JPH07212213A - 低電力出力バッファ - Google Patents
低電力出力バッファInfo
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- JPH07212213A JPH07212213A JP6311390A JP31139094A JPH07212213A JP H07212213 A JPH07212213 A JP H07212213A JP 6311390 A JP6311390 A JP 6311390A JP 31139094 A JP31139094 A JP 31139094A JP H07212213 A JPH07212213 A JP H07212213A
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Abstract
L出力高電圧レベルで駆動してしかも消費電力を低くす
ることのできる、出力バッファを提供する。 【構成】nチャンネル・プルアップトランジスタ(2
4)を2段階で駆動する2段階切り替え回路(50、7
2)を含む、低電力2段階データ出力バッファ(20、
70)。これにより、ポンプされた高電圧電源からの電
流を操作の第2段階にだけ用いる。2段階切り替え回路
(50、72)は、まずプルアップトランジスタ(2
4)を電源電圧VDDで駆動し、次にポンプされた高電
圧電源VPPで駆動する。出力ノード(28)と2段階
切り替え回路(50、72)の間に結合するフィードバ
ック回路は、出力ノード(28)に現れる電源電圧レベ
ルに応じて高電圧電源VPPからnチャンネル・プルア
ップトランジスタ(24)への経路を生成し、高電圧電
源VPPから電源電圧への経路を遮断する。
Description
3年 本発明の開示の一部は著作権で保護されている。本著作
権およびマスクワーク保持者は、米国特許商標庁の特許
資料すなわち特許開示や特許ファイルまたは記録を誰で
も複写することに異存はないが、その他の点では著作権
およびマスクワークの全ての権利を留保する。
関する。より詳しくは、本発明は低電力切り替えバッフ
ァに関する。
路では、出力ピンにデータを出すのにpチャンネル装置
すなわちMOSFETは使われない。出力バッファの引
き上げと引き下げにはnチャンネル装置が用いられてい
る。pチャンネルトランジスタを用いると、寄生pnp
バイポーラ接合を通して出力ピンから基板へ直流が注入
される可能性があるのでこれを防ぐためである。出力ド
ライバにnチャンネル装置を用いると、pチャンネルプ
ルアップのタブバイアシング(tub−biasin
g)の問題とブートストラップ回路の危険を除くのに好
都合である。
ルアップ装置としてnチャンネルトランジスタを用いる
と、電源電圧VDDより1しきい、値電圧レベルVTだ
け低い電圧レベルにその出力を引き上げることができ
る。電源電圧VDDが5ボルトの応用では、通常、出力
高電圧レベルVOHは十分なTTL出力レベルに困難な
く達することができる。しかし電源電圧VDDが5ボル
トより低い、例えば3.3ボルトの応用では1しきい値
電圧降下が大きくなり、得られる出力高電圧は条件に合
うTTL I/Oレベルよりかなり低くなることがあ
る。
ダムアクセスメモリ(DRAM)の応用では、電源電圧
VDDが3.3ボルトのものがある。図1のDRAMの
応用では、各出力バッファ12のnチャンネルMOSF
ET10のゲートは、出力を条件に合う高いTTLしき
い値レベルにするために、高い電圧にポンプされた電源
VPPに結合する高電圧切り替え回路14により切り替
えられる。電源電圧VDDとは対照的に、高電圧電源V
PPはチップ上に発生する電荷の限られた貯蔵所であ
る。各DRAMは多数の出力バッファを備えており、出
力ピンを駆動するために切り替えるとき高電圧ポンプか
ら各出力バッファにかなりの電流が流れるので、高電圧
ポンプを流れる全電流は非常に大きくなる。
zで動作する64Mb DRAMでは、500μmのゲ
ートを備えるnチャンネル・プルアップトランジスタを
切り替える各バッファには0.54mAの電流が流れる
と推定される。8出力バッファを備えるDRAMでは、
全VPP電流は4.32mAである。16出力バッファ
を備えるDRAMでは、全電流は8.64mAである。
32出力バッファを備えるDRAMでは、全VPP電流
は17.28mAになる。出力バッファの数が2倍にな
り4倍になるに従って、必要なVPPポンプは操作でき
なくなるほど大きくなる。従って、増加するVPP電流
の要求に対して、ポンプの容量と寸法を増やすのは適切
な解決方法ではない。
に合うTTL出力高電圧レベルで駆動して、しかも消費
電力を実質的に低くできる出力バッファに対する必要が
生じた。
構成が持つ欠点や問題を実質的になくしまたは減らす、
低電力出力バッファを提供する。
バッファは、nチャンネル・プルアップトランジスタを
2段階で駆動する2段階切り替え回路を備え、ポンプさ
れた高電圧電源から電流を流すのは操作の第2段階だけ
である。2段階切り替え回路は、プルアップトランジス
タをまず電源電圧VDDで駆動し、次にポンプされた高
電圧電源VPPで駆動する。
力ノードと2段階切り替え回路の間に結合されるフィー
ドバック回路が、出力ノードに現れる電源電圧レベルに
応じて高電圧電源VPPからnチャンネル・プルアップ
トランジスタへの経路を生成し、高電圧電源VPPから
電源電圧への経路を遮断する。
ク回路は出力ノードに結合するしきい値検出器と、しき
い値検出器と2段階切り替え回路の間に結合する切り替
えラッチ回路を更に含む。切り替えラッチ回路は、出力
