JPH07200136A

JPH07200136A - 座標検出装置

Info

Publication number: JPH07200136A
Application number: JP34891193A
Authority: JP
Inventors: Toshihiko Miyamura; 俊彦宮村
Original assignee: Casio Computer Co Ltd
Current assignee: Casio Computer Co Ltd
Priority date: 1993-12-28
Filing date: 1993-12-28
Publication date: 1995-08-04
Anticipated expiration: 2018-10-20
Also published as: JP3459106B2

Abstract

(57)【要約】【目的】ペンの太さを検出することのできる座標検出
装置を提供することである。【構成】タブレットの入力面上でペンが指示する位置
の前回検出した座標（Ｘｒｅｇ、Ｙｒｅｇ）と今回検出
した座標（Ｘ、Ｙ）とから両位置の距離を算出し、この
操作をｎ回繰り返す。距離が計算される度に、距離のレ
ンジ別に設けられたタウンタＣＴＲ１〜ＣＴＲ４のカウ
ント値を更新する。最大のカウント値を有するカウンタ
に対応する太さをペンの太さと判断する。以後、ペンが
はなされるまで、検出されたペンの太さでペンの動きに
沿って描画を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は座標検出装置に関し、
特に、抵抗膜を用いたタブレットによりペン入力を行う
座標検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、日本語ワードプロセッサや、パー
ソナルデジタルアシスタント等と呼ばれるパームトップ
コンピュータの入力システムとしてペン入力システムが
注目されている。一般に、ペン入力システムは、表示装
置と一体に形成されたタブレットを備え、タブレット上
でペン（スタイラス）を動かして、位置情報（座標情
報）を入力するものである。ペンのタブレット上の位置
を検出する方式としては、抵抗膜式、静電容量式、感圧
式等が知られている。

【０００３】図７は、従来の抵抗膜式のタブレットの構
成を示す。図７において、抵抗膜入力部１は一定間隔を
おいて対向配置された上側抵抗膜３と下側抵抗膜６を有
している。上側抵抗膜３と下側抵抗膜６は透明抵抗膜か
ら構成され、表示装置（図示せず）の画面上に配置さ
れ、入力を表示面上で実行可能にしている。

【０００４】上側抵抗膜３の上辺部には長手方向に電極
５が形成されている。上側抵抗膜３の下辺部には電極５
と平行に電極１１が形成されている。下側抵抗膜６の右
辺部には電極１７が、上側抵抗膜３の電極５、１１と直
交するように形成されている。さらに、下側抵抗膜６の
左辺部には電極２３が電極１７と平行に形成されてい
る。

【０００５】スイッチ３１のａ側端子は上側抵抗膜３の
電極５に接続され、駆動電圧Ｖddを電極５に印加する。
スイッチ３１のｂ側端子は下側抵抗膜６の電極１７に接
続され、駆動電圧Ｖddを印加する。スイッチ３３のａ側
端子は下側抵抗膜６の電極２３に接続され、電極２３を
接地電圧に接続し、ｂ側端子は上側抵抗膜３の電極１１
に接続され、電極１１を接地電圧に接続する。スイッチ
３５のａ側端子は下側抵抗膜６の電極２３に接続され、
電極２３を介して得られる電圧を雑音除去回路３７に導
き、ｂ側端子は上側抵抗膜３の電極１１と接続され、電
極１１を介して得られる電圧を雑音除去回路３７に導
く。

【０００６】雑音除去回路３７の出力はＡ／Ｄ（アナロ
グ／デジタル）変換器３９の入力に接続される。Ａ／Ｄ
変換器３９の出力は座標検出を行うための座標検出シス
テムに接続される。

