JPH07218450A - Ｌｃｄ試験装置 - Google Patents
Ｌｃｄ試験装置Info
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- JPH07218450A JPH07218450A JP3419094A JP3419094A JPH07218450A JP H07218450 A JPH07218450 A JP H07218450A JP 3419094 A JP3419094 A JP 3419094A JP 3419094 A JP3419094 A JP 3419094A JP H07218450 A JPH07218450 A JP H07218450A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 7
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、ＬＣＤパネルモジュールに現れる
濃淡のある欠陥を、調整できる濃淡のスライスレベルで
２値画像にし、３×３論理フィルタをハードウェアで実
現することで線欠陥の端点抽出を高速化することを目的
としている。 【構成】 濃淡のスライスレベルを調整できる回路手段
を設け、設定したスライスレベルでの２値画像を得る。
得られた２値画像をハードウェアで構成した３×３論理
フィルタを通し端点を得る。３×３論理フィルタは、原
画２値画像メモリ、３×３ウィンドー回路、データ変換
用メモリの書き込みアドレス又は３×３ウィンドー回路
の出力アドレスを選択するマルチプレクサ、複数の変換
データテーブルを選択するオフセットレジスタ、端点を
示すアドレスに論理１を記憶するデータ変換用メモリ、
端点の位置を示す結果２値画像メモリで構成される。
濃淡のある欠陥を、調整できる濃淡のスライスレベルで
２値画像にし、３×３論理フィルタをハードウェアで実
現することで線欠陥の端点抽出を高速化することを目的
としている。 【構成】 濃淡のスライスレベルを調整できる回路手段
を設け、設定したスライスレベルでの２値画像を得る。
得られた２値画像をハードウェアで構成した３×３論理
フィルタを通し端点を得る。３×３論理フィルタは、原
画２値画像メモリ、３×３ウィンドー回路、データ変換
用メモリの書き込みアドレス又は３×３ウィンドー回路
の出力アドレスを選択するマルチプレクサ、複数の変換
データテーブルを選択するオフセットレジスタ、端点を
示すアドレスに論理１を記憶するデータ変換用メモリ、
端点の位置を示す結果２値画像メモリで構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＬＣＤ（Liquid Cri
stal Display）の故障解析において重要である線欠陥の
端点を、高速で抽出するＬＣＤ試験装置に関するもので
ある。
stal Display）の故障解析において重要である線欠陥の
端点を、高速で抽出するＬＣＤ試験装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来より画像処理の端点抽出の方法とし
て、２値画像の原画を入力として、３×３論理フィルタ
を使用する方法が知られている。この３×３論理フィル
タは、図５のように重み付けの解釈がされ、５１２とお
りのパターンの処理表現をすることができる。この論理
フィルタは、図６に示すように２値画像の原画画像デー
タに重畳させ、１画素づつ移動させながら、各画素で５
１２通りのパターンを区別する論理フィルタテーブルに
従った結果を、結果画像データに表示する。縦線、横線
の端点を示す３×３論理フィルタのパターンは、図７に
示す４種類のパターンであり、図６の論理フィルタテー
ブルのアドレス４８、１８、２４、１４４に、論理１が
設定され、それ以外は全て論理０にすることで結果画像
データに縦線、横線の端点を表示することができる。
て、２値画像の原画を入力として、３×３論理フィルタ