ノードの論理レベルが低のときはこれに応じて電源電圧
VDDとnチャンネル・プルアップ装置の間の経路を生
成し、出力ノードが高電圧レベルに近い電圧レベルのと
きはこれに応じて高電圧電源とnチャンネル・プルアッ
プ装置の間の経路を維持する。
ァのポンプされた高電圧電源から流れる電流が大幅に減
少することである。ポンプされた高電圧電源は電源電圧
からチップ上に作られるので制限される。多数の出力バ
ッファを備えるDRAMでは、このように電力要求を減
らすことは絶対に必要である。
合うTTL高出力電圧を集積回路の出力ピンに与えるこ
とができることである。
階切り替え出力バッファの例示の実施態様を示す。これ
は一般に20で示されており、本発明の教示に従って構
成されている。出力バッファ20は、相補型MOS(C
MOS)技術で作られたDRAM集積回路に用いてよ
い。出力バッファ20はデータノード22で入力論理レ
ベルを受け、プルアップnチャンネルトランジスタ24
とプルダウンnチャンネルトランジスタ26を駆動し
て、対応する論理レベルを、集積回路のパッドと出力ピ
ン(図示せず)に接続する出力ノード28に発生する。
図2に示すように、プルアップトランジスタ24とプル
ダウントランジスタ26は、電源電圧VDDと接地の間
に直列に結合する。
30が結合し、切り替え回路30は内部のポンプされた
高電圧電源VPPに接続する。チップ上での高電圧電源
の発生は知られた技術なので、ここでは説明しない。高
電圧切り替え回路30は、VPPと接地の間に直列に結
合する1対のpチャンネル装置32とnチャンネル装置
34を備え、また前記対に並列に結合する別の直列に結
合する1対のpチャンネル装置36とnチャンネル装置
38を備える。図示のように、pチャンネル装置32と
36のゲートは、直列に結合するpチャンネル装置とn
チャンネル装置32、34と36、38の間にそれぞれ
設けられるノード40と42に交差接続する。
2段階切り替え回路50に更に結合する。2段階切り替
え回路50は、電源電圧VDDと接地の間に結合する2
個の直列接続のnチャンネルトランジスタ52と54を
備える。pチャンネル装置56が、トランジスタ52の
ゲートとランジスタ52と54の間のノード58に結合
する。また高電圧切り替え回路30のノード42は、n
チャンネルトランジスタ52のゲートにも結合する。イ
ンバータ62またはこれに相当するものは、データノー
ド22とnチャンネル・プルダウントランジスタ26の
ゲートの間に結合する。またnチャンネルトランジスタ
38と54のゲートもインバータ62の出力(番号60
で示す)に結合する。
ランジスタ56のゲートは、しきい値検出器すなわちイ
ンパータ64の出力により制御され、インバータ64の
入力は出力バッファ20の出力ノード28に結台する。
nチャンネル装置52と54の間のノード58は、nチ
ャンネル・プルアップトランジスタ24のゲートに結合
する。
出力バッファ20は、2段階で出力ノード28を引き上
げる。データノード22が論理高のときは、nチャンネ
ルMOSFET34が導通して論理低を接地からノード
40に渡す。ノード40の論理低はpチャンネル装置3
6を導通にし、高電圧レベルVPPに近い電圧レベルを
ノード42に渡す。従ってnチャンネルトランジスタ5
2はノード42の論理高電圧によって導通し、VPPよ
り1しきい値電圧だけ低い程度の電圧レベルをノード5
8に渡す。nチャンネル・プルアップトランジスタ24
は導通し、出力ノード28をVDD−VTに近い電圧レ
ベルに引き上げる。従って操作の第1段階では、出力ノ
ード28はVDD−VTに近い電圧に引き上げられる。
は、しきい値検出器すなわちインパータ64を通してフ
ィードバックされ、pチャンネル装置56を導通にして
VPP電圧レベルをノード42からノード58に渡す。
従って出力ノード28の電圧レベルはVDD−VTか
ら、条件に合うTTL出力高電圧レベルVOHより高い
VPP−VTに近い電圧に引き上げられる。
ルが2段階で達成される。第1段階では、事実上制限の
ない電源電圧VDDだけを用いて、バッファの出力を中
間電圧レベルに切り替える。操作の第2段階では、ポン
プされた電源電圧VPPを用いて、バッファの出力を中
間レベルから十分高い出力電圧レベルに切り替える。こ
のように操作することにより、出力バッファを切り替え
るためのVPP電流の必要量が大幅に減少する。
きはインバータ62は信号を反転し、その結果、論理高
信号がnチャンネル装置54とnチャンネル・プルダウ
ントランジスタ26を共に導通にする。従って出力ノー
ド28の論理レベルも低になる。出力低の状態では、V
PP電流の大きさは問題にならない。
トランジスタ56が導通してノード58にVPPが現れ
るとき、nチャンネル装置52も導通する。これによ
り、VPPにポンプされた電源とVDD電源の間にトラ
ンジスタ36、56、52を通して経路が形成される。
これは有害ではないが、絶縁技術により出力バッファの
構成を改善してよく、その1例を図3に示す。
備える低電力2段階出力バッファの別の実施態様70を
示す。図3は、図2と同じ番号を用いて同じ回路ノード
と構成を示す。高電圧切り替え回路30のノード42
は、VPPとVDDの間に絶縁72を備える2段階バッ
ファのnチャンネル装置74のゲートに結合する。nチ
ャンネル装置74のドレンはVDDに結合し、そのソー
スはpチャンネルトランジスタ76と別のnチャンネル
トランジスタ78に結合し、これらは接地に直列に結合
する。トランジスタ78のゲートは高電圧切り替え回路
30のノード60に結合する。別のpチャンネル装置8
0がトランジスタ74のゲートとトランジスタ78のド
