JPH07169276A - 同期型メモリ - Google Patents
同期型メモリInfo
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- JPH07169276A JPH07169276A JP5312105A JP31210593A JPH07169276A JP H07169276 A JPH07169276 A JP H07169276A JP 5312105 A JP5312105 A JP 5312105A JP 31210593 A JP31210593 A JP 31210593A JP H07169276 A JPH07169276 A JP H07169276A
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- clock signal
- synchronization
- word line
- decoder
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
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- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1039—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using pipelining techniques, i.e. using latches between functional memory parts, e.g. row/column decoders, I/O buffers, sense amplifiers
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- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、ワード線の二重選択を回避し
て、誤動作やアクセスタイムの遅れを防止し得る同期型
メモリを提供することを目的とする。 【構成】 この発明は、クロック信号CKの一方の変化
点に同期して確定されたアドレスにしたがって、ワード
線を選択し、クロック信号CKの他方の変化点に同期し
て全てのワード線を非選択状態にするパーシャルデコー
ダ2及びメインデコーダ3と、クロック信号CKの一方
の変化点に同期して選択されたセルから出力されるデー
タを、クロック信号CKの他方の変化点に同期して全て
のワード線が非選択状態となる前に保持する第3センス
アンプ6とを備えて構成される。
て、誤動作やアクセスタイムの遅れを防止し得る同期型
メモリを提供することを目的とする。 【構成】 この発明は、クロック信号CKの一方の変化
点に同期して確定されたアドレスにしたがって、ワード
線を選択し、クロック信号CKの他方の変化点に同期し
て全てのワード線を非選択状態にするパーシャルデコー
ダ2及びメインデコーダ3と、クロック信号CKの一方
の変化点に同期して選択されたセルから出力されるデー
タを、クロック信号CKの他方の変化点に同期して全て
のワード線が非選択状態となる前に保持する第3センス
アンプ6とを備えて構成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、クロック信号に同期
してアクセスされる同期型メモリに関し、特にスタティ
ック型のランダム・アクセス・メモリ(SRAM)にお
けるアクセスを高速化した同期化メモリに関する。
してアクセスされる同期型メモリに関し、特にスタティ
ック型のランダム・アクセス・メモリ(SRAM)にお
けるアクセスを高速化した同期化メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】クロック信号に同期してアクセス動作が
行なわれる従来の同期型メモリとしては、例えば図7に
示すように構成されたものがある。
行なわれる従来の同期型メモリとしては、例えば図7に
示すように構成されたものがある。
【0003】図7において、同期型メモリは、外部から
アドレス信号を受けるアドレスバッファ101と、アド
レス信号をデコードしてアクセスデータを選択する第1
パーシャルデコーダ102、第2パーシャルデコーダ1
03、メインデコーダ104と、アクセスデータを格納
保持するセル群105と、セル群105から読み出され
たデータをセンス増幅する第1,第2センスアンプ10
6、第3センスアンプ107と、センス増幅された読み
出しデータを出力する出力バッファ108と、セル群1
05にデータを書き込む書き込み回路109と、外部か
らクロック信号を受けて、第1,第2パーシャルデコー
ダ102,103、第3センスアンプ107及び書き込
み回路109にクロック信号と同相の内部クロック信号
CK1、CK2、CK3、CK4、CK5ならびにクロ
ック信号と逆相の内部クロック信号CK1B、CK2
B、CK3B、CK4B、CK5Bをそれぞれ対応して
供給するクロックバッファ110とを備えて構成されて
いる。
アドレス信号を受けるアドレスバッファ101と、アド
レス信号をデコードしてアクセスデータを選択する第1
パーシャルデコーダ102、第2パーシャルデコーダ1
03、メインデコーダ104と、アクセスデータを格納
保持するセル群105と、セル群105から読み出され
たデータをセンス増幅する第1,第2センスアンプ10
6、第3センスアンプ107と、センス増幅された読み
出しデータを出力する出力バッファ108と、セル群1
05にデータを書き込む書き込み回路109と、外部か
らクロック信号を受けて、第1,第2パーシャルデコー
ダ102,103、第3センスアンプ107及び書き込
み回路109にクロック信号と同相の内部クロック信号
CK1、CK2、CK3、CK4、CK5ならびにクロ
ック信号と逆相の内部クロック信号CK1B、CK2
B、CK3B、CK4B、CK5Bをそれぞれ対応して
供給するクロックバッファ110とを備えて構成されて
いる。
【0004】このような構成において、レジスタ/レジ
