JPH07218450A - Lcd testing device - Google Patents

Lcd testing device

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Publication number
JPH07218450A
JPH07218450A JP3419094A JP3419094A JPH07218450A JP H07218450 A JPH07218450 A JP H07218450A JP 3419094 A JP3419094 A JP 3419094A JP 3419094 A JP3419094 A JP 3419094A JP H07218450 A JPH07218450 A JP H07218450A
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JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
logical
end point
address
Prior art date
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Pending
Application number
JP3419094A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Kojima
徹也 小島
Hiroyuki Aoki
博幸 青木
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Filing date
Publication date
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Priority to JP3419094A priority Critical patent/JPH07218450A/en
Publication of JPH07218450A publication Critical patent/JPH07218450A/en
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To increase the extracting speed of the end point of a linear defect by binarizing a gradation defect appears on an LCD panel module into a picture at the slice level of an adjustable gradation and constituting a (3X3)-logical filter of hardware. CONSTITUTION:A circuit means which can adjust the slice of N gradation is provided and a binarized image is obtained at a set slice level. The end point of the binarized image is found by passing the obtained binarized image through a (3X3)-logical filter constituted of hardware. The logical filter is constituted of a original binarized image memory 10, (3X3)-window circuit 15, multiplexer 14 which selects the writing address of a memory 12 for data conversion or output address of the window circuit 15, offset register 13 which selects a plurality of conversion data tables, and the memory 12 which stores logic '1' at the addresses indicating the end point, and resulted binarized picture memory 11 which indicates the position of the end point.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、LCD(Liquid Cri
stal Display)の故障解析において重要である線欠陥の
端点を、高速で抽出するLCD試験装置に関するもので
ある。
This invention relates to an LCD (Liquid Cri
The present invention relates to an LCD test device that extracts the end points of line defects, which are important in failure analysis of stal displays, at high speed.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より画像処理の端点抽出の方法とし
て、2値画像の原画を入力として、3×3論理フィルタ
を使用する方法が知られている。この3×3論理フィル
タは、図5のように重み付けの解釈がされ、512とお
りのパターンの処理表現をすることができる。この論理
フィルタは、図6に示すように2値画像の原画画像デー
タに重畳させ、1画素づつ移動させながら、各画素で5
12通りのパターンを区別する論理フィルタテーブルに
従った結果を、結果画像データに表示する。縦線、横線
の端点を示す3×3論理フィルタのパターンは、図7に
示す4種類のパターンであり、図6の論理フィルタテー
ブルのアドレス48、18、24、144に、論理1が
設定され、それ以外は全て論理0にすることで結果画像
データに縦線、横線の端点を表示することができる。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for extracting end points in image processing, a method is known in which an original image of a binary image is input and a 3 × 3 logical filter is used. This 3 × 3 logical filter is subjected to weighting interpretation as shown in FIG. 5, and can represent 512 patterns of processing. This logical filter is superimposed on the original image data of the binary image as shown in FIG.
The result according to the logical filter table for distinguishing 12 patterns is displayed in the result image data. The 3 × 3 logical filter patterns indicating the end points of the vertical and horizontal lines are the four types of patterns shown in FIG. 7, and the logical 1 is set to the addresses 48, 18, 24, 144 of the logical filter table of FIG. By setting all other values to logical 0, the end points of vertical and horizontal lines can be displayed in the resulting image data.

