JPH07159498A - 構成制御システム、構成制御ユニット、fpgaを構成する方法、及び接続ライン上に存在するデータを受け取る方法 - Google Patents
構成制御システム、構成制御ユニット、fpgaを構成する方法、及び接続ライン上に存在するデータを受け取る方法Info
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- JPH07159498A JPH07159498A JP5117781A JP11778193A JPH07159498A JP H07159498 A JPH07159498 A JP H07159498A JP 5117781 A JP5117781 A JP 5117781A JP 11778193 A JP11778193 A JP 11778193A JP H07159498 A JPH07159498 A JP H07159498A
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
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-
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 FPGAデバイスに必要な、全ての素子が適
切に製造されているかどうかを決定するためのデバイス
を試験する能率的な試験手順を提供し、所望の関数を実
行するための、セル間の接続をプログラムし、かつセル
をプログラムする能率的な手順をを提供する。 【構成】 構成を変更可能な論理セルと、構成を変更可
能な接続構造とを有するFPGA内にあって、前記構成
を変更可能な論理セルと前記接続構造との構成を制御
し、かつ前記接続構造内の接続ラインの信号の状態を読
み出すための、構成制御システムであって、他の構成制
御ユニット内のメモリ手段と連結された、シフトレジス
タとしてのメモリ手段と、各前記メモリ手段に対応する
接続ラインの信号をロードする手段とを各々備えた複数
の構成制御ユニット(CCU)を有する。
切に製造されているかどうかを決定するためのデバイス
を試験する能率的な試験手順を提供し、所望の関数を実
行するための、セル間の接続をプログラムし、かつセル
をプログラムする能率的な手順をを提供する。 【構成】 構成を変更可能な論理セルと、構成を変更可
能な接続構造とを有するFPGA内にあって、前記構成
を変更可能な論理セルと前記接続構造との構成を制御
し、かつ前記接続構造内の接続ラインの信号の状態を読
み出すための、構成制御システムであって、他の構成制
御ユニット内のメモリ手段と連結された、シフトレジス
タとしてのメモリ手段と、各前記メモリ手段に対応する
接続ラインの信号をロードする手段とを各々備えた複数
の構成制御ユニット(CCU)を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路半導体チップ
上に形成されたプログラマブル論理デバイスに関し、特
に、プログラマブルゲートアレイの一部である論理セル
に関する。
上に形成されたプログラマブル論理デバイスに関し、特
に、プログラマブルゲートアレイの一部である論理セル
に関する。
【0002】
【従来の技術】プログラマブルデバイスは、幾つかの異
なったアーキテクチャで今日では利用可能である。初期
のプログラマブルデバイスは、第2の複数のORゲート
にプログラム可能に連結された、複数のANDゲートを
有する。任意の組合せ論理関数は、積の和として表すこ
とができ、積はANDアレイ内で生み出され、和はOR
アレイ内で生み出されるので、これらのデバイスは、任
意の組合せ論理関数を生み出すことができる。これらの
2値論理デバイス(ANDレベルとORレベル)は、プ
ログラムが容易で、かつ出力を生み出すための時間遅れ
を予想することが容易である。しかし、複雑な論理関数
を計算するためのシリコン領域が必要とされる。
なったアーキテクチャで今日では利用可能である。初期
のプログラマブルデバイスは、第2の複数のORゲート
にプログラム可能に連結された、複数のANDゲートを
有する。任意の組合せ論理関数は、積の和として表すこ
とができ、積はANDアレイ内で生み出され、和はOR
アレイ内で生み出されるので、これらのデバイスは、任
意の組合せ論理関数を生み出すことができる。これらの
2値論理デバイス(ANDレベルとORレベル)は、プ
ログラムが容易で、かつ出力を生み出すための時間遅れ
を予想することが容易である。しかし、複雑な論理関数
を計算するためのシリコン領域が必要とされる。
【0003】より最近では、フィールドプログラマブル
ゲートアレイまたはFPGAと呼ばれるプログラマブル
論理デバイスが開発されてきた。これらのデバイスは、
複雑な論理関数を生み出すべく、プログラマブル接続ラ
インによって、接続されるプログラマブル論理セルのア
レイを有する。FPGAデバイスでは、任意のある論理
セルの出力を任意の他の論理セルの出力に供給すること
が可能であり、それによって、多値論理を有する関数を
生み出す鎖(chain)を形成することが可能となるの
で、関数は、2値論理の積の和として計算される必要は
ない。即ち、より狭い基板面積内で複雑な論理を実施す
ることが可能である。
ゲートアレイまたはFPGAと呼ばれるプログラマブル
論理デバイスが開発されてきた。これらのデバイスは、
複雑な論理関数を生み出すべく、プログラマブル接続ラ
インによって、接続されるプログラマブル論理セルのア
レイを有する。FPGAデバイスでは、任意のある論理
セルの出力を任意の他の論理セルの出力に供給すること
が可能であり、それによって、多値論理を有する関数を
生み出す鎖(chain)を形成することが可能となるの
で、関数は、2値論理の積の和として計算される必要は
ない。即ち、より狭い基板面積内で複雑な論理を実施す
ることが可能である。
【0004】今日では、これらフィールドプログラマブ
ル論理デバイスの幾つかのアーキテクチャが利用可能で
ある。種々のデバイスは、単一の論理セルの複雑さが異
なる。ある製造業者は、図1に示されたような、非常に
小型の(細かいアーキテクチャの)論理セルを有するデ
バイスを提供する。他の製造業者は、図2に示されたよ
うな非常に大型で、単一の論理ブロック内のより大きな
関数を取り扱う(粗いアーキテクチャの)論理セルを有
するデバイスを提供する。
ル論理デバイスの幾つかのアーキテクチャが利用可能で
ある。種々のデバイスは、単一の論理セルの複雑さが異
なる。ある製造業者は、図1に示されたような、非常に
小型の(細かいアーキテクチャの)論理セルを有するデ
バイスを提供する。他の製造業者は、図2に示されたよ
うな非常に大型で、単一の論理ブロック内のより大きな
関数を取り扱う(粗いアーキテクチャの)論理セルを有
するデバイスを提供する。
【0005】図1に示されたような小型の論理セルは、
ユーザの論理によって完全に満たすことができる利点を
有し、従ってセル内に未使用の論理資源を残さない。複
数の小型の論理セルから組合せ関数及び順次関数の何れ
をも生み出すことができる。しかし、小型の論理セルに
よって組み立てられた細かいアーキテクチャでは、複雑
な論理関数を生み出すために、多くの論理セルを必要と
する。複数の論理セルを利用しなければならない関数
は、関数を生み出すためのプログラマブル接続ラインを
用いなければならない。信号パスが抵抗性のプログラマ
ブル素子を通るとき、抵抗性及び容量性のプログラマブ
ル接続ラインに関する時間遅れが、順次関数の応答を低
下させる。
ユーザの論理によって完全に満たすことができる利点を
有し、従ってセル内に未使用の論理資源を残さない。複
数の小型の論理セルから組合せ関数及び順次関数の何れ
をも生み出すことができる。しかし、小型の論理セルに
よって組み立てられた細かいアーキテクチャでは、複雑
な論理関数を生み出すために、多くの論理セルを必要と
する。複数の論理セルを利用しなければならない関数
は、関数を生み出すためのプログラマブル接続ラインを
用いなければならない。信号パスが抵抗性のプログラマ
ブル素子を通るとき、抵抗性及び容量性のプログラマブ
ル接続ラインに関する時間遅れが、順次関数の応答を低
下させる。
【0006】より大型の(粗い)論理デバイスは、単一
の論理ブロック内に、迅速に、複雑な関数を生み出すこ
とができる。しかし、もし、ユーザが、かなり大型の論
理セルの全体を利用しない関数の集合を指定したなら
ば、論理セルの一部が未使用になる。さらに、かなり大
きな論理セルの幾つかが、組合せ関数を生み出すため、
及び順次関数を生み出すための分離した資源を含む。図
2のセルは、そのようなセルである。
の論理ブロック内に、迅速に、複雑な関数を生み出すこ
とができる。しかし、もし、ユーザが、かなり大型の論
理セルの全体を利用しない関数の集合を指定したなら
ば、論理セルの一部が未使用になる。さらに、かなり大
きな論理セルの幾つかが、組合せ関数を生み出すため、
及び順次関数を生み出すための分離した資源を含む。図
2のセルは、そのようなセルである。
【0007】図2のセルは、データの入力及び出力のた
めのラインAからDと、特定の方法で、データ信号に応
答するセルを構成するためのラインC1からCnを含
む。これらの構成信号C1からCnは、メモリセルに記
憶されても良く、かつ所望の構成を保つために保持され
ても良い。
めのラインAからDと、特定の方法で、データ信号に応
答するセルを構成するためのラインC1からCnを含
む。これらの構成信号C1からCnは、メモリセルに記
憶されても良く、かつ所望の構成を保つために保持され
ても良い。
【0008】図1及び図2に示されたようなFPGAデ
バイスには、全ての素子が適切に製造されているかどう
かを決定するために、デバイスを試験する必要がある。
それらのデバイスは高度に集積化され、多くの繰り返し
構造を有するので、能率的な試験手順を用いることが必
要である。所望の関数を実行するために、セル間の接続
をプログラムし、かつセルをプログラムする能率的な手
順もまた必要である。
バイスには、全ての素子が適切に製造されているかどう
かを決定するために、デバイスを試験する必要がある。
それらのデバイスは高度に集積化され、多くの繰り返し
構造を有するので、能率的な試験手順を用いることが必
要である。所望の関数を実行するために、セル間の接続
をプログラムし、かつセルをプログラムする能率的な手
順もまた必要である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、FP
GAデバイスに必要な、全ての素子が適切に製造されて
いるかどうかを決定するためのデバイスを試験する能率
的な試験手順を提供し、所望の関数を実行するための、
セル間の接続をプログラムし、かつセルをプログラムす
る能率的な手順を提供することである。
GAデバイスに必要な、全ての素子が適切に製造されて
いるかどうかを決定するためのデバイスを試験する能率
的な試験手順を提供し、所望の関数を実行するための、
セル間の接続をプログラムし、かつセルをプログラムす
る能率的な手順を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述の目的は、構成を変
更可能な論理セルと、構成を変更可能な接続構造とを有
するFPGA内にあって、前記構成を変更可能な論理セ
ルと前記接続構造との構成を制御し、かつ前記接続構造
内の接続ラインの信号の状態を読み出すための、構成制
