JPH07151832A - 特にテストの包括的なプログラムを格納するスタティック・メモリを備えたマイクロコントローラ型集積回路、テスト・ステーション、及び該当する製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 データをデータ記憶／処理要素（１６から１
１０まで）の少なくとも１つと交換することのできるプ
ロセッサの中心（１３）を含む、マイクロコントローラ
型集積回路（１１）を提供する。 【構成】 本発明による集積回路（１１）は、マイクロ
コントローラ（１１）によって実行可能な特にテストの
包括的なプログラム（２１）を含むスタティック・メモ
リ（１４）を有し、前記の包括的なプログラム（２１）
は１つまたは複数の前記のデータ記憶／処理要素（１６
〜１１０）の中にデータを書き込む基本的機能（２３）
を含み、そして前記の書込み機能は遠隔ロード・プログ
ラムをロードするために使用される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子集積回路の分野に
関し、詳しくはマイクロコントローラ型集積回路に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】マイクロコントローラは、「コンピュー
タ」の構成要素の全部またはほとんどを集めた極めて大
規模に集積された回路（ＶＬＳＩ）である。この機能は
先験的に定義されず、それが実行するプログラムに依存
するもので、このためマイクロコントローラは、その可
能なアプリケーションの点で大きな普遍性を与えられて
いる。

【０００３】マイクロコントローラは必然的に、プロセ
ッサのコアを有し特に（いろいろな制御信号をプログラ
ム命令に応じて他の要素に配分する自動装置である）制
御シーケンサ、（データを処理できる）演算論理機構、
及び（専用メモリ要素である）レジスタから構成され
る。

【０００４】他の「コンピュータ」構成要素は、マイク
ロコントローラの内側または外側に設けることができ
る。言い換えれば、他の要素をマイクロコントローラま
たは付属回路に統合することができる。

【０００５】前記の他の「コンピュータ」構成要素は、
殊に実行すべきプログラムを格納するメモリ（スタティ
ックまたはダイナミック）、クロック、（直列または並
列の）インターフェースなどの、データ記憶要素または
データ処理要素である。

【０００６】したがって、一般にマイクロコントローラ
の周りに構築されるシステムは、マイクロコントローラ
が取り付けられるケース、並びにマイクロコントローラ
中に統合されていないデータの記憶要素または処理要素
に対応する複数のケースを含む。このようなマイクロコ
ントローラ・システムは、例えばマイクロコントローラ
と他の構成部品が取り付けられた１つまたは複数のカー
ドの形を呈する。

【０００７】マイクロコントローラ・システム全体の機
能を決定するのは、アプリケーション・プログラム、つ
まりマイクロコントローラによって実行されるプログラ
ムである。したがって、各アプリケーション・プログラ
ムはそれぞれのアプリケーションに特有である。

【０００８】実際のほとんどのアプリケーションでは、
アプリケーション・プログラムはマイクロコントローラ
に格納するには大きすぎ、したがって、マイクロコント
ローラの外部メモリに記憶される。このプログラムメモ
リは、読取りのみを目的とするもので、一般に、読取り
だけが可能な再プログラム可能読取り専用メモリ（ＲＥ
ＰＲＯＭ）である。

【０００９】アプリケーション・プログラムがマイクロ
コントローラによって実行されるためにメモリにロード
されて始動された後、マイクロコントローラ・システム
の機能は予測された機能ではないかもしれない。

【００１０】最も好ましい状況では、システムの僅かな
機能不良が起こってもマイクロコントローラは（直列ま
たは並列の）インターフェースを介してテスト・ステー
ションと対話することができる。したがってこのテスト
・ステーションは、問題の性質を判断し、システムが正
しく機能するようにシステムに加えるべき（ソフトウェ
アまたはハードウェアもしくはその両方）の訂正形式を
正確に指示する能力がある。

【００１１】残念ながら、マイクロコントローラ・シス
テムの機能不良のほとんどは、このシステムが完全に停
止し、テスト・ステーションとの対話ができなくなる。
したがって、故障の種類、すなわちハードウェア（マイ
クロコントローラ自体、外部スタティック・メモリ、周
辺装置、バスなど）の故障、または（アプリケーション
・プログラムにおけるエラーなど）ソフトウェアの故障
かを判定することは不可能である。このような停止の場
合に一般に実施される修理技法は、複雑なテスト装置を
使用するもので、テストするべきマイクロコントローラ
・システムの各種集積回路のピン上にプローブを置く必
要がある。

【００１２】マイクロコントローラ・システムの修理に
このようなテスト装置を使用すると多くの不便が生じ
る。実際に、これらのテスト装置で使用されるプローブ
は非常に壊れやすく、回路の限られた寸法と非常に接近
した組立てのために設置するのが困難で、接触が悪くな
ることがある。

【００１３】さらに、価格が高いので、これらのテスト
装置の量産は限られる。したがって、故障したマイクロ
コントローラ・システムをどこででも直ちに修理するこ
とはできず、テスト装置がある場所に発送する必要があ
る。