【0003】従来のLCD試験装置では、LCDパネル
モジュールの画像を、設定した一つの明るさのスライス
レベルで取り込み、その画像をソフトウェアにより、上
述した3×3論理フィルタの方式で処理し、端点抽出し
ていたため、その端点の明るさの差が分離できず、端点
抽出にも長時間の処理時間を必要としていた。
In a conventional LCD test apparatus, an image of an LCD panel module is captured at a slice level of one brightness that has been set, and the image is processed by software in the above-described 3 × 3 logical filter system to extract end points. Therefore, the difference in brightness of the end points cannot be separated, and a long processing time is required for the end point extraction.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
LCD装置では、画像を2値化する時の明るさのスライ
スレベルの調整、3×3論理フィルタの処理の高速化が
求められていた。本発明は、LCDパネルモジュールに
現れる濃淡のある欠陥を、調整できる濃淡のスライスレ
ベルで2値画像にし、3×3論理フィルタをハードウェ
アで実現することで線欠陥の端点抽出を高速化すること
を目的としている。
As described above, in the conventional LCD device, the adjustment of the slice level of the brightness when binarizing the image is required to speed up the process of the 3 × 3 logical filter. It was The present invention speeds up the extraction of end points of line defects by converting a defect having light and shade appearing in an LCD panel module into a binary image with an adjustable light and dark slice level and realizing a 3 × 3 logical filter by hardware. It is an object.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】LCDの線欠陥の端点抽
出において、LCDから得られる画像データには、濃い
線欠陥、薄い線欠陥、濃い点欠陥、薄い点欠陥などが、
さまざまなレベルで混在している。この中から一定レベ
ル以上の濃さの欠陥を抽出するため、濃淡のスライスレ
ベルを調整できる回路手段を設け、設定したスライスレ
ベルでの2値画像を得る。端点を抽出するハードウェア
で構成した3×3論理フィルタは、2値化した原画を記
憶する原画2値画像メモリ10と、原画2値画像メモリ
10を水平方向に1画素づつ上の行から順番に読みだ
し、水平画素ディレー回路とフリップフロップを使用し
て、3連続の行の列を一致させ、3×3のマトリックス
データが同一サイクルに出力するようにサイクル合わせ
を行う3×3ウィンドー回路15と、データ変換用メモ
リ12を設定する時の書き込みアドレスを入力するB入
力、又は、3×3ウィンドー回路15の3連続の行の列
が一致した出力アドレスを入力するA入力を選択するマ
ルチプレクサ14と、複数の変換データテーブルで構成
されるデータ変換用メモリ12のテーブル#を選択する
オフセットレジスタ13と、変換データテーブルの端点
を示すアドレスに論理1を記憶し、それ以外のアドレス
では全て論理0を記憶する複数の変換データテーブルで
構成されるデータ変換用メモリ12と、データ変換用メ
モリ12の出力データを3×3ウィンドー回路15の中
心アドレスであるF/F4を出力したアドレスに記憶す
る結果2値画像メモリ11とで構成される。
In extracting end points of a line defect of an LCD, image data obtained from the LCD includes a dark line defect, a thin line defect, a dark point defect, a thin point defect, and the like.
Mixed at various levels. In order to extract defects having a darkness of a certain level or more from this, a circuit means capable of adjusting the dark and light slice levels is provided to obtain a binary image at the set slice level. A 3 × 3 logical filter configured by hardware for extracting end points is an original image binary image memory 10 that stores a binarized original image, and an original image binary image memory 10 in the horizontal direction one pixel at a time from the upper row. And a 3 × 3 window circuit 15 which uses a horizontal pixel delay circuit and a flip-flop to match the columns of three consecutive rows so that the 3 × 3 matrix data is output in the same cycle. And a B input for inputting a write address when setting the memory 12 for data conversion, or an A input for inputting an output address for inputting an output address in which columns of three consecutive rows of the 3 × 3 window circuit 15 match. An offset register 13 for selecting a table # of the data conversion memory 12 including a plurality of conversion data tables, and a conversion data table The output data of the data conversion memory 12 and the data conversion memory 12 configured by a plurality of conversion data tables that store logical 1s at addresses indicating end points and logical 0s at all other addresses are 3 × 3. The result is a binary image memory 11 which stores F / F4, which is the central address of the window circuit 15, at the output address.

【0006】[0006]

【作用】この3×3論理フィルタは、512通りのマト
リックスに対応して、論理1又は論理0を設定すること
で、端点抽出以外に、画像の収縮、画像の膨張、画像の
輪郭抽出、交点抽出、孤立点抽出、線のスムージング、
密度検出などに応用することができる。
In this 3 × 3 logical filter, by setting logical 1 or logical 0 in correspondence with 512 kinds of matrices, image contraction, image expansion, image contour extraction, intersection points other than end point extraction Extraction, isolated point extraction, line smoothing,
It can be applied to density detection and the like.

