JPH07166336A - マグネトロンスパッタリング用高強度焼結ターゲット材 - Google Patents
マグネトロンスパッタリング用高強度焼結ターゲット材Info
- Publication number
- JPH07166336A JPH07166336A JP31212993A JP31212993A JPH07166336A JP H07166336 A JPH07166336 A JP H07166336A JP 31212993 A JP31212993 A JP 31212993A JP 31212993 A JP31212993 A JP 31212993A JP H07166336 A JPH07166336 A JP H07166336A
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- JP
- Japan
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- metal
- rare earth
- target material
- earth metal
- sintered target
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 マグネトロンスパッタリング法により光磁気
記録薄膜を形成するのに用いられる高強度焼結ターゲッ
ト材を提供する。 【構成】高強度焼結ターゲット材が、重量%で、Cr,
Ti,Nb,MoおよびTaの内のいずれかの被覆金
属:0.1〜10%、希土類金属:30〜50%、鉄属
金属:残りからなる組成、ならびに希土類金属−鉄属金
属の金属間化合物相、この金属間化合物の表面を被覆す
る上記被覆金属相、および希土類金属相からなる組織を
有し、かつ90%以上の理論密度比を有する。
記録薄膜を形成するのに用いられる高強度焼結ターゲッ
ト材を提供する。 【構成】高強度焼結ターゲット材が、重量%で、Cr,
Ti,Nb,MoおよびTaの内のいずれかの被覆金
属:0.1〜10%、希土類金属:30〜50%、鉄属
金属:残りからなる組成、ならびに希土類金属−鉄属金
属の金属間化合物相、この金属間化合物の表面を被覆す
る上記被覆金属相、および希土類金属相からなる組織を
有し、かつ90%以上の理論密度比を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば光磁気記録薄
膜をマグネトロンスパッタリングにより形成するのに用
いられる高強度焼結ターゲット材に関するものである。
膜をマグネトロンスパッタリングにより形成するのに用
いられる高強度焼結ターゲット材に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、マグネトロンスパッタリング法に
より光磁気記録薄膜を形成するに際しては多くの焼結タ
ーゲット材が用いられており、これらの多くの焼結ター
ゲット材の中で希土類金属と鉄族金属の金属間化合物
と,希土類金属単体の混合組織からなる焼結ターゲット
材が、例えば特開昭63−274764号公報に記載さ
れる通り知られている。
より光磁気記録薄膜を形成するに際しては多くの焼結タ
ーゲット材が用いられており、これらの多くの焼結ター
ゲット材の中で希土類金属と鉄族金属の金属間化合物
と,希土類金属単体の混合組織からなる焼結ターゲット
材が、例えば特開昭63−274764号公報に記載さ
れる通り知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来焼結ターゲ
ット材では、希土類金属と鉄族金属の金属間化合物(以
下、金属間化合物と言う)と希土類金属との反応を抑制
するために焼結温度をあまり高くすることはできず、こ
の結果、ターゲット材の密度向上をはかることができな
いので、ターゲット材の強度は不十分なものとならざる
を得なかった。
ット材では、希土類金属と鉄族金属の金属間化合物(以
下、金属間化合物と言う)と希土類金属との反応を抑制
するために焼結温度をあまり高くすることはできず、こ
の結果、ターゲット材の密度向上をはかることができな
いので、ターゲット材の強度は不十分なものとならざる
を得なかった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記従来マグネトロンス
パッタリング用焼結ターゲット材の持つ問題点を解決す
るため本発明者等は種々の研究を重ねた結果、上記従来
マグネトロンスパッタリング用焼結ターゲット材におけ
る金属間化合物相の表面をCr,Ti,Nb,Moおよ
びTaの内のいずれかからなる金属で被覆した組織とす
ると、この結果のターゲット材においては、高温焼結し
ても金属間化合物相と希土類金属相との焼結時の反応が
上記被覆金属相によって抑制されることから、焼結後
も、金属間化合物相と希土類金属相が前記被覆金属相と
共に存在した組織となり、かつ前記高温焼結によって理
論密度比で90%以上の高い密度、即ち、高強度を有す
るようになるという研究結果を得たのである。
パッタリング用焼結ターゲット材の持つ問題点を解決す
るため本発明者等は種々の研究を重ねた結果、上記従来
マグネトロンスパッタリング用焼結ターゲット材におけ
る金属間化合物相の表面をCr,Ti,Nb,Moおよ
びTaの内のいずれかからなる金属で被覆した組織とす
ると、この結果のターゲット材においては、高温焼結し
ても金属間化合物相と希土類金属相との焼結時の反応が
上記被覆金属相によって抑制されることから、焼結後
も、金属間化合物相と希土類金属相が前記被覆金属相と
