JPH07190725A - 画像取り込み装置 - Google Patents
画像取り込み装置Info
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- JPH07190725A JPH07190725A JP5333663A JP33366393A JPH07190725A JP H07190725 A JPH07190725 A JP H07190725A JP 5333663 A JP5333663 A JP 5333663A JP 33366393 A JP33366393 A JP 33366393A JP H07190725 A JPH07190725 A JP H07190725A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 1
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Input (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】機械的移動量が少なく計測に時間を掛けずにQ
FPタイプのパッケージを用いたLSI等の外観検査を
高分解能、高精度に行うことができる画像取り込み装置
を提供する。 【構成】本発明の画像取り込み装置は、2個の平行に配
置されたラインセンサ7,8と、該センサが載置されセ
ンサの走査方向と垂直方向に移動可能なステージ9と、
画像取り込み対象物1の像を上記センサに結像させる光
学系6と、上記光学系に対向配置され上記像を所定角度
回転させ得る手段5と、上記ラインセンサ、ステージ、
回転手段の各駆動回路25と、画像メモリ24と、各駆
動回路を制御して、複数箇所の画像を画像メモリに取り
込む制御手段23とを備えており、上記2つのセンサと
回転手段5との組合せにより、対象物の複数箇所の画像
を時間を掛けずに高精度に取り込むことができる。
FPタイプのパッケージを用いたLSI等の外観検査を
高分解能、高精度に行うことができる画像取り込み装置
を提供する。 【構成】本発明の画像取り込み装置は、2個の平行に配
置されたラインセンサ7,8と、該センサが載置されセ
ンサの走査方向と垂直方向に移動可能なステージ9と、
画像取り込み対象物1の像を上記センサに結像させる光
学系6と、上記光学系に対向配置され上記像を所定角度
回転させ得る手段5と、上記ラインセンサ、ステージ、
回転手段の各駆動回路25と、画像メモリ24と、各駆
動回路を制御して、複数箇所の画像を画像メモリに取り
込む制御手段23とを備えており、上記2つのセンサと
回転手段5との組合せにより、対象物の複数箇所の画像
を時間を掛けずに高精度に取り込むことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画像取り込み装置に関
し、特にQFP(Quad Flat L-Leaded Package)タイプ
のパッケージを用いた集積回路(IC)や大規模集積回
路(LSI)の外観検査を高分解能、高精度に行なうこ
とができる画像取り込み装置に関する。
し、特にQFP(Quad Flat L-Leaded Package)タイプ
のパッケージを用いた集積回路(IC)や大規模集積回
路(LSI)の外観検査を高分解能、高精度に行なうこ
とができる画像取り込み装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、図4(a)に示すようなDIP
(Dual in Line Package)タイプのパッケージを用いた
ICのリード部の外観検査を高分解能、高精度に行なう
ための画像取り込み装置としては、ラインセンサカメラ
を用いたものが知られており、ラインセンサの走査方向
をリードの列方向に合わせ、走査方向に直交する方向に
ラインセンサカメラまたはDIPを機械的に移動しなが
ら画像の取り込みを行ない、画像処理してリードのピッ
チや浮き等の計測を行なっていた。この場合、DIPの
リード部は平行な2辺のみに設けられているため、リー
ド部の計測精度はラインセンサの画素数できまり、高画
素数のラインセンサを用いれば、高分解能、高精度の計
測が行なえる。
(Dual in Line Package)タイプのパッケージを用いた
ICのリード部の外観検査を高分解能、高精度に行なう
ための画像取り込み装置としては、ラインセンサカメラ
を用いたものが知られており、ラインセンサの走査方向
をリードの列方向に合わせ、走査方向に直交する方向に
ラインセンサカメラまたはDIPを機械的に移動しなが
ら画像の取り込みを行ない、画像処理してリードのピッ
チや浮き等の計測を行なっていた。この場合、DIPの
