JPH07165411A - 二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置 - Google Patents
二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置Info
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- JPH07165411A JPH07165411A JP34182493A JP34182493A JPH07165411A JP H07165411 A JPH07165411 A JP H07165411A JP 34182493 A JP34182493 A JP 34182493A JP 34182493 A JP34182493 A JP 34182493A JP H07165411 A JPH07165411 A JP H07165411A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 二酸化ケイ素の製造方法および装置に係り、
析出に伴う成膜速度の低下を防止し処理効率を向上す
る。 【構成】 基材12を浸漬する処理液2を処理槽3内に
おいて流動させ、活性剤添加部5を基材12の上流側近
傍に配することにより、活性剤11の添加によって局所
的に二酸化ケイ素の過飽和度を高めた処理液2を、その
下流に配される基材12の周囲に流通させ、基材12表
面における二酸化ケイ素の析出を連続的に促進する。
析出に伴う成膜速度の低下を防止し処理効率を向上す
る。 【構成】 基材12を浸漬する処理液2を処理槽3内に
おいて流動させ、活性剤添加部5を基材12の上流側近
傍に配することにより、活性剤11の添加によって局所
的に二酸化ケイ素の過飽和度を高めた処理液2を、その
下流に配される基材12の周囲に流通させ、基材12表
面における二酸化ケイ素の析出を連続的に促進する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウエハやガラス基板等
の基材の表面に、二酸化ケイ素被膜を析出させる二酸化
ケイ素被膜の製造方法および装置に関するものである。
の基材の表面に、二酸化ケイ素被膜を析出させる二酸化
ケイ素被膜の製造方法および装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】LSIの高集積化に伴う素子構造の微細
化、多層化を達成するために、均一な膜厚分布の絶縁被
膜を形成する試みがなされている。この試みの1つとし
て、従来から液相成膜法を実用化することが考えられて
いる。この方法は、二酸化ケイ素を過飽和に含むケイフ
ッ化水素酸H2 Si F6 の水溶液に基材を浸漬し、その
表面に二酸化ケイ素Si O2 の被膜を析出させる方法で
ある。
化、多層化を達成するために、均一な膜厚分布の絶縁被
膜を形成する試みがなされている。この試みの1つとし
て、従来から液相成膜法を実用化することが考えられて
いる。この方法は、二酸化ケイ素を過飽和に含むケイフ
ッ化水素酸H2 Si F6 の水溶液に基材を浸漬し、その
表面に二酸化ケイ素Si O2 の被膜を析出させる方法で
ある。
【0003】この液相成膜法において、二酸化ケイ素被
膜の形成速度(以下、成膜速度という。)は、ケイフッ
化水素酸水溶液中の二酸化ケイ素の過飽和度によって決
まり、過飽和度が高いほど、成膜速度が大きくなること
が知られている。そして、この過飽和度を高めるため
に、活性剤を添加することが行われる。
膜の形成速度(以下、成膜速度という。)は、ケイフッ
化水素酸水溶液中の二酸化ケイ素の過飽和度によって決
まり、過飽和度が高いほど、成膜速度が大きくなること
が知られている。そして、この過飽和度を高めるため
に、活性剤を添加することが行われる。
【0004】活性剤は、例えば、アルミニウムAl であ
って、ケイフッ化水素酸水溶液内に添加される。これに
より、次の2つの平衡反応式のうち、”化2”に示す反
応が実施され、これに伴って、”化1”に示す二酸化ケ
イ素の成膜反応が促進されるようになっている。
って、ケイフッ化水素酸水溶液内に添加される。これに
より、次の2つの平衡反応式のうち、”化2”に示す反
応が実施され、これに伴って、”化1”に示す二酸化ケ
イ素の成膜反応が促進されるようになっている。
【0005】
【化1】
【化2】
【0006】ところで、このような成膜反応は、活性剤
の添加直後には、過飽和度が最も大きくなるために、最
も促進される。しかしながら、時間の経過とともに、”
化1”の反応が進行して、二酸化ケイ素が基材の表面お
よびケイフッ化水素酸水溶液内に析出するために、ケイ
フッ化水素酸水溶液中の二酸化ケイ素の過飽和度が漸次
低下し、これに伴って、成膜速度が低下してしまうとい