御システムであって、他の構成制御ユニット内のメモリ
手段と連結された、シフトレジスタとしてのメモリ手段
(INV1、INV2)と、各前記メモリ手段に対応す
る接続ラインの信号をロードする手段とを各々備えた複
数の構成制御ユニット(CCU)を有することを特徴と
する構成制御システムを提供することによって達成され
る。
更可能な論理セルと、構成を変更可能な接続構造とを有
するFPGA内にあって、前記構成を変更可能な論理セ
ルと前記接続構造との構成を制御し、かつ前記接続構造
内の接続ラインの信号の状態を読み出すための、構成制
御システムであって、他の構成制御ユニット内のメモリ
手段と連結された、シフトレジスタとしてのメモリ手段
(INV1、INV2)と、各前記メモリ手段に対応す
る接続ラインの信号をロードする手段とを各々備えた複
数の構成制御ユニット(CCU)を有することを特徴と
する構成制御システムを提供することによって達成され
る。
【0011】
【作用】本発明は、プログラマブル論理セル及びプログ
ラマブル接続アレイを有するFPGAデバイス内で使用
される。論理セルが、メモリセルによって制御されたト
ランジスタを用いてプログラムされ、接続構造がアンチ
ヒューズ(antifuses)を用いてプログラムされる、好
適実施例では、本発明の構成制御ユニット(CCU)
は、3つの関数を実行することができる。
ラマブル接続アレイを有するFPGAデバイス内で使用
される。論理セルが、メモリセルによって制御されたト
ランジスタを用いてプログラムされ、接続構造がアンチ
ヒューズ(antifuses)を用いてプログラムされる、好
適実施例では、本発明の構成制御ユニット(CCU)
は、3つの関数を実行することができる。
【0012】1)接続アンチヒューズの端子にプログラ
ミング電圧を印加すること。 2)論理セルを構成すること。 3)接続構造の信号の状態を読み取ること。
ミング電圧を印加すること。 2)論理セルを構成すること。 3)接続構造の信号の状態を読み取ること。
【0013】これらの3つの関数は、FPGAの耐用期
間の内の異なるときに実行される。便利な隔離手段が、
競合を起こすことなく、CCUによって全ての3つの関
数が取り扱われることを可能にする。
間の内の異なるときに実行される。便利な隔離手段が、
競合を起こすことなく、CCUによって全ての3つの関
数が取り扱われることを可能にする。
【0014】複数のCCUは、シフトレジスタに接続さ
れている。各CCUは、水平接続ラインまたは垂直接続
ラインに接続されている。これらの接続ラインの交差部
にはアンチヒューズが存在する。1つの水平CCUと1
つの垂直CCUとに論理1をロードすることによって、
2つの接続ラインの交差部のアンチヒューズをアドレス
指定することができる。そして、アンチヒューズをプロ
グラムするために、そのアンチヒューズの2つの端子に
電位差が加えられる。これらの論理1は、アンチヒュー
ズをプログラムするために、複数のCCU内に存在する
が、これらの同じ複数のCCUによって構成された論理
セルは、全て高インピーダンス出力状態に保持され、接
続されている接続ラインからは隔離されている。接続構
造内のアンチヒューズがプログラムされた後、CCU
は、所望の関数をセルに実行させるために、構造情報を
ロードされる。この段階で、接続構造にアンチヒューズ
プログラミング電圧を印加する手段は、接続構造から電
気的に隔離されているので、接続ライン上の信号は、先
行して接続されたアンチヒューズ及び論理セル出力信号
によって決定されたように、論理セル出力によって制御
される。以下に説明されるステップの順序は、構造情報
を保持しているCCUが、論理セルによって接続ライン
上に配置されたデータを受け取り、シフトレジスタを通
してデータをシフトアウトし、かつ構造情報を再びロー
ドされることを可能にする。接続ライン上に存在するデ
ータを破壊することを回避するために、セルの出力を高
インピーダンス状態にすることは、接続データをCCU
に読み取ることと注意深く調和的に働かされなければな
らない。
れている。各CCUは、水平接続ラインまたは垂直接続
ラインに接続されている。これらの接続ラインの交差部
にはアンチヒューズが存在する。1つの水平CCUと1
つの垂直CCUとに論理1をロードすることによって、
2つの接続ラインの交差部のアンチヒューズをアドレス
指定することができる。そして、アンチヒューズをプロ
グラムするために、そのアンチヒューズの2つの端子に
電位差が加えられる。これらの論理1は、アンチヒュー
ズをプログラムするために、複数のCCU内に存在する
が、これらの同じ複数のCCUによって構成された論理
セルは、全て高インピーダンス出力状態に保持され、接
続されている接続ラインからは隔離されている。接続構
造内のアンチヒューズがプログラムされた後、CCU
は、所望の関数をセルに実行させるために、構造情報を
ロードされる。この段階で、接続構造にアンチヒューズ
プログラミング電圧を印加する手段は、接続構造から電
気的に隔離されているので、接続ライン上の信号は、先
行して接続されたアンチヒューズ及び論理セル出力信号
によって決定されたように、論理セル出力によって制御
される。以下に説明されるステップの順序は、構造情報
を保持しているCCUが、論理セルによって接続ライン
上に配置されたデータを受け取り、シフトレジスタを通
してデータをシフトアウトし、かつ構造情報を再びロー
ドされることを可能にする。接続ライン上に存在するデ
ータを破壊することを回避するために、セルの出力を高
インピーダンス状態にすることは、接続データをCCU
に読み取ることと注意深く調和的に働かされなければな
らない。
【0015】水平CCU及び垂直CCUをアドレス指定
し、かつ対応する水平ライン及び垂直ラインに電圧を印
加する、2つの論理1は、CCUのシフトレジスタを通
してシフトされる。プログラミング電圧がデバイスに印
加されたとき、そのプログラミング電圧は、アドレス指
定された端子にあらわれ、かつアドレス指定されたアン
チヒューズをプログラムさせる。
し、かつ対応する水平ライン及び垂直ラインに電圧を印
加する、2つの論理1は、CCUのシフトレジスタを通
してシフトされる。プログラミング電圧がデバイスに印
加されたとき、そのプログラミング電圧は、アドレス指
定された端子にあらわれ、かつアドレス指定されたアン
チヒューズをプログラムさせる。
【0016】アンチヒューズの全てまたは一部がプログ
ラムされた後、論理セルの構造を生み出すべく、構造情
報がCCU内にシフトされる。これらのCCUは、各接
続ラインの論理状態を受け取るために用いることがで
き、各CCUは、そのCCUが接続されている接続ライ
ン上に存在する信号を受け取る。そして、受け取られた
データは、最初に構造情報をCCU内にシフトさせたシ
フトレジスタを通して、シフトアウトされる。接続ライ
ン状態は、アレイを試験するため、または設計をデバッ
クするために用いることができる。
ラムされた後、論理セルの構造を生み出すべく、構造情
報がCCU内にシフトされる。これらのCCUは、各接
続ラインの論理状態を受け取るために用いることがで
き、各CCUは、そのCCUが接続されている接続ライ
ン上に存在する信号を受け取る。そして、受け取られた
データは、最初に構造情報をCCU内にシフトさせたシ
フトレジスタを通して、シフトアウトされる。接続ライ
ン状態は、アレイを試験するため、または設計をデバッ
クするために用いることができる。
【0017】
【実施例】図3の論理セルは、7つの主な部分、即ち、
(1)プログラマブル入力インバータステージ300、
(2)カスケードイン第1組合せステージ310、
(3)フィードバック第1組合せステージ320、
(4)第2組合せステージ330、(5)出力ドライバ
ステージ340、(6)選択的グローバルリセット回路
350、及び(7)セルの構成を制御するための構成制
御ユニットCCU1からCCU7の集合を有する。
(1)プログラマブル入力インバータステージ300、
(2)カスケードイン第1組合せステージ310、
(3)フィードバック第1組合せステージ320、
(4)第2組合せステージ330、(5)出力ドライバ
ステージ340、(6)選択的グローバルリセット回路
350、及び(7)セルの構成を制御するための構成制
御ユニットCCU1からCCU7の集合を有する。
【0018】入力インバータステージ300は、4つの
入力バッファ300から304を有し、各入力バッファ
は、ユーザによって選択された通りに、反転または非反
転の何れかであってよい。入力毎に任意のインバータを
備えることによって、出力でのインバータを省くことが
でき、即ち組合せ論理資源は、単に信号を反転させる目
的のためにだけ用いられる必要はない。カスケードイン
第1組合せステージ310は、3入力NANDゲート3
11と、2入力ORゲート312とを有する。ORゲー
ト312は、カスケードイネーブル制御入力313と、
隣接するセルからのカスケード入力314とを受け取
る。ORゲート312は、NANDゲート311への入
力を提供する。選択的反転入力バッファ301及び30
2からの出力もまた、NANDゲート311への入力と
して提供される。
入力バッファ300から304を有し、各入力バッファ
は、ユーザによって選択された通りに、反転または非反
転の何れかであってよい。入力毎に任意のインバータを
備えることによって、出力でのインバータを省くことが
でき、即ち組合せ論理資源は、単に信号を反転させる目
的のためにだけ用いられる必要はない。カスケードイン
第1組合せステージ310は、3入力NANDゲート3
11と、2入力ORゲート312とを有する。ORゲー
ト312は、カスケードイネーブル制御入力313と、
隣接するセルからのカスケード入力314とを受け取
る。ORゲート312は、NANDゲート311への入
力を提供する。選択的反転入力バッファ301及び30
2からの出力もまた、NANDゲート311への入力と
して提供される。
【0019】フィードバック第1組合せステージ320
もまた、選択的反転入力バッファ303及び304から
の出力信号を受け取る3入力NANDゲート321を有
する。NANDゲート321は更に、一方の入力端子に
フィードバック信号332を受け取り、他方の入力端子
にフィードバックイネーブル制御入力323を受け取る
ORゲート322からの入力を受け取る。
もまた、選択的反転入力バッファ303及び304から
の出力信号を受け取る3入力NANDゲート321を有
する。NANDゲート321は更に、一方の入力端子に
フィードバック信号332を受け取り、他方の入力端子
にフィードバックイネーブル制御入力323を受け取る
ORゲート322からの入力を受け取る。
【0020】第2組合せステージ330は、カスケード
組合せステージ310及び320からの出力のNAND
関数またはNOR関数を提供するようにプログラムされ
ることができる。第2組合せステージ330は、ORゲ
ート322によってゲート321へフィードバックされ
る出力信号332を提供し、出力信号332は更に、隣
接するセルへのカスコードIN信号となるカスコードO
UT信号として提供され、かつ出力信号332が接続構
造上で駆動され、かつ他のセルへの入力として用いられ
る出力ドライバステージ340へ提供される。
組合せステージ310及び320からの出力のNAND
関数またはNOR関数を提供するようにプログラムされ
ることができる。第2組合せステージ330は、ORゲ
ート322によってゲート321へフィードバックされ
