JPH0719854A - 測定機の自動運転方法 - Google Patents

測定機の自動運転方法

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Publication number
JPH0719854A
JPH0719854A JP5165435A JP16543593A JPH0719854A JP H0719854 A JPH0719854 A JP H0719854A JP 5165435 A JP5165435 A JP 5165435A JP 16543593 A JP16543593 A JP 16543593A JP H0719854 A JPH0719854 A JP H0719854A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
work
measuring machine
part program
automatic
dimensional coordinate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5165435A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Yoshida
均 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP5165435A priority Critical patent/JPH0719854A/ja
Publication of JPH0719854A publication Critical patent/JPH0719854A/ja
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  • Stored Programmes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 作業者の入力操作工程を除去して入力ミスを
なくすことにより、パートプログラムを自動的に選出す
る。 【構成】 データ処理部32はワークの所定の位置の測
定データに基づいてワークの種別を判定する。次に、パ
ートプログラム自動選出部34はワーク種別判定結果に
基づいて、データベース部40に予め記憶されている多
種のパートプログラムの中から判定したワークに対応す
るパートプログラムを選出する。これにより、測定され
たワークに対応するパートプログラムを自動的に選出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は測定機の自動運転方法
に係り、特に自動運転用プログラムを備えた3次元座標
測定機でワーク形状を自動測定する際に、ワークに適合
させてパートプログラムを選出する測定機の自動運転方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】図4に示すように3次元座標測定機の3
次元座標測定機本体10は自動測定制御部14からの信
号に基づいて制御される。自動測定制御部14はデータ
処理部16から出力された自動運転用プログラムの信号
に基づいて3次元座標測定機本体10を制御する。そし
て、データ処理部16はデータベース部18に予め記憶
されている多種類のワークのパートプログラム(各ワー
クに合わせて作成した自動運転プログラム)を選出する
ことができる。
【0003】この3次元座標測定機で自動測定を行う場
合を図5のフローチャトに基づいて説明する。先ず、デ
ータベース部16に多種類のワークに適用するそれぞれ
のパートプログラムを予め記憶させておく。この状態
で、測定しようとするワークのファイル番号をキー入力
部20を介してデータ処理部16に入力すると(ステッ
プ100)、データ処理部16はキー入力部20の信号
に基づいてデータベース部18からワークに対応するパ
ートプログラムを選出する(ステップ102)。そし
て、データ処理部16はデータベース部18から選出し
たパートプログラムを自動測定制御部14に出力し、3
次元座標測定機本体10は自動測定制御部14からの制
御信号に基づいてワークの各部を自動測定する(ステッ
プ104)。これにより、3次元座標測定機本体10は
多種類のワークを自動測定することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
方法でワークを自動測定する場合、測定しようとするワ
ークのファイル番号を作業者がキー入力部を介してキー
入力する必要がある。従って、ワークの種類が多いと、
それぞれのワーク毎に対応するキー入力の種類が多くな
るので作業者が入力ミスをおこす場合がある。これによ
り、適正なパートプログラムを選出することができない
ので、自動測定を容易に行うことができないという問題
がある。
【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、キー入力なしに多種類のワークのパートプログ
ラムを適正に選出することができる測定機の自動運転方
法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、ワークの形状等を測定するために測定機を
自動運転する測定機の自動運転方法において、測定機で
ワークの所定の位置の測定データを得る工程と、測定デ
ータに基づいて前記ワークの種別を判定する工程と、前
記ワーク種別判定の結果に基づいて、予め記憶されてい
る多種のワークに対応するパートプログラムの中から前
記判定したワークに対応するパートプログラムを選出す
る工程と、前記選出されたパートプログラムに基づいて
測定機を自動運転する工程と、から成ることを特徴とす
る。
【0007】
【作用】本発明によれば、測定機で得たワークの所定の
位置の測定データに基づいてワークの種別を判定する。
次に、判定結果に基づいて、予め記憶されている多種の
ワークに対応するパートプログラムの中から前記判定し
たワークに対応するパートプログラムを選出して、選出
されたパートプログラムでワークの自動測定を行う。
【0008】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係る測定機の
自動運転方法について詳説する。図1には自動運転用プ
ログラムで運転可能に構成された3次元座標測定機のブ
ロック図が示されている。同図においてパートプログラ
ム自動選出手段30はデータ処理部32及びパートプロ
グラム自動選出部34から構成されている。データ処理
部32はパートプログラムの信号を後述する自動測定制
御部36に入力する。また、データ処理部32には3次
元座標測定機本体38からワーク37A、37B、37
C(図2参照)の所定の位置の測定データが入力され
る。
【0009】ここで、ワークの所定の位置の測定データ
について説明する。図2に示すように測定対象となるワ
ーク37A、ワーク37B、及びワーク37C等の所定
位置にワークの種類毎に特徴点TA 、TB 、TC が設定
