JPH07200337A - 入出力制御機構の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】中央処理装置の機種が換わっても、操作画面が
共通して使用できる入出力制御機構の試験方法を提供す
ることを目的とする。 【構成】中央処理装置４は、外部磁気ディスク１に格納
されている操作画面付きの入出力制御機構試験プログラ
ム１６を入出力制御機構５の試験プログラム格納エリア
９へダウンロ−ドする。入出力制御機構５は、該入出力
制御機構試験プログラム１６により該試験プログラムの
操作画面を中央処理装置４へ返送し、中央処理装置によ
り、返送された操作画面を表示装置２に表示して入力装
置３からの入力データを受け、入出力制御機構へ送り、
試験を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は試験プログラムを上位装
置の中央処理装置から入出力制御機構へダウンロ−ド
し、入出力制御機構の試験を行なう試験方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の、入出力制御機構の試験の場合、
特開平４−７４２４６号公報に開示されているごとく、
中央処理装置から入出力制御機構へ入出力制御機構の試
験プログラムをダウンロ−ドし、試験項目や各項目の設
定内容は中央処理装置からキ−入力され、テスト実行コ
マンドとして入出力制御機構の試験プログラムへ送られ
る。これにより、入出力制御機構の試験プログラムが実
行される。試験結果は入出力制御機構から中央処理装置
へ返送され、中央処理装置のプログラムで編集して画面
へ表示される。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来試験
方式では、中央処理装置を他の機種と入れ換えて接続し
たときには、中央処理装置にキ−入力を行なうための操
作画面やその他表示画面を新たに作成しなければならな
い。中央処理装置は試験プログラムのダウンロード、試
験項目や各項目のテスト実行コマンドとして入出力制御
機構への送信、試験結果を編集して画面への表示のた
め、操作画面は中央処理装置のプログラム言語で作成さ
れた中央処理装置固有のものとなり、中央処理装置の機
種が換わるごとに、操作画面を新たに作成しなければな
らないという問題があった。

【０００４】また、各中央処理装置ごとに操作画面やそ
の他表示画面を作成するときには、試験システムごとに
言語が異なったり、作成者が異なる等の理由から、操作
画面及び操作方法に違いが生じ、操作の統一性が損なわ
れるという問題も発生していた。

【０００５】そこで本発明の目的は、機種の異なる中央
処理装置に入れ換えて接続して試験を行なう場合にも操
作画面が使用出来る入出力制御機構の試験方法を提供す
ることにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成する手段として、操作画面やその他表示画面を試験
プログラム内に付加し、試験を行うときに中央処理装置
から入出力制御機構へダウンロ−ドする試験プログラム
は操作画面やその他表示画面に対し、状況に応じて選択
もしくは変更を加え、また中央処理装置は入出力制御機
構の特定なメモリエリアから操作画面やその他表示画面
を読みだし、ディスプレイに表示して、キ−ボ−ドから
のキ−入力操作を受ける。

【０００７】キ−入力操作により入力されたキ−入力デ
−タは、中央処理装置から入出力制御機構のロ−カルメ
モリの決められたエリアへ書き込むことでキ−入力の受
渡しを行う。キ−入力デ−タの受け渡し後、入出力制御
機構の試験を行なう。

【０００８】

【作用】入出力制御機構の試験プログラムには操作画面
が付加されており、この操作画面に対して試験プログラ
ムは状況に応じて選択もしくは追加を加え、またこの操
作画面をディスプレイに表示してキー入力を行なうの
で、中央処理装置の機種が変わっても操作画面を新しく
作ることなく試験を行なうことができる。

【０００９】

【実施例】本発明による実施例を、図面を使って詳細に
説明する。

【００１０】図１において、中央処理装置４に外部磁気
ディスク１、操作画面を表示するためのディスプレイ
２、キー入力を行なうためのキーボード３、及び入出力
制御機構５が接続されている。外部磁気ディスク１は入
出力機構試験プログラム１６と、そのプログラムに対応
する操作画面を格納している。中央処理装置４は外部磁
気ディスク１内のプログラムやデータを入出力制御機構
５へ転送（ダウンロード）したり、入出力制御機構５内
の画面表示データエリア１１に存在する画面データをデ
ィスプレイ２に出力したり、キーボード３からキー入力
データを入出力制御機構５内のキー入力エリア１３への
転送を行う。

