JPH0718480U - 多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造 - Google Patents

多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造

Info

Publication number
JPH0718480U
JPH0718480U JP5469593U JP5469593U JPH0718480U JP H0718480 U JPH0718480 U JP H0718480U JP 5469593 U JP5469593 U JP 5469593U JP 5469593 U JP5469593 U JP 5469593U JP H0718480 U JPH0718480 U JP H0718480U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
pattern
lands
multilayer printed
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5469593U
Other languages
English (en)
Inventor
徹 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP5469593U priority Critical patent/JPH0718480U/ja
Publication of JPH0718480U publication Critical patent/JPH0718480U/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高密度な多層プリント基板になる程、スルー
ホールと隣接パターン間のクリヤランスの維持管理が一
層重要となってきている。そこで、本考案は、プリント
板完成後に各層間の位置ずれを検出する手段を講じて良
否判別をすることで、より一層高品質な多層プリント基
板を提供することを目的とする。 【構成】 位置ずれ検出用に、外部取り出し用のランド
12、14を外層に設け、当該ランドにスルーホール1
1、13を設ける。そして、内層の一方のスルーホール
13に当該スルーホール13との導通用ランド17を設
けてリング・パターン16と接続する。そして、当該リ
ング・パターンとスルーホール11の間に位置ずれ検出
距離であるクリヤランス15の絶縁距離を与える。この
パターン構造により、両外部取り出し用のランド12、
14間は、許容位置ずれ範囲を越えた時に導通するパタ
ーン構造としている。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、スルーホールと、内層の隣接パターン間の導体間隙(クリヤラン ス)が接近している高密度多層プリント板の製造品質を、より一層高める為に、 各層間の位置ずれを容易に検出する構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、多層プリント板を製造後、各層間の位置ずれ検査することは行われて いない。その代わりに通常には、最終的に、CAD配線データ(ガーバー・ファ イル等)に基づいてボード試験器等で回路パターンの導通試験と、隣接パターン との非導通試験を実施してプリント板の検査をし、良品判定をしている。
【0003】 まず、図4の多層プリント板の断面図の一例を示して説明する。 最近の高密度実装基板では、0.1インチの間に5本の信号パターンを走らせ るプリント基板も多く、また、スルーホール31の孔径も例えば0.2mm以下 に小さくなっている。これは、表面実装部品の小型化により回路密度が高まり、 この為、多層板化、高密度パターン化が進んできた為である。これに伴いスルー ホール31が多数設けられるようになってきた。そして、スルーホールと内層の 隣接パターン32とのクリヤランス33が数十ミクロン単位で接近している為、 各層間の位置合わせの精度要求が厳しくなってきた。これは、各層間のわずかな 位置合わせのずれによって、内層の隣接パターンとスルーホールが導通する危険 性が大きくなってきたからである。
【0004】 また、プリント板の検査を合格して出荷された中には、各層間の位置ずれによ り、スルーホール31と内層の隣接パターン32のクリヤランスが極めて狭くな っているものもある。これが、プリント基板の検査時は良品であっても使用によ り不良発生となるケースが発生している。例えば、ハンダ・ディップ時の温度ス トレスや、機械的なネジ締め力や振動や実装のたわみ力が加わったり、また、電 源印加による温度上昇で局部的に湾曲ストレスが加わったりして、プリント板の 隣接パターン32とスルーホール31間での絶縁距離が低下して導通してしまう 不良現象である。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上記説明のように、高密度な多層プリント基板になる程、スルーホールと隣接 パターン間のクリヤランスが安定して維持されていることが一層重要となってき ている。 そこで、本考案が解決しようとする課題は、より一層高品質な多層プリント基 板を提供する為に、プリント板完成後に各層間の位置ずれを容易に検出する手段 を講じて良否判別を容易にすることである。
