JPH07201831A - 表面処理装置 - Google Patents
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- JPH07201831A JPH07201831A JP5354023A JP35402393A JPH07201831A JP H07201831 A JPH07201831 A JP H07201831A JP 5354023 A JP5354023 A JP 5354023A JP 35402393 A JP35402393 A JP 35402393A JP H07201831 A JPH07201831 A JP H07201831A
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Abstract
低圧力でプラズマを生成し、かつ被処理基板に対するイ
オンの照射エネルギを小さくする。 【構成】 真空容器1と、排気機構7と、ガス導入機構
と、筒形の放電用電極2と、この放電用電極に電力を供
給する電極供給機構10,11,12と、磁気回路4と、真空容
器内に設置される少なくとも1つの基板保持機構5を備
え、磁気回路は放電用電極に対し同軸位置であって間隔
をおいて並べられた複数のリング状永久磁石401,402 か
らなり、各々のリング状永久磁石は隣合う磁極の極性が
互いに逆になるように径方向に着磁され、少なくとも隣
合う2個のリング状永久磁石が放電用電極2の周囲に配
置され、かつその他の永久磁石が基板支持機構の前面空
間の周囲に配置され、基板保持機構の基板設置面が、磁
気回路の端部の近傍にて放電用電極の中心軸に対し垂直
に配置される。
Description
に、直流、高周波、マイクロ波等による放電で発生した
プラズマを利用して基板の表面処理を行うもので、半導
体デバイス製作工程で例えばドライエッチング装置やプ
ラズマCVD装置として利用される表面処理装置に関す
る。
体デバイス製作工程の1つであるドライエッチング工程
に利用される高周波放電反応装置について説明する。半
導体デバイス製作に不可欠である配線パターン形成行程
では、ドライエッチング技術が用いられる。ドライエッ
チング技術では、ハロゲンを含むガスを主成分とした混
合ガスを放電によってプラズマ化し、これによって発生
した各種活性種(例えば原子状塩素、原子状フッ素、フ
ッ素炭素化合物等)を基板表面の薄膜と反応させ、配線
として不要な薄膜部分を除去する。混合ガスをプラズマ
化させる最も一般的な方法は、内部が減圧された真空容
器中に2枚の平板状電極を対向して設け、一方の電極に
高周波電力を供給しかつ他方の電極を接地電位に保持す
ることによって、高周波電力のエネルギで放電を起こ
し、2つの電極間にプラズマを発生させる方法である。
この方法を利用した装置は平行平板型放電反応装置と呼
ばれ、広い分野で利用されている。
て、真空容器内で磁界を作る磁界発生手段を付加するこ
とによって、プラズマの生成効率を高めたマグネトロン
型放電反応装置が知られている。
平行平板型放電反応装置の従来の代表的構成例を示し、
これを概説する。71は真空容器、72は基板保持機構
を兼ねた放電を発生させるための電極、73は電極72
に対向する電極、74は処理される基板である。電極7
3は接地電位に保持される。75は真空容器71の内部
を所要の減圧状態にする排気機構、76は真空容器71
の内部に反応ガスを供給するためのガス導入管である。
電極72には高周波電力が供給され、そのための機構と
してRF電源77、整合回路78が付設される。電極7
2には真空封止を兼ねた絶縁物79が付設される。
される従来のマグネトロン型放電反応装置の構成を示
す。磁界を併用したドライエッチング装置は、多くの種
類のものが開発されているが、ここではいわゆる回転磁
界型装置の例を示した。図8において、図7で示した要
素と同一のものは同一の符号を付している。すなわち、
71は真空容器、72は基板保持機構を兼ねた電極、7
3は対向電極、74は基板、75は排気機構、76はガ
ス導入管、77はRF電源、78は整合回路、79は絶
縁物である。さらに、真空容器71の外側周囲にリング
状の形態を有し、内部に特別な磁極配置構造を有する電
