JPH07176108A - 光ディスク再生装置 - Google Patents
光ディスク再生装置Info
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- JPH07176108A JPH07176108A JP32025193A JP32025193A JPH07176108A JP H07176108 A JPH07176108 A JP H07176108A JP 32025193 A JP32025193 A JP 32025193A JP 32025193 A JP32025193 A JP 32025193A JP H07176108 A JPH07176108 A JP H07176108A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 再生信号を適応的に等化して再生信号の非対
称性を適切に補償可能な光ディスク再生装置を提供す
る。 【構成】 光ディスク40、光検出器12、および、プ
リアンプ回路14により得られたRF信号は非対称検出
回路30に入力され、その立ち上がり点および立ち下が
り点におけるRF信号の変化量の差分が非対称信号とし
てパラメータ参照テーブル32に入力される。パラメー
タ参照テーブル32は非対称信号の値に対応するパラメ
ータKl,Ktを等化回路36に設定する。等化回路3
6は、伝達関数F(s)にパラメータ参照テーブル32
から設定されたパラメータKl,Ktを代入した関数に
より規定される特性でRF信号を等化する。
称性を適切に補償可能な光ディスク再生装置を提供す
る。 【構成】 光ディスク40、光検出器12、および、プ
リアンプ回路14により得られたRF信号は非対称検出
回路30に入力され、その立ち上がり点および立ち下が
り点におけるRF信号の変化量の差分が非対称信号とし
てパラメータ参照テーブル32に入力される。パラメー
タ参照テーブル32は非対称信号の値に対応するパラメ
ータKl,Ktを等化回路36に設定する。等化回路3
6は、伝達関数F(s)にパラメータ参照テーブル32
から設定されたパラメータKl,Ktを代入した関数に
より規定される特性でRF信号を等化する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は温度の変化に対応して性
質が変化する磁性膜を有する光磁気ディスクから再生信
号を読み出してデータの再生を行う光ディスク再生装
置、記録媒体、および、光ディスク再生方法に関する。
質が変化する磁性膜を有する光磁気ディスクから再生信
号を読み出してデータの再生を行う光ディスク再生装
置、記録媒体、および、光ディスク再生方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光磁気相互作用によりデータの記録およ
び再生が行われる光ディスクについて、光ディスクに対
するデータの記録および再生に用いられるレーザー光線
の波長、および、対物レンズの特性により定められる光
学的限界以上の高密度記録および再生が可能な光ディス
ク再生方式(超解像再生方式)として、例えば特開平1
−143042号公報、特開平3−97140号公報、
特開平3−88156号公報に開示されたものが知られ
ている。これらの光ディスク再生方式は、光ディスクの
磁性膜の温度を変更することにより該磁性膜に形成され
ている記録磁区(ピット、あるいは、マーク)の大き
さ、あるいは、磁界の方向を制御し、記録磁区にレーザ
ー光線を照射して光磁気相互作用により再生信号を得る
ものである。
び再生が行われる光ディスクについて、光ディスクに対
するデータの記録および再生に用いられるレーザー光線
の波長、および、対物レンズの特性により定められる光
学的限界以上の高密度記録および再生が可能な光ディス
ク再生方式(超解像再生方式)として、例えば特開平1
−143042号公報、特開平3−97140号公報、
特開平3−88156号公報に開示されたものが知られ
ている。これらの光ディスク再生方式は、光ディスクの
磁性膜の温度を変更することにより該磁性膜に形成され
ている記録磁区(ピット、あるいは、マーク)の大き
さ、あるいは、磁界の方向を制御し、記録磁区にレーザ
ー光線を照射して光磁気相互作用により再生信号を得る
ものである。
【0003】また、例えば特開平3−292632号公
報に開示された位相ピット方式の光ディスク再生方式
は、再生専用の光ディスクに用いられる方式であって、
光ディスクの光反射層に凹凸を形成し、この凹凸にレー
ザー光線を照射してその反射光線から再生信号を得るも
のである。上述の磁性膜の温度の変更により記録磁区の
大きさ等を制御する方式と同様に位相ピット方式におい
ても、光ディスクの光反射層に温度によって反射率を変
わる材料、あるいは、光子量が一定以上になった場合に
脱色する色素を有する材料を用いることにより、位相ピ
ット方式においても、光学的限界以上の高密度記録、お
よび、再生が可能となる。
報に開示された位相ピット方式の光ディスク再生方式
は、再生専用の光ディスクに用いられる方式であって、
光ディスクの光反射層に凹凸を形成し、この凹凸にレー
ザー光線を照射してその反射光線から再生信号を得るも
のである。上述の磁性膜の温度の変更により記録磁区の
大きさ等を制御する方式と同様に位相ピット方式におい
ても、光ディスクの光反射層に温度によって反射率を変
わる材料、あるいは、光子量が一定以上になった場合に
脱色する色素を有する材料を用いることにより、位相ピ
ット方式においても、光学的限界以上の高密度記録、お
よび、再生が可能となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、光ディスク
から得られる再生信号の立ち上がり波形と立ち下がり波
形とには非対称性がある。この再生信号の波形の非対称
性は主に、光ディスク再生装置の再生用レーザー光線の
磁性膜上におけるスポットの大きさに起因する。しかも
この磁性膜上のレーザー光線のスポットの大きさは、レ
ーザー光線の出力、光ディスクの磁性膜の特性、およ
び、周囲の気温の変化による光ディスクの温度変等、さ
まざまな条件により変化する。以上述べたように再生信
号に非対称性がある場合、再生信号を識別して得られる
再生データの信頼性が低下し、光ディスクの記憶密度を
向上させることが難しくなるという問題がある。また、
再生信号の非対称性は上述のように、さまざまな条件に
より変化するので、この非対称性を取り除くための等化
処理が難しいという問題がある。
から得られる再生信号の立ち上がり波形と立ち下がり波
形とには非対称性がある。この再生信号の波形の非対称
性は主に、光ディスク再生装置の再生用レーザー光線の
磁性膜上におけるスポットの大きさに起因する。しかも
この磁性膜上のレーザー光線のスポットの大きさは、レ
ーザー光線の出力、光ディスクの磁性膜の特性、およ
び、周囲の気温の変化による光ディスクの温度変等、さ
まざまな条件により変化する。以上述べたように再生信
号に非対称性がある場合、再生信号を識別して得られる
再生データの信頼性が低下し、光ディスクの記憶密度を
向上させることが難しくなるという問題がある。また、
再生信号の非対称性は上述のように、さまざまな条件に
より変化するので、この非対称性を取り除くための等化
処理が難しいという問題がある。
【0005】本発明の光ディスク再生装置は、上述した
従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、適切な
等化処理によって再生信号の非対称性を補償し、再生デ
ータの信頼性を向上させることが可能であり、さらに、
光ディスクの記憶密度を向上させること可能な光ディス
ク再生装置を提供することを目的とする。また、再生信
号を適応的に等化して再生信号の非対称性を適切に補償
可能な光ディスク再生装置を提供することを目的とす
る。
従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、適切な
等化処理によって再生信号の非対称性を補償し、再生デ
ータの信頼性を向上させることが可能であり、さらに、
光ディスクの記憶密度を向上させること可能な光ディス
ク再生装置を提供することを目的とする。また、再生信
号を適応的に等化して再生信号の非対称性を適切に補償
可能な光ディスク再生装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の第1の光ディスク再生装置は、記録媒体の磁
性膜の温度を変更することにより該磁性膜に形成されて
いる記録磁区の大きさ、あるいは、磁界の方向を制御
し、該記録磁区における光磁気相互作用を用いて該記録
磁区からの再生信号を生成する再生信号生成手段と、前
記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の波
形等化処理を行う波形等化手段とを有する。また好適に
は、本発明の第1の光ディスク再生装置に用いられる前
記記録媒体には予め所定のパターンの記録磁区が形成さ
れており、本発明の第1の光ディスク再生装置において
前記波形等化手段は、前記所定のパターンの記録磁区に
対応する再生信号の波形に基づいて、少なくとも該所定
のパターンの記録磁区に対応する記録磁区からの再生信
号に対する該波形等化手段の等化特性を変更する等化特
性変更手段を有することを特徴とする。
に本発明の第1の光ディスク再生装置は、記録媒体の磁
性膜の温度を変更することにより該磁性膜に形成されて
いる記録磁区の大きさ、あるいは、磁界の方向を制御
し、該記録磁区における光磁気相互作用を用いて該記録
磁区からの再生信号を生成する再生信号生成手段と、前
記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の波
形等化処理を行う波形等化手段とを有する。また好適に
は、本発明の第1の光ディスク再生装置に用いられる前