【0006】
【課題を解決する為の手段】
(図1の解決手段) 上記課題を解決するために、本考案の構成では、外部取り出し用のランド12 、14を外層に設け、当該ランドにスルーホール11、13を設ける。そして、 内層の一方のスルーホール13に当該スルーホール13との導通用ランド17を 設けてリング・パターン16と接続する。 そして、当該リング・パターンとスルーホール11の間に位置ずれ検出距離で あるクリヤランス15の絶縁距離を設ける。このようにして、両外部取り出し用 のランド12、14間は、許容位置ずれ範囲を越えた時に導通するパターン構造 としている。
【0007】 (図2の解決手段) また、上記構造に図2のようなパターン構造とした手段がある。 このパターン構造では、当該リング・パターンの代わりに、上下に平行な検出 パターン21a、21bを設ける。そして、各検出パターン毎に、外部取り出し 用のランド22a、22bを設けて、上下のいずれの方向の位置ずれかを導通に より検出するパターン構造としている。
【0008】
【作用】
内層に環状のリング・パターン16で、スルーホール11をとり囲む輪の形状 パターン構造にし、かつ、位置ずれ検出距離に応じたクリヤランス15の絶縁距 離を与えておく。この結果、全方向の指定距離以上の位置ずれを導通の有無で検 出する作用がある。 また、単一内層毎にチェックランドを設ける構造とする場合は、各内層毎に独 立して位置ずれを検出する機能が得られる。 また、図3の複数のチェックランド29を設け、かつ、各クリヤランス15値 を、例えば0.02mm毎に変えておく。これにより、0.02mm単位毎に位 置ずれを検出できるので、測定機能として利用できる。
【0009】
【実施例】
(実施例1) 本考案の実施例1について、図1のリング・パターン時の、(a)多層プリン ト板の断面図の一例と、(b)第1層のZ軸方向矢視図と、(c)内層のZ軸方 向矢視図、を示す図と図3のプリント基板上のチェックランドの配置例の図を参 照して説明する。
【0010】 本実施例の、実施概要を説明する。本実施例は、まず、上下の外層(第1層、 第n層)は、ランド12、14を設けスルーホール11、13と導通させる。そ して内層(第2層〜第n−1層)では、一方のスルーホール11にはランドを設 けない。代わりに、位置ずれの有無の検出用に当該スルーホールの円周上をとり 囲むようにリング・パターン16を設けてその導体を他方のスルーホール13の ランド17に接続する。そして当該リング・パターンとスルーホール11とのク リヤランス15は、製造するプリント基板毎に要求される許容範囲の寸法(例え ば0.05mm)に設定する。そして製造後の良否判定は、チェックランド12 と14間で導通しているか否かで全部の層でかつ全方向(X、Y方向)に対して 許容範囲内か否かが判定できることとなる。
【0011】 さらに、クリヤランスの良否判定用検出ランド(以後チェックランドと称す) は、通常図3に示すように、プリント基板の対角線上に2箇所(27、28)に 設ける。これによりプリント基板全体にわたって位置ずれを検出できる。これに 対し、より精細なプリント基板の場合は4角に設けても良い。このようにチェッ クランドを配置し、完成した多層プリント基板のチェックランドの2端子間で導 通があるか否かを調べることで容易に良品か否かが判定できることとなる。
【0012】 まず最初に、各層のパターン構造について説明する。外層(第1層、第n層) にはチェックランド12、14を設けてスルーホール11、13と導通させて、 検出用端子とする。次に、内層(第2層〜第n−1層)は、一方のスルーホール 13にのみ図1(c)のように導通用ランド17を設ける。そしてこのランド1 7とリング・パターン16を導通させる。そして、環状のリング・パターンは、 クリヤランス15の絶縁距離を与えてスルーホール11をとり囲む円形のパター ン形状にする。他方、スルーホール11は、内層とはどこも接続しないで、外層 のチェックランド12とのみ接続する構造としておく。
【0013】 上記のパターン構造により、もしも、何れかの内層でクリヤランス15以上の ずれが生じたままで接着(熱プレス)後、NCドリルマシンでスルーホールの孔 明け、スルーホールのめっき処理をした時、このめっき処理によりスルーホール 11と、ずれの生じた内層のリング・パターン16どうしが導通接続されること となる。結果として、出来上がった多層プリント基板のチェックランドの両端で 導通が確認される。このことから、何れかの内層で、層間の位置ずれがあったか が容易に検出できる。
【0014】 また、プリント板製造時の位置ずれ要因としては、フィルム原版のずれや、露 光時のずれや、位置決め用のガイド孔明けのずれや、熱プレス時のずれ等がある が、何れで発生した位置ずれでも、又、これらのずれが積算された位置ずれでも 、最終的に本チェックランドを設けることにより容易に検出実現できる。
【0015】 また、位置ずれ限界距離については、図1(c)のクリヤランス15を、各プ リント基板の必要精度や種類(低密度、高密度パターン配線)に応じて所要の限 界距離を設定してリング・パターン16の内径の大きさを決め製造用フィルムに 焼き込んでおけば良い。 ここで、スルーホール11自体の孔加工精度ばらつきや、スルーホールのめっ き処理による誤差や、リング・パターン自体のエッチング精度のばらつきが、例 えば20ミクロン程度あるが、ここではこれら加工精度の誤差については問題点 とはしないことにする。