磁石装置80が設置される。この特別な磁極配置構造を
有する電磁石装置80によれば、被処理基板74の被処
理面に対して平行な方向に磁界ベクトル(磁束密度B)
81を発生させることができる(文献:Journal of Nuc
lear Materials 200 (1993) pp291-295 )。また磁界ベ
クトル81の方向を基板74の処理面上で回転させるこ
とも一般に行われている。
れは、従来から、被処理基板の表面をエッチング処理す
るドライエッチング装置として広く使用され、線幅1μ
m程度の微細加工を行うエッチングに関しては十分な性
能を有し、多くの半導体工場において使用実績がある。
ッチング装置は、次のような問題を有する。
てドライエッチングを利用する最も大きな理由は、異方
性エッチング、すなわち垂直断面を有するエッチングが
可能な点にある。しかしながら、1μm以下の微細な構
造に関してドライエッチングにより垂直断面を得るに
は、プラズマ中のイオンを被処理基板に対して垂直に入
射させなければならない。当該イオンの直進性を良くす
るための最も簡単な手法は、放電圧力を低くすることで
ある。
装置では、放電圧力を低くしすぎるとプラズマ密度が低
下し、十分な処理速度が得られない。また放電圧力を低
くすれば、放電そのものを維持できなくなる。従って、
放電圧力を下げるには限界がある。さらに、放電圧力を
下げることにより、陰極(電極74)上の自己バイアス
電圧が大きくなり、これによって被処理基板74に対す
るイオンの入射エネルギが大きくなりすぎ、被処理基板
の表面に損傷を与える危険性が高まる。
基板表面の損傷を防止するという観点で、図8に示した
マグネトロン型放電反応装置の応用も広く試みられてい
る。マグネトロン形放電反応装置では、プラズマの生成
を外部磁界を併用して行うこので、陰極上の自己バイア
ス電圧を大きくすることなく放電電圧を小さくすること
(1〜10mTorr )ができ、その結果として、基板に対
するイオンの照射エネルギを小さくすることできる。そ
の上に、平行平板型放電反応装置と比較して低い放電圧
力においても放電が可能であるという利点を有する。
成されるプラズマが、作られる磁界の分布状態に依存し
て偏在するので、プラズマの均一性が悪いという問題を
有していた。
な構造を有し、低圧力でプラズマを発生することがで
き、被処理基板に対するイオンの照射エネルギを小さく
することができる表面処理装置を提供することにある。
置は、真空容器と、この真空容器内を減圧状態にする排
気機構と、真空容器内に放電用ガスを導入するガス導入
機構と、ガスを放電させプラズマを発生させるため筒形
の放電用電極と、この放電用電極にプラズマ発生用電力
を供給する電極供給機構と、放電用電極の周囲に設置さ
れる磁気回路と、真空容器内に設置される少なくとも1
つの基板保持機構を備え、磁気回路は放電用電極に対し
同軸位置であって間隔をおいて並べられた複数のリング
状永久磁石からなり、各々のリング状永久磁石は隣合う
磁極の極性が互いに逆になるように径方向に着磁され、
複数のリング状永久磁石のうち少なくとも隣合う2個の
永久磁石が放電用電極の周囲に配置され、かつその他の
永久磁石が基板支持機構の前面空間の周囲に配置され、
基板保持機構の被処理基板を設置する面が、磁気回路の
端部の近傍にて放電用電極の中心軸に対し垂直に配置さ
れる。
電極が、真空容器の他の部分との間で絶縁物を介設する
ことによって真空封止を維持しつつ真空容器の周面部の
一部として設けられる。
用電極は、真空容器の内部に、真空容器の周面部との間
で隙間をあけて真空容器に対して同軸的に配置され、か
つ両端が開放された筒形の形状を有する。
器と放電用電極との間に放電用電極を取り囲む筒形電極
が同軸的に配置され、筒形電極の軸方向の長さは放電用
電極の軸方向の長さよりも長く、筒形電極は浮遊電位に
保持され、また磁気回路の各リング状永久磁石は筒形電
極の周囲に配置される。なお筒形電極には、必要に応じ
て、浮遊電位に保持する代りに、バイアス電圧を印加で
きる構造を設けるようにすることもできる。
電極の周囲に相当する箇所に配置されるリング状永久磁
石を、放電用電極と筒形電極の間の空間に配置した。
電極を軸方向の長さが等しくかつ径の異なる2つの部分
からなる筒形部材で形成し、リング状永久磁石を2つ以
