JPH0721807B2 - 配線パターンエラー検出装置 - Google Patents
配線パターンエラー検出装置Info
- Publication number
- JPH0721807B2 JPH0721807B2 JP60258480A JP25848085A JPH0721807B2 JP H0721807 B2 JPH0721807 B2 JP H0721807B2 JP 60258480 A JP60258480 A JP 60258480A JP 25848085 A JP25848085 A JP 25848085A JP H0721807 B2 JPH0721807 B2 JP H0721807B2
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- JP
- Japan
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- pattern
- error
- line segment
- gap
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- Character Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 配線パターンエラー検出装置であって、同一信号の配線
パターン間の導体接続関係を判断することにより所定の
間隙を満たしていないパターンについて間隙エラーとし
て検出しようとするものである。
パターン間の導体接続関係を判断することにより所定の
間隙を満たしていないパターンについて間隙エラーとし
て検出しようとするものである。
本発明は、配線パターンエラー検出方式に関する。
一般に、配線基板上には搭載部品のピン接続用の導体で
あるランドと、このランド間を電気的に接続する線分と
が、それぞれパターン状態で、形成されている。
あるランドと、このランド間を電気的に接続する線分と
が、それぞれパターン状態で、形成されている。
本発明は、かかる配線パターン間の関係を算出し、所定
の条件を満たしていない場合には間隙エラーとして検出
するエラー検出方式に関する。
の条件を満たしていない場合には間隙エラーとして検出
するエラー検出方式に関する。
従来、同一信号に使用する配線パターンの間における間
隙エラーは、 作業員が目視で発見するようになっていた。
隙エラーは、 作業員が目視で発見するようになっていた。
すなわち、配線パターン設計段階において作成されたパ
ターンデータは製造過程でパターン作画用データとして
利用されるが、この製造過程では、上記パターン作画用
データからパターン原版(写真フィルム)が作成され、
その過程で混入するエラー(例えばフィルムの傷による
パターンショート等)の検出が行われる。
ターンデータは製造過程でパターン作画用データとして
利用されるが、この製造過程では、上記パターン作画用
データからパターン原版(写真フィルム)が作成され、
その過程で混入するエラー(例えばフィルムの傷による
パターンショート等)の検出が行われる。
この場合、作業員は、フィルム1枚(単一層、つまり同
じ層)毎に目視チェックを行い、配線パターン間に一定
の間隔が存在すればそれを間隔エラーとして処理してい
た。
じ層)毎に目視チェックを行い、配線パターン間に一定
の間隔が存在すればそれを間隔エラーとして処理してい
た。
しかし、従来は目視チェックのため次のような問題点が
あった。
あった。
即ち、第7図において、L1とL2をランドパターン、P1を
第1層目の、P2を第2層目の線分パターンとする。この
場合、同一信号であるため、本来は、間隙エラーは実質
的には存在しない。
第1層目の、P2を第2層目の線分パターンとする。この
場合、同一信号であるため、本来は、間隙エラーは実質
的には存在しない。
しかし、第1層目の目視チェックのときに、第7図の場
合でも間隙エラーEとして検出されてしまう。そのため
当該基板には、本来間隙エラーが発生していないにも拘
らず、間隙エラーが発生しているものとして処理されて
しまうという問題点があった。なお、第7図に示すよう
に線分パターンP1とランドパターンL2の接続が他層のL1
〜L2間接続パターンを介して行われているような接続形
態を「間接接続」と称する。これに対して、同じ層の配
線パターン間の接続が、エラーと見做されない条件で、
直接行われているような接続形態を「直接(ダイレク
ト)接続」と称する。
合でも間隙エラーEとして検出されてしまう。そのため
当該基板には、本来間隙エラーが発生していないにも拘
らず、間隙エラーが発生しているものとして処理されて
しまうという問題点があった。なお、第7図に示すよう
に線分パターンP1とランドパターンL2の接続が他層のL1
〜L2間接続パターンを介して行われているような接続形
態を「間接接続」と称する。これに対して、同じ層の配
線パターン間の接続が、エラーと見做されない条件で、
直接行われているような接続形態を「直接(ダイレク
ト)接続」と称する。
本発明の目的は、上記問題点を解決し配線パターンの間
隙エラーを正確に検出することにあり、別の観点から
は、目視検査でエラーとなるパターンの場合を確実にエ
ラーとして検出し、設計者にパターン修正を促すことに
ある。
隙エラーを正確に検出することにあり、別の観点から
は、目視検査でエラーとなるパターンの場合を確実にエ
ラーとして検出し、設計者にパターン修正を促すことに
ある。
その手段は、第1図に示すように、先ずパターン間隙を
計算し()、次にその値が所定の範囲内であれば、ダ
イレクト接続する線分か否かチェックし、パターンPと
ランドLが接続されておらず、且つパターンPとランド
の間隔dが規定値以内の時(第5図)や内角が90°以下
の細線パターン(第6図(A))などダイレクト接続と
みなされない場合は()、間隙エラーとしてエラーリ
ストやディスプイレ上に表示する()。従って本発明
によれば、同一信号のランドと線分のパターン間の間隙
エラーを検出する配線パターンエラー検出装置であっ
て、各層毎のランドと線分に関する情報により構成され
た各テーブルが予め格納されているパターンファイル
と、前記各テーブルに基づいて、配線パターンエラー検
出の対象となるランドパターンと線分パターンが直接に
接続されるダイレクト接続か否かの判断処理を行う演算
部とを具備し、該演算部は、ランドパターンと線分パタ
ーンの間隙を測定する手段と、該間隙が所定の値未満で
あった場合に当該ランドパターンと線分パターンがダイ
レクト接続されているか否か判断する手段と、ダイレク
ト接続でない場合に間隙エラーとして表示の指示を行う
手段とを有することを特徴とする配線パターンエラー検
出装置が提供される。
計算し()、次にその値が所定の範囲内であれば、ダ
イレクト接続する線分か否かチェックし、パターンPと
ランドLが接続されておらず、且つパターンPとランド
の間隔dが規定値以内の時(第5図)や内角が90°以下
の細線パターン(第6図(A))などダイレクト接続と
みなされない場合は()、間隙エラーとしてエラーリ
ストやディスプイレ上に表示する()。従って本発明
によれば、同一信号のランドと線分のパターン間の間隙
エラーを検出する配線パターンエラー検出装置であっ
て、各層毎のランドと線分に関する情報により構成され
た各テーブルが予め格納されているパターンファイル
と、前記各テーブルに基づいて、配線パターンエラー検
出の対象となるランドパターンと線分パターンが直接に
接続されるダイレクト接続か否かの判断処理を行う演算
部とを具備し、該演算部は、ランドパターンと線分パタ
ーンの間隙を測定する手段と、該間隙が所定の値未満で
あった場合に当該ランドパターンと線分パターンがダイ
レクト接続されているか否か判断する手段と、ダイレク
ト接続でない場合に間隙エラーとして表示の指示を行う
手段とを有することを特徴とする配線パターンエラー検
出装置が提供される。
上記のとおり、本発明によれば、同一信号パターン間の
接続関係を算出することにより一定の間隙条件を満たし
ていない場合はエラーとして表示することができるの
で、従来の目視チェックと比較して間隙エラーが一層正
確に検出できるようになった。つまり、別の観点から言
えば、目視チェックでひっかかってしまうようなパター
ンについては設計段階で未然に防ぐためにエラー表示を
行い、それによって設計者にパターン修正を促すことが
可能となる。
接続関係を算出することにより一定の間隙条件を満たし
ていない場合はエラーとして表示することができるの
で、従来の目視チェックと比較して間隙エラーが一層正
確に検出できるようになった。つまり、別の観点から言
えば、目視チェックでひっかかってしまうようなパター
ンについては設計段階で未然に防ぐためにエラー表示を
行い、それによって設計者にパターン修正を促すことが
可能となる。
以下、本発明を、実施例により添付図面を参照して、説
明する。
明する。
第2図は本発明の実施例を示す図である。第2図の装置
は、パターンファイル1、演算部2により構成されてい
