JPH07183094A - Ｘ線検査装置 - Google Patents
Ｘ線検査装置Info
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- JPH07183094A JPH07183094A JP6260785A JP26078594A JPH07183094A JP H07183094 A JPH07183094 A JP H07183094A JP 6260785 A JP6260785 A JP 6260785A JP 26078594 A JP26078594 A JP 26078594A JP H07183094 A JPH07183094 A JP H07183094A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 露出制御手段による妨害がダイナミック撮像
中に最小にされたＸ線検査装置を提供する。 【構成】 Ｘ線検査装置はＸ線源を制御し、Ｘ線画像増
強装置の出射窓上の画像をビデオ信号に変換するテレビ
ジョンカメラの信号増幅率を調整する露出制御手段を設
けられる。該テレビジョンカメラの信号増幅率は適切な
画像コントラスト及び画像輝度で出射窓上の画像の広い
ダイナミックレンジの再現を可能にするよう調整可能で
ある。露出制御手段により供される制御信号の変化によ
る画像輝度の不快な変化を回避するため、例えば一連の
画像がＸ線露出により形成される蛍光透視法中にＸ線検
査装置内の露出制御は画像輝度及び画像コントラストの
変化に対応して滑らかに変化する制御信号を供するよう
動作される。本発明の好ましい実施例では平均輝度の関
数として線形に変化する制御信号が供される。
中に最小にされたＸ線検査装置を提供する。 【構成】 Ｘ線検査装置はＸ線源を制御し、Ｘ線画像増
強装置の出射窓上の画像をビデオ信号に変換するテレビ
ジョンカメラの信号増幅率を調整する露出制御手段を設
けられる。該テレビジョンカメラの信号増幅率は適切な
画像コントラスト及び画像輝度で出射窓上の画像の広い
ダイナミックレンジの再現を可能にするよう調整可能で
ある。露出制御手段により供される制御信号の変化によ
る画像輝度の不快な変化を回避するため、例えば一連の
画像がＸ線露出により形成される蛍光透視法中にＸ線検
査装置内の露出制御は画像輝度及び画像コントラストの
変化に対応して滑らかに変化する制御信号を供するよう
動作される。本発明の好ましい実施例では平均輝度の関
数として線形に変化する制御信号が供される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ線による対象の照射に
よりＸ線画像を形成するＸ線源と、Ｘ線画像を光学画像
に変換するＸ線画像増強装置と、光学画像から電子画像
信号を形成する画像ピックアップ装置とからなり、該画
像ピックアップ装置は電子画像信号から得られた制御信
号を画像ピックアップ装置の増幅器の制御入力に印加す
る露出制御手段からなり、該露出制御手段は光学画像内
に少なくとも１つの測定フィールドを選択する選択手段
と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する画像信
号の信号振幅の最大値から得られる最大値レベルを検出
する最大値検出器と、少なくとも１つの測定フィールド
に対応する画像信号の信号振幅の最小値から得られる最
小値レベルを検出する最小値検出器と、少なくとも１つ
の測定フィールドに対応する画像信号の信号振幅の平均
値から得られる平均レベルを検出する平均値検出器とか
らなるＸ線検査装置に関する。
よりＸ線画像を形成するＸ線源と、Ｘ線画像を光学画像
に変換するＸ線画像増強装置と、光学画像から電子画像
信号を形成する画像ピックアップ装置とからなり、該画
像ピックアップ装置は電子画像信号から得られた制御信
号を画像ピックアップ装置の増幅器の制御入力に印加す
る露出制御手段からなり、該露出制御手段は光学画像内
に少なくとも１つの測定フィールドを選択する選択手段
と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する画像信
号の信号振幅の最大値から得られる最大値レベルを検出
する最大値検出器と、少なくとも１つの測定フィールド
に対応する画像信号の信号振幅の最小値から得られる最
小値レベルを検出する最小値検出器と、少なくとも１つ
の測定フィールドに対応する画像信号の信号振幅の平均
値から得られる平均レベルを検出する平均値検出器とか
らなるＸ線検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のＸ線検査装置はドイツ国特許公
告第２６１０８４５号公報により知られている。この知
られているＸ線検査装置は露出時間又はＸ線パルス時間
を制御するためにＸ線源用の電源を制御するためのＸ線
制御信号として測定フィールド内で画像信号の平均値を
用い、それにより適切な画像コントラスト及び画像輝度
を達成し、検査されるべき患者が曝されるＸ線量を制限
する。この知られているＸ線検査装置は６つの所定の測
定フィールドの１つを選択する選択スイッチからなる。
更にまたこの知られているＸ線検査装置では最大信号振
幅及び最小信号振幅間の相対的な差が電子画像信号の信
号振幅の調整に対する制御信号として用いられる。増幅
器は電子画像信号から増幅されたビデオ信号を発生し、
該ビデオ信号は画像の表示のためのモニターに印加され
る。そのような信号増幅の制御の場合に特に平均信号振
幅を考慮に入れずに最小及び最大信号振幅のみを関連さ
せると突然の変化が光学画像の測定フィールド内で再現
された対象の変化の発生のモニター上に表示された画像
の輝度内でしばしば生ずる。特に例えば蛍光透視法のよ
うなダイナミック撮像の場合に突然の変動がモニター上
に再現された連続した画像の画像輝度で生ずる。
告第２６１０８４５号公報により知られている。この知
られているＸ線検査装置は露出時間又はＸ線パルス時間
を制御するためにＸ線源用の電源を制御するためのＸ線
制御信号として測定フィールド内で画像信号の平均値を
