JPH0720624Y2

JPH0720624Y2 - Electronics

Info

Publication number: JPH0720624Y2
Application number: JP9235089U
Authority: JP
Inventors: 幸一建部
Original assignee: Tottori Sanyo Electric Co Ltd; Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 1989-08-04
Filing date: 1989-08-04
Publication date: 1995-05-15
Anticipated expiration: 2004-08-04
Also published as: JPH0330880U

Description

【考案の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野本考案は複数の回路基板で構成され、各基板にテスト機
能が設けられた電子機器に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to an electronic device including a plurality of circuit boards, each board having a test function.

（ロ）従来の技術最近の電子機器に於いては、多機能化で１台の機器に複
数の回路基板が装着されているが、動作チェック或いは
不良基板の発見を行なう為に、各々の基板にはテスト機
能が設けられ、テストスイッチを操作することにより基
板毎にテスト可能に構成されている（例えば実公昭59-9
304号公報参照）。(B) Conventional technology In recent electronic devices, a plurality of circuit boards are mounted on one device due to the multi-functionality. However, in order to check the operation or find a defective board, each circuit board is mounted. Is equipped with a test function and can be tested for each board by operating the test switch.
(See Japanese Patent Publication No. 304).

（ハ）考案が解決しょうとする課題ところで各々の基板を機器に装着した段階でテストをす
る必要が生じた場合、基板の取付け方によってはスペー
スがなくテストスイッチが操作できない場合が有り、組
上げた状態でのテストが出来ないという問題が有った。(C) Problems to be solved by the device By the way, if it becomes necessary to test each board when it is mounted on the equipment, the test switch may not operate due to lack of space depending on how the board is mounted. There was a problem that the test in the state could not be done.

（ニ）課題を解決するための手段本考案は上述の問題点を解消すべくなされたもので、各
々の基板のテストスイッチをダイオードを介して接続す
るよう構成したものである。(D) Means for Solving the Problems The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is configured to connect the test switches on each substrate through a diode.

（ホ）作用本考案は上述の如く構成したので、基板装着後に１つの
基板のテストスイッチの操作により、全ての基板のテス
トを開始することが出来る。(E) Operation Since the present invention is configured as described above, it is possible to start the test of all the boards by operating the test switch of one board after mounting the boards.

（ヘ）実施例以下本考案の実施例を図面に基づき説明する。(F) Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

（１）（２）（３）（４）はそれぞれ異なる機能を備え
た回路基板であり、各々の基板には制御回路（1A）（2
A）（3A）（4A）にテスト動作を開始させるテストスイ
ッチ（1B）（2B）（3B）（4B）が設けられている。又基
板（１）のテストスイッチ（1B）は、基板（１）（２）
（３）（４）が機器に装着された際に、その他の基板
（２）（３）（４）のテストスイッチ（2B）（3B）（4
B）とダイオード（2C）（3C）（4C）を介して接続され
るよう構成されている。(1), (2), (3) and (4) are circuit boards having different functions, and the control circuits (1A) (2
Test switches (1B) (2B) (3B) (4B) for starting the test operation are provided in A) (3A) (4A). Also, the test switch (1B) of the board (1) is the board (1) (2)
When the (3) and (4) are mounted on the device, the test switches (2B) (3B) (4) of the other boards (2) (3) (4)
B) and diodes (2C) (3C) (4C) are connected.

したがって基板（１）（２）（３）（４）が機器に装着
されていない状態では、各々のテストスイッチ（1B）
（2B）（3B）（4B）を操作することにより、基板単体で
のテストを行うことが出来る。Therefore, when the boards (1), (2), (3) and (4) are not attached to the equipment, each test switch (1B)
By operating (2B), (3B), and (4B), it is possible to perform a test on a single board.

一方基板（１）（２）（３）（４）を機器に装着した状
態に於いて、テストを行なう必要が生じた場合には、基
板（１）のテストスイッチ（1B）を操作すると、テスト
スイッチ（1B）にダイオード（2C）（3C）（4C）で接続
された基板（２）（３）（４）もテストスイッチ（2B）
（3B）（4B）が操作されたと同じ状態となり、テストが
一斉に開始される。したがって基板を装着した状態に於
いて、テストスイッチが操作し難い基板が有ったとして
も、容易にテストを開始することができる。On the other hand, if it is necessary to perform a test with the boards (1), (2), (3) and (4) attached to the equipment, operate the test switch (1B) on the board (1) to perform the test. Substrate (2) (3) (4) connected to switch (1B) with diodes (2C) (3C) (4C) also test switch (2B)
(3B) (4B) will be in the same state as when operated, and the test will start all at once. Therefore, even if there is a board on which the test switch is difficult to operate with the board mounted, the test can be easily started.

尚基板の装着後でも、基板（２）（３）（４）について
はテストスイッチ（2B）（3B）（4B）の操作が可能であ
れば、基板（２）（３）（４）単独でのテストが可能で
ある。Even after mounting the board, if the test switches (2B) (3B) (4B) can be operated for the boards (2), (3) and (4), the boards (2), (3) and (4) alone can be used. Can be tested.

尚基板を装着した状態でテストする際に、何れのテスト
スイッチを操作すれば一斉にテストできるようにするか
即ちどのテストスイッチにダイオードを接続するように
するかは、基板を装着した時最も操作し易いテストスイ
ッチにすれば良い。When testing with the board mounted, which test switch is used to test all at once, that is, which test switch the diode is connected to is the most operated when the board is mounted. You can use a test switch that is easy to do.

（ト）考案の効果上述の如く本考案の電子機器は、回路基板毎に設けられ
たテストスイッチを操作することにより基板単独でテス
トを行なうことが出来る回路基板を複数個装着して構成
される際に、特定のテストスイッチに他のテストスイッ
チをダイオードを介して接続するよう構成したことによ
り、基板が装着された状態で特定のテストスイッチの操
作により他の基板のテストも同時に行なうことができる
ものであり、基板が装着された状態でのテストが容易と
なる。(G) Effect of the Invention As described above, the electronic device of the invention is configured by mounting a plurality of circuit boards on which the test can be performed by operating the test switch provided for each circuit board. At this time, by connecting the other test switch to the particular test switch through the diode, the operation of the particular test switch while the board is mounted makes it possible to simultaneously test other boards. Therefore, the test with the board mounted becomes easy.

[Brief description of drawings]

図面は本考案の電子機器の構成を示すブロック図であ
る。（１）（２）（３）（４）……回路基板、（1A）（2A）
（3A）（4A）……制御回路、（1B）（2B）（3B）（4B）
……テストスイッチ、（2C）（3C）（4C）……ダイオー
ド。The drawing is a block diagram showing the configuration of an electronic apparatus of the present invention. (1) (2) (3) (4) …… Circuit board, (1A) (2A)
(3A) (4A) …… Control circuit, (1B) (2B) (3B) (4B)
…… Test switch, (2C) (3C) (4C) …… Diode.

Claims

[Scope of utility model registration request]

1. An electronic device configured by mounting a plurality of circuit boards, each of which is capable of performing a test on its own by operating a test switch provided for each circuit board. An electronic device characterized in that another test switch is connected to a specific test switch via a diode.