【０００７】上述のように構成された従来の座標検出装
置において、スイッチ３１をａ側にセットし、スイッチ
３３をｂ側にセットし、スイッチ３５をａ側にセットす
ると、上側抵抗膜３の電極５に駆動電圧Ｖddが印加さ
れ、電極１１に接地電圧が印加され、上側抵抗膜３の電
極５と１１の間に電流が流れる。この状態で、図示せぬ
ペン等による押圧により上側抵抗膜３と下側抵抗膜６が
座標（Ｘ，Ｙ）の位置において接触したと仮定すると、
座標（Ｘ，Ｙ）の位置の電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）は、電極５と
１１間の総表示ドット数をＬ１で表すと次式で示され
る。Ｖ（Ｘ，Ｙ）＝Ｖdd・（Ｌ１−Ｙ）／Ｌ１この電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）は、接触点を介して下側抵抗膜６
に伝達される。雑音除去回路３７の入力インピーダンス
が十分に高いとすると、下側抵抗膜６では電圧降下が発
生せず、この電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）は電極２３、スイッチ３
５を介して雑音除去回路３７に供給される。

【０００８】雑音除去回路３７は入力された信号の雑音
を除去し、Ａ／Ｄ変換回路３９に供給する。Ａ／Ｄ変換
回路３９は入力されたアナログ電圧をデジタル信号に変
換し、デジタル信号を座標検出システムに出力する。座
標検出システムは供給されたデジタル値より電子ペンの
押圧位置のＹ座標を検出する。

【０００９】その後、スイッチ３１、スイッチ３３、ス
イッチ３５を切り替え、スイッチ３１をｂ側にセット
し、スイッチ３３をａ側にセットし、スイッチ３５をｂ
側にセットする。この結果、下側抵抗膜６の電極１７と
電極２３間に電流が流れる。この状態で、上側抵抗膜３
と下側抵抗膜６が座標（Ｘ，Ｙ）で接触したままである
とすると、座標（Ｘ，Ｙ）の位置の電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）
は、電極１７と２３間の総ドット数をＬ２で表すと次式
で示される。Ｖ（Ｘ，Ｙ）＝Ｖdd・Ｘ／Ｌ２

【００１０】この電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）は、接触点を介して
上側抵抗膜６に伝達される。雑音除去回路３７の入力イ
ンピーダンスが十分に高いとすると、上側抵抗膜３では
電圧降下が発生せず、この電圧Ｖ（Ｘ，Ｙ）は電極１
１、スイッチ３５を介して雑音除去回路３７に供給され
る。

【００１１】雑音除去回路３７は入力された信号の雑音
を除去し、Ａ／Ｄ変換回路３９に供給する。Ａ／Ｄ変換
回路３９は入力されたアナログ電圧をデジタル信号に変
換して座標検出システムに出力する。座標検出システム
はデジタル値よりペンの押圧位置のＸ座標を検出する。

【００１２】その後、スイッチ３１、３３、３５を再び
切り換えることにより、新たな接触位置のＹ座標を求め
ることができる。このようにして、スイッチ３１、３
３、３５を短時間に連続的に切り替えることにより、ペ
ンの抵抗膜上、即ち、タブレットの接触面（＝表示面）
上の位置を検出できる。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の抵抗膜式の座標検出システムでは、ペン等が指示
する位置を検出できるが、その他の情報、例えば、使用
されたペンの太さ等を検出することはできなかった。こ
のため入力図形や入力文字を表示装置に表示する場合、
あらかじめ選択画面を表示して線の太さ等を設定してお
く必要があり、使用されたペンの太さに応じた文字や画
像を入力することが容易ではなかった。

【００１４】この発明は、上記実状に鑑みてなされたも
ので、ペンの位置のみならずペンの太さも検出すること
のできる座標検出装置を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に第１の観点にかかる座標検出装置は、両
端に実質的に平行に電極が設けられた第１抵抗膜と、前
記第１抵抗膜の電極と直交するように両端に実質的に平
行に電極が設けられた第２抵抗膜を対向して配置した抵
抗膜入力部と、前記第１抵抗膜の電極間と前記第２抵抗
膜の電極間に交互に電流を供給する手段と、前記第１抵
抗膜と前記第２抵抗膜の少なくとも一方を押圧して両抵
抗膜を接触させるペンと、前記ペンの押圧による前記第
１抵抗膜と第２抵抗膜の接触位置の座標を表す信号を検
出する検出手段と、前回検出した座標を表す信号と今回
検出した座標を表す信号とから両座標の距離を算出し、
算出した距離に基づいてペンの太さを判断する判断手段
とを備えたことを特徴とする。

【００１６】前記判断手段は、例えば、前記距離の算出
を複数回実行し、算出した距離が予め定められたレンジ
のいずれに属すかを判別し、最も多くの距離が属すレン
ジに対応する太さを前記ペンの太さと判別することを特
徴とする。前記判断手段は、例えば、前記ペンで前記第
１又は第２の抵抗膜を押圧した直後に前記距離の算出を
所定回数又は所定時間実行する。また、前記座標検出装
置表示手段と、前記判断手段により判断されたペンの太
さで前記ペンの軌跡に従って描画を行い、前記表示手段
に表示させる手段をさらに備えてもよい。

【００１７】また、この発明の第２の観点にかかる手書
き入力システムは、位置指示部材と、タブレット等の前
記位置指示部材の接触面を備え、前記位置指示部材の前
記接触面上の位置を検出する位置検出部を備え、前記位
置検出部は、前記位置指示部材の指示位置を複数回検出
する位置検出手段と、前記検出手段により検出された位
置のばらつきを判別し、判別されたばらつきの程度に応
じて前記位置指示部際の接触部分のサイズを検出するサ
イズ検出手段を備えたことを特徴とする。

【００１８】

【作用】ペン入力装置等では、使用するペン（より正確
にはペン先）が太いほど、ペンの位置の検出座標がばら
つく傾向がある。このため、このばらつきの程度を判別
することにより、使用されるペンの太さを判別できる。
この手法を用いて、この発明の第１の観点にかかる座標
検出装置は、前回検出した座標を表す信号と今回検出し
た座標を表す信号とから両座標の距離を算出し、算出し
た距離に基づいてペンの太さを判断する。

【００１９】ペンの太さを判別する具体的な手法として
は、例えば、前記距離の算出を複数回実行し、算出した
距離が予め定められたレンジのいずれに属すかを判別
し、最も多くの距離が属すレンジに対応する太さを前記
ペンの太さと判別する手法が考えられる。前記距離の算
出を前記ペンが前記第１又は第２の抵抗膜を押圧した直
後に所定回数又は所定時間実行し、以後は検出された太
さで前記ペンの軌跡に従って描画を行うようにしてもよ
い。

【００２０】上記構成によれば、文字や図形を入力する
際に自動的にペンの太さが検出されるので、別個にペン
の太さの設定等を行う必要がない。換言すれば、描きた
い線の太さに合わせてペン先を選択すれば、自動的にそ
のペン先の太さに応じた太さで線が描かれ、入力が簡便
になる。

【００２１】また、この発明の第２の観点にかかる手書
き入力システムにおいても、検出手段により検出された
位置のばらつきを判別し、判別されたばらつきの程度に
応じて前記位置指示部材の接触部分のサイズを検出す
る。

【００２２】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の座標検出シ
ステムを含む手書き入力システムの一実施例を説明す
る。図１はこの実施例に係る手書き入力システムのブロ
ック図である。なお、図１において、図７と同一部には
同符合を付す。

【００２３】図１に示すように、抵抗膜入力部１は一定
間隔をおいて対向配置された上側抵抗膜３と下側抵抗膜
６と、これらを保護する透明保護膜（図示せず）を有し
ている。上側抵抗膜３と下側抵抗膜６は透明抵抗膜から
構成され、後述する表示装置５３の画面上に配置され、
入力と表示を同一座標面上で実行可能にしている。

【００２４】上側抵抗膜３の上辺部には長手方向に電極
５が形成されている。上側抵抗膜３の下辺部には電極５
と平行に電極１１が形成されている。下側抵抗膜６の右
辺部には電極１７が、上側抵抗膜３の電極５、１１と直
交するように形成されている。下側抵抗膜６の左辺部に
は電極２３が電極１７と平行に形成されている。

【００２５】スイッチ３１のａ側端子は上側抵抗膜３の
電極５に接続され、駆動電圧Ｖddを電極５に印加する。
スイッチ３１のｂ側端子は下側抵抗膜６の電極１７に接
続され、駆動電圧Ｖddを印加する。スイッチ３３のａ側
端子は下側抵抗膜６の電極２３に接続され、電極２３を
接地電圧に接続し、ｂ側端子は上側抵抗膜３の電極１１
と接続され、電極１１を接地電圧に接続する。スイッチ
３５のａ側端子は下側抵抗膜６の電極２３に接続され、
電極２３の電圧を雑音除去回路３７に導き、ｂ側端子は
上側抵抗膜３の電極１１に接続され、電極１１の電圧を
雑音除去回路３７に導く。