用い、それにより適切な画像コントラスト及び画像輝度
を達成し、検査されるべき患者が曝されるＸ線量を制限
する。この知られているＸ線検査装置は６つの所定の測
定フィールドの１つを選択する選択スイッチからなる。
更にまたこの知られているＸ線検査装置では最大信号振
幅及び最小信号振幅間の相対的な差が電子画像信号の信
号振幅の調整に対する制御信号として用いられる。増幅
器は電子画像信号から増幅されたビデオ信号を発生し、
該ビデオ信号は画像の表示のためのモニターに印加され
る。そのような信号増幅の制御の場合に特に平均信号振
幅を考慮に入れずに最小及び最大信号振幅のみを関連さ
せると突然の変化が光学画像の測定フィールド内で再現
された対象の変化の発生のモニター上に表示された画像
の輝度内でしばしば生ずる。特に例えば蛍光透視法のよ
うなダイナミック撮像の場合に突然の変動がモニター上
に再現された連続した画像の画像輝度で生ずる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は露出制
御手段による妨害がダイナミック撮像中に最小にされた
Ｘ線検査装置を提供することにある。
御手段による妨害がダイナミック撮像中に最小にされた
Ｘ線検査装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明によるＸ線検査装置は該露出制御手段は平均レ
ベルが第一の制限値を越えた場合に最大値レベルで、平
均レベルが第二の制限値以下に下がった場合に最小値レ
ベルで、また平均レベルの関数として２つの制限値間で
滑らかに変化する場合に信号レベルで制御信号を形成す
るよう動作しうることを特徴とする。
に本発明によるＸ線検査装置は該露出制御手段は平均レ
ベルが第一の制限値を越えた場合に最大値レベルで、平
均レベルが第二の制限値以下に下がった場合に最小値レ
ベルで、また平均レベルの関数として２つの制限値間で
滑らかに変化する場合に信号レベルで制御信号を形成す
るよう動作しうることを特徴とする。
【０００５】Ｘ線画像増強装置の出射窓上の光学画像の
輝度は照射された対象内のＸ線の減衰の度合いに依存す
る。特にビデオカメラである画像ピックアップ装置は光
学画像をピックアップしそれを、それにより画像が例え
ばモニター上に連続的に再現されるビデオ信号に変換す
る。再現された画像の輝度に適合するように本発明によ
るＸ線検査装置は画像ピックアップ装置の増幅器の調整
のための制御信号を供給する露出制御出力からなる。従
って出射窓上の低輝度の光学画像及び出射窓上の高輝度
の光学画像は大体同じ輝度の画像として例えばモニター
上に再現される。出射窓上の光学画像の輝度が変化する
場合に再現された画像の輝度は大体同じであることを確
かにするために、本発明によるＸ線検査装置は滑らかに
変化する制御信号を供給する。この制御信号は出射スク
リーン上の光学画像の輝度が変化する場合に増幅器を滑
らかに調整するのに用いられる。更にまた出射スクリー
ン上の光学画像内の測定フィールド内の画像コントラス
トが制御信号の最大レベル及び最小レベルが画像コント
ラスト即ち測定フィールド内の最大及び最小信号振幅か
ら得られるよう増幅器の制御を考慮にいれる。結果とし
て増幅器が例えばモニター上に最適画像コントラストで
画像を表示するのに適したビデオ信号を供給するように
調整される。特に例えば蛍光透視法のようなダイナミッ
ク撮像の場合に増幅器を滑らかに調整する露出制御は出
射窓上の平均輝度及び画像コントラストの変動にかかわ
らず表示された画像の平均輝度が常に実質的に所望の値
に維持されるという利点を提供する。従って再現された
画像の診断の質に影響する不自然な輝度変化及び画像コ
ントラスト変化がない。更にまたその調整中に対象は照
射されるが適切な診断の質の画像は形成されない増幅器
の別の調整をする必要がないゆえに、対象に加えられた
照射線量は効果的に使用される；これは医学的検査中の
生体へのＸ線の可能な有害な副作用の観点から見て利点
である。
輝度は照射された対象内のＸ線の減衰の度合いに依存す
る。特にビデオカメラである画像ピックアップ装置は光
学画像をピックアップしそれを、それにより画像が例え
ばモニター上に連続的に再現されるビデオ信号に変換す
る。再現された画像の輝度に適合するように本発明によ
るＸ線検査装置は画像ピックアップ装置の増幅器の調整
のための制御信号を供給する露出制御出力からなる。従
って出射窓上の低輝度の光学画像及び出射窓上の高輝度
の光学画像は大体同じ輝度の画像として例えばモニター
上に再現される。出射窓上の光学画像の輝度が変化する
場合に再現された画像の輝度は大体同じであることを確
かにするために、本発明によるＸ線検査装置は滑らかに
変化する制御信号を供給する。この制御信号は出射スク
リーン上の光学画像の輝度が変化する場合に増幅器を滑
らかに調整するのに用いられる。更にまた出射スクリー
ン上の光学画像内の測定フィールド内の画像コントラス
トが制御信号の最大レベル及び最小レベルが画像コント
ラスト即ち測定フィールド内の最大及び最小信号振幅か
ら得られるよう増幅器の制御を考慮にいれる。結果とし
て増幅器が例えばモニター上に最適画像コントラストで
画像を表示するのに適したビデオ信号を供給するように
調整される。特に例えば蛍光透視法のようなダイナミッ
ク撮像の場合に増幅器を滑らかに調整する露出制御は出
射窓上の平均輝度及び画像コントラストの変動にかかわ
らず表示された画像の平均輝度が常に実質的に所望の値
に維持されるという利点を提供する。従って再現された
画像の診断の質に影響する不自然な輝度変化及び画像コ
ントラスト変化がない。更にまたその調整中に対象は照
射されるが適切な診断の質の画像は形成されない増幅器
の別の調整をする必要がないゆえに、対象に加えられた
照射線量は効果的に使用される；これは医学的検査中の
生体へのＸ線の可能な有害な副作用の観点から見て利点
である。
【０００６】本発明によるＸ線検査装置の好ましい実施
例は最小値レベル、最大値レベル、及び制限値は調整可
能であることを特徴とする。本発明によるＸ線検査装置
のこの実施例では制御信号レベルの変化及びゆえに輝度