上用いて構成する他の磁気回路を放電用電極の径の小さ
い部分の周囲に配置したことを特徴とする。
電極は、径の異なる前記部分を交互に並べて蛇腹形状に
形成されている。
極と外部電極からなる内外二重構造とし、内部電極と外
部電極との間にリング状永久磁石を配置した。
との間には放電が発生する十分な隙間が形成される。
れたリング状永久磁石と、筒形電極における放電用電極
に対応する箇所に配置されたリング状永久磁石との対向
部分の磁極が同極性である。
密度プラズマを発生できる表面処理装置を提案するもの
で、従来からプラズマ閉じ込めに利用されていた磁界を
同時にプラズマ生成にも利用することによって、均一性
の良好な高密度プラズマを容易に発生させ得る。また磁
力線をプラズマの生成および閉じ込めに同時に利用する
ための構成として、高周波放電機構の応用が望ましい。
ための放電を発生させるための高周波電力を供給する電
極の構造を従来の平板状から筒状へ変更し、この放電用
電極の外周囲にリング状永久磁石が配置される。これに
よってプラズマは筒状放電用電極の内部に発生し、真空
容器の内部に拡散する。またこのプラズマは、リング状
永久磁石による磁界によって従来よりも高密度化され
る。さらに、この高密度のプラズマは真空容器内に拡散
し、かつ放電空間以外に配置されたリング状永久磁石に
よる磁力線によって真空容器内の空間に均一性よく閉じ
込められる。
ていた磁力線をプラズマの発生にも利用し、低圧力で高
密度のプラズマを効率よく発生させ、かつプラズマの均
一性を高める。
て説明する。
施例の構成を示す縦断面図である。図1において、1は
全体としての真空容器であり、真空容器1の中央部には
筒形(例えば円筒形)の放電用電極2が設けられる。放
電用電極2は、その両側に配置された2つのリング状絶
縁物3によって真空容器1の両側部分(金属製)1A,
1Bから絶縁されている。真空容器1は、上記筒形の放
電用電極2と両側部分1A,1Bとによって気密な密封
容器として形成されており、端面部1a,1bを除く部
分は、例えば円筒のごとき筒形形状を有する。この筒形
形状を有する部分を、ここでは「周面部」という。また
リング状の絶縁物3は、真空容器1の両側部分1A,1
Bのそれぞれと放電用電極2との間を真空封止する構造
を有する。真空容器1の内部空間は、表面処理を行うと
きに所要の真空状態(減圧状態)に保持され、導入され
た放電用ガスを放電させて必要なプラズマが生成され
る。また真空容器1の両側部分1A,1Bは接地電位に
保持される。
機構5が、その基板保持面を対向して設置される。基板
保持機構5は真空容器1の両側の端面部1a,1bに取
り付けられる。2つの基板保持機構5のそれぞれの上に
搭載された被処理基板6に対して表面処理が行われる。
筒形の周面部の外側周囲にはリング状永久磁石からなる
磁気回路4が設置される。磁気回路4は、適当な間隔で
並べて設置された複数のリング状永久磁石401,40
2で構成される。リング状永久磁石401,402は、
放電用電極2を含む周面部に対し同軸的な位置に配置さ
れる。少なくとも2つの永久磁石401は真空容器1の
両側部分1A,1Bの周囲に配置され、少なくとも2つ
の永久磁石402は放電用電極2の周囲に配置される。
真空容器1の両側部分1A,1Bはそれぞれ内部に各基
板保持機構5の基板6の前面空間を有し、リング状永久
磁石401は、その前面空間を囲むように設置される。
複数の永久磁石401,402による磁気回路4の構成
では、図1に示すように、リング状永久磁石は、径方向
の着磁され、かつ磁極の配置が隣合う永久磁石で互いに
逆になるように着磁されている。
する面は、磁気回路4の端部の近傍にて放電用電極2の
中心軸に対し垂直に配置される。
設けられ、その内部空間に存在するガスを排気する。ま
た真空容器1にはガス導入管8とガス導入機構(図示せ
ず)によって所定流量の所定ガスが導入される。排気機
構7の排気速度とガス導入機構によるガス導入流量を調
整することによって、真空容器1内の圧力を所定の値に
設定することができる。
れ、必要な電力が供給される。電力供給機構は、高周波
(RF)電源10と整合回路11を含んで構成され、高
周波電源10により発生した高周波電力を整合回路11
で調整して給電線12で電極2に供給する。