【0016】 また上記説明では、内層の全ての層について設けると説明したが、他の検出構 造として、各内層毎に独立にチェックランド設ける方法にしても良い。この場合 は、内層と第1層(外層)毎に独立に設けることにより、どの内層がずれていた かが個別に判別できることとなり、統計データ取りして、歩留まり向上、製造品 質向上に使用しても良い。
【0017】 ところで、上記説明では許容範囲以上のずれを検出していたが、同様の方法で 位置ずれの距離の測定を実現することも可能である。 その為には、図3のように複数のチェックランド29を設ける。そして、各ク リヤランス15値を、例えば0.05、0.07mm、0.09mm、0.11 mmのように、例えば0.02mm毎に変えておく。その後、これにより製造さ れたプリント基板の各々のチェックランドの導通を測定することで、ここの例で は0.02mm単位毎に位置ずれの量を測定することが実現できる。
【0018】 (実施例2) 本考案の実施例2について、図2のY軸方向独立、及びY軸の上下方向独立の 検出パターン時の、(a)第1層のZ軸方向矢視図と、(b)内層のZ軸方向矢 視図、を示す図を参照して説明する。
【0019】 図2は、指定方向のクリヤランスの検査を可能とするチェックランドのパター ン構造の例である。この場合は、各層間のずれがY軸上(又はX軸上)でかつ上 下(又は左右)いずれの方向に位置ずれが発生したか、をチェックする時のパタ ーン構造の例である。図2の例では、Y方向の寸法ずれを測定する為に、内層の スルーホール11の上下に検出パターン21a、21bを横方向に平行に引いて それぞれランド22a、22bと接続し、第1層でチェックランド20a、20 bに接続しておき、他方、スルーホール11は第1層でチェックランド20cに 接続したパターン構造としている。
【0020】 この結果、許容範囲内で製造された正常なプリント基板は、チェックランド2 0cと両端子(20a、20b)間のいずれでも導通がない。また逆に許容範囲 を越えてY方向の位置ずれがあった場合は、両端子(20a、20b)の何れか と20c間で導通がある。これにより上方向か、下方向かの位置ずれを検出でき ることとなる。
【0021】
【考案の効果】
本考案は、以上説明したように構成されているので、下記に記載されるような 効果を奏する。 多層プリント基板の位置ずれの検査がチェックランドの導通検査で容易に確認 できる為、より品質の高いプリント基板を供給できる利点が得られる。 プリント基板の検査時は良品で出荷されても、ハンダ・ディップ時や、通電使 用による温度ストレス等により、スルーホール間と隣接内層パターンで導通して しまうという、不良現象の発生が防止できる効果が得られる。
【0022】 複数のチェックランド29を設け、かつ、各クリヤランス15値を、例えば0 .02mm毎に変えておく。これにより例えば0.02mm単位毎に位置ずれを 測定でき、製造にフィードバックしてより一層の品質向上をはかることができる 利点が得られる。
【0023】
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のリング・パターン時の、(a)多層プ
リント板の断面図の一例と、(b)第1層のZ軸方向矢
視図と、(c)内層のZ軸方向矢視図を示す図である。
【図2】本考案のY軸方向独立及びY軸の上下方向独立
検出パターン時の、(a)第1層のZ軸方向矢視図と、
(b)内層のZ軸方向矢視図を示す図である。
【図3】本考案のプリント基板上のチェックランドの配
置例の図である。
【図4】高密度多層プリント板の断面図の一例を示す図
である。
【符号の説明】
11、13 スルーホール 12、14 チェックランド 15、23 クリヤランス(導体間隙) 16 リング・パターン 17、22a、22b ランド 20a、20b、20c チェックランド 21a、21b 検出パターン

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多層プリント配線板の位置ずれ検出構造
    において、 外部取り出し用のランド(12、14)を外層に設け、 当該ランドにスルーホール(11、13)を設け、 内層で、一方のスルーホール(13)に導通用ランド
    (17)を設けてリング・パターン(16)と接続し、 当該リング・パターンと、他方のスルーホール(11)
    の間に位置ずれ検出距離であるクリヤランス(15)を
    とり、 以上を具備していることを特徴とした多層プリント配線
    板の層間パターン位置不良検出構造。
  2. 【請求項2】 当該リング・パターンの代わりに、スル
    ーホール(11)の上下に平行な検出パターン(21
    a、21b)を設け、 各検出パターン毎に、外部取り出し用のランド(22
    a、22b)を設けて上下のいずれの方向の位置ずれか
    を検出する構造とし、 以上を具備していることを特徴とした、請求項1記載の
    多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造。
