JPH07210925A - 複合ディスク - Google Patents
複合ディスクInfo
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- JPH07210925A JPH07210925A JP1601194A JP1601194A JPH07210925A JP H07210925 A JPH07210925 A JP H07210925A JP 1601194 A JP1601194 A JP 1601194A JP 1601194 A JP1601194 A JP 1601194A JP H07210925 A JPH07210925 A JP H07210925A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複合ディスクにおいて、所定の接触荷重の印
加された磁気ヘッドによって、接触走行しても、安定し
た走行特性を有する磁性層用保護層を形成出来るように
し、それにより、信頼性の高い磁気ヘッド走行特性を有
する複合ディスクを提供する。 【構成】 円板状の透明基板1上に、光情報の記録され
るべき光記録層3と、光記録層用保護層4と、所定形状
の磁性層5と、磁性層用保護層6と、潤滑層7とが順次
積層されている複合ディスク10において、前記磁性層
用保護層6を、ガラス転移点温度が150℃以上の値を
有する紫外線硬化性樹脂で形成した。
加された磁気ヘッドによって、接触走行しても、安定し
た走行特性を有する磁性層用保護層を形成出来るように
し、それにより、信頼性の高い磁気ヘッド走行特性を有
する複合ディスクを提供する。 【構成】 円板状の透明基板1上に、光情報の記録され
るべき光記録層3と、光記録層用保護層4と、所定形状
の磁性層5と、磁性層用保護層6と、潤滑層7とが順次
積層されている複合ディスク10において、前記磁性層
用保護層6を、ガラス転移点温度が150℃以上の値を
有する紫外線硬化性樹脂で形成した。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光記録膜を有する光デ
ィスクに、磁気ヘッドによる少量のデ−タの書込み/読
み出しが可能な磁性層を形成して得られる複合ディスク
に係わり、特に、磁性層上に最適な磁性層用保護層を形
成し、磁気ヘッドの良好な接触走行を行わせるのに好適
な複合ディスクに関するものである。
ィスクに、磁気ヘッドによる少量のデ−タの書込み/読
み出しが可能な磁性層を形成して得られる複合ディスク
に係わり、特に、磁性層上に最適な磁性層用保護層を形
成し、磁気ヘッドの良好な接触走行を行わせるのに好適
な複合ディスクに関するものである。
【0002】
【従来の技術】透明基板上に形成されている光学記録層
に記録されている情報信号を、レーザ光を用いて読み出
す再生専用光ディスクは、同一情報を大量にしかも短時
間に複製することが出来ることにより、現在広範に普及
している。この再生専用光ディスクには、記録されてい
る情報内容により、CD、CD−ROM、CD−Vまた
はCD−I等の種類がある。
に記録されている情報信号を、レーザ光を用いて読み出
す再生専用光ディスクは、同一情報を大量にしかも短時
間に複製することが出来ることにより、現在広範に普及
している。この再生専用光ディスクには、記録されてい
る情報内容により、CD、CD−ROM、CD−Vまた
はCD−I等の種類がある。
【0003】これら多種類の再生専用光ディスクの出現
により、その使用形態も多様化してきた。さらに、再生
専用光ディスクに、少量の情報を付加できる記録領域を
設けて、ここに管理情報を記録することにより、再生専
用光ディスクの管理を容易にしようとする試みがなされ
ている。例えば、ゲーム用再生専用光ディスク(以下、
ゲーム用光ディスクともいう)の場合、ゲームを途中で
中断し、再びゲームを再開する時は、中断したシーンよ
り始められるように、中断した時のゲームのシーン番号
やそれまでのゲームの得点等のゲーム管理情報を、光デ
ィスクプレーヤに記録できるようになっているが、ゲー
ム用光ディスクを別の場所に持ちだし、そこにある別の
光ディスクプレーヤによってゲームを再開したい場合に
は、ゲーム管理情報は光ディスクプレーヤに記録されて
おり、ゲーム用光ディスクに記録されていないため、先
の中断したシーンより再開することが出来なかった。
により、その使用形態も多様化してきた。さらに、再生
専用光ディスクに、少量の情報を付加できる記録領域を
設けて、ここに管理情報を記録することにより、再生専
用光ディスクの管理を容易にしようとする試みがなされ
ている。例えば、ゲーム用再生専用光ディスク(以下、
ゲーム用光ディスクともいう)の場合、ゲームを途中で
中断し、再びゲームを再開する時は、中断したシーンよ
り始められるように、中断した時のゲームのシーン番号
やそれまでのゲームの得点等のゲーム管理情報を、光デ
ィスクプレーヤに記録できるようになっているが、ゲー
ム用光ディスクを別の場所に持ちだし、そこにある別の
光ディスクプレーヤによってゲームを再開したい場合に
は、ゲーム管理情報は光ディスクプレーヤに記録されて
おり、ゲーム用光ディスクに記録されていないため、先
の中断したシーンより再開することが出来なかった。
【0004】そこで、このような欠点を解決するため
に、例えば、特開昭62−75956号公報、特開平1
−138642号公報又は特開平4−337546号公
報等に開示されているように、光ディスク上に、少量の
情報を磁気記録方式により書込み/読み出し(以下、記
録再生とも言う)が出来る磁性層の領域を設ける複合デ
ィスクが提案されている。
に、例えば、特開昭62−75956号公報、特開平1
−138642号公報又は特開平4−337546号公
報等に開示されているように、光ディスク上に、少量の
情報を磁気記録方式により書込み/読み出し(以下、記
録再生とも言う)が出来る磁性層の領域を設ける複合デ
ィスクが提案されている。
【0005】以下、添付図面を参照して従来の技術を説
明する。図1は、一般的な複合ディスクの構成を示す部
分断面図である。図1において、1は基板を、2は信号
ピットを、3は光記録層を、4は光記録層用保護層を、
5は磁性層を、6は磁性層用保護層を、7は潤滑層を、
10は複合ディスクを、15は光ディスクをそれぞれ示
す。
