JPH07199073A - 共焦点レーザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法 - Google Patents
共焦点レーザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法Info
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Abstract
された封入媒体の屈折率との差異に起因する試料の光学
的断層像の歪みを補正できる共焦点レーザー走査顕微鏡
を提供する。 【構成】試料18が載置されたZステージ28を制御す
るコンピュータ24には、対物レンズ16の浸漬媒体の
屈折率(空気または油)の屈折率n1 と、試料18が封
入された封入媒体の屈折率n3 とが記憶されている。コ
ンピュータ24は、屈折率n1 とn3 との差異に起因す
る試料18の光学的断層像の歪みを補正するように、屈
折率n1 とn3 との組み合わせに応じてZステージ28
を制御する。その結果、画像モニタ26には、歪みが補
正された良好な試料18の光学的断層像が表示される。
Description
査顕微鏡に関し、更に詳しくは、光学的断層像の歪みを
補正できる共焦点レーザー走査顕微鏡と、共焦点レーザ
ー走査顕微鏡において歪みを補正した光学的断層像を表
示するための方法とに関する。
は、光源からの光を対物レンズにより微小なスポットに
絞り、このスポットで試料を走査し、試料からの透過光
または反射光を光電変換器で検出する結果、CRT上に
試料像を表示する。
コントラストの良好な像が得られ、共焦点検出法に従っ
て焦点位置をZ方向に移動させながら試料を走査するこ
とにより、試料の光学的断層像を得ることができる。
ンズが浸漬されている媒体の屈折率と、試料を封入して
いる媒体の屈折率との差異により、断層像に歪みが生じ
てしまう。例えば、断層像を得るべき試料として球形の
蛍光ビーズ等を用いた場合には、その断層像の観察結果
は表1に示す通りである。
焦点レーザー走査顕微鏡を提供することである。
れば、封入媒体に封入された試料の光学的断層像を得る
ための共焦点レーザー走査顕微鏡が提供される。この顕
微鏡は、レーザー光を射出するレーザー光源と、浸漬媒
体に浸漬された対物レンズを含み、前記光源からのレー
ザー光を封入媒体内の試料へ収束させる収束光学系と、
共焦点検出法により、試料に対する前記対物レンズの焦
点位置を前記対物レンズの光軸方向に沿って走査させる
走査手段と、試料からの反射光または透過光を検出して
光電変換する光電変換手段と、前記光電変換手段の出力
信号に基づいて、試料の光学的断層像を表示する手段
と、浸漬媒体の屈折率及び封入媒体の屈折率を記憶する
手段と、記憶された浸漬媒体の屈折率及び封入媒体の屈
折率に従って、走査手段を制御する手段とを備える。
射出するレーザー光源と、浸漬媒体に浸漬された対物レ
ンズを含み、前記光源からのレーザー光を封入媒体内の
試料へ収束させる収束光学系と、共焦点検出法により、
試料に対する前記対物レンズの焦点位置を前記対物レン
ズの光軸方向に沿って段階的に走査させる走査手段と、
試料からの反射光または透過光を検出して光電変換する
光電変換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基づい
て、試料の光学的断層像を表示する電子的表示手段とを
備える共焦点レーザー走査顕微鏡による試料の光学的断
層像を表示する方法が提供される。この方法は、試料の
横方向の実寸法から電子的表示手段の1ピクセルあたり
の長さを算出し、この算出された長さにより、前記走査
手段による段階的走査の第1の最小走査単位Zs を決定
することと、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率n1 と
封入媒体の屈折率n3 に基づいて、第1の最小単位Zs
を補正した第2の最小走査単位Zs ´を決定すること
と、第2の最小単位Zs ´に従って、前記走査手段の段
階的走査を制御しつつ、試料の光学的断層像を電子的表
示手段に表示させることとを備える。
光を射出するレーザー光源と、浸漬媒体に浸漬された対
物レンズを含み、前記光源からのレーザー光を封入媒体
内の試料へ収束させる収束光学系と、共焦点検出法によ
り、試料に対する前記対物レンズの焦点位置を前記対物
レンズの光軸方向に沿って段階的に走査させる走査手段
と、試料からの反射光または透過光を検出して光電変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基
づいて、試料の光学的断層像を表示する電子的表示手段