【００２６】雑音除去回路３７の出力はＡ／Ｄ変換器３
９に供給され、デジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換
器３９の出力はシステムバス４１を介してＣＰＵ４３に
供給される。

【００２７】ＣＰＵ４３は座標検出装置全体を制御する
ものであり、内部に後述する距離レンジ別に配置された
４つのカウントレジスタＣＴＲ１〜ＣＴＲ４とル−プカ
ウンタを備える。ＲＡＭ４５はリ−ド／ライト可能なメ
モリで、ＣＰＵ４３の各種デ−タを格納すると共にＣＰ
Ｕ４３のワークエリアとして機能する。ＲＯＭ４７は読
みだし専用のメモリで、電源投入後の診断プログラム、
座標検出装置を立ち上げるためのブ−トプログラム、図
２に示すペンの太さを検出するためのプログラム等を格
納する。ＶＲＡＭ（ビデオＲＡＭ）４９は描画情報を格
納するためのビットマップメモリである。表示制御装置
５１はＶＲＡＭ４９から表示装置５３への表示情報の転
送、ＣＰＵ４３からＶＲＡＭ４９への表示情報の転送等
を制御する。

【００２８】表示装置５３は例えば液晶表示装置で構成
され、ＶＲＡＭ４９に記憶された図形や文字情報を表示
する。表示装置５３は上側抵抗膜３と下側抵抗膜６の下
に配置され、入力と表示を同一座標面上で実行可能にし
ている。外部インタ−フェ−ス５５は必要に応じて本装
置と外部装置とのデ−タの授受を制御する。上記各コン
ポ−ネントはシステムバス４１により接続されている。
ペン（スタイラス）５７は、表示装置５３の表示画面の
任意の点を指示するためのもので、このペン５７の押圧
により、上側抵抗膜３と下側抵抗膜６が押圧点で接触す
る。ペン５７の先端には、入力面との接触を検知する接
触スイッチが配置されており、ペン５７が画面（透明保
護膜）に触れると、接触スイッチがオンし、このことが
外部インタフェース５５を介してＣＰＵ４３に通知され
る。

【００２９】上記構成の座標検出装置によるペン５７の
先端の太さを判別する手法について説明する。一般にペ
ンが抵抗膜を押圧した瞬間の検出座標は図４に示すよう
に１点には集中せず、接触面積が大きくなるほど検出座
標は散在する。換言すると、ペン先が太くなるほど前回
検出した座標と今回検出した座標との距離は大きくなる
傾向がある。従って、ペンが抵抗膜を押圧した瞬間に、
接触位置の座標を複数回検出し、検出した座標相互の距
離を求めることにより、ペン先の太さを特定することが
できる。

【００３０】そこで、本実施例では、ペン５７のペン先
の種類を４種類とし、ペン５７が抵抗膜３、６を押圧し
た瞬間にペン５７の先端の座標をｎ（ｎは２以上の整数
であり、１０〜２０が望ましい）回検出し、前回と今回
の座標の距離を求めてペン先の太さを特定し、その後
は、検出されたペン先のサイズに基づいて、描画等の処
理を実行する。

【００３１】次に、図１に示す座標検出回路の具体的な
動作を、ペン５７を用いて表示装置５３に描画する場合
を例に、図２と図３のフローチャートを参照して説明す
る。なお、ペン５７の接触位置の座標の検出方法は従来
と同一である。ペン５７が画面と一体となった入力面に
接触すると、ペン５７の先端に配置された接触スイッチ
がオンし、このオン信号が外部インタフェース５５を介
してＣＰＵ４３に伝達される。ＣＰＵ４３はこのオン信
号に応答して、図２及び図３に示す処理を実行する。