を使用する方法が知られている。この３×３論理フィル
タは、図５のように重み付けの解釈がされ、５１２とお
りのパターンの処理表現をすることができる。この論理
フィルタは、図６に示すように２値画像の原画画像デー
タに重畳させ、１画素づつ移動させながら、各画素で５
１２通りのパターンを区別する論理フィルタテーブルに
従った結果を、結果画像データに表示する。縦線、横線
の端点を示す３×３論理フィルタのパターンは、図７に
示す４種類のパターンであり、図６の論理フィルタテー
ブルのアドレス４８、１８、２４、１４４に、論理１が
設定され、それ以外は全て論理０にすることで結果画像
データに縦線、横線の端点を表示することができる。
【０００３】従来のＬＣＤ試験装置では、ＬＣＤパネル
モジュールの画像を、設定した一つの明るさのスライス
レベルで取り込み、その画像をソフトウェアにより、上
述した３×３論理フィルタの方式で処理し、端点抽出し
ていたため、その端点の明るさの差が分離できず、端点
抽出にも長時間の処理時間を必要としていた。
モジュールの画像を、設定した一つの明るさのスライス
レベルで取り込み、その画像をソフトウェアにより、上
述した３×３論理フィルタの方式で処理し、端点抽出し
ていたため、その端点の明るさの差が分離できず、端点
抽出にも長時間の処理時間を必要としていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
ＬＣＤ装置では、画像を２値化する時の明るさのスライ
スレベルの調整、３×３論理フィルタの処理の高速化が
求められていた。本発明は、ＬＣＤパネルモジュールに
現れる濃淡のある欠陥を、調整できる濃淡のスライスレ
ベルで２値画像にし、３×３論理フィルタをハードウェ
アで実現することで線欠陥の端点抽出を高速化すること
を目的としている。
ＬＣＤ装置では、画像を２値化する時の明るさのスライ
スレベルの調整、３×３論理フィルタの処理の高速化が
求められていた。本発明は、ＬＣＤパネルモジュールに
現れる濃淡のある欠陥を、調整できる濃淡のスライスレ
ベルで２値画像にし、３×３論理フィルタをハードウェ
アで実現することで線欠陥の端点抽出を高速化すること
を目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】ＬＣＤの線欠陥の端点抽
出において、ＬＣＤから得られる画像データには、濃い
線欠陥、薄い線欠陥、濃い点欠陥、薄い点欠陥などが、
さまざまなレベルで混在している。この中から一定レベ
ル以上の濃さの欠陥を抽出するため、濃淡のスライスレ
ベルを調整できる回路手段を設け、設定したスライスレ
ベルでの２値画像を得る。端点を抽出するハードウェア
で構成した３×３論理フィルタは、２値化した原画を記
憶する原画２値画像メモリ１０と、原画２値画像メモリ
１０を水平方向に１画素づつ上の行から順番に読みだ
し、水平画素ディレー回路とフリップフロップを使用し
て、３連続の行の列を一致させ、３×３のマトリックス
データが同一サイクルに出力するようにサイクル合わせ
を行う３×３ウィンドー回路１５と、データ変換用メモ
リ１２を設定する時の書き込みアドレスを入力するＢ入
力、又は、３×３ウィンドー回路１５の３連続の行の列
が一致した出力アドレスを入力するＡ入力を選択するマ
ルチプレクサ１４と、複数の変換データテーブルで構成
されるデータ変換用メモリ１２のテーブル＃を選択する
オフセットレジスタ１３と、変換データテーブルの端点
を示すアドレスに論理１を記憶し、それ以外のアドレス
では全て論理０を記憶する複数の変換データテーブルで
構成されるデータ変換用メモリ１２と、データ変換用メ
モリ１２の出力データを３×３ウィンドー回路１５の中
心アドレスであるＦ／Ｆ４を出力したアドレスに記憶す
る結果２値画像メモリ１１とで構成される。
出において、ＬＣＤから得られる画像データには、濃い
線欠陥、薄い線欠陥、濃い点欠陥、薄い点欠陥などが、
さまざまなレベルで混在している。この中から一定レベ