スタ方式、すなわち第1パーシャルデコーダ102を例
えば図8に示すラッチ回路で構成し、第2パーシャルデ
コーダ103を例えば図9に示すラッチ回路で構成し、
第3センスアンプ107を図8に示すラッチ回路と図9
に示すラッ回路を組み合わせて構成し、デコーダならび
にセンスアンプにレジスタを備えるようにして、アドレ
ス信号と読み出しデータをそれぞれ保持しておく方式に
おいては、例えば図11に示すタイミングチャートにし
たがってアクセス動作が行なわれる。なお、図8及び図
9に示すラッチ回路において、多入力で論理をとる場合
には、図10に示すクロックドNAND(否定論理積)
回路を用いるようにすればよい。
スタ方式、すなわち第1パーシャルデコーダ102を例
えば図8に示すラッチ回路で構成し、第2パーシャルデ
コーダ103を例えば図9に示すラッチ回路で構成し、
第3センスアンプ107を図8に示すラッチ回路と図9
に示すラッ回路を組み合わせて構成し、デコーダならび
にセンスアンプにレジスタを備えるようにして、アドレ
ス信号と読み出しデータをそれぞれ保持しておく方式に
おいては、例えば図11に示すタイミングチャートにし
たがってアクセス動作が行なわれる。なお、図8及び図
9に示すラッチ回路において、多入力で論理をとる場合
には、図10に示すクロックドNAND(否定論理積)
回路を用いるようにすればよい。
【0005】図11において、サイクル(1)の読み出
しサイクルでは、クロック信号CKの立ち上がりエッジ
により読み出しアドレス(Rd.Add1)が第1パー
シャルデコーダ102に取り込まれて確定する。この
時、取り込まれたアドレスは第1パーシャルデコーダ1
02によって保持される。第1パーシャルデコーダ10
2に取り込まれたアドレス信号は、第2パーシャルデコ
ーダ103を介してメインデコーダ104に与えられ、
ワード線が分割されてなるセクションワード線の例えば
セクションワード線SWL2がメインデコーダ104に
より選択されると同時に、セクションワード線SWL1
が非選択される。選択されたセクションワード線SWL
2に接続されたセルからはデータがビット線対BL,B
LBに読み出されてセンスアンプによりセンス増幅され
て出力される。この時、第3センスアンプはレジスタを
備えているので、サイクル(1)においては前のサイク
ルの読み出しデータを保持している。図11に示すよう
に、サイクル(2)においてはクロック信号の立ち上が
りエッジに同期して新たな読み出しデータ(RdDat
a1)が確定される。
しサイクルでは、クロック信号CKの立ち上がりエッジ
により読み出しアドレス(Rd.Add1)が第1パー
シャルデコーダ102に取り込まれて確定する。この
時、取り込まれたアドレスは第1パーシャルデコーダ1
02によって保持される。第1パーシャルデコーダ10
2に取り込まれたアドレス信号は、第2パーシャルデコ
ーダ103を介してメインデコーダ104に与えられ、
ワード線が分割されてなるセクションワード線の例えば
セクションワード線SWL2がメインデコーダ104に
より選択されると同時に、セクションワード線SWL1
が非選択される。選択されたセクションワード線SWL
2に接続されたセルからはデータがビット線対BL,B
LBに読み出されてセンスアンプによりセンス増幅され
て出力される。この時、第3センスアンプはレジスタを
備えているので、サイクル(1)においては前のサイク
ルの読み出しデータを保持している。図11に示すよう
に、サイクル(2)においてはクロック信号の立ち上が
りエッジに同期して新たな読み出しデータ(RdDat
a1)が確定される。
【0006】次に、読み出し動作から書き込み動作に移
行する際に、入出ピンが共通の場合には、読み出しデー
タと書き込みデータとの衝突を防ぐために両動作の間に
図11に示すように非使用(Dead)サイクル
(2),(3)が挿入される。
行する際に、入出ピンが共通の場合には、読み出しデー
タと書き込みデータとの衝突を防ぐために両動作の間に
図11に示すように非使用(Dead)サイクル
(2),(3)が挿入される。
【0007】次に、サイクル(4)においては、クロッ
ク信号の立ち上がりエッジに同期して書き込みアドレス
信号(WrAdd4)が取り込まれて確定し、取り込ま
れたアドレス信号に対応したセルに書き込み回路109
を介して与えられたデータが書き込まれる。
ク信号の立ち上がりエッジに同期して書き込みアドレス
信号(WrAdd4)が取り込まれて確定し、取り込ま
れたアドレス信号に対応したセルに書き込み回路109
を介して与えられたデータが書き込まれる。
【0008】これに対して、第1,第2パーシャルデコ
ーダ102,103は同様な構成とし、第3センスアン
プを図9に示すラッチ回路で構成し、同一サイクル内で
アドレス信号の確定とデータの読み出しを行ない、この
データを次のサイクルで新たなデータが読み出されるま
で保持するレジスタ/ラッチ方式においては、例えば図
12に示すタイミングチャートにしたがってアクセス動
作が行なわれる。
ーダ102,103は同様な構成とし、第3センスアン
プを図9に示すラッチ回路で構成し、同一サイクル内で
アドレス信号の確定とデータの読み出しを行ない、この
データを次のサイクルで新たなデータが読み出されるま
で保持するレジスタ/ラッチ方式においては、例えば図
12に示すタイミングチャートにしたがってアクセス動
作が行なわれる。
【0009】図12において、読み出しデータが第1,
第2センスアンプ106に読み出されるまでの動作は上
述したレジスタ/レジスタ方式と同様であり、サイクル
(1)におけるクロック信号CKの立ち下がりエッジに
同期して第3センスアンプ107で読み出しデータがセ
ンス増幅され、サイクル(2)におけるクロック信号C
Kの立ち上がりエッジに同期して読み出しデータは第3
センスアンプ107にラッチされて、サイクル(2)に
おけるクロック信号CKの立ち下がりエッジまで読み出
しデータは保持される。
第2センスアンプ106に読み出されるまでの動作は上
述したレジスタ/レジスタ方式と同様であり、サイクル
(1)におけるクロック信号CKの立ち下がりエッジに
同期して第3センスアンプ107で読み出しデータがセ