リード部は平行な2辺のみに設けられているため、リー
ド部の計測精度はラインセンサの画素数できまり、高画
素数のラインセンサを用いれば、高分解能、高精度の計
測が行なえる。
【0003】ところで、近年ICのLSI化に伴ってリ
ード数が大幅に増え、このため図4(b)に示すような
QFPタイプのパッケージが用いられるようになった
が、QFPのリード部の計測を上記ラインセンサカメラ
で行なう場合、図4(c)に示すように、QFPの1辺
のリード列(I)にラインセンサの走査方向を合わせ、
走査方向に直交する方向に機械的に移動(機械的走査)
しながら画像を取り込んでいた。このため、2000画
素のラインセンサを使用して、QFPリードの画像を各
方向2000分割の分解能、精度で取り込む場合、微小
ピッチで2000回の精度の良い移動と、ライン画像の
取り込みを行なう必要があった。
ード数が大幅に増え、このため図4(b)に示すような
QFPタイプのパッケージが用いられるようになった
が、QFPのリード部の計測を上記ラインセンサカメラ
で行なう場合、図4(c)に示すように、QFPの1辺
のリード列(I)にラインセンサの走査方向を合わせ、
走査方向に直交する方向に機械的に移動(機械的走査)
しながら画像を取り込んでいた。このため、2000画
素のラインセンサを使用して、QFPリードの画像を各
方向2000分割の分解能、精度で取り込む場合、微小
ピッチで2000回の精度の良い移動と、ライン画像の
取り込みを行なう必要があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の装
置では、ラインセンサに直角方向の計測精度は、機械的
移動の精度により決まるため、高精度な移動機構が要求
され、装置が高価になるという問題があった。また、Q
FPのリードの計測の場合、ラインセンサに直角方向の
リードの計測精度を上げるためには、図4(c)の斜線
部で示すように高精度走査が必要な領域が広く、この領
域全面に渡って微小ピッチでの機械的移動が必要であ
り、計測に時間が掛かるという問題もある。
置では、ラインセンサに直角方向の計測精度は、機械的
移動の精度により決まるため、高精度な移動機構が要求
され、装置が高価になるという問題があった。また、Q
FPのリードの計測の場合、ラインセンサに直角方向の
リードの計測精度を上げるためには、図4(c)の斜線
部で示すように高精度走査が必要な領域が広く、この領
域全面に渡って微小ピッチでの機械的移動が必要であ
り、計測に時間が掛かるという問題もある。
【0005】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
って、機械的移動量を少なくし、計測に時間を掛けず
に、QFPタイプのパッケージを用いたLSI等の外観
検査を高分解能、高精度に行なうことができる画像取り
込み装置を提供することを目的とする。
って、機械的移動量を少なくし、計測に時間を掛けず
に、QFPタイプのパッケージを用いたLSI等の外観
検査を高分解能、高精度に行なうことができる画像取り
込み装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の画像取り込み装置は、2個の平行に配置さ
れたラインセンサと、該センサが載置されセンサの走査
方向と垂直方向に移動可能なステージと、画像取り込み
対象物の像を上記センサに結像させる光学系と、上記光
学系に対向配置され上記像を所定角度回転させ得る手段
と、上記ラインセンサ、ステージ、回転手段の各駆動回
路と、画像メモリと、各駆動回路を制御して、複数箇所
の画像を画像メモリに取り込む制御手段とを備えたもの
である。
め、本発明の画像取り込み装置は、2個の平行に配置さ
れたラインセンサと、該センサが載置されセンサの走査
方向と垂直方向に移動可能なステージと、画像取り込み
対象物の像を上記センサに結像させる光学系と、上記光
学系に対向配置され上記像を所定角度回転させ得る手段
と、上記ラインセンサ、ステージ、回転手段の各駆動回
路と、画像メモリと、各駆動回路を制御して、複数箇所
の画像を画像メモリに取り込む制御手段とを備えたもの
である。
【0007】
【作用】本発明の画像取り込み装置においては、2個の
平行に配置されたラインセンサを備えたことにより、Q
FPのラインセンサに平行な2辺のリード部の像を上記
光学系により各ラインセンサに結像させれば、同時に2
箇所の精度の良い画像取り込みが行なえる。また、上記
像の回転手段によりQFPの像を90°回転させれば、
残る2辺のリード部の像をラインセンサに平行な方向に
でき、ラインセンサで取り込むことができる。従って、
QFPの4箇所のリード部の精度の良い画像取り込み