されている。特徴点TA 、T B 、TC として、ワークの
種類毎に穴径の異なる穴やワークの種類毎に溝幅の異な
る切溝等が考えられる。そして、3次元座標測定機本体
38の測定子(図示せず)で特徴点TA 、TB 、TC
測定して各々の測定値をワーク37A、37B、37C
の所定の位置の測定データとする。
【0010】データ処理部32は3次元座標測定機本体
38から入力された測定データに基づいてワークの種別
を判定する。また、データ処理部32は判定結果をパー
トプログラム自動選出部34に出力する。パートプログ
ラム自動選出部34は入力されたワーク種別判定結果に
基づいて、データベース部40に予め入力されている多
種類のワークのパートプログラムの中から判定されたワ
ークに対応するパートプログラムを選出する。
【0011】尚、前述した自動測定制御部36はデータ
処理部32から出力されたパートプログラムの信号に基
づいて3次元座標測定機本体38を自動制御する。前記
の如く構成されたパートプログラム自動選出手段30等
を使用してパートプログラムを選出する場合の本発明に
係る測定機の自動運転方法を図3のフローチャートに基
づいて説明する。
【0012】先ず、ワーク37Aを自動測定する場合に
ついて説明する。3次元座標測定機本体38に設けられ
た測定子(図示せず。)で、ワーク37Aの所定の位置
特徴点TA を測定する(ステップ110)。これによ
り、ワーク37Aの所定の位置の測定データを得る。こ
の測定データは3次元座標測定機本体38からデータ処
理部32に入力される。そして、データ処理部32は測
定データに基づいて測定を行ったワークの種別を判定し
て、判定結果をパートプログラム自動選出部34に入力
する(ステップ112)。パートプログラム自動選出部
34は入力されたワーク種別判定結果に基づいて、測定
したワーク37Aに対応するパートプログラムを選出す
る(ステップ114)。
【0013】パートプログラムの選出完了後、パートプ
ログラム自動選出部34は選出したパートプログラムを
データ処理部32に入力する。データ処理部32は入力
されたパートプログラムに基づいて、パートプログラム
の信号を自動測定制御部36に入力する。自動測定制御
部36は入力されたパートプログラムの信号に基づいて
3次元座標測定機本体38を自動制御する。これによ
り、3次元座標測定機本体38はワーク37Aの形状を
自動的に測定する(ステップ116)。
【0014】次に、ワーク37Bを自動測定する場合、
3次元座標測定機本体38の測定子でワーク37Bの所
定位置の特徴点TB を測定して、この測定値をワーク3
7Bの測定データとする。そして、測定データに基づい
て、ワーク37Bに対応するパートプログラムを選出し
て、選出されたワーク37Bに対応するパートプログラ
ムに基づいてワーク37Bの形状を自動的に測定する。
尚、前記実施例では3次元座標測定機に本発明に係る
パートプログラムの選出方法を適用させた場合について
説明したが、これに限らず、その他の測定機に適用する
ことも可能である。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る測定機
の自動運転方法によれば、ワークの所定の位置の測定デ
ータに基づいて、測定されたワークに対応するパートプ
ログラムを自動的に選出することができる。従って、作
業者の入力操作工程を除去することができ作業者の入力
ミスをなくすことができるので、自動測定を容易に行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る測定機の自動運転方法を実行する
パートプログラム自動選出手段を3次元座標測定機に使
用した状態を示すブロック図
【図2】ワークの所定位置に設定された特徴点を説明す
る説明図
【図3】本発明に係る測定機の自動運転方法を説明する
フローチャート
【図4】従来の3次元座標測定機のブロック図
【図5】従来の3次元座標測定機の自動運転方法を説明
するフローチャート
【符号の説明】
30…パートプログラム自動選出手段 32…データ処理部 34…パートプログラム自動選出部 36…自動測定制御部 38…3次元座標測定機本体 40…データベース部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ワークの形状等を測定するために測定機
    を自動運転する測定機の自動運転方法において、 測定機でワークの所定の位置の測定データを得る工程
    と、 測定データに基づいて前記ワークの種別を判定する工程
    と、 前記ワーク種別判定の結果に基づいて、予め記憶されて
    いる多種のワークに対応するパートプログラムの中から
    前記判定したワークに対応するパートプログラムを選出
    する工程と、 前記選出されたパートプログラムに基づいて測定機を自
    動運転する工程と、 から成ることを特徴とする測定機の自動運転方法。
JP5165435A 1993-07-05 1993-07-05 測定機の自動運転方法 Pending JPH0719854A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5165435A JPH0719854A (ja) 1993-07-05 1993-07-05 測定機の自動運転方法

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JP5165435A JPH0719854A (ja) 1993-07-05 1993-07-05 測定機の自動運転方法

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JPH0719854A true JPH0719854A (ja) 1995-01-20

Family

ID=15812379

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JP5165435A Pending JPH0719854A (ja) 1993-07-05 1993-07-05 測定機の自動運転方法

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JP (1) JPH0719854A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000055644A (ja) * 1998-08-12 2000-02-25 Mitsutoyo Corp インライン測定システム
JP2001311616A (ja) * 2000-02-01 2001-11-09 Faro Technol Inc 座標測定システムに実行可能プログラムを提供する方法、システム、および記憶媒体
JP2022179757A (ja) * 2018-03-01 2022-12-02 株式会社東京精密 設計公差の修正方法及び測定システム

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