及び出射窓上の光学画像の輝度及び画像コントラストの
関数としての増幅器の調整の変化は調整可能である。こ
れは本発明によるＸ線検査装置の露出制御手段が適切な
制御信号を供給するような画像化方法の点からのより多
くの自由度を提供する。 多少の画像コントラスト及び
／又は輝度変化を有する一連の画像に対して適切な診断
の質を有するそのような一連の画像の再現に対するビデ
オ信号が供給されるよう増幅器は制御信号により調整さ
れうる。更にまた調整機構は各々の放射線科医の特定の
好みに露出制御手段を容易に適合しうる。
例は最小値レベル、最大値レベル、及び制限値は調整可
能であることを特徴とする。本発明によるＸ線検査装置
のこの実施例では制御信号レベルの変化及びゆえに輝度
及び出射窓上の光学画像の輝度及び画像コントラストの
関数としての増幅器の調整の変化は調整可能である。こ
れは本発明によるＸ線検査装置の露出制御手段が適切な
制御信号を供給するような画像化方法の点からのより多
くの自由度を提供する。 多少の画像コントラスト及び
／又は輝度変化を有する一連の画像に対して適切な診断
の質を有するそのような一連の画像の再現に対するビデ
オ信号が供給されるよう増幅器は制御信号により調整さ
れうる。更にまた調整機構は各々の放射線科医の特定の
好みに露出制御手段を容易に適合しうる。
【０００７】本発明によるＸ線検査装置の更に好ましい
実施例では制御信号の信号レベルは２つの制限値間で平
均レベルの関数として線形に変化することを特徴とす
る。所望のレンジ内で滑らかに変化し、容易に実現しう
る制御信号の１つのバージョンは該レンジ内で線形に変
化する制御信号である。そのような信号は検出された平
均レベルに必要ならば調整可能であるように選択されう
る係数を掛けることにより実現されうる。そのような掛
け算は電子的掛け算回路により実施しうる。線形の変化
は表示された画像内に外乱を与えずにそれ自体知られて
いる掛け算回路により実現されうる。
実施例では制御信号の信号レベルは２つの制限値間で平
均レベルの関数として線形に変化することを特徴とす
る。所望のレンジ内で滑らかに変化し、容易に実現しう
る制御信号の１つのバージョンは該レンジ内で線形に変
化する制御信号である。そのような信号は検出された平
均レベルに必要ならば調整可能であるように選択されう
る係数を掛けることにより実現されうる。そのような掛
け算は電子的掛け算回路により実施しうる。線形の変化
は表示された画像内に外乱を与えずにそれ自体知られて
いる掛け算回路により実現されうる。
【０００８】本発明によるＸ線検査装置の更に好ましい
実施例は露出制御手段は平均レベルが第一の制限値に等
しい場合に最大値レベルを仮定し平均レベルが第二の制
限値に等しい場合に最小値レベルを仮定する補助的制御
信号レベルを決める演算手段と、最大値レベルと補助的
制御信号レベルのより低いほうを供する第一の比較回路
と、最小値レベルと第一の比較回路出力信号のより高い
ほうを制御信号の信号レベルとして供する第二の比較回
路とからなることを特徴とする。
実施例は露出制御手段は平均レベルが第一の制限値に等
しい場合に最大値レベルを仮定し平均レベルが第二の制
限値に等しい場合に最小値レベルを仮定する補助的制御
信号レベルを決める演算手段と、最大値レベルと補助的
制御信号レベルのより低いほうを供する第一の比較回路
と、最小値レベルと第一の比較回路出力信号のより高い
ほうを制御信号の信号レベルとして供する第二の比較回
路とからなることを特徴とする。
【０００９】所望のレンジ内で滑らかに変化し、容易に
実現しうる制御信号の他のバージョンは線形の補助的制
御信号及び最小と最大レベルから構成される制御信号で
ある。演算手段は制御信号の信号レベル、滑らかで特に
線形の変化が望ましいレンジ内の補助的制御信号レベル
を選択し、制御信号の信号レベルに対するこのレンジの
外側の最大レベル又は最小レベルを選択するために設け
られる。この制御信号は出射窓上の光学画像の低い平均
輝度の場合に高い利得に増幅器を調整し、該光学画像の
高い平均輝度の場合により低い利得に増幅器を調整し、
光学画像の輝度が変化する場合に該利得は滑らかに、特
に線形に変化する。更にまた該利得は制御信号は電子画
像信号の最大及び最小信号振幅に依存するように光学画
像の画像コントラスト（測定フィールド内の）に適合さ
れる。
実現しうる制御信号の他のバージョンは線形の補助的制
御信号及び最小と最大レベルから構成される制御信号で
ある。演算手段は制御信号の信号レベル、滑らかで特に
線形の変化が望ましいレンジ内の補助的制御信号レベル
を選択し、制御信号の信号レベルに対するこのレンジの
外側の最大レベル又は最小レベルを選択するために設け
られる。この制御信号は出射窓上の光学画像の低い平均
輝度の場合に高い利得に増幅器を調整し、該光学画像の
高い平均輝度の場合により低い利得に増幅器を調整し、
光学画像の輝度が変化する場合に該利得は滑らかに、特
に線形に変化する。更にまた該利得は制御信号は電子画
像信号の最大及び最小信号振幅に依存するように光学画
像の画像コントラスト（測定フィールド内の）に適合さ
れる。
【００１０】本発明によるＸ線検査装置の更に好ましい
実施例は選択手段は電子画像信号から少なくとも１つの
測定フィールドを得るよう動作しうることを特徴とす
る。１以上の測定フィールドが光学画像内の画像情報に
基づき好ましく選択される。斯くして制御信号が光学画
像の関心部分から得られ、特に光学画像の露出過度又は
露出不足部分から得られないことが達成される。特に露
出不足又は露出過度領域からの収集を排除することによ
り制御信号はＸ線ビーム内に配置されたＸ線吸収フィル
ターにより光学画像ないに生じた露出不足領域により、
またはＸ線画像増強装置の入射スクリーン上に入射する
主要な放射による露出過度領域により引き起こされた外
乱が生じずに得られる。例外的な状況においてでさえも
例えば光学画像内で利用可能な画像情報がない場合にも
外乱を引き起こさない制御信号が形成される。信号振幅
が所定の上限を越えた場合に露出制御手段は増幅された
ビデオ振幅を所定のピーク値に調整するよう制御信号を