共に存在した組織となり、かつ前記高温焼結によって理
論密度比で90%以上の高い密度、即ち、高強度を有す
るようになるという研究結果を得たのである。
【0005】つぎに、この発明の焼結ターゲット材にお
いて、配合組成および金属被覆層の割合を上記の通りに
限定した理由を説明する。 (a)希土類金属 ターゲット中の希土類金属の割合が重量%で30%未満
の場合および重量%で50%を越えた場合、形成薄膜に
満足な光磁気特性が得られないことから重量%で30〜
50%と定めた。
いて、配合組成および金属被覆層の割合を上記の通りに
限定した理由を説明する。 (a)希土類金属 ターゲット中の希土類金属の割合が重量%で30%未満
の場合および重量%で50%を越えた場合、形成薄膜に
満足な光磁気特性が得られないことから重量%で30〜
50%と定めた。
【0006】(b)被覆金属 被覆金属には、上記の通り高温焼結での金属間化合物相
と希土類金属相の反応を抑制する作用があるが、その重
量%が0.1%未満では前記作用に所望の結果が得られ
ず、一方その重量%が10%を越えると形成薄膜の光磁
気特性に悪影響を及ぼすため、その割合を重量%で0.
1〜10%と定めた。
と希土類金属相の反応を抑制する作用があるが、その重
量%が0.1%未満では前記作用に所望の結果が得られ
ず、一方その重量%が10%を越えると形成薄膜の光磁
気特性に悪影響を及ぼすため、その割合を重量%で0.
1〜10%と定めた。
【0007】
【実施例】つぎに、この発明の焼結ターゲット材を実施
例により具体的に説明する。いずれも100μmの平均
粒径を有し、かつ表1に示される組成を持った金属間化
合物粉末、ならびに希土類金属粉末を用意し、また上記
金属間化合物粉末の表面には、スパッタリング法により
通常の条件で同じく表1に示される組み合わせと割合で
金属被覆層を形成し、これら原料粉末を同じく表1に示
される配合組成に配合し、ボールミルで5時間混合した
後、真空雰囲気中、温度:1000〜1200℃の範囲
内の所定の温度、圧力:300kg/cm2、時間:1時間の
条件でホットプレスすることにより本発明焼結ターゲッ
ト材1〜7をそれぞれ製造した。
例により具体的に説明する。いずれも100μmの平均
粒径を有し、かつ表1に示される組成を持った金属間化
合物粉末、ならびに希土類金属粉末を用意し、また上記
金属間化合物粉末の表面には、スパッタリング法により
通常の条件で同じく表1に示される組み合わせと割合で
金属被覆層を形成し、これら原料粉末を同じく表1に示
される配合組成に配合し、ボールミルで5時間混合した
後、真空雰囲気中、温度:1000〜1200℃の範囲
内の所定の温度、圧力:300kg/cm2、時間:1時間の
条件でホットプレスすることにより本発明焼結ターゲッ
ト材1〜7をそれぞれ製造した。
【0008】また、比較の目的で、金属被覆層の形成を
行わない金属間化合物粉末を用い、前記金属間化合物粉
末と希土類金属粉末の反応を抑制する目的で、真空雰囲
気中、温度:900℃、圧力:300kg/cm2、時間:3
0分の条件で従来焼結材1〜7をそれぞれ製造した。
行わない金属間化合物粉末を用い、前記金属間化合物粉
末と希土類金属粉末の反応を抑制する目的で、真空雰囲
気中、温度:900℃、圧力:300kg/cm2、時間:3
0分の条件で従来焼結材1〜7をそれぞれ製造した。
【0009】ついで、この結果得られた各種焼結ターゲ
ット材について、理論密度比と抗折力を測定した。この
測定結果を表1に示した。
ット材について、理論密度比と抗折力を測定した。この
測定結果を表1に示した。
【0010】
【発明の効果】表1に示される結果から、本発明焼結タ
ーゲット材1〜7は金属被覆層の存在によって高温焼結
が可能となり、高密度および高強度をもつようになるの
に対して従来焼結ターゲット材1〜7においては、反応
抑制のために低温焼結とならざるを得ないことから密度
および強度は相対的に低いものとなっていることが明か
である。
ーゲット材1〜7は金属被覆層の存在によって高温焼結
が可能となり、高密度および高強度をもつようになるの
に対して従来焼結ターゲット材1〜7においては、反応
抑制のために低温焼結とならざるを得ないことから密度
および強度は相対的に低いものとなっていることが明か
である。
【0011】上述のように、この発明の焼結ターゲット
材は、金属間化合物相と希土類金属相が共存した組織を
持つと共に高強度を有するので、これをマグネトロンス
パッタリングに用いた場合、優れた光磁気特性を持つ薄
膜を作成することができ、かつ取扱が容易であるばかり
でなく大面積化を図ることもできるなど工業上有用な特
性を持つのである。
材は、金属間化合物相と希土類金属相が共存した組織を
持つと共に高強度を有するので、これをマグネトロンス
パッタリングに用いた場合、優れた光磁気特性を持つ薄
膜を作成することができ、かつ取扱が容易であるばかり
でなく大面積化を図ることもできるなど工業上有用な特
性を持つのである。
【0012】
【表1】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 仁 埼玉県大宮市北袋町1丁目297番地 三菱 マテリアル株式会社中央研究所内
Claims (2)
- 【請求項1】 重量%で、Cr,Ti,Nb,Moおよ
びTaの内のいずれかの被覆金属:0.1〜10%、希
土類金属:30〜50%、鉄属金属:残りからなる組
成、ならびに希土類金属−鉄属金属の金属間化合物相、
この金属間化合物の表面を被覆する上記被覆金属相、お
よび希土類金属相からなる組織を有し、かつ90%以上
の理論密度比を有することを特徴とするマグネトロンス