る出力信号332を提供し、出力信号332は更に、隣
接するセルへのカスコードIN信号となるカスコードO
UT信号として提供され、かつ出力信号332が接続構
造上で駆動され、かつ他のセルへの入力として用いられ
る出力ドライバステージ340へ提供される。
【0021】出力ドライバステージ340は、図3で接
続ラインI1及びI2で表されている接続構造上の出力
信号を駆動するのに充分な強さのバッファ341を含
む。セル出力から接続ラインまでの接続は、接続ライン
に高インピーダンスを提供する手段349を含む。接続
ラインは、バスとして働き、複数の信号源から交互に信
号を受け取り、それは、大型の回路には共通な構造であ
る。ある実施例では、第2手段ISOBが接続ラインへ
高インピーダンスを提供する。
続ラインI1及びI2で表されている接続構造上の出力
信号を駆動するのに充分な強さのバッファ341を含
む。セル出力から接続ラインまでの接続は、接続ライン
に高インピーダンスを提供する手段349を含む。接続
ラインは、バスとして働き、複数の信号源から交互に信
号を受け取り、それは、大型の回路には共通な構造であ
る。ある実施例では、第2手段ISOBが接続ラインへ
高インピーダンスを提供する。
【0022】グローバルリセット回路350は、セルが
ラッチまたはフリップフロップとして用いられるとき、
セルをリセットすることを可能にする。回路350は、
グローバルリセット信号に応答して、第2組合せステー
ジ330の出力332を論理低にするための手段を含
む。アレイ内でラッチまたはフリップフロップとして用
いられる回路のみをリセットすることが必要である。即
ち、フィードバックステージ320がラッチとして構成
されていて、かつセルがラッチを行い、データを受け取
るモードではない、クロックサイクルの一部のみで、回
路350がリセット電圧を提供する。回路350は、活
動停止時には最小の静電容量を加え、アレイをリセット
するときには、最小の電力を消費する。
ラッチまたはフリップフロップとして用いられるとき、
セルをリセットすることを可能にする。回路350は、
グローバルリセット信号に応答して、第2組合せステー
ジ330の出力332を論理低にするための手段を含
む。アレイ内でラッチまたはフリップフロップとして用
いられる回路のみをリセットすることが必要である。即
ち、フィードバックステージ320がラッチとして構成
されていて、かつセルがラッチを行い、データを受け取
るモードではない、クロックサイクルの一部のみで、回
路350がリセット電圧を提供する。回路350は、活
動停止時には最小の静電容量を加え、アレイをリセット
するときには、最小の電力を消費する。
【0023】構成制御ユニットCCU1からCCU7
は、3つの目的のために用いられる。第1の目的は、接
続構造内のアンチヒューズにプログラム電圧を印加する
ことである。第2の目的は、通常の動作の間にセルを構
成する構成情報を記憶することである。第3の目的は、
ユーザが接続ライン上の全ての信号の状態を受け取り、
ユーザが試験できるように、その状態をチップの外にシ
フトすることである。
は、3つの目的のために用いられる。第1の目的は、接
続構造内のアンチヒューズにプログラム電圧を印加する
ことである。第2の目的は、通常の動作の間にセルを構
成する構成情報を記憶することである。第3の目的は、
ユーザが接続ライン上の全ての信号の状態を受け取り、
ユーザが試験できるように、その状態をチップの外にシ
フトすることである。
【0024】図4に示すように、図3のセルは好ましく
は、複数のCCUを有する9番目のセルCELL9を伴
った、8個のセルCELL1からCELL8のブロック
に分類されている。ブロックの9個のセルは、ユーザに
よって所望された回路設計を実施するべくセルを相互に
接続するためにプログラムされるアンチヒューズ接続構
造(アンチヒューズは黒い点で表されている。)に結合
されている。4個のセルブロックが図4に示されてい
る。典型的な集積回路アレイは、図4に示されたような
セルブロックを100個から1000個と、周辺入出力
回路と、クロック発振器と、普通はセルの周辺に沿って
配置されている他の必要最小限の回路とを有する。各セ
ルCELL1からCELL8で実施される論理は、以下
に説明するように、CCUによって制御される。
は、複数のCCUを有する9番目のセルCELL9を伴
った、8個のセルCELL1からCELL8のブロック
に分類されている。ブロックの9個のセルは、ユーザに
よって所望された回路設計を実施するべくセルを相互に
接続するためにプログラムされるアンチヒューズ接続構
造(アンチヒューズは黒い点で表されている。)に結合
されている。4個のセルブロックが図4に示されてい
る。典型的な集積回路アレイは、図4に示されたような
セルブロックを100個から1000個と、周辺入出力
回路と、クロック発振器と、普通はセルの周辺に沿って
配置されている他の必要最小限の回路とを有する。各セ
ルCELL1からCELL8で実施される論理は、以下
に説明するように、CCUによって制御される。
【0025】図5Bから図10に各々示された、図5A
から図9の回路の実施例 図5Aから図7Aは、図3の単一のセルで実施可能な関
数を示している。図5Bから図7Bは、各関数を実施す
るべく図3のセルに加えられる制御構造ビットを示す。
図3のセルを通る信号パスをたどることによって、図3
のセル内で実施された何れの関数も、アンチヒューズま
たは他の接続構造手段を通る信号パスを使用していない
ことが分かる。即ち、セルはこれらの関数の第1の実施
例を提供する。
から図9の回路の実施例 図5Aから図7Aは、図3の単一のセルで実施可能な関
数を示している。図5Bから図7Bは、各関数を実施す
るべく図3のセルに加えられる制御構造ビットを示す。
図3のセルを通る信号パスをたどることによって、図3
のセル内で実施された何れの関数も、アンチヒューズま
たは他の接続構造手段を通る信号パスを使用していない
ことが分かる。即ち、セルはこれらの関数の第1の実施
例を提供する。
【0026】例えば、図5Aは、2個の入力IN0及び
IN1と、選択入力SELとを有する2入力マルチプレ
クサを示す。図5Bは、この2入力マルチプレクサの実
施例を示す。入力IN0はラインA1に加えられ、入力
IN1はラインA4に加えられる。選択入力SELは入
力A2及びA3に加えられる。構造制御ユニットCCU
3を制御するメモリセル内に記憶された論理0は、任意
のインバータ301を非反転にする。(構造制御ユニッ
トは、以下により詳しく説明される。)即ち、IN0の
値は、任意のインバータ301によって、NANDゲー
ト311のB入力に提供される。構造制御ユニットCC
U4を制御するメモリセル内に記憶された論理1は、任
意のインバータ302にラインA2上のSEL選択信号
を反転させ、NANDゲート311のA入力に反転信号
を加えさせる。任意のインバータ303を制御する論理
0は、SEL信号をNANDゲート321のA入力に加
えさせる。最後に、インバータ304を制御する論理0
の信号は、入力IN1を反転させずにNANDゲート3
21のB入力へ通過させる。
IN1と、選択入力SELとを有する2入力マルチプレ
クサを示す。図5Bは、この2入力マルチプレクサの実
施例を示す。入力IN0はラインA1に加えられ、入力
IN1はラインA4に加えられる。選択入力SELは入
力A2及びA3に加えられる。構造制御ユニットCCU
3を制御するメモリセル内に記憶された論理0は、任意
のインバータ301を非反転にする。(構造制御ユニッ
トは、以下により詳しく説明される。)即ち、IN0の
値は、任意のインバータ301によって、NANDゲー
ト311のB入力に提供される。構造制御ユニットCC
U4を制御するメモリセル内に記憶された論理1は、任
意のインバータ302にラインA2上のSEL選択信号
を反転させ、NANDゲート311のA入力に反転信号
を加えさせる。任意のインバータ303を制御する論理
0は、SEL信号をNANDゲート321のA入力に加
えさせる。最後に、インバータ304を制御する論理0
の信号は、入力IN1を反転させずにNANDゲート3
21のB入力へ通過させる。
【0027】CCU1、CCU2、及びCCU7によっ
て表される3個の更なるメモリセルが、本発明のセルを
制御する。CCU2の論理0は、ORゲート312への
入力で反転され、ORゲート312が、ライン314上
の信号の値にかかわらず、NANDゲート311へ論理
高の信号を加えることになる。即ち、NANDゲート3
11は、図5Aに示すように、2入力NANDゲートと
論理的に等価な回路として構成される。CCU7の論理
0は、NANDゲート321への入力で反転され、フィ
ードバックループを禁止状態にし、NANDゲート32
1は図5Aに示すような2入力NANDゲートとして動
作する。反転入力を有するNANDゲートは、ORゲー
トに等価であるというド・モルガンの定理によれば、N
ANDゲート330と組み合わせられたNANDゲート
311及び321は、図5Aに示されたNANDゲート
とORゲートとを形成する。即ち、図5Bに示すように
構成された図3の回路は、図5Aのマルチプレクサを実
施する。等価回路は、図5Bの回路に対応する符号を付
されて、図5Cに示されている。
て表される3個の更なるメモリセルが、本発明のセルを
制御する。CCU2の論理0は、ORゲート312への
入力で反転され、ORゲート312が、ライン314上
の信号の値にかかわらず、NANDゲート311へ論理
高の信号を加えることになる。即ち、NANDゲート3
11は、図5Aに示すように、2入力NANDゲートと
論理的に等価な回路として構成される。CCU7の論理
0は、NANDゲート321への入力で反転され、フィ
ードバックループを禁止状態にし、NANDゲート32
1は図5Aに示すような2入力NANDゲートとして動
作する。反転入力を有するNANDゲートは、ORゲー
トに等価であるというド・モルガンの定理によれば、N
ANDゲート330と組み合わせられたNANDゲート
311及び321は、図5Aに示されたNANDゲート
とORゲートとを形成する。即ち、図5Bに示すように
構成された図3の回路は、図5Aのマルチプレクサを実
施する。等価回路は、図5Bの回路に対応する符号を付
されて、図5Cに示されている。
【0028】セット/リセットラッチ 図6Aは、図3のセルを用いて、図6Bに示すように実
施できる、セット/リセットラッチである。
施できる、セット/リセットラッチである。
【0029】4入力ANDゲート 図7A及び図7Bは1つの反転入力を伴った4入力AN
Dゲートと、図3のセルを用いたその実施例とを示して
いる。第2の組合せステージ330は、CCU1からの
論理0によってNORゲートとして構成されていること
に注目されたい。2個の反転入力(NANDゲート31
1と321との反転出力)によって、第2の組合せステ
ージは、AND関数を提供する。図7Aの例では、A2
入力が反転されている。従って、CCU4の論理1は、
任意のインバータ302をインバータとして働かせる。
明らかに、反転入力の任意の組合せが選択可能である。
図7Bの回路に対応する符号を付されて、等価回路が図
7Cに示されている。
Dゲートと、図3のセルを用いたその実施例とを示して
いる。第2の組合せステージ330は、CCU1からの
論理0によってNORゲートとして構成されていること
に注目されたい。2個の反転入力(NANDゲート31
1と321との反転出力)によって、第2の組合せステ
