JPH07190886A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
- Publication number
- JPH07190886A JPH07190886A JP12104594A JP12104594A JPH07190886A JP H07190886 A JPH07190886 A JP H07190886A JP 12104594 A JP12104594 A JP 12104594A JP 12104594 A JP12104594 A JP 12104594A JP H07190886 A JPH07190886 A JP H07190886A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- light
- frequency
- reflection
- movable mirror
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 長さ分解能及び反射損失測定確度を向上さ
せ、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査装
置を実現する。 【構成】 光の干渉を用いて検査対象である光ファイバ
の反射点の距離及び反射点からの反射量を求める光ファ
イバ検査装置において、出力光周波数を掃引可能な可変
波長光源と、この可変波長光源の出力光を可動ミラー及
び光ファイバに入射し、可動ミラー及び光ファイバから
の反射光を干渉させるマイケルソン干渉計と、このマイ
ケルソン干渉計の出力光を検出する光検出器と、可動ミ
ラーの位置を制御すると共に、光検出器の出力に基づき
反射点の距離及び反射量を求める演算制御手段とを設け
る。
せ、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査装
置を実現する。 【構成】 光の干渉を用いて検査対象である光ファイバ
の反射点の距離及び反射点からの反射量を求める光ファ
イバ検査装置において、出力光周波数を掃引可能な可変
波長光源と、この可変波長光源の出力光を可動ミラー及
び光ファイバに入射し、可動ミラー及び光ファイバから
の反射光を干渉させるマイケルソン干渉計と、このマイ
ケルソン干渉計の出力光を検出する光検出器と、可動ミ
ラーの位置を制御すると共に、光検出器の出力に基づき
反射点の距離及び反射量を求める演算制御手段とを設け
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光の干渉を用いた光フ
ァイバ検査装置に関し、特に長さ分解能及び反射損失測
定確度を改善した光ファイバ検査装置に関する。
ァイバ検査装置に関し、特に長さ分解能及び反射損失測
定確度を改善した光ファイバ検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光の干渉を用いた光ファイバ検査
装置（ＯＦＤＲ：Optical FrequencyDomain Reflectmet
er ）は検査対象である光ファイバの反射点の距離及び
前記反射点からの反射量を求めるものであり、マイケル
ソン干渉計を用いたものがある。図４はこのような従来
の光ファイバ検査装置の一例を示す構成ブロック図であ
る。
装置（ＯＦＤＲ：Optical FrequencyDomain Reflectmet
er ）は検査対象である光ファイバの反射点の距離及び
前記反射点からの反射量を求めるものであり、マイケル
ソン干渉計を用いたものがある。図４はこのような従来
の光ファイバ検査装置の一例を示す構成ブロック図であ
る。
【０００３】図４において１は可変波長光源、２はビー
ムスプリッタ、３はミラー、４はレンズ、５は検査対象
である光ファイバ、６は光検出器、７はＦＦＴ等の周波
数解析装置である。ここで、２〜４はマイケルソン干渉
計５０を構成している。
ムスプリッタ、３はミラー、４はレンズ、５は検査対象
である光ファイバ、６は光検出器、７はＦＦＴ等の周波
数解析装置である。ここで、２〜４はマイケルソン干渉
計５０を構成している。
【０００４】可変波長光源１の出力光はビームスプリッ
タ２に入射され、ビームスプリッタ２は前記入射光の一
部を反射してミラー３に入射し、残りの入射光を透過さ
せレンズ４を介して光ファイバ５に入射する。
タ２に入射され、ビームスプリッタ２は前記入射光の一
部を反射してミラー３に入射し、残りの入射光を透過さ
せレンズ４を介して光ファイバ５に入射する。
【０００５】ミラー３で反射された光は再びビームスプ
リッタ２に入射される。一方、光ファイバ５の反射点か