を、必要な部分のみの走査と、上記回転手段のみで行な
うことができる。
平行に配置されたラインセンサを備えたことにより、Q
FPのラインセンサに平行な2辺のリード部の像を上記
光学系により各ラインセンサに結像させれば、同時に2
箇所の精度の良い画像取り込みが行なえる。また、上記
像の回転手段によりQFPの像を90°回転させれば、
残る2辺のリード部の像をラインセンサに平行な方向に
でき、ラインセンサで取り込むことができる。従って、
QFPの4箇所のリード部の精度の良い画像取り込み
を、必要な部分のみの走査と、上記回転手段のみで行な
うことができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例の基づいて詳細
に説明する。図1は本発明の一実施例の説明図であり、
(a)は画像読取装置の構成の概要を示すブロック図、
(b)は撮像部の概略構成図、(c)は画像取り込み対
象物の載置部を照明光側から見た図、(c)は2個のラ
インセンサが載置されたステージを上から見た図であ
る。図1において、撮像部21は、2個の平行に配置さ
れたラインセンサ7,8と、該センサ7,8が載置され
センサの走査方向と垂直方向に移動可能なステージ9
と、該ステージ9を移動するためのモータ12と、QF
P1等の画像取り込み対象物が載置されるガラス板4
と、ガラス板4の周囲の四方に配置され、QFP1等の
対象物の4箇所の端面の像をそれぞれラインセンサ方向
に反射する第1,第2,第3,第4のミラー2,3,1
0,11と、QFP1等の対象物の像を上記センサ7,
8に結像させる光学系6と、上記結像光学系6に対向配
置され上記像を所定角度回転させる手段としてのイメー
ジローテータ5と、照明とを備えた構成となっている。
に説明する。図1は本発明の一実施例の説明図であり、
(a)は画像読取装置の構成の概要を示すブロック図、
(b)は撮像部の概略構成図、(c)は画像取り込み対
象物の載置部を照明光側から見た図、(c)は2個のラ
インセンサが載置されたステージを上から見た図であ
る。図1において、撮像部21は、2個の平行に配置さ
れたラインセンサ7,8と、該センサ7,8が載置され
センサの走査方向と垂直方向に移動可能なステージ9
と、該ステージ9を移動するためのモータ12と、QF
P1等の画像取り込み対象物が載置されるガラス板4
と、ガラス板4の周囲の四方に配置され、QFP1等の
対象物の4箇所の端面の像をそれぞれラインセンサ方向
に反射する第1,第2,第3,第4のミラー2,3,1
0,11と、QFP1等の対象物の像を上記センサ7,
8に結像させる光学系6と、上記結像光学系6に対向配
置され上記像を所定角度回転させる手段としてのイメー
ジローテータ5と、照明とを備えた構成となっている。
【0009】上記第1,第2,第3,第4のミラー2,
3,10,11は図1(c)のように正方形のガラス板
4の4辺に平行に配置され、QFP1はその4辺のリー
ド部が各ミラー面に対向するようにガラス板4上に載置
される。2個のラインセンサ7,8は周知のCCDライ
ンセンサ等からなり、図1(d)のようにステージ9上
に所定の距離を隔てて平行に載置され、図示の例では受
光部ライン(走査ライン)の方向がミラー2,3と平行
な方向となるようにセットされている。尚、ラインセン
サの分解能や精度は画素数できまるが、QFPは、例え
ば外形寸法が40×40mmでリード数304ピンのも
のは1辺当りのピン数が76ピンであり、リードピッチ
が約0.5mmであるから、1つのラインセンサで1辺
のリード列の像を取り込んでリードピッチやリードの浮
き(リードピッチよりかなり小さい)を精度良く計測す
る場合、検出精度は±20μm以下が必要であると考え
られる。従って、ラインセンサには2000画素以上の
画素数のものを用いるとよい。
3,10,11は図1(c)のように正方形のガラス板
4の4辺に平行に配置され、QFP1はその4辺のリー
ド部が各ミラー面に対向するようにガラス板4上に載置
される。2個のラインセンサ7,8は周知のCCDライ
ンセンサ等からなり、図1(d)のようにステージ9上
に所定の距離を隔てて平行に載置され、図示の例では受
光部ライン(走査ライン)の方向がミラー2,3と平行
な方向となるようにセットされている。尚、ラインセン
サの分解能や精度は画素数できまるが、QFPは、例え
ば外形寸法が40×40mmでリード数304ピンのも
のは1辺当りのピン数が76ピンであり、リードピッチ
が約0.5mmであるから、1つのラインセンサで1辺
のリード列の像を取り込んでリードピッチやリードの浮
き(リードピッチよりかなり小さい)を精度良く計測す
る場合、検出精度は±20μm以下が必要であると考え
