JPH0719200Y2 - 部品搭載装置 - Google Patents

部品搭載装置

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JPH0719200Y2
JPH0719200Y2 JP1989002928U JP292889U JPH0719200Y2 JP H0719200 Y2 JPH0719200 Y2 JP H0719200Y2 JP 1989002928 U JP1989002928 U JP 1989002928U JP 292889 U JP292889 U JP 292889U JP H0719200 Y2 JPH0719200 Y2 JP H0719200Y2
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JP
Japan
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suction
time
component
vacuum
suction nozzle
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP1989002928U
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JPH0295297U (ja
Inventor
敏彦 花山
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Casio Computer Co Ltd
Yamagata Casio Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Yamagata Casio Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 [考案の技術分野] この考案は部品搭載装置に関する。
[従来技術とその問題点] 従来、プリント基板にチップ抵抗、チップコンデンサ、
ICチップ等のチップ部品を自動的に搭載する部品搭載装
置が知られている。この部品搭載装置は、例えば部品供
給カセットに巻かれた部品キャリア・テープからチップ
部品を真空吸着ノズルにより吸着して移送し、プリント
基板の所定位置に搭載するものである。
そして、上記部品搭載装置が部品を吸着する場合は、真
空吸着ノズルを部品に接触してから真空吸着を開始し、
真空吸着ノズルの真空度が所定レベルまで上昇する所定
時間後に真空吸着ノズルを引上げてチップ部品をピック
アップするものである。
この吸着時間は、真空吸着ノズル内の真空度がチップ部
品を吸着できる所定レベルまで上昇する時間であり、部
品供給カセット毎のテーピング状態、エア圧力等の経時
変化、チップ部品の形状、チップ部品の表面状態等によ
って変動する。従って、従来は最も吸着時間が長いチッ
プ部品に合せて他の部品の吸着時間を設定していた。
このため、すべてのチップ部品が最も長い吸着時間で吸
着動作されるので、チップ部品毎に供給時間が異なるに
もかかわらず、必要以上に吸着時間が長くなり全体の部
品搭載時間を短縮できないという不都合があった。
[考案の目的] この考案は上記事情に鑑みてなされたもので、部品の吸
着ミスを増やすことなく、部品の吸着に必要な最適時間
で部品を吸着することにより、部品搭載に必要な時間を
短縮できる部品搭載装置を提供することを目的とする。
[考案の要点] この考案は各部品毎に吸着時間を設定し、真空吸着ノズ
ルにより部品を吸着したときの吸着ミスを検出し、吸着
ミス率が下限値以下であれば吸着時間設定手段の吸着時
間を短く設定させ、吸着ミス率が上限値以上であれば、
吸着時間設定手段の吸着時間を長く設定させるようにし
たことを特徴とする。
[実施例] 以下、この考案の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、この考案を適用した部品搭載装置の回路構成
を示すブロック図である。同図において、1はチップ部
品を吸着するための真空吸着ノズルである。この真空吸
着ノズル1は、吸着ノズル駆動手段2により駆動され
る。この吸着ノズル駆動手段2は、真空吸着ノズル1を
X軸、Y軸、Z軸の3方向に移動させる移動機構を含む
ものである。
3は、吸着時間設定手段である。この吸着時間設定手段
3は、例えばRAM等の半導体メモリにより構成され、真
空吸着ノズル1が上記部品を吸着するために上記部品に
接触してから上記部品を引上げるまでの吸着時間を各部
品毎に記憶設定するものである。この吸着時間設定手段
3は、部品種別データと、これに対応する吸着時間デー
タとを一組として各部品毎に記憶設定する。そして、吸
着時間設定手段3の吸着時間データは吸着ノズル駆動手
段2に出力される。
演算制御手段4は、吸着時間設定手段3に対して部品種
別データを指定する部品指定信号を出力し、各部品に応
じた吸着時間データを吸着ノズル駆動手段2に出力させ
る。また、演算制御手段4は真空制御手段5に真空発生
信号を出力する。
真空制御手段5は、演算制御手段4から出力される真空
発生信号に基づいて真空発生手段6を制御する。
真空発生手段6は、真空吸着ノズル1に連結されたエア
回路1aを吸引して真空を発生し、真空吸着ノズル1内を
真空にするものである。
また、エア回路1aには吸着ミス検出手段7が連結されて
いる。この吸着ミス検出手段7は、吸着ノズル駆動手段
2により駆動された真空吸着ノズル1が部品に接触し、
引上げられるときの真空度により吸着ミスを検出するも
のである。すなわち、吸着ミス検出手段7は吸着時間の
終了時における真空度により、吸着ミスを検出するもの
である。吸着ミス検出手段7の検出信号は吸着ミスカウ
ント手段8に出力される。
吸着ミスカウント手段8は、レジスタxを内蔵しており
吸着ミス検出手段7で検出された吸着ミスの回数をレジ
スタxによりカウントするもので、そのカウント数は吸
着ミス率演算手段9に出力される。
吸着ミス率演算手段9は、吸着ミスカウント手段8から
出力される吸着ミス回数(レジスタxの内容)と、演算
制御手段4から出力される部品吸着個数(レジスタyの
内容)に基づいて吸着ミス率を演算し、演算制御手段4
に出力する。
次に、上記実施例の動作を第2図に示すフローチャート
に基づいて説明する。第2図のフローチャートは1つの
部品に対する吸着時間の自動設定処理を示している。従
って、部品の種類が複数あれば第2図の吸着時間の自動
設定処理を各部品毎に実行するものである。この場合、
説明を簡略にするために、部品Aに対する吸着時間の自
動設定処理だけを実行するものとする。
まず、ステップS1で吸着時間の初期設定を実行する。す
なわち、演算制御手段4は部品Aの吸着時間データの初
期値として、例えば50msecを吸着時間設定手段3に記憶
設定させる。
次に、ステップS2において部品吸着動作を実行する。こ
の部品吸着動作は、ステップS1で初期設定した吸着時間
に基づき部品Aを実際に吸着するもので、以下の処理を
行なう。
演算制御手段4は、吸着時間設定手段3に対して部
品Aの部品吸着命令を出力し、吸着時間設定手段3は吸
着ノズル駆動手段2に部品Aの吸着時間データを出力す
る。
これにより、吸着ノズル駆動手段2は真空吸着ノズ
ル1を部品Aに向けて移動し、部品Aに接触させる。こ
のとき、演算制御手段4は真空制御手段5に真空発生信
号を出力する。真空制御手段5は真空発生手段6の制御
を開始し、真空発生手段6に真空吸着ノズル1に連結さ
れたエア回路1aを吸引して真空を発生させ、真空吸着ノ
ズル1内を徐々に真空にする。この場合、真空吸着ノズ
ル1内の真空度は第3図に示すように時間と共に高くな
っていく。
そして、真空吸着ノズル1が部品Aに接触してから
吸着時間の50msecが経過したとき、吸着ノズル駆動手段
2は真空吸着ノズル1を引上げる。
このとき、吸着ミス検出手段7はエア回路1aを介し
て真空吸着ノズル1の真空度を判断し、真空度が所定レ
ベルに達していなければ吸着ミスとして検出信号を吸着
ミスカウント手段8に出力する。
吸着ミスカウント手段8は、この検出信号が入力さ
れるとレジスタxの内容を+1する。
また、演算制御手段4は部品吸着個数をカウントす
るレジスタyの内容を+1する。レジスタyは図示しな
いが演算制御手段4に内蔵された内部レジスタである。
そして、上述の処理を実行した後はステップS3に進む。
ステップS3では、吸着ミス回数をカウントするレジスタ
xの内容が「3」以上(すなわち、x≧3)か否かが判
断される。この場合、レジスタxの内容は「3」以下で
あるから、ステップS3でNOと判断され、ステップS4が実
行される。
ステップS4において、レジスタyの内容が「1000」か否
かが判断される。つまり、部品吸着個数が「1000」か否
かが判断される。このとき、レジスタyの内容が「100
0」未満であれば、ステップS4でNOと判断されステップS
2に戻る。以下、ステップS4でYESと判断されるまでステ
ップS2ないしS4の処理を繰返し実行し、部品吸着個数
(y)および吸着ミス回数(x)のカウントを行なう。
そして、部品吸着個数が「1000」になり、ステップS4
YESと判断されるとステップS5が実行される。
ステップS5では、レジスタxの内容(吸着ミス回数)を
レジスタyの内容(部品吸着個数)で除算した結果、す
なわち、吸着ミス率Xが下限値である0.1%以下(すな
わち、X≦0.1%)か否かが判断される。このステップS
5でYESと判断されるとステップS6に進む。このステップ
S6では、吸着時間設定手段3で設定された部品Aの吸着
時間データが例えば5msec短かく設定される。また、ス
テップS6ではレジスタx,yの内容がクリアされ「0」に
なる。このステップS6の実行後はステップS2に戻る。ま
た、ステップS5でNOと判断されるとステップS7が実行さ
れる。
ステップS7では、レジスタxの内容をレジスタyの内容
で除算した結果、すなわち、吸着ミス率Xが上限値であ
る0.3%以上(すなわち、X≧0.3%)か否かが判断され
る。このステップS7で、YESであればステップS8が実行
される。このステップS8では、吸着時間設定手段3で設
定された部品Aの吸着時間データが例えば5msec長く設
定される。また、ステップS8ではレジスタx,yの内容を
クリアして「0」にする。
なお、上記ステップS3でYESと判断された場合、すなわ
ち吸着ミス回数が「3」以上のときはステップS8に進
み、上述と同様の処理が実行される。そして、ステップ
S8の実行後はステップS2に戻る。
また、ステップS7でNOと判断された場合は、吸着ミス率
Xが下限値である0.1%を越え上限値である0.3%未満で
あることを示し、この場合はレジスタx,yの内容をクリ
アして「0」にするが、吸着時間は変更しないでステッ
プS2に戻る。
上述の処理により、部品Aの吸着時間を部品の吸着に必
要な最適時間に設定することができる。
なお、上記実施例において、吸着時間を変更する吸着ミ
ス率の範囲である下限値及び上限値は状況に応じて任意
に設定できるものである。また、上記実施例のように吸
着ミス率に応じて吸着時間を変更するものに限らず、単
に吸着ミス回数に応じて吸着時間を変更するものでもよ
い。
[考案の効果] 以上詳述したように、この考案によれば各部品毎に吸着
時間を設定し、真空吸着ノズルにより部品を吸着したと
きの吸着ミスを検出し、吸着ミス率が下限値以下であれ
ば吸着時間設定手段の吸着時間を短く設定させ、吸着ミ
ス率が上限値以上であれば吸着時間設定手段の吸着時間
を長く設定させるようにしたので、部品の吸着ミスを増
やすことなく、部品の吸着に必要な最適時間で部品を吸
着することにより、部品搭載に必要な時間を短縮できる
部品搭載装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの考案の一実施例を示すもので、第1図はブロ
ック図、第2図は動作を示すフローチャート、第3図は
真空度と時間との関係を示す図である。 1……真空吸着ノズル、1a……エア回路、2……吸着ノ
ズル駆動手段、3……吸着時間設定手段、4……演算制
御手段、5……真空制御手段、6……真空発生手段、7
……吸着ミス検出手段、8……吸着ミスカウント手段、
9……吸着ミス率演算手段。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数種の部品を吸着する真空吸着ノズル
    と、 この真空吸着ノズルが上記部品を吸着するために上記部
    品に接触してから上記部品を引き上げるまでの吸着時間
    を各部品毎に設定する吸着時間設定手段と、 この吸着時間設定手段により設定した上記吸着時間に基
    づいて上記真空吸着ノズルを上記部品に対して進退移動
    する吸着ノズル駆動手段と、 この吸着ノズル駆動手段が上記真空吸着ノズルにより上
    記部品を吸着したときの吸着ミスを検出する吸着ミス検
    出手段と、 この吸着ミス検出手段により検出した上記吸着ミスをカ
    ウントすることで吸着ミス率を算出し、この算出した吸
    着ミス率が予め設定された範囲の下限値以下であれば上
    記吸着時間設定手段の吸着時間を短く設定し、上記吸着
    ミス率が該予め設定された範囲の上限値以上であれば上
    記吸着時間設定手段の吸着時間を長く設定させる制御手
    段と、 を具備したことを特徴とする部品搭載装置。
JP1989002928U 1989-01-13 1989-01-13 部品搭載装置 Expired - Lifetime JPH0719200Y2 (ja)

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JP1989002928U JPH0719200Y2 (ja) 1989-01-13 1989-01-13 部品搭載装置

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JPH0295297U JPH0295297U (ja) 1990-07-30
JPH0719200Y2 true JPH0719200Y2 (ja) 1995-05-01

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0810237Y2 (ja) * 1990-10-05 1996-03-27 山形カシオ株式会社 部品搭載装置
JP5410864B2 (ja) * 2009-07-06 2014-02-05 Juki株式会社 電子部品実装装置
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