【００１４】結局、マイクロコントローラ・システムの
このような修理は長い時間を要し、退屈で高価である。

【００１５】また、このシステムのマイクロコントロー
ラによって実行されるアプリケーション・プログラムの
変更の度ごとにマイクロコントローラ・システムに直接
介入する必要がないように、アプリケーション・プログ
ラムを記憶するために遠隔ロード可能なスタティック・
メモリを従来通り使用し、ロード・プログラムをマイク
ロコントローラのマスクされたスタティック・メモリに
書き込む。マイクロコントローラのマスクされたスタテ
ィック・メモリは、マイクロコントローラ中に統合さ
れ、このマイクロコントローラの製造時に最終的にプロ
グラムされた、読取り専用のメモリである。

【００１６】したがって、アプリケーション・プログラ
ムを変更するためには、遠隔ロード・プログラムを始動
することによりマイクロコントローラを再初期化する。
したがって、この遠隔ロード・プログラムは、適当な伝
送線を通じてマイクロコントローラに接続された書き込
むべき新しいアプリケーション・プログラムを含むワー
クステーションと通信することができる。遠隔ロード・
プログラムは、新しいアプリケーション・プログラムを
受け取り、これをマイクロコントローラの外部スタティ
ック・メモリの中にロードする。

【００１７】この解決法は、これがマイクロコントロー
ラ・システムへの直接介入（アプリケーション・プログ
ラムを格納する再プログラム可能スタティック・メモリ
をシステムから取り除き、適切なプログラミング装置に
よって新しいアプリケーション・プログラムをこれらの
メモリの中に書き込み、システムの中でこれらを書き換
えることから成る介入）を回避する場合にも、やはり製
造時のマイクロコントローラの専門化という大きな不都
合がある。

【００１８】実際に、再プログラム可能な各形式のメモ
リは、プログラミング・パラメータ（印加すべき電圧、
この電圧の維持時間など）が使用される技術によって変
わるので、異なる遠隔ロード・プログラムと関連してい
る。遠隔ロード・プログラムは最終的にマイクロコント
ローラのマスクされた内部メモリ中に書き込まれ、この
マイクロコントローラは、その使用可能性に関して、こ
の遠隔ロード・プログラムの対象であるメモリ構成部品
の形式に制限される。言い換えれば、このマイクロコン
トローラは標準構成部品ではなく、その製造費は高くな
る。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】本発明の主な目的は、
現況技術のこれらの様々な不都合を除くことである。

【００２０】詳しくは、本発明の１つの目的は、マイク
ロコントローラの周りに構築されたシステムの機能性を
迅速簡単で信頼できる低廉な方法で確保することのでき
る、マイクロコントローラ型回路を提供することであ
る。

【００２１】本発明の他の１つの目的は、マイクロコン
トローラを動かすシステムが故障した時に、このシステ
ムの１つまたは複数の故障要素の場所を正確につきとめ
ることのできる、マイクロコントローラ型集積回路を提
供することである。

【００２２】本発明の目的はまた、アプリケーション・
プログラムの変更時に、この変更をシステム中で実施す
るために用いるメモリ構成部品の形式は標準のままで、
マイクロコントローラ・システムに対するあらゆる直接
介入が不要なマイクロコントローラ型集積回路を提供す
る。

【００２３】

【課題を解決するための手段】これらの目的ならびに以
後に述べる他の目的は、本発明によれば、少なくともデ
ータ記憶／処理要素を有するデータ交換可能なプロセッ
サの中心（ＣＯＥＵＲＤＥ ＰＲＯＣＥＳＳＥＵＲ）を
含むマイクロコントローラ型集積回路を用いて達成さ
れ、前記の集積回路は前記のマイクロコントローラによ
って実行可能な特にテストの包括的なプログラムを格納
する読取り専用スタティック・メモリを有し、前記の包
括的なプログラムは１つまたは複数の前記のデータ記憶
／処理要素中にデータを書き込む基本的機能を含み、前
記の書込み機能は遠隔ロード・プログラムをロードする
ために使用される。

【００２４】データ記憶／処理要素は、マイクロコント
ローラに（すなわちプロセッサ・コアを含むマイクロコ
ントローラ型集積回路に）統合され、あるいはマイクロ
コントローラの外部にあって、別の回路に統合される。

【００２５】本発明の１つの好ましい実施例では、包括
的なプログラムを格納する前記スタティック・メモリ
は、前記の集積回路を製造した時に最終的にマスクによ
ってマスクされプログラムされたスタティック・メモリ
である。

【００２６】また、マスクされたスタティック・メモリ
が存在するときにはアプリケーション・プログラム（こ
れが小型の場合）または遠隔ロード・プログラム（一種
のメモリ構成部分に繋がるもの）を含む現況技術のマイ
クロコントローラに対して、本発明のマイクロコントロ
ーラは、特にテストの包括的なプログラムを格納するマ
スクされたメモリを有する。