明する。図1は、一般的な複合ディスクの構成を示す部
分断面図である。図1において、1は基板を、2は信号
ピットを、3は光記録層を、4は光記録層用保護層を、
5は磁性層を、6は磁性層用保護層を、7は潤滑層を、
10は複合ディスクを、15は光ディスクをそれぞれ示
す。
【0006】円板状の透明なポリカ−ボネ−ト樹脂から
なる基板1上の片面に、情報に対応した信号ピット2
が、射出成形法により形成されており、この上にアルミ
ニウムからなる光記録層3が形成されている。この光記
録層3は、信号ピット2の形成されていない基板側か
ら、レ−ザ−光を入射し、光記録層3で反射させ、信号
ピット2の形状を読み取るためのものである。光記録層
3の上には、紫外線硬化樹脂からなる光記録層用保護層
4が形成されて、光ディスク15が構成されている。さ
らに、この光記録層用保護層4の上には、少量の書替え
可能な情報を磁気記録方式によって書込み/読み出しす
るための、所定形状の磁性層5が形成されている。この
磁性層5上には、図示しない磁気ヘッドの摺動による磁
性層5の損傷を防止するために、樹脂からなる磁性層用
保護層6及び潤滑層7が順次形成されて、複合ディスク
10が構成されている。磁性層5への磁気記録再生は、
図示しない磁気ヘッドによって行われる。
なる基板1上の片面に、情報に対応した信号ピット2
が、射出成形法により形成されており、この上にアルミ
ニウムからなる光記録層3が形成されている。この光記
録層3は、信号ピット2の形成されていない基板側か
ら、レ−ザ−光を入射し、光記録層3で反射させ、信号
ピット2の形状を読み取るためのものである。光記録層
3の上には、紫外線硬化樹脂からなる光記録層用保護層
4が形成されて、光ディスク15が構成されている。さ
らに、この光記録層用保護層4の上には、少量の書替え
可能な情報を磁気記録方式によって書込み/読み出しす
るための、所定形状の磁性層5が形成されている。この
磁性層5上には、図示しない磁気ヘッドの摺動による磁
性層5の損傷を防止するために、樹脂からなる磁性層用
保護層6及び潤滑層7が順次形成されて、複合ディスク
10が構成されている。磁性層5への磁気記録再生は、
図示しない磁気ヘッドによって行われる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の磁気
記録媒体と比較して、光ディスクはディスク回転数が低
く、面振れが大きい。従って、光ディスクに磁性層を設
け、複合ディスクとし、磁性層に管理情報を磁気記録/
再生するときには、磁気ヘッドを複合ディスク上で安定
走行させるために、所定の荷重を印加しながら磁気ヘッ
ドを複合ディスクに接触させる接触記録方式をとる必要
がある。
記録媒体と比較して、光ディスクはディスク回転数が低
く、面振れが大きい。従って、光ディスクに磁性層を設
け、複合ディスクとし、磁性層に管理情報を磁気記録/
再生するときには、磁気ヘッドを複合ディスク上で安定
走行させるために、所定の荷重を印加しながら磁気ヘッ
ドを複合ディスクに接触させる接触記録方式をとる必要
がある。
【0008】しかし、安定した磁気記録再生出力を得る
ためには、複合ディスクの面振れに対する磁気ヘッドの
追従性を向上させる必要がある。また、所定荷重を印加
しながら、磁気ヘッドを複合ディスクに押しつけること
による光記録層への損傷発生を回避する必要がある。ま
た、高出力低ノイズの磁気記録再生を行うためには、磁
気ヘッド−磁性層間のスペーシングを狭小化する必要が
ある。また、接触走行によって、磁性層及び磁気ヘッド
に発生する損傷を回避する必要がある。さらに、複合デ
ィスクの製造プロセスの簡略化も考慮する必要がある。
ためには、複合ディスクの面振れに対する磁気ヘッドの
追従性を向上させる必要がある。また、所定荷重を印加
しながら、磁気ヘッドを複合ディスクに押しつけること
による光記録層への損傷発生を回避する必要がある。ま
た、高出力低ノイズの磁気記録再生を行うためには、磁
気ヘッド−磁性層間のスペーシングを狭小化する必要が
ある。また、接触走行によって、磁性層及び磁気ヘッド
に発生する損傷を回避する必要がある。さらに、複合デ
ィスクの製造プロセスの簡略化も考慮する必要がある。
【0009】本願出願人は、これらの点を考慮して、従
来の光ディスク上に、所定形状の磁性層を形成し、この
磁性層上に、紫外線硬化樹脂からなる磁性層を保護する
磁性層用保護層と、潤滑層を順次形成した複合ディスク
を種々製作し、これらの複合ディスクについて、磁気ヘ
ッド接触方式によって、磁気ヘッドを走行させた時の、
複合ディスクの安定走行の耐久性の研究を行なった。
来の光ディスク上に、所定形状の磁性層を形成し、この
磁性層上に、紫外線硬化樹脂からなる磁性層を保護する
磁性層用保護層と、潤滑層を順次形成した複合ディスク
を種々製作し、これらの複合ディスクについて、磁気ヘ
ッド接触方式によって、磁気ヘッドを走行させた時の、
複合ディスクの安定走行の耐久性の研究を行なった。
【0010】それによると、磁性層用保護層と磁気ヘッ
ドを接触させて(潤滑層が介在している)、接触走行を
行なったところ、安定した走行特性を得るには、磁気ヘ
ッドに印加される接触荷重を十分大きくする必要があ
り、そのため、磁気ヘッド走行の初期には、十分な磁気
記録再生特性が得られているものの、継続して使用する
と、磁性層用保護層と磁気ヘッド間の摩擦により、磁気
ヘッドがスティックスリップを起こし、磁気ヘッドの安
定走行が不能になったり、磁性層保護層の磨耗に続い
て、磁性層に傷が発生し、ついには、磁気ヘッドがクラ
ッシュしてしまう事が判明した。
ドを接触させて(潤滑層が介在している)、接触走行を
行なったところ、安定した走行特性を得るには、磁気ヘ
ッドに印加される接触荷重を十分大きくする必要があ
り、そのため、磁気ヘッド走行の初期には、十分な磁気
記録再生特性が得られているものの、継続して使用する
と、磁性層用保護層と磁気ヘッド間の摩擦により、磁気
ヘッドがスティックスリップを起こし、磁気ヘッドの安
定走行が不能になったり、磁性層保護層の磨耗に続い
て、磁性層に傷が発生し、ついには、磁気ヘッドがクラ
ッシュしてしまう事が判明した。
【0011】そこで、本発明は上記の点に着目してなさ
れたものであり、複合ディスクにおいて、所定の接触荷
重の印加された磁気ヘッドによって、接触走行しても、
安定した走行特性を有する磁性層用保護層を形成出来る