【0007】[0007]

【実施例】図4にLCDパネルモジュールの濃淡のある
線欠陥から濃い線欠陥を抽出し、濃い線欠陥の端点のア
ドレスを得る流れを示す。図4(a)はLCDパネルモ
ジュールから得られた画像データで、濃い線欠陥、薄い
線欠陥、薄い点欠陥が混在している。図4(b)では濃
い線欠陥のみを2値化するため、濃淡を2値化するスラ
イスレベルを高くする。なお、スライスレベルを調整す
ることで、様々な濃淡での2値画像を得ることができ
る。図4(c)では3×3論理フィルタによって、縦
線、横線の端点を求める。ここで得られた端点は、LC
Dの故障解析において、その原因を追求するのに重要な
点の一つである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 4 shows a flow of extracting dark line defects from light and dark line defects of an LCD panel module and obtaining addresses of end points of the dark line defects. FIG. 4A shows image data obtained from the LCD panel module, in which dark line defects, thin line defects and thin point defects are mixed. In FIG. 4B, since only the dark line defect is binarized, the slice level for binarizing the light and shade is increased. By adjusting the slice level, it is possible to obtain binary images with various shades. In FIG. 4C, the end points of the vertical line and the horizontal line are obtained by the 3 × 3 logical filter. The end point obtained here is LC
This is one of the important points in pursuing the cause in the failure analysis of D.

【0008】図1に3×3論理フィルタを含む原画2値
画像メモリから線欠陥の端点を求める回路ブロック図を
示す。3×3論理フィルタは、フィルタに入力する前の
原画2値画像メモリ10と、原画2値画像メモリ10を
水平方向に1画素づつ、上の行から順番に読みだし、水
平画素ディレー回路とフリップフロップ1(F/F1)
からF/F7を使用して、3連続の行の列を一致させ、
3×3のマトリックスデータが同一サイクルに出力する
ようにサイクル合わせを行う3×3ウィンドー回路15
と、データ変換用メモリ12を設定する時の書き込みア
ドレスを入力するB入力、又は、3×3ウィンドー回路
15の3連続の行の列が一致した出力アドレスを入力す
るA入力を選択するマルチプレクサ14と、複数の変換
データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ12の
テーブル#を選択するオフセットレジスタ13と、変換
データテーブルの端点を示すアドレスに論理1を記憶
し、それ以外のアドレスでは全て論理0を記憶する複数
の変換データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ
12と、データ変換用メモリ12の出力データを3×3
ウィンドー回路15の中心アドレスである、F/F4を
出力したアドレスに記憶する結果2値画像メモリ11に
より構成される。
FIG. 1 shows a block diagram of a circuit for finding the end point of a line defect from an original binary image memory including a 3 × 3 logic filter. The 3 × 3 logical filter reads the original image binary image memory 10 before inputting to the filter and the original image binary image memory 10 one pixel at a time in the horizontal direction in order from the upper row, and the horizontal pixel delay circuit and the flip-flop circuit are read. Pull 1 (F / F1)
From F / F7 to match the columns in three consecutive rows,
A 3 × 3 window circuit 15 that performs cycle adjustment so that 3 × 3 matrix data is output in the same cycle.
And a B input for inputting a write address when setting the memory 12 for data conversion, or an A input for inputting an output address for inputting an output address in which columns of three consecutive rows of the 3 × 3 window circuit 15 match. And an offset register 13 for selecting a table # of the data conversion memory 12 composed of a plurality of conversion data tables, a logical 1 at an address indicating an end point of the conversion data table, and a logical 0 at all other addresses. Data conversion memory 12 configured by a plurality of conversion data tables for storing data and output data of the data conversion memory 12 is 3 × 3.
It is composed of the binary image memory 11 which stores the result at the address output from the F / F 4, which is the central address of the window circuit 15.

【0009】3×3論理フィルタを動作させるには、ま
ずデータ変換用メモリ12の端点を示すアドレスに論理
1を書き込む必要がある。マルチプレクサ14の入力B
を選択し、データ変換用メモリ12の端点を示すアドレ
スを指定し、そのアドレスに論理1を書き込む。ここ
で、縦線、横線の端点を示すアドレスは、図7で示した
48、18、24、144であるので、そのアドレスに
論理1を書き込み、それ以外のアドレスには論理0を書
き込む。オフセットレジスタ13は、複数存在する変換
データテーブルを切り換え指定するために使用され、こ
の例では128個の変換データテーブルを指定できる。
データ変換用メモリ12への変換データの書き込みが終
了すると、3×3論理フィルタを動作させることができ
る。
In order to operate the 3 × 3 logic filter, it is first necessary to write logic 1 to the address indicating the end point of the data conversion memory 12. Input B of multiplexer 14
Is selected, an address indicating the end point of the data conversion memory 12 is designated, and a logical 1 is written to the address. Here, since the addresses indicating the end points of the vertical and horizontal lines are 48, 18, 24 and 144 shown in FIG. 7, a logical 1 is written in that address and a logical 0 is written in the other addresses. The offset register 13 is used to switch and specify a plurality of conversion data tables, and in this example, 128 conversion data tables can be specified.
When the writing of the conversion data to the data conversion memory 12 is completed, the 3 × 3 logic filter can be operated.

