JPH07210640A - Ｉｃカード内蔵メモリの検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＲＯＭ内にメモリ検査用のプログラムを格納
することなしに、内蔵メモリの検査を行う。 【構成】 図(a) に示すように、ＥＥＰＲＯＭ１５の第
２の領域に、第１の検査用プログラムをロードし、この
プログラムを用いて第１の領域についての検査を行う。
続いて、図(b) に示すように、ＥＥＰＲＯＭ１５の第１
の領域に、第２の検査用プログラムをロードし、このプ
ログラムを用いて第２の領域についての検査を行う。検
査終了後は、ＥＥＰＲＯＭ１５内を消去し、システム領
域に検査終了コードを書き込む。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＩＣカード、特に、ＣＰ
Ｕを内蔵し、メモリの検査機能を有するＩＣカードに関
する。

【０００２】

【従来の技術】磁気カードに代わる新しい情報記録媒体
として、ＩＣカードが注目を集めている。特に、ＣＰＵ
を内蔵したＩＣカードは、高度なセキュリティを有する
ため、種々の分野での利用が期待されている。一般にＩ
Ｃカードは、ＲＡＭ，ＲＯＭ，ＥＥＰＲＯＭといった３
種類のメモリを内蔵しており、いずれも内蔵ＣＰＵによ
ってアクセスされる。ＲＯＭ内には、ＣＰＵが実行すべ
きプログラムが格納されており、ＥＥＰＲＯＭ内には、
ユーザのための個人データなどが格納される。また、Ｒ
ＡＭはＣＰＵが命令を実行するときのワークエリアとし
て利用される。ＩＣカードに対するデータの送受は、リ
ーダ／ライタ装置によって行われる。リーダ／ライタ装
置からＩＣカードに対して所定の命令を与えると、この
命令はＩＣカード内のＣＰＵによって実行される。

【０００３】ＩＣカードは、銀行口座の管理、代金の決
済、など社会的・経済的に重要な機能を果たすデバイス
として流通するため、ＩＣカードの製造業者は、出荷時
に厳重な検査を行っている。特に、個人データを記録す
るために用いられるＥＥＰＲＯＭは、たとえ１バイトの
記憶領域にでも欠陥があると、重大な支障を来たすた
め、出荷時には厳重なメモリ検査を行う必要がある。Ｃ
ＰＵを内蔵したＩＣカードでは、通常、内蔵メモリはす
べて内蔵ＣＰＵによってのみアクセスされ、外部から直
接内蔵メモリをアクセスすることはできない。このた
め、従来の一般的なＩＣカードでは、メモリ検査を行う
ための検査用プログラムをＲＯＭの中に用意しておき、
出荷時には、この検査用プログラムを内蔵ＣＰＵによっ
て実行させ、内蔵メモリの検査を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ＩＣカードは、携帯可
能な非常に薄い媒体であるため、通常のＯＡ機器などに
比べて内蔵メモリの容量が著しく制限される。これに反
して、ＩＣカードに処理させるべき内容は複雑化する一
方であり、ＲＯＭ内に書き込むべきアプリケーションプ
ログラムの容量は益々増える傾向にある。このため、Ｒ
ＯＭの容量の一部を、メモリ検査用のプログラムを格納
するために割くと、ＩＣカードに本来の処理機能を実行
させるために必要なアプリケーションプログラムの容量
が制限され、ＩＣカードに十分な機能を与えることがで
きなくなる。

【０００５】また、ＲＯＭ内にメモリ検査用のプログラ
ムを格納しておくと、万一、ＣＰＵが誤動作した場合
に、メモリ内のデータを誤って書き換えてしまうような
事故が発生する可能性がある。すなわち、メモリ検査用
プログラムは、検査対象となるメモリに対する書き込み
動作と読出し動作を行うルーチンを含んでいるため、Ｃ
ＰＵが暴走したときなどに、このルーチンが誤って実行
されると、メモリに対する予期せぬ書き込み処理が行わ
れることになり、メモリ内のデータが破壊されてしまう
ことになる。特に、ＥＥＰＲＯＭ内には、重要な個人デ
ータが記録されるため、万が一にも、データが誤って書
き換えられる事態が生じると重大な問題になる。また、
事故だけに限らず、不正利用者がこのＲＯＭ内のメモリ
検査用プログラムを利用して、ＥＥＰＲＯＭ内の個人デ
ータを不正に改変したりするおそれもあり、セキュリテ
ィの面でも問題である。

【０００６】そこで本発明は、ＲＯＭ内にメモリ検査用
のプログラムを格納することなしに、内蔵メモリの検査
を行うことができるＩＣカード内蔵メモリの検査方法を
提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

(1) 本願第１の発明は、少なくともＲＡＭ，ＲＯＭ，
ＥＥＰＲＯＭの３種類のメモリと、これらのメモリをア
クセスする機能をもったＣＰＵと、を内蔵するＩＣカー
ドについて、メモリの検査を行う方法において、ＥＥＰ
ＲＯＭ内に、メモリ検査用プログラムを書き込み、この
検査用プログラムを実行することによりメモリの検査を
行い、検査終了後に検査用プログラムを消去するように
したものである。