ようにし、それにより、信頼性の高い磁気ヘッド走行特
性を有する複合ディスクを提供する事を目的とするもの
である。
れたものであり、複合ディスクにおいて、所定の接触荷
重の印加された磁気ヘッドによって、接触走行しても、
安定した走行特性を有する磁性層用保護層を形成出来る
ようにし、それにより、信頼性の高い磁気ヘッド走行特
性を有する複合ディスクを提供する事を目的とするもの
である。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の複合ディスク
は、円板状の透明基板上に、光情報の記録されるべき光
記録層と、光記録層用保護層と、所定形状の磁性層と、
磁性層用保護層と、潤滑層とが順次積層されている複合
ディスクにおいて、前記磁性層用保護層を、ガラス転移
点温度が150℃以上の値を有する紫外線硬化性樹脂で
形成したことにより、上述の目的を達成するものであ
る。
は、円板状の透明基板上に、光情報の記録されるべき光
記録層と、光記録層用保護層と、所定形状の磁性層と、
磁性層用保護層と、潤滑層とが順次積層されている複合
ディスクにおいて、前記磁性層用保護層を、ガラス転移
点温度が150℃以上の値を有する紫外線硬化性樹脂で
形成したことにより、上述の目的を達成するものであ
る。
【0013】
【作用】磁性層用保護層を構成する紫外線硬化樹脂のガ
ラス転移点温度Tgが150℃以上であるので、磁気ヘ
ッドの接触走行によって発生する摩擦熱に対して安定で
あり、磁性層用保護層の表面形状の変化を小さく押さえ
ることができるので、磁気ヘッドによる接触走行を安定
に維持できる。
ラス転移点温度Tgが150℃以上であるので、磁気ヘ
ッドの接触走行によって発生する摩擦熱に対して安定で
あり、磁性層用保護層の表面形状の変化を小さく押さえ
ることができるので、磁気ヘッドによる接触走行を安定
に維持できる。
【0014】
【実施例】複合ディスクを製作し、磁気ヘッドを接触走
行させて、摺動試験を行った。以下、図面を参照して、
本発明の実施例につき説明する。 <実施例1>図1は、一般的な複合ディスクの構成を示
す部分断面図である。まず、光ディスク15の構成の概
略を説明する。直径120mmの透明なポリカ−ボネ−
ト樹脂製の基板1上に、スタンパによる射出成形法によ
り信号ピット2を形成する。この信号ピット2上の全面
に、スパッタリング法により厚さ100nmのAl膜を
光記録層3として形成する。この光記録層3上に、例え
ばトリメチルプロパントリアクリレ−ト(TMPTA)
からなる紫外線硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗
布した後、紫外線によって硬化して、厚さ7μmの光記
録層用保護層4を形成し、光ディスク15を得る。
行させて、摺動試験を行った。以下、図面を参照して、
本発明の実施例につき説明する。 <実施例1>図1は、一般的な複合ディスクの構成を示
す部分断面図である。まず、光ディスク15の構成の概
略を説明する。直径120mmの透明なポリカ−ボネ−
ト樹脂製の基板1上に、スタンパによる射出成形法によ
り信号ピット2を形成する。この信号ピット2上の全面
に、スパッタリング法により厚さ100nmのAl膜を
光記録層3として形成する。この光記録層3上に、例え
ばトリメチルプロパントリアクリレ−ト(TMPTA)
からなる紫外線硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗
布した後、紫外線によって硬化して、厚さ7μmの光記
録層用保護層4を形成し、光ディスク15を得る。
【0015】以上の構成の光ディスク15に、主に紫外
線硬化樹脂を含む磁性塗料(これについては、後述す
る)を、スクリ−ン印刷法により(スクリ−ンは、テト
ロン系380メッシュに、乳剤が12μmの厚さに塗布
されたものであり、内径39mm、外径118mmのド
−ナツ形状の開口部が設けられている)印刷し、所定形
状の磁性塗料膜を形成する。この磁性塗料膜を、紫外線
照射によって硬化し、その後、表面を研磨テ−プを用い
てテ−プ研磨して平坦化し、膜厚が5μmである磁性層
5を得た(テ−プ研磨については、後述する)。
線硬化樹脂を含む磁性塗料(これについては、後述す
る)を、スクリ−ン印刷法により(スクリ−ンは、テト
ロン系380メッシュに、乳剤が12μmの厚さに塗布
されたものであり、内径39mm、外径118mmのド
−ナツ形状の開口部が設けられている)印刷し、所定形
状の磁性塗料膜を形成する。この磁性塗料膜を、紫外線
照射によって硬化し、その後、表面を研磨テ−プを用い
てテ−プ研磨して平坦化し、膜厚が5μmである磁性層
5を得た(テ−プ研磨については、後述する)。
【0016】この磁性層5上に、2官能アクリレ−トモ
ノマ−であるR604(商品名、日本化薬(株)製)
に、光硬化剤であるダロキュア1173(商品名、メル
クジャパン(株)製)を7wt%混合して得た紫外線硬
化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線
によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形
成した。この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−
プを用いて研磨した後、n−ヘキサンを溶剤としてほぼ
0.25wt%に希釈したジメチルポリシロキサンであ
るWF−30(商品名、東レダウコーニングシリコーン
(株)製)をスピンコ−ト法により塗布して、膜厚10
nmの潤滑層7形成し、実施例1の複合ディスク10を
得た。なお、磁性層保護層6形成後、その表面粗さを、
接触式表面粗さ計(ランクテ−ラ−ホブソン社製)によ
り測定し、中心線表面粗さRaの値として、52nmを
得た。また、磁性層保護層を構成する紫外線硬化樹脂の
ガラス転移点温度Tgは、150℃であった(ガラス転
移点温度Tgの測定法は、後述する)。
ノマ−であるR604(商品名、日本化薬(株)製)
に、光硬化剤であるダロキュア1173(商品名、メル
クジャパン(株)製)を7wt%混合して得た紫外線硬
化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線
によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形