う不都合がある。
の添加直後には、過飽和度が最も大きくなるために、最
も促進される。しかしながら、時間の経過とともに、”
化1”の反応が進行して、二酸化ケイ素が基材の表面お
よびケイフッ化水素酸水溶液内に析出するために、ケイ
フッ化水素酸水溶液中の二酸化ケイ素の過飽和度が漸次
低下し、これに伴って、成膜速度が低下してしまうとい
う不都合がある。
【0007】図5は従来の二酸化ケイ素被膜の製造装置
の1例を示す。この製造装置は、処理液52を貯留した
内部に基材53を浸漬状態に配置する処理槽54と、処
理槽54とは独立した別の容器内のほう酸水溶液55を
添加する注入部56とを、隔壁57を挟んで配置すると
ともに、処理槽54と注入部56間において処理液52
を循環させる循環ポンプ58とフィルタ59とを具備し
ている。これにより処理液52は、濾過されながら処理
槽54と注入部56間を循環させられて、基材53の表
面に二酸化ケイ素被膜を析出形成することができるよう
になっている。又、前記処理槽54及び注入部56は水
60を収容した外槽61内に設置されている。尚、符号
62はヒーター、符号63は攪拌器である。
の1例を示す。この製造装置は、処理液52を貯留した
内部に基材53を浸漬状態に配置する処理槽54と、処
理槽54とは独立した別の容器内のほう酸水溶液55を
添加する注入部56とを、隔壁57を挟んで配置すると
ともに、処理槽54と注入部56間において処理液52
を循環させる循環ポンプ58とフィルタ59とを具備し
ている。これにより処理液52は、濾過されながら処理
槽54と注入部56間を循環させられて、基材53の表
面に二酸化ケイ素被膜を析出形成することができるよう
になっている。又、前記処理槽54及び注入部56は水
60を収容した外槽61内に設置されている。尚、符号
62はヒーター、符号63は攪拌器である。
【0008】図6は従来の二酸化ケイ素被膜の製造装置
の他の例を示す。この製造装置は、処理液52を貯留し
た内部に基材53を浸漬状態に配置する処理槽54と、
この処理槽54に隣接して、活性剤55を溶解する処理
液調整槽56とを備えている。また両槽54,56間に
おいて処理液52を循環させる循環ポンプ58とフィル
タ59とが設けられている。また前記処理槽54及び処
理液調整槽56は水60を収容した外槽61内に設置さ
れている。なお、符号62はヒーター、符号63は攪拌
器である。
の他の例を示す。この製造装置は、処理液52を貯留し
た内部に基材53を浸漬状態に配置する処理槽54と、
この処理槽54に隣接して、活性剤55を溶解する処理
液調整槽56とを備えている。また両槽54,56間に
おいて処理液52を循環させる循環ポンプ58とフィル
タ59とが設けられている。また前記処理槽54及び処
理液調整槽56は水60を収容した外槽61内に設置さ
れている。なお、符号62はヒーター、符号63は攪拌
器である。
【0009】図5及び図6に示す従来例においては、活
性剤溶解部から処理槽までの距離が長くかつ処理槽につ
ながる配管経路に送液用の循環ポンプやフィルタを含む
ので、活性剤を溶解した直後の液が処理槽に到達するま
でに長時間を要する。このため、活性剤を溶解した直後
にはSi O2 を過飽和に含んだ処理液も基材に到達する
までの間に溶解していたSi O2 を管路内壁面に析出堆
積し、Si O2 のダストを発生するという欠陥がある。
しかも基材到達までの間に該液の過飽和度が低下するの
で十分な膜生成速度が得られないという不利な面があっ
た。
性剤溶解部から処理槽までの距離が長くかつ処理槽につ
ながる配管経路に送液用の循環ポンプやフィルタを含む
ので、活性剤を溶解した直後の液が処理槽に到達するま
でに長時間を要する。このため、活性剤を溶解した直後
にはSi O2 を過飽和に含んだ処理液も基材に到達する
までの間に溶解していたSi O2 を管路内壁面に析出堆
積し、Si O2 のダストを発生するという欠陥がある。
しかも基材到達までの間に該液の過飽和度が低下するの
で十分な膜生成速度が得られないという不利な面があっ
た。
【0010】本発明は、上述した事情に鑑みてなされた
ものであって、二酸化ケイ素の析出に伴う成膜速度の低
下を防止する二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置を
提供することを目的としている。
ものであって、二酸化ケイ素の析出に伴う成膜速度の低
下を防止する二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置を
提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、次の2つの手段を提案している。第1の
手段は、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液を含む処理液と基材とを接触させて基材表