【００２７】こうして、アプリケーション・プログラム
とは関係なくマイクロコントローラとその環境をテスト
することができる。このようなテストは、アプリケーシ
ョン・プログラム始動前に実施することができ、またア
プリケーション・プログラム始動後に、マイクロコント
ローラが動作するシステムが故障しているか機能不良を
示しているかをテストすることができる。

【００２８】本発明の１つの好ましい実施例では、前記
の特にテストの包括的なプログラムは、下記を含むグル
ープに属するいくつかの基本的機能で構成される： − １つまたは複数の前記のデータ記憶／処理要素によ
って記憶されたデータの読取り、 − １つまたは複数の前記のデータ記憶／処理要素にお
けるデータの書込み、 − １つまたは複数の前記のデータ記憶／処理要素に書
き込まれたプログラムの実行、こうして、特にテストの
包括的なプログラムを非常に小型にすることができ、し
たがってマイクロコントローラ中に容易に統合すること
ができる。

【００２９】これら３つの基本的機能によって、マイク
ロコントローラのみまたはその環境共ども完全にテスト
することができる。

【００３０】１つまたは複数の前記のデータ記憶／処理
要素が下記を含むグループに属することは好都合であ
る： − 前記の集積回路を製造した後に何度も繰り返して再
プログラムができる読取り専用再プログラム可能スタテ
ィック・メモリ、 − ランダム・アクセス・ダイナミック・メモリ、 − クロック、 − 周辺装置。

【００３１】こうして、読取り機能によって、アプリケ
ーション・プログラムを記憶する（または記憶を目的と
する）スタティック・メモリの内容を確証し、いろいろ
な周辺装置によって得られた情報をテストし、そして書
込み機能と組み合わせてダイナミック・メモリの有効性
をテストすることができる。

【００３２】ダイナミック・メモリを使用しないことが
好都合である書込み機能によって、いろいろな周辺装置
とダイナミック・メモリを有効と認めることができる。
したがって書込みによって、どのようなプログラムで
も、特に（マイクロコントローラとその環境が正確に基
本機能を実行できることが確証された後には）より強力
な自動テスト・プログラム、またはさらに、アプリケー
ション・プログラムの変更によってマイクロコントロー
ラ・システムの動的適応を可能にするスタティック・メ
モリの何らかの遠隔ロード・プログラムを、ダイナミッ
ク・メモリの中にロードすることができる。ダイナミッ
ク・メモリの中に書き込まれる遠隔ロード・プログラム
はどれでもよいということは、本発明のマイクロコント
ローラは特定形式のメモリ構成部品に関係していないこ
とを意味するので、非常に重要である。本発明のマイク
ロコントローラは標準製品であるので低価格である。

【００３３】実行機能により、書込み機能によってダイ
ナミック・メモリに書き込まれたプログラムを実行する
ことができる。

【００３４】これらの３機能全体によって、あらゆる種
類のテスト、及び生産段階の時の修理さえ実行すること
が可能になる。

【００３５】本発明による集積回路が、前記のテストの
包括的なプログラムと前記集積回路に接続されたテスト
・ステーションとの間の対話プロトコルを実施させる通
信手段を含むことは、好都合である。

【００３６】こうして、テスト・ステーションから逸れ
たテストを行い、テストの包括的なプログラムは、ステ
ーションが望むときには、マイクロコントローラとその
環境に関するすべての情報をステーションに提供する。

【００３７】前記のテストの包括的なプログラムを構成
する基本的機能グループがまた、前記の通信手段が前記
の集積回路のデータ伝送速度を前記のテスト・ステーシ
ョンのデータ伝送速度に適合するように、前記テスト・
ステーションのデータ伝送速度の尺度を含むことは、好
ましい。

【００３８】こうして、テスト・ステーションが接続さ
れているマイクロコントローラの機能速度がどうであろ
うとステーションはそのデータをいつも同じ速度で伝送
するので、テスト・ステーションの複雑性が減少する。

【００３９】前記の通信手段が受信／送信非同期ユニッ
トに該当し、その受信信号と送信信号のみが使用される
ことは、都合が良い。

【００４０】実際に、マイクロコントローラは、従来の
方法でこのような受信／送信非同期ユニット（ＵＡＲ
Ｔ）を統合する。

【００４１】特恵的な方法で、前記の通信手段はシリア
ル・インターフェースを含み、前記のテストの包括的な
プログラムは前記のテスト・ステーションから、前記の
基本的機能の、またはポインタの位置決め機能の活動化
メッセージを受信し、そして前記の基本的機能の活動化
結果メッセージを前記のテスト・ステーションに発信す
る。

【００４２】シリアル・インターフェースは例えばイン
ターフェースＲＳ２３２である。

【００４３】前記の活動化メッセージが下記を含むグル
ープに属することは都合がよい： − 現ポインタ用の所定アドレス指定メッセージであっ
て、各々が一方、指定バイト数がコード化される１つの
アドレス指定コマンド・ワード、他方、前記の指定バイ
トを含む少なくとも１つのデータ・ワードで構成され
る、前記の指定メッセージ、 − 現ポインタ・アドレスからメモリを読み取るメッセ
ージであって、各々が１つのコマンド・ワードから構成
され、読み取るべきバイト数がコード化される読取りメ
ッセージ、 − 現ポインタ・アドレスからメモリに書き込むメッセ
ージであって、各々が一方、書き込むべきバイト数がコ
ード化される１つの書込みコマンド・ワード、他方、書
き込むべきバイトを含む少なくとも１つのデータ・ワー
ドで構成される、前記の書込みメッセージ、 − 現ポインタ・アドレスからメモリの中に記憶された
プログラムの実行メッセージであって、１つの実行コマ
ンド・ワードで構成される、前記の実行メッセージ。