【０００８】(2) 本願第２の発明は、上述の第１の発
明に係る検査方法において、ＥＥＰＲＯＭの第１の領域
に対する検査を行う第１の検査用プログラムを、ＥＥＰ
ＲＯＭの第２の領域に書き込む第１の段階と、第１の検
査用プログラムを実行して第１の領域に対する検査を行
う第２の段階と、ＥＥＰＲＯＭの第２の領域に対する検
査を行う第２の検査用プログラムを、ＥＥＰＲＯＭの第
１の領域に書き込む第３の段階と、第２の検査用プログ
ラムを実行して第２の領域に対する検査を行う第４の段
階と、ＥＥＰＲＯＭ内に書き込んだ検査用プログラムを
消去する第５の段階と、を行うことにより、ＥＥＰＲＯ
Ｍに対するメモリ検査を行うようにしたものである。

【０００９】(3) 本願第３の発明は、上述の第２の発
明に係る検査方法において、外部からＩＣカードに対し
て、ＥＥＰＲＯＭ内へプログラムコードの入力を行うこ
とを示すプログラムコード入力指示と、所定のプログラ
ムコードと、ＥＥＰＲＯＭ内のアドレスと、が与えられ
たときに、与えられたプログラムコードを与えられたア
ドレスに格納する処理を行うプログラムコード入力処理
と、外部からＩＣカードに対して、ＥＥＰＲＯＭ内のプ
ログラムを実行することを示すプログラム実行指示と、
ＥＥＰＲＯＭ内のアドレスと、が与えられたときに、与
えられたアドレスに格納されているプログラムを実行す
るプログラム実行処理と、を行うためのルーチンをＲＯ
Ｍ内に格納しておき、外部からＩＣカードに対して、プ
ログラムコード入力指示と、第１の検査用プログラムの
コードと、第２の領域の所定アドレスと、を与えること
により第１の段階を実行させ、外部からＩＣカードに対
して、プログラム実行指示と、第２の領域の所定アドレ
スと、を与えることにより第２の段階を実行させ、外部
からＩＣカードに対して、プログラムコード入力指示
と、第２の検査用プログラムのコードと、第１の領域の
所定アドレスと、を与えることにより第３の段階を実行
させ、外部からＩＣカードに対して、プログラム実行指
示と、第１の領域の所定アドレスと、を与えることによ
り第４の段階を実行させるようにしたものである。

【００１０】(4) 本願第４の発明は、上述の第３の発
明に係る検査方法において、ＥＥＰＲＯＭ内の所定のア
ドレス場所に、検査完了情報を書き込むための特別な領
域を設け、ＩＣカードに対してリセット命令が与えられ
たときに、上記特別な領域に検査完了情報が書き込まれ
ているか否かを判断し、検査完了情報が書き込まれてい
ない場合にのみ第１の段階から第５の段階までの処理が
実行されるようなルーチンを、ＲＯＭ内に格納するよう
にしたものである。

【００１１】

【作 用】本発明に係るＩＣカード内蔵メモリの検査方
法の特徴は、メモリ検査用プログラムを、従来のように
ＲＯＭ内に常駐させておくのではなく、検査実行時にＥ
ＥＰＲＯＭ内に書き込む点にある。ＩＣカード製造メー
カは、検査実行時に、検査用プログラムをＥＥＰＲＯＭ
内に書き込み、このプログラムを実行してメモリに対す
る検査を行った後、このプログラムを消去して出荷を行
えばよい。ＥＥＰＲＯＭ内には、検査用プログラムは残
っていないため、従来のＩＣカードと同様に、ＥＥＰＲ
ＯＭをＩＣカードの使用目的に応じたデータ領域として
使用することができる。しかも、ＲＯＭ内には、検査用
プログラムは存在しないため、ＲＯＭに割り当てられた
メモリ容量を、ＩＣカード本来の処理を実行させるため
のアプリケーションプログラムの格納に用いることがで
き、効率良いメモリ資源の利用を図ることができる。ま
た、ＣＰＵの誤動作によって、検査用プログラムが誤っ
て実行されてしまうおそれもなく、不正利用者によって
検査用プログラムを悪用されるおそれもない。

【００１２】本発明では、ＥＥＰＲＯＭ内にロードした
検査用プログラムによって、ＥＥＰＲＯＭ自身を検査す
る必要があるため、ＥＥＰＲＯＭを２つの領域に分割
し、検査は個々の領域ごとに別々に行われる。すなわ
ち、第１の領域の検査を行うときには、検査用プログラ
ムは第２の領域にロードされ、第２の領域の検査を行う
ときには、検査用プログラムは第１の領域にロードされ
る。本発明を適用するＩＣカードでは、ＲＯＭ内に、外
部から検査用プログラムをＥＥＰＲＯＭにロードするた
めのプログラムコード入力処理ルーチンと、ＥＥＰＲＯ
Ｍ内のプログラムを実行するプログラム実行処理ルーチ
ンと、が用意される。これらの各ルーチンを用いて、検
査用プログラムのロード処理と検査の実行処理とが行わ
れる。

