JPH07185370A - 穀物品質検定装置における穀物サンプル搬送装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 穀物品質検定装置において、異なる種類の穀
物を単一搬送機構で切替を確実に各処理機構に搬送させ
ようとする。 【構成】 サンプル籾を受けて脱ぷ処理及び粒選別処理
して得る整粒玄米を計量して整粒歩留を算出する整粒歩
留検定装置Ａと、該整粒玄米の形質・品位を測定する品
位検定装置Ｂとを設け、籾サンプル，整粒サンプル等の
穀物サンプルを受けて上記脱ぷ処理，品位測定処理に供
給すべく搬送する穀物サンプル搬送装置であって、穀物
サンプルを気流搬送する搬送機構５を設け、この搬送機
構５に接続すべきサイクロン２３機枠３１にサイクロン
ホッパ部３４と迂回連通パイプ３５を併設した昇降機枠
３３を設け、この昇降機枠３３の昇降動作によってこれ
らを上記搬送機構５の接続パイプ部と選択的に接続すべ
く構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、穀物品質検定装置にお
ける穀物サンプル搬送装置に関する。

【０００２】

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
穀物検定を行なう装置として、籾サンプルを脱ぷ・選別
処理して、整粒重量と屑粒重量との比率による整粒歩留
検定を行なう所謂自主検定装置、及び玄米の胴割れ比
率，着色粒や未熟粒割合による被害粒比率等を検定する
品位検定装置を単独にあるいは直列的に接続する形態が
ある。これらの各装置への穀物サンプルの供給はスロワ
形態が通常である（例えば、特開平5-177150号公報）。

【０００３】ところが、上記の形態では装置内部にスロ
ワ胴を設けるスペースを要する上、品位測定装置への供
給切替機構を要するが、この切替が確実でないために異
なるサンプルを搬送する恐れがある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】この発明は、サンプル籾
を受けて脱ぷ処理及び粒選別処理して得る整粒玄米を計
量して整粒歩留を算出する整粒歩留検定装置Ａと、該整
粒玄米の形質・品位を測定する品位検定装置Ｂとを設
け、籾サンプル，整粒サンプル等の穀物サンプルを受け
て上記脱ぷ処理，品位測定処理に供給すべく搬送する穀
物サンプル搬送装置であって、穀物サンプルを気流搬送
する搬送機構５を設け、この搬送機構５に接続すべきサ
イクロン２３機枠３１にサイクロンホッパ部３４と迂回
連通パイプ３５を併設した昇降機枠３３を設け、この昇
降機枠３３の昇降動作によってこれらを上記搬送機構５
の接続パイプ部と選択的に接続すべく構成してなる穀物
品質検定装置における穀物サンプル搬送装置の構成とす
る。

【０００５】

【実施例】この発明の一実施例を図面に基づき説明す
る。図１は穀物品質検定装置の全体を示すもので、整粒
歩留検定装置Ａ、外観品位検定装置Ｂ、サンプルシール
装置Ｃ、及びコントロール装置Ｄとからなる。このう
ち、整粒歩合検定装置Ａは、機枠１内部に脱ぷ部２、左
右一対の粒選別部３，３、計量機構４、サンプル搬送機
構５等を備えてなり、機枠１の後部には２種の異なる荷
受人からの籾サンプルを受けることができるサンプル供
給ホッパ６ａ，６ｂを設け、これに供給されるべき籾サ
ンプルの分配機構７を内蔵して夫々を２つに分配できる
構成としている。このうち一方の籾サンプルは傾斜案内
シュート８に供給されこの排出部は計量機構４の構成一
部の計量ホッパ９に接続される。排出ゲート１０を閉じ
た状態でサンプル粒を溜め計量器１１によって当該計量
ホッパ９ごと計量できる構成とし、計量後のサンプルは
排出ゲート１０を通過して集合ホッパ１２に排出される
構成としている。一方分配された他の籾サンプルは第２
案内シュート１３に供給される構成とし、その排出側に
は同様の集合ホッパ１４を接続している。