【００４４】前記の結果メッセージの各々が読み取られ
るデータを含む少なくとも１つのデータ・ワードで構成
されることは、好都合である。

【００４５】換言すれば、活動化メッセージは１つまた
は複数のデータ・ワードが場合によっては続く１つのコ
マンド・ワードで構成され、結果メッセージは１つまた
は複数のデータ・ワードで構成される。

【００４６】コマンド・ワード及びデータ・ワードの各
々が少なくとも１つの出発２進要素、少なくとも１つの
有効データ２進要素、及び少なくとも１つの停止データ
２進要素を含むことは、好都合である。

【００４７】こうして、マイクロコントローラのテスト
の包括的なプログラムとテスト・ステーションとの間の
データ伝送が保証される。

【００４８】前記のコマンド・ワードの各々が８つの２
進要素からなる有効データを含むことは好ましい。これ
らの２進要素は次のように分けられる： − コマンド・ワード型コード化の２つの２進要素、及
び − 指定バイト数、読み取るべきバイト数、及び書き込
むべきバイト数のコード化の６つの２進要素であり、他
の２つの２進要素でコード化されたコマンド・ワードが
それぞれ指定コマンド・ワード及び読取りコマンド・ワ
ードまたは書込みコマンド・ワードであるかどうかで決
まる、前記の６つの２進要素。

【００４９】本発明の有利な実施例では、前記の集積回
路は、特にテストの包括的なプログラムの始動ピンを含
み、前記の特にテストの包括的なプログラムは、前記の
集積回路が再初期化された後に前記の始動ピンが励起さ
れる時に始動する。

【００５０】こうして、始動ピンによって、テスト・モ
ードへ移るべきであること、すなわちテストの包括的な
プログラムの実行を開始することをマイクロコントロー
ラに指示することができる。

【００５１】本発明はまた、マイクロコントローラ型集
積回路の製造方法にも関し、この方法は、前記の特にテ
ストの包括的なプログラムを含むマスクされたスタティ
ック・メモリの彫刻段階を含む。

【００５２】本発明はまた、本発明による集積回路のテ
ストを目的とする集積回路テスト・ステーションにも関
し、このステーションは活動化メッセージ発信手段と結
果メッセージ受信手段を含む。

【００５３】本発明の他の特性と利点は、例示のためで
あり制限されるものではない好ましい実施例と添付の図
面に沿った説明によって明らかになろう。

【００５４】

【実施例】この例示的説明では、前記の包括的なプログ
ラムはテストの包括的なプログラムであり、この包括的
なプログラムを含むスタティック・メモリは、前記の集
積回路を製造した時に最終的にマスクによってマスクさ
れプログラムされたスタティック・メモリである。

【００５５】したがって本発明は、マイクロコントロー
ラ型集積回路（以下簡単にマイクロコントローラと称す
る）に関する。

【００５６】図１は、本発明によるマイクロコントロー
ラ１１並びにこのマイクロコントローラ１１の周りに構
築されたシステム１２の特定の実施例を示す。

【００５７】この特定の実施例では、マイクロコントロ
ーラ１１は最少の要素を含む。列挙すれば下記の通りで
ある： − プロセッサの中心１３、 − マイクロコントローラ製造時に最終的にマスクによ
ってマスクされプログラムされた読取り専用のスタティ
ック・メモリ１４、及び − ＵＡＲＴ１５（受信／送信非同期ユニット）。

【００５８】マイクロコントローラ１１の機能を可能に
する他のデータ記憶／処理要素は、この例ではマイクロ
コントローラ１１の外部にあり、このマイクロコントロ
ーラと共に１つのマイクロコントローラ・システム１２
を構成する。この特定の実施例では、データ記憶／処理
要素は下記の通りである： − マイクロコントローラ１１製造後に何度も繰り返さ
れて使用され、マイクロコントローラ１１によって実行
されるアプリケーション・プログラムを記憶することを
目的とし、マイクロコントローラ、もっと一般的にはシ
ステムに全体の機能を定義する再プログラム可能スタテ
ィック・メモリ１６（ＲＥＰＲＯＭ） − マイクロコントローラ１１によるプログラム実行時
に使用されるランダム・アクセス・メモリ（ダイナミッ
ク・メモリ）、 − クロック１８ − ２つの周辺装置１９、１１０ 本発明によるマイクロコントローラはこの特定の実施例
で制約されないことは、明白である。したがって他の実
施例では、データ記憶／処理要素１６〜１１０の全部ま
たはいくつかが、マイクロコントローラに統合されるこ
とができる。