面に二酸化ケイ素被膜を析出させる方法において、前記
処理液を流動させるとともに、該処理液と基材を接触さ
せ、かつ該基材の上流近傍に活性剤を添加する二酸化ケ
イ素被膜の製造方法を提案している。第2の手段は、二
酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化水素酸水溶
液を含む処理液と基材とを接触させて基材表面に二酸化
ケイ素被膜を析出させる装置において、前記処理液に前
記基材を接触させる処理槽と、処理液を流動させる処理
液流動手段とを具備し、前記処理槽内の前記基材の上流
近傍に活性剤添加部が設けられている二酸化ケイ素被膜
の製造装置を提案している。
に、本発明は、次の2つの手段を提案している。第1の
手段は、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液を含む処理液と基材とを接触させて基材表
面に二酸化ケイ素被膜を析出させる方法において、前記
処理液を流動させるとともに、該処理液と基材を接触さ
せ、かつ該基材の上流近傍に活性剤を添加する二酸化ケ
イ素被膜の製造方法を提案している。第2の手段は、二
酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化水素酸水溶
液を含む処理液と基材とを接触させて基材表面に二酸化
ケイ素被膜を析出させる装置において、前記処理液に前
記基材を接触させる処理槽と、処理液を流動させる処理
液流動手段とを具備し、前記処理槽内の前記基材の上流
近傍に活性剤添加部が設けられている二酸化ケイ素被膜
の製造装置を提案している。
【0012】
【作用】本発明の第1の手段に係る二酸化ケイ素被膜の
製造方法によれば、例えば処理槽内に浸漬される基材の
周囲に、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液を含む処理液が流動させられる。そして、
活性剤は基材の上流近傍に添加されるので、処理液の流
動とともに、基材の表面周辺に二酸化ケイ素の過飽和度
の高い処理液が流通するので基材表面における二酸化ケ
イ素被膜の成膜速度が増大されることになる。また、本
発明の第2の手段に係る二酸化ケイ素被膜の製造装置に
よれば、例えば処理槽内に貯留されるケイフッ化水素酸
水溶液を含む処理液が、処理液流動手段を作動させるこ
とにより、処理槽内において流動させられる。これによ
り、処理槽内に浸漬される基材の周囲に処理液が流通さ
せられる。そして、活性剤添加部に活性剤を供給するこ
とにより、基材の上流近傍から活性剤の局所添加によっ
て二酸化ケイ素の過飽和度の高い処理液が基材の周囲に
流通させられ、二酸化ケイ素被膜の成膜速度が増大され
ることになる。
製造方法によれば、例えば処理槽内に浸漬される基材の
周囲に、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液を含む処理液が流動させられる。そして、
活性剤は基材の上流近傍に添加されるので、処理液の流
動とともに、基材の表面周辺に二酸化ケイ素の過飽和度
の高い処理液が流通するので基材表面における二酸化ケ
イ素被膜の成膜速度が増大されることになる。また、本
発明の第2の手段に係る二酸化ケイ素被膜の製造装置に
よれば、例えば処理槽内に貯留されるケイフッ化水素酸
水溶液を含む処理液が、処理液流動手段を作動させるこ
とにより、処理槽内において流動させられる。これによ
り、処理槽内に浸漬される基材の周囲に処理液が流通さ
せられる。そして、活性剤添加部に活性剤を供給するこ
とにより、基材の上流近傍から活性剤の局所添加によっ
て二酸化ケイ素の過飽和度の高い処理液が基材の周囲に
流通させられ、二酸化ケイ素被膜の成膜速度が増大され
ることになる。
【0013】
【実施例】以下、本発明に係る二酸化ケイ素被膜の製造
方法および装置の第1実施例について、図1を参照して
説明する。
方法および装置の第1実施例について、図1を参照して
説明する。
【0014】本実施例の二酸化ケイ素被膜の製造装置1
(以下、単に成膜装置という)も、従来例に示した液相
成膜法を利用するものであるが、その構成において従来
例と相違している。すなわち、二酸化ケイ素被膜の製造
装置は、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液2(以下、処理液という)を貯留する処理
槽3と、該処理槽3内上部に配される基材設置部4と、
処理槽3内下部に配される活性剤添加部5と、前記基材
設置部4と活性剤添加部5とを上下に区画するように配
される整流板6と、前記処理槽3内の処理液2を活性剤
添加部5から基材設置部4に向けて流動させるとともに
再度活性剤添加部5に循環させる循環手段7と、前記処
理槽3の温度調節を行う温度調節手段8とを具備してい