ル以上の濃さの欠陥を抽出するため、濃淡のスライスレ
ベルを調整できる回路手段を設け、設定したスライスレ
ベルでの２値画像を得る。端点を抽出するハードウェア
で構成した３×３論理フィルタは、２値化した原画を記
憶する原画２値画像メモリ１０と、原画２値画像メモリ
１０を水平方向に１画素づつ上の行から順番に読みだ
し、水平画素ディレー回路とフリップフロップを使用し
て、３連続の行の列を一致させ、３×３のマトリックス
データが同一サイクルに出力するようにサイクル合わせ
を行う３×３ウィンドー回路１５と、データ変換用メモ
リ１２を設定する時の書き込みアドレスを入力するＢ入
力、又は、３×３ウィンドー回路１５の３連続の行の列
が一致した出力アドレスを入力するＡ入力を選択するマ
ルチプレクサ１４と、複数の変換データテーブルで構成
されるデータ変換用メモリ１２のテーブル＃を選択する
オフセットレジスタ１３と、変換データテーブルの端点
を示すアドレスに論理１を記憶し、それ以外のアドレス
では全て論理０を記憶する複数の変換データテーブルで
構成されるデータ変換用メモリ１２と、データ変換用メ
モリ１２の出力データを３×３ウィンドー回路１５の中
心アドレスであるＦ／Ｆ４を出力したアドレスに記憶す
る結果２値画像メモリ１１とで構成される。
【０００６】
【作用】この３×３論理フィルタは、５１２通りのマト
リックスに対応して、論理１又は論理０を設定すること
で、端点抽出以外に、画像の収縮、画像の膨張、画像の
輪郭抽出、交点抽出、孤立点抽出、線のスムージング、
密度検出などに応用することができる。
リックスに対応して、論理１又は論理０を設定すること
で、端点抽出以外に、画像の収縮、画像の膨張、画像の
輪郭抽出、交点抽出、孤立点抽出、線のスムージング、
密度検出などに応用することができる。
【０００７】
【実施例】図４にＬＣＤパネルモジュールの濃淡のある
線欠陥から濃い線欠陥を抽出し、濃い線欠陥の端点のア
ドレスを得る流れを示す。図４（ａ）はＬＣＤパネルモ
ジュールから得られた画像データで、濃い線欠陥、薄い
線欠陥、薄い点欠陥が混在している。図４（ｂ）では濃
い線欠陥のみを２値化するため、濃淡を２値化するスラ
イスレベルを高くする。なお、スライスレベルを調整す
ることで、様々な濃淡での２値画像を得ることができ
る。図４（ｃ）では３×３論理フィルタによって、縦
線、横線の端点を求める。ここで得られた端点は、ＬＣ
Ｄの故障解析において、その原因を追求するのに重要な
点の一つである。
線欠陥から濃い線欠陥を抽出し、濃い線欠陥の端点のア
ドレスを得る流れを示す。図４（ａ）はＬＣＤパネルモ
ジュールから得られた画像データで、濃い線欠陥、薄い
線欠陥、薄い点欠陥が混在している。図４（ｂ）では濃
い線欠陥のみを２値化するため、濃淡を２値化するスラ
イスレベルを高くする。なお、スライスレベルを調整す
ることで、様々な濃淡での２値画像を得ることができ
る。図４（ｃ）では３×３論理フィルタによって、縦
線、横線の端点を求める。ここで得られた端点は、ＬＣ
Ｄの故障解析において、その原因を追求するのに重要な
点の一つである。
【０００８】図１に３×３論理フィルタを含む原画２値
画像メモリから線欠陥の端点を求める回路ブロック図を
示す。３×３論理フィルタは、フィルタに入力する前の
原画２値画像メモリ１０と、原画２値画像メモリ１０を
水平方向に１画素づつ、上の行から順番に読みだし、水
平画素ディレー回路とフリップフロップ１（Ｆ／Ｆ１）
からＦ／Ｆ７を使用して、３連続の行の列を一致させ、
３×３のマトリックスデータが同一サイクルに出力する
ようにサイクル合わせを行う３×３ウィンドー回路１５
と、データ変換用メモリ１２を設定する時の書き込みア
ドレスを入力するＢ入力、又は、３×３ウィンドー回路
１５の３連続の行の列が一致した出力アドレスを入力す
るＡ入力を選択するマルチプレクサ１４と、複数の変換
データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ１２の
テーブル＃を選択するオフセットレジスタ１３と、変換
データテーブルの端点を示すアドレスに論理１を記憶
し、それ以外のアドレスでは全て論理０を記憶する複数
の変換データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ
１２と、データ変換用メモリ１２の出力データを３×３
ウィンドー回路１５の中心アドレスである、Ｆ／Ｆ４を
出力したアドレスに記憶する結果２値画像メモリ１１に
より構成される。
画像メモリから線欠陥の端点を求める回路ブロック図を
示す。３×３論理フィルタは、フィルタに入力する前の
原画２値画像メモリ１０と、原画２値画像メモリ１０を
水平方向に１画素づつ、上の行から順番に読みだし、水
平画素ディレー回路とフリップフロップ１（Ｆ／Ｆ１）
からＦ／Ｆ７を使用して、３連続の行の列を一致させ、
３×３のマトリックスデータが同一サイクルに出力する
ようにサイクル合わせを行う３×３ウィンドー回路１５
と、データ変換用メモリ１２を設定する時の書き込みア
ドレスを入力するＢ入力、又は、３×３ウィンドー回路
１５の３連続の行の列が一致した出力アドレスを入力す
るＡ入力を選択するマルチプレクサ１４と、複数の変換
データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ１２の
テーブル＃を選択するオフセットレジスタ１３と、変換
データテーブルの端点を示すアドレスに論理１を記憶
し、それ以外のアドレスでは全て論理０を記憶する複数
の変換データテーブルで構成されるデータ変換用メモリ
１２と、データ変換用メモリ１２の出力データを３×３
ウィンドー回路１５の中心アドレスである、Ｆ／Ｆ４を
出力したアドレスに記憶する結果２値画像メモリ１１に
より構成される。
【０００９】３×３論理フィルタを動作させるには、ま
ずデータ変換用メモリ１２の端点を示すアドレスに論理
１を書き込む必要がある。マルチプレクサ１４の入力Ｂ
を選択し、データ変換用メモリ１２の端点を示すアドレ
スを指定し、そのアドレスに論理１を書き込む。ここ
で、縦線、横線の端点を示すアドレスは、図７で示した
４８、１８、２４、１４４であるので、そのアドレスに
論理１を書き込み、それ以外のアドレスには論理０を書
き込む。オフセットレジスタ１３は、複数存在する変換
データテーブルを切り換え指定するために使用され、こ
の例では１２８個の変換データテーブルを指定できる。
データ変換用メモリ１２への変換データの書き込みが終
了すると、３×３論理フィルタを動作させることができ
る。
ずデータ変換用メモリ１２の端点を示すアドレスに論理
１を書き込む必要がある。マルチプレクサ１４の入力Ｂ
を選択し、データ変換用メモリ１２の端点を示すアドレ
スを指定し、そのアドレスに論理１を書き込む。ここ
で、縦線、横線の端点を示すアドレスは、図７で示した
４８、１８、２４、１４４であるので、そのアドレスに
論理１を書き込み、それ以外のアドレスには論理０を書
き込む。オフセットレジスタ１３は、複数存在する変換
データテーブルを切り換え指定するために使用され、こ
の例では１２８個の変換データテーブルを指定できる。
データ変換用メモリ１２への変換データの書き込みが終
了すると、３×３論理フィルタを動作させることができ
る。
【００１０】図２に３×３論理フィルタを動作させたと
きのタイミング図を示す。原画２値画像メモリ１０は、
最も上の行の水平方向の画素を左から右へ１．１→２．
１→３．１→４．１→５．１→６．１と出力し、右端を
出力すると続いて垂直方向のすぐ下の行の画素を１．２
→２．２→３．２→４．２→５．２→６．２と出力し、
垂直方向の画素がなくなるまで、同様に垂直方向に連続
した下方向の行を出力する。
きのタイミング図を示す。原画２値画像メモリ１０は、
最も上の行の水平方向の画素を左から右へ１．１→２．
１→３．１→４．１→５．１→６．１と出力し、右端を
出力すると続いて垂直方向のすぐ下の行の画素を１．２
→２．２→３．２→４．２→５．２→６．２と出力し、
垂直方向の画素がなくなるまで、同様に垂直方向に連続
した下方向の行を出力する。
【００１１】この出力はＦ／Ｆ１に入力され、Ｆ／Ｆ１
の出力は、Ｆ／Ｆ２と水平画素ディレー回路ＤＬ１に入
力される。Ｆ／Ｆ２の出力はＦ／Ｆ３に入力され、Ｆ／
Ｆ１、Ｆ／Ｆ２、Ｆ／Ｆ３の出力が、それぞれ、データ
変換用メモリ１２のアドレスＡ０、Ａ１、Ａ２にマルチ
プレクサ１４を通して入力される。水平画素ディレー回
路ＤＬ１の出力は、Ｆ／Ｆ１の出力が２行目のデータ
１．２を出力するのと同期して出力が開始され、同時に
Ｆ／Ｆ４と水平画素ディレー回路ＤＬ２に入力される。
Ｆ／Ｆ４の出力はＦ／Ｆ５に入力され、ＤＬ１、Ｆ／Ｆ
４、Ｆ／Ｆ５の出力が、それぞれ、データ変換用メモリ
１２のアドレスＡ３、Ａ４、Ａ５に、マルチプレクサ１
４を通して入力される。水平画素ディレー回路ＤＬ２の
出力は、Ｆ／Ｆ１の出力が３行目のデータ１．３を出力
し、ＤＬ１の出力が２行目のデータ１．２を出力するの
と同期して出力が開始され、同時にＦ／Ｆ６に入力され
る。Ｆ／Ｆ６の出力はＦ／Ｆ７に入力され、ＤＬ２、Ｆ
／Ｆ６、Ｆ／Ｆ７の出力が、それぞれ、データ変換用メ
モリ１２のアドレスＡ６、Ａ７、Ａ８に、マルチプレク
サ１４を通して入力される。Ｆ／Ｆ７出力が１行目のデ
ータ１．１を出力するタイミングＡのサイクルで３×３
ウィンドーの９個のマトリックスデータの最初のサイク
ルが合致し、そのデータをアドレスとしてマルチプレク
サ１４を通してデータ変換用メモリ１２へ入力し、その
結果得られたデータ変換用メモリ１２の出力を３×３ウ
ィンドー回路１５の中心アドレスであるＦ／Ｆ４をアド
レスとして、結果２値画像メモリ１１に書き込みを行
う。それ以後、続くタイミングの各サイクルで得られる
３×３ウィンドーの９個のマトリックスデータをアドレ
スとして、マルチプレクサ１４を通してデータ変換用メ
モリ１２へ入力し、その結果得られたデータ変換用メモ
リ１２の出力を、３×３ウィンドー回路１５の中心アド
レスであるＦ／Ｆ４をアドレスとして、結果２値画像メ
モリ１１に書き込み、同じ操作を最後の行の最後の列ま
で実行する。
の出力は、Ｆ／Ｆ２と水平画素ディレー回路ＤＬ１に入
力される。Ｆ／Ｆ２の出力はＦ／Ｆ３に入力され、Ｆ／
Ｆ１、Ｆ／Ｆ２、Ｆ／Ｆ３の出力が、それぞれ、データ
変換用メモリ１２のアドレスＡ０、Ａ１、Ａ２にマルチ
プレクサ１４を通して入力される。水平画素ディレー回
路ＤＬ１の出力は、Ｆ／Ｆ１の出力が２行目のデータ
１．２を出力するのと同期して出力が開始され、同時に
Ｆ／Ｆ４と水平画素ディレー回路ＤＬ２に入力される。
Ｆ／Ｆ４の出力はＦ／Ｆ５に入力され、ＤＬ１、Ｆ／Ｆ
４、Ｆ／Ｆ５の出力が、それぞれ、データ変換用メモリ
１２のアドレスＡ３、Ａ４、Ａ５に、マルチプレクサ１
４を通して入力される。水平画素ディレー回路ＤＬ２の
出力は、Ｆ／Ｆ１の出力が３行目のデータ１．３を出力
し、ＤＬ１の出力が２行目のデータ１．２を出力するの
と同期して出力が開始され、同時にＦ／Ｆ６に入力され
る。Ｆ／Ｆ６の出力はＦ／Ｆ７に入力され、ＤＬ２、Ｆ
／Ｆ６、Ｆ／Ｆ７の出力が、それぞれ、データ変換用メ
モリ１２のアドレスＡ６、Ａ７、Ａ８に、マルチプレク
サ１４を通して入力される。Ｆ／Ｆ７出力が１行目のデ
ータ１．１を出力するタイミングＡのサイクルで３×３
ウィンドーの９個のマトリックスデータの最初のサイク
ルが合致し、そのデータをアドレスとしてマルチプレク
サ１４を通してデータ変換用メモリ１２へ入力し、その
結果得られたデータ変換用メモリ１２の出力を３×３ウ
ィンドー回路１５の中心アドレスであるＦ／Ｆ４をアド
レスとして、結果２値画像メモリ１１に書き込みを行
う。それ以後、続くタイミングの各サイクルで得られる
３×３ウィンドーの９個のマトリックスデータをアドレ
スとして、マルチプレクサ１４を通してデータ変換用メ
モリ１２へ入力し、その結果得られたデータ変換用メモ
リ１２の出力を、３×３ウィンドー回路１５の中心アド