【０００６】分配機構７について、サンプル供給ホッパ
６ａ，６ｂの夫々には中間に仕切り７１ａ，７１ｂを設
け、この仕切り上部側において機枠１との連通口７２
ａ，７２ｂを形成し、該連通口には夫々独立的にエアシ
リンダ機構７３ａ，７３ｂで開閉制御できる開閉シャッ
タ７４ａ，７４ｂを構成している。また、上記仕切りの
下方側においては、連通口７５ａ，７５ｂを形成し、上
記と同様にエアシリンダ機構７６ａ，７６ｂにて独立し
て開閉できる開閉シャッタ７７ａ，７７ｂを配設する。
サンプル供給ホッパ６ａ，６ｂにサンプルを供給する
と、該仕切り７１ａ，７１ｂで受けられて開閉シャッタ
７４ａ，７４ｂにて溜められるサンプルと、上記仕切り
７１ａ，７１ｂを越えてホッパ６ａ，６ｂ底部とシャッ
タ７７ａ，７７ｂとで溜められるサンプルとに分配でき
る構成である。なお上記連通口７２ａ，７２ｂは前記傾
斜案内シュート８に連通し、連通口７５ａ，７５ｂは第
２案内シュート１３に連通するものである。従って、サ
ンプル供給ホッパ６ａ，６ｂには夫々異なるサンプルを
供給することができ、一方が処理されるときには他方は
待機して順番を待つ構成である。なお、サンプル供給ホ
ッパ６ａ，６ｂへの供給は手動であってもよく、該ホッ
パ上部に左右切り換え可能な案内シュートを配設する等
して適宜自動化してもよい。

【０００７】上記各集合ホッパ１２，１４の下方には、
サンプル搬送機構５のサンプル導入パイプ２０をのぞま
せている。サンプル搬送機構５は、これら集合ホッパ１
２，１４からの籾サンプルや選別処理後の玄米サンプル
等を上昇搬送して次段の処理行程に移すもので、単一の
ブロワ２１の吐出口２１ａには上記サンプル導入パイプ
２０を接続し、該パイプ２０に接続する揚上パイプ２２
をもって機枠１上部に設ける第１サイクロン２３に接続
される構成である。この第１サイクロン２３下方にのぞ
んで前記脱ぷ部２を設ける。

【０００８】この脱ぷ部２では一対の脱ぷロール２４，
２４で脱ぷ処理し、脱ぷ済の玄米を切替シュート２５を
介して一対の粒選別部３，３のいずれか一方に供給しつ
つ当該玄米を選別筒の目合から漏下する屑米と内部に残
って選別筒の逆転連動によって筒外に排出できる整粒と
に仕分けする構成である。各選別筒の下方における集合
ホッパ２６，２６には夫々開閉シャッタ２７，２７を設
けるとともに、これらシャッタ２７，２７の下方には、
前記計量ホッパ９の直上方にのぞませて漏斗状に形成す
るホッパ部と山形状の案内板とで均分案内体２８を構成
している。２９，２９は適宜集合ホッパ２６，２６側か
ら延出して固定される傾斜案内板である。なお、シャッ
タ２７の開閉によって上記整粒又は屑粒を独立してサン
プル籾の計量と同様に計量器１１にて計量可能に構成す
るものである。上記切替シュート２５は、直下方向き状
態では流下筒１５を介して上記集合ホッパ１２に直接通
じ、サンプル搬送機構５，第１サイクロン２３にて再び
脱ぷ部２に還元され、２回脱ぷを行なうことができる構
成としている。３０は排塵胴である。