高周波およびマイクロ波による電力供給機構を含むもの
とする。ただし本実施例では、高周波、特に工業用周波
数に指定されている13.56MHzの応用例に関して
説明する。
づく表面処理装置の基本的な動作について説明する。図
2は、磁気回路4による磁界の形状およびその影響によ
るプラズマの生成状態を示す図であり、この図では真空
容器1を簡略化して示し、絶縁物3や基板保持機構5を
省略している。
部を排気して所要の減圧状態にし、その後にガス導入管
6およびガス導入機構によって所定ガスを所定圧力にな
るように真空容器1内に導入する。この所定の圧力は、
ガス種、磁界強度等によってそれぞれの最適値になるよ
うに設定される。
周波電力を整合回路11を通して放電用電極2に供給す
る。その結果、円筒形の放電用電極2の内側空間に高周
波による放電が発生し、プラズマが生成される。このと
きのプラズマの発生状態は、磁気回路4の構成に依存し
て決まる。
は、磁気回路4を構成するリング状永久磁石を、その作
用の特性によって2つの群(永久磁石401と永久磁石
402)に分けて設けている。永久磁石401による作
用は、永久磁石401により作られる磁力線501が真
空容器1の両側部分1A,1Bの容器壁のみを横切るこ
とである。永久磁石402による作用は、永久磁石40
2によって作られる磁力線502が放電用電極2を横切
り、その内部空間に広がることである。永久磁石401
および永久磁石402の境界部に発生する磁力線503
は、真空容器1の両側部分1A,1Bの容器壁と放電用
電極2の双方を横切る。
処理用真空容器1において、放電用電極2を用いてその
内部空間に生成されたプラズマは、次のような特徴を有
する。プラズマを発生させるために放電用電極2に高周
波電力を供給した場合、電極2の表面には高周波電圧に
よる電界(平均値としての電界)が存在し、これによっ
て加速された電子が真空容器1内に導入された気体分子
(原子)に衝突し、これをイオン化することにより特に
高密度のプラズマが局所的に生成され、真空容器1内に
拡散されながら維持される。プラズマが発生したとき、
プラズマ中の電子の運動は磁気回路4で作られる磁界に
よって決定される。本実施例では、磁界502との相互
作用に基づき図2に示される箇所に特に高密度のプラズ
マ505が生成される。本実施例におけるプラズマの生
成・維持機構は従来のマグネトロン形放電反応装置と基
本的に同一である。しかし、さらに詳しく述べると、本
実施例のプラズマの生成・維持機構では、プラズマ発生
用の放電用電極2およびその外周囲に設置されたリング
状永久磁石402の構成によって次のような特徴を有す
る。
の内部空間に生成されるプラズマとの間には電圧降下部
(電位差)があり、そこには直流電界(静電界)が存在
する。プラズマ中の電子の運動方向は、この電界と、永
久磁石402により発生した磁界502のうち当該電界
と直交する成分とによって決定される。具体的には、電
子は電界のベクトルと磁界のベクトルの外積の方向(径
方向内方)に移動し、電界と磁界の作用に基づいて放電
用電極2の内壁に沿って周方向に運動し、その移動経路
は閉じている。このようにプラズマ発生領域における電
子の移動経路が閉じていることにより、プラズマ発生領
域における電子の散逸が抑制され、局所的に高密度のプ
ラズマを容易に発生させかつ維持することができる。本
実施例の構成によって発生した高密度プラズマの特徴
は、図2の505に示されるように、放電用電極2の内
側表面に近接してリング状の領域を形成し、かつ高密度
のプラズマが生成されることにある。リング状領域でプ
ラズマを発生させるには、前述のごとく、円筒形状の放
電用電極2の周囲に複数のリング状永久磁石402が磁
極の配置を交互に異ならせて配置され、それらによって
作られる磁力線502が放電用電極2の内側表面に交差
し当該表面を横切ることが必要である。
に発生したプラズマにおいて、その中に存在するイオン
および活性化されたガス分子または原子は、真空容器1
の内部全体に拡散し、被処理基板6の表面に形成された
薄膜と反応してこれを除去する。このとき、永久磁石4
01により発生する磁界501は、プラズマ中の荷電粒
子の真空容器1の両側部分1A,1Bの内壁面との衝突