レンのノード82の間に結合する。更にノード82は、
nチャンネル・プルアップトランジスタ24のゲートに
結合する。トランジスタ76と80は、VPPからV
DDへの経路を遮断するフィードパツク回路の一部を形
成する。
れる切り替えラッチ回路が、トランジスタ76と80の
ゲートに結合する。高電圧切り替え回路90は、VPP
と接地の間に並列に結合される直列結合pチャンネル装
置とnチャンネル装置92、94と96、98を備え
る。pチャンネル装置80のゲートは、pチャンネル装
置92とnチャンネル装置94の間のノード100に結
合し、pチャンネル装置76のゲートは、pチャンネル
装置96とnチャンネル装置98の間のノード102に
結合する。インバータ104はトランジスタ98のゲー
ト(ノード106で示す)とトランジスタ94のゲート
の間に結合する。出力ノード28とノード106の間に
結合するしきい値検出器すなわちインバータ108は、
フィードバック回路の一部として機能する。
論理が1のときはノード42は高になる。出力ノード2
8の論理レベルが前の読取り操作から高であったとする
と、論理高レベルはインバータ108と104を通って
nチャンネルトランジスタ94を導通にする。ノード1
00は低になり、pチャンネルトランジスタ80は導通
して、ノード42の高電圧レベルをノード82に渡し、
これをプルアップトランジスタ24のゲートに与えて、
出力ノード28を高電圧レベル付近に保持する。ノード
102が高なので、pチャンネルトランジスタ76は
「非導通」のままであり、従ってVPPからVDDへ
の、より詳しく言うとノード42から装置80、76、
74を通ってVDDへの、直接経路を遮断する。
読取り操作の論理レベルが低のときは、トランジスタ7
6が導通する。プルアップトランジスタ24が導通なの
で、出力ノード28の電圧レベルはVDDに近くなる。
フィードバック回路では、出力ノード28の論理高によ
りトランジスタ94を導通にし、トランジスタ96を導
通にし、トランジスタ76を非導通にする。同時にトラ
ンジスタ80が導通してVPP電圧レベルが出力ノード
28に伝播するが、VDD電源への直接経路はない。
力論理レベルにかかわらず、出力ノード28はプルダウ
ントランジスタ26により引き下げられる。
力バッファ20と70の出力の電圧レベルは、nチャン
ネル・プルアップトランジスタにより、条件に合う高電
圧出力レベルに到達することができる。更に、2段階切
り替え方式を用いることにより、出力の切り替えに必要
な電流の量が大幅に減少する。更に、出力バッファ70
はVPPとVDDの間を絶縁し、すなわち回路を遮断し
て、その間が直接接続しないようにする。本発明はDR
AM環境に限られるものではなく、出力ピンの低電力駆
動が望ましい状況なら適用できる。
求の範囲に定義される本発明の精神と範囲から逸れるこ
となく、各種の変更、代替、変形が可能である。
る。 (1) 高電圧電源と電源電圧に結合して、データノー
ドの論理レベルに応じて出力ノードに結合するnチャン
ネルプルアップ装置を駆動するデータ出力バッファであ
って、前記高電圧電源と前記電源電圧に結合し、データ
ノードに諭理1が現れるとこれに応じて前記電源電圧の
電圧を前記nチャンネルプルアップ装置に供給する2段
階切り替え回路と、前記出力ノードと前記2段階切り替
え回路の間に結合し、前記出力ノードに現れる前記供給
電圧レベルに応じて前記高電圧電源から前記nチャンネ
ルプルアツプ装置に経路を成する、フィードバック回路
と、を備えるデータ出力バッファ。
電源電圧に近い電圧レベルが前記出力ノードに現れる
と、これに応じて高電圧電源から電源電圧への経路を遮
断する回路を更に備える、第1項記載のデータ出力バッ
ファ。 (3) 前記フィードバック回路は、前記出力ノードに
結合するしきい値検出器と、前記しきい値検出器と前記
2段階切り替え回路の間に結合し、前記出力ノードの論
理レベルが低のときはこれに応じて前記電源電圧と前記
nチャンネルプルアップ装置の間の経路を生成し、前記
出力ノードの電圧レベルが高電圧に近いときはこれに応
じて前記第1ノードと前記nチャンネルプルアップ装置
に間の経路を維持する、切り替えラッチ回路と、を備え
る、第1項記載のデータ出力バッファ。
するnチャンネルプルダウン装置と、前記データノード
と前記nチャンネルプルダウン装置のゲートの間に結合
するインバータと、を更に備える、第1項記載の低電力
出力バッファ。 (5) 前記2段階切り替え回路は、そのゲートは前記
第1ノードに結合し、そのドレンは前記電源電圧に結合
し、そのソースは前記nチャンネルプルアップ装置のゲ
ートに結合する、第1のnチャンネル装置と、そのゲー
トは前記データノードに結合して前記データノードの論
理レベルの逆論理を受け、そのドレンは前記第1のnチ
ャンネル装置のソースに結合し、そのソースは接地に結
合する、第2のnチャンネル装置と、を備える、第1項
記載の低電力出力バッファ。
第1のnチャンネル装置と前記nチャンネルプルアップ
装置の間に結合して前記出力ノードに現れる論理ゼロに
応答する第1スイッチと、前記第1ノードと前記nチャ
ンネルプルアップ装置のゲートの間に結合して前記第1
ノードに現れる論理1に応答する第2スイッチと、前記
出力ノードと前記第1および第2スイッチの間に結合す
るしきい値検出器と、を備える、第5項記載の低電力出
力バッファ。 (7) 前記フィードバック回路は、前記第1ノードと
前記nチャンネルプルアップ装置のゲートの間に結合す
るスイッチと、前記出力ノードに結合して前記スイッチ
に制御信号を供給するしきい値検出器と、を備える、第
1項記載の低電力出力バッファ。