ンス増幅され、サイクル(2)におけるクロック信号C
Kの立ち上がりエッジに同期して読み出しデータは第3
センスアンプ107にラッチされて、サイクル(2)に
おけるクロック信号CKの立ち下がりエッジまで読み出
しデータは保持される。
【0010】このような従来のレジスタ/レジスタ方式
又はレジスタ/ラッチ方式において、ワード線を選択制
御するメインデコーダ104は、例えば図13に示すよ
うに構成されている。
又はレジスタ/ラッチ方式において、ワード線を選択制
御するメインデコーダ104は、例えば図13に示すよ
うに構成されている。
【0011】図13において、複数のセクションワード
線ドライバーを駆動するメインデコーダ104は負荷が
極めて重くなるため、その出力段をバイポーラトランジ
スタ111とNチャネルのFET(電界効果トランジス
タ)112とにより構成し、両素子の接続点に接続され
るメインワード線MWLをバイポーラトランジスタ11
1により充電して非選択にし、FET112により放電
して選択するようにしている。このようなデコーダ10
4は、メモリを低電源電圧で動作させる場合には、ワー
ド線の駆動力を得るのに極めて有効である。
線ドライバーを駆動するメインデコーダ104は負荷が
極めて重くなるため、その出力段をバイポーラトランジ
スタ111とNチャネルのFET(電界効果トランジス
タ)112とにより構成し、両素子の接続点に接続され
るメインワード線MWLをバイポーラトランジスタ11
1により充電して非選択にし、FET112により放電
して選択するようにしている。このようなデコーダ10
4は、メモリを低電源電圧で動作させる場合には、ワー
ド線の駆動力を得るのに極めて有効である。
【0012】しかしながら、チップ面積の増大を招くこ
となく限られた占有面積において出力段の両素子を形成
しようとすると、バイポーラトランジスタ111とFE
T112とで駆動力に差が生じることになる。このた
め、ワード線を選択状態から非選択状態に移行させる場
合と、非選択状態から選択状態に移行させる場合とで移
行のスピードが異なる。これにより、ワード線の一時的
な二重選択が生じるおそれがあり、誤動作やアクセスの
遅れの原因となっていた。
となく限られた占有面積において出力段の両素子を形成
しようとすると、バイポーラトランジスタ111とFE
T112とで駆動力に差が生じることになる。このた
め、ワード線を選択状態から非選択状態に移行させる場
合と、非選択状態から選択状態に移行させる場合とで移
行のスピードが異なる。これにより、ワード線の一時的
な二重選択が生じるおそれがあり、誤動作やアクセスの
遅れの原因となっていた。
【0013】また、書き込み動作においては、図11示
すように、セクションワード線SWLが確定されるまで
書き込みは待つ必要があり、周期(サイクルタイム)が
短くなると書き込み不良が生じることになる。
すように、セクションワード線SWLが確定されるまで
書き込みは待つ必要があり、周期(サイクルタイム)が
短くなると書き込み不良が生じることになる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の同期型メモリにあっては、低消費電力化を図るた
めの低電源電圧動作と高速動作を満足させるために、高
負荷のワード線を駆動するデコーダは、バイポーラトラ
ンジスタとFETとからなる出力段が採用されていた。
従来の同期型メモリにあっては、低消費電力化を図るた
めの低電源電圧動作と高速動作を満足させるために、高
負荷のワード線を駆動するデコーダは、バイポーラトラ
ンジスタとFETとからなる出力段が採用されていた。
【0015】しかしながら、出力段をバイポーラトラン
ジスタとFETとで構成した場合には、限られた占有面
積で形成さた両素子の駆動力に差が生じ、誤動作やアク
セス動作の遅れが生じ易くなるといった不具合を招いて
いた。
ジスタとFETとで構成した場合には、限られた占有面
積で形成さた両素子の駆動力に差が生じ、誤動作やアク
セス動作の遅れが生じ易くなるといった不具合を招いて
いた。
【0016】そこで、この発明は、上記に鑑みてなされ
たものであり、その目的とするところは、ワード線の二
重選択を防止して、低電源電圧においても小型な構成で
高速動作を達成し、かつ高速周期においても書き込み不
良を生じない同期型メモリを提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、ワード線の二
重選択を防止して、低電源電圧においても小型な構成で
高速動作を達成し、かつ高速周期においても書き込み不
良を生じない同期型メモリを提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、外部より与えられるクロッ
ク信号又は外部より与えられる信号に対して内部で発生
させるクロック信号の一方の変化点に同期してアドレス
が確定された後確定されたアドレスにしたがってワード
線を選択し、前記クロック信号の他方の変化点に同期し
て全てのワード線を非選択状態にするデコーダと、クロ
ック信号の一方の変化点に同期して選択されたセルから
出力されるデータを、クロック信号の他方の変化点に同
期してデコーダにより全てのワード線が非選択状態とな
る前に保持する回路とから構成される。
に、請求項1記載の発明は、外部より与えられるクロッ
ク信号又は外部より与えられる信号に対して内部で発生
させるクロック信号の一方の変化点に同期してアドレス
が確定された後確定されたアドレスにしたがってワード
線を選択し、前記クロック信号の他方の変化点に同期し
て全てのワード線を非選択状態にするデコーダと、クロ
ック信号の一方の変化点に同期して選択されたセルから
出力されるデータを、クロック信号の他方の変化点に同
期してデコーダにより全てのワード線が非選択状態とな
る前に保持する回路とから構成される。
【0018】請求項2記載の発明は、デコーダが、高位
電源と出力端子との間に接続されたバイポーラトランジ
スタによりアドレスに対応したワード線を選択し、低位
電源と出力端子との間に接続された電界効果トランジス
タにより前記クロック信号に応じてワード線を非選択に