る。
(以下、単に成膜装置という)も、従来例に示した液相
成膜法を利用するものであるが、その構成において従来
例と相違している。すなわち、二酸化ケイ素被膜の製造
装置は、二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイフッ化
水素酸水溶液2(以下、処理液という)を貯留する処理
槽3と、該処理槽3内上部に配される基材設置部4と、
処理槽3内下部に配される活性剤添加部5と、前記基材
設置部4と活性剤添加部5とを上下に区画するように配
される整流板6と、前記処理槽3内の処理液2を活性剤
添加部5から基材設置部4に向けて流動させるとともに
再度活性剤添加部5に循環させる循環手段7と、前記処
理槽3の温度調節を行う温度調節手段8とを具備してい
る。
【0015】前記処理槽3は、開閉自在の上蓋9によっ
て上部を閉塞されている。また、処理槽3には、その上
部に水素ガス排出管10が設けられており、活性剤11
の添加に伴う上述した反応(”化2”)の結果、発生す
る水素ガスの一部が、該水素ガス排出管10を通して排
出されるようになっている。
て上部を閉塞されている。また、処理槽3には、その上
部に水素ガス排出管10が設けられており、活性剤11
の添加に伴う上述した反応(”化2”)の結果、発生す
る水素ガスの一部が、該水素ガス排出管10を通して排
出されるようになっている。
【0016】前記基材設置部4は、その内部に貯留され
ている処理液2に、シリコンウエハ等の基材12を浸漬
状態に設置することができるようになっている。前記活
性剤添加部5は、前記基材設置部4の上流に配置されて
おり、処理液3内に、例えばアルミニウム板等の活性剤
11を配置することができるようになっている。
ている処理液2に、シリコンウエハ等の基材12を浸漬
状態に設置することができるようになっている。前記活
性剤添加部5は、前記基材設置部4の上流に配置されて
おり、処理液3内に、例えばアルミニウム板等の活性剤
11を配置することができるようになっている。
【0017】前記整流板6は、前記循環手段7によって
下から上に向けて流動させられる処理液2を透過させる
複数の小孔6aを有している。そして、該小孔6aを透
過する際に、処理液2の流動様相を整流して、基材12
の周囲に流通させられる処理液2に乱れが生じないよう
にしている。
下から上に向けて流動させられる処理液2を透過させる
複数の小孔6aを有している。そして、該小孔6aを透
過する際に、処理液2の流動様相を整流して、基材12
の周囲に流通させられる処理液2に乱れが生じないよう
にしている。
【0018】前記循環手段7は、前記基材設置部4の上
部に接続される排出管13と、排出管13から排出され
る処理液2を一時的に貯留する貯留槽14と、該貯留槽
14内に貯留されている処理液2を一定の割合で流出さ
せるポンプよりなる循環装置15と、流出させられた処
理液2を濾過する濾過手段16と、該濾過手段16と前
記活性剤添加部5の下部との間を連結する供給管17と
を具備している。
部に接続される排出管13と、排出管13から排出され
る処理液2を一時的に貯留する貯留槽14と、該貯留槽
14内に貯留されている処理液2を一定の割合で流出さ
せるポンプよりなる循環装置15と、流出させられた処
理液2を濾過する濾過手段16と、該濾過手段16と前
記活性剤添加部5の下部との間を連結する供給管17と
を具備している。
【0019】前記貯留槽14は、大気開放状態とされて
おり、その上部開口14aの上方に前記排出管13の出
口が配置されている。これにより、基材設置部4の上部
から排出された処理液2は、上部開口14aから貯留槽
14内に投入されて貯留されるようになっている。ま
た、上述した活性剤11の添加に伴って発生する水素ガ
スの一部は、この貯留槽14の上部開口14aから大気
放出されるようになっている。
おり、その上部開口14aの上方に前記排出管13の出
口が配置されている。これにより、基材設置部4の上部
から排出された処理液2は、上部開口14aから貯留槽
14内に投入されて貯留されるようになっている。ま
た、上述した活性剤11の添加に伴って発生する水素ガ
スの一部は、この貯留槽14の上部開口14aから大気
放出されるようになっている。
【0020】前記濾過手段16は、処理液2内に析出し
た二酸化ケイ素を除去するフィルタである。これによ
り、処理液2が清浄なものとされた後に、供給管17を
通して活性剤添加部5の下部に供給されるようになって
いる。なお、図1において符号18は、清浄化された処
理液2の供給流量を適当に設定可能な流量調整バルブで
ある。
た二酸化ケイ素を除去するフィルタである。これによ
り、処理液2が清浄なものとされた後に、供給管17を
通して活性剤添加部5の下部に供給されるようになって
いる。なお、図1において符号18は、清浄化された処