られる。従って、ラインセンサには2000画素以上の
画素数のものを用いるとよい。
【0010】イメージローテータ5は、例えば、図2
(a)に示すように3面のミラーを組み合わせたもの
や、(b)に示すように(a)をプリズム化しさらに屋
根形プリズムを導入したもの等からなり、これらミラー
系やプリズムを回転機構(図示せず)により入射光軸を
中心に回転することにより透過像を回転することができ
る。従って、図1(b)のように、イメージローテータ
5をガラス板4と結像光学系6との間に配置することに
より、QFP1の像を回転することができる。尚、図2
(c)に示すダグタイププリズムもイメージローテータ
として用いることができる。結像光学系6は、複数のレ
ンズとアクチュエータとを組み合わせたもので、オート
フォーカス機能と変倍機能とを有し、QFP1からの像
を各ラインセンサ7,8に所定の範囲内の任意の拡大率
で結像する。従って、異なる大きさのQFP(外形寸法
で8×8〜55×55mmの範囲の種々の大きさのもの
がある)に対応することができる。すなわち、異なる大
きさのQFPの像を受光平面(2個のライセンサ7,8
の受光面を通る仮想的な平面)上にほぼ同じ大きさの像
として結像できる。また、要部のみ拡大して結像させる
こともできる。
(a)に示すように3面のミラーを組み合わせたもの
や、(b)に示すように(a)をプリズム化しさらに屋
根形プリズムを導入したもの等からなり、これらミラー
系やプリズムを回転機構(図示せず)により入射光軸を
中心に回転することにより透過像を回転することができ
る。従って、図1(b)のように、イメージローテータ
5をガラス板4と結像光学系6との間に配置することに
より、QFP1の像を回転することができる。尚、図2
(c)に示すダグタイププリズムもイメージローテータ
として用いることができる。結像光学系6は、複数のレ
ンズとアクチュエータとを組み合わせたもので、オート
フォーカス機能と変倍機能とを有し、QFP1からの像
を各ラインセンサ7,8に所定の範囲内の任意の拡大率
で結像する。従って、異なる大きさのQFP(外形寸法
で8×8〜55×55mmの範囲の種々の大きさのもの
がある)に対応することができる。すなわち、異なる大
きさのQFPの像を受光平面(2個のライセンサ7,8
の受光面を通る仮想的な平面)上にほぼ同じ大きさの像
として結像できる。また、要部のみ拡大して結像させる
こともできる。
【0011】さて、撮像部21の2個のラインセンサ
7,8からの画像信号は画像処理装置20の画像処理部
22を介して画像メモリ24に記憶される。また、画像
処理装置20内には、ステージ9を移動するためのモー
タ12やイメージローテータ5の回転機構、結像光学系
6の変倍機構やオートフォーカス機構等を駆動するため
の各駆動回路25と、画像処理部22や各駆動回路25
を制御する制御部20が備えられている。また、画像処
理装置20にはTVモニタ等の表示部26とキーボード
等の入力部27が接続されている。制御部23はマイク
ロコンピュータや制御回路、メモリ等からなり、画像処
理部22や各駆動回路25を制御して、検査対象物(Q
FP等)1の複数箇所の画像を画像メモリ24に取り込
み、取り込んだ画像を表示部26で表示させる。また、
取り込んだ画像をもとに所定の演算、比較処理等を行な
い結果を出力する。また、制御部23の動作や制御の変
更等は入力部27でのキー入力等により行なうことがで
きる。
7,8からの画像信号は画像処理装置20の画像処理部
22を介して画像メモリ24に記憶される。また、画像
処理装置20内には、ステージ9を移動するためのモー
タ12やイメージローテータ5の回転機構、結像光学系
6の変倍機構やオートフォーカス機構等を駆動するため
の各駆動回路25と、画像処理部22や各駆動回路25
を制御する制御部20が備えられている。また、画像処
理装置20にはTVモニタ等の表示部26とキーボード
等の入力部27が接続されている。制御部23はマイク
ロコンピュータや制御回路、メモリ等からなり、画像処
理部22や各駆動回路25を制御して、検査対象物(Q
FP等)1の複数箇所の画像を画像メモリ24に取り込
み、取り込んだ画像を表示部26で表示させる。また、
取り込んだ画像をもとに所定の演算、比較処理等を行な
い結果を出力する。また、制御部23の動作や制御の変
更等は入力部27でのキー入力等により行なうことがで
きる。
【0012】次に、図1に示す画像取り込み装置の動作
について図3を参照して説明する。まず図1に示すよう
に、検査対象となるQFP1をガラス台4上にセット
し、画像取り込み動作を開始する。尚、説明の都合上、
QFPの各リード部にI,II,III,IVの記号を付して
識別する。