【００１１】入出力制御機構５は入出力制御機構試験プ
ログラムを実行し、必要に応じてディスプレイに表示す
るための画面データを準備したり、キー入力データを中
央処理装置４から受け取り、試験プログラムへ渡す。

【００１２】１４は中央処理装置４の内部記憶装置であ
り、外部磁気ディスク１に格納されている入出力機構試
験プログラムと操作画面付きの入出力機構試験プログラ
ム１６に対応する操作画面をダウンロ−ドさせるための
ダウンロード処理プログラム６、入出力制御機構５内で
実行中のプログラムが必要に応じて準備する画面データ
をディスプレイに出力することを行う画面表示処理プロ
グラム７、キーボード３から入力されたキー入力データ
を入出力制御機構４への転送を行うキ−入力処理プログ
ラム８を格納する。

【００１３】１５は入出力機構５の内部記憶装置であ
り、中央処理装置４からの入出力制御機構試験プログラ
ム１６を入出力制御機構５内に格納するための入出力制
御機構試験プログラム格納エリア９、画面表示デ−タエ
リア１１に操作画面が格納されたかを示す画面準備完了
フラグエリア１０、入出力機構試験プログラムに対応す
る操作画面を格納する画面表示デ−タエリア１１、入出
力制御機構試験プログラム９がディスプレイ２に表示中
の画面に対し、キー入力の要求があるかどうかを示すキ
−入力フラグエリア１２、キーボード３からのキー入力
を格納するキ−入力エリア１３を有する。

【００１４】図２により、実際に試験プログラムを開始
させる時の動作説明を行う。

【００１５】まず、中央処理装置４の内部記憶装置１４
に格納してあるダウンロ−ド処理プログラム６を起動
し、外部磁気ディスク１に格納している操作画面付き入
出力制御機構試験プログラム１６を中央処理装置４へ読
みだす（ステップ２０）。

【００１６】続いて、読み出された操作画面付き入出力
制御機構試験プログラム１６の入出力制御機構試験プロ
グラムを入出力制御機構５の内部記憶装置１５内にある
入出力制御機構試験プログラム格納エリア９へ書き込む
（ステップ２１）。書き込みが終わると、入出力制御機
構試験プログラム格納エリア９内にある入出力制御機構
試験プログラム１６が実行される。入出力制御機構試験
プログラム１６は、中央処理装置４に接続されているデ
ィスプレイ２へ操作画面やその他表示画面を表示する必
要がある時は、操作画面やその他表示画面の中から必要
なものを選択して画面表示データエリア１１に書込む
（ステップ２２）。後述するステップ３７からこのステ
ップに至った場合は、既にディスプレイに画面が出力さ
れており、キーボード３からのキー入力データが存在
し、キー入力データにより、操作画面やその他表示画面
に対しその状況に応じて選択もしくは追加を加える必要
があるときには、キー入力データを画面表示デ−タエリ
ア１１の画面データに追加書込みし、ディスプレイの画
面を変更する必要があるときには、操作画面やその他表
示画面の中から必要な変更用画面を選択し、画面表示デ
ータエリア１１へ書き込む。画面データを書き込み終え
ると、入出力制御機構５の内部記憶装置１５内の画面準
備完了フラグエリア１０をオンとする（ステップ２
３）。それからは、入出力制御機構５は、中央処理装置
４が画面準備完了フラグをオフにするのを待っている
（ステップ２８）。

【００１７】一方、中央処理装置４にある内部記憶装置
１４の画面表示処理プログラム７は、随時入出力制御機
構５にある内部記憶装置１５の画面準備完了フラグエリ
ア１０を画面表示の準備ができているかチェックする
（ステップ２４）。画面表示処理プログラム７は、画面
準備完了フラグエリア１０がオンとなっていることを確
認すると、入出力制御機構５にある内部記憶装置１５の
画面表示デ−タエリア１１の内容を読みだし、画面表示
データエリア１１の画面データを中央処理装置４のディ
スプレイ２の表示コ−ドに変換してディスプレイ２に表
示する（ステップ２５、２６）。そして、入出力制御機
構５内の画面準備完了フラグエリア１０をオフとする
（ステップ２７）。

