JPH07157882A - Thermosetting resin plating method - Google Patents

Thermosetting resin plating method

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JPH07157882A
JPH07157882A JP30366693A JP30366693A JPH07157882A JP H07157882 A JPH07157882 A JP H07157882A JP 30366693 A JP30366693 A JP 30366693A JP 30366693 A JP30366693 A JP 30366693A JP H07157882 A JPH07157882 A JP H07157882A
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JP
Japan
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plating
thermosetting resin
resin
layer
insulating layer
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Application number
JP30366693A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomoki Okamoto
朋己 岡本
Toshiji Shimamoto
敏次 島本
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Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 剥離強度が改善された熱硬化性樹脂成形物の
メッキ方法を提供する。 【構成】 熱硬化性樹脂基体上に無電解メッキ及び電解
メッキを順次施した後、該熱硬化性樹脂のガラス転移温
度乃至ガラス転移温度に70℃を加えた温度の範囲で加
熱処理を行う。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a method for plating a thermosetting resin molded product having improved peel strength. [Structure] After electroless plating and electrolytic plating are sequentially performed on a thermosetting resin substrate, a heat treatment is performed within the temperature range of the glass transition temperature of the thermosetting resin or a temperature obtained by adding 70 ° C. to the glass transition temperature.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、熱硬化性樹脂基体上へ
のメッキ方法に関する。詳しくは、熱硬化性樹脂表面に
メッキ層を形成する場合において、該メッキ層の密着性
を向上させる方法を提供する。本発明は、例えば熱硬化
性樹脂よりなる絶縁層表面にメッキ層よりなる導電層を
積層して得られる多層回路基板の製造に特に有用に適用
し得る熱硬化性樹脂のメッキ方法に係わる。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a method for plating on a thermosetting resin substrate. Specifically, in the case of forming a plating layer on the surface of a thermosetting resin, a method for improving the adhesion of the plating layer is provided. The present invention relates to a thermosetting resin plating method that can be particularly usefully applied to the production of a multilayer circuit board obtained by laminating a conductive layer made of a plating layer on the surface of an insulating layer made of a thermosetting resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、合成樹脂表面をメタライズする手
段の一つに化学メッキを施す方法、或いは、化学メッキ
を施し、その上に電解メッキを行う方法が知られてい
る。例えばABS樹脂やポリプロピレン等においては、
すでに広く用いられている。合成樹脂メッキの欠陥の一
つは、樹脂と金属との親和性が乏しいため金属層の剥離
強度が小さい事である。かかる欠陥を改良する手段とし
て、種々の方法が提案されている。例えばABS樹脂な
どにあっては、化学エッチングにより、樹脂表面に存在
するブタジエン成分を分解してアンカーポイントを形成
させるとか、或いはポリプロピレンやナイロンにあって
は、物理的に表面粗化を行なうなどによって、金属のア
ンカー効果を高めている。しかしながら上記の如き従来
から行われているアンカー効果だけでは、なお十分な剥
離強度は、得られない。より大きい剥離強度を得る改良
手段として、ナイロン等の熱可塑性樹脂におけるメッキ
にあっては、合成樹脂表面に化学メッキを施し、数拾時
間放置した後、電解メッキを行ない、更に90℃以上の
温度に加熱することにより、ピーリング強度を向上させ
る方法も提案されている(特公平1−123093号明
細書)。この場合、何故剥離強度が増大するのか、その
理由は、明らかではないが、本発明者らの推測による
と、メッキにより、形成される金属層と合成樹脂基体と
の間に応力が発生し、これが剥離を促進する。そこで、
熱可塑性樹脂の場合には、加熱により樹脂の分子を動き
やすくし、金属の形状に合成樹脂を馴染ませることによ
り応力の緩和を図るものと考えられる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a method of performing chemical plating as one of means for metallizing a surface of a synthetic resin or a method of performing chemical plating and then performing electrolytic plating is known. For example, in ABS resin and polypropylene,
It is already widely used. One of the deficiencies of synthetic resin plating is that the peel strength of the metal layer is low due to the poor affinity between resin and metal. Various methods have been proposed as means for improving such defects. For example, in the case of ABS resin or the like, the butadiene component present on the surface of the resin is decomposed by chemical etching to form anchor points, or in the case of polypropylene or nylon, the surface is physically roughened. , The metal anchor effect is enhanced. However, sufficient peeling strength cannot be obtained only by the conventional anchor effect as described above. As a means for improving the peel strength, when plating with a thermoplastic resin such as nylon, the surface of the synthetic resin is chemically plated, left for several hours, and then electroplated. A method of improving the peeling strength by heating the sheet has been proposed (Japanese Patent Publication No. 1-123093). In this case, the reason why the peel strength increases, but the reason is not clear, but according to the inference by the present inventors, by plating, a stress is generated between the metal layer to be formed and the synthetic resin substrate, This promotes peeling. Therefore,
In the case of a thermoplastic resin, it is considered that the resin molecules are made to move easily by heating and the stress is relieved by fitting the synthetic resin to the metal shape.