る。
は、パターンファイル1、演算部2により構成されてい
る。
パターンファイル1は、種々の配線パターン接続状態の
ランドと線分に関する情報のテーブルを格納している。
ランドと線分に関する情報のテーブルを格納している。
演算部2は、CPU21とメモリ22とチェック処理部23とか
ら構成されており、パターン間隙チェックを行ってパタ
ーン間隙エラーを検出する。
ら構成されており、パターン間隙チェックを行ってパタ
ーン間隙エラーを検出する。
CPU21は、メモリ22のテーブルに基いて同一信号パター
ン間の導体間隙を算出し所定の間隙を満たしていないパ
ターンについては間隙エラーとして検出する。メモリ22
は上記パターンファイル1からランドテーブルと線分テ
ーブルを入力する。チェック処理部23は、上記演算に使
用するプログラムが格納されている。
ン間の導体間隙を算出し所定の間隙を満たしていないパ
ターンについては間隙エラーとして検出する。メモリ22
は上記パターンファイル1からランドテーブルと線分テ
ーブルを入力する。チェック処理部23は、上記演算に使
用するプログラムが格納されている。
またエラーリスト3は、上記CPU21により検出された間
隙エラーをリストアップしたものである。
隙エラーをリストアップしたものである。
次に、本発明に使用されるメモリの構成図即ち、上記パ
ターンファイル1からメモリ22へ入力されたテーブルの
構成を、第3図に基いて説明する。
ターンファイル1からメモリ22へ入力されたテーブルの
構成を、第3図に基いて説明する。
第3図(A)はランドテーブル、第3図(B)は線分テ
ーブル、第3図(C)は同層パターン線分テーブルを示
している。
ーブル、第3図(C)は同層パターン線分テーブルを示
している。
ランドテーブル(第3図(A))は、ランドL(第5
図)に関する情報であって、簡略化のため本実施例では
正方形となっている。座標は正方形の中心点の位置を示
し、またD1,D2,…は、正方形の中心点から各辺までの長
さを示す。
図)に関する情報であって、簡略化のため本実施例では
正方形となっている。座標は正方形の中心点の位置を示
し、またD1,D2,…は、正方形の中心点から各辺までの長
さを示す。
線分テーブル(第3図(B))は、線分パターンP(第
5図)に関する情報である。
5図)に関する情報である。
第3図(B)において、座標の第1番目のサフィックス
はテーブルの順序番号を、第2番目のサフィックスは線
分パターンの始点、終点を示している。例えば、(X11,
Y11)は、第1番目の始点の座標を、(X12,Y12)は、第
1番目の終点の座標を、それぞれ示している。
はテーブルの順序番号を、第2番目のサフィックスは線
分パターンの始点、終点を示している。例えば、(X11,
Y11)は、第1番目の始点の座標を、(X12,Y12)は、第
1番目の終点の座標を、それぞれ示している。
W1,W2,W3…はそれぞれ第1,2,3,…番目にある線分パター
ンの幅を、L1,L2,L3…はそれぞれ第1,2,3,…番目のパタ
ーンの層番号であることを示している。同層パターン線
分テーブル(第3図(C))は、上記線分テーブル(第
3図(B))から同層分のみを編集したものである。
ンの幅を、L1,L2,L3…はそれぞれ第1,2,3,…番目のパタ
ーンの層番号であることを示している。同層パターン線
分テーブル(第3図(C))は、上記線分テーブル(第
3図(B))から同層分のみを編集したものである。
以下、上記構成を有する第2図の装置の動作を、第4図
乃至第6図に基いて、説明する。
乃至第6図に基いて、説明する。
第4図に示すように、本発明の処理フローは第4A図(そ
の1)と第4B図(その2)に分かれている。
の1)と第4B図(その2)に分かれている。
先ず、パターンファイル1(第2図)からランドテーブ
ル(第3図(A))と線分テーブル(第3図(B))を
メモリ22に入力し、 各層について同層パターン線分テーブル(第3図
(C))を編集すると共に同層のランドと線分について
その間隙を計算する()。即ち、この実施例では、各
層ごとにランドテーブルは(第3図(A))共通に構成
されている。従って、ランドテーブルと各層ごとの同層
パターン線分テーブル(第3図(C))を比較しつつ、
それぞれの座標値からランドパターンと線分パターン間
の最短距離dを計算する。この最短距離dは、一例とし
てランドパターンLと線分パターンPに相互に直交する
線分の長さを計算することにより、求められる(第5
図)。
ル(第3図(A))と線分テーブル(第3図(B))を
メモリ22に入力し、 各層について同層パターン線分テーブル(第3図
(C))を編集すると共に同層のランドと線分について
その間隙を計算する()。即ち、この実施例では、各
層ごとにランドテーブルは(第3図(A))共通に構成
されている。従って、ランドテーブルと各層ごとの同層
パターン線分テーブル(第3図(C))を比較しつつ、
それぞれの座標値からランドパターンと線分パターン間
の最短距離dを計算する。この最短距離dは、一例とし
てランドパターンLと線分パターンPに相互に直交する
線分の長さを計算することにより、求められる(第5
図)。
尚、この場合、ダイレクト接続フラグDCFをリセットし
ておく(DCF=0)。
ておく(DCF=0)。
次に、間隙距離dが0より大で所定の規定値より小さい
場合、LINE1に接続される他の線分LINE2を探す()。
場合、LINE1に接続される他の線分LINE2を探す()。
第4A図において、LINE1=LINE2の判定はLINE1自身との
接続チェックを避けるためのステップであり、ここで、
2つの線分パターンが等しい場合(LINE1=LINE2)、次
の処理()に移り、次のライン(LINE2=LINE2+1)
との接続チェックを行う。
接続チェックを避けるためのステップであり、ここで、
2つの線分パターンが等しい場合(LINE1=LINE2)、次
の処理()に移り、次のライン(LINE2=LINE2+1)
との接続チェックを行う。
LINE1とLINE2が接続されている場合にはLINE2とランド
の接続チェックを行い、両者が接続されている場合には
ダイレクト接続フラグを1にセットする(DCF=1)。
そして、ランドテーブルと同層パターン線分テーブルと
により接続をチェックする。
の接続チェックを行い、両者が接続されている場合には
ダイレクト接続フラグを1にセットする(DCF=1)。
そして、ランドテーブルと同層パターン線分テーブルと
により接続をチェックする。
この場合、2つの線分パターンの線幅を計算し両者とも
規定値を越えている場合はダイレクト接続とし()、
間隙エラーの表示がなされる(第4B図)。
規定値を越えている場合はダイレクト接続とし()、
間隙エラーの表示がなされる(第4B図)。
少なくとも一方の線分パターンが規定の線幅以下の場
合、即ち第6図に示すように細線パターンの場合には、
2つの線分パターンのなす最小角を求め90°以下の場合
はダイレクト接続とみなさない(第6図(A))。ま
た、ランドパターンと線分パターンとのなす最小角が90
°以下の場合もダイレクト接続とみなさない。
合、即ち第6図に示すように細線パターンの場合には、
2つの線分パターンのなす最小角を求め90°以下の場合
はダイレクト接続とみなさない(第6図(A))。ま
た、ランドパターンと線分パターンとのなす最小角が90
°以下の場合もダイレクト接続とみなさない。
これらの場合は、角度エラー表示をなすと共に導体間隙
エラーとしてエラーリスト3上にリストアップし、DCF
=0とする()。しかし、その他の場合、例えば第6
図(B)に示すように2つの線分パターンのなす最小角
α4とランドと線分パターンとのなす最小角α5が、それ
ぞれ90°を越える場合は、ダイレクト接続と見做す。
エラーとしてエラーリスト3上にリストアップし、DCF
=0とする()。しかし、その他の場合、例えば第6
図(B)に示すように2つの線分パターンのなす最小角
α4とランドと線分パターンとのなす最小角α5が、それ
ぞれ90°を越える場合は、ダイレクト接続と見做す。
このようにして、第1層目の処理が終了すれば()、
次に第2層目以下の処理を、第4A図と第4B図のフローに
従って、メモリ22に入力された各テーブル(第3図)に
基いて行う。
次に第2層目以下の処理を、第4A図と第4B図のフローに
従って、メモリ22に入力された各テーブル(第3図)に
基いて行う。
上記のとおり、本発明によれば、同一信号パターン間の
接続関係を算出することにより一定の間隙条件を満たし
ていない場合はエラーとして表示することができるの
で、従来の目視チェックと比較して間隙エラーが一層正
確に検出できるようになった。つまり、別の観点から言
えば、目視チェックでひっかかってしまうようなパター
ンについては設計段階で未然に防ぐためにエラー表示を
行い、それによって設計者にパターン修正を促すことが
可能となる。
接続関係を算出することにより一定の間隙条件を満たし
ていない場合はエラーとして表示することができるの
で、従来の目視チェックと比較して間隙エラーが一層正
確に検出できるようになった。つまり、別の観点から言
えば、目視チェックでひっかかってしまうようなパター
ンについては設計段階で未然に防ぐためにエラー表示を
行い、それによって設計者にパターン修正を促すことが
可能となる。
第1図は本発明の原理図、第2図は本発明の実施例を示
す図、第3図は本発明に使用されるメモリの構成図、第
4図は本発明による処理フローの関係を示す図、第4A図
は本発明の処理フローを示す図(その1)、第4B図は本
発明の処理フローを示す図(その2)、第5図は本発明
の動作説明図(鋭角接続の場合)、第6図は本発明の動
作説明図(細線パターンの場合)、第7図は従来技術の
説明図である。 1……パターンメモリ、2……演算部、3……エラーリ
スト、21……CPU、22……メモリ、23……チェック処理
部。
す図、第3図は本発明に使用されるメモリの構成図、第
4図は本発明による処理フローの関係を示す図、第4A図
は本発明の処理フローを示す図(その1)、第4B図は本
発明の処理フローを示す図(その2)、第5図は本発明
の動作説明図(鋭角接続の場合)、第6図は本発明の動
作説明図(細線パターンの場合)、第7図は従来技術の
説明図である。 1……パターンメモリ、2……演算部、3……エラーリ
スト、21……CPU、22……メモリ、23……チェック処理
部。
Claims (1)
- 【請求項1】同一信号のランドと線分のパターン間の間
隙エラーを検出する配線パターンエラー検出装置であっ
て、 各層毎のランドと線分に関する情報により構成された各
テーブルが予め格納されているパターンファイル(1)
と、 前記各テーブルに基づいて、配線パターンエラー検出の
対象となるランドパターンと線分パターンが直接に接続
されるダイレクト接続か否かの判断処理を行う演算部
(2)とを具備し、 該演算部は、ランドパターンと線分パターンの間隙を測
定する手段(21)と、該間隙が所定の値未満であった場
合に当該ランドパターンと線分パターンがダイレクト接
続されているか否か判断する手段(21)と、ダイレクト
接続でない場合に間隙エラーとして表示の指示を行う手
段(21)とを有することを特徴とする配線パターンエラ
ー検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60258480A JPH0721807B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 配線パターンエラー検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60258480A JPH0721807B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 配線パターンエラー検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62119692A JPS62119692A (ja) | 1987-05-30 |
| JPH0721807B2 true JPH0721807B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=17320795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60258480A Expired - Lifetime JPH0721807B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 配線パターンエラー検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721807B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0256685A (ja) * | 1988-08-23 | 1990-02-26 | Nec Corp | 誤認識信号除去回路 |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP60258480A patent/JPH0721807B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62119692A (ja) | 1987-05-30 |
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