【０００９】次にサンプル搬送機構５に接続する上記第
１サイクロン２３について説明すると、機枠部３１内に
エアシリンダ機構３２によって昇降動作する昇降機枠３
３を設け、この昇降機枠３３にはサイクロンホッパ部３
４と迂回連通パイプ３５を上下に配設している。サイク
ロンホッパ部３４の入口部３４ａと出口部３４ｂが夫
々、前記揚上パイプ２２終端開口部２２ａ乃至後記第２
サイクロン３６への連通パイプ３７入口部３７ａに対応
する位置関係に設けられ、併せて上記エアシリンダ機構
３２の動作によって昇降機枠３３が下方側に下げられる
ことにより、これら揚上パイプ２２終端開口部２２ａと
連通パイプ３７入口部３７ａとが、上記迂回連通パイプ
３５の前後各開口に接続される構成である。また、エア
シリンダ機構３２の動作によって昇降するサイクロンホ
ッパ部３４の排出部には供給シュート３８が設けられ、
該供給シュート３８の排出側開口端は、機枠部３１下方
の開口に合致して内容物を排出しうる状態と、機枠部内
面に密接して当該開口端を密閉する状態とに切替連動す
る構成である。

【００１０】又、上記計量ホッパ９の内部には定量ホッ
パ４０，該ホッパ４０上部縁を往復動作しながら盛り上
がり余剰玄米を排除する払出部材４１，定量ホッパ４０
の排出シャッタ４２等を備え、かつ前記計量器等によっ
て定量ホッパ４０内の堆積玄米の重量ｗを測定できる構
成とし、既知の定量ホッパ４０の容量ｖから所謂容積重
ｗ／ｖを検定できる容積重検定装置の機構部を構成して
いる。なお、定量ホッパ４０は、排出部上下の支持部材
を貫通すべく設ける２本の平行する支持杆４３，４３に
よって前記計量ホッパ９内部中央に固定されている。払
出部材４１は計量ホッパ９の背面側外壁に支持されたエ
アシリンダ機構４４の先端に固着されている。また、計
量ホッパ９の排出ゲート１０や定量ホッパ４０の排出シ
ャッタ４２は上部側支点に回動可能に設けられ、計量ホ
ッパ９の前側外壁に適宜支持されたソレノイド型の往復
作動機構４５又は４６の各先端部に連結されてソレノイ
ドのオン信号を受けて開動する構成である。４７は支軸
である。

【００１１】４８は脱ぷ部２の脱ぷロールや排塵胴のフ
ァンを駆動するモータ、４９，４９は粒選別部３，３を
各駆動するモータである。前記連通パイプ３７の他端に
設ける第２サイクロン３６の下方は品位検定装置Ｂの供
給ホッパ５０に接続され、その接続部には切替によって
揚穀穀粒の全部を品位測定器５１に供給する状態、又は
後続の待機ボックス５２，５２…に直接供給しうる状態
にさせる切替弁５３を有し、一般には整粒を該品位測定
器５１に供給すべくなす。品位測定器５１は、その詳細
は省略するが、玄米整粒の一粒を受けて透過又は反射の
各測定光の入力によって検査・形質、具体的には着色
粒、未熟粒、死米及び胴割れ等を一粒毎に検査できる構
成としている。なお、整粒の全部を一旦品位測定器５１
に受入れると一粒搬送機構５５の正転により一粒毎に順
次測定位置まで繰り出され、整粒は非破壊状態で検査さ
れて後に経路外に至って下方に落下するが、余りの整粒
は一粒搬送機構５５の逆転により一挙に下方に落下して
当該検査粒と共に、下方にのぞむ排出用の集合ホッパ５
６に集合できる構成であり、それらは排出シャッタ５７
により品位検定装置Ｂの下方にのぞむサンプルシール装
置Ｃに供給される構成としている。

【００１２】また、上記待機ボックス５２，５２…内で
待機する籾及び屑粒サンプルは、当該ボックス５２，５
２…の各々に配設するシャッタ機構を所定のタイミング
で開閉することによって、サンプルシール装置Ｃに供給
できる構成である。サンプルシール装置Ｃは、連続状に
繰り出すフィルムを袋状にシールしながら、同一荷受人
毎に籾・屑粒・整粒サンプルの順に区分して袋詰する構
成で、同一サンプルを連続して収容しうる構成としてい
る。５８は連続して繰り出されるサンプル収容袋体を所
定の位置まで搬送するベルトコンベアである。