【0003】しかしながら、回路基板の製造にあって
は、熱硬化性樹脂基体上に、メッキにより、導通スルー
ホールの形成、導電層の形成等が一般に行われている。
これらのうち、回路の高密度化、或いは電磁波シールド
層の形成を目的として、絶縁基板に形成された配線パタ
ーン上に、熱硬化性樹脂よりなる絶縁層を介して配線パ
ターンを積層した多層回路基板が種々開発されている。
これらの多層回路基板のうち、絶縁基板表面に形成した
第1の配線パターン上に、バイアホール用開口部を有す
る熱硬化性樹脂よりなる絶縁層を積層した後、化学メッ
キ及び電気メッキを施すことにより導電層を形成する形
態の多層回路基板は、配線パターンの引き回しの自由度
が高く、極めて高精度かつ高い配線密度で多層基板が得
られるため、基板サイズの縮小化、高密度化に有用であ
る。この場合には、熱硬化性樹脂上へのメッキが必要と
なる。
However, in the manufacture of circuit boards, formation of conductive through holes, formation of conductive layers, etc. are generally performed on a thermosetting resin substrate by plating.
Of these, a multilayer circuit board in which a wiring pattern is laminated on a wiring pattern formed on an insulating substrate through an insulating layer made of a thermosetting resin for the purpose of increasing the circuit density or forming an electromagnetic wave shield layer. Have been developed.
Among these multilayer circuit boards, an insulating layer made of a thermosetting resin having openings for via holes is laminated on the first wiring pattern formed on the surface of the insulating board, and then chemical plating and electroplating are performed. The multi-layer circuit board in the form of forming a conductive layer has a high degree of freedom in arranging the wiring pattern, and since the multi-layer board can be obtained with extremely high precision and high wiring density, it is useful for reducing the board size and increasing the density. is there. In this case, plating on the thermosetting resin is required.

【0004】該多層回路基板の製造において、絶縁層を
積層した後、無電解メッキ及び電解メッキを行う際、絶
縁層とメッキ層の間の密着性を確保するために、絶縁層
表面の粗面化処理が必要である。該粗面化処理は、スラ
リー研磨、バフ研磨、スクラブ研磨等の通常の物理的な
研磨だけでは十分な密着性が得られないため、種々の化
学的な粗面化処理、例えばメッキスルーホールの形成の
際に用いられているデスミア処理液であるクロム酸、過
マンガン酸塩等を用いた粗面化処理が、上記の物理的な
研磨方法と併用して用いられていた。
In the manufacture of the multi-layer circuit board, when the electroless plating and the electroplating are performed after the insulating layers are laminated, in order to secure the adhesion between the insulating layers, the rough surface of the insulating layers is provided. Need to be processed. In the roughening treatment, since sufficient adhesion cannot be obtained only by ordinary physical polishing such as slurry polishing, buff polishing, and scrub polishing, various chemical surface roughening treatments such as plating through-hole The roughening treatment using chromic acid, permanganate, etc., which is the desmear treatment liquid used at the time of formation, has been used in combination with the above physical polishing method.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする問題点】しかし、上記粗面化
処理を行っても、メッキ層の引き剥し強度は0.4〜
0.7kgf/cm程度であり、特に配線パターンの如
き細く精密なメッキ層を形成する場合には尚不十分であ
る。即ちプリント基板製造に最も多く用いられている圧
延銅箔を積層プレスして形成される銅張り積層基板に比
べ、十分な密着性を有するとは言えない。
However, even if the above-mentioned surface roughening treatment is performed, the peeling strength of the plating layer is 0.4 to
It is about 0.7 kgf / cm, which is still insufficient especially when a fine and precise plating layer such as a wiring pattern is formed. That is, it cannot be said that it has sufficient adhesiveness as compared with a copper-clad laminated board formed by laminating and pressing a rolled copper foil that is most often used in printed circuit board production.

【0006】また熱硬化性樹脂表面へのメッキは、熱硬
化性樹脂が加熱によっては弾性率が低下しないところか
ら、熱可塑性樹脂に対する如き熱処理の効果は、一般に
期待し得ないものと考えられた。
Further, in the plating on the surface of the thermosetting resin, since the elastic modulus of the thermosetting resin does not decrease by heating, it is considered that the effect of the heat treatment on the thermoplastic resin cannot be generally expected. .

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記の問
題を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、熱硬化性樹脂よ
りなる絶縁層上に、無電解メッキ及び電解メッキを施し
た後、特定の温度範囲内で加熱処理を行う事により、該
メッキ層と絶縁層との間の密着性が向上する事を見いだ
し、本発明を完成するに至った。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that after performing electroless plating and electrolytic plating on an insulating layer made of a thermosetting resin. The inventors have found that the heat treatment within a specific temperature range improves the adhesion between the plating layer and the insulating layer, and completed the present invention.

【0008】即ち、本発明は、熱硬化性樹脂基体上に、
無電解メッキ及び電解メッキを順次施した後、該熱硬化
性樹脂のガラス転移温度乃至ガラス転移温度に70℃を
加えた温度、好ましくは、ガラス転移温度に15℃乃至
60℃を加えた温度の範囲で加熱処理を行う事を特徴と
する熱硬化性樹脂のメッキ方法である。
That is, the present invention provides a thermosetting resin substrate,
After sequentially performing electroless plating and electrolytic plating, the glass transition temperature of the thermosetting resin to the glass transition temperature of 70 ° C., preferably the glass transition temperature of 15 ° C. to 60 ° C. It is a method of plating a thermosetting resin, which is characterized by performing heat treatment in a range.

【0009】本発明において、特定の温度範囲による加
熱処理が熱硬化性樹脂表面のメッキにおいて、その剥離
強度を改善し得る理由は、明らかでない。しかしなが
ら、本発明者らは、経験的に、熱硬化性樹脂のガラス転
移温度以上、好ましくは該温度よりも15℃以上高い温
度で、且つガラス転移温度に70℃加えた温度以下、好
ましくは60℃加えた温度以下の範囲の温度で、被処理
体が均一温度に達する時間以上の間加熱処理を行うこと
により、熱硬化性樹脂と金属層との剥離強度が増大する
ことを見出した。即ち、本発明に特定する温度範囲より
下の温度であっては勿論、また逆に該特定の温度範囲を
超える高い温度であっても、後述の実施例に示すとお
り、剥離強度の改善は見られないのである。
In the present invention, it is not clear why the heat treatment in a specific temperature range can improve the peel strength in plating the surface of the thermosetting resin. However, the present inventors have empirically found that the temperature is not lower than the glass transition temperature of the thermosetting resin, preferably not lower than 15 ° C. and not higher than the glass transition temperature of 70 ° C., preferably not higher than 60 ° C. It was found that the peel strength between the thermosetting resin and the metal layer is increased by performing the heat treatment at a temperature in the range of the temperature added by 0 ° C. or less for the time for which the object to be treated reaches a uniform temperature. That is, even if the temperature is lower than the temperature range specified in the present invention, or conversely, it is a high temperature exceeding the specific temperature range, as shown in Examples below, no improvement in peel strength is observed. I can't.

【0010】本明細書において、熱硬化性樹脂とは、重
合後に三次元的な架橋構造を形成する樹脂であって、該
樹脂は、加熱によって、軟化又は溶融することのない樹
脂の総称である。かかる樹脂としては、フェノール樹
脂、アニリン樹脂、ユリア樹脂及びメラミン樹脂等の縮
合型樹脂、エポキシ樹脂、及び不飽和ポリエステル樹脂
等の2以上の異なる重合性官能基を有する化合物の重合
体、或いはジビニルベンゼン、ジビニルトルエン、トリ
ビニルベンゼン及びこれらのポリビニル化合物とモノビ
ニル化合物との共重合体等の2以上の同種官能基を有す
る化合物などである。
In the present specification, the thermosetting resin is a resin that forms a three-dimensional crosslinked structure after polymerization, and the resin is a general term for resins that are not softened or melted by heating. . Examples of the resin include condensation resins such as phenol resins, aniline resins, urea resins and melamine resins, epoxy resins, and polymers of compounds having two or more different polymerizable functional groups such as unsaturated polyester resins, or divinylbenzene. Compounds such as divinyltoluene, trivinylbenzene, and copolymers of these polyvinyl compounds and monovinyl compounds, which have two or more same functional groups.

【0011】以下、図1に示す多層回路基板を例として
本発明を説明する。絶縁基板1の表面の第1の配線パタ
ーン2を有する回路基板表面に、熱硬化性樹脂3よりな
る絶縁層を形成した後、無電解メッキ及び電解メッキを
施して導電層を積層してなる多層回路基板である。勿
論、本発明は図1の態様に限定されるものではない。
The present invention will be described below by taking the multilayer circuit board shown in FIG. 1 as an example. A multilayer structure in which an insulating layer made of thermosetting resin 3 is formed on the surface of the circuit board having the first wiring pattern 2 on the surface of the insulating substrate 1, and then electroless plating and electrolytic plating are performed to stack conductive layers. It is a circuit board. Of course, the present invention is not limited to the embodiment of FIG.

【0012】上記絶縁基板1は特に制限されず、公知の
材質、構造を有するものが制限無く使用される。代表的
なものを例示すれば、紙基材−フェノール樹脂積層基
板、紙基材−エポキシ樹脂積層基板、紙基材−ポリエス
テル樹脂積層基板、ガラス基材−エポキシ樹脂積層基
板、紙基材−テフロン樹脂積層基板、ガラス基材−BT
(ビスマレイミド−トリアジン)レジン樹脂積層基板、
コンポジット樹脂基板等の合成樹脂基板や、アルミニウ
ム、鉄、ステンレス等の金属をエポキシ樹脂等で覆って
絶縁処理した金属系絶縁基板、あるいはセラミックス基
板等が挙げられる。
The insulating substrate 1 is not particularly limited, and those having known materials and structures can be used without limitation. Typical examples are paper base material-phenolic resin laminated board, paper base material-epoxy resin laminated board, paper base material-polyester resin laminated board, glass base material-epoxy resin laminated board, paper base material-Teflon. Resin laminated substrate, glass base material-BT
(Bismaleimide-triazine) resin resin laminated substrate,
Examples thereof include a synthetic resin substrate such as a composite resin substrate, a metal-based insulating substrate obtained by insulating a metal such as aluminum, iron, and stainless with an epoxy resin or the like, or a ceramic substrate.