記記録媒体には予め所定のパターンの記録磁区が形成さ
れており、本発明の第1の光ディスク再生装置において
前記波形等化手段は、前記所定のパターンの記録磁区に
対応する再生信号の波形に基づいて、少なくとも該所定
のパターンの記録磁区に対応する記録磁区からの再生信
号に対する該波形等化手段の等化特性を変更する等化特
性変更手段を有することを特徴とする。
【0007】また好適には、本発明の第1の光ディスク
再生装置における前記波形等化手段の等化特性は、少な
くとも前記再生信号の波形の振幅を調整する係数、およ
び、位相直線性を調整する係数を有する伝達関数により
規定されており、前記等化特性変更手段は、前記再生信
号の立ち上がり変化点、および、立ち下がり変化点にお
ける該再生信号の変化量の比較結果に基づいて、少なく
とも前記伝達関数の前記再生信号の波形の振幅を調整す
る係数、および、位相直線性を調整する係数を変更する
係数変更手段を有することを特徴とする。
再生装置における前記波形等化手段の等化特性は、少な
くとも前記再生信号の波形の振幅を調整する係数、およ
び、位相直線性を調整する係数を有する伝達関数により
規定されており、前記等化特性変更手段は、前記再生信
号の立ち上がり変化点、および、立ち下がり変化点にお
ける該再生信号の変化量の比較結果に基づいて、少なく
とも前記伝達関数の前記再生信号の波形の振幅を調整す
る係数、および、位相直線性を調整する係数を変更する
係数変更手段を有することを特徴とする。
【0008】また本発明の第2の光ディスク再生装置
は、記録媒体の光反射膜の温度、または、該反射膜に照
射する光子量を変更することにより該光反射膜に形成さ
れている凹凸の反射率を制御し、該凹凸から反射される
光から再生信号を生成する再生信号生成手段と、前記再
生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の波形等
化処理を行う波形等化手段とを有する。また本発明の光
ディスク再生装置に用いられる記録媒体は、磁性膜の温
度の変更により該磁性膜に形成されている記録磁区の大
きさ、あるいは、磁界の方向が制御され、該記録磁区に
おける光磁気相互作用を用いて該記録磁区から再生信号
が読み出される記録媒体であって、再生信号の等化処理
の等化特性を求めるために用いられる所定のパターンの
記録磁区が予め形成されていることを特徴とする。また
本発明の光ディスク再生方法は、記録媒体の磁性膜の温
度を変更することにより該磁性膜に形成されている記録
磁区の所定の性質を制御し、該記録磁区における光磁気
相互作用を用いて該記録磁区からの再生信号を生成し、
前記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の
波形等化処理を行う。
は、記録媒体の光反射膜の温度、または、該反射膜に照
射する光子量を変更することにより該光反射膜に形成さ
れている凹凸の反射率を制御し、該凹凸から反射される
光から再生信号を生成する再生信号生成手段と、前記再
生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の波形等
化処理を行う波形等化手段とを有する。また本発明の光
ディスク再生装置に用いられる記録媒体は、磁性膜の温
度の変更により該磁性膜に形成されている記録磁区の大
きさ、あるいは、磁界の方向が制御され、該記録磁区に
おける光磁気相互作用を用いて該記録磁区から再生信号
が読み出される記録媒体であって、再生信号の等化処理
の等化特性を求めるために用いられる所定のパターンの
記録磁区が予め形成されていることを特徴とする。また
本発明の光ディスク再生方法は、記録媒体の磁性膜の温
度を変更することにより該磁性膜に形成されている記録
磁区の所定の性質を制御し、該記録磁区における光磁気
相互作用を用いて該記録磁区からの再生信号を生成し、
前記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の
波形等化処理を行う。
【0009】
【作用】再生信号生成手段は、その磁性膜の温度により
磁性膜に形成された記録磁性区が拡大、縮小する光ディ
スクの磁性膜の温度を制御し、この光ディスクを光学的
に読み出し、さらに、光ディスクから読み出された光学
的な信号を電気的な再生信号に変換する。波形等化手段
は、再生信号の波形に適応した等化特性で再生信号を等
化する。これらの手段により、場所、あるいは、光ディ
スクのばらつき等の要因によって異なる再生信号の非対
称性を除去するために最適な等化特性で適応的に再生信
号の等化処理を行い、再生信号の非対称性が再生データ
の復元等に与える悪影響を排除する。
磁性膜に形成された記録磁性区が拡大、縮小する光ディ
スクの磁性膜の温度を制御し、この光ディスクを光学的
に読み出し、さらに、光ディスクから読み出された光学
的な信号を電気的な再生信号に変換する。波形等化手段
は、再生信号の波形に適応した等化特性で再生信号を等
化する。これらの手段により、場所、あるいは、光ディ
スクのばらつき等の要因によって異なる再生信号の非対
称性を除去するために最適な等化特性で適応的に再生信
号の等化処理を行い、再生信号の非対称性が再生データ
の復元等に与える悪影響を排除する。
【0010】上記波形等化手段は、常に再生信号の非対
称性の除去に最適な等化特性により再生信号の等化を行
うために等化特性変更手段を有しており、この等化特性
変更手段は、立ち上がり点と立ち下がり点における再生
信号の変化量を比較して再生信号の非対称性を検出し、
検出された再生信号の非対称性に基づいて波形等化手段
の等化特性を変更する。
称性の除去に最適な等化特性により再生信号の等化を行
うために等化特性変更手段を有しており、この等化特性
変更手段は、立ち上がり点と立ち下がり点における再生
信号の変化量を比較して再生信号の非対称性を検出し、
検出された再生信号の非対称性に基づいて波形等化手段
の等化特性を変更する。
【0011】また、記録媒体(光ディスク)は、磁性膜
の温度により磁性膜に形成された記録磁区が拡大、また
は、縮小するものであって、再生信号の非対称性を検出
する再生信号波形を得るための所定のパターンの記録磁
区を有する。この記録媒体を再生する光ディスク再生装
置は、この所定のパターンに対応する再生信号の波形に
適応した等化特性により再生信号の等化を行う。
の温度により磁性膜に形成された記録磁区が拡大、また
は、縮小するものであって、再生信号の非対称性を検出
する再生信号波形を得るための所定のパターンの記録磁
区を有する。この記録媒体を再生する光ディスク再生装
置は、この所定のパターンに対応する再生信号の波形に
適応した等化特性により再生信号の等化を行う。
【0012】
【実施例1】以下、第1の実施例として図1〜図6を参
照して本発明の光ディスク再生装置1の構成および動作
を説明する。図1は、第1の実施例における本発明の光
ディスク再生装置1の構成を示す図である。図2は、図
1に示した本発明の光ディスク再生装置1の等化回路1
6の構成を示す図である。図3は、図2に示したパルス
スリマ160の等化出力振幅(再生信号入力振幅)の周
波数特性を示す。図4は、図2に示したパルススリマ1
60の等化出力位相(再生信号入力位相)の周波数特性
を示す。
照して本発明の光ディスク再生装置1の構成および動作
を説明する。図1は、第1の実施例における本発明の光
ディスク再生装置1の構成を示す図である。図2は、図
1に示した本発明の光ディスク再生装置1の等化回路1
6の構成を示す図である。図3は、図2に示したパルス
スリマ160の等化出力振幅(再生信号入力振幅)の周
波数特性を示す。図4は、図2に示したパルススリマ1
60の等化出力位相(再生信号入力位相)の周波数特性
を示す。
【0013】図5は、再生スポットの後部分の温度を上
げてマークを読み出す場合(FAD;Front Ap
erture Detection)に得られる再生信
号の波形を示す図であって、(A)は再生スポットの昇
温部分、光ディスクの進行方向、および、マークとの関
係を示し、(B)は(A)に示したマークから得られる
再生信号の波形を示す。図6は、再生スポットの前部分
の温度を上げてマークを読み出す場合(RAD;Rea
r Aperture Detection)に得られ
る再生信号の波形を示す図であって、(A)は再生スポ
ットの昇温部分、光ディスクの進行方向、および、マー
クとの関係を示し、(B)は(A)に示したマークから
得られる再生信号の波形を示す。
げてマークを読み出す場合(FAD;Front Ap
erture Detection)に得られる再生信
号の波形を示す図であって、(A)は再生スポットの昇
温部分、光ディスクの進行方向、および、マークとの関
係を示し、(B)は(A)に示したマークから得られる
再生信号の波形を示す。図6は、再生スポットの前部分
の温度を上げてマークを読み出す場合(RAD;Rea
r Aperture Detection)に得られ
る再生信号の波形を示す図であって、(A)は再生スポ
ットの昇温部分、光ディスクの進行方向、および、マー
クとの関係を示し、(B)は(A)に示したマークから
得られる再生信号の波形を示す。
【0014】まず、図1を参照して光ディスク再生装置
1の構成を説明する。なお、以下に述べる本発明の光デ
ィスク再生装置はデータの再生に関するものであるた
め、光ディスク再生装置1の内のデータ記録に関する部
分は省略してある。光ディスク再生装置1は、光学的限
界以上の記録密度でデータが記録されている光ディスク
10を読み出して再生データを復元する装置である。光
ディスク10は、光磁気相互作用によりデータの記録、
および、再生が行なわれる光ディスクであって、光ディ
スクの磁性膜の温度の変更により磁性膜に形成されてい
る記録磁区の拡大、および、縮小、あるいは磁界の方向
の反転が可能である。ただし以下の各実施例においては
例として、記録磁区の拡大、および、縮小が可能な場合