JP5469593U 1993-09-13 1993-09-13 多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造 Withdrawn JPH0718480U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5469593U JPH0718480U (ja) 1993-09-13 1993-09-13 多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5469593U JPH0718480U (ja) 1993-09-13 1993-09-13 多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0718480U true JPH0718480U (ja) 1995-03-31

Family

ID=12977943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5469593U Withdrawn JPH0718480U (ja) 1993-09-13 1993-09-13 多層プリント配線板の層間位置ずれ検出構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0718480U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009147397A (ja) * 2007-02-01 2009-07-02 Panasonic Corp 検査マーク構造、基板シート積層体、多層回路基板、多層回路基板の積層合致精度の検査方法、及び基板シート積層体の設計方法
KR101492192B1 (ko) * 2013-10-07 2015-02-10 (주)에이티씨 다층기판 및 이의 제조방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009147397A (ja) * 2007-02-01 2009-07-02 Panasonic Corp 検査マーク構造、基板シート積層体、多層回路基板、多層回路基板の積層合致精度の検査方法、及び基板シート積層体の設計方法
KR101492192B1 (ko) * 2013-10-07 2015-02-10 (주)에이티씨 다층기판 및 이의 제조방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4510446A (en) Test coupons for determining the registration of subsurface layers in a multilayer printed circuit board
US7096748B2 (en) Embedded strain gauge in printed circuit boards
US20080149382A1 (en) Method of inspecting printed wiring board and printed wiring board
CN116075054B (zh) 一种任意层间介质厚度的检测线路设计方法
JP2000223840A (ja) ビルドアップ多層配線板の製造方法
US4918380A (en) System for measuring misregistration
JPH09205281A (ja) 多層プリント配線板の内層回路パターンずれ検査方法
JP2000294935A (ja) 多層基板及び多層基板の検査方法
JP3651539B2 (ja) 多層配線基板の製造プロセスの評価方法
US20080017508A1 (en) Non-contact type single side probe structure
US4734980A (en) Printed circuit board wiring method
KR100797690B1 (ko) 인쇄회로기판
JPH05235557A (ja) 位置ずれ量測定システム
JP3191205B2 (ja) プリント基板の検査装置
JP4131137B2 (ja) インターポーザ基板の導通検査方法
JPH08307065A (ja) 多層印刷配線板およびその検査方法
JPH02125490A (ja) 印刷配線板
KR101454924B1 (ko) 평가용 샘플 인쇄회로기판
JP2002100845A (ja) ブラインドビアホール位置ずれ検査用回路パターン
CN212413708U (zh) Pcb制程能力综合检测的治工具
JP2011023613A (ja) プリント配線板とその製造方法、および位置ズレ検出方法
JPH11354932A (ja) ビルドアップ多層配線板の製造方法
KR200325089Y1 (ko) 미세회로기판의 단선검사를 위한 비접촉 센서
CN112378322A (zh) 基板的弧度检测方法及其系统
JPH0338897A (ja) プリント基板の内層導体の位置ずれ検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980305