供給する；信号振幅が所定の下限を越えない場合に露出
制御手段は増幅されたビデオ振幅を所定のボトム値に調
整するよう制御信号を供給する。ピーク値及びボトム値
は例えば画像の表示に対するモニターのような装置の最
適動作がなされる信号振幅レンジに対応して好ましく選
択される。
実施例は選択手段は電子画像信号から少なくとも１つの
測定フィールドを得るよう動作しうることを特徴とす
る。１以上の測定フィールドが光学画像内の画像情報に
基づき好ましく選択される。斯くして制御信号が光学画
像の関心部分から得られ、特に光学画像の露出過度又は
露出不足部分から得られないことが達成される。特に露
出不足又は露出過度領域からの収集を排除することによ
り制御信号はＸ線ビーム内に配置されたＸ線吸収フィル
ターにより光学画像ないに生じた露出不足領域により、
またはＸ線画像増強装置の入射スクリーン上に入射する
主要な放射による露出過度領域により引き起こされた外
乱が生じずに得られる。例外的な状況においてでさえも
例えば光学画像内で利用可能な画像情報がない場合にも
外乱を引き起こさない制御信号が形成される。信号振幅
が所定の上限を越えた場合に露出制御手段は増幅された
ビデオ振幅を所定のピーク値に調整するよう制御信号を
供給する；信号振幅が所定の下限を越えない場合に露出
制御手段は増幅されたビデオ振幅を所定のボトム値に調
整するよう制御信号を供給する。ピーク値及びボトム値
は例えば画像の表示に対するモニターのような装置の最
適動作がなされる信号振幅レンジに対応して好ましく選
択される。
【００１１】光学画像内に少なくとも１つの測定フィー
ルドを選択する選択手段と、少なくとも１つの測定フィ
ールドに対応する画像信号の信号振幅の最大値から得ら
れる最大値レベルを検出する最大値検出器と、少なくと
も１つの測定フィールドに対応する画像信号の信号振幅
の最小値から得られる最小値レベルを検出する最小値検
出器と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する画
像信号の信号振幅の平均値から得られる平均レベルを検
出する平均値検出器とを有する露出制御手段からなる光
学画像から電子画像信号を形成する画像ピックアップ装
置は好ましくは、平均レベルが第一の制限値を越えた場
合に最大値レベルで、平均レベルが第二の制限値を越え
ない場合に最小値レベルで、また平均レベルの関数とし
て２つの制限値間で滑らかに変化する場合に信号レベル
で制御信号を形成するよう動作しうる。
ルドを選択する選択手段と、少なくとも１つの測定フィ
ールドに対応する画像信号の信号振幅の最大値から得ら
れる最大値レベルを検出する最大値検出器と、少なくと
も１つの測定フィールドに対応する画像信号の信号振幅
の最小値から得られる最小値レベルを検出する最小値検
出器と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する画
像信号の信号振幅の平均値から得られる平均レベルを検
出する平均値検出器とを有する露出制御手段からなる光
学画像から電子画像信号を形成する画像ピックアップ装
置は好ましくは、平均レベルが第一の制限値を越えた場
合に最大値レベルで、平均レベルが第二の制限値を越え
ない場合に最小値レベルで、また平均レベルの関数とし
て２つの制限値間で滑らかに変化する場合に信号レベル
で制御信号を形成するよう動作しうる。
【００１２】
【実施例】以下に実施例及び図面に基づいて本発明を詳
細に説明する。図１に例えばＸ線画像増強装置５の入射
スクリーン４上の検査されるべき患者である照射される
対象３のＸ線画像を形成するためにＸ線ビーム２を放射
するＸ線源１からなる本発明によるＸ線検査装置の概略
ブロック図を示す。Ｘ線画像はＸ線画像増強装置により
出射窓６上の光学画像に変換される。レンズシステム７
を介して光学画像は光学画像から電子画像信号を形成す
るビデオカメラ８上に画像化する。電子画像信号は増幅
器１０の入力端子９の一方に印加される。他方で電子画
像信号は露出制御手段２０に印加される。露出制御手段
はＸ線源により放射される照射の強度、エネルギー、及
びパルス時間を制御するためにＸ線源１の電源１１への
Ｘ線制御信号として制御信号を供給する。露出制御手段
はまた電子画像信号の増幅を調整するために増幅器１０
の制御入力１２への露出制御信号として制御信号を印加
する。増幅器１０の出力端子１３は画像がその上で観察
できるモニター１５に印加されるビデオ信号を搬送し、
又はビデオ信号は更なる画像処理を待つためにバッファ
ー回路１６に印加される。電子画像信号の増幅はダイナ
ミック撮像中に可能なかぎり不快な輝度の変動を抑制す
るように調整される。図１に示される実施例では増幅器
１０はビデオカメラ８に直列に接続される。この場合は
増幅器１０を伴ったビデオカメラは出射窓６上の光学画
像をピックアップし、それをビデオ信号に変換するピッ
クアップ装置１４を構成する。しかしながらビデオカメ
ラ８内に増幅器１０を含むことも同様に可能である；こ
の場合ビデオカメラそれ自身が画像ピックアップ装置を
構成する。
細に説明する。図１に例えばＸ線画像増強装置５の入射
スクリーン４上の検査されるべき患者である照射される
対象３のＸ線画像を形成するためにＸ線ビーム２を放射
するＸ線源１からなる本発明によるＸ線検査装置の概略
ブロック図を示す。Ｘ線画像はＸ線画像増強装置により
出射窓６上の光学画像に変換される。レンズシステム７
を介して光学画像は光学画像から電子画像信号を形成す
るビデオカメラ８上に画像化する。電子画像信号は増幅
器１０の入力端子９の一方に印加される。他方で電子画
像信号は露出制御手段２０に印加される。露出制御手段
はＸ線源により放射される照射の強度、エネルギー、及
びパルス時間を制御するためにＸ線源１の電源１１への
Ｘ線制御信号として制御信号を供給する。露出制御手段
はまた電子画像信号の増幅を調整するために増幅器１０
の制御入力１２への露出制御信号として制御信号を印加
する。増幅器１０の出力端子１３は画像がその上で観察
できるモニター１５に印加されるビデオ信号を搬送し、
又はビデオ信号は更なる画像処理を待つためにバッファ