【００５９】同様に、（マイクロコントローラ１１の内
部または外部の）他の形式のデータ記憶／処理要素も活
用することができる。

【００６０】マイクロコントローラ１１のマスクされた
スタティック・メモリはテストの包括的なプログラムを
含んでいる。

【００６１】図２に概要を図示する好ましい実施例で
は、このテストの包括的なプログラム２１は複数の基本
的機能から成る。すなわち： − 再プログラム可能スタティック・メモリ１６、ダイ
ナミック・メモリ１７、またはさらに周辺装置１９、１
１０などの、データ記憶／処理要素のいくつかに記憶さ
れたデータの読取り２２、 − ダイナミック・メモリ１７または周辺装置１９、１
１０などの、データ記憶／処理要素のいくつかへのデー
タの書込み２３、 − ダイナミック・メモリ１７などの、データ記憶／処
理要素の１つに書き込まれたプログラムの実行２４。

【００６２】この実施例では、テストの包括的なプログ
ラム２１も２つの他の基本的機能、すなわち伝送速度の
測定２５とポインタの位置決め２６を含み、これらの詳
細を下に説明する。

【００６３】このテストの包括的なプログラム２１によ
って、マイクロコントローラ１１のみ、またはマイクロ
コントローラ１１とその環境（つまりマイクロコントロ
ーラ・システム１２）を確証して有効性を認めることが
できる。

【００６４】実際に、このテストの包括的なプログラム
２１によって、マイクロコントローラ・システムを構成
する要素の各々をテストして有効性を認めることができ
る。

【００６５】第１段階では、マイクロコントローラ１１
のみの良好な機能性を、つまりそれがシステム１２内に
置かれてデータ記憶／処理要素１６〜１１０と協働する
前に、確認することができる。第２段階では、マイクロ
コントローラによってわかるように、システム１２の良
好な機能性を確認することができる。

【００６６】これらのテストと立証の２段階は、アプリ
ケーション・プログラムがメモリ（スタティック・メモ
リ１６またはダイナミック・メモリ１７）に存在するこ
とを必要としない。実際に、マイクロコントローラ１１
にそれがテスト・モードに移る必要があることを支持す
れば十分であり、このモードでマイクロコントローラは
（マイクロコントローラがメモリに含まれるアプリケー
ション・プログラムを実行する正常機能モードに反し
て）テストの包括的なプログラムを実行する。この本発
明の特定実施例では、マイクロコントローラ１１は１つ
の始動ピン（図示せず）を含み、この始動ピンがマイク
ロコントローラの再初期化の後に（すなわちリセット後
に）励起されると、テストの包括的なプログラムが始動
する。

【００６７】アプリケーション・プログラム実行時にシ
ステム１２が機能不良になると、マイクロコントローラ
１１とその環境（外部要素１６〜１１０）もまたテスト
され有効性が認められることに、留意すべきである。

【００６８】結局、書込み２３の基本的機能によって、
テストの包括的なプログラム２１よりも複雑であるが、
その正確な実行のためにマイクロコントローラ１１とそ
の環境は基本的機能２２〜２４の実行に関して機能する
と想定するテスト（または自動テスト）プログラムをダ
イナミック・メモリに書き込むことができる。

【００６９】アプリケーション・プログラム、すなわち
マイクロコントローラ１１によって実行され、マイクロ
コントローラにその機能を与えるプログラムは、一般に
マイクロコントローラ１１とその環境が確証され有効性
が認められた後にメモリに書き込まれる。

【００７０】本発明によるマイクロコントローラのテス
トの包括的なプログラム２１は、アプリケーション・プ
ログラムをメモリに記憶するために、多くの可能性を提
供する。

【００７１】第１の解決策は、書込み２３の基本的機能
によってアプリケーション・プログラムをダイナミック
・メモリ１７に直接記憶することである。

【００７２】第２の解決策は耐久性があるために性能が
もっと高くなるが、これは、スタティック・メモリ１６
の遠隔ロード・プログラムをダイナミック・メモリ１７
に事前に記憶して、アプリケーション・プログラムをス
タティック・メモリ１６に間接的に記憶することであ
る。どんな形式の遠隔ロード・プログラムも（したがっ
てどんな形式の再プログラム可能メモリも）使用できる
ことは明白で、この理由は、テストの包括的なプログラ
ムは他のあらゆるプログラムと同様にダイナミック・メ
モリ１７の中に遠隔ロード・プログラムを書き込むから
である（言い換えれば、書き込まれるプログラムの内容
はテストの包括的なプログラム２１の書込み２３の機能
には透過である）。こうして、本発明のマイクロコント
ローラ１１をそのアプリケーション・コンテキストに動
的に適応させ（スタティック・メモリ遠隔ロード可
能）、すべてを標準製品とすることができる（どのよう
な形式の再プログラム可能メモリにも制限はない）。