成した。この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−
プを用いて研磨した後、n−ヘキサンを溶剤としてほぼ
0.25wt%に希釈したジメチルポリシロキサンであ
るWF−30(商品名、東レダウコーニングシリコーン
(株)製)をスピンコ−ト法により塗布して、膜厚10
nmの潤滑層7形成し、実施例1の複合ディスク10を
得た。なお、磁性層保護層6形成後、その表面粗さを、
接触式表面粗さ計(ランクテ−ラ−ホブソン社製)によ
り測定し、中心線表面粗さRaの値として、52nmを
得た。また、磁性層保護層を構成する紫外線硬化樹脂の
ガラス転移点温度Tgは、150℃であった(ガラス転
移点温度Tgの測定法は、後述する)。
【0017】この複合ディスク10を、複合ディスク用
摺動試験器(これについては、後述する)に装着し、磁
気ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数
は0.53であり、摺動60分後の摩擦係数は0.63
であった。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安
定走行であった。摺動試験条件を次のようにした。磁気
ヘッドの接触荷重は3g重であり、磁気ヘッドスライダ
−はチタン酸カルシュウム/フェライトの複合スライダ
−である。複合ディスク10の回転数は330rpm、
磁気ヘッドの摺動位置は複合ディスク10の半径40m
mのトラックである。
摺動試験器(これについては、後述する)に装着し、磁
気ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数
は0.53であり、摺動60分後の摩擦係数は0.63
であった。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安
定走行であった。摺動試験条件を次のようにした。磁気
ヘッドの接触荷重は3g重であり、磁気ヘッドスライダ
−はチタン酸カルシュウム/フェライトの複合スライダ
−である。複合ディスク10の回転数は330rpm、
磁気ヘッドの摺動位置は複合ディスク10の半径40m
mのトラックである。
【0018】次に、複合ディスク用摺動試験器と摺動試
験の概要を説明する。図3は、複合ディスク用摺動試験
器の概略構成を示す正面図である。図3において、20
は摺動試験器を、10は複合ディスクを、21はクラン
プを、22はスピンドルを、23は回転中心軸を、24
は磁気ヘッドを、25はサスペンションを、26はヘッ
ド固定部を、27はロ−ドセルを、28はア−ムを、2
9は定盤をそれぞれ示す。
験の概要を説明する。図3は、複合ディスク用摺動試験
器の概略構成を示す正面図である。図3において、20
は摺動試験器を、10は複合ディスクを、21はクラン
プを、22はスピンドルを、23は回転中心軸を、24
は磁気ヘッドを、25はサスペンションを、26はヘッ
ド固定部を、27はロ−ドセルを、28はア−ムを、2
9は定盤をそれぞれ示す。
【0019】摺動試験器20の図示しない基台に、図示
しないモ−タ−が固定されている。このモ−タ−の回転
軸に、スピンドル22が回転可能に接続されている。ス
ピンドル22の回転中心軸23は垂直方向となってい
る。複合ディスク10は、そのセンタ−穴を貫通するス
ピンドル22の突起部に装着され、クランプ21によっ
て、スピンドル22に固定される。
しないモ−タ−が固定されている。このモ−タ−の回転
軸に、スピンドル22が回転可能に接続されている。ス
ピンドル22の回転中心軸23は垂直方向となってい
る。複合ディスク10は、そのセンタ−穴を貫通するス
ピンドル22の突起部に装着され、クランプ21によっ
て、スピンドル22に固定される。
【0020】一方、スピンドル22より所定の距離離れ
て、基台に固定された定盤29が、配置されている。定
盤29の上面29aは、垂直及び水平方向(スピンドル
22の回転中心軸23に向かう方向)に移動可能に構成
されている。定盤29の上面29aの所定の位置に、ロ
−ドセル27が配置固定されている。ロ−ドセル27に
は、ア−ム28がロ−ドセル27内部の支持点に水平方
向に揺動できるようにその一端を接続されており、この
ア−ム28の他端にはヘッド固定部26が固定されてい
る。ヘッド固定部26の所定位置に、サスペンション2
5の一端が固定されており、サスペンション25の他端
には、磁気ヘッド24が複合ディスク10の上面に配置
される様取り付けられている。複合ディスク10上の磁
気ヘッド24の位置は、定盤29の水平方向の移動によ
り調整される。磁気ヘッド24の接触荷重は定盤29の
垂直方向の移動により調整され、ロ−ドセル27によっ
て、検出される。
て、基台に固定された定盤29が、配置されている。定
盤29の上面29aは、垂直及び水平方向(スピンドル
22の回転中心軸23に向かう方向)に移動可能に構成
されている。定盤29の上面29aの所定の位置に、ロ
−ドセル27が配置固定されている。ロ−ドセル27に
は、ア−ム28がロ−ドセル27内部の支持点に水平方
向に揺動できるようにその一端を接続されており、この
ア−ム28の他端にはヘッド固定部26が固定されてい
る。ヘッド固定部26の所定位置に、サスペンション2
5の一端が固定されており、サスペンション25の他端
には、磁気ヘッド24が複合ディスク10の上面に配置
される様取り付けられている。複合ディスク10上の磁
気ヘッド24の位置は、定盤29の水平方向の移動によ
り調整される。磁気ヘッド24の接触荷重は定盤29の
垂直方向の移動により調整され、ロ−ドセル27によっ
て、検出される。
【0021】次に、摺動試験の概要を説明する。複合デ
ィスク10は、図示しないモ−タ−に連結したスピンド
ル22により、所定の回転数で回転させられる。複合デ
ィスク10上の磁気ヘッド24には所定の接触荷重が印
加されており、複合ディスク10の回転方向に摩擦力が
作用する。摩擦力の大きさは、ア−ム28の水平方向の
変位量に比例しており、ロ−ドセル27によって検出さ
れる。摩擦力の時間変化は、ロ−ドセル27の出力端に
接続された図示しない記録計に、記録される。
ィスク10は、図示しないモ−タ−に連結したスピンド
ル22により、所定の回転数で回転させられる。複合デ