【0010】図2に3×3論理フィルタを動作させたと
きのタイミング図を示す。原画2値画像メモリ10は、
最も上の行の水平方向の画素を左から右へ1.1→2.
1→3.1→4.1→5.1→6.1と出力し、右端を
出力すると続いて垂直方向のすぐ下の行の画素を1.2
→2.2→3.2→4.2→5.2→6.2と出力し、
垂直方向の画素がなくなるまで、同様に垂直方向に連続
した下方向の行を出力する。
FIG. 2 shows a timing chart when the 3 × 3 logic filter is operated. The original binary image memory 10 is
The horizontal pixels in the top row are moved from left to right 1.1 → 2.
The output is 1 → 3.1 → 4.1 → 5.1 → 6.1, and when the right end is output, the pixels in the row immediately below in the vertical direction are changed to 1.2.
→ 2.2 → 3.2 → 4.2 → 5.2 → 6.2
In the same manner, the vertically downward continuous rows are output until there are no more pixels in the vertical direction.

【0011】この出力はF/F1に入力され、F/F1
の出力は、F/F2と水平画素ディレー回路DL1に入
力される。F/F2の出力はF/F3に入力され、F/
F1、F/F2、F/F3の出力が、それぞれ、データ
変換用メモリ12のアドレスA0、A1、A2にマルチ
プレクサ14を通して入力される。水平画素ディレー回
路DL1の出力は、F/F1の出力が2行目のデータ
1.2を出力するのと同期して出力が開始され、同時に
F/F4と水平画素ディレー回路DL2に入力される。
F/F4の出力はF/F5に入力され、DL1、F/F
4、F/F5の出力が、それぞれ、データ変換用メモリ
12のアドレスA3、A4、A5に、マルチプレクサ1
4を通して入力される。水平画素ディレー回路DL2の
出力は、F/F1の出力が3行目のデータ1.3を出力
し、DL1の出力が2行目のデータ1.2を出力するの
と同期して出力が開始され、同時にF/F6に入力され
る。F/F6の出力はF/F7に入力され、DL2、F
/F6、F/F7の出力が、それぞれ、データ変換用メ
モリ12のアドレスA6、A7、A8に、マルチプレク
サ14を通して入力される。F/F7出力が1行目のデ
ータ1.1を出力するタイミングAのサイクルで3×3
ウィンドーの9個のマトリックスデータの最初のサイク
ルが合致し、そのデータをアドレスとしてマルチプレク
サ14を通してデータ変換用メモリ12へ入力し、その
結果得られたデータ変換用メモリ12の出力を3×3ウ
ィンドー回路15の中心アドレスであるF/F4をアド
レスとして、結果2値画像メモリ11に書き込みを行
う。それ以後、続くタイミングの各サイクルで得られる
3×3ウィンドーの9個のマトリックスデータをアドレ
スとして、マルチプレクサ14を通してデータ変換用メ
モリ12へ入力し、その結果得られたデータ変換用メモ
リ12の出力を、3×3ウィンドー回路15の中心アド
レスであるF/F4をアドレスとして、結果2値画像メ
モリ11に書き込み、同じ操作を最後の行の最後の列ま
で実行する。
This output is input to F / F1 and F / F1
Is output to the F / F2 and the horizontal pixel delay circuit DL1. The output of F / F2 is input to F / F3, and F / F3
The outputs of F1, F / F2 and F / F3 are input to the addresses A0, A1 and A2 of the data conversion memory 12 through the multiplexer 14, respectively. The output of the horizontal pixel delay circuit DL1 is started in synchronization with the output of the F / F1 outputting the data 1.2 of the second row, and is simultaneously input to the F / F4 and the horizontal pixel delay circuit DL2. .
The output of F / F4 is input to F / F5, and DL1, F / F
4 and F / F5 are output to the addresses A3, A4, A5 of the data conversion memory 12 and the multiplexer 1 respectively.
Input through 4. The output of the horizontal pixel delay circuit DL2 starts in synchronization with the output of the F / F1 outputs the data 1.3 of the third row and the output of DL1 outputs the data 1.2 of the second row. And simultaneously input to F / F6. The output of F / F6 is input to F / F7, and DL2, F
The outputs of / F6 and F / F7 are input to the addresses A6, A7, and A8 of the data conversion memory 12 through the multiplexer 14, respectively. F / F7 output is 3 × 3 in the cycle of timing A at which the data 1.1 of the first row is output.
The first cycle of the nine matrix data of the window coincides with each other, the data is input as an address to the data conversion memory 12 through the multiplexer 14, and the resulting output of the data conversion memory 12 is a 3 × 3 window circuit. F / F4, which is the central address of 15, is used as an address, and the resultant binary image memory 11 is written. After that, nine matrix data of 3 × 3 windows obtained in each cycle of the subsequent timing are used as addresses and are input to the data conversion memory 12 through the multiplexer 14, and the resulting output of the data conversion memory 12 is output. F / F4, which is the central address of the 3 × 3 window circuit 15, is written as an address in the result binary image memory 11, and the same operation is executed up to the last column of the last row.

【0012】図3にデータ変換用メモリ12とオフセッ
トレジスタ13の関係を示す。3×3マトリックスの9
個のデータを、図3に示すように、データ変換用メモリ
12のアドレスA0からA8に入力する。これにより2
9 =512通りのマトリックスに対応して論理フィルタ
を設定することができる。また、オフセットレジスタ1
3の出力はデータ変換用メモリ12のアドレスA9から
A15に入力し、合計27 =128個の変換データテー
ブルを指定できる。例えば、図3に示す端点抽出論理フ
ィルタ例として、オフセットレジスタ#0のアドレス#
48を論理1としてそれ以外は全て論理0とし、オフセ
ットレジスタ#1のアドレス#18を論理1としてそれ
以外は全て論理0とし、オフセットレジスタ#2のアド
レス#24を論理1としてそれ以外は全て論理0とし、
オフセットレジスタ#3のアドレス#144を論理1と
してそれ以外は全て論理0とすることで、オフセットレ
ジスタ#0論理フィルタを通した場合には左から延びた
横線の端点が、オフセットレジスタ#1論理フィルタを
通した場合には下から延びた縦線の端点が、オフセット
レジスタ#2論理フィルタを通した場合には右から延び
た横線の端点が、オフセットレジスタ#3論理フィルタ
を通した場合には上から延びた縦線の端点が検出でき
る。これにより、4種類の端点を、異なった変換データ
テーブルにより区別して検出し、結果2値画像メモリ1
1で区別して扱うことで、それぞれの端点を区別して故
障解析することができる。
FIG. 3 shows the relationship between the data conversion memory 12 and the offset register 13. 9 in 3x3 matrix
As shown in FIG. 3, the individual pieces of data are input to addresses A0 to A8 of the data conversion memory 12. This makes 2
Logical filters can be set corresponding to 9 = 512 matrixes. Also, the offset register 1
The output of 3 is input to addresses A9 to A15 of the data conversion memory 12, and a total of 2 7 = 128 conversion data tables can be designated. For example, as an example of the end point extraction logical filter shown in FIG.
48 is logical 1 and all other logical 0s, offset register # 1 address # 18 is logical 1 all other logical 0s, offset register # 2 address # 24 is logical 1 and all other logical 0,
By setting the address # 144 of the offset register # 3 to be logical 1 and the other addresses to be logical 0, the end point of the horizontal line extending from the left when passing through the offset register # 0 logical filter is the offset register # 1 logical filter. The end point of the vertical line extending from the bottom when passing through the register, the end point of the horizontal line extending from the right when passing through the offset register # 2 logical filter, and the end point when passing through the offset register # 3 logical filter. The end points of the vertical line extending from can be detected. As a result, the four types of end points are detected by being distinguished by different conversion data tables, and as a result, the binary image memory 1
By separately handling with 1, it is possible to perform failure analysis by distinguishing each end point.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、LCDパネルモジュールに現れる濃淡のある
線欠陥などを、調整できるスライスレベルで2値画像に
し、3×3論理フィルタ回路を使用して高速で端点抽出
を実現でき、端点の解析による不良原因の究明を効率良
く実行できる。また、この論理フィルタの変換データテ
ーブルは複数個あり、オフセットレジスタの内容を変更
することでリアルタイムに論理フィルタのパターンを変
更できるため、端点の種類を即座に分類できる効果があ
る。
Since the present invention is constructed as described above, a line image having a light and shade appearing in an LCD panel module is converted into a binary image at an adjustable slice level and a 3 × 3 logical filter circuit is used. Thus, the end points can be extracted at high speed, and the cause of the defect can be efficiently investigated by analyzing the end points. Further, since there are a plurality of conversion data tables of this logical filter and the pattern of the logical filter can be changed in real time by changing the contents of the offset register, there is an effect that the types of end points can be immediately classified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の3×3論理フィルタを示す回路ブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a circuit block diagram showing a 3 × 3 logical filter of the present invention.

【図2】本考案の3×3論理フィルタのタイミング図で
ある。
FIG. 2 is a timing diagram of the 3 × 3 logic filter of the present invention.

【図3】本考案のデータ変換用メモリとオフセットレジ
スタの関係を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a data conversion memory and an offset register of the present invention.

【図4】本考案の端点を得る流れを示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a flow of obtaining an end point of the present invention.

【図5】3×3論理フィルタでの重み付けの解釈の説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of interpretation of weighting in a 3 × 3 logical filter.

【図6】3×3論理フィルタの使用方法の説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a method of using a 3 × 3 logical filter.

【図7】縦線、横線の端点を示す3×3論理フィルタの
パターンである。
FIG. 7 is a 3 × 3 logical filter pattern showing end points of vertical and horizontal lines.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 原画2値画像メモリ 11 結果2値画像メモリ 12 データ変換用メモリ 13 オフセットレジスタ 14 マルチプレクサ 15 3×3ウィンドー回路 10 original image binary image memory 11 result binary image memory 12 data conversion memory 13 offset register 14 multiplexer 15 3 × 3 window circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 LCDの線欠陥の端点抽出において、 欠陥の濃淡を2値化するスライスレベルを制御して2値
画像を得る手段と、 2値化した原画を記憶する原画2値画像メモリ(10)
と、 原画2値画像メモリ(10)を水平方向に1画素づつ上
の行から順番に読みだし、水平画素ディレー回路とフリ
ップフロップを使用して、3連続の行の列を一致させ、
3×3のマトリックスデータが同一サイクルに出力する
ようにサイクル合わせを行う3×3ウィンドー回路(1
5)と、 データ変換用メモリ(12)を設定する時の書き込みア
ドレスを入力する一方の入力、あるいは、3×3ウィン
ドー回路(15)の3連続の行の列が一致した出力アド
レスを入力するもう一方の入力を選択するマルチプレク
サ(14)と、複数の変換データテーブルで構成される
データ変換用メモリ(12)のテーブル番号を選択する
オフセットレジスタ(13)と、 変換データテーブルの端点を示すアドレスに論理1を記
憶し、それ以外のアドレスでは全て論理0を記憶する複
数の変換データテーブルで構成されるデータ変換用メモ
リ(12)と、 データ変換用メモリ(12)の出力データを3×3ウィ
ンドー回路(15)の中心アドレスに記憶する結果2値
画像メモリ(11)と、 以上を具備することを特徴としたLCD試験装置。
1. A method for obtaining a binary image by controlling a slice level for binarizing a gray scale of a defect in extracting an end point of a line defect of an LCD, and an original binary image memory for storing the binarized original image ( 10)
Then, the original image binary image memory (10) is sequentially read from the upper row one pixel at a time in the horizontal direction, and the horizontal pixel delay circuit and the flip-flop are used to match the columns of three consecutive rows,
A 3 × 3 window circuit (1 that performs cycle adjustment so that 3 × 3 matrix data is output in the same cycle)
5) and one input for inputting the write address when setting the data conversion memory (12), or the output address where the columns of three consecutive rows of the 3 × 3 window circuit (15) match. A multiplexer (14) for selecting the other input, an offset register (13) for selecting the table number of a data conversion memory (12) composed of a plurality of conversion data tables, and an address indicating the end point of the conversion data table. The data conversion memory (12), which is composed of a plurality of conversion data tables that store logical 1s in the memory, and logical 0s in all other addresses, and output data from the data conversion memory (12) are 3 × 3. Result binary image memory (11) to be stored in the center address of the window circuit (15), and an LCD test comprising the above Location.
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