について図3を参照して説明する。まず図1に示すよう
に、検査対象となるQFP1をガラス台4上にセット
し、画像取り込み動作を開始する。尚、説明の都合上、
QFPの各リード部にI,II,III,IVの記号を付して
識別する。
【0013】(1)QFPのI,III側画像の取り込み
(図3(1)). 1.まず、イメージローテータ5、移動ステージ9を初
期位置に移動する。ここで、初期位置とは、ラインセン
サ7は、ミラー2を経由したQFP1のリードのI側端
面の像が入る手前の位置、ラインセンサ8には、QFP
1のIII 側シルエット像のパッケージ端の像が入る位置
である。 2.図1(b)において、ステージ9を左方向へ移動し
ながら、両センサ7,8で取り込んだ画像を画像処理装
置20の画像メモリ24に取り込む。このステージ9の
移動と1ラインの取り込みの速度は同期して進行する。 3.ステージ9の移動によって、ラインセンサ7には、
ミラー2を経由したQFP1のリードのI側端面の像が
入る。ラインセンサ8には、QFP1のリードのIII 側
シルエット像が入る。 4.ステージ9をさらに左方向へ移動しながら、両セン
サ7,8で取り込んだ画像を画像処理装置20の画像メ
モリ24に順次取り込んで行く。そして、ラインセンサ
8に、ミラー3を経由したQFP1のリードのIII 側端
面像が入り、これを通過した時点でステージ9の移動を
停止する。
(図3(1)). 1.まず、イメージローテータ5、移動ステージ9を初
期位置に移動する。ここで、初期位置とは、ラインセン
サ7は、ミラー2を経由したQFP1のリードのI側端
面の像が入る手前の位置、ラインセンサ8には、QFP
1のIII 側シルエット像のパッケージ端の像が入る位置
である。 2.図1(b)において、ステージ9を左方向へ移動し
ながら、両センサ7,8で取り込んだ画像を画像処理装
置20の画像メモリ24に取り込む。このステージ9の
移動と1ラインの取り込みの速度は同期して進行する。 3.ステージ9の移動によって、ラインセンサ7には、
ミラー2を経由したQFP1のリードのI側端面の像が
入る。ラインセンサ8には、QFP1のリードのIII 側
シルエット像が入る。 4.ステージ9をさらに左方向へ移動しながら、両セン
サ7,8で取り込んだ画像を画像処理装置20の画像メ
モリ24に順次取り込んで行く。そして、ラインセンサ
8に、ミラー3を経由したQFP1のリードのIII 側端
面像が入り、これを通過した時点でステージ9の移動を
停止する。
【0014】(2)QFPのII,IV側画像の取り込み
(図3(2)). 5.イメージローテータ5を45°回転する。これによ
り、QFP1の像は受光平面上で90°回転し、QFP
像のII,IV 側のリード列像がラインセンサ7,8の走
査方向と平行となる。また、このときステージ9は上記
(1)の動作の停止位置にあるため、ラインセンサ7
は、QFP1のII側シルエット像のパッケージ端の像が
入る位置、ラインセンサ8は、ミラー10を経由したQ
FP1のリードの IV側端面の像が入る手前の位置とな
る。 6.ステージ9を右方向へ移動しながら、両センサ7,
8で取り込んだ画像を画像処理装置20の画像メモリ2
4に順次取り込んで行く。 7.ラインセンサ7に、ミラー10を経由したQFP1
のリードのII側端面像が入り、これを通過した時点でス
テージ9の移動を停止する。
(図3(2)). 5.イメージローテータ5を45°回転する。これによ
り、QFP1の像は受光平面上で90°回転し、QFP
像のII,IV 側のリード列像がラインセンサ7,8の走
査方向と平行となる。また、このときステージ9は上記
(1)の動作の停止位置にあるため、ラインセンサ7
は、QFP1のII側シルエット像のパッケージ端の像が
入る位置、ラインセンサ8は、ミラー10を経由したQ
FP1のリードの IV側端面の像が入る手前の位置とな
る。 6.ステージ9を右方向へ移動しながら、両センサ7,
8で取り込んだ画像を画像処理装置20の画像メモリ2
4に順次取り込んで行く。 7.ラインセンサ7に、ミラー10を経由したQFP1
のリードのII側端面像が入り、これを通過した時点でス
テージ9の移動を停止する。
【0015】(3)画像処理(図3(3)). 8.上記(1),(2)の動作によってQFP1の4箇
所のリード部I,II,III,IVの画像の取り込みが終了
し、画像処理装置20でQFPのリードのピッチ、浮き
等の演算が行なわれ、表示部26で画像と共に演算結果
が表示される。
所のリード部I,II,III,IVの画像の取り込みが終了
し、画像処理装置20でQFPのリードのピッチ、浮き
等の演算が行なわれ、表示部26で画像と共に演算結果
が表示される。
【0016】以上、本発明の画像取り込み装置の実施例