らの反射光もレンズ４を介してビームスプリッタ２に入
射され、ミラー３からの反射光と合波される。
リッタ２に入射される。一方、光ファイバ５の反射点か
らの反射光もレンズ４を介してビームスプリッタ２に入
射され、ミラー３からの反射光と合波される。
【０００６】合波された結果生じる干渉光は光検出器６
に入射され電気信号に変換される。光検出器６の出力は
周波数解析装置７に接続され、周波数解析装置７からの
制御信号が可変波長光源１に接続される。
に入射され電気信号に変換される。光検出器６の出力は
周波数解析装置７に接続され、周波数解析装置７からの
制御信号が可変波長光源１に接続される。
【０００７】ここで、図４に示す従来例の動作を説明す
る。可変波長光源１により出力光の波長を掃引し、ミラ
ー３の反射光及び光ファイバ５の反射点からの反射光を
干渉させる。この干渉光は光検出器６で検出され、周波
数解析装置７において解析される。
る。可変波長光源１により出力光の波長を掃引し、ミラ
ー３の反射光及び光ファイバ５の反射点からの反射光を
干渉させる。この干渉光は光検出器６で検出され、周波
数解析装置７において解析される。
【０００８】前記波長の掃引速度が光周波数換算で一定
の場合、ミラー３の反射光及び光ファイバ５の反射点か
らの反射光の干渉光はある光周波数で干渉強度のピーク
を持つ。この光周波数はビームスプリッタ２・ミラー３
間とビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との
距離の差に比例する。
の場合、ミラー３の反射光及び光ファイバ５の反射点か
らの反射光の干渉光はある光周波数で干渉強度のピーク
を持つ。この光周波数はビームスプリッタ２・ミラー３
間とビームスプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との
距離の差に比例する。
【０００９】即ち、ビームスプリッタ２とミラー３間の
距離は既知であるので、周波数解析装置７において周波
数解析することにより前記ビームスプリッタ２と光ファ
イバ５の反射点間の距離を求めることができる。
距離は既知であるので、周波数解析装置７において周波
数解析することにより前記ビームスプリッタ２と光ファ
イバ５の反射点間の距離を求めることができる。
【００１０】例えば、光検出器６で検出された周波数
を”ｆｍ”、ビームスプリッタ２・ミラー３間とビーム
スプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離の差
を”Ｌ”、距離差”Ｌ”内の光の波数を”Ｎ”、媒質の
屈折率を”ｎ”、真空中の光速を”ｃ0 ”、可変波長光
源１の出力光の周波数を”ｆ”とすれば、周波数”ｆ
ｍ”は、 ｆｍ＝ｄＮ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (1) となる。
を”ｆｍ”、ビームスプリッタ２・ミラー３間とビーム
スプリッタ２・光ファイバ５の反射点間との距離の差
を”Ｌ”、距離差”Ｌ”内の光の波数を”Ｎ”、媒質の
屈折率を”ｎ”、真空中の光速を”ｃ0 ”、可変波長光
源１の出力光の周波数を”ｆ”とすれば、周波数”ｆ
ｍ”は、 ｆｍ＝ｄＮ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (1) となる。
【００１１】式（１）を距離差”Ｌ”に関して変形すれ
ば、 Ｌ＝ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (2) となる。
ば、 Ｌ＝ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (2) となる。
【００１２】式（２）において”ｎ”及び”ｃ0 ”は定
数であり、波長の掃引が光周波数換算で一定であるの
で”ｄｆ／ｄｔ”も一定となる。従って、光検出器６で
検出された周波数を”ｆｍ”から距離差”Ｌ”を特定す
ることが可能となる。
数であり、波長の掃引が光周波数換算で一定であるの
で”ｄｆ／ｄｔ”も一定となる。従って、光検出器６で
検出された周波数を”ｆｍ”から距離差”Ｌ”を特定す
ることが可能となる。
【００１３】さらに、前述のようにビームスプリッタ２
とミラー３間の距離は既知であるので、ビームスプリッ
タ２と光ファイバ５の反射点間の距離を求めることがで
きる。
とミラー３間の距離は既知であるので、ビームスプリッ
タ２と光ファイバ５の反射点間の距離を求めることがで
きる。
【００１４】ここで、図５は従来例による測定例を示す
特性曲線図であり、光ファイバ５として３０ｍ、２０ｃ
ｍ及び６０ｃｍの光ファイバを接続し、各接続点からの