【００７３】図１に示すように、マイクロコントローラ
１１は一般に、シリアル接続線ＲＳ２３２などによって
テスト・ステーション１１１に接続されている。そのた
めに、マイクロコントローラとテスト・ステーションは
各々、対話プロトコルを実行することができる通信手段
を含む。テスト・ステーション１１１は例えばマイクロ
コンピュータと互換性のあるＰＣである。

【００７４】図１、２に示す本発明の特定の実施例で
は、テストの包括的なプログラム２１はテスト・ステー
ション１１１の速度測定２５の機能を含む。こうしてマ
イクロコントローラ１１の通信手段１５の伝送速度は、
テスト・ステーション１１１の伝送速度と等しくなるよ
うに選択され、したがってシステム１２のクロック１８
とは独立している。通信手段１５は受信／送信非同期ユ
ニット（ＵＡＲＴ）に該当し、その受信信号Ｒｘと送信
信号Ｔｘだけが使用される。

【００７５】マイクロコントローラ１１とテスト・ステ
ーション１１１の間のデータ交換プロトコルの一例を、
これから図３〜８を用いて説明する。

【００７６】テスト・ステーション１１１はマイクロコ
ントローラ１１の方へ、テストの包括的なプログラム２
１の読取り２２、書込み２３、実行２４、及びポインタ
位置決め２６という４つの基本的機能の１つの活動化メ
ッセージを発信する。

【００７７】この他にテストの包括的なプログラム２１
はテスト・ステーション１１１の方へ、前記の基本的機
能の１つの活動化結果メッセージを発信する。

【００７８】活動化メッセージは、場合によっては１つ
または複数のデータ・ワードが続くコマンド・ワードか
ら成る。結果メッセージは１つまたは複数のデータ・ワ
ードから成る。

【００７９】図３に、コマンド・ワード構造の一実施例
を示す。この例では、コマンド・ワードは１つの出発２
進要素（以下ｅ．ｂ．と称する）Ｄ、コマンド・ワード
型コーディングの６つのｅ．ｂ．Ｎ１〜Ｎ６に分かれた
有効データを持つ８ビット３１、及び２つの停止ｅ．
ｂ．Ｓ１、Ｓ２から成る。

【００８０】コマンド・ワード型コーディングは下記の
通りである： − ００はポインタの位置決コマンド２６に該当する、 − ０１は読取りコマンド２２に該当する、 − １０は書込みコマンド２３に該当する、 − １１は実行コマンド２４に該当する。

【００８１】図４に、データ・ワード構造の一実施例を
示す。この例では、データ・ワードは１つの出発ｅ．
ｂ．Ｄ、有効データの８ビット４１、及び２つの停止
ｅ．ｂ．Ｓ１、Ｓ２から成る。

【００８２】ｅ．ｂ．Ｎ１〜Ｎ６における２進コード化
された数は、コード化される８ビット数（Ｎ）から１を
引いたもの（すなわちＮ−１）に等しい。

【００８３】コード化される数Ｎは下記の通りである。

【００８４】コマンド・ワード型コーディングは下記の
通りである： − ８ビット数であって、その中で、位置決めコマンド
・ワードの場合に、現在ポインタが位置決めされるべき
アドレスが特定されるという、前記の８ビット数、 − 読取りコマンド・ワードの場合に、現在ポインタの
アドレスから読み取られる８ビット数、 − 書込みコマンド・ワードの場合に、現在ポインタの
アドレスから書き込まれる８ビット数、図５〜８にそれ
ぞれ、本発明のマイクロコントローラとテスト・ステー
ションとの間の対話例を示す。簡単にするために有効デ
ータの８ビットのみを示す（出発ｅ．ｂ．Ｄと停止ｅ．
ｂ．Ｓ１、Ｓ２は、有効な情報を全く搬送しない）。

【００８５】図５は、マイクロコントローラの現ポイン
タが位置決めされるべきアドレスのテスト・ステーショ
ンによる指定の場合に相当する。指定されたこのアドレ
スは、読取り、書込み、実行という３つの基本的機能の
１つが行われる元であるメモリ・アドレスである。

【００８６】この例では、指定されたアドレスは１２３
４５６であり、アドレスを指定する各数字は４つのｅ．
ｂ．にコード化される。

【００８７】こうして、テスト・ステーションは先ずコ
マンド・ワードＳ１を発送し、このコマンド・ワードＳ
１は、位置決めコマンド（Ｃ２Ｃ１＝００）が問題であ
ること、そしてアドレスはＮ＝３つの８ビット（Ｎ６〜
Ｎ１＝（１０）２進＝２＝Ｎ−１）にコード化され、そ
れからアドレス（１、２、３、４、５、６のコード化に
それぞれ対応する０００１、００１０、００１１、０１
００、０１０１、０１１０）を含む３つのデータ・ワー
ド５２〜５４にコード化されることを示す。