ー回路１６に印加される。電子画像信号の増幅はダイナ
ミック撮像中に可能なかぎり不快な輝度の変動を抑制す
るように調整される。図１に示される実施例では増幅器
１０はビデオカメラ８に直列に接続される。この場合は
増幅器１０を伴ったビデオカメラは出射窓６上の光学画
像をピックアップし、それをビデオ信号に変換するピッ
クアップ装置１４を構成する。しかしながらビデオカメ
ラ８内に増幅器１０を含むことも同様に可能である；こ
の場合ビデオカメラそれ自身が画像ピックアップ装置を
構成する。
【００１３】図２に本発明によるＸ線装置の露出制御手
段の概略ブロック図を示す。測定フィールド選択器３０
を用いて測定フィールドビデオ信号が電子画像信号から
形成され、該ビデオ信号は光学画像の１部分に対応す
る。そのような部分は画像コントラスト及び画像輝度を
最適化するのに重要な画像のその部分を含むよう選択さ
れる。例えば心臓造影（ｃａｒｄｉｏｇｒａｐｈｙ）で
はそのような部分は画像の中心の円形の領域をなし、抹
消の血管造影ではそのような部分は画像内の１以上の帯
をなす。測定フィールドはまた特に重要な画像の１部分
上の制御信号に基づき、又は制御信号の形成から露出過
度又は露出不足の領域のような画像の不適切な部分を排
除するために電子画像信号から得られうる。測定フィー
ルドビデオ信号はその中の最高、最低、及び平均信号値
をそれぞれ検出する最大値検出器３１、最小値検出器３
２、及び平均値検出器３３に印加される。最大値、最小
値、及び平均値検出器はドイツ国特許第２６１０８４５
号公開公報から本質的に知られているような集積回路
（図２）により構成しうる演算増幅器及び半導体ダイオ
ードを有する集積化回路のような電子部品で構成しう
る。最大信号Ｖmax 、最小信号Ｖmin 、及び平均値信号
Ｖavはそれぞれ最大値、最小値及び平均値検出器の出力
端子上で得られる。それぞれ最大値検出器、最小値検出
器、及び平均値検出器を供給するために必要ならば異な
る測定フィールドを選択しうる。
段の概略ブロック図を示す。測定フィールド選択器３０
を用いて測定フィールドビデオ信号が電子画像信号から
形成され、該ビデオ信号は光学画像の１部分に対応す
る。そのような部分は画像コントラスト及び画像輝度を
最適化するのに重要な画像のその部分を含むよう選択さ
れる。例えば心臓造影（ｃａｒｄｉｏｇｒａｐｈｙ）で
はそのような部分は画像の中心の円形の領域をなし、抹
消の血管造影ではそのような部分は画像内の１以上の帯
をなす。測定フィールドはまた特に重要な画像の１部分
上の制御信号に基づき、又は制御信号の形成から露出過
度又は露出不足の領域のような画像の不適切な部分を排
除するために電子画像信号から得られうる。測定フィー
ルドビデオ信号はその中の最高、最低、及び平均信号値
をそれぞれ検出する最大値検出器３１、最小値検出器３
２、及び平均値検出器３３に印加される。最大値、最小
値、及び平均値検出器はドイツ国特許第２６１０８４５
号公開公報から本質的に知られているような集積回路
（図２）により構成しうる演算増幅器及び半導体ダイオ
ードを有する集積化回路のような電子部品で構成しう
る。最大信号Ｖmax 、最小信号Ｖmin 、及び平均値信号
Ｖavはそれぞれ最大値、最小値及び平均値検出器の出力
端子上で得られる。それぞれ最大値検出器、最小値検出
器、及び平均値検出器を供給するために必要ならば異な
る測定フィールドを選択しうる。
【００１４】最大値信号は第一の掛け算器３４に印加さ
れ、それにより係数ａ2 ー１を掛けられる；最小値信号
は第二の掛け算器３５に印加され、それにより係数ーａ
1 を掛けられる。２つの掛け算器３４、３５及び平均値
検出器３３の出力信号は加算器内で加算され、加算器３
６の出力端子上の加算された信号は割算器３７により係
数ａ2 ーａ1 で割られる。割算器３７の出力端子は信号
Ｖs を供給し、これは最大値、最小値及び平均信号の組
み合わせである。即ち Ｖs ＝〔（ａ2 ー１）Ｖmax ーａ1 Ｖmin ＋Ｖav）〕／（ａ2 ーａ1 ） （１） 割算器３７の出力端子上の信号Ｖs 及び最大値検出器３
１の出力端子上の最大値信号Ｖmax は比較回路３８に入
力信号として印加される。比較回路３８の出力信号は比
較回路３８に印加された信号の中でより低い振幅を有す
る方の信号である。比較回路３８の出力信号は続いて最
大値検出器３２の出力端子上の最小値信号と共に第二の
比較回路３９への入力信号として印加される。受けられ
た入力信号から第二の比較回路３９は印加された入力信
号のより高い振幅を有する出力信号を形成する。それか
ら制御信号は第二の比較回路３９の出力端子上に出力さ
れる。従って制御信号ＶR は最小値、最大値及び平均値
信号に関して以下に示すようになる： ＶR ＝ｍａｘ〔ｍｉｎ（Ｖmax ，Ｖs ），Ｖmin 〕 （２） この制御信号は光学画像内の輝度及びコントラスト変化
による制御信号の変化は滑らかであるという利点を提供
するので、それにより特にダイナミック画像の突然の不
快な輝度変化は表示された画像内では回避される。
れ、それにより係数ａ2 ー１を掛けられる；最小値信号
は第二の掛け算器３５に印加され、それにより係数ーａ
1 を掛けられる。２つの掛け算器３４、３５及び平均値
検出器３３の出力信号は加算器内で加算され、加算器３
６の出力端子上の加算された信号は割算器３７により係
数ａ2 ーａ1 で割られる。割算器３７の出力端子は信号
Ｖs を供給し、これは最大値、最小値及び平均信号の組
み合わせである。即ち Ｖs ＝〔（ａ2 ー１）Ｖmax ーａ1 Ｖmin ＋Ｖav）〕／（ａ2 ーａ1 ） （１） 割算器３７の出力端子上の信号Ｖs 及び最大値検出器３
１の出力端子上の最大値信号Ｖmax は比較回路３８に入
力信号として印加される。比較回路３８の出力信号は比
較回路３８に印加された信号の中でより低い振幅を有す
る方の信号である。比較回路３８の出力信号は続いて最
大値検出器３２の出力端子上の最小値信号と共に第二の
比較回路３９への入力信号として印加される。受けられ
た入力信号から第二の比較回路３９は印加された入力信
号のより高い振幅を有する出力信号を形成する。それか