反射を測定したものである。図５中”イ”、”ロ”及
び”ハ”は各接続点からの反射を示している。
特性曲線図であり、光ファイバ５として３０ｍ、２０ｃ
ｍ及び６０ｃｍの光ファイバを接続し、各接続点からの
反射を測定したものである。図５中”イ”、”ロ”及
び”ハ”は各接続点からの反射を示している。
【００１５】また、図５に示す測定の掃引条件は、 ｄｆ／ｄｔ＝７１ＧＨｚ／ｓ ＝２．２７ＧＨｚ／３２ｍｓ (3) である。
【００１６】縦軸である干渉強度は可変波長光源１のコ
ヒーレント長当たり”−４．３ｄＢ”の減衰があるの
で、前記コヒーレント長が長い、言い換えれば可変波長
光源１ののスペクトル線幅が狭いほど長距離な測定が可
能となる。
ヒーレント長当たり”−４．３ｄＢ”の減衰があるの
で、前記コヒーレント長が長い、言い換えれば可変波長
光源１ののスペクトル線幅が狭いほど長距離な測定が可
能となる。
【００１７】また、長さの分解能”ΔＬ”は式（２）か
ら、 ΔＬ＝Δｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (4) となる。
ら、 ΔＬ＝Δｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (4) となる。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＦＦＴ等によ
り周波数成分を分析する場合、式（４）における”Δｆ
ｍ”はデータ時間幅で決まり、”ｎ”及び”ｃ0 ”は一
定であるので、長さ分解能”ΔＬ”を向上させるために
は”ｄｆ”を大きくしなければならない。
り周波数成分を分析する場合、式（４）における”Δｆ
ｍ”はデータ時間幅で決まり、”ｎ”及び”ｃ0 ”は一
定であるので、長さ分解能”ΔＬ”を向上させるために
は”ｄｆ”を大きくしなければならない。
【００１９】ここで、”ｄｆ”を大きくすることは光周
波数の掃引幅を大きくすることに対応する。この場合、
掃引レート”ｄｆ／ｄｔ”が線形または一定ではなくな
ってしまい、”ｄｆ／ｄｔ”を一定に維持することが困
難であるため長さ分解能の向上は困難になる。
波数の掃引幅を大きくすることに対応する。この場合、
掃引レート”ｄｆ／ｄｔ”が線形または一定ではなくな
ってしまい、”ｄｆ／ｄｔ”を一定に維持することが困
難であるため長さ分解能の向上は困難になる。
【００２０】また、ＦＦＴでは干渉光の周波数とＦＦＴ
での解析周波数が一致しないと、解析されたスペクトル
が劣化して十分な分解能が得られない場合がある。図６
〜図９はこのような具体例を示す特性曲線図である。
での解析周波数が一致しないと、解析されたスペクトル
が劣化して十分な分解能が得られない場合がある。図６
〜図９はこのような具体例を示す特性曲線図である。
【００２１】図６は干渉光周波数と解析周波数とが一致
している場合、図７は干渉光周波数と解析周波数とが周
波数分解能の１／４だけずれている場合、図８は干渉光
周波数と解析周波数とが周波数分解能の１／２だけずれ
ている場合、図９は図６〜図８を重ね合わせた場合をそ
れぞれ示している。
している場合、図７は干渉光周波数と解析周波数とが周
波数分解能の１／４だけずれている場合、図８は干渉光
周波数と解析周波数とが周波数分解能の１／２だけずれ
ている場合、図９は図６〜図８を重ね合わせた場合をそ
れぞれ示している。
【００２２】干渉光周波数と解析周波数とがずれるとス
ペクトルが広がり長さ分解能が低下し、また、ピーク値
が１ｄＢ以上変化していまい反射損失測定確度が低下し
てしまう。
ペクトルが広がり長さ分解能が低下し、また、ピーク値
が１ｄＢ以上変化していまい反射損失測定確度が低下し
てしまう。
【００２３】また、検査対象である光ファイバ５に複数
の反射点が存在する場合には、各反射点における反射光
が互いに干渉して、差周波数に相当するゴーストが検出
される恐れがある。
の反射点が存在する場合には、各反射点における反射光
が互いに干渉して、差周波数に相当するゴーストが検出
される恐れがある。
【００２４】例えば、反射点が”Ｌ１”及び”Ｌ２”の
２箇所であれば、２つの周波数”ｆ１”及び”ｆ２”が
演算制御手段５１により検出され、さらに”ｆ１−ｆ
２”に相当するゴーストも同時に検出される。
２箇所であれば、２つの周波数”ｆ１”及び”ｆ２”が
演算制御手段５１により検出され、さらに”ｆ１−ｆ
２”に相当するゴーストも同時に検出される。
【００２５】演算制御手段５１では周波数”ｆ１”及
び”ｆ２”と周波数”ｆ１−ｆ２”の違いを識別するこ
とはできないので、あたかも”Ｌ１−Ｌ２”の位置に反
射点が存在するものと観測される恐れがある。従って本