するスイッチングによりワード線を駆動制御してなる出
力段を有して構成される。
電源と出力端子との間に接続されたバイポーラトランジ
スタによりアドレスに対応したワード線を選択し、低位
電源と出力端子との間に接続された電界効果トランジス
タにより前記クロック信号に応じてワード線を非選択に
するスイッチングによりワード線を駆動制御してなる出
力段を有して構成される。
【0019】請求項3記載の発明は、外部より与えられ
るクロック信号又は外部より与えられる信号に対して内
部で発生させるクロック信号の一方の変化点に同期して
アドレスが確定する前に書き込みデータを入力して構成
される。
るクロック信号又は外部より与えられる信号に対して内
部で発生させるクロック信号の一方の変化点に同期して
アドレスが確定する前に書き込みデータを入力して構成
される。
【0020】
【作用】上記構成において、この発明は、ワード線の選
択と非選択とを同時に行わずにそれぞれ別々のタイミン
グにより行い、1つのアクセスサイクルの中で選択され
たワード線を非選択とすることにより次のアクセスサイ
クルが開始される前に一旦全てのワード線を非選択状態
にするようにしている。
択と非選択とを同時に行わずにそれぞれ別々のタイミン
グにより行い、1つのアクセスサイクルの中で選択され
たワード線を非選択とすることにより次のアクセスサイ
クルが開始される前に一旦全てのワード線を非選択状態
にするようにしている。
【0021】
【実施例】以下、図面を用いてこの発明の実施例を説明
する。
する。
【0022】図1はこの発明の一実施例に係わる同期型
メモリの構成を示す図である。
メモリの構成を示す図である。
【0023】図1において、同期型メモリは、アドレス
信号を受けるアドレスバッファ1と、アドレス信号をデ
コードしてワード線を選択制御するパーシャルデコーダ
2及びメインデコーダ3と、データを格納保持するセル
群4と、セル群4から読み出されたデータをセンス増幅
する第1,第2センスアンプ5及び第3センスアンプ6
と、読み出しデータを外部に出力する出力バッファ7
と、セル群4にデータを書き込む書き込み回路8と、外
部からクロック信号CKを受けて、クロック信号CKと
同相の内部クロック信号CK1,CK3,CK5及びク
ロック信号CKと逆相の内部クロックCK2B,CK3
B,CK5Bを生成し、内部クロック信号CK1をパー
シャルデコーダ2に、内部クロック信号CK2Bをメイ
ンデコーダ3に、内部クロック信号CK3,CK3Bを
第3センスアンプ6に、内部クロック信号CK5,CK
5Bを書き込み回路8に供給するクロックバッファ9と
を備え、クロック信号CKの1サイクルにおいて、アド
レスを確定してデータの読み出し動作又は書き込み動作
を行なうようにしている。
信号を受けるアドレスバッファ1と、アドレス信号をデ
コードしてワード線を選択制御するパーシャルデコーダ
2及びメインデコーダ3と、データを格納保持するセル
群4と、セル群4から読み出されたデータをセンス増幅
する第1,第2センスアンプ5及び第3センスアンプ6
と、読み出しデータを外部に出力する出力バッファ7
と、セル群4にデータを書き込む書き込み回路8と、外
部からクロック信号CKを受けて、クロック信号CKと
同相の内部クロック信号CK1,CK3,CK5及びク
ロック信号CKと逆相の内部クロックCK2B,CK3
B,CK5Bを生成し、内部クロック信号CK1をパー
シャルデコーダ2に、内部クロック信号CK2Bをメイ
ンデコーダ3に、内部クロック信号CK3,CK3Bを
第3センスアンプ6に、内部クロック信号CK5,CK
5Bを書き込み回路8に供給するクロックバッファ9と
を備え、クロック信号CKの1サイクルにおいて、アド
レスを確定してデータの読み出し動作又は書き込み動作
を行なうようにしている。
【0024】図2は図1に示すパーシャルデコーダ2と
メインデコーダ3の具体的な一構成を示す図である。
メインデコーダ3の具体的な一構成を示す図である。
【0025】図2において、パーシャルデコーダ2は、
内部クロック信号CKの立ち上がりエッジに同期してア
ドレス信号を確定する論理ゲートで構成され、メインデ
コーダ3は、パーシャルデコーダ2の出力により導通制
御されるバイポーラトランジスタ31と、内部クロック
信号CK2Bにより導通制御されるNチャネルのFET
32とのスイッチング動作によりメインワード線MWL
を駆動する出力段を有して構成されている。
内部クロック信号CKの立ち上がりエッジに同期してア
ドレス信号を確定する論理ゲートで構成され、メインデ
コーダ3は、パーシャルデコーダ2の出力により導通制
御されるバイポーラトランジスタ31と、内部クロック
信号CK2Bにより導通制御されるNチャネルのFET
32とのスイッチング動作によりメインワード線MWL
を駆動する出力段を有して構成されている。
【0026】このような構成において、クロック信号C
Kの立ち上がりに同期して内部クロック信号CK1がハ
イレベルとなり、内部クロック信号CK2Bがロウレベ
ルになると、メインワード線MWLを選択するデコーダ
にあっては、メインデコーダ3のバイポーラトランジス
タ31が導通状態、FET32が非導通状態となり、メ
インワード線MWLがバイポーラトランジスタ31によ
り充電されて高速にハイレベルとなり選択される。一
方、クロック信号CKの立ち下がりに同期して内部クロ
ック信号CK1がロウレベルとなり、内部クロック信号
CK2Bがハイレベルになると、バイポーラトランジス
タ31が非導通状態、FET32が導通状態となり、メ
インワード線MWLがFET32により放電されて比較
的緩やかにロウレベルとなり非選択状態となる。
Kの立ち上がりに同期して内部クロック信号CK1がハ
イレベルとなり、内部クロック信号CK2Bがロウレベ
ルになると、メインワード線MWLを選択するデコーダ
にあっては、メインデコーダ3のバイポーラトランジス
タ31が導通状態、FET32が非導通状態となり、メ
インワード線MWLがバイポーラトランジスタ31によ
り充電されて高速にハイレベルとなり選択される。一
方、クロック信号CKの立ち下がりに同期して内部クロ