ら制御信号は第二の比較回路３９の出力端子上に出力さ
れる。従って制御信号ＶR は最小値、最大値及び平均値
信号に関して以下に示すようになる： ＶR ＝ｍａｘ〔ｍｉｎ（Ｖmax ，Ｖs ），Ｖmin 〕 （２） この制御信号は光学画像内の輝度及びコントラスト変化
による制御信号の変化は滑らかであるという利点を提供
するので、それにより特にダイナミック画像の突然の不
快な輝度変化は表示された画像内では回避される。
【００１５】制御信号の変化の滑らかさを以下に例に基
づいて説明する。この目的のために図３は検査されるべ
き患者３の代わりに均一なＸ線減衰を示す対象が均一な
輝度の画像内に導入される場合に図２に示した露出制御
手段により供された制御信号のグラフ表示である。例え
ば均一な厚さと組成の銅板であるこの対象はＸ線ビーム
２中に動かされ、Ｘ線ビームの一部分に対応する測定フ
ィールドの遮蔽比率αは０から１に増加する。これは図
３の挿入図に基づいて説明され、この中でＸ線ビーム中
に導入された銅板の影の画像４１により部分的に覆われ
た円形の測定フィールド４０を示す。銅板がＸ線ビーム
内に動かされる場合にそれの影の画像は矢印で示された
ように測定フィールドを横切って移動される。平均値検
出器により供された平均信号に対しては単純に Ｖav＝Ｖmax ーα（Ｖmax ーＶmin ） （３） であり、Ｖs に対する式（１）は Ｖs ＝〔ａ2 Ｖmax ーａ1 Ｖmin ーα（Ｖmax ーＶmin ））〕／（ａ2 ーａ1 ） （４） と書かれうる。このように遮蔽比率αが所定の制限値ａ
1 及びａ2 の間で増加する場合に制御信号ＶR は値Ｖ
max から値Ｖmin へ減少する。ａ1 より小さな遮蔽比率
に対して制御信号の振幅は値Ｖmax を有し、一方でａ2
より大きな遮蔽比率に対して制御信号の振幅は値Ｖmin
を有する。平均信号Ｖavは図３の第二の水平軸に沿って
プロットされ、それにより図３はまた平均信号Ｖavの関
数として制御信号を示す。平均信号Ｖavが第一の制限値
Ｖ1 を越える場合に、制御信号ＶR が最大値レベルＶ
max を有する。平均信号Ｖavが第二の制限値Ｖ2 以下に
落ちる場合に、制御信号ＶR が最小値レベルＶmin を有
する。平均信号の値が２つの制限値間の場合に制御信号
の変化は線形である。この露出制御の結果、出射窓６上
の光学画像内のコントラスト及び輝度が変化する場合に
電子画像信号の信号増幅は滑らかに調整される。露出制
御手段２０により供給される制御信号による電源１１の
制御はまた滑らかである。これらの滑らかな制御の故に
ビデオ信号の信号レベルの突然の変化は回避され、突然
の望まれない輝度変化は増幅されたビデオ信号に基づく
モニター上に表示された画像内で回避される。
づいて説明する。この目的のために図３は検査されるべ
き患者３の代わりに均一なＸ線減衰を示す対象が均一な
輝度の画像内に導入される場合に図２に示した露出制御
手段により供された制御信号のグラフ表示である。例え
ば均一な厚さと組成の銅板であるこの対象はＸ線ビーム
２中に動かされ、Ｘ線ビームの一部分に対応する測定フ
ィールドの遮蔽比率αは０から１に増加する。これは図
３の挿入図に基づいて説明され、この中でＸ線ビーム中
に導入された銅板の影の画像４１により部分的に覆われ
た円形の測定フィールド４０を示す。銅板がＸ線ビーム
内に動かされる場合にそれの影の画像は矢印で示された
ように測定フィールドを横切って移動される。平均値検
出器により供された平均信号に対しては単純に Ｖav＝Ｖmax ーα（Ｖmax ーＶmin ） （３） であり、Ｖs に対する式（１）は Ｖs ＝〔ａ2 Ｖmax ーａ1 Ｖmin ーα（Ｖmax ーＶmin ））〕／（ａ2 ーａ1 ） （４） と書かれうる。このように遮蔽比率αが所定の制限値ａ
1 及びａ2 の間で増加する場合に制御信号ＶR は値Ｖ
max から値Ｖmin へ減少する。ａ1 より小さな遮蔽比率
に対して制御信号の振幅は値Ｖmax を有し、一方でａ2
より大きな遮蔽比率に対して制御信号の振幅は値Ｖmin
を有する。平均信号Ｖavは図３の第二の水平軸に沿って
プロットされ、それにより図３はまた平均信号Ｖavの関
数として制御信号を示す。平均信号Ｖavが第一の制限値
Ｖ1 を越える場合に、制御信号ＶR が最大値レベルＶ
max を有する。平均信号Ｖavが第二の制限値Ｖ2 以下に
落ちる場合に、制御信号ＶR が最小値レベルＶmin を有
する。平均信号の値が２つの制限値間の場合に制御信号
の変化は線形である。この露出制御の結果、出射窓６上
の光学画像内のコントラスト及び輝度が変化する場合に
電子画像信号の信号増幅は滑らかに調整される。露出制
御手段２０により供給される制御信号による電源１１の
制御はまた滑らかである。これらの滑らかな制御の故に
ビデオ信号の信号レベルの突然の変化は回避され、突然
の望まれない輝度変化は増幅されたビデオ信号に基づく
モニター上に表示された画像内で回避される。
【図１】本発明によるＸ線検査装置の概略ブロック図を
示す。
示す。
【図２】本発明によるＸ線装置の露出制御手段の概略ブ
ロック図を示す。
ロック図を示す。
【図３】均一にＸ線を減衰する対象が均一な輝度の画像
内に導入された場合の図２の露出制御手段により供給さ
れる制御信号のグラフを示す。
内に導入された場合の図２の露出制御手段により供給さ
れる制御信号のグラフを示す。
１ Ｘ線源 ２ Ｘ線ビーム ３ 対象 ４ 入射スクリーン ５ Ｘ線画像増強装置 ６ 出射スクリーン ７ レンズシステム ８ ビデオカメラ ９ 入力端子 １０ 増幅器 １１ 電源 １２ 制御入力 １３ 出力端子 １４ ピックアップ装置 １５ モニター ３０ 測定フィールド選択器 ３１ 最大値検出器 ３２ 最小値検出器 ３３ 平均値検出器 ３４、３５ 掛け算器 ３６ 加算器 ３７ 割算器 ３８、３９ 比較回路 ４０ 測定フィールド ４１ 銅板の影の画像 Ｖmax 最大値信号 Ｖmin 最小値信号 Ｖav 平均値信号 Ｖs 出力端子上の信号 ＶR 制御信号 Ｖ1 、Ｖ2 、ａ1 、ａ2 制限値 α 遮蔽比率
Claims (6)