ィスク10上の磁気ヘッド24には所定の接触荷重が印
加されており、複合ディスク10の回転方向に摩擦力が
作用する。摩擦力の大きさは、ア−ム28の水平方向の
変位量に比例しており、ロ−ドセル27によって検出さ
れる。摩擦力の時間変化は、ロ−ドセル27の出力端に
接続された図示しない記録計に、記録される。
【0022】次に、磁性層5を形成するのに使用した磁
性塗料について説明する。磁性塗料は、アクリル酸エス
テル系のトリメチルプロパントリアクリレ−ト(TMP
TA:日本化薬(株)製)と、磁性粉としてγ−Fe2
O3 であるCMX−473(商品名、戸田工業(株)
製)と、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコ−ル
ジアクリレ−トモノマ−(日本化薬(株)製)とをwt
%で1:1:2に配合したものに、光硬化剤として、ダ
ロキュア−4265(商品名、メルクジャパン(株)
製)を5wt%添加したものを、ボ−ルミルにて充分混
合し、磁性粉を分散させて、調製した。
性塗料について説明する。磁性塗料は、アクリル酸エス
テル系のトリメチルプロパントリアクリレ−ト(TMP
TA:日本化薬(株)製)と、磁性粉としてγ−Fe2
O3 であるCMX−473(商品名、戸田工業(株)
製)と、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコ−ル
ジアクリレ−トモノマ−(日本化薬(株)製)とをwt
%で1:1:2に配合したものに、光硬化剤として、ダ
ロキュア−4265(商品名、メルクジャパン(株)
製)を5wt%添加したものを、ボ−ルミルにて充分混
合し、磁性粉を分散させて、調製した。
【0023】次に、磁性層5及び磁性層保護層6の表面
研磨に用いたテ−プ研磨について説明する。まず、テ−
プ研磨装置を説明する。図2は、複合ディスク用テ−プ
研磨装置の概略構成を示す斜視図である。テ−プ研磨装
置30は、概略、テ−プ送り部及びディスク装着部から
構成される。ディスク装着部(図示しない)は、複合デ
ィスク10(正確には、光ディスク15上に磁性層5の
形成されたもの、又はさらに磁性層保護層6の形成され
たものを指すが、簡単のため、複合ディスクと言う)を
所定の位置にクランプして、回転中心軸38(複合ディ
スク10の回転中心軸と一致している)の回りに回転で
きるようになっている。
研磨に用いたテ−プ研磨について説明する。まず、テ−
プ研磨装置を説明する。図2は、複合ディスク用テ−プ
研磨装置の概略構成を示す斜視図である。テ−プ研磨装
置30は、概略、テ−プ送り部及びディスク装着部から
構成される。ディスク装着部(図示しない)は、複合デ
ィスク10(正確には、光ディスク15上に磁性層5の
形成されたもの、又はさらに磁性層保護層6の形成され
たものを指すが、簡単のため、複合ディスクと言う)を
所定の位置にクランプして、回転中心軸38(複合ディ
スク10の回転中心軸と一致している)の回りに回転で
きるようになっている。
【0024】テ−プ送り部の側板(図示しない)には、
供給ロ−ル32a、巻取ロ−ル32b、ロ−ラ33、ガ
イドロ−ラ36a、36b、キャプスタンロ−ラ34、
テンションロ−ラ35がそれぞれ所定位置に回転自在に
取り付けられている。テ−プ送り部は、上下移動可能で
あり、且つロ−ラ33がその回転軸39方向に複合ディ
スク10の所定の面上を走査できるように、回転中心軸
38の垂直方向(すなわち、複合ディスク10の半径方
向)にも移動可能となっている。ロ−ラ33の円筒表面
は複合ディスク10の上面と平行になっている。
供給ロ−ル32a、巻取ロ−ル32b、ロ−ラ33、ガ
イドロ−ラ36a、36b、キャプスタンロ−ラ34、
テンションロ−ラ35がそれぞれ所定位置に回転自在に
取り付けられている。テ−プ送り部は、上下移動可能で
あり、且つロ−ラ33がその回転軸39方向に複合ディ
スク10の所定の面上を走査できるように、回転中心軸
38の垂直方向(すなわち、複合ディスク10の半径方
向)にも移動可能となっている。ロ−ラ33の円筒表面
は複合ディスク10の上面と平行になっている。
【0025】研磨テ−プ31(以下、簡単のため、テ−
プとも言う)の一端は、供給ロ−ル32aに巻回されて
おり、他端は巻取ロ−ル32bに巻回されており、その
間、テ−プ31を所定の送り速度で送るためのキャプス
タンロ−ラ34、テ−プ31の走行によるズレを防止す
るためのガイドロ−ラ36a、テ−プ31を所定の圧力
で複合ディスク10の面上に圧接するためロ−ラ33、
テ−プ31の走行によるズレを防止するためのガイドロ
−ラ36b、テ−プ巻取りの張力を与えるテンションロ
−ラ35のそれぞれ所定の位置を通過している。図2中
で、複合ディスク10上の矢印は、複合ディスク10の
回転される方向を、テ−プ31に沿った矢印は、テ−プ
31の走行方向を、ロ−ラ33上の矢印は、テ−プ送り
部の移動方向(ロ−ラ33は連動して移動する)をそれ
ぞれ示す。
プとも言う)の一端は、供給ロ−ル32aに巻回されて
おり、他端は巻取ロ−ル32bに巻回されており、その
間、テ−プ31を所定の送り速度で送るためのキャプス
タンロ−ラ34、テ−プ31の走行によるズレを防止す
るためのガイドロ−ラ36a、テ−プ31を所定の圧力
で複合ディスク10の面上に圧接するためロ−ラ33、
テ−プ31の走行によるズレを防止するためのガイドロ
−ラ36b、テ−プ巻取りの張力を与えるテンションロ
−ラ35のそれぞれ所定の位置を通過している。図2中
で、複合ディスク10上の矢印は、複合ディスク10の
回転される方向を、テ−プ31に沿った矢印は、テ−プ
31の走行方向を、ロ−ラ33上の矢印は、テ−プ送り
部の移動方向(ロ−ラ33は連動して移動する)をそれ
ぞれ示す。
【0026】テ−プ31は、一般に市販されている研磨
テ−プで、研磨剤はWA#2000であるものを使用し
た。
テ−プで、研磨剤はWA#2000であるものを使用し
た。
【0027】次に、テ−プ研磨処理工程を説明する。ま
ず、テ−プ研磨装置30に、紫外線硬化した磁性塗料膜
の形成された複合ディスク10をセットし、テ−プ31
を、アルミナ粒子の接着している面が磁性塗料膜の表面
に接するように、連続的に図中矢印したテ−プ送り方向
に一定の送り速度で送りながら、ロ−ラ33によって、
まず、複合ディスク10の最外周側の表面に押し当てら