について説明したが、この装置によれば、2個のライン
センサ7,8とイメージローテータ5とを組み合わせた
ことにより、QFPの4箇所のリード部の精度の良い画
像取り込みが、必要な部分のみの走査と、イメージロー
テータ5の回転のみで済むため、短時間で行なえる。ま
た、一般的に精度がより要求されるリードのピッチ方向
の精度が、ラインセンサ7,8の素子精度で決まるた
め、高精度が得やすい(従来の方式は、ラインセンサの
走査方向と垂直な方向のピッチ精度は、機械的走査の精
度で決まっていた)。また、側面計測用のミラー2,
3,10,11を設けたことにより、計測時間の増加が
僅かで側面の画像も取り込める。
について説明したが、この装置によれば、2個のライン
センサ7,8とイメージローテータ5とを組み合わせた
ことにより、QFPの4箇所のリード部の精度の良い画
像取り込みが、必要な部分のみの走査と、イメージロー
テータ5の回転のみで済むため、短時間で行なえる。ま
た、一般的に精度がより要求されるリードのピッチ方向
の精度が、ラインセンサ7,8の素子精度で決まるた
め、高精度が得やすい(従来の方式は、ラインセンサの
走査方向と垂直な方向のピッチ精度は、機械的走査の精
度で決まっていた)。また、側面計測用のミラー2,
3,10,11を設けたことにより、計測時間の増加が
僅かで側面の画像も取り込める。
【0017】尚、図1の構成で、リードの浮きの計測の
必要が無い場合は、ミラー2,3,10,11は無くて
も良い。また、ミラー2,3,10,11を設けた場
合、必要ならば、ガラス板(あるいは高屈折率透明体)
4の厚さを適当に設定することで、ミラー像との光路長
を調整できる。また、必要に応じてミラーをハーフミラ
ーに変更して後方に光源を置き、リードの端面を照明す
ることもできる。また、イメージローテータ5を45
°、90°と回転すれば、受光平面上の像を90°、1
80°回転できるため、1個のラインセンサで4箇所の
画像取り込みを行なうことができ、装置を安価にでき
る。しかし、ラインセンサを1個にした場合、計測には
時間が倍以上掛かる。
必要が無い場合は、ミラー2,3,10,11は無くて
も良い。また、ミラー2,3,10,11を設けた場
合、必要ならば、ガラス板(あるいは高屈折率透明体)
4の厚さを適当に設定することで、ミラー像との光路長
を調整できる。また、必要に応じてミラーをハーフミラ
ーに変更して後方に光源を置き、リードの端面を照明す
ることもできる。また、イメージローテータ5を45
°、90°と回転すれば、受光平面上の像を90°、1
80°回転できるため、1個のラインセンサで4箇所の
画像取り込みを行なうことができ、装置を安価にでき
る。しかし、ラインセンサを1個にした場合、計測には
時間が倍以上掛かる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像取り
込み装置においては、2個の平行に配置されたラインセ
ンサを備えたことにより、QFPのラインセンサに平行
な2辺のリード部の像を上記光学系により各ラインセン
サに結像させれば、同時に2箇所の精度の良い画像取り
込みが行なえる。また、像の回転手段によりQFPの像
を90°回転させれば、残る2辺のリード部の像をライ
ンセンサに平行な方向にでき、ラインセンサで取り込む
ことができる。従って、QFPの4箇所のリード部の精
度の良い画像取り込みを、必要な部分のみの走査と、上
記回転手段のみで行なうことができ、従来の機械的走査
とライン走査を行なう装置に比べて高精度、高分解能な
画像取り込みを短時間で行なうことができる。また、一
般的に精度がより要求されるリードのピッチ方向の精度
が、ラインセンサの素子精度で決まるため、高精度(2
000画素で±20μm程度、4000画素で±10μ
m程度の検査精度が得られる)が得やすいというという
利点がある。従って、本発明によれば、機械的移動量を
少なくし、計測に時間を掛けずに、QFPタイプのパッ
ケージを用いたLSI等の外観検査を高分解能、高精度
に行なうことができる画像取り込み装置を提供すること
ができ、LSI等の外観検査の効率を良くすることがで
き、生産性の向上に寄与することができる。
込み装置においては、2個の平行に配置されたラインセ
ンサを備えたことにより、QFPのラインセンサに平行
な2辺のリード部の像を上記光学系により各ラインセン
サに結像させれば、同時に2箇所の精度の良い画像取り
込みが行なえる。また、像の回転手段によりQFPの像
を90°回転させれば、残る2辺のリード部の像をライ
ンセンサに平行な方向にでき、ラインセンサで取り込む
ことができる。従って、QFPの4箇所のリード部の精
度の良い画像取り込みを、必要な部分のみの走査と、上