理液2の供給流量を適当に設定可能な流量調整バルブで
ある。
【0021】前記温度調節手段8は、前記処理槽3の周
囲に配され熱媒体19を貯留する外槽20と、該外槽2
0内に投入され熱媒体19を加熱するヒーター21と、
該ヒーター21による加熱を一定温度に保持する温度調
節器22とを具備している。そして、ヒーター21の作
動によって熱媒体19を加熱し、該熱媒体19を介し
て、処理槽3内の処理液2の温度を一定状態に保持する
ことができるようになっている。
囲に配され熱媒体19を貯留する外槽20と、該外槽2
0内に投入され熱媒体19を加熱するヒーター21と、
該ヒーター21による加熱を一定温度に保持する温度調
節器22とを具備している。そして、ヒーター21の作
動によって熱媒体19を加熱し、該熱媒体19を介し
て、処理槽3内の処理液2の温度を一定状態に保持する
ことができるようになっている。
【0022】このように構成された成膜装置1によっ
て、基材12上に二酸化ケイ素の被膜を形成するには、
処理槽3内に処理液2を貯留し、基材設置部4に基材2
を浸漬し、活性剤添加部5にアルミニウム等の活性剤1
1を配置する。そして、循環手段7を作動させることに
より、処理槽3内の処理液2を下から上、つまり、活性
剤添加部5から基材設置部4へと流動させる。
て、基材12上に二酸化ケイ素の被膜を形成するには、
処理槽3内に処理液2を貯留し、基材設置部4に基材2
を浸漬し、活性剤添加部5にアルミニウム等の活性剤1
1を配置する。そして、循環手段7を作動させることに
より、処理槽3内の処理液2を下から上、つまり、活性
剤添加部5から基材設置部4へと流動させる。
【0023】活性剤添加部4では、前述した”化
1”、”化2”の反応が実施され、二酸化ケイ素の過飽
和度が増大させられる。そして、このようにして二酸化
ケイ素の過飽和度を高められた処理液2は、整流板6に
よって整流され、その後流に配されている基材12の周
囲を流通させられる。したがって、基材12の表面に
は、活性剤11が添加された直後の二酸化ケイ素の過飽
和度の大きな処理液2が供給されることになり、該基材
12表面における二酸化ケイ素被膜の形成が促進される
ことになる。
1”、”化2”の反応が実施され、二酸化ケイ素の過飽
和度が増大させられる。そして、このようにして二酸化
ケイ素の過飽和度を高められた処理液2は、整流板6に
よって整流され、その後流に配されている基材12の周
囲を流通させられる。したがって、基材12の表面に
は、活性剤11が添加された直後の二酸化ケイ素の過飽
和度の大きな処理液2が供給されることになり、該基材
12表面における二酸化ケイ素被膜の形成が促進される
ことになる。
【0024】基材12の周囲を通過した処理液2は、二
酸化ケイ素の析出によって、その過飽和度が低減させら
れ、排出管13を通して処理槽3から排出された後に、
貯留槽14に一時的に貯留される。また、活性剤11の
近傍で発生した水素ガスは、その一部が処理槽3上部の
水素ガス排出管10から排出されるとともに、貯留槽1
4における貯留時にその上部開口14aから放出され
る。
酸化ケイ素の析出によって、その過飽和度が低減させら
れ、排出管13を通して処理槽3から排出された後に、
貯留槽14に一時的に貯留される。また、活性剤11の
近傍で発生した水素ガスは、その一部が処理槽3上部の
水素ガス排出管10から排出されるとともに、貯留槽1
4における貯留時にその上部開口14aから放出され
る。
【0025】そして、循環装置15の作動によって、水
素ガスが除去された処理液2は、貯留槽14から一定の
割合で排出され、濾過装置16を挿通させられる。濾過
装置16を通過する際には、二酸化ケイ素の沈殿物等の
不純物が除去される。そして、清浄化された処理液2
は、供給管17を通して、処理槽3下部の活性剤添加部
5に再度供給され、上記処理が連続的に繰り返されるこ
とになる。
素ガスが除去された処理液2は、貯留槽14から一定の
割合で排出され、濾過装置16を挿通させられる。濾過
装置16を通過する際には、二酸化ケイ素の沈殿物等の
不純物が除去される。そして、清浄化された処理液2
は、供給管17を通して、処理槽3下部の活性剤添加部
5に再度供給され、上記処理が連続的に繰り返されるこ
とになる。
【0026】したがって、本実施例の成膜装置1によれ
ば、温度調整手段8の作動によって最適な温度に設定さ
れた処理槽3内の処理液2を流動させ、該処理液2中に
浸漬される基材12の上流に、活性剤11を配置したの
で、活性剤11によって二酸化ケイ素の過飽和度を高め
られた処理液2が、連続的に供給され、基材12表面に
おける成膜速度を向上することができる。
ば、温度調整手段8の作動によって最適な温度に設定さ
れた処理槽3内の処理液2を流動させ、該処理液2中に
浸漬される基材12の上流に、活性剤11を配置したの
で、活性剤11によって二酸化ケイ素の過飽和度を高め
られた処理液2が、連続的に供給され、基材12表面に
おける成膜速度を向上することができる。
【0027】これに対し、従来の方法では図5及び図6
に示すように活性剤の添加は、成膜対象とする基材の上
流側近傍ではなく遠方で行われる。活性剤添加部分から
成膜部まで時間的に遠い場合、あるいは途中ポンプやフ
ィルタ等を介し距離的に遠い場合、途中で過飽和の二酸
化ケイ素が析出してしまい活性剤添加直後の二酸化ケイ
素の過飽和度が高まった処理液を基材に接触させること
ができないので、成膜速度を増加する効果が発生しな
い。
に示すように活性剤の添加は、成膜対象とする基材の上
流側近傍ではなく遠方で行われる。活性剤添加部分から
成膜部まで時間的に遠い場合、あるいは途中ポンプやフ
ィルタ等を介し距離的に遠い場合、途中で過飽和の二酸
化ケイ素が析出してしまい活性剤添加直後の二酸化ケイ
素の過飽和度が高まった処理液を基材に接触させること
ができないので、成膜速度を増加する効果が発生しな
い。
【0028】なお、本実施例においては、処理槽3内の
処理液2の流動方向を下から上に向かうこととしたが、
これに代えて、図2に示すように、活性剤添加部5を処
理槽3上部に、基材設置部4を下部に配して、処理液2
を処理槽3の底部から引き抜き処理槽3の上部に戻すよ
うに循環手段7を構成し、処理液2の流動方向を上から
下に向かうこととしてもよい。また、図3に示すよう
に、処理槽3内を整流板6によって左右に区画し、活性
剤添加部5と基材設置部4とを横並びに配置して、処理
液2を基材設置部4から引き抜き活性剤添加部5に戻す
ように循環手段7を構成し、処理液2の流動方向を横向
きにすることとしてもよい。このようにすると、活性剤
11および基材12の処理槽3上部からの取り出し作業
をともに容易に行うことができるという利点がある。
処理液2の流動方向を下から上に向かうこととしたが、
これに代えて、図2に示すように、活性剤添加部5を処
理槽3上部に、基材設置部4を下部に配して、処理液2
を処理槽3の底部から引き抜き処理槽3の上部に戻すよ
うに循環手段7を構成し、処理液2の流動方向を上から
下に向かうこととしてもよい。また、図3に示すよう
に、処理槽3内を整流板6によって左右に区画し、活性
剤添加部5と基材設置部4とを横並びに配置して、処理
液2を基材設置部4から引き抜き活性剤添加部5に戻す
ように循環手段7を構成し、処理液2の流動方向を横向
きにすることとしてもよい。このようにすると、活性剤
11および基材12の処理槽3上部からの取り出し作業
をともに容易に行うことができるという利点がある。
【0029】次に、本発明の成膜装置30の他の実施例
を図4に示す。この実施例は、添加材31としてホウ酸
水溶液等の液状のものを使用している点において、上記
実施例の成膜装置1と相違している。したがって、本実
施例の成膜装置30では、処理槽3下部の活性剤添加部
5に活性剤供給手段32を設けている。
を図4に示す。この実施例は、添加材31としてホウ酸
水溶液等の液状のものを使用している点において、上記
実施例の成膜装置1と相違している。したがって、本実
施例の成膜装置30では、処理槽3下部の活性剤添加部
5に活性剤供給手段32を設けている。
【0030】前記活性剤供給手段32は、処理槽3外部
に配される活性剤タンク33と、該活性剤タンク33内
の活性剤31を適宜流出させるポンプ34と、該ポンプ
34に接続され処理槽3内の活性剤添加部5に開口させ
られて整流板6の下方から基材12に向けて活性剤31
を噴出するノズル35とを具備している。
に配される活性剤タンク33と、該活性剤タンク33内
の活性剤31を適宜流出させるポンプ34と、該ポンプ
34に接続され処理槽3内の活性剤添加部5に開口させ
られて整流板6の下方から基材12に向けて活性剤31
を噴出するノズル35とを具備している。
【0031】本実施例の成膜装置30によれば、循環手
段7の作動によって活性剤添加部5から基材設置部4に
向けて流動させられる処理液2に、基材12の上流にお
いて液状の活性剤31が添加されるので、上記実施例と
同様に、基材12には、清浄化されかつ二酸化ケイ素の
過飽和度を高められた処理液2が接触させられる。これ
により、基材12表面における成膜速度が向上され、成
膜に要する所要時間を短縮して、製造効率を向上するこ
とができる。
段7の作動によって活性剤添加部5から基材設置部4に
向けて流動させられる処理液2に、基材12の上流にお
いて液状の活性剤31が添加されるので、上記実施例と
同様に、基材12には、清浄化されかつ二酸化ケイ素の
過飽和度を高められた処理液2が接触させられる。これ
により、基材12表面における成膜速度が向上され、成
膜に要する所要時間を短縮して、製造効率を向上するこ
とができる。
【0032】《実験例》ここで、本発明の第1実施例に