パッタリング用高強度焼結ターゲット材。 - 【請求項2】 上記希土類金属がTb,Gd,Dy,H
o,TmおよびErの内の1種または2種以上からな
り、上記鉄族金属がFe,NiおよびCoの内の1種ま
たは2種以上からなることを特徴とする請求項1記載の
マグネトロンスッパタリング用高強度焼結ターゲット
材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31212993A JPH07166336A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | マグネトロンスパッタリング用高強度焼結ターゲット材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31212993A JPH07166336A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | マグネトロンスパッタリング用高強度焼結ターゲット材 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07166336A true JPH07166336A (ja) | 1995-06-27 |
Family
ID=18025606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31212993A Withdrawn JPH07166336A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | マグネトロンスパッタリング用高強度焼結ターゲット材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07166336A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7018696B2 (en) | 2003-04-18 | 2006-03-28 | Target Technology Company Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7045188B2 (en) | 1998-06-22 | 2006-05-16 | Nee Han H | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314657B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314659B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314660B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7316837B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-08 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7374805B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-05-20 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
-
1993
- 1993-12-13 JP JP31212993A patent/JPH07166336A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7045188B2 (en) | 1998-06-22 | 2006-05-16 | Nee Han H | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7291374B2 (en) | 1998-06-22 | 2007-11-06 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7384677B2 (en) | 1998-06-22 | 2008-06-10 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314657B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314659B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314660B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7316837B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-08 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7374805B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-05-20 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7018696B2 (en) | 2003-04-18 | 2006-03-28 | Target Technology Company Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |