JPH0719244A - 磁気軸受装置 - Google Patents
磁気軸受装置Info
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- JPH0719244A JPH0719244A JP15982793A JP15982793A JPH0719244A JP H0719244 A JPH0719244 A JP H0719244A JP 15982793 A JP15982793 A JP 15982793A JP 15982793 A JP15982793 A JP 15982793A JP H0719244 A JPH0719244 A JP H0719244A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 チャンバ内の汚染が低減でき、小形化した磁
気軸受装置を提供する。 【構成】 チャンバ32内の回転軸42の下部側に設け
たスラスト円板66の上,下面に対向する上,下部スラ
スト電磁石69,70と、スラスト円板66の外周部に
固定された下部ラジアル積層継鉄78の積層端面を覆う
カバー79に対向する下部ラジアル電磁石77と、この
電磁石の磁極間に取着されカバー79を検出面とするラ
ジアル変位センサ83,84と、回転軸42の上部側に
固定された上部ラジアル積層継鉄50の積層端面を覆う
カバー51に対向する上部ラジアル電磁石49と、この
電磁石の磁極間に取着されカバー51を検出面とするラ
ジアル変位センサ55,56とを備えているので、下
部,上部ラジアル積層継鉄78,50の積層端面の錆び
の飛散がカバー79,51で防止され、また各電磁石及
び各変位センサが回転軸42の軸方向に一列とならない
配置で取り付けられる。
気軸受装置を提供する。 【構成】 チャンバ32内の回転軸42の下部側に設け
たスラスト円板66の上,下面に対向する上,下部スラ
スト電磁石69,70と、スラスト円板66の外周部に
固定された下部ラジアル積層継鉄78の積層端面を覆う
カバー79に対向する下部ラジアル電磁石77と、この
電磁石の磁極間に取着されカバー79を検出面とするラ
ジアル変位センサ83,84と、回転軸42の上部側に
固定された上部ラジアル積層継鉄50の積層端面を覆う
カバー51に対向する上部ラジアル電磁石49と、この
電磁石の磁極間に取着されカバー51を検出面とするラ
ジアル変位センサ55,56とを備えているので、下
部,上部ラジアル積層継鉄78,50の積層端面の錆び
の飛散がカバー79,51で防止され、また各電磁石及
び各変位センサが回転軸42の軸方向に一列とならない
配置で取り付けられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体製造装置
等で用いられる磁気軸受装置に関する。
等で用いられる磁気軸受装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気軸受装置は、非接触、無潤滑、長寿
命という特徴を有することから多方面で様々な研究、用
途開発が進められている。そして半導体製造装置の磁気
浮上搬送装置やハンドリング装置などではリニアモーシ
ョン型の磁気軸受装置が実用されている。しかし、減圧
された清浄な雰囲気を必要とする半導体基板に所定成分
の薄膜を成膜する化学気相成長装置(CVD装置)等の
ような装置では、回転体を回転支持する軸受装置には主
に玉軸受が用いられ、磁気軸受装置は実用化が検討され
ている状況にあった。
命という特徴を有することから多方面で様々な研究、用
途開発が進められている。そして半導体製造装置の磁気
浮上搬送装置やハンドリング装置などではリニアモーシ
ョン型の磁気軸受装置が実用されている。しかし、減圧
された清浄な雰囲気を必要とする半導体基板に所定成分
の薄膜を成膜する化学気相成長装置(CVD装置)等の
ような装置では、回転体を回転支持する軸受装置には主
に玉軸受が用いられ、磁気軸受装置は実用化が検討され
ている状況にあった。
【0003】以下、従来のCVD装置での軸受装置につ
いて図9及び図10を参照して説明する。図9は回転支
持に玉軸受を使用したものの要部の概略構成を示す断面
図であり、図10は回転支持に磁気軸受を使用したもの
の要部の概略構成を示す断面図である。
いて図9及び図10を参照して説明する。図9は回転支
持に玉軸受を使用したものの要部の概略構成を示す断面
図であり、図10は回転支持に磁気軸受を使用したもの
の要部の概略構成を示す断面図である。
【0004】先ず、玉軸受を使用したものについて図9
により説明する。図において、1はチャンバ2の減圧さ
れた内部に設けられた縦型の回転体である。この回転体
1の回転軸3とチャンバ2の下部との間には、回転体1
を回転支持するための上部玉軸受4及び下部玉軸受5が
設けられており、チャンバ2の外部に設けられた電動機
6の気密に貫通する駆動軸により回転体1は回転駆動さ
れる。また回転体1には、上部に水平面内で回転するサ
セプタ7が設けられており、このサセプタ7の上に薄膜
が成膜される半導体基板が載置される。
により説明する。図において、1はチャンバ2の減圧さ
れた内部に設けられた縦型の回転体である。この回転体
1の回転軸3とチャンバ2の下部との間には、回転体1
を回転支持するための上部玉軸受4及び下部玉軸受5が
設けられており、チャンバ2の外部に設けられた電動機
6の気密に貫通する駆動軸により回転体1は回転駆動さ
れる。また回転体1には、上部に水平面内で回転するサ
セプタ7が設けられており、このサセプタ7の上に薄膜
が成膜される半導体基板が載置される。
【0005】そして半導体基板に薄膜を成膜している間
は、半導体基板が載置された回転体1は回転し、両玉軸
受4,5の内輪も同時に回転をする。このため両玉軸受
4,5の潤滑油がチャンバ2内に拡散して半導体基板に
成膜される薄膜を汚損し、製品の歩留を低下させてしま
う虞があった。
は、半導体基板が載置された回転体1は回転し、両玉軸
受4,5の内輪も同時に回転をする。このため両玉軸受
4,5の潤滑油がチャンバ2内に拡散して半導体基板に
成膜される薄膜を汚損し、製品の歩留を低下させてしま
う虞があった。
【0006】また、両玉軸受4,5に錆びの発生がある
とチャンバ2内を汚染してしまうと共に、発錆した軸受
にかじりが生じて回転体1が回転しなくなってしまう。
このような場合には玉軸受の交換を要するが、交換は多
大な時間を費やすものであった。
とチャンバ2内を汚染してしまうと共に、発錆した軸受
にかじりが生じて回転体1が回転しなくなってしまう。
このような場合には玉軸受の交換を要するが、交換は多
大な時間を費やすものであった。
【0007】一方、上述のような回転支持に玉軸受を用
いたものでの状況から、磁気軸受装置を用いたものの検
討がなされている。次に、その磁気軸受装置を使用した
ものについて図10により説明する。図において、8は
チャンバ9の減圧された内部に収納された縦型の回転体
である。この回転体8は上部に薄膜を成膜する半導体基
板を載置し水平面内で回転するサセプタ10が設けら
れ、下部に回転軸11が設けられている。そして回転軸
11の部分には真空シールド12が近接して設けられて
いる。
いたものでの状況から、磁気軸受装置を用いたものの検
討がなされている。次に、その磁気軸受装置を使用した
ものについて図10により説明する。図において、8は
チャンバ9の減圧された内部に収納された縦型の回転体
である。この回転体8は上部に薄膜を成膜する半導体基
板を載置し水平面内で回転するサセプタ10が設けら
れ、下部に回転軸11が設けられている。そして回転軸
11の部分には真空シールド12が近接して設けられて
いる。
【0008】また回転体8は、その回転軸11の上部及
び下部に設けられたラジアル磁気軸受13,14と、両
軸受13,14の間に設けられたスラスト磁気軸受16
によって浮上支持され、電動機15によって回転駆動さ
れる。ラジアル磁気軸受13,14は回転軸11に軸方
向に積層して設けられた積層継鉄17,18と、これら
に真空シールド12を介して対向するチャンバ9に固定
された上部電磁石19及び下部電磁石20とで構成さ
れ、スラスト磁気軸受16は同じくチャンバ9に固定さ
れた電磁石21を設けて構成されている。
び下部に設けられたラジアル磁気軸受13,14と、両
軸受13,14の間に設けられたスラスト磁気軸受16
によって浮上支持され、電動機15によって回転駆動さ
れる。ラジアル磁気軸受13,14は回転軸11に軸方
向に積層して設けられた積層継鉄17,18と、これら
に真空シールド12を介して対向するチャンバ9に固定
された上部電磁石19及び下部電磁石20とで構成さ
れ、スラスト磁気軸受16は同じくチャンバ9に固定さ
れた電磁石21を設けて構成されている。
【0009】さらにチャンバ9には、回転軸11の軸方
向に沿って変位センサ22,23が回転軸11に真空シ
ールド12を介して対向するように取着されており、こ
の変位センサ22,23によって回転体8の軸方向及び
半径方向の変位が検出され、これにもとづく図示しない
制御部からの制御信号によってラジアル磁気軸受13,
14及びスラスト磁気軸受15が制御される。なお24
は同じくチャンバ9に固定された電動機16のステータ
である。
向に沿って変位センサ22,23が回転軸11に真空シ
ールド12を介して対向するように取着されており、こ
の変位センサ22,23によって回転体8の軸方向及び
半径方向の変位が検出され、これにもとづく図示しない
制御部からの制御信号によってラジアル磁気軸受13,
14及びスラスト磁気軸受15が制御される。なお24
は同じくチャンバ9に固定された電動機16のステータ
である。
【0010】このように構成されたものでは、各磁石1
9,20,21及び変位センサ22,23、さらにステ
ータ24が回転軸方向に平行な方向に配列されることに
なるため、磁気軸受装置が同一軸方向に長いものとなっ
てしまう。また真空シールド12を介在させて回転体8
を非接触に支持するため、電磁石の磁気空隙が大きくな
り、必然的に支持に要する力が大きくなり装置が大型の
ものとなってしまう。
9,20,21及び変位センサ22,23、さらにステ
ータ24が回転軸方向に平行な方向に配列されることに
なるため、磁気軸受装置が同一軸方向に長いものとなっ
てしまう。また真空シールド12を介在させて回転体8
を非接触に支持するため、電磁石の磁気空隙が大きくな
り、必然的に支持に要する力が大きくなり装置が大型の
ものとなってしまう。
【0011】さらに、回転軸11に設けられた積層継鉄
17,18が減圧されたチャンバ9の内部に積層端面が
露出するものであるため、端面が錆びるような状況にあ
ると回転体8の回転と共に錆びが飛散することとなって
その端面が発塵源となり、玉軸受のように発錆により回
転しなくなったり軸受の交換に手間がかかるようなこと
がないものの、同様にチャンバ2内を汚染し製品の歩留
を低下させてしまう虞があった。
17,18が減圧されたチャンバ9の内部に積層端面が
露出するものであるため、端面が錆びるような状況にあ
ると回転体8の回転と共に錆びが飛散することとなって
その端面が発塵源となり、玉軸受のように発錆により回
転しなくなったり軸受の交換に手間がかかるようなこと
がないものの、同様にチャンバ2内を汚染し製品の歩留
を低下させてしまう虞があった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記のように従来は、
玉軸受では筐体内に露出する玉軸受の発錆や潤滑油の蒸
発等によって筐体内を汚染してしまう虞があり、さらに
発錆した玉軸受の交換に多大な時間を要してしまうもの
であり、また磁気軸受装置では筐体内に露出する積層継
鉄の端面の発錆によって筐体内を汚染してしまう虞があ
り、さらに電磁石等がシールドを介して軸方向に長く並
んで設けられので、軸方向に長く大型のものとなる等し
ていた。このような状況に鑑みて本発明はなされたもの
で、その目的とするところは筐体内の汚染を低減するこ
とができ、小形化した磁気軸受装置を提供することにあ
る。
玉軸受では筐体内に露出する玉軸受の発錆や潤滑油の蒸
発等によって筐体内を汚染してしまう虞があり、さらに
発錆した玉軸受の交換に多大な時間を要してしまうもの
であり、また磁気軸受装置では筐体内に露出する積層継
鉄の端面の発錆によって筐体内を汚染してしまう虞があ
り、さらに電磁石等がシールドを介して軸方向に長く並
んで設けられので、軸方向に長く大型のものとなる等し
ていた。このような状況に鑑みて本発明はなされたもの
で、その目的とするところは筐体内の汚染を低減するこ
とができ、小形化した磁気軸受装置を提供することにあ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気軸受装置
は、筐体内に収納され回転軸の一端側にスラスト円板を
設けた縦型の回転体と、スラスト円板の上,下面に間隙
を設けるようにして磁極を対向させ回転体をスラスト方
向に非接触に支持する上,下部スラスト電磁石と、スラ
スト円板の面を検出面として設けられ上,下部スラスト
電磁石を制御するための信号を出力するスラスト変位セ
ンサと、スラスト円板の外周部に固定され外周積層端面
が第1のカバーで覆われた第1のラジアル積層継鉄と、
この第1のラジアル積層継鉄の外周積層端面に間隙を設
けるようにして磁極を対向させ回転体の一端部をラジア
ル方向に非接触に支持する第1のラジアル電磁石と、こ
の第1のラジアル電磁石の磁極間に第1のカバーの外面
を検出面として取着され該第1のラジアル電磁石を制御
するための信号を出力する一端側のラジアル変位センサ
と、回転軸の他端側に固定され外周積層端面が第2のカ
バーで覆われた第2のラジアル積層継鉄と、この第2の
ラジアル積層継鉄の外周積層端面に間隙を設けるように
して磁極を対向させ回転体の他端部をラジアル方向に非
接触に支持する第2のラジアル電磁石と、この第2のラ
ジアル電磁石の磁極間に第2のカバーの外面を検出面と
して取着され該第2のラジアル電磁石を制御するための
信号を出力する他端側のラジアル変位センサとを具備し
たことを特徴とするものであり、また、スラスト変位セ
ンサが、断面コ字形状で円環状をなす上,下部スラスト
電磁石のいずれか一方の電磁石の磁極間に設けられてい
ることを特徴とするものである。
は、筐体内に収納され回転軸の一端側にスラスト円板を
設けた縦型の回転体と、スラスト円板の上,下面に間隙
を設けるようにして磁極を対向させ回転体をスラスト方
向に非接触に支持する上,下部スラスト電磁石と、スラ
スト円板の面を検出面として設けられ上,下部スラスト
電磁石を制御するための信号を出力するスラスト変位セ
ンサと、スラスト円板の外周部に固定され外周積層端面
が第1のカバーで覆われた第1のラジアル積層継鉄と、
この第1のラジアル積層継鉄の外周積層端面に間隙を設
けるようにして磁極を対向させ回転体の一端部をラジア
ル方向に非接触に支持する第1のラジアル電磁石と、こ
の第1のラジアル電磁石の磁極間に第1のカバーの外面
を検出面として取着され該第1のラジアル電磁石を制御
するための信号を出力する一端側のラジアル変位センサ
と、回転軸の他端側に固定され外周積層端面が第2のカ
バーで覆われた第2のラジアル積層継鉄と、この第2の
ラジアル積層継鉄の外周積層端面に間隙を設けるように
して磁極を対向させ回転体の他端部をラジアル方向に非
接触に支持する第2のラジアル電磁石と、この第2のラ
ジアル電磁石の磁極間に第2のカバーの外面を検出面と
して取着され該第2のラジアル電磁石を制御するための
信号を出力する他端側のラジアル変位センサとを具備し
たことを特徴とするものであり、また、スラスト変位セ
ンサが、断面コ字形状で円環状をなす上,下部スラスト
電磁石のいずれか一方の電磁石の磁極間に設けられてい
ることを特徴とするものである。
【0014】
【作用】上記のように構成された磁気軸受装置は、筐体
内に収納された回転体の回転軸の一端側に設けたスラス
ト円板の上,下面に対向する上,下部スラスト電磁石
と、スラスト円板の外周部に固定された第1のラジアル
積層継鉄の積層端面を覆う第1のカバーに対向する第1
のラジアル電磁石と、この第1のラジアル電磁石の磁極
間に取着され第1のカバーの外面を検出面とする一端側
のラジアル変位センサと、回転軸の他端側に固定された
第2のラジアル積層継鉄の積層端面を覆う第2のカバー
に対向する第2のラジアル電磁石と、この第2のラジア
ル電磁石の磁極間に取着され第2のカバーの外面を検出
面とする他端側のラジアル変位センサとを具備している
ので、第1のラジアル積層継鉄あるいは第2のラジアル
積層継鉄の積層端面に錆びが発生するようなことがあっ
ても、第1のカバーあるいは第2のカバーによって錆び
の飛散が防止される。さらに、上,下部スラスト電磁石
と第1のラジアル電磁石とが回転軸の軸方向に配置され
たものとならず、また一端側のラジアル変位センサ及び
他端側のラジアル変位センサが、両者共に第1のラジア
ル電磁石及び第2のラジアル電磁石と回転軸の軸方向で
同じ位置に配置されたものとなる。このために筐体内の
汚染が低減でき、小形化した磁気軸受装置とすることが
できる。
内に収納された回転体の回転軸の一端側に設けたスラス
ト円板の上,下面に対向する上,下部スラスト電磁石
と、スラスト円板の外周部に固定された第1のラジアル
積層継鉄の積層端面を覆う第1のカバーに対向する第1
のラジアル電磁石と、この第1のラジアル電磁石の磁極
間に取着され第1のカバーの外面を検出面とする一端側
のラジアル変位センサと、回転軸の他端側に固定された
第2のラジアル積層継鉄の積層端面を覆う第2のカバー
に対向する第2のラジアル電磁石と、この第2のラジア
ル電磁石の磁極間に取着され第2のカバーの外面を検出
面とする他端側のラジアル変位センサとを具備している
ので、第1のラジアル積層継鉄あるいは第2のラジアル
積層継鉄の積層端面に錆びが発生するようなことがあっ
ても、第1のカバーあるいは第2のカバーによって錆び
の飛散が防止される。さらに、上,下部スラスト電磁石
と第1のラジアル電磁石とが回転軸の軸方向に配置され
たものとならず、また一端側のラジアル変位センサ及び
他端側のラジアル変位センサが、両者共に第1のラジア
ル電磁石及び第2のラジアル電磁石と回転軸の軸方向で
同じ位置に配置されたものとなる。このために筐体内の
汚染が低減でき、小形化した磁気軸受装置とすることが
できる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図8を参
照して説明する。図1はCVD装置の要部の縦断面図で
あり、図2はCVD装置の全体構成の概略を示す断面図
であり、図3は電動機の要部の縦断面図であり、図4は
上部ラジアル磁気軸受部の上部ラジアル積層継鉄部分の
縦断面図であり、図5は下部ラジアル磁気軸受部の下部
ラジアル積層継鉄部分の縦断面図であり、図6は上部ラ
ジアル磁気軸受部の横断面図であり、図7は下部ラジア
ル磁気軸受部の横断面図であり、図8は変位センサによ
る変位の検出を説明するための図で、図8(a)はラジ
アル変位センサが検出する変位を説明する図であり、図
8(b)はラジアル変位センサ及びスラスト変位センサ
が検出する変位を説明する図である。
照して説明する。図1はCVD装置の要部の縦断面図で
あり、図2はCVD装置の全体構成の概略を示す断面図
であり、図3は電動機の要部の縦断面図であり、図4は
上部ラジアル磁気軸受部の上部ラジアル積層継鉄部分の
縦断面図であり、図5は下部ラジアル磁気軸受部の下部
ラジアル積層継鉄部分の縦断面図であり、図6は上部ラ
ジアル磁気軸受部の横断面図であり、図7は下部ラジア
ル磁気軸受部の横断面図であり、図8は変位センサによ
る変位の検出を説明するための図で、図8(a)はラジ
アル変位センサが検出する変位を説明する図であり、図
8(b)はラジアル変位センサ及びスラスト変位センサ
が検出する変位を説明する図である。
【0016】図1乃至図7において、31はCVD装置
であって、その半導体基板を収納して所定の薄膜の気相
成長を行なうチャンバ32は、ベース33の上面に上部
ケース34を気密に取着するようにして構成される。ベ
ース33には排気管35がチャンバ32の内部に端部が
開口するように設けられていて、これに接続された図示
しない真空ポンプ等によってチャンバ32の内部の減圧
状態が維持される。また上部ケース34にはガス供給管
36が同じくチャンバ32の内部に端部が開口するよう
に設けられていて、ここからは図示しないガス供給源か
ら所定の原料ガスがチャンバ32の内部に供給される。
前述した排気管35はポートを切替えて原料ガスの回収
も行っている。
であって、その半導体基板を収納して所定の薄膜の気相
成長を行なうチャンバ32は、ベース33の上面に上部
ケース34を気密に取着するようにして構成される。ベ
ース33には排気管35がチャンバ32の内部に端部が
開口するように設けられていて、これに接続された図示
しない真空ポンプ等によってチャンバ32の内部の減圧
状態が維持される。また上部ケース34にはガス供給管
36が同じくチャンバ32の内部に端部が開口するよう
に設けられていて、ここからは図示しないガス供給源か
ら所定の原料ガスがチャンバ32の内部に供給される。
前述した排気管35はポートを切替えて原料ガスの回収
も行っている。
【0017】さらに、チャンバ32の内部には上面に半
導体基板を載置するサセプタ37がガス供給管36の下
方に配置されており、このサセプタ37はベース33に
貫通するようにして取り付けられた縦型の回転体38の
上部に設けられている。そしてサセプタ37は、気相成
長が行われる間、半導体基板に均一な薄膜が成層される
ように回転する。
導体基板を載置するサセプタ37がガス供給管36の下
方に配置されており、このサセプタ37はベース33に
貫通するようにして取り付けられた縦型の回転体38の
上部に設けられている。そしてサセプタ37は、気相成
長が行われる間、半導体基板に均一な薄膜が成層される
ように回転する。
【0018】一方、回転体38は略筒状をなすもので、
ベース33の下面に取り付けられた磁気軸受装置40に
よって非接触に支持される。磁気軸受装置40はベース
33の下面に気密に取り付けられた軸受ケース41内
に、回転体38の回転軸42の軸方向に沿って設けられ
た上部ラジアル軸受部43と下部ラジアル軸受部44、
及び下部ラジアル軸受部44と一体に設けられたスラス
ト軸受部45を設けて構成されており、同時に軸受ケー
ス41内には回転体38を回転駆動する電動機46が、
上部ラジアル軸受部43と下部ラジアル軸受部44及び
スラスト軸受部45との間に設けられている。
ベース33の下面に取り付けられた磁気軸受装置40に
よって非接触に支持される。磁気軸受装置40はベース
33の下面に気密に取り付けられた軸受ケース41内
に、回転体38の回転軸42の軸方向に沿って設けられ
た上部ラジアル軸受部43と下部ラジアル軸受部44、
及び下部ラジアル軸受部44と一体に設けられたスラス
ト軸受部45を設けて構成されており、同時に軸受ケー
ス41内には回転体38を回転駆動する電動機46が、
上部ラジアル軸受部43と下部ラジアル軸受部44及び
スラスト軸受部45との間に設けられている。
【0019】なお回転体38の内部には、下部が軸受ケ
ース41に気密に取り付けられヒーター支持部材47が
軸方向に貫通して設けられていると共に、ヒーター支持
部材47の上部のヒーターユニット48がサセプタ37
の部分に設けられており、ヒーターユニット48によっ
てサセプタ37の上面に載置された半導体基板が昇温す
るようになっている。そしてヒーターユニット48の温
度調節は図示しない制御部によって行われる。
ース41に気密に取り付けられヒーター支持部材47が
軸方向に貫通して設けられていると共に、ヒーター支持
部材47の上部のヒーターユニット48がサセプタ37
の部分に設けられており、ヒーターユニット48によっ
てサセプタ37の上面に載置された半導体基板が昇温す
るようになっている。そしてヒーターユニット48の温
度調節は図示しない制御部によって行われる。
【0020】また、磁気軸受装置40の上部ラジアル軸
受部43は軸受ケース41の内面に固定された略円環状
の上部ラジアル電磁石49と、これの内径面に積層外面
が対向するように回転軸42の外面に圧入された上部ラ
ジアル積層継鉄50とを設けて構成されている。そして
この上部ラジアル積層継鉄50は円環状の珪素鋼板を軸
方向に積層してなるもので、その積層端面にはステンレ
ス鋼板製のカバー51が設けられていて、直接積層端面
が外部に露出しないようになっている。
受部43は軸受ケース41の内面に固定された略円環状
の上部ラジアル電磁石49と、これの内径面に積層外面
が対向するように回転軸42の外面に圧入された上部ラ
ジアル積層継鉄50とを設けて構成されている。そして
この上部ラジアル積層継鉄50は円環状の珪素鋼板を軸
方向に積層してなるもので、その積層端面にはステンレ
ス鋼板製のカバー51が設けられていて、直接積層端面
が外部に露出しないようになっている。
【0021】さらに上部ラジアル電磁石49は、略円環
状の上部ラジアル磁極リング52の4等配された位置か
ら内方に対を成して突出し、上部ラジアル積層継鉄50
の積層端面に設けられたカバー51との間に微小間隙を
形成する8個の突状磁極53a,53b,53c,53
d,53e,53f,53g,53hを有し、これらの
突状磁極53a,53b,…,53hには夫々にコイル
54a,54b,54c,54d,54e,54f,5
4g,54hが巻かれている。
状の上部ラジアル磁極リング52の4等配された位置か
ら内方に対を成して突出し、上部ラジアル積層継鉄50
の積層端面に設けられたカバー51との間に微小間隙を
形成する8個の突状磁極53a,53b,53c,53
d,53e,53f,53g,53hを有し、これらの
突状磁極53a,53b,…,53hには夫々にコイル
54a,54b,54c,54d,54e,54f,5
4g,54hが巻かれている。
【0022】そして、その内の一対の突状磁極53a,
53bと、その両側に隣接する突状磁極53c,53d
と突状磁極53g,53hの間には、それぞれ第1及び
第2のラジアル変位センサ55,56が同一の平面内で
90度の角度を持ち、上部ラジアル積層継鉄50の積層
面を覆うカバー51との間に間隙を設け、カバー51の
外面を変位検出面とするようにして上部ラジアル磁極リ
ング52に固着され配置されている。
53bと、その両側に隣接する突状磁極53c,53d
と突状磁極53g,53hの間には、それぞれ第1及び
第2のラジアル変位センサ55,56が同一の平面内で
90度の角度を持ち、上部ラジアル積層継鉄50の積層
面を覆うカバー51との間に間隙を設け、カバー51の
外面を変位検出面とするようにして上部ラジアル磁極リ
ング52に固着され配置されている。
【0023】また、電動機46は軸受ケース41の上部
ラジアル軸受部43の下方側に設けられており、軸受ケ
ース41の内面に固定され内側に複数の突起を有する珪
素鋼板を軸方向に積層したステータコア57の突起に複
数のコイル58を巻回したステータ59と、回転軸42
の上部ラジアル積層継鉄50の下方側に設けられたロー
タ60によって構成されている。そしてステータコア5
7の積層端面にも合成樹脂を成形、あるいは合成樹脂塗
料を塗布してなるカバー61が設けられていて、同様に
直接積層端面が外部に露出しないようになっている。ま
たロータ60は、回転軸42の上部ラジアル積層継鉄5
0の下方側に圧入された中間スリーブ62に永久磁石6
3が合成樹脂材料64を成形して固定されると共に、外
面にカバーとしてステンレス鋼板製の固定円筒65が装
着されている。
ラジアル軸受部43の下方側に設けられており、軸受ケ
ース41の内面に固定され内側に複数の突起を有する珪
素鋼板を軸方向に積層したステータコア57の突起に複
数のコイル58を巻回したステータ59と、回転軸42
の上部ラジアル積層継鉄50の下方側に設けられたロー
タ60によって構成されている。そしてステータコア5
7の積層端面にも合成樹脂を成形、あるいは合成樹脂塗
料を塗布してなるカバー61が設けられていて、同様に
直接積層端面が外部に露出しないようになっている。ま
たロータ60は、回転軸42の上部ラジアル積層継鉄5
0の下方側に圧入された中間スリーブ62に永久磁石6
3が合成樹脂材料64を成形して固定されると共に、外
面にカバーとしてステンレス鋼板製の固定円筒65が装
着されている。
【0024】さらに、電動機46の下方側に設けられた
スラスト軸受部45は回転軸42の下部に固定されたス
ラスト円板66と、このスラスト円板66の上面側と下
面側に上部スラスト電磁石67と下部スラスト電磁石6
8とを設けて構成されている。これら上部スラスト電磁
石67及び下部スラスト電磁石68は、断面形状が夫々
下向き及び上向きに開いた略コ字状をなす円環状継鉄6
9,70にスラストコイル71,72が設けられてい
る。
スラスト軸受部45は回転軸42の下部に固定されたス
ラスト円板66と、このスラスト円板66の上面側と下
面側に上部スラスト電磁石67と下部スラスト電磁石6
8とを設けて構成されている。これら上部スラスト電磁
石67及び下部スラスト電磁石68は、断面形状が夫々
下向き及び上向きに開いた略コ字状をなす円環状継鉄6
9,70にスラストコイル71,72が設けられてい
る。
【0025】そして上部スラスト電磁石67及び下部ス
ラスト電磁石68は夫々の2つの環状磁極73a,73
b,74a,74bがスラスト円板66の上面と下面に
対し微小間隙を設けて対向している。また上部スラスト
電磁石67には固定円板75が設けられていて、スラス
トコイル71が落下しないように固定されており、この
固定円板75には、上部ラジアル電磁石49の一対の突
状磁極53a,53bに対応する位置にスラスト変位セ
ンサ76がスラスト円板66の上面に対して間隙を設
け、この上面を変位検出面とするようにして取着されて
いる。
ラスト電磁石68は夫々の2つの環状磁極73a,73
b,74a,74bがスラスト円板66の上面と下面に
対し微小間隙を設けて対向している。また上部スラスト
電磁石67には固定円板75が設けられていて、スラス
トコイル71が落下しないように固定されており、この
固定円板75には、上部ラジアル電磁石49の一対の突
状磁極53a,53bに対応する位置にスラスト変位セ
ンサ76がスラスト円板66の上面に対して間隙を設
け、この上面を変位検出面とするようにして取着されて
いる。
【0026】またさらに、下部ラジアル軸受部44は軸
受ケース41の内面に固定された略円環状の下部ラジア
ル電磁石77と、これの内径面に積層外面が対向するよ
うにスラスト円板66の最外周部分に圧入された下部ラ
ジアル積層継鉄78とを設けて構成されている。下部ラ
ジアル積層継鉄78は円環状の珪素鋼板を軸方向に積層
してなるもので、その積層端面にはステンレス鋼板製の
カバー79が設けられていて、直接積層端面が外部に露
出しないようになっている。
受ケース41の内面に固定された略円環状の下部ラジア
ル電磁石77と、これの内径面に積層外面が対向するよ
うにスラスト円板66の最外周部分に圧入された下部ラ
ジアル積層継鉄78とを設けて構成されている。下部ラ
ジアル積層継鉄78は円環状の珪素鋼板を軸方向に積層
してなるもので、その積層端面にはステンレス鋼板製の
カバー79が設けられていて、直接積層端面が外部に露
出しないようになっている。
【0027】さらに下部ラジアル電磁石77は、略円環
状の下部ラジアル磁極リング80の4等配された位置か
ら内方に対を成して突出し、下部ラジアル積層継鉄78
の積層端面に設けられたカバー79との間に微小間隙を
形成する8個の突状磁極81a,81b,81c,81
d,81e,81f,81g,81hを有し、これらの
突状磁極81a,81b,…,81hには夫々にコイル
82a,82b,82c,82d,82e,82f,8
2g,82hが巻かれている。
状の下部ラジアル磁極リング80の4等配された位置か
ら内方に対を成して突出し、下部ラジアル積層継鉄78
の積層端面に設けられたカバー79との間に微小間隙を
形成する8個の突状磁極81a,81b,81c,81
d,81e,81f,81g,81hを有し、これらの
突状磁極81a,81b,…,81hには夫々にコイル
82a,82b,82c,82d,82e,82f,8
2g,82hが巻かれている。
【0028】そして、その内の一対の突状磁極81a,
81bと、その両側に隣接する突状磁極81c,81d
と突状磁極81g,81hの間には、それぞれ第3及び
第4のラジアル変位センサ83,84が同一の平面内で
90度の角度を持ち、下部ラジアル積層継鉄78の積層
面を覆うカバー79との間に間隙を設け、カバー79の
外面を変位検出面とするようにして下部ラジアル磁極リ
ング80に固着され、第1及び第2のラジアル変位セン
サ55,56と同位相で変位を検出するよう配置されて
いる。
81bと、その両側に隣接する突状磁極81c,81d
と突状磁極81g,81hの間には、それぞれ第3及び
第4のラジアル変位センサ83,84が同一の平面内で
90度の角度を持ち、下部ラジアル積層継鉄78の積層
面を覆うカバー79との間に間隙を設け、カバー79の
外面を変位検出面とするようにして下部ラジアル磁極リ
ング80に固着され、第1及び第2のラジアル変位セン
サ55,56と同位相で変位を検出するよう配置されて
いる。
【0029】また、85、86は静止体であるベース3
3及び下部スラスト電磁石68に夫々取付板87,88
によって外レースが固定された真空環境仕様の玉軸受
で、その内レースは回転軸42に対して一定の空隙を有
するように設けられていて、回転体38が磁気浮上して
いない時に回転体38を支持するものであり、非常用の
軸受としても用いられる。
3及び下部スラスト電磁石68に夫々取付板87,88
によって外レースが固定された真空環境仕様の玉軸受
で、その内レースは回転軸42に対して一定の空隙を有
するように設けられていて、回転体38が磁気浮上して
いない時に回転体38を支持するものであり、非常用の
軸受としても用いられる。
【0030】さらに、89は上部ラジアル軸受部43と
電動機46のステータ59の間に軸受ケース41に取着
して設けられた上部遮蔽リングであり、90はステータ
59とスラスト軸受部45の間に上部スラスト電磁石6
7に取着して設けられた下部遮蔽リングである。これら
の両遮蔽リング89,90を設けることで軸受ケース4
1内の電気配線が回転軸42等の回転部分に接触し損傷
するのを防止すると共に、電動機46の発生する電気的
ノイズの遮蔽を行っている。
電動機46のステータ59の間に軸受ケース41に取着
して設けられた上部遮蔽リングであり、90はステータ
59とスラスト軸受部45の間に上部スラスト電磁石6
7に取着して設けられた下部遮蔽リングである。これら
の両遮蔽リング89,90を設けることで軸受ケース4
1内の電気配線が回転軸42等の回転部分に接触し損傷
するのを防止すると共に、電動機46の発生する電気的
ノイズの遮蔽を行っている。
【0031】このように構成された本実施例では、CV
D装置31での半導体基板上への薄膜の気相成長を行う
に先立ち、上部ラジアル軸受部43、下部ラジアル軸受
部44及びスラスト軸受部45を作動させて回転体38
を磁気浮上させて非接触に支持する。その後チャンバ3
2の内部を減圧し、電動機46によって回転体38を回
転駆動し、ヒーターユニット48によってサセプタ37
を所定温度に維持しながら原料ガスをチャンバ32内に
導入して気相成長が行われる。
D装置31での半導体基板上への薄膜の気相成長を行う
に先立ち、上部ラジアル軸受部43、下部ラジアル軸受
部44及びスラスト軸受部45を作動させて回転体38
を磁気浮上させて非接触に支持する。その後チャンバ3
2の内部を減圧し、電動機46によって回転体38を回
転駆動し、ヒーターユニット48によってサセプタ37
を所定温度に維持しながら原料ガスをチャンバ32内に
導入して気相成長が行われる。
【0032】そして回転体38を磁気浮上させて非接触
に支持し、回転させている間の回転体38の位置及び姿
勢の制御は、スラスト方向についてはスラスト軸受部4
5の上部スラスト電磁石67と下部スラスト電磁石68
の強さを調節することによって行う。なお、このスラス
ト方向の調節でヒーターユニット48に対向するサセプ
タ37の下面との間隔が変えられ、これによってサセプ
タ37の温度の調節が行なえる。このため薄膜の気相成
長の状況に合わせ半導体基板の温度を、浮上している回
転体38のスラスト方向の調節を行なうことで調整する
ことができ、良好な薄膜の成層を行なえる。
に支持し、回転させている間の回転体38の位置及び姿
勢の制御は、スラスト方向についてはスラスト軸受部4
5の上部スラスト電磁石67と下部スラスト電磁石68
の強さを調節することによって行う。なお、このスラス
ト方向の調節でヒーターユニット48に対向するサセプ
タ37の下面との間隔が変えられ、これによってサセプ
タ37の温度の調節が行なえる。このため薄膜の気相成
長の状況に合わせ半導体基板の温度を、浮上している回
転体38のスラスト方向の調節を行なうことで調整する
ことができ、良好な薄膜の成層を行なえる。
【0033】さらに、ラジアル方向についての制御は上
部ラジアル軸受部43及び下部ラジアル軸受部44の上
部ラジアル電磁石49の各コイル54a,54b,…,
54h、下部ラジアル電磁石77の各コイル82a,8
2b,…,82hに流す電流値を調節することによって
行う。
部ラジアル軸受部43及び下部ラジアル軸受部44の上
部ラジアル電磁石49の各コイル54a,54b,…,
54h、下部ラジアル電磁石77の各コイル82a,8
2b,…,82hに流す電流値を調節することによって
行う。
【0034】一方、スラスト変位センサ76の取付け位
置が回転軸42の回転軸中心から離れているので、回転
体38が傾斜しているとその傾きを軸方向の変位と同時
にスラスト変位センサ76が検出することになる。この
ため軸方向の変位を所定値になるよう是正する制御が行
なわれると、傾き分だけ軸方向に回転体38を加振する
ことになり、安定した回転体38の回転が得られなくな
る。
置が回転軸42の回転軸中心から離れているので、回転
体38が傾斜しているとその傾きを軸方向の変位と同時
にスラスト変位センサ76が検出することになる。この
ため軸方向の変位を所定値になるよう是正する制御が行
なわれると、傾き分だけ軸方向に回転体38を加振する
ことになり、安定した回転体38の回転が得られなくな
る。
【0035】このようなことから回転体38の傾きにつ
いては、制御部によって各ラジアル変位センサ55,5
6,83,84の信号から傾き成分を算出し、算出結果
によってスラスト変位センサ76の信号を補正すること
によって行うようにしている。これについて図8を参照
して次に説明する。
いては、制御部によって各ラジアル変位センサ55,5
6,83,84の信号から傾き成分を算出し、算出結果
によってスラスト変位センサ76の信号を補正すること
によって行うようにしている。これについて図8を参照
して次に説明する。
【0036】先ず、上部ラジアル軸受部43に設けた第
1及び第2のラジアル変位センサ55,56の検出した
夫々の値から上部ラジアル電磁石49の一対の突状磁極
53a,53bの突出方向に平行な方向の変位量Δx1
を算出し、また下部ラジアル軸受部44に設けた第3及
び第4のラジアル変位センサ83,84の検出した夫々
の値から下部ラジアル電磁石77の一対の突状磁極81
a,81bの突出方向に平行な方向の変位量Δx1 と同
位相の変位量Δx2 を算出する。
1及び第2のラジアル変位センサ55,56の検出した
夫々の値から上部ラジアル電磁石49の一対の突状磁極
53a,53bの突出方向に平行な方向の変位量Δx1
を算出し、また下部ラジアル軸受部44に設けた第3及
び第4のラジアル変位センサ83,84の検出した夫々
の値から下部ラジアル電磁石77の一対の突状磁極81
a,81bの突出方向に平行な方向の変位量Δx1 と同
位相の変位量Δx2 を算出する。
【0037】次いでこれらの変位量Δx1 、変位量Δx
2 から、回転軸38の上部ラジアル電磁石49の位置で
の下部ラジアル電磁石77の位置での回転中心を基準と
した変位量がΔx1 −Δx2 として求められる。そして
上下部に設けられた第1及び第2のラジアル変位センサ
55,56と第3及び第4のラジアル変位センサ83,
84との間の回転軸方向距離をlbとし、スラスト変位
センサ76の回転中心からの距離をlsとすると、傾き
の補正量δは δ=ls/lb×(Δx1 −Δx2 ) で算出される。
2 から、回転軸38の上部ラジアル電磁石49の位置で
の下部ラジアル電磁石77の位置での回転中心を基準と
した変位量がΔx1 −Δx2 として求められる。そして
上下部に設けられた第1及び第2のラジアル変位センサ
55,56と第3及び第4のラジアル変位センサ83,
84との間の回転軸方向距離をlbとし、スラスト変位
センサ76の回転中心からの距離をlsとすると、傾き
の補正量δは δ=ls/lb×(Δx1 −Δx2 ) で算出される。
【0038】この算出された傾きの補正量δにもとづい
てスラスト変位センサ76の信号が補正される。これに
より回転体38の傾きによる見掛上の軸方向の変位をキ
ャンセルすることができ、回転体38の安定した回転が
得られることになる。
てスラスト変位センサ76の信号が補正される。これに
より回転体38の傾きによる見掛上の軸方向の変位をキ
ャンセルすることができ、回転体38の安定した回転が
得られることになる。
【0039】また以上のように構成されたものであるこ
とから、上部ラジアル積層継鉄50や下部ラジアル積層
継鉄78、さらにはステータコア57の積層端面に錆び
が発生するようなことがあっても、積層端面が外部に露
出しないように設けられたカバー51,61,79によ
って錆びが外部に飛散するのを防止することができる。
これによってチャンバ32の内部が錆びによって汚染さ
れることがなく、製品の歩留を低下させることがない。
またカバー51,61は平滑な外面が各ラジアル変位セ
ンサ55,56,83,84に対向することになるので
正確な変位を検出することができる。
とから、上部ラジアル積層継鉄50や下部ラジアル積層
継鉄78、さらにはステータコア57の積層端面に錆び
が発生するようなことがあっても、積層端面が外部に露
出しないように設けられたカバー51,61,79によ
って錆びが外部に飛散するのを防止することができる。
これによってチャンバ32の内部が錆びによって汚染さ
れることがなく、製品の歩留を低下させることがない。
またカバー51,61は平滑な外面が各ラジアル変位セ
ンサ55,56,83,84に対向することになるので
正確な変位を検出することができる。
【0040】また、減圧側に支持されている回転体38
と静止体との間を仕切っている真空シールドが不要とな
るので、回転体38を非接触に支持するために要する力
が少なく各軸受部43,44,45は小形化したものと
なる。さらに下部ラジアル軸受部44とスラスト軸受部
45とは一体的に設けられているので軸方向に長くなら
ず、また第1,第2,第3,第4のラジアル変位センサ
55,56,83,84はそれぞれが上部ラジアル電磁
石49及び下部ラジアル電磁石77の磁極間に設けられ
ることになるので、さらにスラスト変位センサ76は上
部スラスト電磁石67の磁極間に取着されているので、
夫々が軸方向に配置されて長くなってしまうようなこと
がなく、短く非常にコンパクトなものとすることができ
る。
と静止体との間を仕切っている真空シールドが不要とな
るので、回転体38を非接触に支持するために要する力
が少なく各軸受部43,44,45は小形化したものと
なる。さらに下部ラジアル軸受部44とスラスト軸受部
45とは一体的に設けられているので軸方向に長くなら
ず、また第1,第2,第3,第4のラジアル変位センサ
55,56,83,84はそれぞれが上部ラジアル電磁
石49及び下部ラジアル電磁石77の磁極間に設けられ
ることになるので、さらにスラスト変位センサ76は上
部スラスト電磁石67の磁極間に取着されているので、
夫々が軸方向に配置されて長くなってしまうようなこと
がなく、短く非常にコンパクトなものとすることができ
る。
【0041】尚、本発明は上記の実施例のみに限定され
るものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更し
て実施し得るものである。
るものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更し
て実施し得るものである。
【0042】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、筐体内に収納された回転体の回転軸の一端側に設け
たスラスト円板の上,下面に対向する上,下部スラスト
電磁石と、スラスト円板の外周部に固定された第1のラ
ジアル積層継鉄の積層端面を覆う第1のカバーに対向す
る第1のラジアル電磁石と、この第1のラジアル電磁石
の磁極間に取着され第1のカバーの外面を検出面とする
一端側のラジアル変位センサと、回転軸の他端側に固定
された第2のラジアル積層継鉄の積層端面を覆う第2の
カバーに対向する第2のラジアル電磁石と、この第2の
ラジアル電磁石の磁極間に取着され第2のカバーの外面
を検出面とする他端側のラジアル変位センサとを具備す
る構成としたことにより、筐体内の汚染が低減できると
共に小形化した磁気軸受装置を提供することができる効
果を奏する。
は、筐体内に収納された回転体の回転軸の一端側に設け
たスラスト円板の上,下面に対向する上,下部スラスト
電磁石と、スラスト円板の外周部に固定された第1のラ
ジアル積層継鉄の積層端面を覆う第1のカバーに対向す
る第1のラジアル電磁石と、この第1のラジアル電磁石
の磁極間に取着され第1のカバーの外面を検出面とする
一端側のラジアル変位センサと、回転軸の他端側に固定
された第2のラジアル積層継鉄の積層端面を覆う第2の
カバーに対向する第2のラジアル電磁石と、この第2の
ラジアル電磁石の磁極間に取着され第2のカバーの外面
を検出面とする他端側のラジアル変位センサとを具備す
る構成としたことにより、筐体内の汚染が低減できると
共に小形化した磁気軸受装置を提供することができる効
果を奏する。
【図1】本発明の一実施例に係るCVD装置の要部の縦
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明の一実施例に係るCVD装置の全体構成
の概略を示す断面図である。
の概略を示す断面図である。
【図3】本発明の一実施例に係るロータの縦断面図であ
る。
る。
【図4】本発明の一実施例に係る上部ラジアル磁気軸受
部の上部ラジアル積層継鉄部分の縦断面図である。
部の上部ラジアル積層継鉄部分の縦断面図である。
【図5】本発明の一実施例に係る下部ラジアル磁気軸受
部の下部ラジアル積層継鉄部分の縦断面図である。
部の下部ラジアル積層継鉄部分の縦断面図である。
【図6】本発明の一実施例に係る上部ラジアル磁気軸受
部の横断面図である。
部の横断面図である。
【図7】本発明の一実施例に係る下部ラジアル磁気軸受
部の横断面図である。
部の横断面図である。
【図8】本発明の一実施例に係る変位センサによる変位
の検出を説明するための図で、図8(a)はラジアル変
位センサが検出する変位を説明する図であり、図8
(b)はラジアル変位センサ及びスラスト変位センサが
検出する変位を説明する図である。
の検出を説明するための図で、図8(a)はラジアル変
位センサが検出する変位を説明する図であり、図8
(b)はラジアル変位センサ及びスラスト変位センサが
検出する変位を説明する図である。
【図9】従来の玉軸受を使用したCVD装置の要部の概
略構成を示す断面図である。
略構成を示す断面図である。
【図10】従来の磁気軸受を使用したCVD装置の要部
の概略構成を示す断面図である。
の概略構成を示す断面図である。
32…チャンバ 38…回転体 42…回転軸 49…上部ラジアル電磁石 50…上部ラジアル積層継鉄 51,79…カバー 53a,53b,53c,53d,53g,53h,8
1a,81b,81c,81d,81g,81h…突状
磁極 55…第1のラジアル変位センサ 56…第2のラジアル変位センサ 66…スラスト円板 69…上部スラスト電磁石 70…下部スラスト電磁石 76…スラスト変位センサ 77…下部ラジアル電磁石 78…下部ラジアル積層継鉄 83…第3のラジアル変位センサ 84…第4のラジアル変位センサ
1a,81b,81c,81d,81g,81h…突状
磁極 55…第1のラジアル変位センサ 56…第2のラジアル変位センサ 66…スラスト円板 69…上部スラスト電磁石 70…下部スラスト電磁石 76…スラスト変位センサ 77…下部ラジアル電磁石 78…下部ラジアル積層継鉄 83…第3のラジアル変位センサ 84…第4のラジアル変位センサ
Claims (2)
- 【請求項1】 筐体内に収納され回転軸の一端側にスラ
スト円板を設けた縦型の回転体と、前記スラスト円板の
上,下面に間隙を設けるようにして磁極を対向させ前記
回転体をスラスト方向に非接触に支持する上,下部スラ
スト電磁石と、前記スラスト円板の面を検出面として設
けられ前記上,下部スラスト電磁石を制御するための信
号を出力するスラスト変位センサと、前記スラスト円板
の外周部に固定され外周積層端面が第1のカバーで覆わ
れた第1のラジアル積層継鉄と、この第1のラジアル積
層継鉄の外周積層端面に間隙を設けるようにして磁極を
対向させ前記回転体の一端部をラジアル方向に非接触に
支持する第1のラジアル電磁石と、この第1のラジアル
電磁石の磁極間に前記第1のカバーの外面を検出面とし
て取着され該第1のラジアル電磁石を制御するための信
号を出力する一端側のラジアル変位センサと、前記回転
軸の他端側に固定され外周積層端面が第2のカバーで覆
われた第2のラジアル積層継鉄と、この第2のラジアル
積層継鉄の外周積層端面に間隙を設けるようにして磁極
を対向させ前記回転体の他端部をラジアル方向に非接触
に支持する第2のラジアル電磁石と、この第2のラジア
ル電磁石の磁極間に前記第2のカバーの外面を検出面と
して取着され該第2のラジアル電磁石を制御するための
信号を出力する他端側のラジアル変位センサとを具備し
たことを特徴とする磁気軸受装置。 - 【請求項2】 スラスト変位センサが、断面コ字形状で
円環状をなす上,下部スラスト電磁石のいずれか一方の
電磁石の磁極間に設けられていることを特徴とする請求
項1記載の磁気軸受装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15982793A JP3543976B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 磁気軸受装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15982793A JP3543976B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 磁気軸受装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0719244A true JPH0719244A (ja) | 1995-01-20 |
| JP3543976B2 JP3543976B2 (ja) | 2004-07-21 |
Family
ID=15702122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15982793A Expired - Fee Related JP3543976B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 磁気軸受装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3543976B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0953181A (ja) * | 1995-08-11 | 1997-02-25 | Ebara Corp | 薄膜気相成長装置 |
| JP2000283161A (ja) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Seiko Seiki Co Ltd | 磁気軸受装置及びこれを備えた真空ポンプ |
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| JP2018132166A (ja) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | 株式会社島津製作所 | 磁気軸受装置および真空ポンプ |
| KR20180134630A (ko) * | 2017-06-09 | 2018-12-19 | 코웨이 주식회사 | 오거식 제빙기의 오거 이탈 감지장치 |
| WO2019163722A1 (ja) * | 2018-02-26 | 2019-08-29 | 株式会社神戸製鋼所 | 磁気軸受 |
| CN115853900A (zh) * | 2022-12-31 | 2023-03-28 | 上海大学 | 一种适用于电机的径轴向主动磁悬浮轴承 |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP15982793A patent/JP3543976B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3543976B2 (ja) | 2004-07-21 |
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