【００１３】前記第２サイクロン３６の出口部には排出
パイプ５９が接続され、その端部は前記ブロワ２１の吸
入口２１ｂに接続される。このためブロワ風は、サンプ
ル導入パイプ２０−揚上パイプ２２−第１サイクロン２
３（迂回連通パイプ３５）−連通パイプ３７−第２サイ
クロン３６−排出パイプ５９の順に循環する。コントロ
ール装置Ｄは、操作部６０とＣＲＴ画面６１と内蔵の制
御部６２とからなり、このうち操作部６０には荷受人コ
ード、日付、品種その他の個別情報が入力できる構成で
ある。制御部６２は上記整粒歩留検定装置Ａ，品位検定
装置Ｂ，サンプルシール装置Ｄ各部の駆動用モータ類，
シャッタ類，計測各部等を駆動すべき制御信号をタイミ
ング出力し、一方で計量信号，品位計測データ信号等を
入力しつつ籾重に対する整粒歩留や前記容積重の算出を
行ない記憶部に記憶すると共に、予め当該記憶部に記憶
された農産物規格基準の各等級との比較を行ない、サン
プル玄米がいずれの等級に該当するかを判定する。ＣＲ
Ｔ画面６４は、操作部６３からの操作入力情報の確認画
面，その他必要情報を表示する構成である。加えて上記
制御部６２はサンプルシール装置Ｄに備えるプリンタ
（図示せず）を起動し、荷受人毎に、整粒歩留，容積
重，品位を印刷して整粒収容部に封入すべく構成してい
る。

【００１４】上例の作用について説明する。整粒歩留検
定装置Ａの投入ホッパ５に所定の籾サンプルを供給し、
個別情報を操作部６０にて入力する。次いで籾サンプル
を供給ホッパ６ａ又は６ｂに順次供給する。ここで例え
ばホッパ６ａ内のサンプルは分配機構７によって２つの
サンプルに分配され、うち一方が傾斜案内シュート８に
供給される。案内シュート８を流下した籾サンプルは計
量ホッパ９内に入り計量器１１で計量される。

【００１５】なお、前記供給ホッパ６ｂ側に供給されて
いる他の籾サンプルはしばらくこのホッパ６ｂ内で待機
される。計量終了信号を受けて排出ゲート１０が開かれ
籾サンプルは全て集合ホッパ１２に至る。ここでは待機
することなく下方にのぞむサンプル導入パイプ２０内に
供給されることとなる。サンプル導入パイプ２０を含む
サンプル搬送機構５のブロワ２１は駆動状態にあり、こ
のサンプル導入パイプ２０内に導入された籾サンプルは
揚上パイプ２２を経て第１サイクロン２３に至る。この
第１サイクロン２３部では、エアシリンダ機構３２の作
動によって昇降機枠３３は下方側に位置し、気流と共に
搬送される籾サンプルは揚上パイプ２２からサイクロン
ホッパ部３４に至って旋回流を起こし重量の重い籾サン
プルはホッパ部３４内周を旋回しながら下方に落下し、
供給シュート３８に蓄えられるものである。そして昇降
機枠３３の下降動作を受けて、供給シュート３８の下方
が機枠部３１の開口に合致してこの機枠部３１外に排出
され脱ぷ部２に至るものである。一方、第２案内シュー
ト１３、集合ホッパ１４を経由する余りの籾サンプルは
上記の先の籾サンプルが脱ぷ部２に至った後を見計ら
い、サンプル導入パイプ２０に導入されるものである
が、この場合には上記昇降機枠３３は下降すべく連動さ
れ、揚上される籾サンプルは第１サイクロン２３部では
迂回連通パイプ３５を経由して第２サイクロン３６に至
る。従ってこの第２サイクロン３６からサイクロンホッ
パ部内面を旋回流下しながら品位検定装置Ｂの待機ボッ
クス５２に入り待機している。