【0013】本発明において、上記の絶縁基板の表面
に、第1の配線パターン2が形成される。該第1の配線
パターンは、銅張り積層基板表面の銅箔をエッチングし
て形成する方法が一般的であるが、銅ペースト、銀ペー
スト等に代表される硬化性導電物質を用いて、印刷法等
により形成する方法、無電解メッキ、電解メッキ等で、
絶縁基板上にメッキ層を形成し、該メッキ層をエッチン
グしてパターンを形成する方法等、特に制限されず用い
ることができる。
In the present invention, the first wiring pattern 2 is formed on the surface of the insulating substrate. The first wiring pattern is generally formed by etching a copper foil on the surface of the copper-clad laminated substrate, but a printing method using a curable conductive material typified by copper paste, silver paste, etc. Method, electroless plating, electrolytic plating, etc.
A method of forming a plating layer on an insulating substrate and etching the plating layer to form a pattern can be used without particular limitation.

【0014】本発明において、上述した第1の配線パタ
ーンの表面に、熱硬化性樹脂よりなる絶縁層3が形成さ
れる。上記の絶縁層は、ドライフィルム、液状レジス
ト、ドライフィルム・液状レジスト併用等の、種々の形
態の熱硬化性樹脂を使用した方法で形成できる。上記の
方法で、特にドライフィルムを用いると、絶縁層の厚み
精度もよく、表・裏面同時に形成できるため、より効率
的に絶縁層を形成することができる。また、該熱硬化性
樹脂としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、不飽和
ポリエステル樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂等、ガラ
ス転移温度が80〜150℃程度のものが好適に使用で
きるが、絶縁層の絶縁特性、長期信頼性等の点から、絶
縁樹脂としてはエポキシ樹脂を用いる事が望ましい。ま
た、該熱硬化性樹脂は、ガラス繊維、ガラスクロス、無
機フィラー、その他添加剤等を混合したものでも差し支
えない。上記絶縁層は、加熱ロールを用いたラミネータ
ー、スクリーン印刷機、ロールコーター、カーテンコー
ター等の、種々の公知の塗布装置を用いて塗布した後、
必要に応じ乾燥、硬化を行って形成すればよい。
In the present invention, the insulating layer 3 made of a thermosetting resin is formed on the surface of the above-mentioned first wiring pattern. The insulating layer can be formed by a method using various forms of thermosetting resin such as dry film, liquid resist, dry film / liquid resist combination, and the like. In the above method, particularly when a dry film is used, the thickness accuracy of the insulating layer is good and the front and back surfaces can be formed simultaneously, so that the insulating layer can be formed more efficiently. Further, as the thermosetting resin, phenol resin, epoxy resin, unsaturated polyester resin, melamine resin, urea resin and the like having a glass transition temperature of about 80 to 150 ° C. can be preferably used, but insulation of the insulating layer is preferable. From the viewpoint of characteristics and long-term reliability, it is desirable to use epoxy resin as the insulating resin. Further, the thermosetting resin may be a mixture of glass fiber, glass cloth, inorganic filler, other additives and the like. The above-mentioned insulating layer is a laminator using a heating roll, a screen printer, a roll coater, a curtain coater, and the like, after applying using various known coating devices,
It may be formed by drying and curing if necessary.

【0015】なお、第1の配線パターンと第2の配線パ
ターンの間の導通を確保するためのバイアホール用開口
部4を形成する場合には、スクリーン印刷法により予め
該バイアホール用開口部を除いて絶縁層を塗布する方
法、或いは該絶縁層に感光性を有する樹脂を用い、基板
表面の全面に絶縁層を積層した後、露光、現像してバイ
アホール用開口部の樹脂を除去する方法等が用いられ
る。
When forming the via hole opening 4 for ensuring electrical continuity between the first wiring pattern and the second wiring pattern, the via hole opening is formed beforehand by screen printing. Except for the above, an insulating layer is applied, or a photosensitive resin is used for the insulating layer, the insulating layer is laminated on the entire surface of the substrate, and then exposed and developed to remove the resin in the via hole opening. Etc. are used.

【0016】本発明において、上記絶縁層と第2の配線
パターンとの密着性を向上させるために、該絶縁層の粗
面化処理を行ってもよい。該粗面化処理は、スラリー研
磨、バフ研磨、スクラブ研磨等の通常の物理的な研磨、
及び種々の化学的な粗面化処理、例えばメッキスルーホ
ールの形成の際に用いられているデスミア処理液である
クロム酸、過マンガン酸塩等を用いた粗面化処理が挙げ
られ、これら物理的な研磨、及び化学的な粗面化処理を
単独、または併用して行ってもよい。
In the present invention, in order to improve the adhesion between the insulating layer and the second wiring pattern, the insulating layer may be roughened. The surface-roughening treatment is a normal physical polishing such as slurry polishing, buff polishing, scrub polishing,
And various chemical surface-roughening treatments, for example, surface-roughening treatment using chromic acid, permanganate, etc., which are desmear treatment liquids used in forming plated through holes. Polishing and chemical surface roughening treatment may be performed alone or in combination.