【００８８】図６は、現在ポインタのアドレスからマイ
クロコントローラによる８ビット読取りのテスト・ステ
ーションによるコマンドの場合に相当する。

【００８９】この例では、ステーションはコマンド・ワ
ード６１を発信し、読取り（Ｃ２Ｃ１＝０１）が問題で
あり、Ｎ＝４（Ｎ６〜Ｎ１＝（１１）２進＝３＝Ｎ−
１）８ビットを読み取るようを指示する。次に、マイク
ロコントローラはテスト・ステーションに、読み取られ
たデータを含む４つのデータ・ワード６２〜６５を発送
する（ｅ．ｂ．は何らかの数値を示すためにｘと記
す）。

【００９０】図７は、現在ポインタのアドレスからマイ
クロコントローラによる８ビット書込みのテスト・ステ
ーションによるコマンドの場合に相当する。

【００９１】この例では、テスト・ステーションはコマ
ンド・ワード７１を発信し、書込み（Ｃ２Ｃ１＝１０）
が問題であり、Ｎ＝５（Ｎ６〜Ｎ１＝（１００）２進＝
４＝Ｎ−１）８ビットを書き込むよう指示する。次に、
書き込むデータを含む５つのデータ・ワード７２〜７６
を発送する（この例では、ｅ．ｂ．はすべて０と記
す）。

【００９２】図８は、現在ポインタのアドレスから記憶
されたプログラムのマイクロコントローラによる実行の
テスト・ステーションによるコマンドの場合に相当す
る。こうして、テスト・ステーションは実行（Ｃ２Ｃ１
＝１１）が問題であることを示すコマンド・ワード８１
を発信する。

【００９３】本発明はまた、特定の実施例で示したよう
なマイクロコントローラ型集積回路の製造方法にも関す
る。この方法は、テストの包括的なプログラムを含むマ
スクされたスタティック・メモリの記録段階を含む。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるマイクロコントローラの例の周り
に構成され、テスト・ステーションに接続されたシステ
ムの概略図である。

【図２】本発明によるマイクロコントローラのマスクさ
れたスタティック・メモリに含まれるような、テストの
包括的なプログラムの一実施例の概略図である。

【図３】図１に示すようなテスト・ステーションとマイ
クロコントローラとの間で交換されるコマンド・ワード
の構造の実施例を示す図である。

【図４】図１に示すようなテスト・ステーションとマイ
クロコントローラとの間で交換されるデータ・ワードの
構造の実施例を示す図である。

【図５】図１に示すような本発明によるマイクロコント
ローラとの間の対話例を示す図であり、 ＊ポインタ位置決めの場合、を示す図である。

【図６】図１に示すような本発明によるマイクロコント
ローラとの間の対話例を示す図であり、 ＊メモリ読取りの場合、を示す図である。

【図７】図１に示すような本発明によるマイクロコント
ローラとの間の対話例を示す図であり、 ＊メモリ書込みの場合、を示す図である。

【図８】図１に示すような本発明によるマイクロコント
ローラとの間の対話例を示す図であり、 ＊プロブラム実行の場合を示す図である。

【符号の説明】

１１ マイクロコントローラ １２ マイクロコントローラ・システム １３ プロセッサの中心 １４ テストの包括的なプログラム １５ ＵＡＲＴ（受信／送信非同期ユニット） １６ スタティック・メモリ １７ ダイナミック・メモリ １８ クロック １９ 周辺装置 ２１ テストの包括的なプログラム ２２ 読取り ２３ 書込み ２５ 伝送速度の測定 ２６ ポインタの位置決め １１０ 周辺装置 １１１ テスト・ステーション