【００１８】ここで、入出力制御機構５側では、画面準
備完了フラグエリア１０がオフとなるのを随時チェック
しており、オフとなると（ステップ２８）、試験プログ
ラムがディスプレイに出力した画面に対しキー入力を要
求しているかを見て（ステップ２９）、キー入力を要求
していれば入出力制御機構試験プログラム９の指示によ
り入出力制御機構５内のキ−入力要求フラグエリア１２
をオンとする（ステップ３０）。

【００１９】中央処理装置４のキ−入力処理プログラム
８は、入出力制御機構５内のキ−入力要求フラグエリア
１２を読み出し、キ−入力の要求が有るプログラムであ
るかどうかを随時チェックし（ステップ３１）、キ−入
力要求フラグエリア１２がオンとなっていれば、キ−ボ
−ド３からのキ−入力を待つ（ステップ３２）。そし
て、キ−ボ−ド３からキー入力がされると、その入力さ
れたキー入力デ−タを入出力制御機構５内のキ−入力エ
リア１３へ書き込む（ステップ３３）。書込みが終わる
と、キ−入力要求フラグエリア１２をオフとする（ステ
ップ３４）。

【００２０】入出力制御機構試験プログラム９は、キ−
入力要求フラグエリア１２がオフになると、キ−入力エ
リア１３からキ−入力デ−タを受け取り、この時必要に
より、画面表示データエリア１１の画面データに、キー
ボード３からのキー入力データの追加を行なう（ステッ
プ３５）。書込みが終わると、キー入力要求フラグがオ
フとなるのを監視し、オフとなったら次の動作へ進む
（ステップ３６）。そして、入出力制御機構に対し、試
験を行なうかを入力させ（ステップ３７）、あらためて
画面データをディスプレイに表示させる必要がある時
や、別の画面をディスプレイに表示する必要がある時は
ステップ２２へ戻り、その必要がない時は以上のように
テスト内容の設定をすることによって入出力制御機構に
対し試験を実行させる（ステップ３８）。

【００２１】

【発明の効果】本発明は、試験プログラムには操作画面
に付加されており、１つの入出力制御機構を複数の異な
る種類の中央処理装置に入れ換えて接続する場合に、操
作画面やその他表示画面を中央処理装置の種類に関係無
く１度作成すれば、中央処理装置が変わっても、操作画
面やその他表示画面を各中央処理装置に使用することが
でき、操作性の統一をはかることが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す試験システムの構成図
である。

【図２】本発明の動作を示すフロー図

【図３】本発明の動作を示すフロー図

【符号の説明】

１…外部磁気ディスク、２…ディスプレイ、３…キ−ボ
−ド ４…中央処理装置、５…入出力制御機構、６…ダウンロ
−ド処理プログラム ９…入出力制御機構試験プログラム格納エリア、１３…
キ−入力エリア １４…中央処理装置内の内部記憶装置 １５…入出力制御機構内の内部記憶装置 １６…操作画面付き入出力制御機構試験プログラム

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】中央処理装置と、入出力制御機構と、表示
   装置と、入力装置と、外部記憶装置とからなるシステム
   における該入出力制御機構の試験を行なう試験方法にお
   いて、 前記外部記憶装置に格納されている操作画面や
   その他表示画面を付加した試験プログラムを中央処理装
   置により読み出し、前記入出力制御機構にダウンロード
   し、該試験プログラムにより該試験プログラムの操作画
   面を前記入出力制御機構から前記中央処理装置へ返送
   し、中央処理装置により返送された操作画面を表示装置
   に表示して入力装置からの入力データを受け、入出力制
   御機構へ送り、試験を行なうことを特徴とする入出力制
   御機構の試験方法。