とを備える共焦点レーザー走査顕微鏡による試料の光学
的断層像をディジタルコンピュータを使用して表示させ
る方法が提供される。この方法は、前記対物レンズの浸
漬媒体の屈折率n1 と封入媒体の屈折率n3 とを少なく
とも含むデータベースを前記コンピュータに供給するこ
とと、前記コンピュータ内で、試料の横方向の実寸法か
ら前記電子的表示手段の1ピクセルあたりの長さを算出
し、この算出された長さにより、前記走査手段による段
階的走査の第1の最小走査単位Zs を決定することと、
前記コンピュータ内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈
折率n1 と封入媒体の屈折率n3 に基づいて、第1の最
小単位Zs を補正した第2の最小走査単位Zs´を算出
することと、前記コンピュータにより第2の最小単位Z
s ´に従って前記走査手段の段階的走査を制御しつつ、
試料の光学的断層像を電子的表示手段に表示させること
とを備える 本発明の方法の実施例によれば、第2の最小単位Zs ´
は、 Zs ´=Zs ・n3 /n1 に従って算出される。
折率と、試料が封入された封入媒体の屈折率との組み合
わせに応じて走査手段が制御される。このような制御に
よれば、浸漬媒体の屈折率と封入媒体の屈折率との差異
に起因する試料の光学的断層像の歪みが抑制される。
る共焦点レーザー走査顕微鏡(CLSM)において、レ
ーザー光源12から射出されたレーザービームは、ダイ
クロイックミラー14を透過し、対物レンズ16により
試料18へ収束される。
6を透過した光は、その所定の波長領域の光のみがダイ
クロイックミラー14により反射され、共振点ピンホー
ル20を通過して光電変換器22に検出される。光電変
換器22の出力は、CLSM10の近傍に接続されたデ
ィジタルコンピュータ24を介して画像信号として画像
モニタ26へ与えられる。画像モニタ26には、試料1
8の断層像が表示される。
封入媒体(図示せず)に封入された状態で、CLSM1
0のステージ28上に載置されている。このステージ2
8は、駆動源としてピエゾ素子(図示せず)を有し、C
LSM10の近傍に接続されたコンピュータ24の制御
により垂直方向(Z軸方向)へ自動的に駆動される。ス
テージ28は、好ましくは、コンピュータ24の制御に
より水平方向(X及びY軸方向)にも自動的に駆動可能
である。
等のマンマシーンインターフェース30が付属してい
る。CLSM10の対物レンズ16が浸漬された浸漬媒
体(例えば、空気または油)の屈折率n1 及び封入媒体
(例えば、グリセリンまたは水)の屈折率n3 を含むデ
ータベースは、インターフェース30を通じてコンピュ
ータ24内のメモリー(図示せず)に格納可能である。
2を参照しながら説明する。ここで上述の屈折率n1 及
びn3 は、コンピュータ24内のメモリー(図示せず)
に格納されているものとする。
屈折率n1 及び封入媒体の屈折率n3 を選択設定する
(S1)。
察すべき部位を対物レンズ16の光軸上に設定すると、
画像モニタ26には、ステージ28のZ軸方向位置(試
料18に対する対物レンズ16の焦点位置)に対応した
試料18の一断面像が表示される(S2)。
ながら、断面像のうちの観察すべきX切片をインターフ
ェース30により指定する(S3)。
(S4)した後、実際の走査を開始する(S5)。
示せず)は、モニタ26に表示される試料18の断層像
が縦横ともに同じスケールになるようにするため、先ず
試料18の横方向の実寸法からモニタ26の1ピクセル
あたりの長さを計算する(S6)。この長さにより、走
査すべきZ軸方向のステップZs が決定される。
ってステージをZ軸方向へ移動させながら走査を実行し
ていた。対照的に本発明では、対物レンズ16の浸漬媒
体の屈折率n1 及び封入媒体の屈折率n3 によりZs を
補正したステップZs ´に従ってステージ28をZ軸方
向へ移動させる。ここで、Zs ´は、 Zs ´=Zs ・n3 /n1 ……(I) であり、コンピュータ24のメモリーに格納された屈折
率n1 及びn3 に従って、コンピュータ24の演算部で
計算される(S7)。尚、この補正式(I)については
後述する。
は、1ライン走査する(S8)度に取り込んだ画像を画
像モニタ26に表示し(S9)、ステージ28をZ軸方
向にZ´s ずつずらしながら(S11)、1画面分のデ
ータが得られる(S10)まで試料18の走査及び表示
を実行し、それにより得られた画像をモニタ26上に縦
方向に並べる。その結果、モニタ26上には試料18の
断層像が表示される。
について説明する。
0から0″に移動し、上昇後の境界面0´からの移動距