ック信号CK1がロウレベルとなり、内部クロック信号
CK2Bがハイレベルになると、バイポーラトランジス
タ31が非導通状態、FET32が導通状態となり、メ
インワード線MWLがFET32により放電されて比較
的緩やかにロウレベルとなり非選択状態となる。
【0027】このように、このデコーダは、クロック信
号CKの立ち上がりに同期してメインワード線MWLを
選択し、クロック信号の立ち下がりに同期してアドレス
信号に無関係にメインワード線MWLを非選択状態とす
る。
号CKの立ち上がりに同期してメインワード線MWLを
選択し、クロック信号の立ち下がりに同期してアドレス
信号に無関係にメインワード線MWLを非選択状態とす
る。
【0028】図3は図1に示す第3センスアンプ6の具
体的な構成を示す図である。
体的な構成を示す図である。
【0029】図3において、第3センスアンプ6は、P
チャネルのFET61とNチャネルのFET62を有し
て構成され、内部クロック信号CK3がハイレベル、内
部クロック信号CK3Bがロウレベルで第1,第2セン
スアンプ5の出力を受けて読み出しデータをセンスアン
プ6内に取り込み、内部クロック信号CK3がロウレベ
ル、内部クロック信号CK3Bがハイレベルでそれまで
取り込んでおいたデータをセンス増幅して出力バッファ
7に出力し、読み出しデータをラッチして保持する。
チャネルのFET61とNチャネルのFET62を有し
て構成され、内部クロック信号CK3がハイレベル、内
部クロック信号CK3Bがロウレベルで第1,第2セン
スアンプ5の出力を受けて読み出しデータをセンスアン
プ6内に取り込み、内部クロック信号CK3がロウレベ
ル、内部クロック信号CK3Bがハイレベルでそれまで
取り込んでおいたデータをセンス増幅して出力バッファ
7に出力し、読み出しデータをラッチして保持する。
【0030】次に、上記構成におけるアクセス動作を図
4に示す動作タイミングチャートを参照して説明する。
4に示す動作タイミングチャートを参照して説明する。
【0031】図4において、外部から与えられるクロッ
ク信号CKにおけるサイクル(1),(2),(6),
(7)は読み出しサイクル,サイクル(3)は非使用
(dead)サイクル、サイクル(4),(5)は書き
込みサイクルである。
ク信号CKにおけるサイクル(1),(2),(6),
(7)は読み出しサイクル,サイクル(3)は非使用
(dead)サイクル、サイクル(4),(5)は書き
込みサイクルである。
【0032】まず、サイクル(1)におけるクロック信
号CKの立ち上がりエッジに同期して読み出しアドレス
信号(RdADD1)が取り込まれて確定し、例えばセ
クションワード線SWL2がハイレベルとなり選択され
て1つのセルが選択されデータが読み出される。読み出
されたデータは、第1,第2センスアンプ5でセンス増
幅されて第3センスアンプ6に与えられる。クロック信
号CKがハイレベルにあっては、第3センスアンプ6は
第1,第2センスアンプ5でセンス増幅された読み出し
データをさらにセンス増幅して出力バッファ7に与え、
読み出しデータは出力バッファ7を介して外部に出力さ
れる。
号CKの立ち上がりエッジに同期して読み出しアドレス
信号(RdADD1)が取り込まれて確定し、例えばセ
クションワード線SWL2がハイレベルとなり選択され
て1つのセルが選択されデータが読み出される。読み出
されたデータは、第1,第2センスアンプ5でセンス増
幅されて第3センスアンプ6に与えられる。クロック信
号CKがハイレベルにあっては、第3センスアンプ6は
第1,第2センスアンプ5でセンス増幅された読み出し
データをさらにセンス増幅して出力バッファ7に与え、
読み出しデータは出力バッファ7を介して外部に出力さ
れる。
【0033】次に、クロック信号CKが立ち下がると、
立ち下がりエッジに同期して選択されていたセクション
ワード線SWL2がロウレベルとなり非選択される。こ
れにより、それまで非選択のセクションワード線はその
状態を保持して非選択であるので、全てのセクションワ
ード線が非選択状態となる。また、それまでセンス増幅
されていた読み出しデータは第3センスアンプ6によっ
てラッチされ保持される。したがって、全てのセクショ
ンワード線が非選択されて全てのセルが非選択状態とな
りデータが読み出されない状態になっても、正規のデー
タは第3センスアンプ6によって保持されることにな
る。
立ち下がりエッジに同期して選択されていたセクション
ワード線SWL2がロウレベルとなり非選択される。こ
れにより、それまで非選択のセクションワード線はその
状態を保持して非選択であるので、全てのセクションワ
ード線が非選択状態となる。また、それまでセンス増幅
されていた読み出しデータは第3センスアンプ6によっ
てラッチされ保持される。したがって、全てのセクショ
ンワード線が非選択されて全てのセルが非選択状態とな
りデータが読み出されない状態になっても、正規のデー
タは第3センスアンプ6によって保持されることにな
る。
【0034】次に、クロック信号CKのサイクル(2)
においては、サイクル(1)と同様にしてデータの読み
出し動作が行なわれる。
においては、サイクル(1)と同様にしてデータの読み
出し動作が行なわれる。
【0035】次に、サイクル(4)におけるクロック信
号CKの立ち上がりエッジに同期して書き込みアドレス
信号(WrADD4)が取り込まれて確定し、例えばセ
クションワード線SWL1が選択されて1つのセルが選
択される。一方、書き込み回路8を介してビット線対B
L,BLBに与えられた書き込み(入力)データは選択
されたセルに与えられて書き込まれる。
号CKの立ち上がりエッジに同期して書き込みアドレス
信号(WrADD4)が取り込まれて確定し、例えばセ
クションワード線SWL1が選択されて1つのセルが選
択される。一方、書き込み回路8を介してビット線対B
L,BLBに与えられた書き込み(入力)データは選択
されたセルに与えられて書き込まれる。
【0036】このような書き込み動作において、書き込
みサイクル(4)におけクロック信号の立ち上がりエッ
ジにおいては、全てのセクショクワード線SWLが非選
択状態にあるため、書き込みのアドレス信号が確定して