レスであるＦ／Ｆ４をアドレスとして、結果２値画像メ
モリ１１に書き込み、同じ操作を最後の行の最後の列ま
で実行する。
【００１２】図３にデータ変換用メモリ１２とオフセッ
トレジスタ１３の関係を示す。３×３マトリックスの９
個のデータを、図３に示すように、データ変換用メモリ
１２のアドレスＡ０からＡ８に入力する。これにより２
9 ＝５１２通りのマトリックスに対応して論理フィルタ
を設定することができる。また、オフセットレジスタ１
３の出力はデータ変換用メモリ１２のアドレスＡ９から
Ａ１５に入力し、合計２7 ＝１２８個の変換データテー
ブルを指定できる。例えば、図３に示す端点抽出論理フ
ィルタ例として、オフセットレジスタ＃０のアドレス＃
４８を論理１としてそれ以外は全て論理０とし、オフセ
ットレジスタ＃１のアドレス＃１８を論理１としてそれ
以外は全て論理０とし、オフセットレジスタ＃２のアド
レス＃２４を論理１としてそれ以外は全て論理０とし、
オフセットレジスタ＃３のアドレス＃１４４を論理１と
してそれ以外は全て論理０とすることで、オフセットレ
ジスタ＃０論理フィルタを通した場合には左から延びた
横線の端点が、オフセットレジスタ＃１論理フィルタを
通した場合には下から延びた縦線の端点が、オフセット
レジスタ＃２論理フィルタを通した場合には右から延び
た横線の端点が、オフセットレジスタ＃３論理フィルタ
を通した場合には上から延びた縦線の端点が検出でき
る。これにより、４種類の端点を、異なった変換データ
テーブルにより区別して検出し、結果２値画像メモリ１
１で区別して扱うことで、それぞれの端点を区別して故
障解析することができる。
トレジスタ１３の関係を示す。３×３マトリックスの９
個のデータを、図３に示すように、データ変換用メモリ
１２のアドレスＡ０からＡ８に入力する。これにより２
9 ＝５１２通りのマトリックスに対応して論理フィルタ
を設定することができる。また、オフセットレジスタ１
３の出力はデータ変換用メモリ１２のアドレスＡ９から
Ａ１５に入力し、合計２7 ＝１２８個の変換データテー
ブルを指定できる。例えば、図３に示す端点抽出論理フ
ィルタ例として、オフセットレジスタ＃０のアドレス＃
４８を論理１としてそれ以外は全て論理０とし、オフセ
ットレジスタ＃１のアドレス＃１８を論理１としてそれ
以外は全て論理０とし、オフセットレジスタ＃２のアド
レス＃２４を論理１としてそれ以外は全て論理０とし、
オフセットレジスタ＃３のアドレス＃１４４を論理１と
してそれ以外は全て論理０とすることで、オフセットレ
ジスタ＃０論理フィルタを通した場合には左から延びた
横線の端点が、オフセットレジスタ＃１論理フィルタを
通した場合には下から延びた縦線の端点が、オフセット
レジスタ＃２論理フィルタを通した場合には右から延び
た横線の端点が、オフセットレジスタ＃３論理フィルタ
を通した場合には上から延びた縦線の端点が検出でき
る。これにより、４種類の端点を、異なった変換データ
テーブルにより区別して検出し、結果２値画像メモリ１
１で区別して扱うことで、それぞれの端点を区別して故
障解析することができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、ＬＣＤパネルモジュールに現れる濃淡のある
線欠陥などを、調整できるスライスレベルで２値画像に
し、３×３論理フィルタ回路を使用して高速で端点抽出
を実現でき、端点の解析による不良原因の究明を効率良
く実行できる。また、この論理フィルタの変換データテ
ーブルは複数個あり、オフセットレジスタの内容を変更
することでリアルタイムに論理フィルタのパターンを変
更できるため、端点の種類を即座に分類できる効果があ
る。
いるので、ＬＣＤパネルモジュールに現れる濃淡のある
線欠陥などを、調整できるスライスレベルで２値画像に
し、３×３論理フィルタ回路を使用して高速で端点抽出
を実現でき、端点の解析による不良原因の究明を効率良
く実行できる。また、この論理フィルタの変換データテ
