JPH07175683A - バグ管理システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 バグ情報ばかりでなくバグ原因も一括管理し
て、テスト担当者のバグ原因の調査にかかる負荷を軽減
する。 【構成】 テスト結果検証手段５はテスト結果保存部４
のテスト結果とテスト情報管理部２のテスト結果期待値
２２とを突き合わせ、不一致があったときには不一致状
況をバグ情報としてバグ情報管理部６に摘出する。バグ
管理票編集出力手段８はバグ情報管理部６のバグ情報か
らバグ管理票９を編集出力し、バグ原因登録手段７はバ
グ管理票９に基づいて調査したバグの原因をバグ情報管
理部６に登録する。バグ摘出状況判定手段１０はテスト
情報管理部２のテスト結果期待値２２の件数とバグ情報
管理部６のバグ情報の件数とを入力しバグの摘出状況を
判定してバグ摘出状況判定結果１１を出力する。バグ内
容解析手段１２はバグ情報管理部６のバグ情報を分類お
よび集計しバグ内容解析結果１３を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はバグ管理システムに関
し、特にプログラム開発時の単体テストフェーズにおけ
るバグ管理システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、プログラムの単体テストにおいて
摘出したバグは、テスト担当者が個々にバグ管理票を作
成することによりバグを計上してプログラムの品質の判
定に利用していた。

【０００３】しかし、このような従来の方法では、バグ
の計上をテスト担当者に任せていたので、バグ管理票を
作成することがテスト担当者の負荷になり、バグの計上
漏れが起こりやすいとともに、バグの件数のとらえ方は
テスト担当者に依存していたため、同様の事象に対して
計上されるバグの件数が異なる場合が生じるという不具
合があった。

【０００４】そこで、テスト実行結果と結果判定データ
とを比較してバグ票を自動的に出力するようにして、バ
グの計上漏れ等を未然に防止するようにしたテスト工程
支援システムが提案されている（特開昭６３−１２９４
３３号公報参照）。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のテスト
工程支援システムでは、バグ票の出力を自動化するよう
にはなっているものの、バグ原因までも含めて一括管理
できるようにはなっていなかったので、テスト毎にバグ
票に基づいてバグ原因を調査しなければならず、前回以
前のテストにおいて調査したバグ原因についても繰り返
し調査を行わなければならないという問題点があった。

【０００６】本発明の目的は、上述の点に鑑み、バグ情
報管理部においてバグ情報ばかりでなくバグ原因までも
一括管理するようにして、テスト担当者のバグ原因の調
査にかかる負荷を軽減するようにしたバグ管理システム
を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明のバグ管理システ
ムは、被テストプログラムに対して実施するテストのテ
ストデータおよびテスト結果期待値を保有するテスト情
報管理部と、このテスト情報管理部のテストデータによ
り前記被テストプログラムの実行を行うテスト実行手段
と、前記被テストプログラムの実行により得られたテス
ト結果を保存するテスト結果保存部と、このテスト結果
保存部のテスト結果と前記テスト情報管理部の対応する
テスト結果期待値とを突き合わせ、不一致があったとき
には不一致状況をバグ情報として摘出するテスト結果検
証手段と、このテスト結果検証手段により摘出されたバ
グ情報を一括管理するバグ情報管理部と、このバグ情報
管理部に管理されたバグ情報からバグ管理票を編集出力
するバグ管理票編集出力手段と、前記バグ管理票に基づ
いて調査したバグの原因を前記バグ情報管理部に登録す
るバグ原因登録手段と、前記テスト情報管理部のテスト
結果期待値の件数と前記バグ情報管理部のバグ情報の件
数とを入力しバグの摘出状況を判定しテストの品質を示
すバグ摘出状況判定結果を出力するバグ摘出状況判定手
段と、前記バグ情報管理部のバグ情報を分類および集計
し前記被テストプログラムの設計品質についての解析を
行うためのバグ内容解析結果を出力するバグ内容解析手
段とを有する。

【０００８】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。

【０００９】図１は、本発明の一実施例に係るバグ管理
システムの構成を示すブロック図である。本実施例のバ
グ管理システムは、被テストプログラム１と、テスト情
報管理部２と、テスト実行手段３と、テスト結果保存部
４と、バグ管理処理部１４とから、その主要部が構成さ
れている。