離Z1 ′は、 Z1 ′=d/tan i′ 一方、 Z1 =d/tan i 従って、 Z1 ′=Z1 ・tan i/tan i′……(ii) (i) ,(ii)において、i,i′が充分に小さい領域(近
軸領域)では、近似的に、sin i=i,sin
i′=i′,tan i=i,tan i′=i′が成
立するので、(i) ,(ii)は以下のように表せる。
なく、様々な変更及び変形が可能である。例えば上記実
施例では、屈折率n1 及びn3 を予めコンピュータ24
に入力しておくものとしたが、一つの断層像を観察する
たびに入力してもよい。
査のために、ピエゾ素子を駆動源とするステージ28を
コンピュータ24で制御する方式を示したが、これに代
えて、対物レンズ16にピエゾ素子を組込み、この対物
レンズ16をコンピュータ制御によりZ軸方向移動させ
てもよい。或いは、対物レンズ16及び/またはステー
ジ28をコンピュータ制御されたステップモータにより
Z軸方向移動させてもよい。上記実施例では、落射照明
系の顕微鏡を示したが、透過照明系の顕微鏡を構成して
もよい。
て述べたが、XY走査による連続断面を得るものにも適
用できる。
ザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法によれ
ば、対物レンズの浸漬媒体の屈折率と、試料が封入され
た封入媒体の屈折率との組み合わせに応じて、対物レン
ズの光軸方向に沿った対物レンズの焦点位置が補正され
る。その結果、歪みの補正された断層像をリアルタイム
で得ることができる。
ック図である。
フローチャートである。
補正を説明するための光路図である。
源、16…対物レンズ、18…試料、22…光電変換器
(光電変換手段)、24…ディジタルコンピュータ(記
憶手段、制御手段)、26…画像モニタ(電子的表示手
段)、28…ステージ(走査手段)。
Claims (5)
- 【請求項1】 封入媒体に封入された試料の光学的断層
像を得るための共焦点レーザー走査顕微鏡であって、 レーザー光を射出するレーザー光源と、 浸漬媒体に浸漬された対物レンズを含み、前記光源から
のレーザー光を封入媒体内の試料へ収束させる収束光学
系と、 共焦点検出法により、試料に対する前記対物レンズの焦
点位置を前記対物レンズの光軸方向に沿って走査させる
走査手段と、 試料からの反射光または透過光を検出して光電変換する
光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づいて、試料の光学的
断層像を表示する手段と、 浸漬媒体の屈折率及び封入媒体の屈折率を記憶する手段
と、 記憶された浸漬媒体の屈折率及び封入媒体の屈折率に従
って、走査手段を制御する手段とを備える共焦点レーザ
ー走査顕微鏡。 - 【請求項2】 レーザー光を射出するレーザー光源と、 浸漬媒体に浸漬された対物レンズを含み、前記光源から
のレーザー光を封入媒体内の試料へ収束させる収束光学
系と、 共焦点検出法により、試料に対する前記対物レンズの焦
点位置を前記対物レンズの光軸方向に沿って段階的に走
査させる走査手段と、 試料からの反射光または透過光を検出して光電変換する
光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づいて、試料の光学的
断層像を表示する電子的表示手段とを備える共焦点レー
ザー走査顕微鏡による試料の光学的断層像を表示する方
法であって、 試料の横方向の実寸法から電子的表示手段の1ピクセル
あたりの長さを算出し、この算出された長さにより、前
記走査手段による段階的走査の第1の最小走査単位Zs
を決定することと、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率n1 と封入媒体の屈
折率n3 に基づいて、第1の最小単位Zs を補正した第
2の最小走査単位Zs ´を決定することと、 第2の最小単位Zs ´に従って、前記走査手段の段階的
走査を制御しつつ、試料の光学的断層像を電子的表示手
段に表示させることとを備える共焦点レーザー走査顕微
鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項3】 第2の最小単位Zs ´は、Zs ´=Zs
・n3 /n1 に従って算出される請求項2記載の光学的
断層像表示方法。 - 【請求項4】 レーザー光を射出するレーザー光源と、 浸漬媒体に浸漬された対物レンズを含み、前記光源から
のレーザー光を封入媒体内の試料へ収束させる収束光学
系と、 共焦点検出法により、試料に対する前記対物レンズの焦
点位置を前記対物レンズの光軸方向に沿って段階的に走
査させる走査手段と、 試料からの反射光または透過光を検出して光電変換する