【0017】続いて、絶縁層表面には無電解メッキ及び
電解メッキ法により、絶縁層を含む基板表面の全面にわ
たりメッキ層5が形成される。該メッキ層の材質は、
金、銀、銅、ニッケル、錫等の導電性金属が特に制限さ
れずに用いられるが、比較的安価に、且つ良好な導電性
を得る事ができることから、銅が一般的に用いられる。
Then, the plating layer 5 is formed on the entire surface of the substrate including the insulating layer by electroless plating and electrolytic plating on the surface of the insulating layer. The material of the plating layer is
Conductive metals such as gold, silver, copper, nickel and tin are used without particular limitation, but copper is generally used because it is possible to obtain good conductivity at a relatively low cost.

【0018】無電解メッキ及び電解メッキは、一般に用
いられる方法、例えば無電解メッキの場合には、予め基
板表面に触媒を吸着させた後、無電解メッキ浴に浸漬し
て行う方法、また電解メッキの場合には、電解メッキ浴
に基板を浸漬し、通電して金属を析出させる方法等が、
特に制限無く用いられる。
The electroless plating and the electroplating are generally used methods, for example, in the case of the electroless plating, the catalyst is previously adsorbed on the substrate surface and then immersed in the electroless plating bath, or the electroplating is performed. In the case of, a method of immersing the substrate in an electrolytic plating bath and energizing it to deposit a metal,
It is used without particular limitation.

【0019】上記各メッキ処理を行なった後のメッキ層
の厚みは、特に制限はされないが、通常50μm以下の
厚みで、好ましくは10μm〜40μm程度で行うのが
よい。
The thickness of the plated layer after each of the above plating treatments is not particularly limited, but it is usually 50 μm or less, preferably about 10 to 40 μm.

【0020】なお、上記各メッキ層の形成の前に、絶縁
層表面、及び第1の配線パターン表面の洗浄の目的で、
酸洗、超音波洗浄等の処理を行ってもよい。
Before the formation of each plating layer, for the purpose of cleaning the surface of the insulating layer and the surface of the first wiring pattern,
Treatments such as pickling and ultrasonic cleaning may be performed.

【0021】本発明において、電解によるメッキ層形成
後に加熱処理を行う事が特にが重要である。該加熱処理
を行う事により、メッキ層と絶縁層の間の密着性が向上
し、実用上、十分な密着性を得ることができる。上記加
熱処理は、絶縁層を構成する樹脂のガラス転移温度以上
の温度で行わなければ効果が期待できない。好ましく
は、加熱処理は該ガラス転移温度より15℃〜60℃程
度高い温度で行えばよい。加熱時間は、特に重要ではな
く、全体が均一な温度になる時間行えばよく、一般に2
0〜120分程度行えばよい。加熱時間が120分を越
える場合には、絶縁層の劣化、分解等によるメッキ層の
密着性の低下や、フクレが生じる場合がある。
In the present invention, it is particularly important to perform heat treatment after the plating layer is formed by electrolysis. By performing the heat treatment, the adhesion between the plating layer and the insulating layer is improved, and practically sufficient adhesion can be obtained. If the heat treatment is not performed at a temperature higher than the glass transition temperature of the resin forming the insulating layer, the effect cannot be expected. Preferably, the heat treatment may be performed at a temperature higher by 15 ° C. to 60 ° C. than the glass transition temperature. The heating time is not particularly important, and it is sufficient if the heating time is such that the entire temperature becomes uniform.
It may be performed for about 0 to 120 minutes. If the heating time exceeds 120 minutes, the adhesion of the plating layer may deteriorate due to deterioration or decomposition of the insulating layer, or blistering may occur.

【0022】続いて、上記絶縁層上のメッキ層をエッチ
ングして第2の配線パターンが形成される。上記エッチ
ング方法は、第1の配線パターンの形成の際と同様の方
法を採用すればよい。上記の第2の配線パターンは、信
号線、電源線、グラウンド線、電磁波シールド層等のパ
ターンに特に制限されずに用いられる。
Subsequently, the plated layer on the insulating layer is etched to form a second wiring pattern. As the etching method, the same method as in forming the first wiring pattern may be adopted. The above-mentioned second wiring pattern is used without particular limitation for patterns of signal lines, power lines, ground lines, electromagnetic wave shield layers, and the like.

【0023】また、本発明においては、第2の配線パタ
ーン上に同様にして、更に、絶縁層及び配線パターンを
順次積層することも可能である。但し、その場合には、
本発明の加熱処理は、最外層のメッキ層を形成した後に
一括して行うことができる。また、本発明の加熱処理
を、メッキ層をエッチングして配線パターンとした後に
行ってもよい。
Further, in the present invention, it is also possible to similarly laminate an insulating layer and a wiring pattern on the second wiring pattern in the same manner. However, in that case,
The heat treatment of the present invention can be collectively performed after forming the outermost plating layer. Further, the heat treatment of the present invention may be performed after etching the plated layer to form a wiring pattern.

【0024】以上本発明を図1に従って説明したが、本
発明は、回路基板のみならず、熱硬化性樹脂成形物表面
へのメッキに対して適用し得るものである。
Although the present invention has been described above with reference to FIG. 1, the present invention can be applied not only to the circuit board but also to plating on the surface of the thermosetting resin molded product.

【0025】[0025]

【効果】本発明の製造方法によれば、熱硬化性樹脂成形
物の基体表面に無電解メッキ及び電解メッキを施し、メ
ッキ層を形成した後、加熱処理を行うことによりメッキ
層と基体との密着性が向上する。しかしながら、無電解
メッキ後に加熱処理を行ない、その後電解メッキを行っ
た場合には、メッキ層の密着性は向上しない。
[Effect] According to the manufacturing method of the present invention, electroless plating and electroplating are performed on the surface of a base material of a thermosetting resin molded product to form a plating layer, and then heat treatment is performed to form a plating layer and a base material. Adhesion is improved. However, when the heat treatment is performed after the electroless plating and then the electrolytic plating is performed, the adhesion of the plating layer is not improved.

【0026】[0026]

【実施例】以下、本発明を具体的に説明するために実施
例を示すが、本発明はこれらの実施例に限定されるもの
ではない。
EXAMPLES Examples will be shown below for specifically explaining the present invention, but the present invention is not limited to these examples.

【0027】実施例1〜4、及び比較例1〜7 JIS C6481記載の引き剥し強度の測定用パター
ンを、下記の方法で作成し、引き剥し強度の測定を行っ
た。即ち、塩化第2銅エッチング液によるエッチングで
両面の銅箔を除去した、厚さ1.6mmのガラス基材エ
ポキシ樹脂積層板の表面に、硬化後のガラス転移温度が
135℃のエポキシ樹脂からなる絶縁レジスト(商品名
・日本ペイント(株)製「プロビコート5000」)を
スクリーン印刷法により全面に塗布し、乾燥、硬化を行
い、厚み20μmの絶縁層を形成した。次いで、320
番のバフロールを用いて研磨を行い、さらにアルカリ性
過マンガン酸カリウム水溶液よりなるデスミア液を用い
て絶縁層表面を全面にわたって粗面化した。次に、基板
表面に無電解メッキ、電解メッキを施し、厚み20μm
の銅メッキ層を形成した。無電解メッキは、パラジウム
触媒を用い、化学還元反応により銅を析出させる方法を
用い、電解メッキは硫酸銅溶液中、含リン銅を電極とし
て、電流密度2A/dm2 の条件で金属銅を電解析出さ
せる方法を用いた。次いで、熱風乾燥炉を用いて、表1
に示す条件で加熱処理を行った。加熱処理を行った後、
メッキ層をエッチングし、幅1.0cm、長さ10.0
cmの引き剥し強度測定用パターンを作成し、引き剥し
強度の測定を行った。引き剥し強度の測定結果を、表
1、及び図3、図4に示した。
Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 7 Peeling strength measurement patterns described in JIS C6481 were prepared by the following method, and the peeling strength was measured. That is, the surface of a 1.6 mm-thick glass base epoxy resin laminate obtained by removing the copper foils on both sides by etching with a cupric chloride etching solution is made of an epoxy resin having a glass transition temperature of 135 ° C. after curing. An insulating resist (trade name, “Probicoat 5000” manufactured by Nippon Paint Co., Ltd.) was applied to the entire surface by a screen printing method, dried and cured to form an insulating layer having a thickness of 20 μm. Then 320
Polishing was performed using a No. Baffle, and the surface of the insulating layer was roughened over the entire surface using a desmear solution composed of an alkaline potassium permanganate aqueous solution. Next, the surface of the substrate is electroless plated and electrolytic plated to a thickness of 20 μm.
Copper plating layer was formed. The electroless plating uses a method of depositing copper by a chemical reduction reaction using a palladium catalyst. The electrolytic plating uses a copper sulfate-containing copper electrode as an electrode to electrolyze metallic copper at a current density of 2 A / dm 2. The method of analysis was used. Then, using a hot air drying oven, Table 1
The heat treatment was performed under the conditions shown in. After heat treatment,
Etching the plating layer, width 1.0cm, length 10.0
A peeling strength measurement pattern of cm was prepared, and the peeling strength was measured. The measurement results of the peeling strength are shown in Table 1 and FIGS. 3 and 4.

【0028】さらに、実施例2のサンプルについて、2
60℃の半田漕に5秒間浸漬する操作を1、3、5、1
0回繰り返し、引き剥し強度を測定した。結果を表2に
示した。
Further, regarding the sample of Example 2, 2
The operation of dipping in a solder bath at 60 ° C for 5 seconds is 1, 3, 5, 1
The peel strength was measured by repeating 0 times. The results are shown in Table 2.

【0029】比較例8 加熱処理を、無電解メッキ後に180℃、30分の条件
で行った後、酸洗、電解メッキを行った他は、実施例1
〜2、比較例1〜5と全く同じ条件でサンプルを作成
し、引き剥し強度を測定した。その結果、引き剥し強度
は0.49kgf/cmであり、加熱処理を行わなかっ
たもの(比較例1)と殆ど変わらなかった。結果は表1
に示す。
Comparative Example 8 Example 1 was repeated except that the heat treatment was performed at 180 ° C. for 30 minutes after electroless plating, followed by pickling and electrolytic plating.
-2, the sample was created on the completely same conditions as Comparative Examples 1-5, and the peeling strength was measured. As a result, the peeling strength was 0.49 kgf / cm, which was almost the same as that without heat treatment (Comparative Example 1). The results are shown in Table 1.
Shown in.

【0030】実施例6、比較例9 絶縁レジストを、硬化後のガラス転移温度が126℃の
フェノール樹脂からなる絶縁レジストとした他は、全て
実施例1と同じ条件で、引き剥し強度の測定用パターン
を作例し評価した。但し、メッキ後の加熱処理条件は、
150℃、30分(実施例6)、なし(比較例9)とし
た。結果を表1に示した。
Example 6 and Comparative Example 9 For measuring peel strength under the same conditions as in Example 1, except that the insulating resist was made of phenol resin having a glass transition temperature of 126 ° C. after curing. A pattern was created and evaluated. However, the heat treatment conditions after plating are
It was set to 150 ° C. for 30 minutes (Example 6) and none (Comparative Example 9). The results are shown in Table 1.

【0031】実施例7 以下の方法により、導電性を有する硬化体を与える硬化
性ペーストを調製し、図2に示した多層回路基板の製造
を実施した。尚、図中の符号は、図1と同じであり、6
はバイアホール内に充填された導体を表す。即ち、平均
粒径6.8μm、タップ密度2.99g/cm3 、比表
面積4200cm2 /gの樹枝状電解銅粉に、リノール
酸を銅粉表面に対し、0.25×10-5mmol/cm
2 の割合で配合し、窒素雰囲気下で15分間、乳鉢によ
り予備混合した。このようにして得た前処理銅粉を、ネ
オペンチルグリコールジグリシジルエーテル(エポキシ
当量=150)/ノボラック型フェノール樹脂(ヒドロ
キシ当量=105)=74/26(重量比)のバインダ
ー100重量部に対し、456重量部添加し、更に、2
−エチル−4−メチルイミダゾールを、バインダー10
0重量部に対し、2.8重量部添加した後、3本ロール
ミルで30分間混練して銅ペーストとした。
Example 7 A curable paste that gives a cured product having conductivity was prepared by the following method, and the multilayer circuit board shown in FIG. 2 was manufactured. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
Represents the conductor filled in the via hole. That is, dendritic electrolytic copper powder having an average particle size of 6.8 μm, tap density of 2.99 g / cm 3 , and specific surface area of 4200 cm 2 / g, and linoleic acid on the surface of the copper powder was 0.25 × 10 −5 mmol / cm
The ingredients were mixed in a ratio of 2 and premixed in a mortar for 15 minutes under a nitrogen atmosphere. The pretreated copper powder thus obtained was used with respect to 100 parts by weight of a binder of neopentyl glycol diglycidyl ether (epoxy equivalent = 150) / novolac type phenol resin (hydroxy equivalent = 105) = 74/26 (weight ratio). 456 parts by weight, and further 2
-Ethyl-4-methylimidazole, binder 10
After adding 2.8 parts by weight to 0 parts by weight, the mixture was kneaded with a three-roll mill for 30 minutes to obtain a copper paste.

【0032】続いて、両面に導電層を有する絶縁基板と
して、厚さ1.6mmのガラス基材エポキシ樹脂銅張り
積層板を使用して、直径0.4mmφの貫通孔をドリル
加工により設け、該貫通孔に硬化性導電物質として、上
記の方法で調製した銅ペーストをスクリーン印刷法によ
り充填した。該銅ペーストを電気炉にて80℃60分、
180℃60分の条件で硬化し、320番及び600番
のバフを順次使用して、硬化した銅ペーストの硬化体が
突出した面を研削し、該硬化体を含む導電層表面を平滑
化した。次いで、基板表面に電解メッキを施し、厚さ1
5μmの銅メッキ層を形成し、該メッキ層表面に、エッ
チングレジストとして水溶性ドライフィルムレジストを
ラミネートし、露光、現像してレジストパターンを形成
した。その後、エッチングを行い、エッチングレジスト
を剥離することによって第1の配線パターンを形成し
た。次いで、第1の配線パターン上に、絶縁層として、
エポキシ樹脂からなる感光性絶縁レジストをスクリーン
印刷法により全面に塗布し、乾燥した後、露光、現像し
て絶縁層にバイアホール用開口部を形成した後、加熱硬
化を行った。次に、絶縁層表面を320番のバフにより
研磨した後、アルカリ性過マンガン酸カリウム水溶液よ
りなるデスミア液を用いて絶縁層表面を全面にわたって
粗面化した。次いで、基板表面に無電解メッキ、電解メ
ッキを施し、厚み20μmの銅メッキ層を形成した。電
解メッキは電流密度2A/dm2 の条件で行った。メッ
キ層を形成した後、該基板を熱風乾燥炉で180℃、3
0分の条件で加熱処理し、次いでメッキ層をエッチング
して第2の配線パターンを形成した。
Subsequently, a 1.6 mm-thick glass-base epoxy resin copper-clad laminate is used as an insulating substrate having conductive layers on both sides, and a through hole having a diameter of 0.4 mmφ is formed by drilling. The through-hole was filled with the copper paste prepared by the above method as a curable conductive material by a screen printing method. The copper paste in an electric furnace at 80 ° C. for 60 minutes,
It was cured under the conditions of 180 ° C. for 60 minutes, and the buffs of No. 320 and No. 600 were sequentially used to grind the surface of the cured copper paste from which the cured body was projected to smooth the surface of the conductive layer containing the cured body. . Next, the surface of the substrate is electrolytically plated to a thickness of 1
A copper plating layer having a thickness of 5 μm was formed, and a water-soluble dry film resist as an etching resist was laminated on the surface of the plating layer, exposed and developed to form a resist pattern. Then, etching was performed and the etching resist was peeled off to form a first wiring pattern. Then, on the first wiring pattern, as an insulating layer,
A photosensitive insulating resist made of an epoxy resin was applied to the entire surface by a screen printing method, dried, exposed and developed to form an opening for via hole in the insulating layer, and then heat-cured. Next, the surface of the insulating layer was polished with a No. 320 buff, and then the entire surface of the insulating layer was roughened using a desmear solution composed of an alkaline potassium permanganate aqueous solution. Next, the substrate surface was subjected to electroless plating and electrolytic plating to form a copper plating layer having a thickness of 20 μm. The electrolytic plating was performed under the condition of current density of 2 A / dm 2 . After forming the plating layer, the substrate was heated in a hot air drying oven at 180 ° C. for 3 days.
Heat treatment was performed for 0 minutes, and then the plating layer was etched to form a second wiring pattern.

【0033】得られた多層回路基板の表裏に位置し、且
つ共通するスルーホールに接続する第2の配線パターン
間の抵抗を測定した結果、38mΩであった。また、J
ISC−5012の熱衝撃試験(−65℃×30分←→
125℃30分のサイクル)において、サイクル数50
0回経過後も、上記の多層回路基板の表裏に位置する第
2の配線パターン間の抵抗の上昇は見られず、また第2
の配線パターンと絶縁層との間の密着性は良好であっ
た。
The resistance between the second wiring patterns located on the front and back of the obtained multilayer circuit board and connected to the common through hole was measured and found to be 38 mΩ. Also, J
Thermal shock test of ISC-5012 (-65 ° C x 30 minutes ← →
50 cycles at 125 ° C for 30 minutes)
After the lapse of 0 times, no increase in the resistance between the second wiring patterns located on the front and back of the multilayer circuit board was observed, and
The adhesion between the wiring pattern and the insulating layer was good.

【0034】[0034]

【表1】 [Table 1]

【0035】[0035]

【表2】 [Table 2]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本発明の方法を適用した多層回路基板
の断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a multilayer circuit board to which the method of the present invention is applied.

【図2】図2は、本発明の方法を適用した多層回路基板
の断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a multilayer circuit board to which the method of the present invention has been applied.

【図3】図3は、実施例、及び比較例の評価結果を図示
したものである。
FIG. 3 illustrates the evaluation results of Examples and Comparative Examples.

【図4】図4は、実施例、及び比較例の評価結果を図示
したものである。
FIG. 4 illustrates the evaluation results of Examples and Comparative Examples.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁基板 2 第1の配線パターン 3 絶縁層 4 バイアホール用開口部 5 第2の配線パターン 6 硬化性導電物質 1 Insulating Substrate 2 First Wiring Pattern 3 Insulating Layer 4 Via Hole Opening 5 Second Wiring Pattern 6 Curable Conductive Material

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/22 Z 7511−4E 3/38 Z 7011−4E 3/46 E 6921−4E // B29K 101:10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI Technical display location H05K 3/22 Z 7511-4E 3/38 Z 7011-4E 3/46 E 6921-4E // B29K 101: 10

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 熱硬化性樹脂基体上に、無電解メッキ及
び電解メッキを順次施した後、該熱硬化性樹脂のガラス
転移温度乃至ガラス転移温度に70℃を加えた温度で加
熱処理を行う事を特徴とする熱硬化性樹脂のメッキ方
法。
1. A thermosetting resin substrate is sequentially subjected to electroless plating and electrolytic plating, and then heat treatment is performed at a glass transition temperature of the thermosetting resin or at a temperature obtained by adding 70 ° C. to the glass transition temperature. A thermosetting resin plating method characterized by the above.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004022815A1 (en) * 2002-09-09 2004-03-18 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Plated polyester resin article and method for production thereof
CN109203505A (en) * 2018-09-28 2019-01-15 嘉兴星环汽车零部件有限公司 A kind of production technology of automobile and motorcycle vibration absorber valve block
JPWO2022024226A1 (en) * 2020-07-28 2022-02-03

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004022815A1 (en) * 2002-09-09 2004-03-18 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Plated polyester resin article and method for production thereof
US7182995B2 (en) 2002-09-09 2007-02-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Plated-polyester article and production process thereof
KR101011913B1 (en) * 2002-09-09 2011-02-01 스미토모덴키고교가부시키가이샤 Plated polyester resin molded article and manufacturing method thereof
CN109203505A (en) * 2018-09-28 2019-01-15 嘉兴星环汽车零部件有限公司 A kind of production technology of automobile and motorcycle vibration absorber valve block
JPWO2022024226A1 (en) * 2020-07-28 2022-02-03
WO2022024226A1 (en) * 2020-07-28 2022-02-03 昭和電工マテリアルズ株式会社 Method for producing circuit board

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