【００３２】ＣＰＵ４３は、ステップＳ１においてＣＰ
Ｕ４３内のカウントレジスタＣＴＲ１、ＣＴＲ２、ＣＴ
Ｒ３、ＣＴＲ４を”０”にクリアすると共にル−プカウ
ンタにル−プ回数ｎをセットする（ステップＳ１）。

【００３３】スイッチ３１、３３、３５は、ＣＰＵ４３
等の制御により所定のタイミングで連続的に切り替えら
れており、Ａ／Ｄ変換器３９は雑音除去回路３７から出
力されるアナログ信号をＡ／Ｄ変換し、直接又はバッフ
ァ等を介して順次ＣＰＵ４３に供給する。ＣＰＵ４３は
Ａ／Ｄ変換器３９から出力されたデジタル値から、押圧
点のＸ、Ｙ座標を求め（ステップＳ３）、求めたＸ、Ｙ
座標をＸレジスタおよびＹレジスタにロ−ドする（ステ
ップＳ５）。

【００３４】ＣＰＵ４３はＡ／Ｄ変換器３９の出力を読
み取り、押圧点のＸ、Ｙ座標を求め（ステップＳ７）、
Ｘレジスタ及びＹレジスタに保存された前回のＸ、Ｙ座
標Ｘｒｅｇ、Ｙｒｅｇと今回求めたＸ、Ｙ座標Ｘ，Ｙと
の差から次式に従って距離を算出する（ステップＳ
９）。Ｚ＝｛（Ｘｒｅｇ−Ｘ）²＋（Ｙｒｅｇ−Ｙ）²｝^1/2

【００３５】ＣＰＵ４３はステップＳ１１において距離
Ｚの大きさを判別し、その大きさに応じた処理をステッ
プＳ１３〜Ｓ１９で実行する。即ち、距離Ｚが３（３表
示ドット）より小さい場合、ＣＰＵ４３はカウンタＣＴ
Ｒ１を１インクリメントする（ステップＳ１３）。距離
Ｚが３以上６未満の場合、ＣＰＵ４３はカウンタＣＴＲ
２を１インクリメントする（ステップＳ１５）。距離Ｚ
が６以上９未満の場合、ＣＰＵ４３はカウンタＣＴＲ３
を１インクリメントする（ステップＳ１７）。距離Ｚが
９以上の場合、ＣＰＵ４３はカウンタＣＴＲ４を１イン
クリメントする（ステップＳ１９）。

【００３６】このようにしてｎ回の距離計測のそれぞれ
について、該当する距離レンジ用のカウンタのカウント
値を更新する。

【００３７】ＣＰＵ４３はル−プ回数ｎから１を減算
し、減算後のｎが”０”か否か判断する（ステップＳ２
１）。”０”でなければ、フローは、ステップＳ５に戻
り、ステップＳ５乃至Ｓ２１の処理を繰り返す。ステッ
プＳ２１においてル−プ回数ｎ−１が”０”であると判
断されると、カウンタＣＴＲ１からＣＴＲ４の値を調べ
一番大きな値を有するカウンタに対応する太さをペン５
７のペン先の太さと判断する（ステップＳ２３）。

【００３８】即ち、カウンタＣＴＲ１の値が一番大きい
場合は、一番細いペンが使用されていると判別し、カウ
ンタＣＴＲ２の値が一番大きい場合は、２番目に細いペ
ンが使用されていると判別し、カウンタＣＴＲ３の値が
一番大きい場合は、２番目に太いペンが使用されている
と判別し、カウンタＣＴＲ４の値が一番大きい場合は、
一番太いペンが使用されていると判別する。

【００３９】その後、フローは図３に示す描画処理に移
る。まず、ＣＰＵ４３は先に読み込んだＸ、Ｙ座標をＸ
レジスタ及びＹレジスタに格納し（ステップＳ２５）、
Ａ／Ｄ変換器３９の出力を読み込み、新たなＸ、Ｙ座標
を求める（ステップＳ２７）。次に、ＣＰＵ４３はステ
ップＳ９においてＸレジスタ及びＹレジスタに格納され
た前回のＸ、Ｙ座標Ｘｒｅｇ、Ｙｒｅｇと今回求めた
Ｘ、Ｙ座標Ｘ、Ｙから前述の式を用いて距離を算出する
（ステップＳ２９）。