ージは、AND関数を提供する。図7Aの例では、A2
入力が反転されている。従って、CCU4の論理1は、
任意のインバータ302をインバータとして働かせる。
明らかに、反転入力の任意の組合せが選択可能である。
図7Bの回路に対応する符号を付されて、等価回路が図
7Cに示されている。
【0030】カスケード接続された図8A及び図8Bの
多入力AND関数の例 図8Aは、反転入力A2、A3、A6、及びA8を伴っ
た8入力ANDゲートを示す。図8Bに示すように、こ
の8入力ANDゲートは、カスケード接続された、図3
の2個のセルを用いて実施されている。ユーザは、より
多数の入力の関数を形成するために、3個以上の隣接す
るセルをカスケード接続することができる。ラインA1
からA8が8個の入力を提供し、一方AND関数は、X
出力として提供される。カスケード入力制御ユニットC
CU2aの論理0は、セル7aにライン314a上の信
号を無視させる。任意のインバータ301aは、CCU
3の論理0によって、A1の反転されない信号を提供す
ることになる。任意のインバータ302aは、CCU4
a内の論理1によって、信号A2を反転することにな
る。CCU5a、CCU4b、及びCCU6bの論理1
もまた、信号A3、A6、及びA8を反転させる。フィ
ードバック制御ユニットCCU7aは、論理1を提供
し、320aがQ出力信号332aを無視する。制御ユ
ニットCCU1aからの論理0の制御信号は、第2組合
せステージ330aに、ステージ310aと320aと
のNOR関数を提供させる。即ち、ド・モルガンの定理
によれば、ライン332a上の出力信号は、A1からA
4のAND関数である。構成制御ユニットCCU2b
は、論理1を有し、セル7aからのカスケード出力信号
332aを、セル7bのカスケードユニット310bへ
の入力Bとして提供させる。即ち、カスケードユニット
310bは、3個の入力A5、A6、及びセル7aのA
ND出力のNAND関数を提供する。重要なことはセル
7aのAND出力は、何れのプログラマブル接続部をも
通過せずに、カスケードユニット310bの入力に到達
することである。即ち、このカスケード接続は、接続資
源を節約するばかりでなく、遅れをも減少する。セル7
bもまた、CCU1bとCCU7bとに論理0を有す
る。結果として、セル7bの出力Bには、8個の入力A
1からA8のAND関数であり、次式で表される。
多入力AND関数の例 図8Aは、反転入力A2、A3、A6、及びA8を伴っ
た8入力ANDゲートを示す。図8Bに示すように、こ
の8入力ANDゲートは、カスケード接続された、図3
の2個のセルを用いて実施されている。ユーザは、より
多数の入力の関数を形成するために、3個以上の隣接す
るセルをカスケード接続することができる。ラインA1
からA8が8個の入力を提供し、一方AND関数は、X
出力として提供される。カスケード入力制御ユニットC
CU2aの論理0は、セル7aにライン314a上の信
号を無視させる。任意のインバータ301aは、CCU
3の論理0によって、A1の反転されない信号を提供す
ることになる。任意のインバータ302aは、CCU4
a内の論理1によって、信号A2を反転することにな
る。CCU5a、CCU4b、及びCCU6bの論理1
もまた、信号A3、A6、及びA8を反転させる。フィ
ードバック制御ユニットCCU7aは、論理1を提供
し、320aがQ出力信号332aを無視する。制御ユ
ニットCCU1aからの論理0の制御信号は、第2組合
せステージ330aに、ステージ310aと320aと
のNOR関数を提供させる。即ち、ド・モルガンの定理
によれば、ライン332a上の出力信号は、A1からA
4のAND関数である。構成制御ユニットCCU2b
は、論理1を有し、セル7aからのカスケード出力信号
332aを、セル7bのカスケードユニット310bへ
の入力Bとして提供させる。即ち、カスケードユニット
310bは、3個の入力A5、A6、及びセル7aのA
ND出力のNAND関数を提供する。重要なことはセル
7aのAND出力は、何れのプログラマブル接続部をも
通過せずに、カスケードユニット310bの入力に到達
することである。即ち、このカスケード接続は、接続資
源を節約するばかりでなく、遅れをも減少する。セル7
bもまた、CCU1bとCCU7bとに論理0を有す
る。結果として、セル7bの出力Bには、8個の入力A
1からA8のAND関数であり、次式で表される。
【0031】
【数1】
【0032】出力ライン332aをカスケードインライ
ン314bに接続するカスケードパスが、出力バッファ
340aと入力バッファ300bとの遅れを回避する
が、図8bで実施されたような多入力ANDゲートを用
いるシステムの最大速度のためにもかかわらず、入力A
5〜A8に加えられる信号は、出力B2に到達する前に
2個のセルを通して処理される必要がないために、最小
の遅れを要求する信号を入力A5〜A8に加えることが
望ましい。図8Cは、図8Bの回路に対応する符号を付
された、等価回路を表している。
ン314bに接続するカスケードパスが、出力バッファ
340aと入力バッファ300bとの遅れを回避する
が、図8bで実施されたような多入力ANDゲートを用
いるシステムの最大速度のためにもかかわらず、入力A
5〜A8に加えられる信号は、出力B2に到達する前に
2個のセルを通して処理される必要がないために、最小
の遅れを要求する信号を入力A5〜A8に加えることが
望ましい。図8Cは、図8Bの回路に対応する符号を付
された、等価回路を表している。
【0033】図9〜図11のDフリップフロップの例 図9、図10、及び図11は、Dフリップフロップと、
図3のセルを用いたその実施例とを表わしている。この
フリップフロップは各々が破線7aまたは7bの一方で
示された、図3のセルを2個用いている。そのフリップ
フロップは、2個の単なるラッチをカスケード接続する
ことによって形成されている。図示された実施例は、図
3のセルの一組によって可能な幾つかの方法の内の1つ
にすぎない。図9AのD入力は、図9BのラインA1上
に提供される。図9Aのクロック入力CKは、ラインA
2、A3、A6及びA7上に提供され、バッファ302
a及び303bによって反転されるが、バッファ303
a及び302bによって反転されない。リセット入力R
はラインA4、A5、及びA8上に提供され、3個のバ
ッファ304a、301a、及び304bによって反転
される。両方のセルに於て、第2組み合わせステージ3
30a及び330bは、NANDゲートとして構成され
ている。カスケードイネーブルユニットCCU2bは、
論理1を有し、フリップフロップのマスータ部からのラ
イン332a上の出力信号がORゲート312bを通過
して、NANDゲート311bに到達することを可能に
する。フィードバック制御ユニットCCU7a及びCC
U7bからの論理1の信号は、内部フィードバックパス
を可能にする。即ち、図3の2個のセルから形成された
図10の回路は、図9のDフリップフロップを実施す
る。図11は、図10の回路に対応する符号を付された
等価回路を示す。
図3のセルを用いたその実施例とを表わしている。この
フリップフロップは各々が破線7aまたは7bの一方で
示された、図3のセルを2個用いている。そのフリップ
フロップは、2個の単なるラッチをカスケード接続する
ことによって形成されている。図示された実施例は、図
3のセルの一組によって可能な幾つかの方法の内の1つ
にすぎない。図9AのD入力は、図9BのラインA1上
に提供される。図9Aのクロック入力CKは、ラインA
2、A3、A6及びA7上に提供され、バッファ302
a及び303bによって反転されるが、バッファ303
a及び302bによって反転されない。リセット入力R
はラインA4、A5、及びA8上に提供され、3個のバ
ッファ304a、301a、及び304bによって反転
される。両方のセルに於て、第2組み合わせステージ3
30a及び330bは、NANDゲートとして構成され
ている。カスケードイネーブルユニットCCU2bは、
論理1を有し、フリップフロップのマスータ部からのラ
イン332a上の出力信号がORゲート312bを通過
して、NANDゲート311bに到達することを可能に
する。フィードバック制御ユニットCCU7a及びCC
U7bからの論理1の信号は、内部フィードバックパス
を可能にする。即ち、図3の2個のセルから形成された
図10の回路は、図9のDフリップフロップを実施す
る。図11は、図10の回路に対応する符号を付された
等価回路を示す。
【0034】構成制御ユニットの第1実施例 図12は、図3のセルと共に用いられるCCU1からC
CU7のような構成制御ユニットCCUを表わしてい
る。好適な実施例では、これらの構成制御ユニットは、
3つの目的にかなう。 (1)論理セルを構成するために構成情報を保持するこ
と。 (2)試験目的のために接続ラインの状態のデータを受
け取ること。 (3)接続構造内のアンチヒューズをプログラムするた
めにプログラミング電圧を印加すること。
CU7のような構成制御ユニットCCUを表わしてい
る。好適な実施例では、これらの構成制御ユニットは、
3つの目的にかなう。 (1)論理セルを構成するために構成情報を保持するこ
と。 (2)試験目的のために接続ラインの状態のデータを受
け取ること。 (3)接続構造内のアンチヒューズをプログラムするた
めにプログラミング電圧を印加すること。
【0035】図12のCCUのこれらの3つの使用につ
いてこれから説明をする。
いてこれから説明をする。
【0036】構成情報の保持 セルを構成するための情報を保持する、この第1の関数
は、図5Aから図11に関連してこれまでに説明され
た。多くの異なったセルの構成が、図3に表わされた特
定のCCUに適切な論理及び論理0を単に配置すること
によって、達成されることができる。
は、図5Aから図11に関連してこれまでに説明され
た。多くの異なったセルの構成が、図3に表わされた特
定のCCUに適切な論理及び論理0を単に配置すること
によって、達成されることができる。
【0037】第1の実施例では、図3のCCUは各々図
12に表わされたように形成されている。各CCUは、
論理高の信号PHI及びPHIHによって、トランジス
タ805及び806をターンオンし、かつ論理低の信号
PHIB及びPHICによって、トランジスタ801及
び802をターンオフすることによってラッチとして互
いに接続可能なインバータINV1及びINV2の一組
を有する。図12に表わされた各CCUの長い列は、あ
るCCUのD入力を他のCCUのQ出力に接続すること
によって、シフトレジスタとして接続される。
12に表わされたように形成されている。各CCUは、
論理高の信号PHI及びPHIHによって、トランジス
タ805及び806をターンオンし、かつ論理低の信号
PHIB及びPHICによって、トランジスタ801及
び802をターンオフすることによってラッチとして互
いに接続可能なインバータINV1及びINV2の一組
を有する。図12に表わされた各CCUの長い列は、あ
るCCUのD入力を他のCCUのQ出力に接続すること
によって、シフトレジスタとして接続される。
【0038】構成情報をデバイス内にシフトする 図3のセルをその一部とする集積回路チップ内に構成情
報をシフトするために、全てのCCUが論理0を保持し
ていることを確実にするために、チップは最初にフラッ
シュされる。シフトレジスト内の全てのトランジスタ8
01及び805に論理高の信号PHI及びPHIBを加