て、データノードの論理レベルに応じて出力ノードに結
合するnチャンネルプルアップ装置を駆動し、前記高電
圧電源は前記電源電圧より大きい高電圧を発生する、低
電力出力バッファであって、前記データノードの論理レ
ベルを受けて第1ノードに前記高電圧を供給する高電圧
切り替え回路と、前記第1ノードに結合して前記nチャ
ンネルプルアップ装置を駆動し、前記出力ノードに前記
電源電圧に近い電圧レベルを発生する2段階切り替え回
路と、前記出力ノードと前記2段階切り替え回路の間に
結合して前記第1ノードから前記nチャンネルプルアッ
プ装置への経路を生成し、前記nチャンネルプルアップ
装置を駆動し、前記電源電圧に近い電圧レベルが前記出
力ノードに現れるとこれに応じて前記出力ノードの電圧
レベルを前記高電圧の近くまで引き上げる、フィードバ
ック回路と、を備える低電力出力バッファ。
電源電圧に近い電圧レベルが出力ノードに現れると、こ
れに応じて前記高電圧電源から前記電源電圧への経路を
遮断する回路を更に備える、第8項記載の低電力出力バ
ッファ。 (10) 前記2段階切り替え回路は、そのゲートは前
記第1ノードに結合し、そのドレンは前記電源電圧に結
合し、そのソースは前記nチャンネルプルアップ装置の
ゲートに結合する、第1のnチャンネル装置と、そのゲ
ートは前記データノードに結合して前記データノードの
論理レベルの逆論理を受け、そのドレンは前記第1のn
チャンネル装置のソースに結合し、そのソースは接地に
結合する、第2のnチャンネル装置と、を備える、第8
項記載の低電力出力バッファ。
記第1ノードと前記nチャンネルプルアップ装置のゲー
トの間に結合するpチャンネル装置と、前記出力ノード
と前記pチャンネル装置のゲートの間に結合するしきい
値検出器と、を備える、第8項記載の低電力出力バッフ
ァ。 (12) 前記フィードバック回路は、前記出力ノード
に結合するしきい値検出器と、前記しきい値検出器と前
記2段階切り替え回路の間に結合し、前記出力ノードの
論理レベルが低のときはこれに応じて前記電源電圧と前
記nチャンネルプルアップ装置の間の経路を生成し、前
記出力ノードの電圧レベルが高電圧に近いときはこれに
応じて前記第1ノードと前記nチャンネルプルアップ装
置に間の経路を維持する、切り替えラッチ回路と、を備
える、第8項記載のデータ出力バッファ。
合するnチャンネルプルダウン装置と、前記データノー
ドと前記nチャンネルプルダウン装置のゲートの間に結
合するインバータと、を更に備える、第8項記載の低電
力出力バッファ。
ネル・プルアップ出力トランジスタを駆動する低電力法
であって、電源電圧から前記nチャンネル・プルアップ
トランジスタへの第1経路を生成し、前記データ出力バ
ッファの出力を第1電圧に切り替え、高電圧にポンプさ
れた電源から前記nチャンネル・プルアップトランジス
タへの第2経路を生成し、前記データ出力バッファの出
力を前記第1電圧より高い第2電圧に切り替える、段階
を含む低電力法。
で前記第1電圧レベルを検出し、前記第1電圧レベルの
検出に応じて前記第2経路を生成する段階を含む、第1
4項記載の方法。 (16) 前記データ出力バッファの出力で前記第1電
圧レベルを検出し、前記第1電圧レベルの検出に応じて
前記第1経路を遮断する、段階を含む、第14項記載の
方法。
ンジスタ(24)を2段階で駆動する2段階切り替え回
路(50、72)を含む、低電力2段階データ出力バッ
ファ(20、70)。これにより、ポンプされた高電圧
電源からの電流を操作の第2段階にだけ用いる。2段階
切り替え回路(50、72)は、まずプルアップトラン
ジスタ(24)を電源電圧VDDで駆動し、次にポンプ
された高電圧電源VPPで駆動する。出力ノード(2
8)と2段階切り替え回路(50、72)の間に結合す
るフィードバック回路は、出力ノード(28)に現れる
電源電圧レベルに応じて高電圧電源VPPからnチャン
ネル・プルアップトランジスタ(24)への経路を生成
し、高電圧電源VPPから電源電圧への経路を遮断す
る。
図。
出力バッファの簡単な回路の略図。
Claims (2)
- 【請求項1】高電圧電源と電源電圧に結合して、データ
ノードの論理レベルに応じて出力ノードに結合するnチ
ャンネルプルアップ装置を駆動するデータ出力バッファ
であって、 前記高電圧電源と前記電源電圧に結合し、データノード
に論理1が現れるとこれに応じて供給電圧を前記nチャ
ンネルプルアップ装置に供給する2段階切り替え回路
と、 前記出力ノードと前記2段階切り替え回路の間に結合
し、前記出力ノードに現れる前記供給電圧レベルに応じ
て前記高電圧電源から前記nチャンネルプルアップ装置
に経路を生成する、フィードバック回路と、を備えるデ
ータ出力バッファ。 - 【請求項2】データ出力バッファのnチャンネル・プル
アップ出力トランジスタを駆動する低電力法であって、 電源電圧から前記nチャンネル・プルアップトランジス
タへの第1経路を生成し、また前記データ出力バッファ
の出力を第1電圧に切り替え、 高電圧にポンプされた電源から前記nチャンネル・プル
アップトランジスタヘの第2経路を生成し、また前記デ
ータ出力バッファの出力を前記第1電圧より高い第2電
圧に切り替える、段階を含む低電力法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/149,576 US5399920A (en) | 1993-11-09 | 1993-11-09 | CMOS driver which uses a higher voltage to compensate for threshold loss of the pull-up NFET |