【００１０】バグ管理処理部１４は、テスト結果検証手
段５と、バグ情報管理部６と、バグ原因登録手段７と、
バグ管理票編集出力手段８と、バグ管理票９と、バグ摘
出状況判定手段１０と、バグ摘出状況判定結果１１と、
バグ内容解析手段１２と、バグ内容解析結果１３とを含
んで構成されている。

【００１１】被テストプログラム１は、テスト対象のプ
ログラムである。

【００１２】テスト情報管理部２は、被テストプログラ
ム１に対して実施するテストのテストデータ２１および
被テストプログラム１の実行により期待されるテスト結
果期待値２２を保有するファイルである。

【００１３】テスト実行手段３は、被テストプログラム
１に対して、テスト情報管理部２のテストデータ２１を
入力し、テストの実行を行い、テスト結果（出力パラメ
ータ，出力データ，ファイル等の更新結果）を出力する
手段である。

【００１４】テスト結果保存部４は、テスト実行手段３
により出力されたテスト結果を保存するファイルであ
る。

【００１５】テスト結果検証手段５は、テスト結果保存
部４のテスト結果とテスト情報管理部２の対応するテス
ト結果期待値２２とを突き合わせ、不一致があれば不一
致の内容をバグ情報としてバグ情報管理部６に摘出する
手段である。

【００１６】バグ情報管理部６は、摘出されたバグ情報
を一括管理するファイルである。

【００１７】バグ原因登録手段７は、摘出されたバグの
原因をバグ情報管理部６に登録する手段である。

【００１８】バグ管理票編集出力手段８は、バグ情報管
理部６のバグ情報に基づいてバグ管理票９を編集出力す
る手段である。

【００１９】バグ摘出状況判定手段１０は、テスト情報
管理部２のテスト結果期待値２２の件数とバグ情報管理
部６のバグ情報の件数とを入力してバグの摘出状況を判
定しテストの品質を示すバグ摘出状況判定結果１１を出
力する手段である。

【００２０】バグ内容解析手段１２は、バグ情報管理部
６からバグ情報を入力し、バグを内容および原因により
分類し、バグ内容解析結果１３を出力する手段である。

【００２１】図２は、テスト情報管理部２に格納される
テスト結果期待値レコードの構造を示す図である。テス
ト結果期待値レコードは、テスト番号と、期待値データ
とからなる。

【００２２】図３は、テスト結果保存部４に格納される
テスト結果レコードの構造を示す図である。テスト結果
レコードは、テスト番号と、テスト日時と、テスト結果
データとからなる。

【００２３】図４は、バグ情報管理部６に格納されるバ
グ情報管理レコードの構造を示す図である。バグ情報管
理レコードは、テスト番号と、テスト日時と、事象区分
と、原因区分と、期待値データと、不一致データとから
なる。事象区分は、テスト結果について、結果異常およ
びプログラムアボートの区分をコード化して保有する。
また、原因区分は、バグ原因登録手段７によりセットさ
れる。なお、プログラムアボートの場合は、不一致デー
タは作成しない。

【００２４】図５は、テスト結果期待値レコードおよび
バグ情報管理レコード中の期待値データならびにテスト
結果レコード中のテスト結果データの構造を示す図であ
る。期待値データおよびテスト結果データは、データ長
と、データ部とからなる。なお、プログラムアボート等
によりテスト結果がない場合は、データ長のみとなる。

【００２５】図６は、バグ情報管理レコード中の不一致
データの構造を示す図である。不一致データは、全体長
と、データ長，オフセット値，長さおよび期待値と一致
しなかったテスト結果からなる情報の単数または複数組
とからなる。オフセット値は、テスト結果と期待値とが
不一致となったデータの位置（期待値データのデータ部
の先頭からの絶対位置）である。長さは、不一致となっ
た部分の長さである。

【００２６】図７は、テスト結果期待値レコード，テス
ト結果レコードおよびバグ情報管理レコード中の不一致
データの内容を例示する図であり、（ａ）はテスト結果
期待値レコードを、（ｂ）はテスト結果レコードを、
（ｃ）はバグ情報管理レコード中の不一致データをそれ
ぞれ示す。