え、かつシフトレジスタの第1のセルの第1のD入力に
論理0を加えることによって、全てのシフトレジスタは
セットされ、全てのQ出力は論理0となり、全ての
報をシフトするために、全てのCCUが論理0を保持し
ていることを確実にするために、チップは最初にフラッ
シュされる。シフトレジスト内の全てのトランジスタ8
01及び805に論理高の信号PHI及びPHIBを加
え、かつシフトレジスタの第1のセルの第1のD入力に
論理0を加えることによって、全てのシフトレジスタは
セットされ、全てのQ出力は論理0となり、全ての
【0039】
【外1】
【0040】出力は論理1になる。次に、PHIBが論
理高になる毎に、第1のセルのD入力される新たな構成
ビットを伴なって、一連の構成ビットが、論理高の信号
PHIBとPHIとが重ならないようにして、トランジ
スタ801と805とを交互にターンオンすることによ
って、レジスタを通ってシフトされる。このシフト動作
の間、PHICとPHIHとの論理低の信号は、トラン
ジスタ802と806とをオフ状態に保つ。構成情報が
所定の位置にシフトされたとき、論理低の信号PHIB
は、トランジスタ801をオフ状態に保ち、一方論理高
の信号PHI及びPHIHは、各構成ビットを、スタテ
ィックラッチ構成内の各CCU内にラッチし、かつイン
バータINV1及びINV2をトランジスタ805及び
806を通して、スタティックRAMセルとして接続さ
せる。こうして各制御ビットは、個々の図3のセルの適
切なノードを駆動するべく利用できる。1つのセルの7
つのCCUの7つの構成情報が、そのセルの選択された
構成を達成する。上述されたシフトレジスタの動作もま
た、米国特許第4,870,302号明細書に開示され
ている。この明細書は、ここで言及したことによって本
出願の一部とされたい。
理高になる毎に、第1のセルのD入力される新たな構成
ビットを伴なって、一連の構成ビットが、論理高の信号
PHIBとPHIとが重ならないようにして、トランジ
スタ801と805とを交互にターンオンすることによ
って、レジスタを通ってシフトされる。このシフト動作
の間、PHICとPHIHとの論理低の信号は、トラン
ジスタ802と806とをオフ状態に保つ。構成情報が
所定の位置にシフトされたとき、論理低の信号PHIB
は、トランジスタ801をオフ状態に保ち、一方論理高
の信号PHI及びPHIHは、各構成ビットを、スタテ
ィックラッチ構成内の各CCU内にラッチし、かつイン
バータINV1及びINV2をトランジスタ805及び
806を通して、スタティックRAMセルとして接続さ
せる。こうして各制御ビットは、個々の図3のセルの適
切なノードを駆動するべく利用できる。1つのセルの7
つのCCUの7つの構成情報が、そのセルの選択された
構成を達成する。上述されたシフトレジスタの動作もま
た、米国特許第4,870,302号明細書に開示され
ている。この明細書は、ここで言及したことによって本
出願の一部とされたい。
【0041】トランジスタ811、812、及び81
3、及び信号Q、ENA、及びVPPLを有する、図1
2の回路810は以下のアンチヒューズのプログラミン
グという節で説明される。信号Iは、以下の接続信号の
受け取りという節で説明される。
3、及び信号Q、ENA、及びVPPLを有する、図1
2の回路810は以下のアンチヒューズのプログラミン
グという節で説明される。信号Iは、以下の接続信号の
受け取りという節で説明される。
【0042】接続信号の受け取り 特に、試験及び診断のために、チップが構成された後
に、そしてあるときは動作しているときに、チップの部
分に存在する信号を試験することが必要となることがあ
る。図12のCCUの第2の機能は、CCUが接続され
ている接続部に存在する信号を受け取ることである。上
述されたように、あるアレイの複数のCCUは、全体と
して1個または数個のシフトレジスタとして形成されて
いる。構成情報をシフトインすることに加えて、CCU
は、接続ラインから受け取られた情報をシフトアウトす
ることも可能である。即ち、CCUは、CCUに接続さ
れた各ラインの信号をユーザが試験することを可能にす
る。そしてアレイ内の論理セルの1つへ入力を提供し、
または、アレイ内の論理セルの1つからの出力を受け取
る各信号ラインが実際にCCUに接続されている。
に、そしてあるときは動作しているときに、チップの部
分に存在する信号を試験することが必要となることがあ
る。図12のCCUの第2の機能は、CCUが接続され
ている接続部に存在する信号を受け取ることである。上
述されたように、あるアレイの複数のCCUは、全体と
して1個または数個のシフトレジスタとして形成されて
いる。構成情報をシフトインすることに加えて、CCU
は、接続ラインから受け取られた情報をシフトアウトす
ることも可能である。即ち、CCUは、CCUに接続さ
れた各ラインの信号をユーザが試験することを可能にす
る。そしてアレイ内の論理セルの1つへ入力を提供し、
または、アレイ内の論理セルの1つからの出力を受け取
る各信号ラインが実際にCCUに接続されている。
【0043】一連のステップは、接続ラインのデータを
CCU内に転送可能にする。一連のステップは、ライン
Iの値が、CCU内のINV1及びINV2によって記
憶された値の代わりになることを可能にする。受け取り
の間、信号ENAは論理高であり、そのため、INV1
及びINV2の状態にかかわらず、全てのプログラミン
グトランジスタ813はオフ状態である。
CCU内に転送可能にする。一連のステップは、ライン
Iの値が、CCU内のINV1及びINV2によって記
憶された値の代わりになることを可能にする。受け取り
の間、信号ENAは論理高であり、そのため、INV1
及びINV2の状態にかかわらず、全てのプログラミン
グトランジスタ813はオフ状態である。
【0044】図13は、図12の構成制御ユニットの変
形実施例である。
形実施例である。
【0045】タイミング図 図14は、アレイのどの部分にも、データの損失または
コンティションを起こすことなしに、接続ラインからの
信号をCCU内に確実に受け取るための、制御信号PH
I、PHIH、PHIB、PHIC及びGTSの好適な
順序のタイミング図を表している。受け取りステップ
は、次の通りである。
コンティションを起こすことなしに、接続ラインからの
信号をCCU内に確実に受け取るための、制御信号PH
I、PHIH、PHIB、PHIC及びGTSの好適な
順序のタイミング図を表している。受け取りステップ
は、次の通りである。
【0046】1.PHIとPHIHとを論理低にするこ
とによって、トランジスタ805と806とがターンオ
フするので、CCUは一時的にダイナミックメモリ状態
(即ち、数値が一時的に保持される状態)になる。キャ
パシタンスは、その数値がほぼ1ミリ秒の間保持される
ような大きさであり、好適なタイミングは、セルがほぼ
1マイクロ秒の間ダイナミックメモリ状態に保持される
ようなタイミングである。
とによって、トランジスタ805と806とがターンオ
フするので、CCUは一時的にダイナミックメモリ状態
(即ち、数値が一時的に保持される状態)になる。キャ
パシタンスは、その数値がほぼ1ミリ秒の間保持される
ような大きさであり、好適なタイミングは、セルがほぼ
1マイクロ秒の間ダイナミックメモリ状態に保持される
ようなタイミングである。
【0047】2.次に、トランジスタ802が、論理高
のPHICによってターンオンされ、接続ラインI(図
27の接続セグメントA1〜A4、Q、Z1、及びZ2
を表す)上の信号がインバータINV1に加えられる。
トランジスタ806がオフ状態なので、インバータIN
V1に加えられたラインI上のダイナミック信号と、C
CU内に(一時的に)記憶されている信号Qとの間の接
続は存在しない。
のPHICによってターンオンされ、接続ラインI(図
27の接続セグメントA1〜A4、Q、Z1、及びZ2
を表す)上の信号がインバータINV1に加えられる。
トランジスタ806がオフ状態なので、インバータIN
V1に加えられたラインI上のダイナミック信号と、C
CU内に(一時的に)記憶されている信号Qとの間の接
続は存在しない。
【0048】3.信号が受け取られると、PHICは論
理低となり、トランジスタ802はターンオフする。ラ
インI上の信号の状態がダイナミックにノードN2に記
憶されている。
理低となり、トランジスタ802はターンオフする。ラ
インI上の信号の状態がダイナミックにノードN2に記
憶されている。
【0049】4.セルの構成が、受け取られたデータに
よってすぐにオーバライトされ、かつあるセル出力の間
でのコンティションが起こるかもしれないので、図3ま
たは図4のセルの全ての出力は、高インピーダンス状態
にされる。トランジスタ805が論理高の信号PHIに
よって、次にターンオンされる前に、出力信号は高イン
ピーダンス状態にならなければならない。
よってすぐにオーバライトされ、かつあるセル出力の間
でのコンティションが起こるかもしれないので、図3ま
たは図4のセルの全ての出力は、高インピーダンス状態
にされる。トランジスタ805が論理高の信号PHIに
よって、次にターンオンされる前に、出力信号は高イン
ピーダンス状態にならなければならない。
【0050】5.対応する接続信号がINV1に加えら
れ、かつセルの出力が高インピーダンス状態にされた後
に、論理高の信号PHIが加えられ、トランジスタ80
5がターンオンし、従って受け取られた信号I(反転し
ている)がINV2に加えられる。
れ、かつセルの出力が高インピーダンス状態にされた後
に、論理高の信号PHIが加えられ、トランジスタ80
5がターンオンし、従って受け取られた信号I(反転し
ている)がINV2に加えられる。
【0051】もしそうしなければ、PHICを論理低に
してトランジスタ802がターンオフされ、CCUを接
続ラインIから隔離する。
してトランジスタ802がターンオフされ、CCUを接
続ラインIから隔離する。
【0052】6.次にPHIHが論理高となり、トラン
ジスタ806がターンオンし、ラインI上にあった信号
をINV1、805、INV2、及び806によって形
成されたスタティックメモリ内にラッチする。
ジスタ806がターンオンし、ラインI上にあった信号
をINV1、805、INV2、及び806によって形
成されたスタティックメモリ内にラッチする。
【0053】この時、アレイのCCUはもはや構成情報
を含まないが、代わりに、各々の接続ラインセグメント
に存在する信号を含む。CCUはシフトレジスタ内に接
続されているので、上述された構成信号をシフトインす
るための順序と同じ順序を用いることによって、信号が
シフトアウトされる。接続データがシフトアウトされる
とき、再びセルを構成するべく、構成データが同時に所
定の位置にシフトインされる。接続情報のシフトアウト
と構成情報のシフトインとが、交互に、分離したステッ
プで行われても良い。
を含まないが、代わりに、各々の接続ラインセグメント
に存在する信号を含む。CCUはシフトレジスタ内に接
続されているので、上述された構成信号をシフトインす
るための順序と同じ順序を用いることによって、信号が
シフトアウトされる。接続データがシフトアウトされる
とき、再びセルを構成するべく、構成データが同時に所
定の位置にシフトインされる。接続情報のシフトアウト
と構成情報のシフトインとが、交互に、分離したステッ
プで行われても良い。
【0054】アンチヒューズのプログラミング チップの構成は、セルが、所望の関数を実行するように
構成されることだけでなく、接続構造もまた所望通りに
セルを互いに接続するべくプログラムされていることを
必要とする。図27の実施例では、接続構造は、選択さ
れた水平ラインを選択された垂直ラインに接続するよう
に、選択されたアンチヒューズをプログラミング(導通
状態に)することによって接続される。
構成されることだけでなく、接続構造もまた所望通りに
セルを互いに接続するべくプログラムされていることを
必要とする。図27の実施例では、接続構造は、選択さ
れた水平ラインを選択された垂直ラインに接続するよう
に、選択されたアンチヒューズをプログラミング(導通
状態に)することによって接続される。
【0055】アンチヒューズのプログラミングについて
最初に説明する。図4は、4個のセルブロックを表し、
各セルブロックは、ブロックの上部に配置された4個の
セルCELL1からCELL4と、ブロックの下部に配
置された4個のセルCELL5からCELL8と、ブロ
ックの右側部分に配置された9番目のセルCELL9と
を有する。CELL1からCELL8は図3に表された
回路である。9番目のセルCELL9は、図12または
図13に表された14個のCCUセルを有する。セルC
ELL9を通して延在する更なる水平ラインは、アレイ
の論理セル間のパスを形成するために利用可能な、種々
の長さの水平接続ラインである。図4は、そのようなア
レイを表している。水平ラインと垂直ラインとの交差部
分がアンチヒューズである。
最初に説明する。図4は、4個のセルブロックを表し、
各セルブロックは、ブロックの上部に配置された4個の
セルCELL1からCELL4と、ブロックの下部に配
置された4個のセルCELL5からCELL8と、ブロ
ックの右側部分に配置された9番目のセルCELL9と
を有する。CELL1からCELL8は図3に表された
回路である。9番目のセルCELL9は、図12または
図13に表された14個のCCUセルを有する。セルC
ELL9を通して延在する更なる水平ラインは、アレイ
の論理セル間のパスを形成するために利用可能な、種々
の長さの水平接続ラインである。図4は、そのようなア
レイを表している。水平ラインと垂直ラインとの交差部
分がアンチヒューズである。
【0056】アンチヒューズは、アンチヒューズで交差
する1本の水平ラインの1本の垂直ラインとに2つの充
分に異なるプログラミング電圧を印加することによっ
て、プログラムされる。図15は、図12に表された2
個の回路によって生み出されたアンチヒューズプログラ
ミングパスの簡略化された表現を表す。2つの異なるC
CUユニット(図12及び図13を参照のこと)が、各
々の接続ラインIに充分に異なる値のVPPLを印加し
たとき、接続構造内のアンチヒューズに印加された電位
差は、アンチヒューズをプログラムするのに充分であ
る。図15は、ノードNIa(図12または図13のノ
ードNIに等しい)の電圧によって制御されるトランジ
スタ813aを通して、アンチヒューズA1の一方の端
子に接触している接続ラインセグメントIaに、第1プ
ログラミング電圧VPPLaを印加することによってプ
ログラムされている、アンチヒューズA1を表してい
る。グランドとして表されている第2のプログラミング
電圧VPPLbは、トランジスタ813bを通して、ア
ンチヒューズB1のもう一方の端子に接触している接続
ラインIbに印加されている。例えば10Vの電位差
は、アンチヒューズをプログラムするのに充分である。
他の全ての水平ライン及び垂直ラインに印加された高イ
ンピーダンスまたは中程度の電圧は、単一のアンチヒュ
ーズが、プログラミングのための充分な電圧を、ただ1
度だけ受け取ることを確実にする。
する1本の水平ラインの1本の垂直ラインとに2つの充
分に異なるプログラミング電圧を印加することによっ
て、プログラムされる。図15は、図12に表された2
個の回路によって生み出されたアンチヒューズプログラ
ミングパスの簡略化された表現を表す。2つの異なるC
CUユニット(図12及び図13を参照のこと)が、各
々の接続ラインIに充分に異なる値のVPPLを印加し
たとき、接続構造内のアンチヒューズに印加された電位
差は、アンチヒューズをプログラムするのに充分であ
る。図15は、ノードNIa(図12または図13のノ
ードNIに等しい)の電圧によって制御されるトランジ
スタ813aを通して、アンチヒューズA1の一方の端
子に接触している接続ラインセグメントIaに、第1プ
ログラミング電圧VPPLaを印加することによってプ
ログラムされている、アンチヒューズA1を表してい
る。グランドとして表されている第2のプログラミング
電圧VPPLbは、トランジスタ813bを通して、ア
ンチヒューズB1のもう一方の端子に接触している接続
ラインIbに印加されている。例えば10Vの電位差
は、アンチヒューズをプログラムするのに充分である。
他の全ての水平ライン及び垂直ラインに印加された高イ
ンピーダンスまたは中程度の電圧は、単一のアンチヒュ
ーズが、プログラミングのための充分な電圧を、ただ1
度だけ受け取ることを確実にする。
【0057】アンチヒューズプログラミングユニットの
第1実施例810 アンチヒューズの2つの端子へのプログラミング電圧の
印加は、図12の回路810によって制御される。イン
バータINV1とINV2とを含むシフトレジスタを通
して、プログラムされるべきアンチヒューズと交差し、
従ってそのアンチヒューズと接触する接続ラインIと接
触する2個のCCUのみに1組の論理1をシフトし、そ
して2本の接続ラインIに接続している2本のラインV
PPLに異なる電圧を印加し、そして論理低のイネーブ
ル信号ENAを印加することによって、プログラミング
電圧がアドレス指定されたアンチヒューズに印加され
る。
第1実施例810 アンチヒューズの2つの端子へのプログラミング電圧の
印加は、図12の回路810によって制御される。イン
バータINV1とINV2とを含むシフトレジスタを通
して、プログラムされるべきアンチヒューズと交差し、
従ってそのアンチヒューズと接触する接続ラインIと接
触する2個のCCUのみに1組の論理1をシフトし、そ
して2本の接続ラインIに接続している2本のラインV
PPLに異なる電圧を印加し、そして論理低のイネーブ
ル信号ENAを印加することによって、プログラミング
電圧がアドレス指定されたアンチヒューズに印加され
る。
【0058】アンチヒューズのプログラミングの第1の
ステップは、1組の論理1を各々のCCUにシフトイン
することである。選択されたアンチヒューズをプログラ
ムするために、トランジスタ813がプログラミング電
圧源VPPLを接続ラインに接続する。2つの異なるプ
ログラミング電圧源が、アンチヒューズの2つの異なる
端子に接続されなければならない。従って、水平接続ラ
インと垂直接続ラインとに接触しているCCUに、2つ
の異なるVPPLラインが接続されている。異なるプロ
グラミング電圧が、これら異なるVPPLラインに印加
される。ある実施例では、2つのプログラミング電圧
は、約10Vの差を有する。
ステップは、1組の論理1を各々のCCUにシフトイン
することである。選択されたアンチヒューズをプログラ
ムするために、トランジスタ813がプログラミング電
圧源VPPLを接続ラインに接続する。2つの異なるプ
ログラミング電圧源が、アンチヒューズの2つの異なる
端子に接続されなければならない。従って、水平接続ラ
インと垂直接続ラインとに接触しているCCUに、2つ
の異なるVPPLラインが接続されている。異なるプロ
グラミング電圧が、これら異なるVPPLラインに印加
される。ある実施例では、2つのプログラミング電圧
は、約10Vの差を有する。
【0059】プログラムされるべきアンチヒューズの2
つの端子を表す2つの論理1が、シフトレジスタを通し
て各々のCCUにロードされた後、グローバル信号EN
Aが論理低となり、Nチャネルトランジスタ812をタ
ーンオフし、VGIL電圧に接続されたウェルを備えた
Pチャネルトランジスタ811をターンオンする。VG
IL電圧は、少なくとも高プログラミング電圧よりも閾
値電圧効果Vt分だけ高くなければならず、そのため、
トランジスタ813は、この高プログラミング電圧に対
して電圧降下を発生させない。論理低のENA電圧が、
チップ内の全てのCCUに印加され、トランジスタ81
1をターンオンし、トランジスタ812をターンオフす
る。プログラムされるべきアンチヒューズに関連するC
CU以外の全てのCCUは、論理0または低電圧を保持
しているので、Q出力電圧がトランジスタ813のゲー
トに印加されたとき、ほとんどのトランジスタ813は
オフ状態を保つ。論理1を保持している2つのCCUに
対して、トランジスタ811によって813のゲートに
提供された高電圧は、813をターンオンし、VPPL
電圧を接続ラインIに印加する。これら2つのCCUに
対して、VPPL信号の一方が、高プログラミング電圧
であり、もう一方が低プログラミング電圧なので、関連
するアンチヒューズは、高い電圧差を加えられ、永久に
導通状態になる。短いプログラミング期間の後に、EN
Aは再び論理高になり、トランジスタ811をターンオ
フし、かつトランジスタ812をターンオンし、従って
プログラミングトランジスタ813をターンオフする。
つの端子を表す2つの論理1が、シフトレジスタを通し
て各々のCCUにロードされた後、グローバル信号EN
Aが論理低となり、Nチャネルトランジスタ812をタ
ーンオフし、VGIL電圧に接続されたウェルを備えた
Pチャネルトランジスタ811をターンオンする。VG
IL電圧は、少なくとも高プログラミング電圧よりも閾
値電圧効果Vt分だけ高くなければならず、そのため、
トランジスタ813は、この高プログラミング電圧に対
して電圧降下を発生させない。論理低のENA電圧が、
チップ内の全てのCCUに印加され、トランジスタ81
1をターンオンし、トランジスタ812をターンオフす
る。プログラムされるべきアンチヒューズに関連するC
CU以外の全てのCCUは、論理0または低電圧を保持
しているので、Q出力電圧がトランジスタ813のゲー
トに印加されたとき、ほとんどのトランジスタ813は
オフ状態を保つ。論理1を保持している2つのCCUに
対して、トランジスタ811によって813のゲートに
提供された高電圧は、813をターンオンし、VPPL
電圧を接続ラインIに印加する。これら2つのCCUに
対して、VPPL信号の一方が、高プログラミング電圧
であり、もう一方が低プログラミング電圧なので、関連
するアンチヒューズは、高い電圧差を加えられ、永久に
導通状態になる。短いプログラミング期間の後に、EN
Aは再び論理高になり、トランジスタ811をターンオ
フし、かつトランジスタ812をターンオンし、従って
プログラミングトランジスタ813をターンオフする。
【0060】シフトレジスタへのロード及びプログラミ
ング電圧差の印加の上述された過程は、プログラムされ
るべきアンチヒューズ毎に繰り返される。
ング電圧差の印加の上述された過程は、プログラムされ
るべきアンチヒューズ毎に繰り返される。
【0061】アンチヒューズプログラミングユニットの
第2実施例910 図13は、チャージポンプを用いた、構成制御ユニット
の第2実施例である。この実施例では、回路910は、
Q信号、
第2実施例910 図13は、チャージポンプを用いた、構成制御ユニット
の第2実施例である。この実施例では、回路910は、
Q信号、
【0062】
【外2】
【0063】信号、及びENB信号の状態によって決定
されるごとく、条件付きでトランジスタ813のゲート
にプログラミング電圧VPPLを印加する。
されるごとく、条件付きでトランジスタ813のゲート
にプログラミング電圧VPPLを印加する。
【0064】回路910は、トランジスタ915、91
6、及び917(キャパシタとして構成されている)か
らなる既知のチャージポンプ回路を含む。信号PHIP
の振動する波形は、ノードN1に電荷を注入するべく働
く。ノードN1の電圧は、この電荷の注入に反応し、か
つENB、Q、及び
6、及び917(キャパシタとして構成されている)か
らなる既知のチャージポンプ回路を含む。信号PHIP
の振動する波形は、ノードN1に電荷を注入するべく働
く。ノードN1の電圧は、この電荷の注入に反応し、か
つENB、Q、及び
【0065】
【外3】
【0066】信号によって制御されたトランジスタ91
1、912、及び914の状態に反応する。表1に示さ
れたように、QとENBの両方が論理1のとき、N1が
充電される。
1、912、及び914の状態に反応する。表1に示さ
れたように、QとENBの両方が論理1のとき、N1が
充電される。
【0067】
【表1】
【0068】接続部のプログラミングのための、図13
の回路の利用は、CCUを通してデータパターンをシフ
トする間、ENBを論理低に保つことによって得られ
る。ENBが論理低に保たれているとき、Q、及び
の回路の利用は、CCUを通してデータパターンをシフ
トする間、ENBを論理低に保つことによって得られ
る。ENBが論理低に保たれているとき、Q、及び
【0069】
【外4】
【0070】の状態にかかわらず、トランジスタ813
はオフ状態である。論理低のENB信号は、トランジス
タ813を不注意にターンオンすることなしに、データ
をシフトする手段を提供する。データパターンは、概
ね、アンチヒューズによって接続されるべき2個の接続
セグメントに対応する2個の論理1以外は、全て論理0
からなる。データパターンが所定の位置に配置される
と、ENBが論理高となり、論理高の出力Qを伴ったC
CU(概ね2個)がノードN1を充電し、トランジスタ
813をターンオンすることを可能にする。こうして、
プログラミング電圧VPPLが、図13のノードIに接
続された選択された接続ラインに転送され、ENBは再
び論理低となり、ノードN1を放電する。この過程は、
プログラムされるべき各アンチヒューズ毎に繰り返され
る。
はオフ状態である。論理低のENB信号は、トランジス
タ813を不注意にターンオンすることなしに、データ
をシフトする手段を提供する。データパターンは、概
ね、アンチヒューズによって接続されるべき2個の接続
セグメントに対応する2個の論理1以外は、全て論理0
からなる。データパターンが所定の位置に配置される
と、ENBが論理高となり、論理高の出力Qを伴ったC
CU(概ね2個)がノードN1を充電し、トランジスタ
813をターンオンすることを可能にする。こうして、
プログラミング電圧VPPLが、図13のノードIに接
続された選択された接続ラインに転送され、ENBは再
び論理低となり、ノードN1を放電する。この過程は、
プログラムされるべき各アンチヒューズ毎に繰り返され
る。
【0071】これまでの説明の技術的視点から、本発明
の他の実施例も当業者には明らかになるであろう。これ
らの他の実施例も、本発明の技術的視点を逸脱するもの
ではない。
の他の実施例も当業者には明らかになるであろう。これ
らの他の実施例も、本発明の技術的視点を逸脱するもの
ではない。
【0072】
【発明の効果】FPGAデバイスに必要な、全ての素子
が適切に製造されているかどうかを決定するためのデバ
イスを試験する能率的な試験手順が提供され、かつ所望
の関数を実行するための、セル間の接続をプログラム
し、かつセルをプログラムする能率的な手順が提供され
る。
が適切に製造されているかどうかを決定するためのデバ
イスを試験する能率的な試験手順が提供され、かつ所望
の関数を実行するための、セル間の接続をプログラム
し、かつセルをプログラムする能率的な手順が提供され
る。
【図1】小型セルサイズの従来技術の論理セルを表す図
である。
である。
【図2】Xilinx 3000シリーズの部品で用いられる大型
のセルサイズの従来技術の論理セルを表す図である。
のセルサイズの従来技術の論理セルを表す図である。
【図3】本発明に基づく論理セルを表す図である。
【図4】図3のセルからなる非常に小さいフィールドプ
ログラマブル集積デバイスを表す図である。
ログラマブル集積デバイスを表す図である。
【図5】A、B及びCからなり、Aは、2入力マルチプ
レクサを表す図であり、Bは図3のセルを用いた2入力
マルチプレクサを用いた実施例を表す図であり、Cは2
入力マルチプレクサの等価回路を表す図である。
レクサを表す図であり、Bは図3のセルを用いた2入力
マルチプレクサを用いた実施例を表す図であり、Cは2
入力マルチプレクサの等価回路を表す図である。
【図6】A及びBからなり、Aはセットリセットラッチ
を表す図であり、Bは図3のセルを用いたセットリセッ
トラッチの実施例を表す図である。
を表す図であり、Bは図3のセルを用いたセットリセッ
トラッチの実施例を表す図である。
【図7】A、B及びCからなり、Aは1つの反転入力を
有する4入力ANDゲートを表す図であり、Bは図3の
セルを用いた4入力ANDゲートの実施例を表す図であ
り、Cは4入力ANDゲートの等価回路を表す図であ
る。
有する4入力ANDゲートを表す図であり、Bは図3の
セルを用いた4入力ANDゲートの実施例を表す図であ
り、Cは4入力ANDゲートの等価回路を表す図であ
る。
【図8】A、B及びCからなり、Aは反転入力を有する
8入力ANDゲートを表す図であり、Bはカスケード型
に接続された、図3の2個のセルを用いた8入力AND
ゲートの実施例を表す図であり、Cは8入力ANDゲー
トの実施例の等価回路を表す図である。
8入力ANDゲートを表す図であり、Bはカスケード型
に接続された、図3の2個のセルを用いた8入力AND
ゲートの実施例を表す図であり、Cは8入力ANDゲー
トの実施例の等価回路を表す図である。
【図9】Dフリップフロップを表す図である。
【図10】カスケード型に接続され、かつフィードバッ
ク型に接続された、図3の2個のセルを用いたDフリッ
プフロップの実施例を表す図である。
ク型に接続された、図3の2個のセルを用いたDフリッ
プフロップの実施例を表す図である。
【図11】図10に表されたDフリップフロップの等価
回路を表す図である。
回路を表す図である。
【図12】図3及び図4に表されたCCU1からCCU
7のような構造制御ユニットの実施例を表す図である。
7のような構造制御ユニットの実施例を表す図である。
【図13】図3及び図4に表されたCCU1からCCU
7のような構造制御ユニットの他の実施例を表す図であ
る。
7のような構造制御ユニットの他の実施例を表す図であ
る。
【図14】図12または図13の回路が、外部デバイス
にシフトアウトするべく接続構造に存在するデータを受
け取るために用いられたときのタイミング図である。
にシフトアウトするべく接続構造に存在するデータを受
け取るために用いられたときのタイミング図である。
【図15】図3に表されたような論理セルと、図12及
び図13に表されたような構造制御ユニットアドレス指
定手段を用いるアンチヒューズプログラミング構造を表
す図である。
び図13に表されたような構造制御ユニットアドレス指
定手段を用いるアンチヒューズプログラミング構造を表
す図である。
7a セル 7b セル 300 プログラマブル入力インバータステージ 301〜304 選択的反転入力バッファ 301a〜304a 任意のインバータ 301b〜304b 任意のインバータ 310 カスケードイン第1組合せステージ 310a カスケードイン第1組合せステージ 310b カスケードイン第1組合せステージ 311 3入力NANDゲート 311a 3入力NANDゲート 311b 3入力NANDゲート 312 2入力ORゲート 313 カスケードイネーブル制御入力 314 カスケード入力 314a カスケード入力 314b カスケード入力 320 フィードバック第1組合せステージ 320a フィードバック第1組合せステージ 320b フィードバック第1組合せステージ 321 3入力NANDゲート 321a 3入力NANDゲート 321b 3入力NANDゲート 322 フィードバック信号 323 フィードバックイネーブル制御入力 330 第2組合せステージ 330a 第2組合せステージ 330b 第2組合せステージ 332 出力信号 332a 出力信号 332b 出力信号 340 出力ドライバステージ 340a 出力ドライバステージ 340b 出力ドライバステージ 341 バッファ 349 接続ラインに高インピーダンスを提供する手段 350 グローバルリセット回路 350a グローバルリセット回路 350b グローバルリセット回路 801〜808 トランジスタ 810 アンチヒューズプログラミングユニットの第1
実施例 811〜813 トランジスタ 813a トランジスタ 813b トランジスタ 910 アンチヒューズプログラミングユニットの第2
実施例 911、912 トランジスタ 914〜917 トランジスタ
実施例 811〜813 トランジスタ 813a トランジスタ 813b トランジスタ 910 アンチヒューズプログラミングユニットの第2
実施例 911、912 トランジスタ 914〜917 トランジスタ
Claims (15)
- 【請求項1】 構成を変更可能な論理セルと、構成を
変更可能な接続構造とを有するFPGA内にあって、 前記構成を変更可能な論理セルと前記接続構造との構成
を制御し、かつ前記接続構造内の接続ラインの信号の状
態を読み出すための、構成制御システムであって、 他の構成制御ユニット内のメモリ手段と連結された、シ
フトレジスタとしてのメモリ手段(INV1、INV
2)と、各前記メモリ手段に対応する接続ラインの信号
をロードする手段とを各々備えた複数の構成制御ユニッ
ト(CCU)を有することを特徴とする構成制御システ
ム。 - 【請求項2】 前記構成制御ユニットが更に、 前記対応する接続ラインへのプログラミング電圧の印加
を制御する手段(810)を有することを特徴とする請
求項1に記載の構成制御システム。 - 【請求項3】 構成を変更可能な論理セルと、構成を
変更可能な接続構造とを有するFPGA内にあって、 前記構成を変更可能な論理セルの構成を制御するため
の、構成制御システムであって、 他の構成制御ユニット内のメモリ手段と連結された、シ
フトレジスタとしてのメモリ手段(INV1、INV
2)と、前記メモリ手段の内容によって、前記構成を変
更可能な論理セルの一方の部分の構成を制御する機能
と、前記メモリ手段の内容によって、前記接続構造内の
接続ラインへのプログラミング電圧の印加を制御する機
能の両機能を実行する手段(Q、810)とを各々備え
た複数の構成制御ユニット(CCU)を有することを特
徴とする構成制御システム。 - 【請求項4】 構成を変更可能な論理セルと、構成を
変更可能な接続構造とを有するFPGA内にある構成制
御ユニットであって、 ロードされかつ読み出しを行い、かつ記憶された数値
(Q)を提供するメモリ手段(INV1、INV2)
と、 前記対応する接続ライン(I)にプログラミング電圧
(VP)を供給する手段(813)と、前記供給手段を
制御する手段(ENA、811、812)とを備えた前
記対応する接続ライン(I)へのプログラミング電圧の
印加を制御する手段(810)とを有し、 それによって、前記記憶された数値(Q)が選択された
電圧(高)であってかつ前記制御手段(ENA、81
1、812)が前記記憶された数値を選択したとき、プ
ログラミング電圧を供給する前記手段(813)が、前
記プログラミング電圧を、前記対応する接続ライン
(I)に供給することを特徴とする構成制御ユニット。 - 【請求項5】 前記制御手段(ENA、812、81
1)が、 前記記憶された数値を供給する手段(811)と、 ディスエーブル電圧(gnd)を供給する手段(81
2)と、 前記供給手段に前記ディスエーブル電圧(gnd)を印
加するか、前記供給手段に前記記憶された数値(Q)を
印加するかの何れかを、前記制御手段に選択させる手段
(ENA)とを有することを特徴とする請求項4に記載
の構成制御ユニット。 - 【請求項6】 前記メモリ手段が、 スタティックメモリセルを形成するべく、フィードバッ
クループ(806、805)内に選択的に接続される、
直列に接続された一対のインバータ(INV1、INV
2)を有することを特徴とする請求項1に記載の構成制
御ユニット。 - 【請求項7】 各インバータが、少なくとも前記プロ
グラミング電圧の高さの電源電圧(VGLI)によっ
て、電源を供給されることを特徴とする請求項6に記載
の構成制御システム。 - 【請求項8】 構成メモリセル内の数値によって構成
された構成を変更可能な論理セルと、 水平接続ラインと垂直接続ラインとを有し、前記構成メ
モリセル内の前記数値と、前記対応する接続ラインへの
プログラミング電圧の印加を制御する手段(810)と
によって制御されながら、前記水平接続ラインと前記垂
直接続ラインの接続部のアンチヒューズをプログラムす
ることによって構成される構成を変更可能な接続構造
と、 複数のプログラミング電圧ラインであって、各々の前記
プログラミング電圧ラインが複数のアンチヒューズの一
方の端子に接続可能であって、各々の前記複数のプログ
ラミング電圧ラインとは相異なるプログラミング電圧ラ
インが任意のアンチヒューズの相異なる端子に接続可能
な、前記複数のプログラミング電圧ラインとを有するF
PGAを構成する方法であって、 プログラムされるべき各アンチヒューズに対して、 1)プログラムされるべき前記アンチヒューズの端子で
交差する水平ラインと垂直ラインへのプログラミング電
圧の転送を制御する2個のCCUに一対の論理1をロー
ドする過程と、 2)前記2個のCCUによって転送された2つの異なる
プログラミング電圧を、プログラミング電圧ラインに印
加する過程と、 3)前記対応する接続ラインへのプログラミング電圧の
印加を制御する手段(810)に、プログラミング制御
信号(ENA)を印加し、それによって、プログラミン
グ電圧をプログラムされるべき前記アンチヒューズに印
加させる過程とを有し、 全てのアンチヒューズがプログラムされるまで前記過程
1)、2)、及び3)を行い、それによって、前記接続
構造を構成することを特徴とするFPGAを構成する方
法。 - 【請求項9】 前記ロード過程が、シフトレジスタを
通して実施されることを特徴とする請求項8に記載のF
PGAを構成する方法。 - 【請求項10】 全てのアンチヒューズがプログラミ
ングされた後に、実行され、かつCCUが接続されてい
るシフトレジスタを通してビットストリームをシフト
し、それによって、各CCUに、前記CCUと関連する
論理セルの部分を構成する論理数値を記憶させる過程を
更に有することを特徴とする請求項9に記載のFPGA
を構成する方法。 - 【請求項11】 前記ビットストリームが、CCUが
接続されている前記シフトレジスタを通してシフトされ
た後に、実施される、 各CCU内にロードされた数値の代わりに、前記CCU
が関連する接続ライン上に存在する数値を代入する過程
と、 各CCU内に代入された数値を前記シフトレジスタを通
して、前記FPGAの外にシフトする過程とを有するこ
とを特徴とするFPGAを構成する方法。 - 【請求項12】 各々が入力ポートと出力ポートとを
備える複数の構成メモリセルであって、各メモリセル
が、ループとしてプログラム可能に接続可能な第1及び
第2インバータを有し、前記複数のメモリセルがあるメ
モリセルの前記第2インバータの出力を、他のメモリセ
ルの前記第1インバータの入力に接続することによっ
て、シフトレジスタとしてプログラム可能に接続可能
な、前記複数の構成メモリセルと、 各々が前記構成メモリセルの1つの入力ポートにプログ
ラム可能に接続可能な接続ラインを備えた、構成を変更
可能な接続構造とを有するFPGAに於いて、 前記FPGAの前記接続ライン上に存在するデータを受
け取る方法であって、 1.前記第1インバータを前記第2インバータから切離
す過程と、 2.前記接続ラインを、その対応する第1インバータに
プログラム可能に接続する過程と、 3.前記第1インバータの前記出力を、前記第2インバ
ータの前記入力にプログラム可能に接続する過程と、 4.前記接続ラインを、その対応する第1インバータか
らプログラム可能に切り離す過程と、 5.前記第2インバータの前記出力を、前記第1インバ
ータの前記入力にプログラム可能に接続する過程と、 6.前記シフトレジスタを通してデータをシフトする過
程とを有し、 それによって、前記接続ライン上に存在するデータが、
前記シフトレジスタの外にシフトされることを特徴とす
る、前記FPGAの前記接続ライン上に存在するデータ
を受け取る方法。 - 【請求項13】 前記複数の過程が、記載された順番
で実行されることを特徴とする請求項12に記載の接続
ライン上に存在するデータを受け取る方法。 - 【請求項14】 前記過程4が前記過程3の前に実行
されることを特徴とする請求項12に記載の接続ライン
上に存在するデータを受け取る方法。 - 【請求項15】 前記FPGAが更に、 複数の論理セルであって、前記構成メモリセルの各々
が、前記論理セルの1つの接続されていて、かつ前記論
理セルの各々が、高インピーダンス出力を提供する手段
を含む、前記複数の論理セルを有し、 前記第1インバータの前記出力を前記第2インバータの
前記入力にプログラム可能に接続する前記過程の前に、
前記論理セルの各々に、高インピーダンス出力を提供さ
せる過程を更に有することを特徴とする請求項12に記
載の接続ライン上に存在するデータを受け取る方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US92228692A | 1992-07-29 | 1992-07-29 | |
| US07/922,286 | 1992-07-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07159498A true JPH07159498A (ja) | 1995-06-23 |
Family
ID=25446826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5117781A Pending JPH07159498A (ja) | 1992-07-29 | 1993-04-20 | 構成制御システム、構成制御ユニット、fpgaを構成する方法、及び接続ライン上に存在するデータを受け取る方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0581409A1 (ja) |
| JP (1) | JPH07159498A (ja) |
| CA (1) | CA2091860A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5426378A (en) * | 1994-04-20 | 1995-06-20 | Xilinx, Inc. | Programmable logic device which stores more than one configuration and means for switching configurations |
| US5689195A (en) * | 1995-05-17 | 1997-11-18 | Altera Corporation | Programmable logic array integrated circuit devices |
| GB2333873B (en) * | 1995-05-17 | 1999-09-22 | Altera Corp | Programmable logic array integrated circuit devices |
| CN115542138B (zh) * | 2022-10-13 | 2025-07-15 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 | 一种反熔丝fpga内部逻辑片上测试电路 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02165725A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-26 | Seiko Epson Corp | 電子回路装置 |
| JPH03139863A (ja) * | 1989-10-25 | 1991-06-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4706216A (en) * | 1985-02-27 | 1987-11-10 | Xilinx, Inc. | Configurable logic element |
| US4872137A (en) * | 1985-11-21 | 1989-10-03 | Jennings Iii Earle W | Reprogrammable control circuit |
| US5343406A (en) * | 1989-07-28 | 1994-08-30 | Xilinx, Inc. | Distributed memory architecture for a configurable logic array and method for using distributed memory |
-
1993
- 1993-03-17 CA CA 2091860 patent/CA2091860A1/en not_active Abandoned
- 1993-04-01 EP EP93302605A patent/EP0581409A1/en not_active Withdrawn
- 1993-04-20 JP JP5117781A patent/JPH07159498A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02165725A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-26 | Seiko Epson Corp | 電子回路装置 |
| JPH03139863A (ja) * | 1989-10-25 | 1991-06-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0581409A1 (en) | 1994-02-02 |
| CA2091860A1 (en) | 1994-01-30 |
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