ーブルは複数個あり、オフセットレジスタの内容を変更
することでリアルタイムに論理フィルタのパターンを変
更できるため、端点の種類を即座に分類できる効果があ
る。
【図１】本考案の３×３論理フィルタを示す回路ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】本考案の３×３論理フィルタのタイミング図で
ある。
ある。
【図３】本考案のデータ変換用メモリとオフセットレジ
スタの関係を示す説明図である。
スタの関係を示す説明図である。
【図４】本考案の端点を得る流れを示す説明図である。
【図５】３×３論理フィルタでの重み付けの解釈の説明
図である。
図である。
【図６】３×３論理フィルタの使用方法の説明図であ
る。
る。
【図７】縦線、横線の端点を示す３×３論理フィルタの
パターンである。
パターンである。
１０ 原画２値画像メモリ １１ 結果２値画像メモリ １２ データ変換用メモリ １３ オフセットレジスタ １４ マルチプレクサ １５ ３×３ウィンドー回路
Claims (1)
- 【請求項１】 ＬＣＤの線欠陥の端点抽出において、 欠陥の濃淡を２値化するスライスレベルを制御して２値
画像を得る手段と、 ２値化した原画を記憶する原画２値画像メモリ（１０）
と、 原画２値画像メモリ（１０）を水平方向に１画素づつ上
の行から順番に読みだし、水平画素ディレー回路とフリ
ップフロップを使用して、３連続の行の列を一致させ、
３×３のマトリックスデータが同一サイクルに出力する
ようにサイクル合わせを行う３×３ウィンドー回路（１
５）と、 データ変換用メモリ（１２）を設定する時の書き込みア
ドレスを入力する一方の入力、あるいは、３×３ウィン
ドー回路（１５）の３連続の行の列が一致した出力アド
レスを入力するもう一方の入力を選択するマルチプレク
サ（１４）と、複数の変換データテーブルで構成される
データ変換用メモリ（１２）のテーブル番号を選択する
オフセットレジスタ（１３）と、 変換データテーブルの端点を示すアドレスに論理１を記
憶し、それ以外のアドレスでは全て論理０を記憶する複
数の変換データテーブルで構成されるデータ変換用メモ
リ（１２）と、 データ変換用メモリ（１２）の出力データを３×３ウィ
ンドー回路（１５）の中心アドレスに記憶する結果２値
画像メモリ（１１）と、 以上を具備することを特徴としたＬＣＤ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3419094A JPH07218450A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Ｌｃｄ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3419094A JPH07218450A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Ｌｃｄ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218450A true JPH07218450A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=12407272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3419094A Pending JPH07218450A (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Ｌｃｄ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218450A (ja) |
-
1994
- 1994-02-07 JP JP3419094A patent/JPH07218450A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021015 |