【００１６】また、主として気流は小さな塵埃と共に連
通パイプ３７に至り、第２サイクロン３６、排出パイプ
５９を経てブロワ２１に戻る。このような気流循環にて
次々とサンプルを第１又は第２サイクロンに搬送するこ
とができる。なお、第１，第２サイクロン通過の気流に
は塵埃を含むから適宜に捕集機構を構成するとよい。更
に上記の説明では集合ホッパ１２からの籾サンプルを先
に脱ぷ部２に供給し、次いで余りの籾サンプルを集合ホ
ッパ１４から待機ボックス５２に供給するものとした
が、これを逆のタイミングで行ってもよい。

【００１７】脱ぷ部２では一対の脱ぷロール２４，２４
によって１回あるいは２回脱ぷ処理され、玄米は切替シ
ュート２５を経ていずれかの空いている粒選別部３に供
給される。粒選別部３の回転によって、屑粒と整粒とに
分離され、先ず、屑粒が計量ホッパ９に至って計量さ
れ、サンプル導入パイプ２０，揚上パイプ２２等を経由
して待機ボックス５２に収容される。次いで整粒は、定
量ホッパ４０に供給されつつこの計量ホッパ９の排出ゲ
ート１０に堰止められた状態に堆積し、定量ホッパ４０
とゲート部堆積整粒の合計が計量されることとなる。こ
れら計量データは制御部６２に入力され籾サンプル重量
に対する整粒重量とから整粒歩留が算出される。

【００１８】そして排出ゲート１０を開くと、ゲート部
堆積整粒が排出され、払出部材４１で排除された余剰整
粒も排出される。定量ホッパ４０に残った整粒は排出シ
ャッタ４２の開き動作によって直前に閉じられた排出ゲ
ート１０に堰き止められ、計量される。計量データは制
御部６２に入力され、予め設定記憶された風袋重量が減
算されて真の整粒重量ｗが算出され、同時に定量ホッパ
４０の既知の容積ｖと計量結果ｗとから容積重ｗ／ｖが
求められる。

【００１９】先のオーバーフローした整粒と定量ホッパ
４０内整粒とは合流してサンプル導入パイプ２０，揚上
パイプ２２を経て上昇搬送されるが、このときには第１
サイクロン２３の昇降機枠３３は下降位置にあって整粒
サンプルは全て第２サイクロン３６に搬送され、これを
品位測定器５１に供給する。この品位測定器５１での形
質・品位が測定されると、整粒に混入する着色粒比率，
胴割れ粒比率が算出される。

【００２０】品位測定器５１を経た整粒は順次下方の集
合ホッパ５６に集められるが、この品位測定期間中、待
機ボックス５２，５２で待機している籾・屑粒サンプル
は各ボックス形成用の排出ゲートの開閉制御によって独
立的に下方のサンプルシール装置Ｃに流下し、個別に袋
詰めされるものである。サンプルシール装置Ｃでは整粒
の袋詰め行程が一番最後となり、ここには先の整粒重量
Ｗ_s／籾重量Ｗ_mの整粒歩留，整粒重量Ｗ_sと屑粒重量Ｗ_k
との比率，容積重，形質品位，を夫々個別データと共に
プリントアウトした伝票が封入される。