れ、次に、ロ−ラ33を複合ディスク10の半径方向に
一定速度で走査する。ロ−ラ33とともにテ−プ31が
複合ディスク10の最内周側に達すると、今度は逆に最
外周側へ走査する。再び最外周側に達して走査の1サイ
クルとする。また、磁性層保護層の形成された複合ディ
スクにおいて、磁性層保護層のテ−プ研磨も同様の工程
で行われる。
ず、テ−プ研磨装置30に、紫外線硬化した磁性塗料膜
の形成された複合ディスク10をセットし、テ−プ31
を、アルミナ粒子の接着している面が磁性塗料膜の表面
に接するように、連続的に図中矢印したテ−プ送り方向
に一定の送り速度で送りながら、ロ−ラ33によって、
まず、複合ディスク10の最外周側の表面に押し当てら
れ、次に、ロ−ラ33を複合ディスク10の半径方向に
一定速度で走査する。ロ−ラ33とともにテ−プ31が
複合ディスク10の最内周側に達すると、今度は逆に最
外周側へ走査する。再び最外周側に達して走査の1サイ
クルとする。また、磁性層保護層の形成された複合ディ
スクにおいて、磁性層保護層のテ−プ研磨も同様の工程
で行われる。
【0028】テ−プ研磨処理条件は、次の通りであっ
た。複合ディスク10の回転数は100rpmである。
ロ−ラ33は、材質をゴム(ステンレス材でも良い)と
する所定の円筒状とし、ロ−ラ33には20psiの圧
力を印加し、テ−プ31を複合ディスク10に押し付け
た。テ−プ送り速度は、10cm/minとした。光デ
ィスク12aの半径方向の、ロ−ラ23の走査速度は、
15cm/minであり、走査サイクルは、磁性層の研
磨のときは10回とし、磁性層保護層の研磨のときは3
回とした。
た。複合ディスク10の回転数は100rpmである。
ロ−ラ33は、材質をゴム(ステンレス材でも良い)と
する所定の円筒状とし、ロ−ラ33には20psiの圧
力を印加し、テ−プ31を複合ディスク10に押し付け
た。テ−プ送り速度は、10cm/minとした。光デ
ィスク12aの半径方向の、ロ−ラ23の走査速度は、
15cm/minであり、走査サイクルは、磁性層の研
磨のときは10回とし、磁性層保護層の研磨のときは3
回とした。
【0029】次に、磁性層保護層6を構成する紫外線硬
化樹脂のガラス転移点温度Tgの測定法を説明する。紫
外線硬化樹脂を、幅4mm、長さ30mm、厚さ50〜
100μmの短冊状に紫外線硬化させて、サンプルとし
た。このサンプルを、熱応力歪測定装置(型式:TMA
/SS10、セイコ−電子(株)製)にセットし、サン
プル周囲の温度を室温(25℃)から250℃まで、1
0℃/minの昇温速度で上昇させる。この間、サンプ
ルに15±5gの引張り応力を印加し、応力と歪の関係
よりヤング率を算出し、図4に示すようなヤング率の温
度依存性を求めた。そして、ヤング率の温度変化曲線の
変曲点より、ガラス転移点温度Tgを求めた。図4は、
一般的な樹脂におけるヤング率と温度の関係を示すグラ
フ図である。図4において、nはヤング率の温度変化曲
線であり、l及びmはヤング率の温度変化曲線の変曲点
近傍に引かれた接線を、Pは外挿して得られた変曲点
(lとmの交点である)をそれぞれ示す。変曲点Pを示
す温度が、ガラス転移点温度Tgを示す。
化樹脂のガラス転移点温度Tgの測定法を説明する。紫
外線硬化樹脂を、幅4mm、長さ30mm、厚さ50〜
100μmの短冊状に紫外線硬化させて、サンプルとし
た。このサンプルを、熱応力歪測定装置(型式:TMA
/SS10、セイコ−電子(株)製)にセットし、サン
プル周囲の温度を室温(25℃)から250℃まで、1
0℃/minの昇温速度で上昇させる。この間、サンプ
ルに15±5gの引張り応力を印加し、応力と歪の関係
よりヤング率を算出し、図4に示すようなヤング率の温
度依存性を求めた。そして、ヤング率の温度変化曲線の
変曲点より、ガラス転移点温度Tgを求めた。図4は、
一般的な樹脂におけるヤング率と温度の関係を示すグラ
フ図である。図4において、nはヤング率の温度変化曲
線であり、l及びmはヤング率の温度変化曲線の変曲点
近傍に引かれた接線を、Pは外挿して得られた変曲点
(lとmの交点である)をそれぞれ示す。変曲点Pを示
す温度が、ガラス転移点温度Tgを示す。
【0030】<実施例2>磁性層5上に、4官能アクリ
レ−トモノマ−であるUA101H(商品名、日本化薬
(株)製)に、ダロキュア1173を7wt%混合して
得た紫外線硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布し
た後、紫外線によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用
保護層6を形成した以外は、実施例1と同様にして実施
例2の複合ディスクを得た。磁性層保護層6形成後の中
心線表面粗さRaは、19nmであった。また、磁性層
保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス転移点温度
Tgは、200℃を越えていた。
レ−トモノマ−であるUA101H(商品名、日本化薬
(株)製)に、ダロキュア1173を7wt%混合して
得た紫外線硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布し
た後、紫外線によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用
保護層6を形成した以外は、実施例1と同様にして実施
例2の複合ディスクを得た。磁性層保護層6形成後の中
心線表面粗さRaは、19nmであった。また、磁性層
保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス転移点温度
Tgは、200℃を越えていた。
【0031】この複合ディスク10を、実施例1と同様
にして、複合ディスク用摺動試験器に装着し、磁気ヘッ
ドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は0.
20であり、摺動60分後の摩擦係数は0.21であっ
た。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安定走行
であった。
にして、複合ディスク用摺動試験器に装着し、磁気ヘッ
ドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は0.
20であり、摺動60分後の摩擦係数は0.21であっ
た。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安定走行
であった。
【0032】<実施例3>磁性層5上に、3官能アクリ
レ−トモノマ−であるTMPTAに、ダロキュア117
3を7wt%混合して得た紫外線硬化樹脂を、スピンコ
−ト法によって塗布した後、紫外線によって硬化して、
厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成した以外は、実施
例1と同様にして実施例3の複合ディスク10を得た。
磁性層保護層6形成後の中心線表面粗さRaは、10n
mであった。また、磁性層保護層6を構成する紫外線硬
化樹脂のガラス転移点温度Tgは、250℃を越えてい
た。
レ−トモノマ−であるTMPTAに、ダロキュア117
3を7wt%混合して得た紫外線硬化樹脂を、スピンコ
−ト法によって塗布した後、紫外線によって硬化して、
厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成した以外は、実施
例1と同様にして実施例3の複合ディスク10を得た。
磁性層保護層6形成後の中心線表面粗さRaは、10n
mであった。また、磁性層保護層6を構成する紫外線硬
化樹脂のガラス転移点温度Tgは、250℃を越えてい
た。
【0033】この複合ディスク10を、実施例1と同様
にして、複合ディスク用摺動試験器20に装着し、磁気
ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は
0.13であり、摺動60分後の摩擦係数は0.16で
あった。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安定
走行であった。
にして、複合ディスク用摺動試験器20に装着し、磁気
ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は
0.13であり、摺動60分後の摩擦係数は0.16で
あった。摺動60分後の磁気ヘッドの走行状態は、安定
走行であった。
【0034】<比較例1>実施例1において使用したと
同様の光ディスク15上に、実施例1と同様の磁性層5
を形成し、この磁性層5上に、2官能アクリレ−トモノ
マ−であるHX620(商品名、日本化薬(株)製)
に、ダロキュア1173を7wt%混合して得た紫外線
硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外
線によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を
形成し、この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−
プを用いて研磨したところ、磁性層保護層6が研磨中に
融解し、研磨テ−プに移着してしまい、複合ディスク1
0を得ることができなかった。従って、磁性層保護層6
形成後の中心線表面粗さRaを測定する事が出来なかっ
た。磁性層保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス
転移点温度Tgは、25℃未満と評価された。
同様の光ディスク15上に、実施例1と同様の磁性層5
を形成し、この磁性層5上に、2官能アクリレ−トモノ
マ−であるHX620(商品名、日本化薬(株)製)
に、ダロキュア1173を7wt%混合して得た紫外線
硬化樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外
線によって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を
形成し、この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−
プを用いて研磨したところ、磁性層保護層6が研磨中に
融解し、研磨テ−プに移着してしまい、複合ディスク1
0を得ることができなかった。従って、磁性層保護層6
形成後の中心線表面粗さRaを測定する事が出来なかっ
た。磁性層保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス
転移点温度Tgは、25℃未満と評価された。
【0035】<比較例2>実施例1において使用したと
同様の光ディスク15上に、実施例1と同様の磁性層5
を形成し、この磁性層5上に、2官能アクリレ−トモノ
マ−であるR551(商品名、日本化薬(株)製)に、
ダロキュア1173を7wt%混合して得た紫外線硬化
樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線に
よって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成
し、この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−プを
用いて研磨したところ、磁性層保護層6が研磨中に一部
融解し、研磨テ−プに移着してしまい、複合ディスク1
0を得ることができなかった。従って、磁性層保護層6
形成後の中心線表面粗さRaを測定する事が出来なかっ
た。磁性層保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス
転移点温度Tgは、50℃であった。
同様の光ディスク15上に、実施例1と同様の磁性層5
を形成し、この磁性層5上に、2官能アクリレ−トモノ
マ−であるR551(商品名、日本化薬(株)製)に、
ダロキュア1173を7wt%混合して得た紫外線硬化
樹脂を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線に
よって硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成
し、この磁性層保護層6の表面を、所定量研磨テ−プを
用いて研磨したところ、磁性層保護層6が研磨中に一部
融解し、研磨テ−プに移着してしまい、複合ディスク1
0を得ることができなかった。従って、磁性層保護層6
形成後の中心線表面粗さRaを測定する事が出来なかっ
た。磁性層保護層6を構成する紫外線硬化樹脂のガラス
転移点温度Tgは、50℃であった。
【0036】<比較例3>磁性層5上に、単官能アクリ
レ−トモノマ−であるR128(商品名、日本化薬
(株)製)と3官能アクリレ−トモノマ−であるTMP
TAとの重量比(wt%)で1:1の混合物に、ダロキ
ュア1173を7wt%混合して得た紫外線硬化樹脂
を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線によっ
て硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成した
以外は、実施例1と同様にして比較例3の複合ディスク
10を得た。磁性層保護層6形成後の中心線表面粗さR
aは、73nmであった。また、磁性層保護層6を構成
する紫外線硬化樹脂のガラス転移点温度Tgは、100
℃であった。
レ−トモノマ−であるR128(商品名、日本化薬
(株)製)と3官能アクリレ−トモノマ−であるTMP
TAとの重量比(wt%)で1:1の混合物に、ダロキ
ュア1173を7wt%混合して得た紫外線硬化樹脂
を、スピンコ−ト法によって塗布した後、紫外線によっ
て硬化して、厚さ2μmの磁性層用保護層6を形成した
以外は、実施例1と同様にして比較例3の複合ディスク
10を得た。磁性層保護層6形成後の中心線表面粗さR
aは、73nmであった。また、磁性層保護層6を構成
する紫外線硬化樹脂のガラス転移点温度Tgは、100
℃であった。
【0037】この複合ディスク10を、実施例1と同様
にして、複合ディスク用摺動試験器20に装着し、磁気
ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は
0.60であり、摺動10分後の摩擦係数は2.67で
あった。摺動10分後においては、磁気ヘッドはヘッド
クラッシュを起こしていた。
にして、複合ディスク用摺動試験器20に装着し、磁気
ヘッドによる摺動試験を行った。摺動初期の摩擦係数は
0.60であり、摺動10分後の摩擦係数は2.67で
あった。摺動10分後においては、磁気ヘッドはヘッド
クラッシュを起こしていた。
【0038】以上、実施例1〜3及び比較例1〜3につ
いて、摺動試験の結果を、以下の表1にまとめてある。
いて、摺動試験の結果を、以下の表1にまとめてある。
【0039】
【表1】
【0040】なお、表1において、Tgは各試料におけ
る磁性層保護層を構成する紫外線硬化樹脂のガラス転移
点温度を、Raはテ−プ研磨後の磁性層保護層表面の中
心線粗さをそれぞれ示している。なお、上述のように、
比較例1及び2においては、テ−プ研磨中に磁性層保護
層が融解し、研磨テープに移着したため、表面粗さ及び
摩擦係数の測定は実施不能であったので、空欄となって
いる。
る磁性層保護層を構成する紫外線硬化樹脂のガラス転移
点温度を、Raはテ−プ研磨後の磁性層保護層表面の中
心線粗さをそれぞれ示している。なお、上述のように、
比較例1及び2においては、テ−プ研磨中に磁性層保護
層が融解し、研磨テープに移着したため、表面粗さ及び
摩擦係数の測定は実施不能であったので、空欄となって
いる。
【0041】各実施例及び各比較例の結果は、磁性層保
護層を構成する紫外線硬化樹脂の機械的又は熱的性質
と、磁気ヘッド/磁性層保護層間の摺動耐久性とに顕著
な関連があることを表していることがわかる。ここで
は、紫外線硬化樹脂の機械的又は熱的性質を表すものと
して、ガラス転移点温度Tgに注目した。Tgが100
℃以下の紫外線硬化樹脂は、テ−プ研磨時に印加される
圧力、このとき発生する熱等に耐性がなく、表面加工が
不可能である。従って、低加工熱となるテ−プ研磨条件
を選択することによって、たとえ所望の表面形状が得ら
れたとしても、磁気ヘッドの接触走行時に発生する摺動
熱に対しては、保護層としての効果がないと推察でき
る。これは、比較例3にみられるように、初期の表面形
状が摺動により保持できないばかりか、融解した磁性層
保護層により、磁気ヘッド/媒体(磁性層保護層及び潤
滑層)間に、凝着が生ずることから明らかである。
護層を構成する紫外線硬化樹脂の機械的又は熱的性質
と、磁気ヘッド/磁性層保護層間の摺動耐久性とに顕著
な関連があることを表していることがわかる。ここで
は、紫外線硬化樹脂の機械的又は熱的性質を表すものと
して、ガラス転移点温度Tgに注目した。Tgが100
℃以下の紫外線硬化樹脂は、テ−プ研磨時に印加される
圧力、このとき発生する熱等に耐性がなく、表面加工が
不可能である。従って、低加工熱となるテ−プ研磨条件
を選択することによって、たとえ所望の表面形状が得ら
れたとしても、磁気ヘッドの接触走行時に発生する摺動
熱に対しては、保護層としての効果がないと推察でき
る。これは、比較例3にみられるように、初期の表面形
状が摺動により保持できないばかりか、融解した磁性層
保護層により、磁気ヘッド/媒体(磁性層保護層及び潤
滑層)間に、凝着が生ずることから明らかである。
【0042】一方、Tgが150℃以上であれば、研磨
加工による表面形状のコントロールが可能となり、摩擦
係数値は、初期はもちろん、摺動後も許容範囲にある。
好ましくは、Tgが200℃以上であれば、摩擦係数値
は非常に低く、60分摺動後も0.21以下であり、良
好な磁気ヘッドの接触走行が可能となることがわかる。
加工による表面形状のコントロールが可能となり、摩擦
係数値は、初期はもちろん、摺動後も許容範囲にある。
好ましくは、Tgが200℃以上であれば、摩擦係数値
は非常に低く、60分摺動後も0.21以下であり、良
好な磁気ヘッドの接触走行が可能となることがわかる。
【0043】なお、以上説明した実施例において、3種
の紫外線硬化性材料を示したが、Tgが確保できるなら
ば、どのような材料の組み合わせでもかまわない。Tg
を上昇させるためには、多官能アクリレートモノマー、
剛直な分子、低分子モノマーの導入、硬化剤濃度を上げ
るなどの方法がある。さらに、ここでは磁性層保護層自
体に潤滑性能を付与していないため、潤滑層が必要とな
るが、磁性層保護層自体に潤滑性能をもたせることも可
能である事は言うまでもない。
の紫外線硬化性材料を示したが、Tgが確保できるなら
ば、どのような材料の組み合わせでもかまわない。Tg
を上昇させるためには、多官能アクリレートモノマー、
剛直な分子、低分子モノマーの導入、硬化剤濃度を上げ
るなどの方法がある。さらに、ここでは磁性層保護層自
体に潤滑性能を付与していないため、潤滑層が必要とな
るが、磁性層保護層自体に潤滑性能をもたせることも可
能である事は言うまでもない。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように本発明の複合ディス
クによれば、円板状の透明基板上に、光情報の記録され
るべき光記録層と、光記録層用保護層と、所定形状の磁
性層と、磁性層用保護層と、潤滑層とが順次積層されて
いる複合ディスクにおいて、前記磁性層用保護層を、ガ
ラス転移点温度が150℃以上の値を有する紫外線硬化
性樹脂で形成したことにより、所定の接触荷重の印加さ
れた磁気ヘッドによって、接触走行しても、安定した走
行特性を有する磁性層用保護層を形成出来て、それによ
り、信頼性の高い磁気ヘッド走行特性を有する複合ディ
スクを提供することができる。
クによれば、円板状の透明基板上に、光情報の記録され
るべき光記録層と、光記録層用保護層と、所定形状の磁
性層と、磁性層用保護層と、潤滑層とが順次積層されて
いる複合ディスクにおいて、前記磁性層用保護層を、ガ
ラス転移点温度が150℃以上の値を有する紫外線硬化
性樹脂で形成したことにより、所定の接触荷重の印加さ
れた磁気ヘッドによって、接触走行しても、安定した走
行特性を有する磁性層用保護層を形成出来て、それによ
り、信頼性の高い磁気ヘッド走行特性を有する複合ディ
スクを提供することができる。
【図1】一般的な複合ディスクの構成を示す部分断面図
である。
である。
【図2】複合ディスク用のテ−プ研磨装置の概略構成を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図3】複合ディスク用摺動試験器の概略構成を示す正
面図である。
面図である。
【図4】一般的な樹脂におけるヤング率と温度の関係を
示すグラフ図である。
示すグラフ図である。
1 基板 2 信号ピット 3 光記録層 4 光記録層保護層 5 磁性層 6 磁性層保護層 7 潤滑層 10 複合ディスク 15 光ディスク
Claims (1)
- 【請求項1】円板状の透明基板上に、光情報の記録され
るべき光記録層と、光記録層用保護層と、所定形状の磁
性層と、磁性層用保護層と、潤滑層とが順次積層されて
いる複合ディスクにおいて、 前記磁性層用保護層を、ガラス転移点温度が150℃以
上の値を有する紫外線硬化樹脂で形成したことを特徴と
する複合ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1601194A JPH07210925A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | 複合ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1601194A JPH07210925A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | 複合ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07210925A true JPH07210925A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11904648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1601194A Pending JPH07210925A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | 複合ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07210925A (ja) |
-
1994
- 1994-01-14 JP JP1601194A patent/JPH07210925A/ja active Pending
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