【００２７】図８を参照すると、テスト結果検証手段５
の処理は、テスト結果とテスト結果期待値との入力ステ
ップＳ１０１と、終了判定ステップＳ１０２と、テスト
結果とテスト結果期待値との突合せステップＳ１０３
と、一致判定ステップＳ１０４と、バグ情報登録ステッ
プＳ１０５と、テスト結果検証完了通知ステップＳ１０
６とからなる。

【００２８】図９を参照すると、バグ摘出状況判定手段
１０の処理は、テスト結果期待値件数入力ステップＳ２
０１と、バグ摘出件数入力ステップＳ２０２と、バグ摘
出状況およびテスト品質判定ステップＳ２０３と、バグ
摘出状況判定結果出力ステップＳ２０４とからなる。

【００２９】図１０を参照すると、バグ内容解析手段１
２の処理は、バグ情報管理レコード入力ステップＳ３０
１と、バグ原因分類および集計ステップＳ３０２と、バ
グ内容解析結果出力ステップＳ３０３とからなる。

【００３０】次に、このように構成された本実施例のバ
グ管理システムの動作について説明する。

【００３１】プログラム開発時の単体テストフェーズに
おいて、テスト実行手段３は、被テストプログラム１に
対し、テスト情報管理部２に保有するテストデータ２１
を入力してテストを実行し、テスト結果（出力パラメー
タ，出力データ，ファイル等の更新結果）をテスト結果
保存部４に出力する。

【００３２】テストの実行が正常に終了したとき、バグ
管理処理部１４は、以下の一連の処理を行い、バグを管
理する。

【００３３】テスト結果検証手段５は、テスト実行手段
３によってテスト結果保存部４に出力されたテスト結果
と、テスト情報管理部２に登録されている対応するテス
ト結果期待値２２とをそれぞれ入力し（ステップＳ１０
１）、突き合わせることによりテスト結果の検証を行う
（ステップＳ１０３）。検証の結果、テスト結果とテス
ト結果期待値２２とが一致していれば（ステップＳ１０
４でイエス）、テスト結果検証手段５は、ステップＳ１
０１に制御を戻し、テスト結果とテスト結果期待値２２
とが一致していなければ（ステップＳ１０４でノー）、
不一致の内容をバグ情報としてバグ情報管理部６に登録
し（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０１に制御を戻
す。テスト結果保存部４のテスト結果およびテスト情報
管理部２のテスト結果期待値２２が終了すると（ステッ
プＳ１０２でイエス）、テスト結果検証手段５は、当該
テスト結果検証の完了をコンソール（図示せず）等に通
知し（ステップＳ１０６）、処理を終了する。

【００３４】例えば、テスト結果レコードが図７（ｂ）
に示すようであり、それに対応するテスト結果期待値レ
コードが図７（ａ）に示すようである場合には、バグ情
報管理レコード中に図７（ｃ）に示すような不一致デー
タが出力される。

【００３５】バグ管理票編集出力手段８は、バグ情報管
理部６に登録されたバグ情報の被テストプログラム名，
バグの発生日時およびバグの内容（テスト結果の不一致
の状況）をバグ管理票９として編集出力する。

【００３６】テスト担当者は、バグ管理票９に計上され
たバグについて原因の調査を行い、原因が判明した場
合、バグ原因登録手段８によって原因区分としてバグ情
報管理部６のバグ情報管理レコードに登録する。

【００３７】バグ摘出状況判定手段１０は、テスト情報
管理部２のテストを実施したテスト結果期待値２２の件
数を入力し（ステップＳ２０１）、バグ情報管理部６に
摘出されたバグ情報の件数を入力し（ステップＳ２０
２）、バグ摘出状況の判定を行い（ステップＳ２０
３）、テストの消化状況，バグ摘出状況およびテストの
品質判定結果をバグ摘出状況判定結果１１として出力す
る（ステップＳ２０４）。

【００３８】バグ内容解析手段１２は、バグ情報管理部
６のバグ情報管理レコードを入力し（ステップＳ３０
１）、原因区分に基づいてバグ原因を分類および集計し
（ステップＳ３０２）、摘出したバグ情報のサマリーリ
スト，バグ原因のサマリーリストおよび原因が未登録の
バグ（未解決のバグ）の一覧をバグ内容解析結果１３と
して出力する（ステップＳ３０３）。