| US149576 | 1993-11-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07212213A true JPH07212213A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=22530918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6311390A Pending JPH07212213A (ja) | 1993-11-09 | 1994-11-09 | 低電力出力バッファ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5399920A (ja) |
| JP (1) | JPH07212213A (ja) |
| KR (1) | KR100344372B1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012074996A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | プリドライバ回路、および、駆動回路 |
| CN103701440A (zh) * | 2013-11-05 | 2014-04-02 | 苏州贝克微电子有限公司 | 一种维持零电流的开关 |
| JPWO2016002041A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2017-04-27 | 三菱電機株式会社 | 絶縁ゲート型パワー半導体素子のゲート駆動回路 |
Families Citing this family (55)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR960011206B1 (ko) * | 1993-11-09 | 1996-08-21 | 삼성전자 주식회사 | 반도체메모리장치의 워드라인구동회로 |
| JPH07326191A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
| JP3117603B2 (ja) * | 1994-06-06 | 2000-12-18 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路 |
| US5519340A (en) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Motorola Inc. | Line driver having maximum output voltage capacity |
| US5606270A (en) * | 1994-12-16 | 1997-02-25 | Sun Microsystems, Inc. | Dynamic clocked inverter latch with reduced charge leakage |
| JP3431774B2 (ja) | 1995-10-31 | 2003-07-28 | ヒュンダイ エレクトロニクス アメリカ | 混合電圧システムのための出力ドライバ |
| JPH09147598A (ja) * | 1995-11-28 | 1997-06-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置およびアドレス変化検出回路 |
| US6118302A (en) * | 1996-05-28 | 2000-09-12 | Altera Corporation | Interface for low-voltage semiconductor devices |
| US5952847A (en) * | 1996-06-25 | 1999-09-14 | Actel Corporation | Multiple logic family compatible output driver |
| US5894241A (en) * | 1996-09-30 | 1999-04-13 | Cypress Semiconductor Corp. | Bootstrap augmentation circuit and method |
| US5828262A (en) * | 1996-09-30 | 1998-10-27 | Cypress Semiconductor Corp. | Ultra low power pumped n-channel output buffer with self-bootstrap |
| US5819099A (en) * | 1996-10-18 | 1998-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Voltage converting I/O driver circuit |
| US5914617A (en) * | 1996-12-23 | 1999-06-22 | Lsi Logic Corporation | Output driver for sub-micron CMOS |
| JP3730003B2 (ja) * | 1997-02-18 | 2005-12-21 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
| JP4074690B2 (ja) * | 1997-09-17 | 2008-04-09 | 株式会社ルネサステクノロジ | 電圧レベル変換回路 |
| US6225819B1 (en) | 1998-03-17 | 2001-05-01 | Cypress Semiconductor Corp. | Transmission line impedance matching output buffer |
| US6366061B1 (en) | 1999-01-13 | 2002-04-02 | Carnegie Mellon University | Multiple power supply circuit architecture |
| US6201429B1 (en) * | 1999-05-20 | 2001-03-13 | Analog Microelectronics, Inc. | Clamped cascode level shifter circuit |
| US6911855B2 (en) * | 1999-06-28 | 2005-06-28 | Broadcom Corporation | Current-controlled CMOS circuit using higher voltage supply in low voltage CMOS process |
| US6897697B2 (en) * | 1999-06-28 | 2005-05-24 | Broadcom Corporation | Current-controlled CMOS circuit using higher voltage supply in low voltage CMOS process |
| JP2001036388A (ja) * | 1999-07-16 | 2001-02-09 | Sharp Corp | レベルシフト回路および半導体装置 |
| US6294959B1 (en) | 1999-11-12 | 2001-09-25 | Macmillan Bruce E. | Circuit that operates in a manner substantially complementary to an amplifying device included therein and apparatus incorporating same |
| US6384621B1 (en) | 2001-02-22 | 2002-05-07 | Cypress Semiconductor Corp. | Programmable transmission line impedance matching circuit |
| US6774667B1 (en) | 2002-05-09 | 2004-08-10 | Actel Corporation | Method and apparatus for a flexible chargepump scheme for field-programmable gate arrays |
| US6891394B1 (en) | 2002-06-04 | 2005-05-10 | Actel Corporation | Field-programmable gate array low voltage differential signaling driver utilizing two complimentary output buffers |
| US7378867B1 (en) | 2002-06-04 | 2008-05-27 | Actel Corporation | Field-programmable gate array low voltage differential signaling driver utilizing two complimentary output buffers |
| US6611165B1 (en) | 2002-06-25 | 2003-08-26 | Micron Technology, Inc. | Antifuse circuit with improved gate oxide reliabilty |
| US6765427B1 (en) | 2002-08-08 | 2004-07-20 | Actel Corporation | Method and apparatus for bootstrapping a programmable antifuse circuit |
| US7434080B1 (en) | 2002-09-03 | 2008-10-07 | Actel Corporation | Apparatus for interfacing and testing a phase locked loop in a field programmable gate array |
| US6750674B1 (en) | 2002-10-02 | 2004-06-15 | Actel Corporation | Carry chain for use between logic modules in a field programmable gate array |
| US7269814B1 (en) | 2002-10-08 | 2007-09-11 | Actel Corporation | Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA |
| US6885218B1 (en) | 2002-10-08 | 2005-04-26 | Actel Corporation | Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA |
| US6727726B1 (en) | 2002-11-12 | 2004-04-27 | Actel Corporation | Field programmable gate array architecture including a buffer module and a method of distributing buffer modules in a field programmable gate array |
| US6946871B1 (en) | 2002-12-18 | 2005-09-20 | Actel Corporation | Multi-level routing architecture in a field programmable gate array having transmitters and receivers |
| US6891396B1 (en) | 2002-12-27 | 2005-05-10 | Actel Corporation | Repeatable block producing a non-uniform routing architecture in a field programmable gate array having segmented tracks |
| US7385420B1 (en) | 2002-12-27 | 2008-06-10 | Actel Corporation | Repeatable block producing a non-uniform routing architecture in a field programmable gate array having segmented tracks |
| US6838902B1 (en) | 2003-05-28 | 2005-01-04 | Actel Corporation | Synchronous first-in/first-out block memory for a field programmable gate array |
| US7375553B1 (en) | 2003-05-28 | 2008-05-20 | Actel Corporation | Clock tree network in a field programmable gate array |
| US6825690B1 (en) | 2003-05-28 | 2004-11-30 | Actel Corporation | Clock tree network in a field programmable gate array |
| US6867615B1 (en) * | 2003-05-30 | 2005-03-15 | Actel Corporation | Dedicated input/output first in/first out module for a field programmable gate array |
| US7385419B1 (en) | 2003-05-30 | 2008-06-10 | Actel Corporation | Dedicated input/output first in/first out module for a field programmable gate array |
| TW589795B (en) * | 2003-07-14 | 2004-06-01 | Realtek Semiconductor Corp | High-to-low level shift circuit |
| KR100541556B1 (ko) * | 2004-03-29 | 2006-01-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 집적 회로 장치 및 이 장치의 온 다이 터미네이션회로 |
| US7888962B1 (en) | 2004-07-07 | 2011-02-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Impedance matching circuit |
| US7187207B2 (en) * | 2005-06-27 | 2007-03-06 | Texas Instruments Incorporated | Leakage balancing transistor for jitter reduction in CML to CMOS converters |
| US8036846B1 (en) | 2005-10-20 | 2011-10-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Variable impedance sense architecture and method |
| US7489178B2 (en) * | 2006-12-28 | 2009-02-10 | Arm Limited | Level shifter for use between voltage domains |
| US7659768B2 (en) * | 2007-12-28 | 2010-02-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Reduced leakage voltage level shifting circuit |