いなくとも書き込みデータを書き込み回路8を介してビ
ット線対BL,BLBに与えても誤書き込みが発生する
ことはない。これに対して、ワード線の選択と非選択が
同時に起こる従来の方式にあっては、選択されるべきワ
ード線が確実にハイレベルとなり選択状態となり、非選
択されるべきワード線が確実にロウレベルとなり非選択
状態となるまで、書き込みデータを入力することはでき
なかった。したがって、この実施例においては、セクシ
ョンワード線SWLの選択を待つことなく書き込みサイ
クルにおけるクロック信号CKの立ち上がりエッジに同
期して高負荷のビット線対BL,BLBに書き込みデー
タを与えることが可能となるため、書き込み動作を高速
に行うことができる。
みサイクル(4)におけクロック信号の立ち上がりエッ
ジにおいては、全てのセクショクワード線SWLが非選
択状態にあるため、書き込みのアドレス信号が確定して
いなくとも書き込みデータを書き込み回路8を介してビ
ット線対BL,BLBに与えても誤書き込みが発生する
ことはない。これに対して、ワード線の選択と非選択が
同時に起こる従来の方式にあっては、選択されるべきワ
ード線が確実にハイレベルとなり選択状態となり、非選
択されるべきワード線が確実にロウレベルとなり非選択
状態となるまで、書き込みデータを入力することはでき
なかった。したがって、この実施例においては、セクシ
ョンワード線SWLの選択を待つことなく書き込みサイ
クルにおけるクロック信号CKの立ち上がりエッジに同
期して高負荷のビット線対BL,BLBに書き込みデー
タを与えることが可能となるため、書き込み動作を高速
に行うことができる。
【0037】書き込み後の読み出し動作において、本発
明においては、書き込みサイクルの前半において書き込
みを終了されることができ、次の読み出しサイクルが始
まるまでにビット線対BL,BLBを十分にハイレベル
にプリチャージすることが可能となり、読み出し動作の
遅れを生じされない。これに対して、従来方式では、書
き込み動作が読み出しサイクルの直前まで行われている
ので、ビット線対BL,BLBを十分にプリチャージす
ることが困難となり、次の読み出し動作が遅れることに
なる。
明においては、書き込みサイクルの前半において書き込
みを終了されることができ、次の読み出しサイクルが始
まるまでにビット線対BL,BLBを十分にハイレベル
にプリチャージすることが可能となり、読み出し動作の
遅れを生じされない。これに対して、従来方式では、書
き込み動作が読み出しサイクルの直前まで行われている
ので、ビット線対BL,BLBを十分にプリチャージす
ることが困難となり、次の読み出し動作が遅れることに
なる。
【0038】また、読み出し動作及び書き込み動作にお
いて、1つのサイクルの中でクロック信号CKの立ち上
がりエッジに同期して所定時間内に1つのセクションワ
ード線SWLを選択した後クロック信号CKの立ち下が
りエッジに同期して、全てのセクションワード線SWL
を非選択状態にして、次のサイクルが開始されるまで全
てのセクションワード線SWLを非選択状態としている
ので、アドレス信号が変化する際の一時的なワード線の
二重選択は防止され、誤動作やアクセスタイムの遅れが
生じることはなくなる。
いて、1つのサイクルの中でクロック信号CKの立ち上
がりエッジに同期して所定時間内に1つのセクションワ
ード線SWLを選択した後クロック信号CKの立ち下が
りエッジに同期して、全てのセクションワード線SWL
を非選択状態にして、次のサイクルが開始されるまで全
てのセクションワード線SWLを非選択状態としている
ので、アドレス信号が変化する際の一時的なワード線の
二重選択は防止され、誤動作やアクセスタイムの遅れが
生じることはなくなる。
【0039】さらに、セクションワード線SWLの選択
と非選択はそれぞれ別々のタイミングで行なわれるた
め、セクションワード線SWLをハイレベルとして選択
する駆動力とロウレベルとして非選択する駆動力とを同
等に設定する必要はなくなる。したがって、図2に示す
ようにデコーダの出力段をバイポーラトランジスタとF
ETとで構成した場合には、バイポーラトランジスタの
駆動力と同等にFETの駆動力を設定する必要がないの
で、このFETの占有面積を小さくすることができ、さ
らに、FET32はパーシャルデコーダ2が動作しない
ため、パーシャルデコーダ2が駆動すべきゲート容量が
小さくなり、アクセスタイムの高速化ならびに出力段の
前段の縮小化によるデコーダの小型化を図ることができ
る。
と非選択はそれぞれ別々のタイミングで行なわれるた
め、セクションワード線SWLをハイレベルとして選択
する駆動力とロウレベルとして非選択する駆動力とを同
等に設定する必要はなくなる。したがって、図2に示す
ようにデコーダの出力段をバイポーラトランジスタとF
ETとで構成した場合には、バイポーラトランジスタの
駆動力と同等にFETの駆動力を設定する必要がないの
で、このFETの占有面積を小さくすることができ、さ
らに、FET32はパーシャルデコーダ2が動作しない
ため、パーシャルデコーダ2が駆動すべきゲート容量が
小さくなり、アクセスタイムの高速化ならびに出力段の
前段の縮小化によるデコーダの小型化を図ることができ
る。
【0040】また、読み出し動作及び書き込み動作にあ
っては、1つのサイクルの後半部分で全てのセクション
ワード線SWLを非選択状態とするため、次のサイクル
が開始されるまでにビット線対BL,BLBがプリチャ
ージされて初期化され、例えば同一のビット線対BL,
BLBから逆相のデータを読み出す場合には、アクセス
タイムにかかわる時間の中でビット線対BL,BLBの
電位を逆転させる必要はなく、読み出し動作を高速に行
うことが可能となる。
っては、1つのサイクルの後半部分で全てのセクション
ワード線SWLを非選択状態とするため、次のサイクル
が開始されるまでにビット線対BL,BLBがプリチャ
ージされて初期化され、例えば同一のビット線対BL,
BLBから逆相のデータを読み出す場合には、アクセス
タイムにかかわる時間の中でビット線対BL,BLBの
電位を逆転させる必要はなく、読み出し動作を高速に行
