JPH07209185A - 表面散乱形濁度計 - Google Patents
表面散乱形濁度計Info
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- JPH07209185A JPH07209185A JP194794A JP194794A JPH07209185A JP H07209185 A JPH07209185 A JP H07209185A JP 194794 A JP194794 A JP 194794A JP 194794 A JP194794 A JP 194794A JP H07209185 A JPH07209185 A JP H07209185A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 1種類の校正板を用いて広いレンジをカバー
することにより校正作業の簡素化をはかることが可能な
濁度計を提供する。 【構成】 表面散乱形濁度計において,予め基準となる
濁度計で所定の濁度に値付けされた校正板15と,該校
正板を用い光源2の照度を複数段変化させたときの第1
受光素子4aの出力を記憶する記憶手段12と,前記光
源の照度を変化させたときに得られた前記第1受光素子
の出力と同様の信号を入力して前記照度を変化させるキ
ー入力手段14とを具備し,該キー入力手段により所望
のレンジを入力し前記光源の照度を変化させて測定レン
ジを切換えるようにした。
することにより校正作業の簡素化をはかることが可能な
濁度計を提供する。 【構成】 表面散乱形濁度計において,予め基準となる
濁度計で所定の濁度に値付けされた校正板15と,該校
正板を用い光源2の照度を複数段変化させたときの第1
受光素子4aの出力を記憶する記憶手段12と,前記光
源の照度を変化させたときに得られた前記第1受光素子
の出力と同様の信号を入力して前記照度を変化させるキ
ー入力手段14とを具備し,該キー入力手段により所望
のレンジを入力し前記光源の照度を変化させて測定レン
ジを切換えるようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,表面散乱形濁度計に関
し,校正作業の簡素化を図った濁度形に関するものであ
る。
し,校正作業の簡素化を図った濁度形に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】鏡面状態の水面に光を照射すると,光の
反射成分や透過成分以外にサンプル水に含まれる濁度成
分に関連して散乱成分が発生する。図2は上記散乱成分
を測定することにより水の濁度を検知するようにした表
面散乱形濁度計の従来例を示す要部構成図である。
反射成分や透過成分以外にサンプル水に含まれる濁度成
分に関連して散乱成分が発生する。図2は上記散乱成分
を測定することにより水の濁度を検知するようにした表
面散乱形濁度計の従来例を示す要部構成図である。
【0003】図において,1はサンプル水が流入する測
定セルであり,サンプル水は測定セル1の下部から流入
し上部でオーバフローして排出される。2は光源でこの
光源の照度は照度制御手段(図示せず)により一定照度
に制御されている。3は集光レンズ,4は測定セルの上
方に配置された受光素子,5は受光素子からの出力を増
幅する増幅器,6は電流変換部である。
定セルであり,サンプル水は測定セル1の下部から流入
し上部でオーバフローして排出される。2は光源でこの
光源の照度は照度制御手段(図示せず)により一定照度
に制御されている。3は集光レンズ,4は測定セルの上
方に配置された受光素子,5は受光素子からの出力を増
幅する増幅器,6は電流変換部である。
【0004】上記の構成において,光源2から出射した
光は所定の角度で液面に入射し,スネルの法則に基づい
て反射するが,反射成分や透過成分以外にサンプル水に
含まれる濁度成分に関連して散乱成分が発生する。その
散乱成分は受光素子4で光電変換され,増幅器5で増幅
されて電流変換部6で例えば4〜20の統一信号に変換
されて出力される。
光は所定の角度で液面に入射し,スネルの法則に基づい
て反射するが,反射成分や透過成分以外にサンプル水に
含まれる濁度成分に関連して散乱成分が発生する。その
散乱成分は受光素子4で光電変換され,増幅器5で増幅
されて電流変換部6で例えば4〜20の統一信号に変換
されて出力される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記構成の濁度計にお
いて,校正に際しては図3に示すようにカオリンやホル
マジンの標準液を用いたり,図4に示すように塗料A,
Bを用いて校正板を作製し,これを用いてキャリブレー
ションを行っている。