【００１３】

【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。図１は、一般的なＩＣカード１０をリーダ／ラ
イタ装置２０に接続した状態を示すブロック図である。
ＩＣカード１０内には、リーダ／ライタ装置２０と接続
するためのＩ／Ｏ装置１１と、ＣＰＵ１２と、ＲＡＭ１
３と、ＲＯＭ１４と、ＥＥＰＲＯＭ１５と、が内蔵され
ている。ＣＰＵ１２は、Ｉ／Ｏ装置１１を介してリーダ
／ライタ装置２０から与えられる命令を受けとり、これ
を実行する。３種類のメモリのうち、ＲＡＭ１３は揮発
性のメモリであって、ＣＰＵ１２のワークエリアとして
利用される。ＲＯＭ１４およびＥＥＰＲＯＭ１５は、い
ずれも不揮発性のメモリであるが、ＲＯＭ１４は読み出
し専用であるのに対し、ＥＥＰＲＯＭ１５は随時書き換
えを行うことができる。このため、通常は、ＲＯＭ１４
には、ＣＰＵ１２に実行させるプログラムが用意され、
ＥＥＰＲＯＭ１５には、ＩＣカード１０の用途に応じた
データが記録される。したがって、従来のＩＣカードで
は、ＲＯＭ１４内にメモリ検査用プログラムが書き込ま
れていた。ＩＣカード製造メーカは、このＩＣカードを
出荷する前に、リーダ／ライタ装置２０からＣＰＵ１２
に対して所定のメモリ検査コマンドを与えることによ
り、メモリの検査を行うことができる。すなわち、メモ
リ検査コマンドを受けたＣＰＵ１２は、ＲＯＭ１４内の
メモリ検査用プログラムを実行し、ＥＥＰＲＯＭ１５や
ＲＡＭ１３を検査し、その結果をリーダ／ライタ装置２
０に報告する処理を行う。

【００１４】図２は、これら３種類のメモリに対するア
ドレス割当ての一例を示すメモリマップである。この例
では、ＲＯＭ１４に対して「００００〜０ＦＦＦ」、Ｒ
ＡＭ１３に対して「１０００〜１ＦＦＦ」、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１５に対して「２０００〜２ＦＦＦ」なるアドレスが
割り当てられている（アドレス値はいずれも１６進数表
示、以下、本明細書におけるアドレス値はすべて１６進
数表示とする）。従来のＩＣカードでは、前述のよう
に、ＲＯＭ１４内にメモリ検査用プログラムが用意され
ていたので、ＲＯＭ１４に割り当てられた「００００〜
０ＦＦＦ」なる４ｋバイトのメモリ容量のうちの一部
は、このメモリ検査用プログラムによって占有されてし
まい、ＩＣカードに本来の処理機能を与えるためのアプ
リケーションプログラムを格納する領域がそれだけ減っ
てしまうという問題があることは既に述べたとおりであ
る。本発明では、メモリ検査用プログラムは、ＥＥＰＲ
ＯＭ１５内に書き込まれて実行され、実行後は消去され
る。ただし、ＥＥＰＲＯＭ１５内に書き込まれたメモリ
検査用プログラムを用いて、ＲＡＭ１３を検査する場合
は何ら問題はないが、ＥＥＰＲＯＭ１５自身を検査する
場合には何らかの工夫が必要である。メモリ検査用プロ
グラムは、検査対象となるメモリ領域に対する書き込み
処理と読出し処理とを含むため、メモリ検査用プログラ
ムは自分自身を書き換えてしまうおそれがあるからであ
る。そこで、本発明では、次のような工夫を行ってい
る。

【００１５】この実施例では、図３のメモリマップ（１
行は１６バイト分のメモリ領域を示す）に示すように、
ＥＥＰＲＯＭ１５に割り当てられた「２０００〜２ＦＦ
Ｆ」なるアドレス領域を、前半の第１の領域「２０００
〜２７ＦＦ」と後半の第２の領域「２８００〜２ＦＦ
Ｆ」とに分けて取り扱う。しかも、第１の領域の先頭の
１６バイトの領域（図３の１行目の領域）については、
特に「システム領域」と定義し、この領域については、
アプリケーションプログラムでの使用は禁止しておく。
この「システム領域」を設ける意味については、後述す
ることにする。

【００１６】本発明の検査方法は、次の５段階の処理か
ら構成される。 第１の段階：第１の領域に対する検査を行う第１の検
査用プログラムを、第２の領域に書き込む（図４(a) 参
照）。 第２の段階：第１の検査用プログラムを実行して、第
１の領域（図４(a) にハッチングを施した検査対象領
域）に対する検査を行う。 第３の段階：第２の領域に対する検査を行う第２の検
査用プログラムを、第１の領域に書き込む（図４(b) 参
照）。 第４の段階：第２の検査用プログラムを実行して、第
２の領域（図４(b) にハッチングを施した検査対象領
域）に対する検査を行う。 第５の段階：書き込んだ検査用プログラムを消去す
る。

【００１７】ここで、第１の検査用プログラムは、アド
レス領域「２０００〜２７ＦＦ」に対する検査を行うプ
ログラムであり、たとえば、２０００番地から２７ＦＦ
番地までのすべてに「ＦＦ」を書き込み、続いて、各番
地からデータを読出して正しく「ＦＦ」が書き込まれて
いたかを判定するような処理プログラムである。実際に
は、「ＦＦ」だけでなく、「００」を書き込んだり、そ
の他種々のデータの書き込みが行われる。また、書き込
みおよび読出しは、たとえば１００回とか、繰り返して
行われる。第２の検査用プログラムも同様に、アドレス
領域「２８００〜２ＦＦＦ」に対する検査を行うプログ
ラムである。