うことが可能となる。
【0041】なお、この発明は、上記実施例に限ること
はなく、図5の動作タイミングチャートに示すように、
外部から与えられる信号例えばクロック信号CKに基づ
いて内部で生成される内部クロック信号に同期して動作
させるようにしても同様な効果を得ることができる。ま
た、図6の動作タイミングチャートに示すように、書き
込み動作を1つ前のサイクルのクロック信号の立ち下が
りエッジに同期して行うようにしても同様な効果を得る
ことができる。
はなく、図5の動作タイミングチャートに示すように、
外部から与えられる信号例えばクロック信号CKに基づ
いて内部で生成される内部クロック信号に同期して動作
させるようにしても同様な効果を得ることができる。ま
た、図6の動作タイミングチャートに示すように、書き
込み動作を1つ前のサイクルのクロック信号の立ち下が
りエッジに同期して行うようにしても同様な効果を得る
ことができる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、ワード線の選択と非選択とを同時に行わずにそれぞ
れ別々のタイミングにより行い、1つのアクセスサイク
ルの中で選択されたワード線を非選択とすることにより
次のアクセスサイクルが開始される前に一旦全てのワー
ド線を非選択状態にするようにしているので、ワード線
の二重選択が回避されて、誤動作やアクセスタイムの遅
れを防止することができる。
ば、ワード線の選択と非選択とを同時に行わずにそれぞ
れ別々のタイミングにより行い、1つのアクセスサイク
ルの中で選択されたワード線を非選択とすることにより
次のアクセスサイクルが開始される前に一旦全てのワー
ド線を非選択状態にするようにしているので、ワード線
の二重選択が回避されて、誤動作やアクセスタイムの遅
れを防止することができる。
【0043】また、ワード線を選択する駆動力と非選択
する駆動力とを同等にする必要はなくなるので、デコー
ダを小型化できるとともにアクセスタイムを高速化する
ことができる。
する駆動力とを同等にする必要はなくなるので、デコー
ダを小型化できるとともにアクセスタイムを高速化する
ことができる。
【0044】さらに、ワード線の選択を待つことなく書
き込みデータを入力できるので、書き込み動作を高速化
することができる。さらに、書き込み後の読み出しの遅
れを防止することができる。
き込みデータを入力できるので、書き込み動作を高速化
することができる。さらに、書き込み後の読み出しの遅
れを防止することができる。
【図1】請求項1記載の発明の一実施例に係わる同期型
メモリの構成を示す図である。
メモリの構成を示す図である。
【図2】図1に示すデコーダの一構成例を示す図であ
る。
る。
【図3】図1に示す第3センスアンプの一構成例を示す
図である。
図である。
【図4】図1に示す同期型メモリの動作タイミングチャ
ートである。
ートである。
【図5】図1に示す同期型メモリの動作タイミングチャ
ートである。
ートである。
【図6】図1に示す同期型メモリの動作タイミングチャ
ートである。
ートである。
【図7】従来の同期型メモリの構成を示す図である。
【図8】図7に示す同期型メモリに用いられるラッチ回
路の一構成例を示す図である。
路の一構成例を示す図である。
【図9】図7に示す同期型メモリに用いられるラッチ回
路の他の構成例を示す図である。
路の他の構成例を示す図である。
【図10】図7に示す同期型メモリに用いられるラッチ
回路の他の構成例を示す図である。
回路の他の構成例を示す図である。
【図11】図7に示す同期型メモリにおけるレジスタ/
レジスタ方式の動作タイミングチャートである。
レジスタ方式の動作タイミングチャートである。
【図12】図7に示す同期型メモリにおけるレジスタ/
ラッチ方式の動作タイミングチャートである。
ラッチ方式の動作タイミングチャートである。
【図13】図7に示すデコーダの一構成例を示す図であ
る。
る。
1 アドレスバッファ 2 パーシャルデコーダ 3 メインデコーダ 4 セル群 5 第1,第2センスアンプ 6 第3センスアンプ 7 出力バッファ 8 書き込み回路 9 クロックバッファ 31 バイポーラトランジスタ 32,62 NチャネルFET 61 PチャネルFET
Claims (3)
- 【請求項1】 外部より与えられるクロック信号又は外
部より与えられる信号に対して内部で発生させるクロッ
ク信号の一方の変化点に同期してアドレスが確定された
後確定されたアドレスにしたがってワード線を選択し、
前記クロック信号の他方の変化点に同期して全てのワー
ド線を非選択状態にするデコーダと、 クロック信号の一方の変化点に同期して選択されたセル
から出力されるデータを、クロック信号の他方の変化点
に同期してデコーダにより全てのワード線が非選択状態
となる前に保持する回路とを有することを特徴とする同
期型メモリ。 - 【請求項2】 前記デコーダは、高位電源と出力端子と
の間に接続されたバイポーラトランジスタによりアドレ
スに対応したワード線を選択し、低位電源と出力端子と
の間に接続された電界効果トランジスタにより前記クロ
ック信号に応じてワード線を非選択にするスイッチング
によりワード線を駆動制御してなる出力段を有してなる
ことを特徴とする請求項1記載の同期型メモリ。 - 【請求項3】 外部より与えられるクロック信号又は外
部より与えられる信号に対して内部で発生させるクロッ
ク信号の一方の変化点に同期してアドレスが確定する前
に書き込みデータを入力してなることを特徴とする請求
項1又は2記載の同期型メモリ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5312105A JPH07169276A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 同期型メモリ |
| KR1019940033836A KR0150499B1 (ko) | 1993-12-13 | 1994-12-13 | 동기형 메모리 |
