JPH0720914Y2 - Substrate surface treatment equipment - Google Patents
Substrate surface treatment equipmentInfo
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- JPH0720914Y2 JPH0720914Y2 JP1990058570U JP5857090U JPH0720914Y2 JP H0720914 Y2 JPH0720914 Y2 JP H0720914Y2 JP 1990058570 U JP1990058570 U JP 1990058570U JP 5857090 U JP5857090 U JP 5857090U JP H0720914 Y2 JPH0720914 Y2 JP H0720914Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 この考案は半導体ウエハやフォトマスク用ガラス基板等
(以下単に基板と称する)を表面処理するのに用いられ
るコンベア搬送式の表面処理装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION << Industrial Application Field >> The present invention relates to a conveyor-conveying type surface treatment apparatus used for surface treatment of semiconductor wafers, glass substrates for photomasks, etc. (hereinafter simply referred to as substrates). Is.
《従来の技術》 この種の表面処理装置としては、従来より例えば特公平
1-16037号公報に開示されたものが知られている。<< Prior Art >> As a surface treatment device of this type, for example,
The one disclosed in JP-A 1-16037 is known.
それは、第8図に示すように、基板Wを水平搬送するロ
ーラコンベア120と、ローラコンベア120の上方に配置さ
れ、基板Wの表面に処理液111を吐出する複数の処理液
吐出ノズル110とを具備して成り、処理液吐出ノズル110
は、基板Wの搬送方向Bに沿う噴射軌跡をえがいて反復
動作する複数の回動ノズル110bと、上記搬送方向と交差
する方向Cに沿う噴射軌跡をえがいて反復動作する複数
の回動ノズル110cとを具備して成り、基板Wの表面に処
理液111を均一に散布することを意図して構成されてい
る。As shown in FIG. 8, it is provided with a roller conveyor 120 that horizontally conveys the substrate W, and a plurality of processing liquid ejection nozzles 110 that are arranged above the roller conveyor 120 and that eject the processing liquid 111 onto the surface of the substrate W. Comprised of the processing liquid discharge nozzle 110
Is a plurality of rotary nozzles 110b that repeats the ejection trajectory along the conveyance direction B of the substrate W and a plurality of rotation nozzles 110c that repeats the ejection trajectory along a direction C intersecting the conveyance direction. And is configured so as to uniformly disperse the processing liquid 111 on the surface of the substrate W.
なお、第8図において、各回動ノズル110b・110cはその
下面に多数の噴射孔104を等ピッチであけたものであ
る。また同図中符号102は給液用配管、130は反復動作用
の回動駆動装置である。In addition, in FIG. 8, each of the rotary nozzles 110b and 110c has a large number of injection holes 104 formed on the lower surface thereof at an equal pitch. Further, in the figure, reference numeral 102 is a liquid supply pipe, and 130 is a rotary drive device for repetitive operation.
《考案が解決しようとする課題》 上記従来例は優れたものであるが、なお下記のような難
点がある。<< Problems to be Solved by the Invention >> Although the above-mentioned conventional example is excellent, it still has the following drawbacks.
イ.基板Wが搬送方向Bに揺動するノズル110bの下方を
異動中、ノズル110bの揺動方向に平行に噴射された液滴
が直接、基板表面に供給され、常時、新液が流動してい
る状態の流動部と、供給された液が液溜り状に一時、各
流動部間に漂う液溜り部とが形成される。I. While the substrate W moves below the nozzle 110b that swings in the transport direction B, droplets ejected parallel to the swinging direction of the nozzle 110b are directly supplied to the substrate surface, and the new liquid constantly flows. The fluidized portion in the state and the liquid reservoir in which the supplied liquid drifts between the fluidized portions temporarily are formed.
流動部において、基板表面の表面処理、例えばエッチン
グ処理は速やかに行われ、液溜り部は、一旦表面処理し
た後の液が溜まるため、相対的に表面処理は遅くなる。
その結果、ノズルの揺動方向と平行に処理ムラが発生す
る。In the fluidized portion, the surface treatment of the surface of the substrate, for example, the etching treatment is quickly performed, and the liquid pooling portion accumulates the liquid after the surface treatment, so that the surface treatment becomes relatively slow.
As a result, processing unevenness occurs parallel to the swinging direction of the nozzle.
ノズル110bは搬送方向Bに揺動するため基板W表面は、
搬送方向Bと平行に処理ムラが発生する。Since the nozzle 110b swings in the transport direction B, the surface of the substrate W is
Processing unevenness occurs in parallel with the transport direction B.
ノズル110cは搬送方向に対し直角方向Cに揺動するた
め、搬送速度が遅い場合、基板W表面にC方向のムラが
生じる。Since the nozzle 110c swings in the direction C perpendicular to the carrying direction, when the carrying speed is slow, unevenness in the C direction occurs on the surface of the substrate W.
特に液晶用ガラス基板のように寸法が大型化する場合、
この処理ムラは無視することができない。Especially when the size becomes large like a glass substrate for liquid crystal,
This processing unevenness cannot be ignored.
ロ.また、各回動ノズル110b・110cを揺動回転する構造
であるため、構造が複雑でコスト高につく。B. Further, since the rotating nozzles 110b and 110c are rotated and rotated, the structure is complicated and the cost is high.
ハ.回動ノズルの噴射孔104より勢いよく処理液が噴射
され、その処理液が基板W上で飛散するため、処理液ミ
ストが多量に発生し、このミストのために基板処理の進
捗状態を視認できないことがある。C. Since the processing liquid is jetted vigorously from the jetting hole 104 of the rotating nozzle and the processing liquid is scattered on the substrate W, a large amount of the processing liquid mist is generated, and the progress of the substrate processing cannot be visually recognized due to the mist. Sometimes.
本考案はこのような事情を考慮したもので、上記イ〜ハ
の難点を解消することを技術課題とする。The present invention takes such a situation into consideration, and an object of the present invention is to solve the above problems (a) to (c).
《課題を解決するための手段》 本考案は上記課題を解決するものとして、以下のように
構成される。<< Means for Solving the Problems >> The present invention is configured as follows to solve the above problems.
即ち、請求項1に記載した基板は、基板を水平搬送する
コンベアと、基板の表面に処理液を吐出する処理液吐出
ノズルを具備して成る基板の表面処理装置において、 コンベアの両側端部上方に少なくとも一組以上の処理液
吐出ノズルを基板の横幅以上の間隔をあけて配置し、処
理液吐出ノズルの吐出口をスリット状に開口して基板の
搬送方向と平行をなすように交互に配置し、 基板の搬送方向と交差する方向へ処理液をカーテン状に
傾斜させて吐出するように構成したことを特徴とするも
のである。That is, the substrate according to claim 1 is a substrate surface treatment apparatus comprising a conveyer for horizontally conveying the substrate and a treatment liquid discharge nozzle for discharging a treatment liquid on the surface of the substrate, and above both end portions of the conveyer. At least one set of processing liquid discharge nozzles are arranged at intervals of the width of the substrate or more, and the discharge ports of the processing liquid discharge nozzles are opened in a slit shape and alternately arranged so as to be parallel to the substrate transport direction. The processing liquid is ejected while being inclined in a curtain shape in a direction intersecting the substrate transport direction.
また、請求項2に記載した考案は、コンベアの上方に、
基板の搬送方向に基板の長さ以上の間隔をあけて、処理
液吐出ノズルを配置し、 処理液吐出ノズルの吐出口を基板の横幅以上の長さにス
リット状に開口し、 各処理液吐出ノズルから吐出する処理液を互いに対向す
る方向に傾斜させ、 コンベアの搬送方向を正逆転させ、基板を各処理液吐出
ノズル間を往復動させるように構成したことを特徴とす
るものである。Further, the invention described in claim 2 is, above the conveyor,
The processing liquid discharge nozzles are arranged at intervals of at least the length of the substrate in the substrate transport direction, and the processing liquid discharge nozzle's discharge port is opened in a slit shape with a width of at least the width of the substrate to discharge each processing liquid. The processing liquid discharged from the nozzles is inclined in a direction opposite to each other, the convey direction of the conveyor is reversed, and the substrate is reciprocated between the processing liquid discharging nozzles.
《作用》 請求項1に記載した考案では、コンベアの両側端部上方
に離間配置された少なくとも一組の処理液吐出ノズルよ
り処理液が基板の搬送方向と交差する方向へ交互にカー
テン状に吐出される。従って、基板の表面は均一な処理
液の流動液層で覆われ、むらなく均一な表面処理がなさ
れる。<Operation> In the invention described in claim 1, the processing liquid is discharged in a curtain shape alternately from at least one set of the processing liquid discharge nozzles which are arranged above both end portions of the conveyor so as to be separated from each other. To be done. Therefore, the surface of the substrate is covered with a uniform fluidized layer of the treatment liquid, and uniform surface treatment is performed.
なお、一組の処理液吐出ノズルは、基板の横幅以上の距
離に離間して配置されているので、処理液の吐出を止め
たときに、処理液がぽた落ちした場合でも、基板上に滴
下するのを免れる。It should be noted that the set of treatment liquid discharge nozzles are arranged at a distance of at least the width of the substrate, so that even if the treatment liquid drops when the treatment liquid is stopped from discharging, Avoid dripping.
請求項2に記載した考案では、コンベアの上方に配置さ
れた処理液吐出ノズルより処理液が基板の搬送方向、又
はその逆方向にカーテン状に吐出するため、基板表面に
は搬送方向又は、その逆方向に均一な処理液の流動液層
が形成され、均一なかつ、速やかな表面処理をすること
ができる。According to the second aspect of the present invention, since the processing liquid is ejected in a curtain shape from the processing liquid ejection nozzle disposed above the conveyor in the substrate conveying direction or the opposite direction, the substrate surface is conveyed in the conveying direction or its direction. A uniform fluidized layer of the treatment liquid is formed in the opposite direction, and uniform and rapid surface treatment can be performed.
《実施例》 第1図は本考案の一実施例を示す表面処理装置の斜視
図、第2図は処理液吐出ノズルの断面図、第3図は2つ
割り状に形成した一方のノズルを内面より見た図で、第
2図のIII-III線矢視断面図に相当する。<< Embodiment >> FIG. 1 is a perspective view of a surface treatment apparatus showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of a treatment liquid discharge nozzle, and FIG. 3 shows one nozzle formed in a split shape. The view seen from the inner surface corresponds to the sectional view taken along the line III-III in FIG.
この表面処理装置は、基板Wを水平搬送するローラコン
ベア20と、基板Wの表面に処理液の流動液層11を吐出形
成する一組の処理液吐出ノズル10・10′を具備して成
る。This surface treatment apparatus comprises a roller conveyor 20 for horizontally conveying the substrate W and a set of treatment liquid ejection nozzles 10 and 10 'for ejecting and forming a fluidized liquid layer 11 of the treatment liquid on the surface of the substrate W.
ローラコンベア20は、多数の搬送ローラ2a…を連設し、
図示しない連動駆動手段で連動することにより、基板W
を順次水平搬送するように構成されている。なお、搬送
ローラ2aの形状は基板Wとの接触面積を考慮して適宜変
更可能である。The roller conveyor 20 has a large number of conveying rollers 2a ...
By interlocking with the interlocking drive means (not shown), the substrate W
Are sequentially conveyed horizontally. The shape of the transport roller 2a can be appropriately changed in consideration of the contact area with the substrate W.
一組の処理液吐出ノズル10・10′は、ローラコンベア20
の両側端部上方に基板Wの横幅b以上の間隔をあけて千
鳥状に互い違いに配置され、各処理液吐出ノズル10・1
0′の吐出口4はスリット状に開口してローラコンベア2
0の搬送方向Bと平行をなすように配置され、これと交
差する方向C・C′へ処理液をカーテン状に傾斜させて
吐出し、流動液層11を形成するように構成されている。The set of processing liquid discharge nozzles 10 and 10 'is the roller conveyor 20.
Of the processing liquid discharge nozzles 10.1 are arranged in a staggered manner above the both end portions of the substrate W at intervals of the width b or more of the substrate W.
The discharge port 4 of 0'is opened in a slit shape and the roller conveyor 2
It is arranged so as to be parallel to the transporting direction B of 0, and is configured to discharge the processing liquid while being inclined in a curtain shape in a direction C · C ′ intersecting with the transporting direction B to form a fluidized liquid layer 11.
なお、一方のノズル10と他方のノズル10′とは搬送方向
へ相互に位置を少しずらせて配置するほうが好ましい。
流動液層11・11′を基盤表面上で直接対向させないため
である。Note that it is preferable that the one nozzle 10 and the other nozzle 10 'are arranged at positions slightly displaced from each other in the carrying direction.
This is because the fluid liquid layers 11 and 11 'are not directly opposed to each other on the surface of the base.
この処理液吐出ノズル10・10′は、例えば第2図及び第
3図に示すように、長手状のノズル本体1の中央部に給
液管2を接続してノズル本体1内のスリット連通室3に
給液可能に構成し、ノズル本体1の長手方向のほぼ全長
にわたりスリット状の吐出口4を開口し、吐出口4の長
手方向に沿って、所定間隔で複数のねじ込み式スペーサ
5と締結ねじ6とを一組として液流Aの方向へ前後に直
列状に配置し、吐出口4の開口幅dを微調節可能に構成
されている。As shown in FIGS. 2 and 3, for example, the treatment liquid discharge nozzles 10 and 10 ′ have a slit communication chamber in the nozzle body 1 in which a liquid supply pipe 2 is connected to the central portion of an elongated nozzle body 1. 3, the slit-shaped discharge port 4 is opened over substantially the entire length of the nozzle body 1 in the longitudinal direction, and is fastened to a plurality of screw-type spacers 5 at predetermined intervals along the longitudinal direction of the discharge port 4. A pair of screws 6 are arranged in series in the front-back direction in the direction of the liquid flow A, and the opening width d of the discharge port 4 can be finely adjusted.
ねじ込み式のスペーサ5は、第2図に示すように、2つ
割り状に形成したノズル本体1の一方の内壁1aに当接す
る先端部5aと、この先端部5aを進退させて吐出口4の開
口幅dを微調節するねじ部5bとを一体に形成し、そのね
じ部5bは2つ割り状に形成したノズル本体1の他方へね
じ込み可能に装着されている。As shown in FIG. 2, the screw-in type spacer 5 has a tip portion 5a which is in contact with one inner wall 1a of the nozzle body 1 formed in a split shape, and a tip portion 5a which is advanced and retracted so that the discharge port 4 A threaded portion 5b for finely adjusting the opening width d is integrally formed, and the threaded portion 5b is screwably attached to the other side of the nozzle body 1 formed in a split shape.
即ち、ねじ込み式スペーサ5を進退させることにより、
その先端部5aを吐出口4の内壁1aに当接させ、各スペー
サ5…に対応する位置のスリット状開口幅dを微調節
し、次いでノズル本体1のスリット状開口部を締結ねじ
6で締結することにより、当該開口幅dを適宜設定する
ことができる。That is, by moving the screw-in spacer 5 back and forth,
The tip 5a is brought into contact with the inner wall 1a of the discharge port 4, the slit-shaped opening width d at the position corresponding to each spacer 5 is finely adjusted, and then the slit-shaped opening of the nozzle body 1 is fastened with the fastening screw 6. By doing so, the opening width d can be set appropriately.
ちなみに、本実施例ではスリット状開口幅dは約0.1mm
程度に設定され、液流が全長にわたって均一になるよう
に微調節される。なお、この実施例ではスペーサ5と締
結ねじ6とを一組として、液流Aの方向へ前後に直列状
に配置しているため、液流Aが受ける抵抗も少なく、均
一な液流が形成され、吐出口4より処理液がカーテン状
に吐出し、ミストも発生しない。Incidentally, in this embodiment, the slit-shaped opening width d is about 0.1 mm.
It is set to a degree and finely adjusted so that the liquid flow is uniform over the entire length. In this embodiment, since the spacer 5 and the fastening screw 6 are set as a set and are arranged in series in the front-back direction in the direction of the liquid flow A, the resistance received by the liquid flow A is small and a uniform liquid flow is formed. As a result, the treatment liquid is discharged from the discharge port 4 in a curtain shape, and no mist is generated.
また、ノズル10により、基板表面にC方向の流動層11が
形成され、ノズル10′によって逆のC′方向の流動液層
11′が形成され、その結果として均一な表面処理を行う
ことができる。The nozzle 10 forms a fluidized layer 11 in the C direction on the surface of the substrate, and the nozzle 10 'forms a fluidized layer in the opposite C'direction.
11 'is formed, and as a result, a uniform surface treatment can be performed.
なお、一組の処理液吐出ノズル10・10′を上記のように
基板Wの横幅以上の間隔をあけて配置した場合には、処
理液の吐出を止めたとき、万一液滴がぽた落ちすること
があっても、基板W上への滴下は免れる。When the set of processing liquid discharge nozzles 10 and 10 'are arranged with a space equal to or larger than the lateral width of the substrate W as described above, when the discharge of the processing liquid is stopped, the liquid droplets may drop. Even if it falls, the dropping on the substrate W is avoided.
上記処理液吐出ノズルの変形例として、給液管2はノズ
ル本体1のスリット連通室3の両端部にそれぞれ接続し
て、より均一な吐出流を形成することもできる。As a modified example of the treatment liquid discharge nozzle, the liquid supply pipe 2 may be connected to both ends of the slit communication chamber 3 of the nozzle body 1 to form a more uniform discharge flow.
また、ノズルの構造は第2図や第3図に限定せず、均一
な層流状の吐出液を形成出来るものであればよい。Further, the structure of the nozzle is not limited to that shown in FIGS. 2 and 3, and may be any structure capable of forming a uniform laminar flow discharge liquid.
第1図中符号10aは、上記処理液吐出ノズル10・10′に
加えて配置した吐出ノズルを示し、第1の考案に付加さ
れるものである。この例では、スリット状の吐出口を基
板Wの横幅b以上の長さに形成するとともに、スリット
状吐出口を基板Wの搬送方向Bと交差する方向Cに配置
して、処理液をカーテン状に吐出させて、基板上に均一
な流動液層11を形成するように構成されている。ノズル
10aとノズル10・10′との間の距離は基板Wの搬送方向
長さ以上とするのが好ましい。均一な流動液層を得るた
めである。なお、符号2aは上記液滴の滴下を防止するた
めのサクションパイプである。Reference numeral 10a in FIG. 1 denotes a discharge nozzle arranged in addition to the processing liquid discharge nozzles 10 and 10 ', which is added to the first invention. In this example, the slit-shaped discharge ports are formed to have a length equal to or larger than the width b of the substrate W, and the slit-shaped discharge ports are arranged in a direction C intersecting with the transport direction B of the substrate W so that the treatment liquid is curtain-shaped. And is discharged to form a uniform fluidized liquid layer 11 on the substrate. nozzle
The distance between the nozzle 10a and the nozzles 10 and 10 'is preferably equal to or longer than the length of the substrate W in the carrying direction. This is to obtain a uniform fluidized layer. Reference numeral 2a is a suction pipe for preventing the above liquid droplets from dropping.
第4図は上記処理液吐出ノズル10・10′(図示せず)に
加え、吐出ノズル10aを一組配置する場合の1例を示す
要部の側面図である。この例では、処理液吐出ノズル10
・10′から吐出される処理液11に万一切れ目が生じて
も、後段の吐出ノズル10aからカーテン状に処理液が2
重に塗布されるので、均一な表面処理がなされる。FIG. 4 is a side view of an essential part showing an example in which one set of the discharge nozzles 10a is arranged in addition to the processing liquid discharge nozzles 10 and 10 '(not shown). In this example, the processing liquid discharge nozzle 10
-Even if the processing liquid 11 discharged from 10 'has a splinter, the processing liquid 2 will form a curtain from the discharge nozzle 10a in the subsequent stage.
Since it is applied twice, a uniform surface treatment is performed.
なお、処理液吐出ノズル10aは基板Wの搬送速度等に応
じて仮想線で示すように適宜傾斜させて配置しても良
い。Note that the processing liquid discharge nozzle 10a may be appropriately inclined and arranged as indicated by an imaginary line in accordance with the transport speed of the substrate W and the like.
第5図は上記処理液吐出ノズル10・10′(図示せず)に
加え、吐出ノズル10aを一組配置した変形例を示す要部
の平面図である。この例では、スリット状の吐出口を基
板Wの搬送方向Bに対して斜めに交差させて配置してあ
る。FIG. 5 is a plan view of an essential part showing a modified example in which one set of discharge nozzles 10a is arranged in addition to the processing liquid discharge nozzles 10 and 10 '(not shown). In this example, the slit-shaped ejection ports are arranged so as to obliquely intersect the transport direction B of the substrate W.
第6図は第2の考案に係る実施例装置の概要図、第7図
(A)〜(D)は、その実施例装置の動作説明図であ
る。FIG. 6 is a schematic diagram of the embodiment apparatus according to the second invention, and FIGS. 7A to 7D are operation explanatory diagrams of the embodiment apparatus.
この実施例装置は、正逆回転可能な搬送ローラ62を複数
連設したコンベア20と、コンベア20の搬送方向の前後に
対向配置された一対の処理液吐出ノズル60・61と、当該
ノズル60・61の後方と前方にそれぞれ配置され、基板W
の後端及び先端を検知する一組の基板検知用センサ63・
64とを具備して成る。In this embodiment, the conveyor 20 is provided with a plurality of forward / reverse rotatable transport rollers 62, a pair of processing liquid discharge nozzles 60, 61 arranged to face each other in the transport direction of the conveyor 20, and the nozzle 60. Substrate W is placed behind and in front of 61 respectively.
A set of substrate detection sensors 63 for detecting the rear and front edges
And 64.
当該ノズル60・61は、基板Wの横幅以上の長さを有する
スリット状の吐出口を搬送方向と直交させるとともに、
傾斜状態で相互に対向配置させ、かつ、基板Wの搬送方
向の寸法よりも十分大きく間隔をあけて離間配置されて
いる。これは下記のように、基板Wの表面に処理液が同
時に供給されるのを回避するためである。The nozzles 60 and 61 make slit-shaped discharge ports having a width equal to or larger than the width of the substrate W orthogonal to the transport direction,
The substrates W are arranged so as to face each other in an inclined state, and are arranged with a space sufficiently larger than the dimension of the substrate W in the transport direction. This is to prevent the processing liquid from being simultaneously supplied to the surface of the substrate W as described below.
即ち第7図(A)〜(B)ではコンベアを正転させて基
板Wを前進させながら、後方の処理液吐出ノズル60によ
り処理液を吐出させ、基板Wの上面に処理液の流動液層
11を形成する。That is, in FIGS. 7A and 7B, the processing liquid is discharged from the processing liquid discharge nozzle 60 at the rear while the conveyor W is rotated forward and the substrate W is moved forward, and the flowing liquid layer of the processing liquid is formed on the upper surface of the substrate W.
Forming 11.
次いで、同図Cでは、前方の処理液吐出ノズル61により
処理液を吐出させて逆向きの流動液層11を形成する。Next, in FIG. 6C, the treatment liquid is ejected from the front treatment liquid ejection nozzle 61 to form the fluid liquid layer 11 in the opposite direction.
つまり、両方の処理液吐出ノズル60・61から供給される
処理液が基板W上で衝突して流動液層11が停留すること
による処理ムラを生じないように配慮したものである。In other words, the treatment liquid supplied from both the treatment liquid discharge nozzles 60 and 61 does not collide on the substrate W and the fluidized layer 11 stays, so that the treatment unevenness does not occur.
次いで、同図(D)では前方のセンサ64が基板の先端を
検知することにより、コンベアを反転させて基板Wを後
進させながら引き続き前方のノズル61より処理液を吐出
させ、同様に基板Wの上面に逆向きの流動液層11を形成
する。Next, in FIG. 4D, the front sensor 64 detects the front end of the substrate, so that the processing liquid is continuously discharged from the front nozzle 61 while reversing the conveyor and moving the substrate W backward. A fluid liquid layer 11 in the opposite direction is formed on the upper surface.
このように、同図(A)〜(D)を複数回反転すること
により、基板の表面処理をした後、後続の洗浄処理工程
へ向けて基板Wは排出される。In this way, by inverting the drawings (A) to (D) a plurality of times, after the surface treatment of the substrate, the substrate W is discharged toward the subsequent cleaning process.
なお、同図(B)から(C)へ移行する際に、又は同図
(D)から(A)へ移行する際に、流動液層11が一時静
止状態となるが、かかる停留は基板の均一な表面処理を
行う上でムラを生ずるほどのことではない。The fluid layer 11 is temporarily in a stationary state at the time of shifting from (B) to (C) in the figure or from (D) to (A) in the figure. This is not a case where unevenness is caused in performing uniform surface treatment.
上記実施例装置(第6図)による試験処理の結果は、浸
漬型表面処理方式による場合と同等の均一性を確保しな
がらも、当該浸漬処理方式の、約1/2の処理時間で処理
が可能で、スプレー方式に比べて均一性に優れ、かつ処
理時間はスプレー方式の約60%で迅速に処理することが
可能であった。The result of the test treatment by the above-mentioned embodiment apparatus (Fig. 6) shows that the treatment can be performed in about half the treatment time of the immersion treatment method while ensuring the same uniformity as in the case of the immersion type surface treatment method. It was possible and superior in uniformity compared to the spray method, and the processing time was about 60% of that of the spray method, and it was possible to process quickly.
その理由は、スプレー方式では基板Wの表面に液溜りが
生じ易いのに対し、本考案ではかかる液溜りが生じるこ
とがなく、流動液層によって基板の表面処理が速やか
に、かつ均一になされるためである。また、浸漬処理方
式では、処理槽内の用尽処理液を適宜新液と交換する必
要があるのに対し、本考案では常時、基板上の用尽処理
液が新液と交換するため、全体として迅速処理が可能に
なる。The reason is that in the spray method, a liquid pool is likely to be generated on the surface of the substrate W, whereas in the present invention, such a liquid pool is not generated, and the surface treatment of the substrate is quickly and uniformly performed by the fluidized liquid layer. This is because. Further, in the immersion treatment method, the exhaust treatment liquid in the treatment tank needs to be replaced with a new liquid as appropriate, whereas in the present invention, the exhaust treatment liquid on the substrate is always replaced with a new liquid, so that As a result, quick processing becomes possible.
ちなみに、試験処理では、基板は液晶用ガラス基板でそ
の表面にクロム(Cr)の薄膜が被着形成されたものが用
いられ、処理液はクロム用エッチング液(約26℃)が用
いられた。By the way, in the test process, the substrate used was a glass substrate for liquid crystal, on the surface of which a thin film of chromium (Cr) was deposited, and the treatment liquid was an etching liquid for chromium (about 26 ° C.).
なお、第6図では、基板検出用のセンサ63・64を2個1
組として配置したものについて例示したが、例えば同図
中の63aで示すように単一のセンサを用いて、タイマー
等と組合わせることにより、コンベアの正逆転駆動制御
をするようにしてもよい。In addition, in FIG. 6, two sensors 63 and 64 for detecting the substrate 1
Although the arrangement as a set is exemplified, a forward and reverse drive control of the conveyor may be performed by combining a single sensor as shown by 63a in the figure with a timer or the like.
また上記実施例では基板Wを複数回往復搬送させながら
表面処理するものについて例示したが、少なくとも、第
7図(A)〜(C)の往復搬送ができれば足りる。Further, in the above-mentioned embodiment, the substrate W is subjected to the surface treatment while being reciprocated a plurality of times, but at least the reciprocating conveyance shown in FIGS. 7A to 7C is sufficient.
なお、上記実施例による基板の表面処理装置は処理液を
基板の表面に供給して処理をなす現像、エッチング、剥
離等の各種の処理工程において広く適用し得る。The substrate surface treatment apparatus according to the above-described embodiments can be widely applied in various processing steps such as developing, etching, and peeling, in which the processing liquid is supplied to the surface of the substrate to perform processing.
《考案の効果》 以上の説明で明らかなように、本考案では、処理液吐出
ノズルより処理液がカーテン状に吐出されるので、以下
のような効果を奏する。<< Effect of Device >> As is clear from the above description, in the present invention, the processing liquid is ejected in a curtain shape from the processing liquid ejection nozzle, so that the following effects are achieved.
イ.基板の表面は均一な処理液の流動液層で覆われ、む
らなく均一な表面処理がなされる。これにより、基板の
表面処理工程における歩留まりを向上させることができ
る。I. The surface of the substrate is covered with a fluidized liquid layer of a uniform treatment liquid, and a uniform surface treatment is performed. As a result, the yield in the substrate surface treatment process can be improved.
ロ.均一な処理液の流動液層の形成により従来より表面
処理速度が速くなる。B. The surface treatment speed becomes faster than before by forming a uniform fluidized layer of the treatment liquid.
ハ.処理液吐出ノズルを揺動回転する必要がないので当
該ノズルの支持構造が簡素になり、コストの低減を図る
ことができる。C. Since it is not necessary to oscillate and rotate the treatment liquid discharge nozzle, the support structure for the nozzle is simplified and the cost can be reduced.
ニ.処理液がカーテン状に吐出するので従来例のように
ミストが多量に発生することがないため、基板処理の進
捗状態を容易に視認できる。D. Since the treatment liquid is ejected in a curtain shape, a large amount of mist is not generated unlike the conventional example, and thus the progress of the substrate treatment can be easily visually recognized.
ホ.処理液が現像液の場合、従来の飛散による空気中の
酸素と反応による処理液の劣化、又は空気を吸い込み、
泡を発生させ、その気泡によるムラの発生という問題が
解消する。E. When the processing solution is a developer, deterioration of the processing solution due to reaction with oxygen in the air due to conventional scattering, or inhalation of air,
The problem of generating bubbles and causing unevenness due to the bubbles is solved.
第1図は本考案の一実施例を示す表面処理装置の斜視
図、第2図は処理液吐出ノズルの断面図、第3図は2つ
割り状に形成した一方のノズルを内面より見た図で、第
2図のII-II線矢視断面図、第4図〜第5図はそれぞれ
処理液吐出ノズルの配置例を示す要部拡大図、第6図は
第2の考案に係る実施例装置の概要図、第7図はその実
施例装置の動作説明図、第8図は従来例を示す平面図で
ある。 W……基板、4……吐出口、10……処理液吐出ノズル、
11……処理液、20……コンベア、b……基板の横幅。FIG. 1 is a perspective view of a surface treatment apparatus showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of a treatment liquid discharge nozzle, and FIG. 3 is one nozzle formed in a split shape seen from the inside. Fig. 2 is a sectional view taken along the line II-II of Fig. 2, Figs. 4 to 5 are enlarged views of a main part showing an arrangement example of the processing liquid discharge nozzles, respectively, and Fig. 6 is an embodiment according to the second invention. FIG. 7 is a schematic view of an example device, FIG. 7 is an operation explanatory view of the example device, and FIG. 8 is a plan view showing a conventional example. W ... Substrate, 4 ... Discharge port, 10 ... Treatment liquid discharge nozzle,
11 …… Treatment liquid, 20 …… Conveyor, b …… Width of substrate.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/306 H05K 3/06 G (56)参考文献 実開 昭59−177943(JP,U)─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical indication location H01L 21/306 H05K 3/06 G (56) References: Actual development Sho 59-177943 (JP, U)
Claims (2)
面に処理液を吐出する処理液吐出ノズルを具備して成る
基板の表面処理装置において、 コンベアの両側端部上方に少なくとも一組以上の処理液
吐出ノズルを基板の横幅以上の間隔をあけて配置し、 処理液吐出ノズルの吐出口をスリット状に開口して基板
の搬送方向と平行をなすように交互に配置し、 基板の搬送方向と交差する方向へ処理液をカーテン状に
傾斜させて吐出するように構成したことを特徴とする基
板の表面処理装置1. A substrate surface treatment apparatus comprising a conveyer for horizontally conveying a substrate and a treatment liquid discharge nozzle for discharging a treatment liquid on the surface of the substrate, wherein at least one set or more is provided above both end portions of the conveyer. The processing liquid discharge nozzles are arranged with a space equal to or larger than the width of the substrate, and the processing liquid discharge nozzles are alternately arranged so that the discharge ports of the processing liquid discharge nozzles are opened in a slit shape and are parallel to the substrate transfer direction. A substrate surface processing apparatus, characterized in that the processing liquid is inclined and discharged in a curtain shape in a direction intersecting with the substrate.
面に処理液を吐出する処理液吐出ノズルを具備して成る
基板の表面処理装置において、 コンベアの上方に、基板の搬送方向に基板の長さ以上の
間隔をあけて、処理液吐出ノズルを配置し、 処理液吐出ノズルの吐出口を基板の横幅以上の長さにス
リット状に開口し、各処理液吐出ノズルから吐出する処
理液を互いに対向する方向に傾斜させ、 コンベアの搬送方向を正逆転させ、基板を各処理液吐出
ノズル間を往復動させながら、基板の表面処理を行うよ
うに構成したことを特徴とする基板の表面処理装置2. A substrate surface treatment apparatus comprising a conveyer for horizontally conveying a substrate and a treatment liquid ejecting nozzle for ejecting a treatment liquid onto the surface of the substrate. The treatment liquid discharge nozzles are arranged at intervals of at least the length, and the discharge ports of the treatment liquid discharge nozzles are opened in a slit shape with a length longer than the width of the substrate, and the treatment liquid discharged from each treatment liquid discharge nozzle is The surface treatment of the substrate is configured such that the substrate is surface-treated while inclining in a direction opposite to each other, the conveyor transport direction is reversed normally, and the substrate is reciprocated between the processing liquid discharge nozzles. apparatus
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP1990058570U JPH0720914Y2 (en) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Substrate surface treatment equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990058570U JPH0720914Y2 (en) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Substrate surface treatment equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0418434U JPH0418434U (en) | 1992-02-17 |
| JPH0720914Y2 true JPH0720914Y2 (en) | 1995-05-15 |
Family
ID=31584304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990058570U Expired - Lifetime JPH0720914Y2 (en) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | Substrate surface treatment equipment |
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|---|---|---|---|---|
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-
1990
- 1990-06-01 JP JP1990058570U patent/JPH0720914Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0418434U (en) | 1992-02-17 |
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