係る成膜装置1による実験例を示す。実験条件は以下の
とおりである。 基材 : 直径50mmのシリコンウエ
ハ 活性剤 : アルミニウム板 処理液温度 : 30℃ 処理液循環速度 : 6ml/min 成膜時間 : 2時間
係る成膜装置1による実験例を示す。実験条件は以下の
とおりである。 基材 : 直径50mmのシリコンウエ
ハ 活性剤 : アルミニウム板 処理液温度 : 30℃ 処理液循環速度 : 6ml/min 成膜時間 : 2時間
【0033】実験に際しては、まず、処理槽内に基材を
浸漬しない状態で、6時間の処理液循環を行い、処理液
内に、活性剤を十分に溶解させることにより、過飽和状
態の二酸化ケイ素を含む処理液を生成する。その後に、
処理液の循環を一旦停止して、上蓋を開け、処理槽内に
基材を浸漬して、上記条件による成膜実験を行った。そ
して、成膜時間の終了直前に、処理槽から排出される処
理液を採取して、そのアルミニウムの濃度を調べ、ま
た、成膜時間の終了後に、浸漬されていた基材を取り出
して、その表面に析出した二酸化ケイ素の膜厚を計測し
た。その結果を、成膜温度、処理液循環速度、成膜時間
を同一条件に設定して行った従来の成膜方法による結果
と比較して次表に示す。
浸漬しない状態で、6時間の処理液循環を行い、処理液
内に、活性剤を十分に溶解させることにより、過飽和状
態の二酸化ケイ素を含む処理液を生成する。その後に、
処理液の循環を一旦停止して、上蓋を開け、処理槽内に
基材を浸漬して、上記条件による成膜実験を行った。そ
して、成膜時間の終了直前に、処理槽から排出される処
理液を採取して、そのアルミニウムの濃度を調べ、ま
た、成膜時間の終了後に、浸漬されていた基材を取り出
して、その表面に析出した二酸化ケイ素の膜厚を計測し
た。その結果を、成膜温度、処理液循環速度、成膜時間
を同一条件に設定して行った従来の成膜方法による結果
と比較して次表に示す。
【0034】 ──────────────────────────────────── 本発明 従来 ──────────────────────────────────── 成膜温度 ℃ 30 30 ──────────────────────────────────── 活性剤濃度 mol/l 0.27 0.30 ──────────────────────────────────── 成膜時間 h 2 2 ──────────────────────────────────── 処理液循環速度 ml/min 6 6 ──────────────────────────────────── 膜厚 (オンク゛ストローム) 6520 2910 ────────────────────────────────────
【0035】これによれば、本発明に係る成膜装置1で
は、従来方法による場合よりも、活性剤の濃度が低いに
もかかわらず、2時間の処理で得られた二酸化ケイ素の
膜厚は、6520オングストロームと、従来法の2倍以
上の厚さとなった。すなわち、本実験例によれば、本発
明の成膜方法及び装置1による二酸化ケイ素の成膜速度
は、従来法の場合の2.2倍程度となり、所定寸法の膜
厚を有する被膜を製造する場合の成膜時間を半分以下に
短縮することができることが確認された。
は、従来方法による場合よりも、活性剤の濃度が低いに
もかかわらず、2時間の処理で得られた二酸化ケイ素の
膜厚は、6520オングストロームと、従来法の2倍以
上の厚さとなった。すなわち、本実験例によれば、本発
明の成膜方法及び装置1による二酸化ケイ素の成膜速度
は、従来法の場合の2.2倍程度となり、所定寸法の膜
厚を有する被膜を製造する場合の成膜時間を半分以下に
短縮することができることが確認された。
【0036】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明に係る二酸
化ケイ素被膜の製造方法および装置によれば、基材を浸
漬する処理液を処理槽内において流動させ、活性剤添加
部を基材の上流側近傍に配したので、活性剤の添加によ
って局所的に二酸化ケイ素の過飽和度が高められた処理
液が、その下流に配される基材の周囲を流通させられる
ことになり、基材表面における二酸化ケイ素の析出を連
続的に促進することができる。その結果、基材表面にお
ける二酸化ケイ素被膜の形成時間を短縮して、処理効率
を向上することができるという効果を奏する。
化ケイ素被膜の製造方法および装置によれば、基材を浸
漬する処理液を処理槽内において流動させ、活性剤添加
部を基材の上流側近傍に配したので、活性剤の添加によ
って局所的に二酸化ケイ素の過飽和度が高められた処理
液が、その下流に配される基材の周囲を流通させられる
ことになり、基材表面における二酸化ケイ素の析出を連
続的に促進することができる。その結果、基材表面にお