発明の目的は、長さ分解能及び反射損失測定確度を向上
させ、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査
装置を実現することにある。
び”ｆ２”と周波数”ｆ１−ｆ２”の違いを識別するこ
とはできないので、あたかも”Ｌ１−Ｌ２”の位置に反
射点が存在するものと観測される恐れがある。従って本
発明の目的は、長さ分解能及び反射損失測定確度を向上
させ、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査
装置を実現することにある。
【００２６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明では、光の干渉を用いて検査対象であ
る光ファイバの反射点の距離及び前記反射点からの反射
量を求める光ファイバ検査装置において、出力光周波数
を掃引可能な可変波長光源と、この可変波長光源の出力
光を可動ミラー及び前記光ファイバに入射し、前記可動
ミラー及び前記光ファイバからの反射光を干渉させるマ
イケルソン干渉計と、このマイケルソン干渉計の出力光
を検出する光検出器と、前記可動ミラーの位置を制御す
ると共に、前記光検出器の出力に基づき前記反射点の前
記距離及び前記反射量を求める演算制御手段とを備えた
ことを特徴とするものである。
るために、本発明では、光の干渉を用いて検査対象であ
る光ファイバの反射点の距離及び前記反射点からの反射
量を求める光ファイバ検査装置において、出力光周波数
を掃引可能な可変波長光源と、この可変波長光源の出力
光を可動ミラー及び前記光ファイバに入射し、前記可動
ミラー及び前記光ファイバからの反射光を干渉させるマ
イケルソン干渉計と、このマイケルソン干渉計の出力光
を検出する光検出器と、前記可動ミラーの位置を制御す
ると共に、前記光検出器の出力に基づき前記反射点の前
記距離及び前記反射量を求める演算制御手段とを備えた
ことを特徴とするものである。
【００２７】
【作用】参照光の光路を変化させて干渉光を測定し、測
定結果を重ね合わせることにより、長さ分解能及び反射
損失測定確度が向上する。参照光の光路を変化させて干
渉光を測定し、この際の周波数シフトの有無を検出する
ことにより、ゴーストを認識することができる。
定結果を重ね合わせることにより、長さ分解能及び反射
損失測定確度が向上する。参照光の光路を変化させて干
渉光を測定し、この際の周波数シフトの有無を検出する
ことにより、ゴーストを認識することができる。
【００２８】
【実施例】以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成ブロック図である。ここで、１，２及び４〜７は
図４と同一符号を付してある。図１において３ａは可動
ミラー、８は制御装置である。
図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を示
す構成ブロック図である。ここで、１，２及び４〜７は
図４と同一符号を付してある。図１において３ａは可動
ミラー、８は制御装置である。
【００２９】また、２，３ａ及び４はマイケルソン干渉
計５０ａを、７及び８は演算制御手段５１をそれぞれ構
成している。
計５０ａを、７及び８は演算制御手段５１をそれぞれ構
成している。
【００３０】可変波長光源１の出力光はビームスプリッ
タ２に入射される。ビームスプリッタ２は前記入射光の
一部を反射して可動ミラー３ａに入射し、残りの入射光
を透過させレンズ４を介して光ファイバ５に入射する。
タ２に入射される。ビームスプリッタ２は前記入射光の
一部を反射して可動ミラー３ａに入射し、残りの入射光
を透過させレンズ４を介して光ファイバ５に入射する。
【００３１】可動ミラー３ａで反射された光は再びビー
ムスプリッタ２に入射される。一方、光ファイバ５の反
射点からの反射光もレンズ４を介してビームスプリッタ
２に入射され、可動ミラー３ａからの反射光と合波され
る。
ムスプリッタ２に入射される。一方、光ファイバ５の反
射点からの反射光もレンズ４を介してビームスプリッタ
２に入射され、可動ミラー３ａからの反射光と合波され
る。
【００３２】合波された結果生じる干渉光は光検出器６
に入射され電気信号に変換される。光検出器６の出力は
周波数解析装置７に接続され、周波数解析装置７からの
制御信号が可変波長光源１に接続される。
に入射され電気信号に変換される。光検出器６の出力は
周波数解析装置７に接続され、周波数解析装置７からの
制御信号が可変波長光源１に接続される。
【００３３】また、周波数解析装置７の出力は制御装置
８に接続され、制御装置８の制御信号が可動ミラー３ａ
に接続される。
８に接続され、制御装置８の制御信号が可動ミラー３ａ
に接続される。
【００３４】ここで、図１に示す実施例の動作を説明す
る。基本的動作は図４に示す従来例と同様であり、異な
る点は制御装置８に対して周波数解析装置７からのスペ
クトル及び可動ミラー３ａの位置情報が与えられ、制御
装置８はこの位置情報に基づき可動ミラー３ａの位置を
制御する点である。
る。基本的動作は図４に示す従来例と同様であり、異な
る点は制御装置８に対して周波数解析装置７からのスペ
クトル及び可動ミラー３ａの位置情報が与えられ、制御
装置８はこの位置情報に基づき可動ミラー３ａの位置を
制御する点である。
【００３５】演算制御手段５１は可動ミラー３ａにより
参照光の光路を”Ｌ3a”だけ変化させ、干渉光を測定し
てスペクトルを求め、距離差”Ｌ”に対する干渉強度を
表示する。
参照光の光路を”Ｌ3a”だけ変化させ、干渉光を測定し
てスペクトルを求め、距離差”Ｌ”に対する干渉強度を
表示する。
【００３６】また、可動ミラー３ａにより参照光の光路
を”Ｌ3a”だけ変化させると式（２）は、 Ｌ＝Ｌ3a＋ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (5) と変形される。この”Ｌ3a”は長さ分解能”ΔＬ”の範
囲で変化させられる。
を”Ｌ3a”だけ変化させると式（２）は、 Ｌ＝Ｌ3a＋ｆｍ／{(2・ｎ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ} (5) と変形される。この”Ｌ3a”は長さ分解能”ΔＬ”の範
囲で変化させられる。
【００３７】さらに、演算制御手段５１での処理をフロ
ーチャート用いて説明する。図２は図１に示す実施例の
演算制御手段５１での処理を示すフローチャートであ
る。また、可動ミラー３ａにより参照光の光路”Ｌ3a”
を”ΔＬ／ｋ”（ｋは整数。）ずつ変化させるものとし
ている。
ーチャート用いて説明する。図２は図１に示す実施例の
演算制御手段５１での処理を示すフローチャートであ
る。また、可動ミラー３ａにより参照光の光路”Ｌ3a”
を”ΔＬ／ｋ”（ｋは整数。）ずつ変化させるものとし
ている。
【００３８】先ず、（ａ）において初期化等を行い、
（ｂ）において干渉光を測定する。（ｃ）において周波
数解析装置７により周波数スペクトルを求める。（ｄ）
及び（ｅ）において可動ミラー３ａにより参照光の光路
を”ΔＬ／ｋ”変化させ、移動量が”ΔＬ”以下であれ
ば（ｂ）及び（ｃ）を繰り返す。
（ｂ）において干渉光を測定する。（ｃ）において周波
数解析装置７により周波数スペクトルを求める。（ｄ）
及び（ｅ）において可動ミラー３ａにより参照光の光路
を”ΔＬ／ｋ”変化させ、移動量が”ΔＬ”以下であれ
ば（ｂ）及び（ｃ）を繰り返す。
【００３９】次に、（ｆ）において式（５）を用いて距
離差”Ｌ”を求める。（ｇ）において干渉強度を縦軸、
距離差”Ｌ”を横軸としてプロットする。（ｈ）及び
（ｉ）において式（５）中”Ｌ3a”の値を”ΔＬ／ｋ”
変化させ、変化後の値が”ΔＬ”以下であれば（ｆ）及
び（ｇ）を繰り返す。
離差”Ｌ”を求める。（ｇ）において干渉強度を縦軸、
距離差”Ｌ”を横軸としてプロットする。（ｈ）及び
（ｉ）において式（５）中”Ｌ3a”の値を”ΔＬ／ｋ”
変化させ、変化後の値が”ΔＬ”以下であれば（ｆ）及
び（ｇ）を繰り返す。
【００４０】また、”Ｌ3a”の値を”ΔＬ”だけ変化さ
せた後は、（ｊ）において式（５）中”ｆｍ”を”Δｆ
ｍ”変化させ、変化後の値がｆｍの最大値以下であれば
（ｆ）〜（ｉ）を繰り返す。
せた後は、（ｊ）において式（５）中”ｆｍ”を”Δｆ
ｍ”変化させ、変化後の値がｆｍの最大値以下であれば
（ｆ）〜（ｉ）を繰り返す。
【００４１】図３は図２に示すフローチャートにより求
めた距離差”Ｌ”に対する干渉強度の特性を示す特性曲
線図である。図３から分かるようにスペクトルが狭くな
り長さ分解能が向上し、ピーク値も大きくなり反射損失
測定確度が向上する。
めた距離差”Ｌ”に対する干渉強度の特性を示す特性曲
線図である。図３から分かるようにスペクトルが狭くな
り長さ分解能が向上し、ピーク値も大きくなり反射損失
測定確度が向上する。
【００４２】この結果、参照光の光路を変化させて干渉
光を測定し、測定結果を重ね合わせることにより、長さ
分解能及び反射損失測定確度が向上する。
光を測定し、測定結果を重ね合わせることにより、長さ
分解能及び反射損失測定確度が向上する。
【００４３】また、参照光の光路を変化させることによ
って干渉のピークが裾周辺が凹凸になってしまうので、
干渉のピークを中心に”２ΔＬ”程度の範囲でのみ参照
光の光路を変化させてその測定結果を重ね合わせた方が
良い。
って干渉のピークが裾周辺が凹凸になってしまうので、
干渉のピークを中心に”２ΔＬ”程度の範囲でのみ参照
光の光路を変化させてその測定結果を重ね合わせた方が
良い。
【００４４】また、ゴーストを認識する方法について説
明する。ここで、可動ミラー３ａを距離”Ｄ”の位置に
して通常の測定を行う。従来例の条件であれば周波数”
ｆ１”、”ｆ２”及び”ｆ１−ｆ２”が演算制御手段５
１において検出される。
明する。ここで、可動ミラー３ａを距離”Ｄ”の位置に
して通常の測定を行う。従来例の条件であれば周波数”
ｆ１”、”ｆ２”及び”ｆ１−ｆ２”が演算制御手段５
１において検出される。
【００４５】この周波数”ｆ１”及び”ｆ２”は式
（１）より、 ｆ１＝(2・ｎ・Ｌ１／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (6) ｆ２＝(2・ｎ・Ｌ２／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (7) となる。
（１）より、 ｆ１＝(2・ｎ・Ｌ１／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (6) ｆ２＝(2・ｎ・Ｌ２／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (7) となる。
【００４６】次に、可動ミラー３ａを距離”ｄ”だけ移
動して再び測定すると、 ｆ１’＝{2・ｎ・(Ｌ１＋ｄ)／ｃ0}・ｄｆ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ１／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ ＋(2・ｎ・ｄ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (8) ｆ２’＝{2・ｎ・(Ｌ２＋ｄ)／ｃ0}・ｄｆ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ２／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ ＋(2・ｎ・ｄ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (9)が検出
される。
動して再び測定すると、 ｆ１’＝{2・ｎ・(Ｌ１＋ｄ)／ｃ0}・ｄｆ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ１／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ ＋(2・ｎ・ｄ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (8) ｆ２’＝{2・ｎ・(Ｌ２＋ｄ)／ｃ0}・ｄｆ／ｄｔ ＝(2・ｎ・Ｌ２／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ ＋(2・ｎ・ｄ／ｃ0)・ｄｆ／ｄｔ (9)が検出
される。
【００４７】式（８）及び式（９）の第２項をそれぞ
れ”ｆ０”とすれば、演算制御手段５１において検出さ
れる周波数は、 ｆ１’＝ｆ１＋ｆ０ (10) ｆ２’＝ｆ２＋ｆ０ (11) となる。
れ”ｆ０”とすれば、演算制御手段５１において検出さ
れる周波数は、 ｆ１’＝ｆ１＋ｆ０ (10) ｆ２’＝ｆ２＋ｆ０ (11) となる。
【００４８】この時、前述と同様に周波数”ｆ１’”
と”ｆ２’”とが干渉して生じるゴースト”ｆ１’−ｆ
２’”は、 ｆ１’−ｆ２＝(ｆ１＋ｆ０)−(ｆ２＋ｆ０) ＝ｆ１−ｆ２ (12) となり、移動ミラー３ａを距離”ｄ”だけ移動させた影
響を受けないことになる。
と”ｆ２’”とが干渉して生じるゴースト”ｆ１’−ｆ
２’”は、 ｆ１’−ｆ２＝(ｆ１＋ｆ０)−(ｆ２＋ｆ０) ＝ｆ１−ｆ２ (12) となり、移動ミラー３ａを距離”ｄ”だけ移動させた影
響を受けないことになる。
【００４９】この結果、演算制御手段５１は測定位置か
ら移動ミラー３ａを距離”ｄ”だけ移動させて、周波数
のシフトが生じなかったものはゴーストであると判断す
ることが可能になる。従って、演算制御手段５１は表示
を制御してこのゴーストの表示を削除したり、反射点か
らの反射光とは区別して表示させることが可能になる。
ら移動ミラー３ａを距離”ｄ”だけ移動させて、周波数
のシフトが生じなかったものはゴーストであると判断す
ることが可能になる。従って、演算制御手段５１は表示
を制御してこのゴーストの表示を削除したり、反射点か