【００２１】上記のデータのうち、容積重と形質品位を
みれば玄米がいずれの等級に属するかの判定が容易に行
なえ、目視判定による誤差を解消しうるものである。

【００２２】

【発明の作用効果】サンプル籾を受けて脱ぷ処理及び粒
選別処理して得る整粒玄米を計量して整粒歩留を算出す
る整粒歩留検定装置Ａと、該整粒玄米の形質・品位を測
定する品位検定装置Ｂとを設け、籾サンプル，整粒サン
プル等の穀物サンプルを受けて上記脱ぷ処理，品位測定
処理に供給すべく搬送する穀物サンプル搬送装置であっ
て、穀物サンプルを気流搬送する搬送機構５を設け、こ
の搬送機構５に接続すべきサイクロン２３機枠３１にサ
イクロンホッパ部３４と迂回連通パイプ３５を併設した
昇降機枠３３を設け、この昇降機枠３３の昇降動作によ
ってこれらを上記搬送機構５の接続パイプ部と選択的に
接続すべく構成したもので、昇降機枠３３を昇降すると
サイクロンホッパ部３４に気流を案内したり、迂回連通
パイプ３５にこの気流を案内したりするものである。し
たがって、サイクロンホッパ部３４内周を流下しながら
穀物サンプルを分離して下方に案内し、あるいは全穀物
サンプルを迂回させて後続する搬送機構に排出すること
ができ、切替が簡素化でき、かつサンプルこぼれのない
確実な切替搬送ができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】装置全体の正面図である。

【図２】平面図である。

【図３】側断面図である。

【図４】サイクロンの正断面図である。

【図５】その側断面図である。

【図６】その平面図である。

【図７】計量ホッパ部の側断面図である。

【図８】その正面図である。

【図９】サンプル供給ホッパ部の側断面図である。

【図１０】その斜視図である。

【符号の説明】

Ａ…整粒歩留検定装置、Ｂ…品位検定装置、Ｃ…サンプ
ルシール装置、Ｄ…コントロール装置、１…機枠、２…
脱ぷ部、３，３…粒選別部、４…計量機構、５…サンプ
ル搬送機構、６ａ，６ｂ…サンプル供給ホッパ、７…分
配機構、８…傾斜案内シュート、９…計量ホッパ、１０
…排出ゲート、１１…計量器、１２…集合ホッパ、１３
…第２案内シュート、１４…集合ホッパ、１５…流下
筒、２０…サンプル導入パイプ、２１…ブロワ、２１ａ
…吐出口、２２…揚上パイプ、２３…第１サイクロン、
２４，２４…脱ぷロール、２５…切替シュート、２６，
２６…集合ホッパ、２７，２７…開閉シャッタ、２８…
均分案内体、２９，２９…傾斜案内板、３０…排塵胴、
３１…機枠部、３２…エアシリンダ機構、３３…昇降機
枠、３４…サイクロンホッパ部、３５…迂回連通パイ
プ、３６…第２サイクロン、３７…連通パイプ、３８…
供給シュート、４０…定量ホッパ、４１…払出部材、４
２…排出シャッタ、４３，４３…支持杆、４４…エアシ
リンダ機構、４５，４６…往復作動機構、４７…支軸、
４８，４９…モータ、５０…供給ホッパ、５１…品位測
定器、５２，５２…待機ボックス、５３…切替弁、５５
…一粒搬送機構、５６…集合ホッパ、５７…排出シャッ
タ、５９…排出パイプ、６０…操作部、６１…ＣＲＴ画
面、６２…制御部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉浦 直樹 香川県大川郡長尾町西877番地 讃光工業 株式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 サンプル籾を受けて脱ぷ処理及び粒選別
   処理して得る整粒玄米を計量して整粒歩留を算出する整
   粒歩留検定装置Ａと、該整粒玄米の形質・品位を測定す
   る品位検定装置Ｂとを設け、籾サンプル，整粒サンプル
   等の穀物サンプルを受けて上記脱ぷ処理，品位測定処理
   に供給すべく搬送する穀物サンプル搬送装置であって、
   穀物サンプルを気流搬送する搬送機構５を設け、この搬
   送機構５に接続すべきサイクロン２３機枠３１にサイク
   ロンホッパ部３４と迂回連通パイプ３５を併設した昇降
   機枠３３を設け、この昇降機枠３３の昇降動作によって
   これらを上記搬送機構５の接続パイプ部と選択的に接続
   すべく構成してなる穀物品質検定装置における穀物サン
   プル搬送装置。