【００１８】ところで、図１に示されているように、Ｃ
ＰＵ１２を内蔵したＩＣカード１０では、ＲＡＭ１３，
ＲＯＭ１４，ＥＥＰＲＯＭ１５は、通常、ＣＰＵ１２に
よってのみアクセスされ、これらのメモリをリーダ／ラ
イタ装置２０から直接アクセスすることはできない。こ
の特徴は、高度のセキュリティを確保する上で役に立
つ。したがって、上述の各段階の処理は、すべてＣＰＵ
１２によって実行する必要がある。そこで、この実施例
では、ＣＰＵ１２に対するコマンドとして、次の２つの
コマンドを定義してある。

【００１９】第１のコマンドは、図５にフォーマットが
示されているコード入力コマンドである。このコマンド
は、外部（リーダ／ライタ装置２０）から与えられたコ
ードを、ＥＥＰＲＯＭ１５内の所定のアドレスに入力
（ロード）するためのコマンドである。この実施例のＩ
Ｃカードでは、リーダ／ライタ装置２０からＩＣカード
１０に与える種々のコマンドが定義されているが、いず
れのコマンドも１バイト目がコマンド種別を示すコード
になっている。図５に示すコード入力コマンドでは、そ
の種別を示す１バイト目は「０１」である。結局、この
１バイト目の「０１」は、このコマンドが、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１５内へのコード入力を要求するコマンドであること
を示している。続く２，３バイト目には、入力すべきコ
ードの格納先頭アドレス（ＥＥＰＲＯＭ１５に割り当て
られたアドレス）が続き、次の４，５バイト目には、入
力すべきコードのコード長が続き、次の６バイト目以降
に入力すべきコード自身が続くことになる。

【００２０】第２のコマンドは、図６にフォーマットが
示されているプログラム実行コマンドである。このコマ
ンドは、ＥＥＰＲＯＭ１５内にロードされたプログラム
を実行する指示を与えるコマンドである。このコマンド
についての種別は、１バイト目に示されている「０２」
である。別言すれば、この１バイト目の「０２」は、こ
のコマンドが、ＥＥＰＲＯＭ１５内にロードされたプロ
グラムの実行を要求するコマンドであることを示してい
る。続く２，３バイト目には、実行すべきプログラムの
開始アドレス（ＥＥＰＲＯＭ１５に割り当てられたアド
レス）が続く。

【００２１】もちろん、ＣＰＵ１２に対するコマンド
は、上述の２つのコマンドだけではなく、種々のコマン
ドが定義されているが、他の一般コマンドについては、
ここでは説明を省略する。なお、これらのコマンドが外
部（リーダ／ライタ装置２０）から与えられたときに、
コマンドを解釈して実行するルーチンは、ＲＯＭ１４内
に格納されていることになる。

【００２２】さて、上述した２つのコマンドを解釈して
実行できるＩＣカード１０が用意できたら、リーダ／ラ
イタ装置２０側では、図７に示すような５種類のコマン
ドを用意する。これらのコマンドのうち、コマンド１〜
３は、図５に示すコード入力コマンド（１バイト目のコ
マンド種別が「０１」であるコマンド）であり、コマン
ド４，５は、図６に示すプログラム実行コマンド（１バ
イト目のコマンド種別が「０２」であるコマンド）であ
る。以下、個々のコマンドの意味を説明しよう。

【００２３】コマンド１は、第１の検査用プログラムコ
ードの入力を行うためのコマンドである。このコマンド
の２，３バイト目の「２８００」は、格納先頭アドレス
が「２８００」であることを示し、４，５バイト目の
「ＸＸＸＸ」は、後続するプログラムのコード長が「Ｘ
ＸＸＸ」バイト（具体的な数値は示していない）である
ことを示している。そして、６バイト目以降に、「第１
の検査用プログラム」の実際のプログラムコードが記述
されている。したがって、リーダ／ライタ装置２０から
ＩＣカード１０に対して、このコマンド１が与えられる
と、ＣＰＵ１２は、図４(a) に示すように、「第１の検
査用プログラム」をＥＥＰＲＯＭ１５内の「２８００」
番地からのアドレスに格納する処理を行うことになる。

【００２４】コマンド２は、第２の検査用プログラムコ
ードの入力を行うためのコマンドである。このコマンド
の２，３バイト目の「２０１０」は、格納先頭アドレス
が「２０１０」であることを示し、４，５バイト目の
「ＸＸＸＸ」は、後続するプログラムのコード長が「Ｘ
ＸＸＸ」バイト（具体的な数値は示していない）である
ことを示している。そして、６バイト目以降に、「第２
の検査用プログラム」の実際のプログラムコードが記述
されている。したがって、リーダ／ライタ装置２０から
ＩＣカード１０に対して、このコマンド２が与えられる
と、ＣＰＵ１２は、図４(b) に示すように、「第２の検
査用プログラム」をＥＥＰＲＯＭ１５内の「２０１０」
番地からのアドレスに格納する処理を行うことになる。

【００２５】コマンド３は、「検査終了コード」の入力
を行うためのコマンドである。このコマンドの２，３バ
イト目の「２０００」は、格納先頭アドレスが「２００
０」であることを示し、４，５バイト目の「０００１」
は、後続するコード長が１バイトであることを示してい
る。そして、６バイト目に、「検査終了コード」である
「５Ａ」が記述されている。ここで、「５Ａ」というコ
ード自身には特に意味はなく、１つのユニークな値とし
て「５Ａ」を「検査終了コード」と取り決めただけのこ
とである。結局、リーダ／ライタ装置２０からＩＣカー
ド１０に対して、このコマンド３が与えられると、ＣＰ
Ｕ１２は、「検査終了コード」である「５Ａ」をＥＥＰ
ＲＯＭ１５内の「２０００」番地に書き込む処理を行う
ことになる。図３に示すように、アドレス「２０００〜
２００Ｆ」は、「システム領域」として予約された領域
であり、特にその先頭番地「２０００」は、検査が終了
したか否かのフラグとして機能させるアドレスとなり、
ここでは、この２０００番地のデータをＦＬＧと呼ぶこ
とにする。この実施例では、ＦＬＧ＝「５Ａ」の場合に
は、ＥＥＰＲＯＭ１５の検査は終了していることを意味
し、ＦＬＧ≠「５Ａ」の場合には、ＥＥＰＲＯＭ１５の
検査は終了していないことを意味する。

【００２６】コマンド４は、第１の検査用プログラムの
実行を行うためのコマンドである。このコマンドの２，
３バイト目の「２８００」は、実行開始アドレスが「２
８００」であることを示す。したがって、リーダ／ライ
タ装置２０からＩＣカード１０に対して、このコマンド
４が与えられると、ＣＰＵ１２は、図４(a) に示すよう
に、「２８００」番地にロードされている「第１の検査
用プログラム」を実行することになり、その結果、同図
にハッチングで示されている検査対象領域「２０００〜
２７ＦＦ」が検査されることになる。

【００２７】コマンド５は、第２の検査用プログラムの
実行を行うためのコマンドである。このコマンドの２，
３バイト目の「２０１０」は、実行開始アドレスが「２
０１０」であることを示す。したがって、リーダ／ライ
タ装置２０からＩＣカード１０に対して、このコマンド
５が与えられると、ＣＰＵ１２は、図４(b) に示すよう
に、「２０１０」番地にロードされている「第２の検査
用プログラム」を実行することになり、その結果、同図
にハッチングで示されている検査対象領域「２８００〜
２ＦＦＦ」が検査されることになる。

【００２８】この実施例では、内蔵メモリの検査を、Ｉ
Ｃカードに対して最初にリセット命令を与えたときに実
行することができるように、ＲＯＭ１４内に図８に示す
ようなリセットルーチンを用意してある。すなわち、リ
ーダ／ライタ装置２０からＩＣカード１０に対してリセ
ット命令が与えられると、ＣＰＵ１２は、図８の流れ図
に示すリセットルーチンを実行することになる。まず、
ステップＳ１において、ＦＬＧ＝「５Ａ」であるか否か
の判断がなされる。前述したように、ＦＬＧは、ＥＥＰ
ＲＯＭ１５内の「システム領域」である２０００番地の
データであり、このデータは検査終了コードとして機能
する。ステップＳ１において、ＦＬＧ＝「５Ａ」であっ
た場合には、検査は終了しているので、ステップＳ２に
おいて通常のリセット処理（従来のＩＣカードにおける
リセットルーチンで実行される処理：たとえば、変数の
初期化などの処理）が行われた後、アプリケーションプ
ログラムルーチンが実行される。一方、ステップＳ１に
おいて、ＦＬＧ≠「５Ａ」であった場合には、検査はま
だ行われていないので、ステップＳ３以降の手順により
検査が行われる。

【００２９】まず、ステップＳ３において、コマンド待
ちの状態になる。すなわち、リーダ／ライタ装置２０側
から何らかのコマンドが与えられるまで待機状態とな
る。何らかのコマンドが与えられたら、まずステップＳ
４で、そのコマンドが「コード入力コマンド」であるか
否かが判断される（すなわち、与えられたコマンドの１
バイト目のコマンド種別が「０１」か否かが判断され
る）。「コード入力コマンド」でない場合には、次のス
テップＳ５で、そのコマンドが「プログラム実行コマン
ド」であるか否かが判断される（すなわち、与えられた
コマンドの１バイト目のコマンド種別が「０２」か否か
が判断される）。与えられたコマンドが「コード入力コ
マンド」でも「プログラム実行コマンド」でもなかった
場合には、ステップＳ６において、リーダ／ライタ装置
２０側に異常コマンド受信レスポンスが送出され、再び
ステップＳ１からの処理を実行することになる。すなわ
ち、ステップＳ３以降の検査処理は、図７に示す５つの
コマンド１〜５のうちのいずれかが与えられることを前
提としているのである。

【００３０】さて、リーダ／ライタ装置２０から与えら
れたコマンドが、「コード入力コマンド」であった場合
には、ステップＳ４からステップＳ７へ分岐し、ＥＥＰ
ＲＯＭ１５内へのコード入力処理が実行される。前述し
たように、「コード入力コマンド」は図５に示すような
フォーマットを有するコマンドであり、このコマンドの
２，３バイト目に示されている格納先頭アドレスに後続
するアドレス場所に、このコマンドの６バイト目以降の
入力すべきコードが格納される。そして、次のステップ
Ｓ８において、再びＦＬＧ＝「５Ａ」か否かが判断さ
れ、ＦＬＧ＝「５Ａ」であった場合には、ステップＳ９
において、ＦＬＧ以外のＥＥＰＲＯＭ領域（２００１〜
２ＦＦＦ番地）に対して消去処理が実行された後、ステ
ップＳ１へ戻ることになる。一方、ＦＬＧ≠「５Ａ」で
あった場合には、ステップＳ８からステップＳ１へその
まま戻ることになる。

【００３１】一方、リーダ／ライタ装置２０から与えら
れたコマンドが、「プログラム実行コマンド」であった
場合には、ステップＳ５からステップＳ１０へ分岐し、
ＥＥＰＲＯＭ１５内の指定プログラムが実行される。前
述したように、「プログラム実行コマンド」は図６に示
すようなフォーマットを有するコマンドであり、このコ
マンドの２，３バイト目に示されている実行開始アドレ
スから、プログラムが実行されることになる。このステ
ップＳ１０の処理は、ＥＥＰＲＯＭ１５内のプログラム
をサブルーチンコールする形式で行われ、このＥＥＰＲ
ＯＭ１５内プログラムの実行が完了すると、ステップＳ
１０からステップＳ１へと戻ることになる。

【００３２】このステップＳ１０からサブルーチンコー
ルされるプログラムは、ＥＥＰＲＯＭ１５内にロードさ
れたメモリ検査用プログラムである。前述したように、
この実施例では、ＥＥＰＲＯＭ１５の第１の領域を検査
するための第１の検査用プログラムと、第２の領域を検
査するための第２の検査用プログラムと、が用意されて
いる。図９は、このうちの第１の検査用プログラムの処
理手順の一例を示す流れ図である。このプログラムで
は、まずステップＳ１１において、アドレス「２０００
〜２７ＦＦ番地」にデータ「ＦＦ」が書き込まれる。続
くステップＳ１２では、同じアドレス「２０００〜２７
ＦＦ番地」から１バイトずつデータが読み出され、それ
らが「ＦＦ」であるか否かが検査される。こうして、読
み出したデータがいずれも「ＦＦ」であった場合には、
ステップＳ１３において正常と判断され、ステップＳ１
４において、リーダ／ライタ装置２０に対する正常レス
ポンスが送出される。一方、読み出したデータに「Ｆ
Ｆ」以外のものが含まれていたら、ステップＳ１３にお
いて異常と判断され、ステップＳ１５において、リーダ
／ライタ装置２０に対する異常レスポンスが送出され
る。なお、この図９に示す検査手順は、単純なモデルを
一例として示したものであり、実際には、「ＦＦ」以外
にも種々のデータの書き込み／読み出し検査が行われ、
また、書き込み／読み出しも複数回行われるのが一般的
である。

【００３３】以上述べたように、この実施例に示すＩＣ
カード１０は、本発明に係るメモリ検査を行う上で必要
な特有のルーチンをＲＯＭ１４内に含んでいる。すなわ
ち、図８に示すリセットルーチンと、図５に示す「コー
ド入力コマンド」を解釈して実行するルーチンと、図６
に示す「プログラム実行コマンド」を解釈して実行する
ルーチンである。しかしながら、これら特有のルーチン
は、比較的単純な処理ルーチンであり、これらのルーチ
ンを格納するために必要なメモリ容量は、メモリ検査を
行うためのルーチンを格納するために必要なメモリ容量
よりも少なくてすむ。

【００３４】さて、最後に、上述のようなＩＣカード１
０を用いたメモリ検査の手順を説明する。このメモリ検
査は、ＩＣカード製造メーカにおいて出荷時に行われ
る。メーカは、出荷前に、ＩＣカード１０をリーダ／ラ
イタ装置２０に図１に示すように接続し、リーダ／ライ
タ装置２０からＩＣカード１０に対してリセット命令を
与える。ＣＰＵ１２は、このリセット命令を受けて、Ｒ
ＯＭ１４内に用意された図８に示すリセットルーチンを
実行する。まず、ステップＳ１において、ＦＬＧ＝「５
Ａ」か否かが判断される。ＥＥＰＲＯＭ１５の全アドレ
ス領域の初期状態は、通常「ＦＦ」あるいは「００」な
るデータが格納された状態になっているため、２０００
番地に格納されているデータＦＬＧは、「５Ａ」ではな
い。そこで、ステップＳ３以降の検査処理が実行される
ことになる。ＩＣカード１０は、ステップＳ３において
コマンド待機状態になる。そこで、リーダ／ライタ装置
２０からＩＣカード１０に対して、図７に示すコマンド
１を与えてやる。このコマンド１は、「コード入力コマ
ンド」であるから、ステップＳ４からステップＳ７へ分
岐し、「第１の検査用プログラム」が２８００番地以降
にロードされた状態になる（図４(a) 参照）。次のステ
ップＳ８では、ＦＬＧ≠「５Ａ」と判断され、再びステ
ップＳ１に戻ることになる。

【００３５】続いて、ステップＳ１からステップＳ３へ
と進み、再びコマンド待機状態となる。そこで、今度
は、リーダ／ライタ装置２０からＩＣカード１０に対し
て、図７に示すコマンド４を与えてやる。このコマンド
４は、「プログラム実行コマンド」であるから、ステッ
プＳ５からステップＳ１０へ分岐し、２８００番地以降
にロードされている「第１の検査用プログラム」が実行
され、ＥＥＰＲＯＭ１５の第１の領域に対する検査が行
われることになる（図４(a) 参照）。この検査では、た
とえば図９の流れ図に示すような処理が実行され、リー
ダ／ライタ装置２０に対して正常レスポンスの送出（ス
テップＳ１４）か、異常レスポンスの送出（ステップＳ
１５）がなされる。検査が完了すると、再びステップＳ
１に戻ることになる。

【００３６】次に再び、ステップＳ１からステップＳ３
へと進み、コマンド待機状態となる。そこで、次に、リ
ーダ／ライタ装置２０からＩＣカード１０に対して、図
７に示すコマンド２を与えてやる。このコマンド２は、
「コード入力コマンド」であるから、ステップＳ４から
ステップＳ７へ分岐し、「第２の検査用プログラム」が
２０１０番地以降にロードされた状態になる（図４(b)
参照）。次のステップＳ８では、ＦＬＧ≠「５Ａ」と判
断され、再びステップＳ１に戻ることになる。

【００３７】続いて、ステップＳ１からステップＳ３へ
と進み、再度コマンド待機状態となる。そこで、今度
は、リーダ／ライタ装置２０からＩＣカード１０に対し
て、図７に示すコマンド５を与えてやる。このコマンド
５は、「プログラム実行コマンド」であるから、ステッ
プＳ５からステップＳ１０へ分岐し、２０１０番地以降
にロードされている「第２の検査用プログラム」が実行
され、ＥＥＰＲＯＭ１５の第２の領域に対する検査が行
われることになる（図４(b) 参照）。検査が完了する
と、再びステップＳ１に戻ることになる。

【００３８】次に再び、ステップＳ１からステップＳ３
へと進み、コマンド待機状態となる。そこで、今度は、
リーダ／ライタ装置２０からＩＣカード１０に対して、
図７に示すコマンド３を与えてやる。このコマンド３
は、「コード入力コマンド」であるから、ステップＳ４
からステップＳ７へ分岐し、「検査終了コード」として
のデータ「５Ａ」が２０００番地に書き込まれる。した
がって、次のステップＳ８では、ＦＬＧ＝「５Ａ」と判
断され、ステップＳ９が実行される。このステップＳ９
は、ＦＬＧ以外のＥＥＰＲＯＭ領域を消去する処理であ
る。すなわち、ＦＬＧに割り当てられている２０００番
地以外の領域が消去されることになり、具体的には、ア
ドレス「２００１〜２ＦＦＦ番地」に、たとえばデータ
「ＦＦ」が書き込まれる。

【００３９】ステップＳ９の消去処理が完了すると、再
びステップＳ１に戻るが、今度はＦＬＧ＝「５Ａ」と判
断され、ステップＳ２の通常のリセット処理が実行され
た後、アプリケーションプログラムルーチンが実行され
ることになる。これで、ＩＣカード製造メーカにおける
出荷時のメモリ検査処理は完了する。２０００番地のＦ
ＬＧには、「検査終了コード」としてのデータ「５Ａ」
が書き込まれた状態で残る。前述のように、ＥＥＰＲＯ
Ｍ１５のアドレス「２０００〜２００Ｆ番地」は、「シ
ステム領域」として定義されており、アプリケーション
プログラムでの使用が禁止されているため、以後、この
「検査終了コード」としてのデータ「５Ａ」が書き換え
られることはない。なお、この実施例では、２０００番
地以外の「システム領域（２００１〜２００Ｆ番地）」
についての利用態様は説明していないが、実際には、シ
ステム変数の格納などの用途に適宜利用することができ
る。

【００４０】さて、こうしてメモリ検査が行われたＩＣ
カード１０は、製造メーカからユーザ（たとえば、銀
行）へと納入される。ユーザは、このＩＣカード１０を
各顧客に発行する（たとえば、銀行の預金者に対してキ
ャッシュカードとして発行する）。このようにユーザや
その顧客によってＩＣカード１０が使用されている状態
においては、既に、ＥＥＰＲＯＭ１５内のメモリ検査プ
ログラムは消去されているため、たとえＣＰＵ１２が誤
動作しても、誤ってメモリ検査プログラムが実行される
ことはなく、メモリ検査プログラムが不正利用されるこ
ともない。また、２０００番地には、「検査終了コー
ド：５Ａ」が書き込まれているため、リーダ／ライタ装
置２０からＩＣカード１０に対してリセット命令を与え
た場合、図８の流れ図におけるステップＳ１で、ＦＬＧ
＝５Ａなる判断がなされ、ステップＳ２における通常の
リセット処理が実行された後、アプリケーションプログ
ラムがスタートするため、従来のＩＣカードと全く同じ
態様で使用することが可能である。

【００４１】以上、本発明を図示する実施例に基づいて
説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものでは
なく、この他にも種々の態様で実施可能である。たとえ
ば、図５や図６に示したコマンドのフォーマットは、一
例として示したものであり、この他どのようなフォーマ
ットを定義してもかまわない。また、上述の実施例で
は、ＥＥＰＲＯＭ１５に対するメモリ検査のみを行って
いるが、ＲＡＭ１３に対するメモリ検査を同様に行うこ
とも可能である。

【００４２】

【発明の効果】以上のとおり本発明に係るＩＣカード内
蔵メモリの検査方法によれば、ＥＥＰＲＯＭ内に、メモ
リ検査用プログラムを書き込み、この検査用プログラム
を実行することによりメモリの検査を行い、検査終了後
に検査用プログラムを消去するようにしたため、ＲＯＭ
内にメモリ検査用のプログラムを格納することなしに、
内蔵メモリの検査を行うことができるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】一般的なＩＣカード１０をリーダ／ライタ装置
２０に接続した状態を示すブロック図である。

【図２】図１に示すＩＣカード１０に内蔵された３種類
のメモリに対するアドレス割当ての一例を示すメモリマ
ップである。

【図３】図２に示すＥＥＰＲＯＭ１５のメモリマップの
詳細図である。

【図４】本発明に係るメモリの検査方法において、ＥＥ
ＰＲＯＭ１５の前半の第１の領域に対する検査（同図
(a) ）と、後半の第２の領域に対する検査（同図(b) ）
とを分けて行うことを示す図である。

【図５】本発明に係るメモリの検査方法を実施するため
に定義されたコード入力コマンドのフォーマットを示す
図である。

【図６】本発明に係るメモリの検査方法を実施するため
に定義されたプログラム実行コマンドのフォーマットを
示す図である。

【図７】本発明に係るメモリの検査方法を実施するため
に用意された５種類のコマンドを示す図である。

【図８】本発明に係るメモリの検査方法を実施するため
に用意されたＲＯＭ内のリセットルーチンを示す流れ図
である。

【図９】本発明に係るメモリの検査方法を実施するため
にＥＥＰＲＯＭ内にロードする検査用プログラムの一例
を示す流れ図である。

【符号の説明】

１０…ＩＣカード １１…Ｉ／Ｏ装置 １２…ＣＰＵ １３…ＲＡＭ １４…ＲＯＭ １５…ＥＥＰＲＯＭ ２０…リーダ／ライタ装置

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくともＲＡＭ，ＲＯＭ，ＥＥＰＲＯ
   Ｍの３種類のメモリと、これらのメモリをアクセスする
   機能をもったＣＰＵと、を内蔵するＩＣカードについ
   て、メモリの検査を行う方法において、 ＥＥＰＲＯＭ内に、メモリ検査用プログラムを書き込
   み、この検査用プログラムを実行することによりメモリ
   の検査を行い、検査終了後に検査用プログラムを消去す
   ることを特徴とするＩＣカード内蔵メモリの検査方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の検査方法において、 ＥＥＰＲＯＭの第１の領域に対する検査を行う第１の検
   査用プログラムを、ＥＥＰＲＯＭの第２の領域に書き込
   む第１の段階と、 前記第１の検査用プログラムを実行して前記第１の領域
   に対する検査を行う第２の段階と、 ＥＥＰＲＯＭの前記第２の領域に対する検査を行う第２
   の検査用プログラムを、ＥＥＰＲＯＭの前記第１の領域
   に書き込む第３の段階と、 前記第２の検査用プログラムを実行して前記第２の領域
   に対する検査を行う第４の段階と、 前記ＥＥＰＲＯＭ内に書き込んだ検査用プログラムを消
   去する第５の段階と、 を行うことにより、ＥＥＰＲＯＭに対するメモリ検査を
   行うことを特徴とするＩＣカード内蔵メモリの検査方
   法。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の検査方法において、 外部からＩＣカードに対して、ＥＥＰＲＯＭ内へプログ
   ラムコードの入力を行うことを示すプログラムコード入
   力指示と、所定のプログラムコードと、ＥＥＰＲＯＭ内
   のアドレスと、が与えられたときに、与えられたプログ
   ラムコードを与えられたアドレスに格納する処理を行う
   プログラムコード入力処理と、 外部からＩＣカードに対して、ＥＥＰＲＯＭ内のプログ
   ラムを実行することを示すプログラム実行指示と、ＥＥ
   ＰＲＯＭ内のアドレスと、が与えられたときに、与えら
   れたアドレスに格納されているプログラムを実行するプ
   ログラム実行処理と、 を行うためのルーチンをＲＯＭ内に格納しておき、 外部からＩＣカードに対して、前記プログラムコード入
   力指示と、第１の検査用プログラムのコードと、第２の
   領域の所定アドレスと、を与えることにより第１の段階
   を実行させ、 外部からＩＣカードに対して、前記プログラム実行指示
   と、前記第２の領域の所定アドレスと、を与えることに
   より第２の段階を実行させ、 外部からＩＣカードに対して、前記プログラムコード入
   力指示と、第２の検査用プログラムのコードと、第１の
   領域の所定アドレスと、を与えることにより第３の段階
   を実行させ、 外部からＩＣカードに対して、前記プログラム実行指示
   と、前記第１の領域の所定アドレスと、を与えることに
   より第４の段階を実行させることを特徴とするＩＣカー
   ド内蔵メモリの検査方法。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の検査方法において、 ＥＥＰＲＯＭ内の所定のアドレス場所に、検査完了情報
   を書き込むための特別な領域を設け、 ＩＣカードに対してリセット命令が与えられたときに、
   前記特別な領域に前記検査完了情報が書き込まれている
   か否かを判断し、前記検査完了情報が書き込まれていな
   い場合にのみ第１の段階から第５の段階までの処理が実
   行されるようなルーチンを、ＲＯＭ内に格納したことを
   特徴とするＩＣカード内蔵メモリの検査方法。