ける二酸化ケイ素被膜の形成時間を短縮して、処理効率
を向上することができるという効果を奏する。
【図1】本発明に係る成膜装置の第1実施例を示す模式
図である。
図である。
【図2】本発明に係る成膜装置の第2実施例を示す模式
図である。
図である。
【図3】本発明に係る成膜装置の第3実施例を示す模式
図である。
図である。
【図4】本発明に係る成膜装置の他の実施例を示す模式
図である。
図である。
【図5】従来の成膜装置の1例を示す模式図である。
【図6】従来の成膜装置の他の例を示す模式図である。
1・30 成膜装置(二酸化ケイ素被膜の製造装置) 2 処理液 3 処理槽 4 基材設置部 5 活性剤添加部 6 整流板 7 循環手段(処理液流動手段) 8 温度調節手段 9 上蓋 10 水素ガス排出管 11・31 活性剤 12 基材 13 排出管 14 貯留槽 15 循環装置 16 濾過手段 17 供給管 18 流量調整バルブ 19 熱媒体 20 外槽 21 ヒーター 22 温度調節器 32 活性剤供給手段 33 活性剤タンク 34 ポンプ 35 ノズル
フロントページの続き (72)発明者 舘石 久仁男 神奈川県藤沢市本藤沢4丁目2番1号 株 式会社荏原総合研究所内
Claims (2)
- 【請求項1】 二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイ
フッ化水素酸水溶液を含む処理液と基材とを接触させて
基材表面に二酸化ケイ素被膜を析出させる方法におい
て、前記処理液を流動させるとともに、該処理液と基材
を接触させ、かつ、該基材の上流側近傍に活性剤を添加
し、更に該基材上流側の該活性剤添加箇所に至るまでの
間にポンプやフィルタ等が介在しないことを特徴とする
二酸化ケイ素被膜の製造方法。 - 【請求項2】 二酸化ケイ素が過飽和状態となったケイ
フッ化水素酸水溶液を含む処理液と基材とを接触させて
基材表面に二酸化ケイ素被膜を析出させる装置におい
て、前記処理液を前記基材と接触させる処理槽と、処理
液を流動させる処理液流動手段とを具備し、前記処理槽
内の前記基材の上流側近傍に活性剤添加部が設けられて
おり、更に該基材上流側の該活性剤添加部に至るまでの
流路にポンプやフィルタ等が介在しないことを特徴とす
る二酸化ケイ素被膜の製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34182493A JPH07165411A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34182493A JPH07165411A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07165411A true JPH07165411A (ja) | 1995-06-27 |
Family
ID=18349043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34182493A Pending JPH07165411A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 二酸化ケイ素被膜の製造方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07165411A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004084020A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Ebara Corp | 基板処理装置及び方法 |
| JP2007332448A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Seiko Epson Corp | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 |
-
1993
- 1993-12-13 JP JP34182493A patent/JPH07165411A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004084020A (ja) * | 2002-08-27 | 2004-03-18 | Ebara Corp | 基板処理装置及び方法 |
| JP2007332448A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Seiko Epson Corp | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 |
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