数設け、スクランブルコントロ
ールレジスタ16のデータによりタイミング切換スクラン
ブルメモリ15を選択使用するようにすることもできる。
またタイミング切換データにより遅延設定メモリを読み
出し、その読み出された遅延設定データを遅延発生部へ
供給して、周期発生部14の出力タイミングパルスをその
遅延設定データ分遅延させて出力する場合があるが、こ
の場合もタイミング切換データにより遅延スクランブル
メモリを読み出し、その読み出したスクランブルデータ
により遅延設定メモリを読み出すようにしてタイミング
切換データと遅延設定メモリのアドレスとの関係を変え
るようにしてもよい。

「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によればタイミング切換デー
タメモリと周期設定メモリとの間にタイミング切換スク
ランブルメモリ15を介在させることにより、試験パター
ンのタイミング切換データを変更することなく、タイミ
ング切換データと周期設定メモリのアドレスとの関係を
任意に変更することができ、この場合試験パターンを修
正しないためほん訳プログラムの書き替えをする必要が
ない。また実施例の場合は周期設定メモリの規模を従来
よりも小さくすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の実施例を示すブロック図、第２図は
その動作例を示すタイムチャート、第３図はこの考案の
他の実施例の一部を示すブロック図、第４図は従来のタ
イミング発生装置を示すブロック図、第５図はその動作
を示すタイムチャートである。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】アドレスを発生するアドレスカウンタと、 そのアドレスカウンタの出力アドレスにより読み出され
   るタイミング切換データメモリと、 そのタイミング切換データメモリから読み出されたタイ
   ミング切換データにより読み出され、そのタイミング切
   換データをスクランブルするタイミング切換スクランブ
   ルメモリと、 そのタイミング切換スクランブルメモリから読み出され
   たスクランブルデータにより読み出される周期設定メモ
   リと、 その周期設定メモリから読み出された周期データが供給
   され、これと対応した周期のタイミングパルスを出力す
   る周期発生部と、 を具備するタイミング発生装置。