による損失を減少させ、プラズマの密度を高く保ち、か
つ被処理基板6の表面近傍におけるプラズマ密度の均一
性を良好にする作用を有する。
A,1Bと放電用電極2とを一体化して真空容器1を構
成しているため、真空容器1内に放電用電極を配置する
ことが不要となる。また磁気回路4を大気中に設置でき
るため、磁気回路4を冷却するための構造を設けること
が容易であり、保守管理が簡単である等の構造上の利点
を有する。
徴は、磁界502を用いてリング状形態の領域に存在す
る高密度プラズマ505を発生させ、この高密度プラズ
マ505で発生するイオンおよび活性化されたガス分子
または原子を、さらに別の磁界501によって効率よく
かつ均一に拡散させ、これによって被処理基板6の表面
処理を可能にした点にある。
例を説明する。図2において、図1で説明した要素と実
質的に同一の要素には同一の符号を付している。本実施
例の特徴は、放電用電極を真空容器とは別に用意し、こ
の円筒形の放電用電極を、真空容器1の内部であって、
同軸的位置にかつ軸方向の中央位置に設置した点にあ
る。2は円筒形の放電用電極であり、真空容器1の径よ
りも小さい径で作られている。電極2を支持する部材の
図示は省略される。放電用電極2は、真空封止部材を兼
ねた小型のパイプ状絶縁物13を通して配線される給電
線12によって高周波電力を供給され、この高周波電力
でプラズマを生成する。真空容器1と放電用電極2との
間の隙間14は、その間に放電が入り込まない程度に小
さい間隔にする必要がある。この間隔の寸法は、放電を
行うガスの種類および圧力によって異なるが、一般に数
ミリ(mm)程度が望ましい。また真空容器1は接地電位
に保持される。
て必要とされたリング状絶縁物3、および電極2と真空
容器両側部分1A,1Bとの接続部の構造が不要とな
り、この点で装置構成が簡略化されるという利点を有す
る。また放電用電極2と真空容器1とが別部材として作
られるため、周面部の径が大きい真空容器1を容易に作
ることができる。その他の装置構成および永久磁石40
1,402の着磁方向については、第1の実施例と全く
同じである。また本実施例においても、プラズマの生成
・維持のための機構は、第1の実施例において説明した
ものと全く同じである。
容器1の内表面が、プラズマ中のイオンによりスパッタ
され易いという特性を有する。特に、基板保持機構5に
直流あるいは交流のバイアスを与えて被処理基板6の表
面を処理する場合、真空容器1の内壁がスパッタされた
り、放電が不安定になる等の不具合が生じる。この原因
は、上記の各実施例においては、接地電位にある真空容
器を電極として利用しているためである。すなわち、プ
ラズマ電位が基板保持機構5のバイアスに従って変化
し、プラズマ電位と接地電位との間の電位差、すなわち
真空容器1の内壁面にできるシース内の直流電界が大き
くなり、これによるイオンの加速に起因するスパッタリ
ングが起きやすいためである。さらに、前記した電位差
が非常に大きくなると、局所的なアーク放電が発生し、
プラズマの状態が不安定になる場合もある。かかる不具
合を解消するために、以下の実施例が提案される。
明する。この実施例の特徴は、前述の第2の実施例の構
成において、放電用電極2と真空容器1の間に第2の円
筒状電極9(以下、円筒状電極9と記す)を設置した点
にある。円筒状電極9は、陽極であり、その軸方向の長
さが放電用電極2よりも長くなるように形成される。ま
た好ましくは、円筒状電極9は絶縁物(図示せず)を介
して真空容器1に固定され、電気的に浮遊させる。また
必要に応じて、円筒状電極9にバイアス電源19を含む
バイアス印加用構造を設け、バイアス電源19によって
任意のバイアス(接地電位も含む)を与えてもよい。電
圧円筒状電極9と真空容器1の間には磁気回路4を設置
する。磁気回路4の構造は、第1および第2の実施例の
場合と同じである。
絶縁物13と、円筒状電極9に設けられた真空封止部材
を兼ねた小型の同様な絶縁体16を通して配線される給
電線12で高周波電力を供給され、この高周波電力でプ
ラズマを発生させる。絶縁体16は、絶縁体13を延長
して同一物として設けることもできる。本実施例におけ
るプラズマの生成・維持のための機構は、前述の各実施
例で説明した機構と同じである。放電用電極2と円筒状