【００３９】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、テスト情
報管理部，テスト実行手段，テスト結果保存部，テスト
結果検証手段，バグ情報管理部，バグ原因登録手段およ
びバグ管理票編集出力手段を設け、バグ情報ばかりでな
くバグ原因もバグ情報管理部で一括管理するようにした
ことにより、以前のテストにおいて調査したバグ原因に
ついては調査を繰り返さなくても済むようになり、テス
ト担当者のバグ原因の調査にかかる負荷を軽減すること
ができるという効果がある。

【００４０】また、バグ摘出状況判定手段を設けたこと
により、バグの摘出状況をより詳細に解析して、テスト
品質を判定することができるという効果がある。

【００４１】さらに、バグ内容解析手段を設けたことに
より、バグ原因の分類および集計によってプログラムの
設計時に作り込みやすいバグの解析が容易に行え、以降
のプログラム設計の品質向上を図ることができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係るバグ管理システムの構
成を示すブロック図である。

【図２】図１中のテスト情報管理部に格納されるテスト
結果期待値レコードの構造を示す図である。

【図３】図１中のテスト結果保存部に格納されるテスト
結果レコードの構造を示す図である。

【図４】図１中のバグ情報管理部に格納されるバグ情報
管理レコードの構造を示す図である。

【図５】図２のテスト結果期待値レコードおよび図４の
バグ情報管理レコード中の期待値データならびに図３の
テスト結果レコード中のテスト結果データの構造を示す
図である。

【図６】図４のバグ情報管理レコード中の不一致データ
の構造を示す図である。

【図７】図２のテスト結果期待値レコード，図３のテス
ト結果レコードおよび図４のバグ情報管理レコード中の
不一致データの内容を例示する図であり、（ａ）はテス
ト結果期待値レコードを、（ｂ）はテスト結果レコード
を、（ｃ）はバグ情報管理レコード中の不一致データを
それぞれ示す。

【図８】図１中のテスト結果検証手段の処理を示す流れ
図である。

【図９】図１中のバグ摘出状況判定手段の処理を示す流
れ図である。

【図１０】図１中のバグ内容解析手段の処理を示す流れ
図である。

【符号の説明】

１ 被テストプログラム ２ テスト情報管理部 ３ テスト実行手段 ４ テスト結果保存部 ５ テスト結果検証手段 ６ バグ情報管理部 ７ バグ原因登録手段 ８ バグ管理票編集出力手段 ９ バグ管理票 １０ バグ摘出状況判定手段 １１ バグ摘出状況判定結果 １２ バグ内容解析手段 １３ バグ内容解析結果 １４ バグ管理処理部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被テストプログラムに対して実施するテ
   ストのテストデータおよびテスト結果期待値を保有する
   テスト情報管理部と、 このテスト情報管理部のテストデータにより前記被テス
   トプログラムの実行を行うテスト実行手段と、 前記被テストプログラムの実行により得られたテスト結
   果を保存するテスト結果保存部と、 このテスト結果保存部のテスト結果と前記テスト情報管
   理部の対応するテスト結果期待値とを突き合わせ、不一
   致があったときには不一致状況をバグ情報として摘出す
   るテスト結果検証手段と、 このテスト結果検証手段により摘出されたバグ情報を一
   括管理するバグ情報管理部と、 このバグ情報管理部に管理されたバグ情報からバグ管理
   票を編集出力するバグ管理票編集出力手段と、 前記バグ管理票に基づいて調査したバグの原因を前記バ
   グ情報管理部に登録するバグ原因登録手段とを有するこ
   とを特徴とするバグ管理システム。
2. 【請求項２】 前記テスト情報管理部のテスト結果期待
   値の件数と前記バグ情報管理部のバグ情報の件数とを入
   力しバグの摘出状況を判定してテストの品質を示すバグ
   摘出状況判定結果を出力するバグ摘出状況判定手段を備
   える請求項１記載のバグ管理システム。
3. 【請求項３】 前記バグ情報管理部のバグ情報を分類お
   よび集計し前記被テストプログラムの設計品質について
   の解析を行うためのバグ内容解析結果を出力するバグ内
   容解析手段を備える請求項１記載のバグ管理システム。