【００４０】距離Ｚが２（表示ドット）以下の場合、Ｃ
ＰＵ４３はその座標を正しい座標と判断し、検出された
値に基づいて、その座標を軌跡データとして必要に応じ
てＲＡＭ４５に保存すると共にＶＲＡＭ４９の対応する
位置を中心とする検出された太さに対応する範囲に表示
データ”１”を書き込むことにより、ライン引きの処理
を行う（ステップＳ３５）。

【００４１】例えば、ステップＳ２３で、細いペン５７
が使用されていると判断された場合には、図５（Ａ）に
示すようにＶＲＡＭ４９の検出された座標を中心として
比較的狭い範囲に表示データ”１”を書き込み、太いペ
ン５７が使用されていると判断された場合には、図５
（Ｂ）に示すようにＶＲＡＭ４９の検出された座標を中
心として比較的広い範囲に表示データ”１”を書き込
む。

【００４２】その後、描画処理が終了したか否かを、例
えば、ペン５７が画面から離れたか否かを判別すること
により判別し（ステップＳ３５）、描画処理が終了して
いない場合には、フローはステップ２５にリターンす
る。

【００４３】一方、ステップＳ３１において距離が３
（３表示ドット）以上離れていると判断された場合に
は、その座標は正しくないドット（エラー）であるとし
て、ステップＳ３３のライン引きの処理を行わずに、ス
テップＳ３５にジャンプする。また、ステップＳ３５に
おいて、描画処理が終了したと判断された場合、描画処
理は終了する。その後、ペン５７が入力面に接触する
と、再び図２のステップＳ１からの処理を開始する。

【００４４】例えば、文字「二」を上の「一」を太いペ
ンで、下の「一」を細いペンで記載した場合、図６
（Ａ）に示すように、上の「一」の先端でペンが太いこ
とが検出され、その後、検出されたペンの太さでペンが
離れるまで描画を行い、次に、図６（Ｂ）に示すよう
に、下の「一」の先端でペンが細いことが検出され、そ
の後、検出されたペンの太さでペンが離れるまで描画を
行う。

【００４５】上記実施例では、ペン５７の太さを特定す
るための距離の計算をｎ回行うように構成したが、ソフ
トウエアタイマ等により設定した時間だけ上記距離の計
算を行うように構成してもよい。また、ペンの太さは４
種類に限定されない。この場合、ペンの太さの種類に応
じた数の距離レンジ別のカウンタＣＴＲを配置する。ま
た、上記実施例では、描画の際に前回の座標と今回の座
標の距離が２（２ドット）以下の時その座標を真とし、
３以上の時その座標を偽としたが、真偽の基準は他の値
でもよい。

【００４６】以上説明したように、本実施例において
は、ペン５７で抵抗膜３、６を押圧した瞬間に座標のば
らつきを検出して使用されているペン５７の太さを判別
し、以後連続的に（ペンを離すまで）入力座標は同じ太
さのペンで入力されたものと判断し、図形や文字の描画
を行う。従って、線の太さの設定等を行うことなく、ペ
ンの太さに対応した太さの線を引くことができる。ま
た、描画の際に前回の検出位置と今回の検出位置の距離
を計算し、この距離が一定値以下の場合のみ、その座標
を正しいもの（真）と判断して描画に使用するので、正
確な描画が可能となる。

【００４７】この発明は上記実施例に限定されない。例
えば、上記実施例においては、ペン５７が画面（入力
面）に接触したか否かを判別するためにペン５７の先端
に接触スイッチを配置したが、例えば、Ａ／Ｄ変換器３
９の出力する値が”０”以外の値に変化した時点で、ペ
ン５７が画面に接触したと判別するようにしてもよい。

【００４８】また、上記実施例では、検出したペンの太
さで描画を行う場合を説明したが、ペンの太さを検出し
た後の処理は任意である。例えば、図５（Ａ），（Ｂ）
において、表示データ”１”の代わりに”０”を書き込
むようにすれば、ペンの軌跡上の表示がペンの太さに応
じた幅で消去され、いわゆる消しゴム機能が実現でき
る。