いて,校正に際しては図3に示すようにカオリンやホル
マジンの標準液を用いたり,図4に示すように塗料A,
Bを用いて校正板を作製し,これを用いてキャリブレー
ションを行っている。
【0006】一般に濁度計の測定レンジは例えば2〜2
000mg/lと広く,一種類の校正板では対応出来な
い。そのため複数種(例えば1000,100,10m
g/l)の標準液(若しくは校正板)を用いるが,標準
液を用いる方法は校正のため多量の標準液を必要とし,
コストと手間がかかるという問題の他,高濁度の標準液
は液中の濁質粒子が沈降して正しい測定が出来にくいと
いう問題があった。
000mg/lと広く,一種類の校正板では対応出来な
い。そのため複数種(例えば1000,100,10m
g/l)の標準液(若しくは校正板)を用いるが,標準
液を用いる方法は校正のため多量の標準液を必要とし,
コストと手間がかかるという問題の他,高濁度の標準液
は液中の濁質粒子が沈降して正しい測定が出来にくいと
いう問題があった。
【0007】また,校正板を用いる方法は標準液を用い
る場合に比較して簡便であるが,校正板の作製や値付け
に多大な工数を必要とし,装置全体のコストアップにな
るという問題があった。本発明は,従来例の有するこの
ような問題点を解決するためになされたものであり,そ
の目的とするところは,1種類の校正板を用いて広いレ
ンジをカバーすることにより校正作業の簡素化をはかる
ことが可能な濁度計を提供することである。
る場合に比較して簡便であるが,校正板の作製や値付け
に多大な工数を必要とし,装置全体のコストアップにな
るという問題があった。本発明は,従来例の有するこの
ような問題点を解決するためになされたものであり,そ
の目的とするところは,1種類の校正板を用いて広いレ
ンジをカバーすることにより校正作業の簡素化をはかる
ことが可能な濁度計を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に,本発明は,下方からサンプル液が流入し上方からオ
ーバフローするように構成された液槽と,該液槽からオ
ーバフローする前記サンプル液の表面に所定の角度で光
が入射するように配置された光源と,該光源の照度を検
出する第1受光素子と,該受光素子の出力に基づいて前
記光源の照度を所定の照度に制御する照度制御手段と,
前記光が入射する液面の上方に配置され前記サンプル液
の濁度に関連した散乱光を検出する第2受光素子からな
る表面散乱形濁度計において,予め基準となる濁度計で
所定の濁度に値付けされた校正板と,該校正板を用い前
記光源の照度を複数段変化させたときの前記第1受光素
子の出力を記憶する記憶手段と,前記光源の照度を変化
させたときに得られた前記第1受光素子の出力と同様の
信号を入力して前記光源の照度を変化させるキー入力手
段とを具備し,該キー入力手段により所望のレンジを入
力し前記光源の照度を変化させて測定レンジを切換える
ようにしたことを特徴とするものである。
に,本発明は,下方からサンプル液が流入し上方からオ
ーバフローするように構成された液槽と,該液槽からオ
ーバフローする前記サンプル液の表面に所定の角度で光
が入射するように配置された光源と,該光源の照度を検
出する第1受光素子と,該受光素子の出力に基づいて前
記光源の照度を所定の照度に制御する照度制御手段と,
前記光が入射する液面の上方に配置され前記サンプル液
の濁度に関連した散乱光を検出する第2受光素子からな
る表面散乱形濁度計において,予め基準となる濁度計で
所定の濁度に値付けされた校正板と,該校正板を用い前
記光源の照度を複数段変化させたときの前記第1受光素
子の出力を記憶する記憶手段と,前記光源の照度を変化
させたときに得られた前記第1受光素子の出力と同様の
信号を入力して前記光源の照度を変化させるキー入力手
段とを具備し,該キー入力手段により所望のレンジを入
力し前記光源の照度を変化させて測定レンジを切換える
ようにしたことを特徴とするものである。
【0009】
【作用】このような本発明では,一枚の校正板を用いて
所定の濁度を出力するように光源の照度を固定する。記
憶手段はその時の第1受光素子の出力値を記憶する。次
に第1受光素子の出力が例えば10倍になるように光源
の照度を制御し,そのときの第1受光素子の出力値を記
憶手段で記憶する。更に第1受光素子の出力が例えば1/
10になるように光源の照度を制御し,そのときの第1受
光素子の出力値を記憶手段で記憶する。次にキー入力手
段に設定すべきレンジを入力すると,照度制御手段はそ
の入力した値と記憶した第1受光素子の出力値に対応す
る照度になるように光源の照度を制御する。
所定の濁度を出力するように光源の照度を固定する。記
憶手段はその時の第1受光素子の出力値を記憶する。次
に第1受光素子の出力が例えば10倍になるように光源
の照度を制御し,そのときの第1受光素子の出力値を記
憶手段で記憶する。更に第1受光素子の出力が例えば1/
10になるように光源の照度を制御し,そのときの第1受
光素子の出力値を記憶手段で記憶する。次にキー入力手
段に設定すべきレンジを入力すると,照度制御手段はそ
の入力した値と記憶した第1受光素子の出力値に対応す
る照度になるように光源の照度を制御する。
【0010】
【実施例】次に,本発明の実施例について図面を用いて
説明する。図1は本発明の表面散乱形濁度計の一実施例
を示す要部構成図であり,(a)は測定状態の,(b)
は散乱面に校正板15を載置した校正状態の測定セルを
示している。なお,図2に示す従来例と同一要素には同
一符号を付して重複する説明は省略する。
説明する。図1は本発明の表面散乱形濁度計の一実施例
を示す要部構成図であり,(a)は測定状態の,(b)
は散乱面に校正板15を載置した校正状態の測定セルを
示している。なお,図2に示す従来例と同一要素には同
一符号を付して重複する説明は省略する。
【0011】図1において,4aは光源の照度を測定す
る第1受光素子,4bは散乱光の強さを測定する第2受
光素子,11は所定のタイミングで増幅器5,5’の出
力を切換えるスイッチである。8は増幅器5,5’の出
力を入力するA/D変換器,10はA/D変換器の出力
を入力するCPUである。このCPUは第2受光素子4
bの出力に基づいて所定の演算を行い例えば4〜20の
統一信号を出力する。
る第1受光素子,4bは散乱光の強さを測定する第2受
光素子,11は所定のタイミングで増幅器5,5’の出
力を切換えるスイッチである。8は増幅器5,5’の出
力を入力するA/D変換器,10はA/D変換器の出力
を入力するCPUである。このCPUは第2受光素子4
bの出力に基づいて所定の演算を行い例えば4〜20の
統一信号を出力する。
【0012】12は記憶手段,13はCPUからの出力
を表示する表示・出力回路,14はCPUに所定のレン
ジを入力するキー入力回路であり,記憶手段12に記憶
されている第1受光素子4aの値に対応した値を表示す
るとともに任意の値を入力することにより照度制御手段
7を介して光源2の照度を制御する。
を表示する表示・出力回路,14はCPUに所定のレン
ジを入力するキー入力回路であり,記憶手段12に記憶
されている第1受光素子4aの値に対応した値を表示す
るとともに任意の値を入力することにより照度制御手段
7を介して光源2の照度を制御する。
【0013】上記の構成において,第1,第2受光素子
4a,4bの出力はスイッチ11により例えば0.5秒
毎に切換えられ,照度制御手段を介して光源の出力が一
定になるように制御されている。始めに装置の校正をお
こなう。その場合,校正板は予め基準となる濁度計で所
定の濁度(例えば105mg/l)に値付けされた校正
板を用いる(校正板はその製作上濁度を一定の値に製作
することは難しく基準となる濁度計により個々に値付け
が行われる)。ここで,濁度信号(SM)は一般に次式
により濁度値(T)に変換される。 T=K・h・SM … (hは濁度への変換係数,Kは感度係数で初期値は1)
4a,4bの出力はスイッチ11により例えば0.5秒
毎に切換えられ,照度制御手段を介して光源の出力が一
定になるように制御されている。始めに装置の校正をお
こなう。その場合,校正板は予め基準となる濁度計で所
定の濁度(例えば105mg/l)に値付けされた校正
板を用いる(校正板はその製作上濁度を一定の値に製作
することは難しく基準となる濁度計により個々に値付け
が行われる)。ここで,濁度信号(SM)は一般に次式
により濁度値(T)に変換される。 T=K・h・SM … (hは濁度への変換係数,Kは感度係数で初期値は1)
【0014】記憶素子12には予め上記式が記憶され
ていて,CPU10により第2受光素子4bの出力に基
づいて濁度値Tが演算される。表示・出力回路13は校
正板の濁度に対応した所定の出力(105mg/l)を
示す様に調整される。次にキー入力回路から任意(例え
ば表示・出力回路の値が下降する様な)の値を入力し表
示・出力回路の値が100mg/lとなる値に光源の照
度を下降させる。記憶素子12はその時点における第1
受光素子4aの出力値を記憶する。
ていて,CPU10により第2受光素子4bの出力に基
づいて濁度値Tが演算される。表示・出力回路13は校
正板の濁度に対応した所定の出力(105mg/l)を
示す様に調整される。次にキー入力回路から任意(例え
ば表示・出力回路の値が下降する様な)の値を入力し表
示・出力回路の値が100mg/lとなる値に光源の照
度を下降させる。記憶素子12はその時点における第1
受光素子4aの出力値を記憶する。
【0015】次にキー入力回路14から上記第1受光素
子4aの出力の10倍の値を入力して光源2の照度を上
昇させ,表示・出力回路13の値が1000mg/lと
なる様に調整する。記憶素子12はその時点における第
1受光素子4aの出力値を記憶する。
子4aの出力の10倍の値を入力して光源2の照度を上
昇させ,表示・出力回路13の値が1000mg/lと
なる様に調整する。記憶素子12はその時点における第
1受光素子4aの出力値を記憶する。
【0016】同様にキー入力回路から表示・出力回路1
3の値が100mg/lの時の第1受光素子4aの出力
の1/10の値を入力して光源の照度を下降させ,表示
・出力回路の値が10mg/lとなる様に調整する。記
憶素子12はその時点における第1受光素子4aの出力
値を記憶する。なお,上記の実施例では測定レンジを3
つとして説明したが,3以上についても任意に設定可能
である。
3の値が100mg/lの時の第1受光素子4aの出力
の1/10の値を入力して光源の照度を下降させ,表示
・出力回路の値が10mg/lとなる様に調整する。記
憶素子12はその時点における第1受光素子4aの出力
値を記憶する。なお,上記の実施例では測定レンジを3
つとして説明したが,3以上についても任意に設定可能
である。
【0017】また,各レンジにおける第1受光素子4a
の出力の他に各レンジにおける第2受光素子4bの出力
も記憶しておき,レンジ変更に際しレンジに対応した第
2受光素子4bの出力を表示すると共に前記記憶してお
いた出力を呼び出して比較すれば経年変化による第2受
光素子4b等の劣化状態を知ることができ,部品交換の
目安とすることができる。
の出力の他に各レンジにおける第2受光素子4bの出力
も記憶しておき,レンジ変更に際しレンジに対応した第
2受光素子4bの出力を表示すると共に前記記憶してお
いた出力を呼び出して比較すれば経年変化による第2受
光素子4b等の劣化状態を知ることができ,部品交換の
目安とすることができる。
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明したよ
うに,本発明の構成によれば測定レンジの変更に際し,
キー入力回路から所定のレンジを入力して照度制御手段
の照度を制御することにより,任意の測定レンジを一つ
の校正板を用いて選択することができる。
うに,本発明の構成によれば測定レンジの変更に際し,
キー入力回路から所定のレンジを入力して照度制御手段
の照度を制御することにより,任意の測定レンジを一つ
の校正板を用いて選択することができる。
【図1】本発明の一実施例を示す表面散乱形濁度計の要
部構成図である。
部構成図である。
【図2】従来の表面散乱形濁度計の一例を示す要部構成
図である。
図である。
【図3】校正作業の一例を示す説明図である。
【図4】校正作業の他の例を示す説明図である。
1 測定セル 2 光源 3 集光レンズ 4 受光素子 5 増幅器 7 照度制御手段 8 AD変換器 10 CPU 11 スイッチ 12 記憶手段 13 表示・出力回路 14 キー入力回路 15 校正板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三奈木 輝良 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】下方からサンプル液が流入し上方からオー
バフローするように構成された液槽と,該液槽からオー
バフローする前記サンプル液の表面に所定の角度で光が
入射するように配置された光源と,該光源の照度を検出
する第1受光素子と,該受光素子の出力に基づいて前記
光源の照度を所定の照度に制御する照度制御手段と,前
記光が入射する液面の上方に配置され前記サンプル液の
濁度に関連した散乱光を検出する第2受光素子からなる
表面散乱形濁度計において,予め基準となる濁度計で所
定の濁度に値付けされた校正板と,該校正板を用い前記
光源の照度を複数段変化させたときの前記第1受光素子
の出力を記憶する記憶手段と,前記光源の照度を変化さ
せたときに得られた前記第1受光素子の出力と同様の信
号を入力して前記光源の照度を変化させるキー入力手段
とを具備し,該キー入力手段により所望のレンジを入力
し前記光源の照度を変化させて測定レンジを切換えるよ
うにしたことを特徴とする表面散乱形濁度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP194794A JPH07209185A (ja) | 1994-01-13 | 1994-01-13 | 表面散乱形濁度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP194794A JPH07209185A (ja) | 1994-01-13 | 1994-01-13 | 表面散乱形濁度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07209185A true JPH07209185A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11515812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP194794A Pending JPH07209185A (ja) | 1994-01-13 | 1994-01-13 | 表面散乱形濁度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07209185A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004001396A1 (ja) * | 2002-06-19 | 2003-12-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 分析装置とそれに使用する分析用ディスク |
| KR100807433B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2008-02-25 | 니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤 | 파티클 카운터 |
| JP2010127661A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Horiba Ltd | 光沢計 |
| KR20190019747A (ko) * | 2017-08-18 | 2019-02-27 | 주식회사삼영에스앤씨 | 광산란형 먼지 센서 |
| KR20190019746A (ko) * | 2017-08-18 | 2019-02-27 | 경상대학교산학협력단 | 광산란형 먼지 센서 교정 방법 |
| CN114002151A (zh) * | 2021-10-29 | 2022-02-01 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种非接触式水体浊度测量装置与方法 |
-
1994
- 1994-01-13 JP JP194794A patent/JPH07209185A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004001396A1 (ja) * | 2002-06-19 | 2003-12-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 分析装置とそれに使用する分析用ディスク |
| US7423246B2 (en) | 2002-06-19 | 2008-09-09 | Matsushita Electric Industrie Co., Ltd. | Analysis apparatus and analysis disc used for the same |
| CN100458404C (zh) * | 2002-06-19 | 2009-02-04 | 松下电器产业株式会社 | 分析装置 |
| KR100807433B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2008-02-25 | 니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤 | 파티클 카운터 |
| JP2010127661A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Horiba Ltd | 光沢計 |
| KR20190019747A (ko) * | 2017-08-18 | 2019-02-27 | 주식회사삼영에스앤씨 | 광산란형 먼지 센서 |
| KR20190019746A (ko) * | 2017-08-18 | 2019-02-27 | 경상대학교산학협력단 | 광산란형 먼지 센서 교정 방법 |
| CN114002151A (zh) * | 2021-10-29 | 2022-02-01 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种非接触式水体浊度测量装置与方法 |
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