| US08/730,211 US5740121A (en) | 1993-12-13 | 1996-10-15 | Synchronous-type memory |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5312105A JPH07169276A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 同期型メモリ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07169276A true JPH07169276A (ja) | 1995-07-04 |
Family
ID=18025304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5312105A Pending JPH07169276A (ja) | 1993-12-13 | 1993-12-13 | 同期型メモリ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5740121A (ja) |
| JP (1) | JPH07169276A (ja) |
| KR (1) | KR0150499B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7768316B2 (en) | 2008-02-22 | 2010-08-03 | Seiko Epson Corporation | Decoder circuit, decoding method, output circuit, electro-optical device, and electronic instrument |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3893167B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2007-03-14 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
| JPH10208470A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-08-07 | Nec Corp | 同期型半導体記憶装置 |
| KR100257865B1 (ko) * | 1997-09-04 | 2000-06-01 | 윤종용 | 데이터 입/출력 제어 회로를 구비한 동기형 메모리장치 |
| DE10053425C2 (de) * | 2000-10-27 | 2003-02-13 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Speicher mit Zeilenzugriffsteuerung zur Aktivierung und Deaktivierung von Zeilenleitungen |
| US6798712B2 (en) * | 2002-07-02 | 2004-09-28 | Advanced Micro Devices, Inc. | Wordline latching in semiconductor memories |
| US7224637B2 (en) * | 2004-09-23 | 2007-05-29 | Promos Technologies Inc. | Tri-mode clock generator to control memory array access |
| US9117499B2 (en) | 2012-10-25 | 2015-08-25 | Elwha Llc | Bipolar logic gates on MOS-based memory chips |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69130210T2 (de) * | 1990-11-16 | 1999-01-21 | Fujitsu Ltd., Kawasaki, Kanagawa | Halbleiterspeicher mit hochgeschwindigkeitsadressendekodierer |
| KR960009033B1 (en) * | 1991-07-17 | 1996-07-10 | Toshiba Kk | Semiconductor memory |
| US5408438A (en) * | 1993-06-01 | 1995-04-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor memory |
-
1993
- 1993-12-13 JP JP5312105A patent/JPH07169276A/ja active Pending
-
1994
- 1994-12-13 KR KR1019940033836A patent/KR0150499B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-10-15 US US08/730,211 patent/US5740121A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7768316B2 (en) | 2008-02-22 | 2010-08-03 | Seiko Epson Corporation | Decoder circuit, decoding method, output circuit, electro-optical device, and electronic instrument |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5740121A (en) | 1998-04-14 |
| KR950020733A (ko) | 1995-07-24 |
| KR0150499B1 (ko) | 1998-12-01 |
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