【００４９】上記実施例においては、座標のばらつき
（分散）の度合いを求めるため、前回と今回の検出位置
の距離を求めたが、その他の手法を使用してもよい。例
えば、座標をｎ回検出し、その標準偏差σを求め、この
値からペン先の太さを検出するようにしてもよい。

【００５０】上記実施例においては、抵抗膜タイプの座
標検出回路について説明したが、この発明は、これに限
定されず、種々の方式の座標検出回路に適用できる。例
えば、静電結合型の座標検出回路等においても、ペンの
先端が太くなるに従って検出座標のばらつきが大きくな
る傾向があり、本願発明を適用できる。また、位置を指
定するための構成はペン（スタイラス）型である必要は
なく、タブレット上の位置を指示できるならばその形状
は任意である。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、ペンの位置相互の距離のばらつきからペンの太さを
判断し、以後ペンを抵抗膜から離すまでその太さで描画
を行うことにしたので、図形が文字の太さに合わせてペ
ンを選べばよく、ペンの太さを設定する煩しさが無くな
る。また、通常のペン入力システムのハードウエア構成
を変更することなく、ペンの太さの検出が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の座標検出装置の一実施例を示すブロ
ック図である。

【図２】ペンの太さを検出する処理を説明するためのフ
ロ−チャ−トである。

【図３】描画処理を説明するためのフロ−チャ−トであ
る。

【図４】ペン先の太さと検出位置の関係を示す図であ
る。

【図５】ライン引きの処理を説明するための図である。

【図６】「二」を描画する場合の処理を説明する図であ
る。

【図７】従来の座標検出装置の構成例を示すブロック図
である。

【符合の説明】

１・・・抵抗膜入力部、３・・・上側抵抗膜、５、１１、
１７、２３・・・電極、６・・・下側抵抗膜、３１、３３、
３５・・・スイッチ、３７・・・雑音除去回路、３９・・・
Ａ／Ｄ変換器、４１・・・システムバス、４３・・・ＣＰ
Ｕ、４５・・・ＲＡＭ、４７・・・ＲＯＭ、５１・・・Ｖ
ＲＡＭ、５１・・・表示制御装置、５３・・・表示装置、５
５・・・外部インタフェース、５７・・・ペン

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】両端に実質的に平行に電極が設けられた第
１抵抗膜と、前記第１抵抗膜の電極と直交するように両
端に実質的に平行に電極が設けられた第２抵抗膜を対向
して配置した抵抗膜入力部と、前記第１抵抗膜の電極間と前記第２抵抗膜の電極間に交
互に電流を供給する手段と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜の少なくとも一方を押
圧して両抵抗膜を接触させるペンと、前記ペンの押圧による前記第１抵抗膜と第２抵抗膜の接
触位置の座標を表す信号を検出する検出手段と、前回検出した座標を表す信号と今回検出した座標を表す
信号とから両座標の距離を算出し、算出した距離に基づ
いてペンの太さを判断する判断手段とを備えたことを特
徴とする座標検出装置。
【請求項２】前記判断手段は前記距離の算出を複数回実
行し、算出した距離が予め定められたレンジのいずれに
属すかを判別し、最も多くの距離が属すレンジに対応す
る太さを前記ペンの太さと判別することを特徴とする請
求項１記載の座標検出装置。
【請求項３】前記判断手段は、前記ペンで前記第１又は
第２の抵抗膜を押圧した直後に前記距離の算出を所定回
数又は所定時間実行することを特徴とする請求項１又は
２記載の座標検出装置。
【請求項４】前記判断手段により判断されたペンの太さ
で前記ペンの軌跡に従って描画を行って表示する表示手
段を備えることを特徴とする請求項１、２又は３記載の
座標検出装置。
【請求項５】位置指示部材と、前記位置指示部材の接触面を備え、前記位置指示部材の
前記接触面上の位置を検出する位置検出部を備える入力
システムにおいて、前記位置検出部は、前記位置指示部材の指示位置を複数回検出する位置検出
手段と、前記位置検出手段により検出された位置のばらつきを判
別し、判別されたばらつきの程度に応じて前記位置指示
部材の接触部分のサイズを検出するサイズ検出手段を備
えたことを特徴とする手書き入力システム。