- 【請求項１】 Ｘ線による対象の照射によりＸ線画像を
形成するＸ線源と、Ｘ線画像を光学画像に変換するＸ線
画像増強装置と、光学画像から電子画像信号を形成する
画像ピックアップ装置とからなり、該画像ピックアップ
装置は電子画像信号から得られた制御信号を画像ピック
アップ装置の増幅器の制御入力に印加する露出制御手段
からなり、該露出制御手段は光学画像内に少なくとも１
つの測定フィールドを選択する選択手段と、少なくとも
１つの測定フィールドに対応する画像信号の信号振幅の
最大値から得られる最大値レベルを検出する最大値検出
器と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する画像
信号の信号振幅の最小値から得られる最小値レベルを検
出する最小値検出器と、少なくとも１つの測定フィール
ドに対応する画像信号の信号振幅の平均値から得られる
平均レベルを検出する平均値検出器とからなるＸ線検査
装置であって、該露出制御手段は、平均レベルが第一の
制限値を越えた場合に最大値レベルで、平均レベルが第
二の制限値以下に下がった場合に最小値レベルで、また
平均レベルの関数として２つの制限値間で滑らかに変化
する場合に信号レベルで、制御信号を形成するよう動作
しうることを特徴とするＸ線検査装置。 - 【請求項２】 最小値レベル、最大値レベル、及び制限
値は調整可能であることを特徴とする請求項１記載のＸ
線検査装置。 - 【請求項３】 制御信号の信号レベルは２つの制限値間
で平均レベルの関数として線形に変化することを特徴と
する請求項１又は２記載のＸ線検査装置。 - 【請求項４】 露出制御手段は、平均レベルが第一の制
限値に等しい場合に最大値レベルを仮定しまた平均レベ
ルが第二の制限値に等しい場合に最小値レベルを仮定す
る補助的制御信号レベルを決める演算手段と、最大値レ
ベル及び補助的制御信号レベルのうち低い方のレベルを
供給する第一の比較回路と、信号レベルが最小値レベル
及び第一の比較回路出力信号のうち高い方のレベルであ
る制御信号を供給する第二の比較回路とからなることを
特徴とする請求項３記載のＸ線検査装置。 - 【請求項５】 選択手段は電子画像信号から少なくとも
１つの測定フィールドを得るよう動作しうることを特徴
とする請求項１乃至４のうちいずれか一項記載のＸ線検
査装置。 - 【請求項６】 光学画像内に少なくとも１つの測定フィ
ールドを選択する選択手段と、少なくとも１つの測定フ
ィールドに対応する画像信号の信号振幅の最大値から得
られる最大値レベルを検出する最大値検出器と、少なく
とも１つの測定フィールドに対応する画像信号の信号振
幅の最小値から得られる最小値レベルを検出する最小値
検出器と、少なくとも１つの測定フィールドに対応する
画像信号の信号振幅の平均値から得られる平均レベルを
検出する平均値検出器とを有する露出制御手段からなる
光学画像から電子画像信号を形成する画像ピックアップ
装置であって、該露出制御手段は、平均レベルが第一の
制限値を越えた場合に最大値レベルで、平均レベルが第
二の制限値を越えない場合に最小値レベルで、また平均
レベルの関数として２つの制限値間で滑らかに変化する
場合に信号レベルで、制御信号を形成するよう動作しう
ることを特徴とする画像ピックアップ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| BE09301153 | 1993-10-28 | ||
| BE9301153A BE1007674A3 (nl) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | Röntgenonderzoekapparaat. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07183094A true JPH07183094A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=3887481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6260785A Pending JPH07183094A (ja) | 1993-10-28 | 1994-10-25 | Ｘ線検査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5513239A (ja) |
| EP (1) | EP0651597A1 (ja) |
| JP (1) | JPH07183094A (ja) |
| BE (1) | BE1007674A3 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002528851A (ja) * | 1998-10-19 | 2002-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 照射量制御を備えたｘ線検査装置 |
| US8391577B2 (en) | 2008-10-29 | 2013-03-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image processing apparatus, image processing method, X-ray radioscopy apparatus and control method thereof |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3197559B2 (ja) * | 1990-07-02 | 2001-08-13 | バリアン・メディカル・システムズ・インコーポレイテッド | 画像増強検出器を使用するコンピュータｘ線断層撮影装置 |
| IL114052A (en) * | 1995-06-07 | 1998-10-30 | Cmt Medical Technologies Ltd | Bright field detector |