電極9との間の隙間15は、その間に放電が入り込まな
い程度に小さくし、寸法的には前記隙間14とほぼ同じ
である。また円筒状電極9と真空容器1の間には、磁気
回路4が設置するのに十分な隙間が形成される。なお真
空容器1と円筒状電極9との間に磁気回路4を設置する
のに十分な隙間を設ける余裕のない場合は、磁気回路4
を真空容器1の外側に設置することもできる。
気的に浮遊させることによって、基板保持機構5に対し
直流あるいは交流のバイアスを与えた場合にも、円筒状
電極9の電位がプラズマ電位に従って変化するため、プ
ラズマ電位との電位差が小さく保たれることになり、第
2の実施例での不具合が解消される。また基板保持機構
5が、その構造上バイアス電圧をかけにくい場合には、
円筒状電極9にバイアスを与えることによって被処理基
板6に入射するイオンのエネルギを制御することができ
る。さらに高周波による放電では、被処理基板6近傍の
プラズマの空間電位が高周波により振動し、被処理基板
6に入射するイオンのエネルギ幅が広がり、微細加工プ
ロセスに悪影響を及ぼすことがある。このときは、第3
図におけるバイアス電源の代わりに真空容器1と円筒状
電極9とをコンデンサを介して接続し、これにより円筒
状電極9の電位に関する高周波による振動を消し、プラ
ズマの空間電位の振動を抑制することができる。コンデ
ンサの容量は放電に用いる周波数の高周波に対し充分に
低いインピーダンスを持つものであればよい。
例を説明する。本実施例では、前述の第3の実施例の構
成において、放電用電極2において、径の大きい部分
(大径部)201と径の小さい部分(小径部)202を
複数交互に連続して設けた構造を有する。放電用電極2
は、小径部と大径部が軸方向に繰返して形成される蛇腹
形状に類似した形状を有する。また磁気回路4のうちプ
ラズマ生成を行うための永久磁石402は、放電用電極
2の径の小さい部分202と円筒状電極9の間の空間に
設置される。放電用電極2の径の大きい部分201と円
筒状電極9との間の隙間17は、その間に放電が入り込
まない程度に小さくする必要があり、その寸法は隙間1
4とほぼ同じである。また永久磁石402と円筒状電極
9との間も同程度の隙間を設けることが望ましいが、永
久磁石402の材質が、例えばフェライト等の絶縁物で
ある場合には必ずしも隙間を必要としない。その他の装
置構成および永久磁石の着磁方向は、第3の実施例の場
合と全く同じである。
分201の内側空間に発生する。本実施例によるプラズ
マの生成では、第1の実施例で説明したマグネトロン放
電による高密度プラズマの発生およびその維持と、いわ
ゆるホローカソード効果(近接して設置された陰極の間
を電子が往復運動することによって高密度プラズマを発
生させる作用)によるプラズマ生成・維持機構を併用す
ることによって、さらにプラズマの高密度化を実現して
いる。
明する。本実施例の特徴は、放電用電極2およびプラズ
マ発生用の磁気回路を構成する円筒状永久磁石402の
構造にある。本実施例では、放電用電極2は、軸方向の
長さが等しくかつ径が小さい部分(以下内部電極とい
う)203と大きい部分(以下外部電極という)204
とを内外に重ねて配置し、かつ電気的に接続して構成さ
れている。外部電極204と放電用電極2との間の隙間
18は、前述の各実施例においてはその間に放電が入り
込まない程度に小さくする必要があったが、本実施例に
おいてはこの隙間18をプラズマ発生用空間として利用
するため、ある程度大きな隙間として形成する。この隙
間18の寸法は、放電するガスの圧力によって異なる
が、一般的に数センチ(cm)程度が望ましい。
永久磁石403を、放電用電極2の内部電極203と外
部電極204との間の空間に2個以上配置する。リング
状の永久磁石403の着磁方向は、永久磁石401の場
合と同様に行われる。また永久磁石403の位置は、そ
の外側磁極がリング状永久磁石402の内側磁極と向い
合うように配置し、さらに磁極の向きは、リング状永久
磁石402とリング状永久磁石403の向い合う磁極が
同じ極になるように設置する。その他の装置構成および
その他の永久磁石401,402の着磁方向は、第1の
実施例と全く同じである。
遊電位とし、電極9に関する基本的な動作原理は第4の
実施例の場合と同じである。