光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づいて、試料の光学的
断層像を表示する電子的表示手段とを備える共焦点レー
ザー走査顕微鏡による試料の光学的断層像をディジタル
コンピュータを使用して表示させる方法であって、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率n1 と封入媒体の屈
折率n3 とを少なくとも含むデータベースを前記コンピ
ュータに供給することと、 前記コンピュータ内で、試料の横方向の実寸法から前記
電子的表示手段の1ピクセルあたりの長さを算出し、こ
の算出された長さにより、前記走査手段による段階的走
査の第1の最小走査単位Zs を決定することと、 前記コンピュータ内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈
折率n1 と封入媒体の屈折率n3 に基づいて、第1の最
小単位Zs を補正した第2の最小走査単位Zs´を算出
することと、 前記コンピュータにより第2の最小単位Zs ´に従って
前記走査手段の段階的走査を制御しつつ、試料の光学的
断層像を電子的表示手段に表示させることとを備える共
焦点レーザー走査顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項5】 第2の最小単位Zs ´は、Zs ´=Zs
・n3 /n1 に従って算出される請求項4記載の光学的
断層像表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35420793A JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35420793A JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07199073A true JPH07199073A (ja) | 1995-08-04 |
| JP3506749B2 JP3506749B2 (ja) | 2004-03-15 |
Family
ID=18436009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35420793A Expired - Fee Related JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3506749B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003098436A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-03 | Olympus Optical Co Ltd | 透過型顕微鏡装置 |
| EP2112543A1 (en) | 2008-04-21 | 2009-10-28 | Rinsoken Co., Ltd. | Three-dimensional image obtaining device and processing apparatus using the same |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP35420793A patent/JP3506749B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003098436A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-03 | Olympus Optical Co Ltd | 透過型顕微鏡装置 |
| EP2112543A1 (en) | 2008-04-21 | 2009-10-28 | Rinsoken Co., Ltd. | Three-dimensional image obtaining device and processing apparatus using the same |
| US8237797B2 (en) | 2008-04-21 | 2012-08-07 | Rinsoken Co., Ltd. | Three-dimensional image obtaining device and processing apparatus using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3506749B2 (ja) | 2004-03-15 |
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