記回転手段のみで行なうことができ、従来の機械的走査
とライン走査を行なう装置に比べて高精度、高分解能な
画像取り込みを短時間で行なうことができる。また、一
般的に精度がより要求されるリードのピッチ方向の精度
が、ラインセンサの素子精度で決まるため、高精度(2
000画素で±20μm程度、4000画素で±10μ
m程度の検査精度が得られる)が得やすいというという
利点がある。従って、本発明によれば、機械的移動量を
少なくし、計測に時間を掛けずに、QFPタイプのパッ
ケージを用いたLSI等の外観検査を高分解能、高精度
に行なうことができる画像取り込み装置を提供すること
ができ、LSI等の外観検査の効率を良くすることがで
き、生産性の向上に寄与することができる。
【図1】本発明による画像取り込み装置の実施例の説明
図である。
図である。
【図2】像回転手段の例を示すイメージローテータの説
明図である。
明図である。
【図3】図1に示す画像取り込み装置の動作を説明する
ための図である。
ための図である。
【図4】従来技術の説明図である。
1:画像取り込み対象物(QFP) 2,3,10,11:ミラー 4:ガラス板 5:イメージローテータ 6:結像光学系 7,8:ラインセンサ 9:移動用ステージ 12:ステージ移動用モータ 20:画像処理装置 21:撮像部 22:画像処理部 23:制御部 24:画像メモリ 25:各駆動回路 26:表示部 27:入力部
Claims (1)
- 【請求項1】2個の平行に配置されたラインセンサと、
該センサが載置されセンサの走査方向と垂直方向に移動
可能なステージと、画像取り込み対象物の像を上記セン
サに結像させる光学系と、上記光学系に対向配置され上
記像を所定角度回転させ得る手段と、上記ラインセン
サ、ステージ、回転手段の各駆動回路と、画像メモリ
と、各駆動回路を制御して、複数箇所の画像を画像メモ
リに取り込む制御手段とを備えたことを特徴とする画像
取り込み装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5333663A JPH07190725A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 画像取り込み装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5333663A JPH07190725A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 画像取り込み装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07190725A true JPH07190725A (ja) | 1995-07-28 |
Family
ID=18268583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5333663A Pending JPH07190725A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 画像取り込み装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07190725A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117091514A (zh) * | 2023-10-19 | 2023-11-21 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 双层浮动读数头的光栅位移测量装置、方法、介质及设备 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP5333663A patent/JPH07190725A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117091514A (zh) * | 2023-10-19 | 2023-11-21 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 双层浮动读数头的光栅位移测量装置、方法、介质及设备 |
| CN117091514B (zh) * | 2023-10-19 | 2023-12-19 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 双层浮动读数头的光栅位移测量装置、方法、介质及设备 |
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