電極2の内部電極203の内側空間と、放電用電極2の
外部電極204と円筒状電極9との間の隙間18の2箇
所において発生する。内部電極203の内側空間に発生
するプラズマの生成・維持のための機構は、第1の実施
例において説明した機構と全く同じである。また隙間1
8におけるプラズマの生成については、第2の実施例で
説明したマグネトロン放電とホローカソード効果の併用
によるプラズマ生成・維持の機構によって、さらなるプ
ラズマの高密度化の実現を可能とした構造を有する。
対称的な位置関係で2つの基板保持機構を備えるように
したが、1つの基板保持機構を設けるだけでもよい。
れば、高周波等を利用したマグネトロン放電による表面
処理装置において、従来プラズマの損失防止用に用いら
れていた磁力線の一部をマグネトロン放電によるプラズ
マ生成にも利用できるように放電用電極の形状に工夫を
したため、効率よく高密度プラズマを発生させ、かつ被
処理基板に表面処理の均一性を良好に保つことができ
る。本発明は、各種の高速かつ均一な大面積処理を要求
されるプラズマ処理装置であるドライエッチング装置、
CVD装置等に適用すると、その効果が顕著になる。
成を示す縦断面図である。
図である。
断面図である。
Claims (10)
- 【請求項1】 真空容器と、この真空容器内を減圧状態
にする排気機構と、前記真空容器内に放電用ガスを導入
するガス導入機構と、前記ガスを放電させプラズマを発
生させるため筒形の放電用電極と、この放電用電極にプ
ラズマ発生用電力を供給する電極供給機構と、前記放電
用電極の周囲に設置される磁気回路と、前記真空容器内
に設置される少なくとも1つの基板保持機構を備える表
面処理装置において、 前記磁気回路は前記放電用電極に対し同軸位置であって
間隔をおいて並べられた複数のリング状永久磁石からな
り、各々の前記リング状永久磁石は隣合う磁極の極性が
互いに逆になるように径方向に着磁され、 前記複数のリング状永久磁石のうち少なくとも隣合う2
個の前記永久磁石が前記放電用電極の周囲に配置され、
かつその他の前記永久磁石が前記基板支持機構の前面空
間の周囲に配置され、 前記基板保持機構の被処理基板を設置する面が、前記磁
気回路の端部の近傍にて前記放電用電極の中心軸に対し
垂直に配置される、 ことを特徴とする表面処理装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の表面処理装置において、
前記放電用電極が、前記真空容器の他の部分との間で絶
縁物を介設することによって真空封止を維持しつつ前記
真空容器の周面部の一部として設けられることを特徴と
する表面処理装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の表面処理装置において、
前記放電用電極は、前記真空容器の内部に、前記真空容
器の周面部との間で隙間をあけて前記真空容器に対して
同軸的に配置され、かつ両端が開放された筒形の形状を
有することを特徴とする表面処理装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の表面処理装置において、
前記真空容器と前記放電用電極との間に前記放電用電極
を取り囲む筒形電極が同軸的に配置され、前記筒形電極
の軸方向の長さは前記放電用電極の軸方向の長さよりも
長く、前記筒形電極は浮遊電位に保持され、また前記磁
気回路の各リング状永久磁石は前記筒形電極の周囲に配
置されることを特徴とする表面処理装置。 - 【請求項5】 請求項4記載の表面処理装置において、
前記放電用電極の周囲に相当する箇所に配置される前記
リング状永久磁石を、前記放電用電極と前記筒形電極の
間の空間に配置したことを特徴とする表面処理装置。 - 【請求項6】 請求項4または5記載の表面処理装置に
おいて、前記放電用電極を軸方向の長さが等しくかつ径
の異なる2つの部分からなる筒形部材で形成し、リング
状永久磁石を2つ以上用いて構成する他の磁気回路を前
記放電用電極の径の小さい部分の周囲に配置したことを
特徴とする表面処理装置。 - 【請求項7】 請求項6記載の表面処理装置において、
前記放電用電極は、径の異なる前記部分を交互に並べて
蛇腹形状に形成されていることを特徴とする表面処理装
置。 - 【請求項8】 請求項4または5記載の表面処理装置に
おいて、前記放電用電極を内部電極と外部電極からなる
内外二重構造とし、前記内部電極と前記外部電極との間
にリング状永久磁石を配置したことを特徴とする表面処
理装置。 - 【請求項9】 請求項8記載の表面処理装置において、
前記外部電極と前記筒形電極との間には放電が発生する
十分な隙間が形成されることを特徴とする表面処理装
置。 - 【請求項10】 請求項8または9記載の表面処理装置
において、前記放電用電極に配置された前記リング状永
久磁石と、前記筒形電極における前記放電用電極に対応
する箇所に配置された前記リング状永久磁石との対向部
分の磁極が同極であることを特徴とする表面処理装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP35402393A JP3225283B2 (ja) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | 表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35402393A JP3225283B2 (ja) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | 表面処理装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07201831A true JPH07201831A (ja) | 1995-08-04 |
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ID=18434794
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35402393A Expired - Fee Related JP3225283B2 (ja) | 1993-12-30 | 1993-12-30 | 表面処理装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3225283B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11288798A (ja) * | 1998-01-22 | 1999-10-19 | Kokusai Electric Co Ltd | プラズマ生成装置 |
| US6380684B1 (en) | 1999-05-18 | 2002-04-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Plasma generating apparatus and semiconductor manufacturing method |
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| KR100761687B1 (ko) * | 2005-06-10 | 2007-09-28 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 용량결합형 플라즈마소스 및 수직형 듀얼 프로세스챔버를구비한 플라즈마처리장치 |
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1993
- 1993-12-30 JP JP35402393A patent/JP3225283B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| US6835279B2 (en) | 1997-07-30 | 2004-12-28 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Plasma generation apparatus |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3225283B2 (ja) | 2001-11-05 |
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