| JPH0997321A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像表示方法 |
| JPH10511222A (ja) * | 1995-10-10 | 1998-10-27 | フィリップス エレクトロニクス エヌ ベー | 露光制御システムを有するｘ線検査装置 |
| US5675624A (en) * | 1995-12-14 | 1997-10-07 | General Electric Company | Adaptive x-ray brightness and display control for a medical imaging system |
| US5833607A (en) * | 1996-03-25 | 1998-11-10 | Siemens Corporate Research, Inc. | Automatic full-leg mosaic and display for peripheral angiography |
| JP3869083B2 (ja) * | 1996-12-10 | 2007-01-17 | 株式会社モリタ製作所 | Ｘ線撮影装置 |
| AUPP510798A0 (en) * | 1998-08-07 | 1998-08-27 | Taracan Pty Ltd | Optical head |
| DE10163215B4 (de) * | 2001-12-21 | 2020-02-20 | Philips Gmbh | System und Verfahren mit automatisch optimierter Bilderzeugung |
| US20060065844A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Zelakiewicz Scott S | Systems and methods for dynamic optimization of image |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2610845C3 (de) * | 1976-03-15 | 1989-08-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung für einen Detektor für ionisierende Strahlung |
| JPS6116371A (ja) * | 1984-07-03 | 1986-01-24 | Toshiba Corp | デジタルフルオログラフイ装置 |
| US4910592A (en) * | 1988-01-13 | 1990-03-20 | Picker International, Inc. | Radiation imaging automatic gain control |
| US5012504A (en) * | 1989-12-26 | 1991-04-30 | General Electric Company | Automatic brightness compensation for fluorography systems |
| US5003572A (en) * | 1990-04-06 | 1991-03-26 | General Electric Company | Automatic brightness compensation for x-ray imaging systems |
| NL9000915A (nl) * | 1990-04-18 | 1991-11-18 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting en werkwijze voor het regelen van het contrast in een van een mcp-beeldversterker voorzien beeldwaarneemstelsel. |
| NL9002651A (nl) * | 1990-12-03 | 1992-07-01 | Philips Nv | Roentgenbeeldsysteem. |
-
1993
- 1993-10-28 BE BE9301153A patent/BE1007674A3/nl not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-10-21 EP EP94203066A patent/EP0651597A1/en not_active Withdrawn
- 1994-10-25 JP JP6260785A patent/JPH07183094A/ja active Pending
- 1994-10-28 US US08/330,648 patent/US5513239A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002528851A (ja) * | 1998-10-19 | 2002-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 照射量制御を備えたｘ線検査装置 |
| US8391577B2 (en) | 2008-10-29 | 2013-03-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image processing apparatus, image processing method, X-ray radioscopy apparatus and control method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0651597A1 (en) | 1995-05-03 |
| US5513239A (en) | 1996-04-30 |
| BE1007674A3 (nl) | 1995-09-12 |
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