について説明する。光ディスク再生装置1は、光ディス
ク10に照射するレーザー光線の出力および光ディスク
10上のスポットの位置を調節して上述のような記録磁
区の性質を制御し、光学的にデータの書き込み、およ
び、読み出しを行うことにより、光ディスク10におい
て用いられているレーザー光線の波長、および、対物レ
ンズの特性により決まる記録密度の光学的限界以上の記
録密度でデータの記録、および、再生を行うことができ
る。
1の構成を説明する。なお、以下に述べる本発明の光デ
ィスク再生装置はデータの再生に関するものであるた
め、光ディスク再生装置1の内のデータ記録に関する部
分は省略してある。光ディスク再生装置1は、光学的限
界以上の記録密度でデータが記録されている光ディスク
10を読み出して再生データを復元する装置である。光
ディスク10は、光磁気相互作用によりデータの記録、
および、再生が行なわれる光ディスクであって、光ディ
スクの磁性膜の温度の変更により磁性膜に形成されてい
る記録磁区の拡大、および、縮小、あるいは磁界の方向
の反転が可能である。ただし以下の各実施例においては
例として、記録磁区の拡大、および、縮小が可能な場合
について説明する。光ディスク再生装置1は、光ディス
ク10に照射するレーザー光線の出力および光ディスク
10上のスポットの位置を調節して上述のような記録磁
区の性質を制御し、光学的にデータの書き込み、およ
び、読み出しを行うことにより、光ディスク10におい
て用いられているレーザー光線の波長、および、対物レ
ンズの特性により決まる記録密度の光学的限界以上の記
録密度でデータの記録、および、再生を行うことができ
る。
【0015】光検出器(PD)12は、フォトダイオー
ド等から構成される、例えば4分割方式の光検出器であ
って、光ディスク10に照射されたレーザー光線が光デ
ィスク10の記録磁区において光磁気相互作用により変
調されて反射されて生じた光学的な信号(再生光信号)
を変換して電気的な再生信号としてプリアンプ回路14
に入力する。プリアンプ回路14は、光検出器12から
入力された再生信号を増幅し、さらに再生信号から再生
データを復元するために用いられる和信号(RF信号)
と、トラッキングサーボに用いられるサーボ信号とに分
離し、これら信号の内のRF信号を等化回路16に入力
する。
ド等から構成される、例えば4分割方式の光検出器であ
って、光ディスク10に照射されたレーザー光線が光デ
ィスク10の記録磁区において光磁気相互作用により変
調されて反射されて生じた光学的な信号(再生光信号)
を変換して電気的な再生信号としてプリアンプ回路14
に入力する。プリアンプ回路14は、光検出器12から
入力された再生信号を増幅し、さらに再生信号から再生
データを復元するために用いられる和信号(RF信号)
と、トラッキングサーボに用いられるサーボ信号とに分
離し、これら信号の内のRF信号を等化回路16に入力
する。
【0016】等化回路16は、RF信号の波形について
等化処理を行い、等化後のRF信号を比較回路18に入
力する。等化回路16における等化処理を以下に説明す
る。光ディスク10の記録磁性区が長い(長マークの)
場合にはRF信号の振幅が大きくなり、短い(短マーク
の)場合にはRF信号の振幅が相対的に小さくなる。等
化回路16は短い記録磁区に対応するRF信号の振幅を
大きくして長い記録磁区に対応するRF信号の振幅に揃
え、記録磁区の長さにかかわらず等化回路16以降で復
元される再生データの誤り率を低く保つ。なお、この等
化回路16の動作をブーストという。なお、等化回路1
6の構成および動作は図2を参照して後述する。
等化処理を行い、等化後のRF信号を比較回路18に入
力する。等化回路16における等化処理を以下に説明す
る。光ディスク10の記録磁性区が長い(長マークの)
場合にはRF信号の振幅が大きくなり、短い(短マーク
の)場合にはRF信号の振幅が相対的に小さくなる。等
化回路16は短い記録磁区に対応するRF信号の振幅を
大きくして長い記録磁区に対応するRF信号の振幅に揃
え、記録磁区の長さにかかわらず等化回路16以降で復
元される再生データの誤り率を低く保つ。なお、この等
化回路16の動作をブーストという。なお、等化回路1
6の構成および動作は図2を参照して後述する。
【0017】比較回路18は、波形等化処理後のRF信
号の電圧と所定のしきい値の電圧とを比較して2値に識
別してディジタル形式のディジタルRF信号としてデー
タサンプル回路20、および、クロック抽出回路22に
入力する。つまり、RF信号の電圧がしきい値よりも高
い場合に論理値1を出力し、低い場合に論理値0を出力
する。クロック抽出回路22は、ディジタルRF信号に
同期した再生データの復元に用いられるクロック信号を
生成する。データサンプル回路20は、ディジタルRF
信号をクロック信号に同期してサンプリングして再生デ
ータを復元して出力データとして、例えば光ディスク再
生装置1に後置されるデータ復元器(図示せず)に入力
する。
号の電圧と所定のしきい値の電圧とを比較して2値に識
別してディジタル形式のディジタルRF信号としてデー
タサンプル回路20、および、クロック抽出回路22に
入力する。つまり、RF信号の電圧がしきい値よりも高
い場合に論理値1を出力し、低い場合に論理値0を出力
する。クロック抽出回路22は、ディジタルRF信号に
同期した再生データの復元に用いられるクロック信号を
生成する。データサンプル回路20は、ディジタルRF
信号をクロック信号に同期してサンプリングして再生デ
ータを復元して出力データとして、例えば光ディスク再
生装置1に後置されるデータ復元器(図示せず)に入力
する。
【0018】以下、図2を参照して等化回路16の構成
を説明する。図2に示すように、等化回路16はパルス
スリマ回路160、および、ローパスフィルタ(LP
F)162から構成される。パルススリマ回路160
は、次式に示す伝達関数F(s)で表される特性を有し
ており、入力されるRF信号について上述のブースト処
理を行い、光ディスク10上の短マークと長マークに対
応するRF信号の振幅を揃えてローパスフィルタ162
に入力する。
を説明する。図2に示すように、等化回路16はパルス
スリマ回路160、および、ローパスフィルタ(LP
F)162から構成される。パルススリマ回路160
は、次式に示す伝達関数F(s)で表される特性を有し
ており、入力されるRF信号について上述のブースト処
理を行い、光ディスク10上の短マークと長マークに対
応するRF信号の振幅を揃えてローパスフィルタ162
に入力する。
【0019】 F(s) = (1+s/Kl)(1−s/Kt) …(1)
【0020】パルススリマ回路160用に用いられるも
のとして具体的には、例えばIMP社のIMP42C4
55等を挙げることができる。ローパスフィルタ162
は、パルススリマ回路160によりブースト処理された
RF信号の所定の周波数以下の信号成分のみを通過させ
て比較回路18に入力する。
のとして具体的には、例えばIMP社のIMP42C4
55等を挙げることができる。ローパスフィルタ162
は、パルススリマ回路160によりブースト処理された
RF信号の所定の周波数以下の信号成分のみを通過させ
て比較回路18に入力する。
【0021】以下、図3および図4を参照して等化回路
16の特性を説明する。等化回路16による等化後のR
F信号出力の振幅特性は、図3に示すように、等化回路
16の出力信号の振幅(等化出力振幅)の周波数特性
は、所定の周波数領域aで大きくなる。つまり、等化回
路16によりRF信号の高域が強調される。この等化回
路16の出力信号の振幅の周波数特性は、式1のパラメ
ータ(係数)により定められる。つまり、パラメータK
l,Ktの値のいずれか、または、両方が大きくなった
場合、周波数領域aにおける盛り上がりが高くなる。つ
まりこの場合、等化回路16によるRF信号の高域の強
調が弱くなる。逆に、パラメータKl,Ktの値のいず
れか、または、両方が小さくなった場合、周波数領域a
における盛り上がりが小さくなる。つまりこの場合、等
化回路16によるRF信号の高域の強調が弱くなる。
16の特性を説明する。等化回路16による等化後のR
F信号出力の振幅特性は、図3に示すように、等化回路
16の出力信号の振幅(等化出力振幅)の周波数特性
は、所定の周波数領域aで大きくなる。つまり、等化回
路16によりRF信号の高域が強調される。この等化回
路16の出力信号の振幅の周波数特性は、式1のパラメ
ータ(係数)により定められる。つまり、パラメータK
l,Ktの値のいずれか、または、両方が大きくなった
場合、周波数領域aにおける盛り上がりが高くなる。つ
まりこの場合、等化回路16によるRF信号の高域の強
調が弱くなる。逆に、パラメータKl,Ktの値のいず
れか、または、両方が小さくなった場合、周波数領域a
における盛り上がりが小さくなる。つまりこの場合、等
化回路16によるRF信号の高域の強調が弱くなる。
【0022】また図4に示すように、等化回路16はR
F信号の位相補正を行う。ここで、等化回路16による
等化後のRF信号出力の位相特性も、図4に示すように
式1のパラメータKl,Ktにより定められる。すなわ
ち、パラメータKl,Ktの関係がKl>Ktである場
合、曲線aに示すように周波数の高い領域で等化回路1
6の出力信号の位相(等化出力位相)遅延は鈍化し、K
l=Ktである場合、曲線bに示すように全周波数領域
で等化回路16の出力信号の位相遅延は比例して大きく
なり、Kl<Ktである場合、曲線cに示すように周波
数の高い領域で等化回路16の出力信号の位相遅延は更
に大きくなる。よって、等化回路16に対してパラメー
タKl,Ktの値を適切に設定することにより、RF信
号に対するブースト量、および、RF信号の位相直線性
を調整することができる。従って、図5および図6に示
して後述するRF信号の波形の非対称性を調整すること
が可能である。
F信号の位相補正を行う。ここで、等化回路16による