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくともデータ記憶要素及び／または
   処理要素（１６〜１１０）を有するデータ交換可能なプ
   ロセッサの中心（１３）を含むマイクロコントローラ型
   集積回路において、 前記集積回路（１１）が、前記マイクロコントローラ
   （１１）によって実行可能な特にテストの包括的なプロ
   グラム（２１）を含むスタティック・メモリ（１４）を
   有し、前記の包括的なプログラム（２１）が１つまたは
   複数の前記のデータ記憶／処理要素（１６〜１１０）中
   にデータを書き込む基本的機能（２３）を含み、前記の
   書込み機能が遠隔ロード・プログラムをロードするため
   に使用されることを特徴とする集積回路。
2. 【請求項２】 前記包括的なプログラムが、１つまたは
   複数の前記データ記憶／処理要素（１６〜１１０）によ
   って記憶されたデータを読み取る機能（２２）をさらに
   含むことを特徴とする請求項１に記載の集積回路。
3. 【請求項３】 前記の包括的なプログラムが、１つまた
   は複数の前記のデータ記憶／処理要素（１６〜１１０）
   に書き込まれたプログラムを実行する機能（２４）をさ
   らに含むことを特徴とする請求項１または２のいずれか
   一項に記載の集積回路。
4. 【請求項４】 １つまたは複数の前記データ記憶／処理
   要素が、特に − 前記の集積回路を製造した後に何度も繰り返して再
   プログラムできる読取り専用再プログラム可能スタティ
   ック・メモリ（１６）と、 − ランダム・アクセス・ダイナミック・メモリ（１
   ７）と、 − クロック（１８）と、 − 周辺装置（１９、１１０）とを含む群に属すること
   を特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の集
   積回路。
5. 【請求項５】 前記テストの包括的なプログラム（２
   １）と前記集積回路（１１）に接続されたテスト・ステ
   ーション（１１１）との間の対話プロトコルを実施させ
   ることのできる通信手段（１５）を含むことを特徴とす
   る請求項１から４のいずれか一項に記載の集積回路。
6. 【請求項６】 前記テストの包括的なプログラム（２
   １）がまた、前記の通信手段（１５）が前記集積回路
   （１１）のデータ伝送速度を前記テスト・ステーション
   （１１１）のデータ伝送速度に適応させるように、前記
   テスト・ステーション（１１１）のデータ伝送速度の測
   定（２５）をも含むことを特徴とする請求項５に記載の
   集積回路。
7. 【請求項７】 前記通信手段が受信／送信非同期ユニッ
   ト（１５）に対応し、その受信信号と送信信号のみが使
   用されることを特徴とする請求項５または６のいずれか
   一項に記載の集積回路。
8. 【請求項８】 前記通信手段（１５）がシリアル・イン
   ターフェースを含み、前記テストの包括的なプログラム
   （２１）が、前記のテスト・ステーション（１１１）か
   ら前記の基本的機能（２２から２４）の１つ、またはポ
   インタ位置決め機能（２６）の活動化メッセージを受け
   取り、前記基本的機能の活動化結果メッセージを前記の
   テスト・ステーション（１１１）に発信することを特徴
   とする請求項５から７のいずれか一項に記載の集積回
   路。
9. 【請求項９】 前記活動化メッセージが、 − 各々指定バイト数がコード化される１つのアドレス
   指定コマンド・ワード（５１）と、前記指定バイトを含
   む少なくとも１つのデータ・ワード（５２から５４）と
   から構成される、現ポインタの所定アドレスの指定メッ
   セージと、 − 各々読み取るべきバイト数がコード化される１つの
   コマンド・ワード（６１）から構成される現ポインタ・
   アドレスからメモリを読み取るメッセージと、 − 各々書き込むべきバイト数がコード化される１つの
   書込みコマンド・ワード（７１）と、書き込むべきバイ
   トを含む少なくとも１つのデータ・ワード（７２から７
   ６）とから構成される、現ポインタ・アドレスからメモ
   リに書き込むメッセージと、 − 各々１つの実行コマンド・ワード（８１）から構成
   される、現ポインタ・アドレスからメモリ中に記憶され
   たプログラムの実行メッセージとを含む群に属すること
   を特徴とする請求項８に記載の集積回路。
10. 【請求項１０】 前記の結果メッセージの各々が、読み
    取られたデータを含む少なくとも１つのデータ・ワード
    （６２から６４）から構成されることを特徴とする請求
    項８または９のいずれか一項に記載の集積回路。
11. 【請求項１１】 コマンド・ワードおよびデータ・ワー
    ドの各々が、少なくとも１つの出発２進要素（Ｄ）、少
    なくとも１つの有効データ２進要素（３１、４１）、及
    び少なくとも１つの停止２進要素（Ｓ１、Ｓ２）を含む
    ことを特徴とする請求項９または１０のいずれか一項に
    記載の集積回路。
12. 【請求項１２】 前記コマンド・ワードの各々が、有効
    データの８つの２進要素（３１）を含み、有効データの
    ２進要素が、 − コマンド・ワード型コード化の２つの２進要素（Ｃ
    １、Ｃ２）と − 他の２つの２進要素中のコード化されたコマンド・
    ワードがそれぞれ指定コマンド・ワードか、読取りコマ
    ンド・ワードか、それとも書込みコマンド・ワードであ
    るかに応じて、指定バイト数、読み取るべきバイト数、
    及び書き込むべきバイト数のコード化の６つの２進要素
    （Ｎ１からＮ６）とに分けられることを特徴とする請求
    項１１に記載の集積回路。
13. 【請求項１３】 テストの包括的なプログラム（２１）
    の始動ピンを含み、前記テストの包括的なプログラムは
    前記の集積回路が再初期化された後に前記の始動ピンが
    励起される時に始動することを特徴とする請求項１から
    １２のいずれか一項に記載の集積回路。
14. 【請求項１４】 包括的なプログラムを格納する前記ス
    タティック・メモリ（１４）が前記集積回路（１１）の
    製造時に最終的にマスクによってマスクされプログラム
    されたスタティック・メモリであることを特徴とする請
    求項１から１３のいずれか一項に記載の集積回路。
15. 【請求項１５】 請求項１４に記載のマイクロコントロ
    ーラ型集積回路の製造方法において、前記包括的なプロ
    グラム（２１）を格納する前記のマスクされたスタティ
    ック・メモリ（１４）の記録段階を含むことを特徴とす
    る方法。
16. 【請求項１６】 請求項１から１４のいずれか一項に記
    載の集積回路をテストするための集積回路（１１）テス
    ト・ステーション（１１１）において、請求項８から１
    ３のいずれか一項に記載の活動化メッセージ発信手段及
    び結果メッセージ受信手段を含むことを特徴とするテス
    ト・ステーション。