らの反射光とは区別して表示させることが可能になる。
【００５０】また、可動ミラー３ａを用いずに参照光が
戻らない状態にしてゴーストを識別することも可能であ
る。即ち、この状態で検出される周波数は反射点での反
射光相互の干渉によるゴーストのみであるので、演算制
御手段５１はこの周波数を認識して処理することが可能
になる。
戻らない状態にしてゴーストを識別することも可能であ
る。即ち、この状態で検出される周波数は反射点での反
射光相互の干渉によるゴーストのみであるので、演算制
御手段５１はこの周波数を認識して処理することが可能
になる。
【００５１】なお、図１に示す実施例において検査対象
として光ファイバ５を用いているがこれに限る分けでは
ない。
として光ファイバ５を用いているがこれに限る分けでは
ない。
【００５２】また、ゴーストの認識に関しては２点の反
射点で説明しているが３点以上であっても良い。
射点で説明しているが３点以上であっても良い。
【００５３】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。参照光の光路を
変化させて干渉光を測定し、測定結果を重ね合わせるこ
とにより、長さ分解能及び反射損失測定確度を向上させ
ることが可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
本発明によれば次のような効果がある。参照光の光路を
変化させて干渉光を測定し、測定結果を重ね合わせるこ
とにより、長さ分解能及び反射損失測定確度を向上させ
ることが可能な光ファイバ検査装置が実現できる。
【００５４】また、参照光の光路を変化させて干渉光を
測定し、この際の周波数シフトの有無を検出することに
より、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査
装置が実現できる。
測定し、この際の周波数シフトの有無を検出することに
より、ゴーストを認識することが可能な光ファイバ検査
装置が実現できる。
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。
示す構成ブロック図である。
【図２】実施例の演算制御手段での処理を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】干渉強度の特性を示す特性曲線図である。
【図４】従来の光ファイバ検査装置の一例を示す構成ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図５】従来例による測定例を示す特性曲線図である。
【図６】具体例を示す特性曲線図である。
【図７】具体例を示す特性曲線図である。
【図８】具体例を示す特性曲線図である。
【図９】具体例を示す特性曲線図である。
【００００】１ 可変波長光源 ２ ビームスプリッタ ３ ミラー ３ａ 可動ミラー ４ レンズ ５ 光ファイバ ６ 光検出器 ７ 周波数解析装置 ８ 制御装置 ５０，５０ａ マイケルソン干渉計 ５１ 演算制御手段
フロントページの続き (72)発明者 在原 守 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】光の干渉を用いて検査対象である光ファイ
バの反射点の距離及び前記反射点からの反射量を求める
光ファイバ検査装置において、 出力光周波数を掃引可能な可変波長光源と、 この可変波長光源の出力光を可動ミラー及び前記光ファ
イバに入射し、前記可動ミラー及び前記光ファイバから
の反射光を干渉させるマイケルソン干渉計と、 このマイケルソン干渉計の出力光を検出する光検出器
と、 前記可動ミラーの位置を制御すると共に、前記光検出器
の出力に基づき前記反射点の前記距離及び前記反射量を
求める演算制御手段とを備えたことを特徴とする光ファ
イバ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12104594A JP3223942B2 (ja) | 1993-11-18 | 1994-06-02 | 光ファイバ検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-289158 | 1993-11-18 | ||
| JP28915893 | 1993-11-18 | ||
| JP12104594A JP3223942B2 (ja) | 1993-11-18 | 1994-06-02 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07190886A true JPH07190886A (ja) | 1995-07-28 |