等化後のRF信号出力の位相特性も、図4に示すように
式1のパラメータKl,Ktにより定められる。すなわ
ち、パラメータKl,Ktの関係がKl>Ktである場
合、曲線aに示すように周波数の高い領域で等化回路1
6の出力信号の位相(等化出力位相)遅延は鈍化し、K
l=Ktである場合、曲線bに示すように全周波数領域
で等化回路16の出力信号の位相遅延は比例して大きく
なり、Kl<Ktである場合、曲線cに示すように周波
数の高い領域で等化回路16の出力信号の位相遅延は更
に大きくなる。よって、等化回路16に対してパラメー
タKl,Ktの値を適切に設定することにより、RF信
号に対するブースト量、および、RF信号の位相直線性
を調整することができる。従って、図5および図6に示
して後述するRF信号の波形の非対称性を調整すること
が可能である。
【0023】以下、図5および図6を参照して等化回路
16に入力されるRF信号の波形を説明する。まず、図
5を参照してFADの場合におけるRF信号の波形につ
いて説明する。FADの場合、図5(A)に示すように
記録磁区a、レーザースポットdの低温部b、および、
昇温部cが位置する。つまり、光ディスク10は図5
(A)中の矢印に示す方向に回転するので、図5(A)
に示す記録磁区(マーク)aに対して、図5(A)に斜
線部として示すレーザースポットdの昇温部cが後方に
位置し、低温部bが前方に位置することになる。ここ
で、光ディスク10の磁性膜の記録磁性区は、温度が高
い場合に縮小し、低い場合に拡大するので、低温部bに
おいてマークに対応するRF信号を得ることができる。
従って図5(B)に示すように、記録磁区aに対応する
RF信号の波形は立ち上がり部分eが緩やかで、立ち下
がり部分fが急峻な波形となる。
16に入力されるRF信号の波形を説明する。まず、図
5を参照してFADの場合におけるRF信号の波形につ
いて説明する。FADの場合、図5(A)に示すように
記録磁区a、レーザースポットdの低温部b、および、
昇温部cが位置する。つまり、光ディスク10は図5
(A)中の矢印に示す方向に回転するので、図5(A)
に示す記録磁区(マーク)aに対して、図5(A)に斜
線部として示すレーザースポットdの昇温部cが後方に
位置し、低温部bが前方に位置することになる。ここ
で、光ディスク10の磁性膜の記録磁性区は、温度が高
い場合に縮小し、低い場合に拡大するので、低温部bに
おいてマークに対応するRF信号を得ることができる。
従って図5(B)に示すように、記録磁区aに対応する
RF信号の波形は立ち上がり部分eが緩やかで、立ち下
がり部分fが急峻な波形となる。
【0024】次に、図6を参照してRADの場合におけ
るRF信号の波形について説明する。RADの場合、図
6(A)に示すように記録磁区a、レーザースポットd
の低温部b、および、昇温部cが位置する。つまり、光
ディスク10は図6(A)中の矢印に示す方向に回転す
るので、図6(A)に示す記録磁区(マーク)aに対し
て、図6(A)に斜線部として示すレーザースポットd
の昇温部cが前方に位置し、低温部bが後方に位置する
ことになる。ここで上述のように、光ディスク10の磁
性膜の記録磁性区は、温度が高い場合に縮小し、低い場
合に拡大するので、低温部bにおいてマークに対応する
RF信号を得ることができる。従って図6(B)に示す
ようにFADの場合とは逆に、記録磁区aに対応するR
F信号の波形は立ち下がり部分fが緩やかで、立ち上が
り部分eが急峻な波形となる。以上のようなRF信号
(再生信号)の立ち上がり点および立ち下がり点の変化
の差をRF信号の非対称性という。
るRF信号の波形について説明する。RADの場合、図
6(A)に示すように記録磁区a、レーザースポットd
の低温部b、および、昇温部cが位置する。つまり、光
ディスク10は図6(A)中の矢印に示す方向に回転す
るので、図6(A)に示す記録磁区(マーク)aに対し
て、図6(A)に斜線部として示すレーザースポットd
の昇温部cが前方に位置し、低温部bが後方に位置する
ことになる。ここで上述のように、光ディスク10の磁
性膜の記録磁性区は、温度が高い場合に縮小し、低い場
合に拡大するので、低温部bにおいてマークに対応する
RF信号を得ることができる。従って図6(B)に示す
ようにFADの場合とは逆に、記録磁区aに対応するR
F信号の波形は立ち下がり部分fが緩やかで、立ち上が
り部分eが急峻な波形となる。以上のようなRF信号
(再生信号)の立ち上がり点および立ち下がり点の変化
の差をRF信号の非対称性という。
【0025】以下、光ディスク再生装置1の動作を説明
する。光ディスク10から得られた再生光信号は、光検
出器12により電気的な再生信号に変換されてプリアン
プ回路14に入力される。プリアンプ回路14は再生信
号からRF信号(和信号)、および、サーボ信号を分離
して、RF信号のみを等化回路16に入力する。等化回
路16は、RF信号の短マークに対応する波形の振幅と
長マークに対応する波形の振幅とを揃えて(等化して)
比較回路18に入力する。比較回路18は等化されたR
F信号の電圧と所定のしきい値とを比較し、2値化して
ディジタル再生信号としてデータサンプル回路20およ
びクロック抽出回路22に入力する。データサンプル回
路20は、クロック抽出回路22により生成されたクロ
ック信号に基づいて比較回路18の出力信号をサンプリ
ングして再生データを復元し、この再生データを出力デ
ータとして出力する。
する。光ディスク10から得られた再生光信号は、光検
出器12により電気的な再生信号に変換されてプリアン
プ回路14に入力される。プリアンプ回路14は再生信
号からRF信号(和信号)、および、サーボ信号を分離
して、RF信号のみを等化回路16に入力する。等化回
路16は、RF信号の短マークに対応する波形の振幅と
長マークに対応する波形の振幅とを揃えて(等化して)
比較回路18に入力する。比較回路18は等化されたR
F信号の電圧と所定のしきい値とを比較し、2値化して
ディジタル再生信号としてデータサンプル回路20およ
びクロック抽出回路22に入力する。データサンプル回
路20は、クロック抽出回路22により生成されたクロ
ック信号に基づいて比較回路18の出力信号をサンプリ
ングして再生データを復元し、この再生データを出力デ
ータとして出力する。
【0026】図5および図6に示したように、温度によ
り記録磁区の大きさ等の制御が行われる形式の光ディス
ク10を用いた超解像再生方式においては、RF信号
(再生信号)に非対称性が生じることになる。非対称性
を有したままのRF信号から再生データの再生を行った
場合、例えば符号間干渉の増大およびクロック位相マー
ジンが少なくなるといった不具合が生じる。等化回路1
6により非対称性を有するRF信号に対して高域特性を
強調し、また、位相直線性を調整することによりRF信
号を等化してその対称性を改善することができる。
り記録磁区の大きさ等の制御が行われる形式の光ディス
ク10を用いた超解像再生方式においては、RF信号
(再生信号)に非対称性が生じることになる。非対称性
を有したままのRF信号から再生データの再生を行った
場合、例えば符号間干渉の増大およびクロック位相マー
ジンが少なくなるといった不具合が生じる。等化回路1
6により非対称性を有するRF信号に対して高域特性を
強調し、また、位相直線性を調整することによりRF信
号を等化してその対称性を改善することができる。
【0027】光ディスク再生装置1は、RF信号を等化
してその対称性を改善してから再生データの復元を行う
ので、超解像再生方式においてRF信号の非対称性に起
因する符号間干渉、および、RF信号から再生されたク
ロック信号の位相マージンの改善を図ることができる。
従って、光ディスク再生装置1により光ディスク10か
ら再生される再生データの信頼性が向上する。なお、上
述した光ディスク再生装置1は、記録磁区の大きさを制
御する光ディスクを再生する場合について述べたが、記
録磁区の磁界の方向を制御して再生信号を読み出す形式
の光ディスク再生装置にも応用できることはもちろん、
適切な変形により位相ピット方式の光ディスク再生装置
にも応用可能である。
してその対称性を改善してから再生データの復元を行う
ので、超解像再生方式においてRF信号の非対称性に起
因する符号間干渉、および、RF信号から再生されたク
ロック信号の位相マージンの改善を図ることができる。
従って、光ディスク再生装置1により光ディスク10か
ら再生される再生データの信頼性が向上する。なお、上
述した光ディスク再生装置1は、記録磁区の大きさを制
御する光ディスクを再生する場合について述べたが、記
録磁区の磁界の方向を制御して再生信号を読み出す形式
の光ディスク再生装置にも応用できることはもちろん、
適切な変形により位相ピット方式の光ディスク再生装置
にも応用可能である。
【0028】
【実施例2】以下、第2の実施例として、図7〜図11
を参照して本発明の光ディスク再生装置3の構成および
動作を説明する。ところで、第1の実施例に示した光デ
ィスク再生装置1においては、RF信号(再生信号)の
非対称性は、主に光ディスク10のレーザー光線スポッ
トの昇温部に形成されるマスクの大きさにより決まる。
このマスクの大きさは、再生光信号を得るために光ディ
スク10に照射されるレーザー光線の出力、光ディスク
10上のレーザー光線のスポットの大きさ、製造時のば
らつきに起因する光ディスク10の磁性膜の特性、およ
び、外気の温度等により変化する光ディスク10の温度
等により異なってくる。
を参照して本発明の光ディスク再生装置3の構成および
動作を説明する。ところで、第1の実施例に示した光デ
ィスク再生装置1においては、RF信号(再生信号)の
非対称性は、主に光ディスク10のレーザー光線スポッ
トの昇温部に形成されるマスクの大きさにより決まる。
このマスクの大きさは、再生光信号を得るために光ディ
スク10に照射されるレーザー光線の出力、光ディスク
10上のレーザー光線のスポットの大きさ、製造時のば
らつきに起因する光ディスク10の磁性膜の特性、およ
び、外気の温度等により変化する光ディスク10の温度
等により異なってくる。
【0029】第1の実施例における本発明の光ディスク
再生装置1においては、上述のように種々の条件により
再生信号の非対称性が異なるのに対して、式1に示した
伝達関数F(s)のパラメータKl,Ktが固定である
ために、上述の各条件が異なっている場合に符号間干渉
の増大およびクロック位相マージンが少なくなるといっ
た不具合を回避できないという問題があった。第2の実
施例における本発明の光ディスク再生装置3は、光ディ
スク再生装置1と同様に超解像再生方式により光ディス
クからデータを再生する装置であって、等化回路の伝達
関数の係数、つまり式1に示したパラメータKl,Kt
をRF信号(再生信号)の波形に対応して適応的に変更
し、常にRF信号に対して良好な等化処理を行えるよう
にしたものである。
再生装置1においては、上述のように種々の条件により
再生信号の非対称性が異なるのに対して、式1に示した
伝達関数F(s)のパラメータKl,Ktが固定である
ために、上述の各条件が異なっている場合に符号間干渉
の増大およびクロック位相マージンが少なくなるといっ
た不具合を回避できないという問題があった。第2の実
施例における本発明の光ディスク再生装置3は、光ディ
スク再生装置1と同様に超解像再生方式により光ディス
クからデータを再生する装置であって、等化回路の伝達
関数の係数、つまり式1に示したパラメータKl,Kt
をRF信号(再生信号)の波形に対応して適応的に変更
し、常にRF信号に対して良好な等化処理を行えるよう
にしたものである。
【0030】以下、図7および図8を参照して本発明の
光ディスク再生装置3の構成を説明する。図7は、第2
の実施例における本発明の光ディスク再生装置3の構成
を示す図である。図8は、図7に示した非対称検出回路
30の構成を示す図である。なお、以下に説明しない光
ディスク再生装置3の各構成要素は、図1に示した光デ
ィスク再生装置1の同一符号を付した各構成要素に同じ
である。
光ディスク再生装置3の構成を説明する。図7は、第2
の実施例における本発明の光ディスク再生装置3の構成
を示す図である。図8は、図7に示した非対称検出回路
30の構成を示す図である。なお、以下に説明しない光
ディスク再生装置3の各構成要素は、図1に示した光デ
ィスク再生装置1の同一符号を付した各構成要素に同じ
である。
【0031】図7において、等化回路36は、第1の実
施例に示した光ディスク再生装置1の等化回路16とは
異なり、外部からパラメータKl,Ktの値を変更可能
に構成されており、設定されたパラメータKl,Ktの
値を代入した式1の伝達関数F(s)によりRF信号を
等化する。非対称検出回路30は、ゲート回路34から
入力されるゲート信号に基づいて、入力されたRF信号
の立ち上がり点、および、立ち下がり点の変化量を比較
し、RF信号の非対称性を検出して非対称信号としてパ
ラメータ参照テーブル32に入力する。なお、非対称検
出回路30の構成は、図8を参照して後述する。
施例に示した光ディスク再生装置1の等化回路16とは
異なり、外部からパラメータKl,Ktの値を変更可能
に構成されており、設定されたパラメータKl,Ktの
値を代入した式1の伝達関数F(s)によりRF信号を
等化する。非対称検出回路30は、ゲート回路34から
入力されるゲート信号に基づいて、入力されたRF信号
の立ち上がり点、および、立ち下がり点の変化量を比較
し、RF信号の非対称性を検出して非対称信号としてパ
ラメータ参照テーブル32に入力する。なお、非対称検
出回路30の構成は、図8を参照して後述する。
【0032】パラメータ参照テーブル32は、非対称検
出回路30において検出される非対称信号の各値におい
て最適なパラメータKl,Ktを記憶しており、非対称
検出回路30から入力された非対称信号の値に対応する
パラメータKl,Ktを等化回路36に設定する。ゲー
ト回路34は、比較回路18から入力されるディジタル
再生信号およびクロック抽出回路22から入力されるク
ロック信号に基づいて、RF信号の立ち下がり点および
立ち上がり点に同期しており、所定のパルス幅を有する
ゲート信号を生成して非対称検出回路30に入力する。
なお、ゲート信号のRF信号に対するタイミングおよび
ゲート信号の生成方法は図9を参照して後述する。制御
回路38は、光ディスク再生装置3の光学系およびトラ
ッキング系を制御し、光ディスク40についてFADあ
るいはRADによる再生光信号の読み取りを行わせる。
出回路30において検出される非対称信号の各値におい
て最適なパラメータKl,Ktを記憶しており、非対称
検出回路30から入力された非対称信号の値に対応する
パラメータKl,Ktを等化回路36に設定する。ゲー
ト回路34は、比較回路18から入力されるディジタル
再生信号およびクロック抽出回路22から入力されるク
ロック信号に基づいて、RF信号の立ち下がり点および
立ち上がり点に同期しており、所定のパルス幅を有する
ゲート信号を生成して非対称検出回路30に入力する。
なお、ゲート信号のRF信号に対するタイミングおよび
ゲート信号の生成方法は図9を参照して後述する。制御
回路38は、光ディスク再生装置3の光学系およびトラ
ッキング系を制御し、光ディスク40についてFADあ
るいはRADによる再生光信号の読み取りを行わせる。
【0033】以下、図8および図9を参照して非対称検
出回路30の構成および動作等を説明する。バッファア
ンプ300は、入力されたRF信号をバッファリングし
てゲート回路302に入力する。比較回路312は、入
力されたRF信号の電圧を所定のしきい値電圧Vthと比
較して、RF信号の電圧がしきい値電圧Vthよりも高い
場合には出力信号を論理値1とし、低い場合には出力信
号を論理値0として変化点検出回路314に2値化RF
信号として入力する。
出回路30の構成および動作等を説明する。バッファア
ンプ300は、入力されたRF信号をバッファリングし
てゲート回路302に入力する。比較回路312は、入
力されたRF信号の電圧を所定のしきい値電圧Vthと比
較して、RF信号の電圧がしきい値電圧Vthよりも高い
場合には出力信号を論理値1とし、低い場合には出力信
号を論理値0として変化点検出回路314に2値化RF
信号として入力する。
【0034】変化点検出回路314は、比較回路312
から入力された2値化RF信号の立ち上がり点、およ
び、立ち下がり点を検出し、これらを立ち上がり点信
号、および、立ち下がり点信号として論理回路316に
入力する。論理回路316は、2値化RF信号の立ち下
がり点信号と立ち下がり点信号の論理和信号、および、
ゲート信号の論理積の演算結果をゲート回路302にサ
ンプリング信号として入力する。
から入力された2値化RF信号の立ち上がり点、およ
び、立ち下がり点を検出し、これらを立ち上がり点信
号、および、立ち下がり点信号として論理回路316に
入力する。論理回路316は、2値化RF信号の立ち下
がり点信号と立ち下がり点信号の論理和信号、および、
ゲート信号の論理積の演算結果をゲート回路302にサ
ンプリング信号として入力する。
【0035】ゲート回路302は、入力されたサンプリ
ング信号が論理値1である場合にRF信号を通過させ、
論理値0である場合にRF信号を遮断する。コンデンサ
(C1)304は、ゲート回路302から入力されたR
F信号の電圧値を電荷として一時保持する。バッファア
ンプ306は、コンデンサ304が保持しているRF信
号の立ち下がり点および立ち下がり点の変化量の差分に
対応する電圧値をバッファリングしてアナログ/ディジ
タル変換回路(A/D)308に入力する。つまり、ゲ
ート回路302、コンデンサ304、および、バッファ
アンプ306は一種のサンプルアンドホールド(S/
H)回路310を構成している。なお、S/H回路31
0の動作は図10を参照して後述する。アナログ/ディ
ジタル変換回路308は、S/H回路310から出力さ
れた再生信号の電圧値をディジタル形式の信号に変換
し、パラメータ参照テーブル32に非対称信号として入
力する。
ング信号が論理値1である場合にRF信号を通過させ、
論理値0である場合にRF信号を遮断する。コンデンサ
(C1)304は、ゲート回路302から入力されたR
F信号の電圧値を電荷として一時保持する。バッファア
ンプ306は、コンデンサ304が保持しているRF信
号の立ち下がり点および立ち下がり点の変化量の差分に
対応する電圧値をバッファリングしてアナログ/ディジ
タル変換回路(A/D)308に入力する。つまり、ゲ
ート回路302、コンデンサ304、および、バッファ
アンプ306は一種のサンプルアンドホールド(S/
H)回路310を構成している。なお、S/H回路31
0の動作は図10を参照して後述する。アナログ/ディ
ジタル変換回路308は、S/H回路310から出力さ
れた再生信号の電圧値をディジタル形式の信号に変換
し、パラメータ参照テーブル32に非対称信号として入
力する。
【0036】以下、図9〜図11を参照してFADの場
合を例に非対称検出回路30の動作を説明する。図9
は、図8に示した非対称検出回路30の各部分における
信号波形等を示す図である。なお、図9の(B)〜
(G)に示す各波形は、図8のB〜Gに示す非対称検出
回路30の各部分の信号の波形を示している。図10
は、図7および図8に示した非対称検出回路30による
図9(G)に示したサンプリング信号を用いて図9
(B)に示すRF信号の立ち上がり点および立ち下がり
点の変化量を検出する方法を説明する図である。図11
は、図8に示した非対称検出回路30のバッファアンプ
306の出力電圧を示す図である。
合を例に非対称検出回路30の動作を説明する。図9
は、図8に示した非対称検出回路30の各部分における
信号波形等を示す図である。なお、図9の(B)〜
(G)に示す各波形は、図8のB〜Gに示す非対称検出
回路30の各部分の信号の波形を示している。図10
は、図7および図8に示した非対称検出回路30による
図9(G)に示したサンプリング信号を用いて図9
(B)に示すRF信号の立ち上がり点および立ち下がり
点の変化量を検出する方法を説明する図である。図11
は、図8に示した非対称検出回路30のバッファアンプ
306の出力電圧を示す図である。
【0037】光ディスク再生装置3に適用される光ディ
スク40には、所定の位置、例えばセクタの最先の位置
に図9(A)に示すような伝達関数F(s)のパラメー
タを補正するために、つまり、RF信号の非対称性を検
出して非対称信号を生成するために設けられた固有の補
正用パターン(マークa,d〜k)が形成されている。
補正用パターンを有する光ディスク40は、図9(A)
の方向に回転するので、補正用のパターンはマークh,
g,…,d,aの順番に、図9(A)に示す昇温部cが
低温部bの後ろに位置するFADにより読み出される。
これらの補正用パターンのマークa,d〜hに対応する
RF信号(再生信号)は図9(B)に示す波形となる。
この補正用パターンは、例えば光ディスク40のセクタ
の先頭に設けられており、この補正用パターンにより補
正された等化特性により対応するセクタにおける再生信
号の等化が行われる。
スク40には、所定の位置、例えばセクタの最先の位置
に図9(A)に示すような伝達関数F(s)のパラメー
タを補正するために、つまり、RF信号の非対称性を検
出して非対称信号を生成するために設けられた固有の補
正用パターン(マークa,d〜k)が形成されている。
補正用パターンを有する光ディスク40は、図9(A)
の方向に回転するので、補正用のパターンはマークh,
g,…,d,aの順番に、図9(A)に示す昇温部cが
低温部bの後ろに位置するFADにより読み出される。
これらの補正用パターンのマークa,d〜hに対応する
RF信号(再生信号)は図9(B)に示す波形となる。
この補正用パターンは、例えば光ディスク40のセクタ
の先頭に設けられており、この補正用パターンにより補
正された等化特性により対応するセクタにおける再生信
号の等化が行われる。
【0038】なお、補正用パターンの内、光ディスク再
生装置1は短マークの部分に対応するRF信号を非対称
信号の生成に直接には用いない。短マークに対応するR
F信号は、光ディスク再生装置1が単にそのパターンが
補正用のパターンであることを検出するために用いられ
る。実際に非対称信号の生成に用いられるのは長マーク
に対応するRF信号である。この理由は、長マークに対
応するRF信号の波形の幅は広いので立ち上がり点、お
よび、立ち下がり点の変化量を検出しやすいのに対し、
短マークに対応するRF信号の波形の幅は狭いので変化
量の検出をしにくいからである。
生装置1は短マークの部分に対応するRF信号を非対称
信号の生成に直接には用いない。短マークに対応するR
F信号は、光ディスク再生装置1が単にそのパターンが
補正用のパターンであることを検出するために用いられ
る。実際に非対称信号の生成に用いられるのは長マーク
に対応するRF信号である。この理由は、長マークに対
応するRF信号の波形の幅は広いので立ち上がり点、お
よび、立ち下がり点の変化量を検出しやすいのに対し、
短マークに対応するRF信号の波形の幅は狭いので変化
量の検出をしにくいからである。
【0039】補正用パターンに対応するRF信号は比較
回路312によりしきい値電圧Vthと比較されて2値化
され、図9(C)に示す2値化RF信号となる。変化点
検出回路314は、入力された2値化RF信号に所定の
時間、例えば数n秒だけ遅延し、2値化RF信号と遅延
された2値化RF信号の論理値を反転した信号とについ
てAND演算を行って、図9(D)に示す2値化RF信
号の立ち上がり点信号を生成する。一方、変化点検出回
路314は、2値化RF信号の論理値を反転した信号と
遅延したRF信号とについてAND演算を行って、図9
(E)に示す立ち下がり点信号を生成する。
回路312によりしきい値電圧Vthと比較されて2値化
され、図9(C)に示す2値化RF信号となる。変化点
検出回路314は、入力された2値化RF信号に所定の
時間、例えば数n秒だけ遅延し、2値化RF信号と遅延
された2値化RF信号の論理値を反転した信号とについ
てAND演算を行って、図9(D)に示す2値化RF信
号の立ち上がり点信号を生成する。一方、変化点検出回
路314は、2値化RF信号の論理値を反転した信号と
遅延したRF信号とについてAND演算を行って、図9
(E)に示す立ち下がり点信号を生成する。
【0040】論理回路316は、図9(C),(D)に
示した立ち上がり点信号と立ち下がり点信号とについて
OR演算を行った結果の信号とゲート回路34から入力
された図9(F)に示すゲート信号とについてAND演
算を行い、図9(G)に示すサンプリング信号を生成す
る。ここで、ゲート信号はゲート回路34により、例え
ば以下のように生成される。ゲート回路34は、データ
サンプル回路20の出力する再生データから図9(A)
に示す補正用パターンを検出した場合、図9(A)のマ
ークdに対応する再生データを検出してから所定の周期
だけクロック信号を計数し、その後所定のクロック信号
の周期だけ図9(F)に示すゲート信号を論理値1にす
る。
示した立ち上がり点信号と立ち下がり点信号とについて
OR演算を行った結果の信号とゲート回路34から入力
された図9(F)に示すゲート信号とについてAND演
算を行い、図9(G)に示すサンプリング信号を生成す
る。ここで、ゲート信号はゲート回路34により、例え
ば以下のように生成される。ゲート回路34は、データ
サンプル回路20の出力する再生データから図9(A)
に示す補正用パターンを検出した場合、図9(A)のマ
ークdに対応する再生データを検出してから所定の周期
だけクロック信号を計数し、その後所定のクロック信号
の周期だけ図9(F)に示すゲート信号を論理値1にす
る。
【0041】以下、図10を参照してS/H回路310
の動作を説明する。図10に示すように、サンプリング
信号の論理値が1である間、ゲート回路302はバッフ
ァアンプ300によりバッファリングされたRF信号を
通過させる。まず、図10に示すRF信号のしきい値電
圧Vth以上であって、サンプリング信号の論理値が1で
ある部分、つまり、立ち上がり点aに付した斜線の部分
のRF信号の電圧の変化量に対応する電荷がコンデンサ
304に蓄積される。次に、図10に示すRF信号のし
きい値電圧Vth以下であって、サンプリング信号の論理
値が1である部分、つまり、立ち上がり点bに付した斜
線の部分のRF信号の電圧の変化量に対応する電荷がコ
ンデンサ304から放電される。
の動作を説明する。図10に示すように、サンプリング
信号の論理値が1である間、ゲート回路302はバッフ
ァアンプ300によりバッファリングされたRF信号を
通過させる。まず、図10に示すRF信号のしきい値電
圧Vth以上であって、サンプリング信号の論理値が1で
ある部分、つまり、立ち上がり点aに付した斜線の部分
のRF信号の電圧の変化量に対応する電荷がコンデンサ
304に蓄積される。次に、図10に示すRF信号のし
きい値電圧Vth以下であって、サンプリング信号の論理
値が1である部分、つまり、立ち上がり点bに付した斜
線の部分のRF信号の電圧の変化量に対応する電荷がコ
ンデンサ304から放電される。
【0042】以上の動作により、コンデンサ304には
図10に示した立ち上がり点aの斜線部のRF信号の変
化量と立ち下がり点bの斜線部のRF信号の変化量の差
分に対応する電荷が蓄積されており、コンデンサ304
はこの電荷に対応する端子電圧を示す。コンデンサ30
4の端子電圧は、バッファアンプ306を介してアナロ
グ/ディジタル変換回路308に入力されてディジタル
形式の変化点信号としてパラメータ参照テーブル32に
入力される。つまり、バッファアンプ306の出力信号
の電圧値は、立ち上がり点における変化量が多い場合に
は図11の範囲aに示すように正の値となり、逆に、立
ち下がり点における変化量が多い場合には図11の範囲
bに示すように負の値となる。このバッファアンプ30
6の出力信号がアナログ/ディジタル変換回路308に
入力されるので、アナログ/ディジタル変換回路308
はバッファアンプ306の出力電圧に対応する数値を非
対称信号として出力することになる。なお、上述のFA
Dによる再生光信号の読み取り時の光ディスク再生装置
3のトラッキング制御、および、光学系の制御は制御回
路38により行われており、光ディスク再生装置3は、
FADの他、RADによっても再生光信号の読み取りを
行うことが可能である。また、以上述べた非対称検出回
路30の動作は、RADの場合にも共通である。
図10に示した立ち上がり点aの斜線部のRF信号の変
化量と立ち下がり点bの斜線部のRF信号の変化量の差
分に対応する電荷が蓄積されており、コンデンサ304
はこの電荷に対応する端子電圧を示す。コンデンサ30
4の端子電圧は、バッファアンプ306を介してアナロ
グ/ディジタル変換回路308に入力されてディジタル
形式の変化点信号としてパラメータ参照テーブル32に
入力される。つまり、バッファアンプ306の出力信号
の電圧値は、立ち上がり点における変化量が多い場合に
は図11の範囲aに示すように正の値となり、逆に、立
ち下がり点における変化量が多い場合には図11の範囲
bに示すように負の値となる。このバッファアンプ30
6の出力信号がアナログ/ディジタル変換回路308に
入力されるので、アナログ/ディジタル変換回路308
はバッファアンプ306の出力電圧に対応する数値を非
対称信号として出力することになる。なお、上述のFA
Dによる再生光信号の読み取り時の光ディスク再生装置
3のトラッキング制御、および、光学系の制御は制御回
路38により行われており、光ディスク再生装置3は、
FADの他、RADによっても再生光信号の読み取りを
行うことが可能である。また、以上述べた非対称検出回
路30の動作は、RADの場合にも共通である。
【0043】以下、再び図7を参照して本発明の光ディ
スク再生装置3の全体的な動作を説明する。光ディスク
再生装置3の光学系およびトラッキング系は制御回路3
8により制御されている。光ディスク40から得られた
再生光信号は、光検出器12により電気的な再生信号に
変換され、プリアンプ回路14により再生信号からRF
信号が分離されて等化回路36および非対称検出回路3
0に入力される。非対称検出回路30は、上述のように
非対称信号を生成してパラメータ参照テーブル32に入
力し、パラメータ参照テーブル32は非対称信号の値に
対応するパラメータKl,Ktを等化回路36に設定す
る。等化回路36は、式1に示した伝達関数F(s)に
パラメータ参照テーブル32から設定されたパラメータ
Kl,Ktを代入した関数で規定される特性でRF信号
を等化して比較回路18に入力する。比較回路18はR
F信号を2値化してデータサンプル回路20およびクロ
ック抽出回路22に入力する。クロック抽出回路22
は、2値化されたRF信号に同期したクロック信号を生
成し、データサンプル回路20はこのクロック信号に同
期して2値化されたRF信号をサンプリングして再生デ
ータを生成し、出力データとして出力する。
スク再生装置3の全体的な動作を説明する。光ディスク
再生装置3の光学系およびトラッキング系は制御回路3
8により制御されている。光ディスク40から得られた
再生光信号は、光検出器12により電気的な再生信号に
変換され、プリアンプ回路14により再生信号からRF
信号が分離されて等化回路36および非対称検出回路3
0に入力される。非対称検出回路30は、上述のように
非対称信号を生成してパラメータ参照テーブル32に入
力し、パラメータ参照テーブル32は非対称信号の値に
対応するパラメータKl,Ktを等化回路36に設定す
る。等化回路36は、式1に示した伝達関数F(s)に
パラメータ参照テーブル32から設定されたパラメータ
Kl,Ktを代入した関数で規定される特性でRF信号
を等化して比較回路18に入力する。比較回路18はR
F信号を2値化してデータサンプル回路20およびクロ
ック抽出回路22に入力する。クロック抽出回路22
は、2値化されたRF信号に同期したクロック信号を生
成し、データサンプル回路20はこのクロック信号に同
期して2値化されたRF信号をサンプリングして再生デ
ータを生成し、出力データとして出力する。
【0044】以上述べた光ディスク再生装置3の各部分
の内、制御回路38、光検出器12、および、プリアン
プ回路14が本発明に係る再生信号発生手段に相当し、
等化回路36、非対称検出回路30、パラメータ参照テ
ーブル32、および、ゲート回路34が本発明に係る波
形等化手段に相当し、非対称検出回路30、パラメータ
参照テーブル32、および、ゲート回路34が等化特性
変更手段に相当し、パラメータ参照テーブル32が本発
明に係る係数変更手段に相当し、光ディスク40が本発
明に係る記録媒体に相当し、光ディスク40に設けられ
た補正用パターンが本発明に係る所定のパターンに相当
する。
の内、制御回路38、光検出器12、および、プリアン
プ回路14が本発明に係る再生信号発生手段に相当し、
等化回路36、非対称検出回路30、パラメータ参照テ
ーブル32、および、ゲート回路34が本発明に係る波
形等化手段に相当し、非対称検出回路30、パラメータ
参照テーブル32、および、ゲート回路34が等化特性
変更手段に相当し、パラメータ参照テーブル32が本発
明に係る係数変更手段に相当し、光ディスク40が本発
明に係る記録媒体に相当し、光ディスク40に設けられ
た補正用パターンが本発明に係る所定のパターンに相当
する。
【0045】以上第2の実施例に述べた本発明の光ディ
スク再生装置3によれば、超解像再生方式で光ディスク
の再生を行う場合に、その時点の外気温、あるいは、そ
の光ディスクの個性等により定まる再生信号の非対称性
を適応的に補償することができ、従って再生データの信
頼性を向上させることができる。また、再生光信号の読
み出し方法としてFADとRADを任意の時点で切り換
えて用いることができる。つまり、光ディスク再生装置
3の非対称検出回路30が常に再生信号の非対称性を監
視しているので、これらの再生光信号の読み出し方法が
切り替わった場合に適応的に等化回路36の等化特性が
切り替わり、常に最適な等化特性で再生信号を等化する
ことができる。
スク再生装置3によれば、超解像再生方式で光ディスク
の再生を行う場合に、その時点の外気温、あるいは、そ
の光ディスクの個性等により定まる再生信号の非対称性
を適応的に補償することができ、従って再生データの信
頼性を向上させることができる。また、再生光信号の読
み出し方法としてFADとRADを任意の時点で切り換
えて用いることができる。つまり、光ディスク再生装置
3の非対称検出回路30が常に再生信号の非対称性を監
視しているので、これらの再生光信号の読み出し方法が
切り替わった場合に適応的に等化回路36の等化特性が
切り替わり、常に最適な等化特性で再生信号を等化する
ことができる。
【0046】また、本発明の光ディスク再生装置3によ
れば、光ディスクのばらつきに対する光ディスク再生装
置の許容度を増すことができるのでデータ再生の対象と
する光ディスクの精度の許容範囲を広くすることができ
る。従って光ディスクの製造コストを低くすることが可
能である。また同様に、光ディスク再生装置3自体の光
学系、および、機構系の精度の許容範囲も広くすること
ができるので、光ディスク再生装置3自体の製造コスト
も低くすることができる。また、光ディスク再生装置3
内部の温度、すなわち光ディスクの使用温度の範囲を広
くすることができるので、装置の小型化が可能となる。
さらに、仮に光ディスク、および、光ディスク再生装置
の精度を同じに保った場合、本発明の光ディスク再生装
置3による方が従来よりも高密度なデータの記録、およ
び、再生が可能である。
れば、光ディスクのばらつきに対する光ディスク再生装
置の許容度を増すことができるのでデータ再生の対象と
する光ディスクの精度の許容範囲を広くすることができ
る。従って光ディスクの製造コストを低くすることが可
能である。また同様に、光ディスク再生装置3自体の光
学系、および、機構系の精度の許容範囲も広くすること
ができるので、光ディスク再生装置3自体の製造コスト
も低くすることができる。また、光ディスク再生装置3
内部の温度、すなわち光ディスクの使用温度の範囲を広
くすることができるので、装置の小型化が可能となる。
さらに、仮に光ディスク、および、光ディスク再生装置
の精度を同じに保った場合、本発明の光ディスク再生装
置3による方が従来よりも高密度なデータの記録、およ
び、再生が可能である。
【0047】以上述べた各実施例における光ディスク再
生装置1,3の各部分の信号の論理値は例示である。ま
た、光ディスク再生装置3に用いられた等化方法は、光
ディスクの磁性膜の温度により記録磁区の大きさを制御
して再生信号を生成する場合の他、記録磁区の磁界の方
向を反転させる方式、あるいは、位相ピット方式により
再生信号を生成する場合にも応用することができる。ま
た非対称検出回路30については、光ディスク40上の
補正用パターンの長マークを複数とし、これらのマーク
それぞれに対応する再生信号の平均的な非対称性に基づ
いて非対称信号を生成する、あるいは、パラメータK
l,Ktの選択をフィードバック処理で行うように構成
する等の変形が考えられる。また、等化回路36として
複数タップのトランスバーサルフィルタを用いるように
構成してもよい。また、上述の補正用パターンは光ディ
スクのセクタごとに設けられており、そのセクタの等化
特性の補正に使われるが、セクタ単位でなく、例えば光
ディスクのトラック単位に補正用パターンを設け、光デ
ィスク再生装置をトラック単位に等化特性の補正を行う
ように構成してもよい。また、光ディスク再生装置3に
おいてはゲート回路302に対するサンプリング信号の
幅を一定としたが、光ディスク上の部分ごとにデータの
再生に用いられるクロック信号の周波数が変わるZCA
V方式に対応するために、この信号幅を可変とするよう
に構成してもよい。以上述べた各実施例に示したものに
限らず、本発明の光ディスク再生装置は、例えば上述の
各変形例に示したように、種々の構成をとることができ
る。
生装置1,3の各部分の信号の論理値は例示である。ま
た、光ディスク再生装置3に用いられた等化方法は、光
ディスクの磁性膜の温度により記録磁区の大きさを制御
して再生信号を生成する場合の他、記録磁区の磁界の方
向を反転させる方式、あるいは、位相ピット方式により
再生信号を生成する場合にも応用することができる。ま
た非対称検出回路30については、光ディスク40上の
補正用パターンの長マークを複数とし、これらのマーク
それぞれに対応する再生信号の平均的な非対称性に基づ
いて非対称信号を生成する、あるいは、パラメータK
l,Ktの選択をフィードバック処理で行うように構成
する等の変形が考えられる。また、等化回路36として
複数タップのトランスバーサルフィルタを用いるように
構成してもよい。また、上述の補正用パターンは光ディ
スクのセクタごとに設けられており、そのセクタの等化
特性の補正に使われるが、セクタ単位でなく、例えば光
ディスクのトラック単位に補正用パターンを設け、光デ
ィスク再生装置をトラック単位に等化特性の補正を行う
ように構成してもよい。また、光ディスク再生装置3に
おいてはゲート回路302に対するサンプリング信号の
幅を一定としたが、光ディスク上の部分ごとにデータの
再生に用いられるクロック信号の周波数が変わるZCA
V方式に対応するために、この信号幅を可変とするよう
に構成してもよい。以上述べた各実施例に示したものに
限らず、本発明の光ディスク再生装置は、例えば上述の
各変形例に示したように、種々の構成をとることができ
る。
【0048】
【発明の効果】以上述べたように本発明の光ディスク再
生装置によれば、適切な等化処理によって再生信号の非
対称性を補償し、再生データの信頼性を向上させること
が可能であり、さらに、光ディスクの記憶密度を向上さ
せること可能である。また、再生信号を適応的に等化し
て再生信号の非対称性を適切に補償可能である。
生装置によれば、適切な等化処理によって再生信号の非
対称性を補償し、再生データの信頼性を向上させること
が可能であり、さらに、光ディスクの記憶密度を向上さ
せること可能である。また、再生信号を適応的に等化し
て再生信号の非対称性を適切に補償可能である。
【図1】第1の実施例における本発明の光ディスク再生
装置の構成を示す図である。
装置の構成を示す図である。
【図2】図1に示した本発明の光ディスク再生装置の等
化回路の構成を示す図である。
化回路の構成を示す図である。
【図3】図2に示したパルススリマの等化出力振幅(再
生信号入力振幅)の周波数特性を示す。
生信号入力振幅)の周波数特性を示す。
【図4】図2に示したパルススリマの等化出力位相(再
生信号入力位相)の周波数特性を示す。
生信号入力位相)の周波数特性を示す。
【図5】再生スポットの後部分の温度を上げてマークを
読み出す場合(FAD)に得られる再生信号の波形を示
す図であって、(A)は再生スポットの昇温部分、光デ
ィスクの進行方向、および、マークとの関係を示し、
(B)は(A)に示したマークから得られる再生信号の
波形を示す。
読み出す場合(FAD)に得られる再生信号の波形を示
す図であって、(A)は再生スポットの昇温部分、光デ
ィスクの進行方向、および、マークとの関係を示し、
(B)は(A)に示したマークから得られる再生信号の
波形を示す。
【図6】再生スポットの前部分の温度を上げてマークを
読み出す場合(RAD)に得られる再生信号の波形を示
す図であって、(A)は再生スポットの昇温部分、光デ
ィスクの進行方向、および、マークとの関係を示し、
(B)は(A)に示したマークから得られる再生信号の
波形を示す。
読み出す場合(RAD)に得られる再生信号の波形を示
す図であって、(A)は再生スポットの昇温部分、光デ
ィスクの進行方向、および、マークとの関係を示し、
(B)は(A)に示したマークから得られる再生信号の
波形を示す。
【図7】第2の実施例における本発明の光ディスク再生
装置の構成を示す図である。
装置の構成を示す図である。
【図8】図7に示した非対称検出回路の構成を示す図で
ある。
ある。
【図9】図8に示した非対称検出回路の各部分における
信号波形等を示す図であって、(B)〜(G)に示す各
波形は、図8のB〜Gに示す非対称検出回路の各部分の
信号の波形を示している。
信号波形等を示す図であって、(B)〜(G)に示す各
波形は、図8のB〜Gに示す非対称検出回路の各部分の
信号の波形を示している。
【図10】図7および図8に示した非対称検出回路によ
る図9(G)に示したサンプリング信号を用いて図9
(B)に示すRF信号の立ち上がり点および立ち下がり
点の変化量を検出する方法を説明する図である。
る図9(G)に示したサンプリング信号を用いて図9
(B)に示すRF信号の立ち上がり点および立ち下がり
点の変化量を検出する方法を説明する図である。
【図11】図8に示した非対称検出回路のバッファアン
プの出力電圧を示す図である。
プの出力電圧を示す図である。
1,3…光ディスク再生装置、10,40…光ディス
ク、12…光検出器、14…プリアンプ回路、16…等
化回路、18…比較回路、20…データサンプル回路、
22…クロック抽出回路、30…非対称検出回路、32
…パラメータ参照テーブル、34…ゲート回路、300
…バッファアンプ、302…ゲート回路、304…コン
デンサ、306…バッファアンプ、308…アナログ/
ディジタル変換回路、312…比較回路、314…変化
点検出回路、316…論理回路、34…ゲート回路、3
6…等化回路、38…制御回路
ク、12…光検出器、14…プリアンプ回路、16…等
化回路、18…比較回路、20…データサンプル回路、
22…クロック抽出回路、30…非対称検出回路、32
…パラメータ参照テーブル、34…ゲート回路、300
…バッファアンプ、302…ゲート回路、304…コン
デンサ、306…バッファアンプ、308…アナログ/
ディジタル変換回路、312…比較回路、314…変化
点検出回路、316…論理回路、34…ゲート回路、3
6…等化回路、38…制御回路
Claims (6)
- 【請求項1】記録媒体の磁性膜の温度を変更することに
より該磁性膜に形成されている記録磁区の大きさ、ある
いは、磁界の方向を制御し、該記録磁区における光磁気
相互作用を用いて該記録磁区からの再生信号を生成する
再生信号生成手段と、 前記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の
波形等化処理を行う波形等化手段とを有する光ディスク
再生装置。 - 【請求項2】記録媒体の光反射膜の温度、または、該反
射膜に照射する光子量を変更することにより該光反射膜
に形成されている凹凸の反射率を制御し、該凹凸から反
射される光から再生信号を生成する再生信号生成手段
と、 前記再生信号の波形に対応する等化特性で該再生信号の
波形等化処理を行う波形等化手段とを有する光ディスク
再生装置。 - 【請求項3】前記記録媒体には予め所定のパターンの記
録磁区が形成されており、 前記波形等化手段は、前記所定のパターンの記録磁区に
対応する再生信号の波形に基づいて、少なくとも該所定
のパターンの記録磁区に対応する記録磁区からの再生信
号に対する該波形等化手段の等化特性を変更する等化特
性変更手段を有することを特徴とする請求項1に記載の
光ディスク再生装置。 - 【請求項4】前記波形等化手段の等化特性は、少なくと
も前記再生信号の波形の振幅を調整する係数、および、
位相直線性を調整する係数を有する伝達関数により規定
されており、 前記等化特性変更手段は、前記再生信号の立ち上がり変
化点、および、立ち下がり変化点における該再生信号の
変化量の比較結果に基づいて、少なくとも前記伝達関数
の前記再生信号の波形の振幅を調整する係数、および、
位相直線性を調整する係数を変更する係数変更手段を有
することを特徴とする請求項3に記載の光ディスク再生
装置。 - 【請求項5】磁性膜の温度の変更により該磁性膜に形成
されている記録磁区の大きさ、あるいは、磁界の方向が
制御され、該記録磁区における光磁気相互作用を用いて
該記録磁区から再生信号が読み出される記録媒体であっ
て、 再生信号の等化処理の等化特性を求めるために用いられ
る所定のパターンの記録磁区が予め形成されていること
を特徴とする記録媒体。 - 【請求項6】記録媒体の磁性膜の温度を変更することに
より該磁性膜に形成されている記録磁区の所定の性質を
制御し、該記録磁区における光磁気相互作用を用いて該
記録磁区からの再生信号を生成し、前記再生信号の波形
に対応する等化特性で該再生信号の波形等化処理を行う
光ディスク再生方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32025193A JP3511657B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 光ディスク再生装置および光ディスク再生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32025193A JP3511657B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 光ディスク再生装置および光ディスク再生方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07176108A true JPH07176108A (ja) | 1995-07-14 |
| JP3511657B2 JP3511657B2 (ja) | 2004-03-29 |
Family
ID=18119421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32025193A Expired - Fee Related JP3511657B2 (ja) | 1993-12-20 | 1993-12-20 | 光ディスク再生装置および光ディスク再生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3511657B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007280551A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-10-25 | Ricoh Co Ltd | 情報再生方法、情報再生装置及び光ディスク |
| JP2007323686A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Ricoh Co Ltd | 情報再生装置、情報再生方法、及び光ディスク媒体 |
| JP2010152951A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Toshiba Corp | 光ディスク駆動装置 |
-
1993
- 1993-12-20 JP JP32025193A patent/JP3511657B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007280551A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-10-25 | Ricoh Co Ltd | 情報再生方法、情報再生装置及び光ディスク |
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