| KR101548242B1 (ko) * | 2008-07-21 | 2015-09-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 출력구동장치, 이의 동작 방법, 및 이를 포함하는 전자 처리 장치 |
| US12276454B2 (en) * | 2020-04-21 | 2025-04-15 | Revive Electronics, LLC | Methods and apparatuses for drying electronic devices |
| KR101322738B1 (ko) * | 2012-11-08 | 2013-11-04 | 숭실대학교산학협력단 | 스위치 제어를 위한 레벨 컨버터 |
| CA3009047A1 (en) | 2014-12-23 | 2016-06-30 | Revive Electronics, LLC | Apparatuses and methods for controlling power to electronic devices |
| US10566976B2 (en) * | 2016-09-19 | 2020-02-18 | International Business Machines Corporation | Complementary logic circuit and application to thin-film hybrid electronics |
| US12510296B2 (en) * | 2020-04-21 | 2025-12-30 | Revive Electronics, LLC | Methods and apparatuses for drying electronic devices |
| US12584689B2 (en) * | 2020-04-21 | 2026-03-24 | Revive Electronics, LLC | Methods and apparatuses for drying electronic devices |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4695744A (en) * | 1985-12-16 | 1987-09-22 | Rca Corporation | Level shift circuit including source follower output |
| US4906056A (en) * | 1987-04-14 | 1990-03-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | High speed booster circuit |
| JPH01109824A (ja) * | 1987-10-22 | 1989-04-26 | Nec Corp | レベル変換回路 |
| JPH0626309B2 (ja) * | 1988-07-22 | 1994-04-06 | 株式会社東芝 | 出力回路 |
| US5179299A (en) * | 1990-11-05 | 1993-01-12 | Ncr Corporation | Cmos low output voltage bus driver |
| US5255222A (en) * | 1991-01-23 | 1993-10-19 | Ramtron International Corporation | Output control circuit having continuously variable drive current |
| US5128560A (en) * | 1991-03-22 | 1992-07-07 | Micron Technology, Inc. | Boosted supply output driver circuit for driving an all N-channel output stage |
-
1993
- 1993-11-09 US US08/149,576 patent/US5399920A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-11-09 KR KR1019940029524A patent/KR100344372B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1994-11-09 JP JP6311390A patent/JPH07212213A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012074996A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | プリドライバ回路、および、駆動回路 |
| CN103701440A (zh) * | 2013-11-05 | 2014-04-02 | 苏州贝克微电子有限公司 | 一种维持零电流的开关 |
| JPWO2016002041A1 (ja) * | 2014-07-03 | 2017-04-27 | 三菱電機株式会社 | 絶縁ゲート型パワー半導体素子のゲート駆動回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5399920A (en) | 1995-03-21 |
| KR100344372B1 (ko) | 2002-11-30 |
| KR950016001A (ko) | 1995-06-17 |
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