| JP3223942B2 JP3223942B2 (ja) | 2001-10-29 |
Family
ID=26458510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12104594A Expired - Fee Related JP3223942B2 (ja) | 1993-11-18 | 1994-06-02 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3223942B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0754939A4 (en) * | 1995-02-02 | 1999-01-27 | Yokogawa Electric Corp | Optical fibre detecting device |
| KR100406862B1 (ko) * | 1996-07-30 | 2004-01-24 | 삼성전자주식회사 | 광섬유반사체의반사율측정장치및측정방법 |
| CN108613794A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-10-02 | 安徽光纤光缆传输技术研究所(中国电子科技集团公司第八研究所) | 光缆跳线头内部光纤断点的光谱测量装置和方法 |
| WO2019004108A1 (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| WO2019194188A1 (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-10 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2019184279A (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-24 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
-
1994
- 1994-06-02 JP JP12104594A patent/JP3223942B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0754939A4 (en) * | 1995-02-02 | 1999-01-27 | Yokogawa Electric Corp | Optical fibre detecting device |
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| WO2019004108A1 (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2019007922A (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| WO2019194188A1 (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-10 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| JP2019184279A (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-24 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
| CN111201427A (zh) * | 2018-04-03 | 2020-05-26 | 株式会社奥谱通 | 反射光测定装置 |
| US11016036B2 (en) | 2018-04-03 | 2021-05-25 | Opt Gate Co., Ltd. | Reflected light measurement device |
| CN108613794A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-10-02 | 安徽光纤光缆传输技术研究所(中国电子科技集团公司第八研究所) | 光缆跳线头内部光纤断点的光谱测量装置和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3223942B2 (ja) | 2001-10-29 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |