JPH07218601A - 高速パターンアドレス発生回路 - Google Patents
高速パターンアドレス発生回路Info
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- JPH07218601A JPH07218601A JP6027283A JP2728394A JPH07218601A JP H07218601 A JPH07218601 A JP H07218601A JP 6027283 A JP6027283 A JP 6027283A JP 2728394 A JP2728394 A JP 2728394A JP H07218601 A JPH07218601 A JP H07218601A
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- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 26
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 6
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ICテスタにおける、パターンアドレスを
高速に発生する。 【構成】パターンアドレス発生回路10とバッファ回路
11を複数個持ち、個々のパターンアドレス発生回路か
ら間欠的に発生するパターンアドレスをバッファ回路1
1に書き込み、各々のバッファ回路11の出力をセレク
タ15で切り替えて読むことにより、連続したパターン
アドレス得る。
高速に発生する。 【構成】パターンアドレス発生回路10とバッファ回路
11を複数個持ち、個々のパターンアドレス発生回路か
ら間欠的に発生するパターンアドレスをバッファ回路1
1に書き込み、各々のバッファ回路11の出力をセレク
タ15で切り替えて読むことにより、連続したパターン
アドレス得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ICテスタのパター
ンアドレスを高速に発生する回路についてのものであ
る。
ンアドレスを高速に発生する回路についてのものであ
る。
【0002】
【従来の技術】はじめに、図3に従来ICテスタで使わ
れているパターンアドレス発生回路を示す。1はコント
ロールメモリ、2はデコーダ、3はポインタ、4はクロ
ック、5はパターンアドレスであり外部に出力されると
ともに、コントロールメモリ1のアドレス入力に加わ
る。コントロールメモリ1には、パターンアドレスの発
生順序を決定するための情報であるパターンオブジェク
トが書き込まれる。コントロールメモリ1、デコーダ
2、ポインタ3はフィードバック系を構成する。出力さ
れたパターンアドレス5の利用については、特開平1ー
125013号公報の図1の11にも例示されている。
れているパターンアドレス発生回路を示す。1はコント
ロールメモリ、2はデコーダ、3はポインタ、4はクロ
ック、5はパターンアドレスであり外部に出力されると
ともに、コントロールメモリ1のアドレス入力に加わ
る。コントロールメモリ1には、パターンアドレスの発
生順序を決定するための情報であるパターンオブジェク
トが書き込まれる。コントロールメモリ1、デコーダ
2、ポインタ3はフィードバック系を構成する。出力さ
れたパターンアドレス5の利用については、特開平1ー
125013号公報の図1の11にも例示されている。
【0003】まず、初期値としてポインタ3にパターン
アドレス発生される先頭アドレスが設定されると、その
アドレスによりコントロールメモリ1がアクセスされ
る。コントロールメモリ1の出力はデコーダ2に入力さ
れ、デコーダ2によりその内容が解読され、次のパター
ンアドレス5を用意し、クロック4のタイミングでポイ
ンタ3に対して用意された値を入力し保持する。このよ
うに、クロック4が入力されるたびにコントロールメモ
リ1の内容をデコードしたアドレス情報がポインタ3に
現われる。
アドレス発生される先頭アドレスが設定されると、その
アドレスによりコントロールメモリ1がアクセスされ
る。コントロールメモリ1の出力はデコーダ2に入力さ
れ、デコーダ2によりその内容が解読され、次のパター
ンアドレス5を用意し、クロック4のタイミングでポイ
ンタ3に対して用意された値を入力し保持する。このよ
うに、クロック4が入力されるたびにコントロールメモ
リ1の内容をデコードしたアドレス情報がポインタ3に
現われる。
【0004】次に、図2、図3を参照して種々のアドレ
スが決定される様子を説明する。図3のコントロールメ
モリ1は、アドレスが決定される情報が記憶されている
インストラクション部1aとデータ部1bから構成され
る。また、デコーダ2は、インストラクションデコーダ
2a、インデックスレジスタ2b、ループアドレススタ
ック2c、(+1)加算器2d、サブルーチンスタック
2e、セレクタ2fから構成される。
スが決定される様子を説明する。図3のコントロールメ
モリ1は、アドレスが決定される情報が記憶されている
インストラクション部1aとデータ部1bから構成され
る。また、デコーダ2は、インストラクションデコーダ
2a、インデックスレジスタ2b、ループアドレススタ
ック2c、(+1)加算器2d、サブルーチンスタック
2e、セレクタ2fから構成される。
【0005】インストラクション1aの出力はインスト
ラクションデコーダ2aに入力され、データ1bの出力
はインデックスレジスタ2bに入力されるとともにセレ
クタ2fの入力となる。そのほか、セレクタ2fには、
インデックスレジスタ2bの出力、ループアドレススタ
ック2c、(+1)加算器2d、サブルーチンスタック
2e出力および、ポインタ3の出力であるパターンアド
レス5が接続される。インストラクションデコーダ2a
の出力はセレクタ2fの選択端子と接続され、セレクタ
2fの入力信号はインストラクションデコーダ2aの出
力によって決定される。また、パターンアドレス5はル
ープアドレススタック2c、(+1)加算器2dにも入
力される。(+1)加算器2dの出力はサブルーチンス
タック2eにも入力される。インデックスレジスタ2
b、ループアドレススタック2c、サブルーチンスタッ
ク2e、ポインタ3は情報を保持できるレジスタであ
る。
ラクションデコーダ2aに入力され、データ1bの出力
はインデックスレジスタ2bに入力されるとともにセレ
クタ2fの入力となる。そのほか、セレクタ2fには、
インデックスレジスタ2bの出力、ループアドレススタ
ック2c、(+1)加算器2d、サブルーチンスタック
2e出力および、ポインタ3の出力であるパターンアド
レス5が接続される。インストラクションデコーダ2a
の出力はセレクタ2fの選択端子と接続され、セレクタ
2fの入力信号はインストラクションデコーダ2aの出
力によって決定される。また、パターンアドレス5はル
ープアドレススタック2c、(+1)加算器2dにも入
力される。(+1)加算器2dの出力はサブルーチンス
タック2eにも入力される。インデックスレジスタ2
b、ループアドレススタック2c、サブルーチンスタッ
ク2e、ポインタ3は情報を保持できるレジスタであ
る。
【0006】図2のイはポインタ3の出力であり、アの
クロック4のタイミングでデータが切り替わるところを
示す。ウはポインタ3によりアクセスされるコントロー
ルメモリ1のインストラクション部1aの出力である。
エはポインタ3によりアクセスされるコントロールメモ
リ1のデータ部1bの出力である。オはセレクタ2fの
出力であり、インストラクション部1aの出力ウをイン
ストラクションデコーダ2aで解読した結果により、セ
レクタ2fが信号を選択するところを示す。
クロック4のタイミングでデータが切り替わるところを
示す。ウはポインタ3によりアクセスされるコントロー
ルメモリ1のインストラクション部1aの出力である。
エはポインタ3によりアクセスされるコントロールメモ
リ1のデータ部1bの出力である。オはセレクタ2fの
出力であり、インストラクション部1aの出力ウをイン
ストラクションデコーダ2aで解読した結果により、セ
レクタ2fが信号を選択するところを示す。
【0007】たとえば、コントロールメモリ1のXアド
レスに「GOTO Y」というインストラクションが記
述されているとき(GOTOはインストラクション部1
aに記述されていてアドレス制御情報として使われ、Y
はデータ部1bに記述されていてアドレス飛び先情報と
して使われる。)、m番目のクロック4でポインタ3か
らXアドレスが出力されると、インストラクション1a
の「GOTO」がインストラクションデコーダ2aによ
り同じアドレスのデータ部1bの値を次のアドレスとす
るように解読され、そのインストラクションデコーダ2
aの出力により、セレクタ2fはデータ部1bの出力
「Y」を入力とする信号を選択する。そのためにXアド
レスの次のm+1番目のクロック4でオのセレクタ2f
の出力「Y」をポインタ3に入力し保持する。
レスに「GOTO Y」というインストラクションが記
述されているとき(GOTOはインストラクション部1
aに記述されていてアドレス制御情報として使われ、Y
はデータ部1bに記述されていてアドレス飛び先情報と
して使われる。)、m番目のクロック4でポインタ3か
らXアドレスが出力されると、インストラクション1a
の「GOTO」がインストラクションデコーダ2aによ
り同じアドレスのデータ部1bの値を次のアドレスとす
るように解読され、そのインストラクションデコーダ2
aの出力により、セレクタ2fはデータ部1bの出力
「Y」を入力とする信号を選択する。そのためにXアド
レスの次のm+1番目のクロック4でオのセレクタ2f
の出力「Y」をポインタ3に入力し保持する。
【0008】また、図3に示すパターンアドレス発生回
路の例では、インストラクション部1aの内容によりイ
ンデックスレジスタ2b、特定アドレス間を指定回繰り
返すループ動作をするときのループの先頭アドレスを記
憶するループアドレススタック2c、サブルーチンの戻
りアドレスを記憶するサブルーチンスタック2e、現在
のポインタ3が示すアドレス5、および(+1)加算器
2dの出力が示す現在のアドレス+1番地をセレクタ2
fにより選択することができる。このようにコントロー
ルメモリ1の内容によりパターンアドレス発生回路内の
各種アドレス情報を保持するレジスタが選択され、クロ
ック4が入力されるたびに様々なパターンアドレスを発
生することができる。
路の例では、インストラクション部1aの内容によりイ
ンデックスレジスタ2b、特定アドレス間を指定回繰り
返すループ動作をするときのループの先頭アドレスを記
憶するループアドレススタック2c、サブルーチンの戻
りアドレスを記憶するサブルーチンスタック2e、現在
のポインタ3が示すアドレス5、および(+1)加算器
2dの出力が示す現在のアドレス+1番地をセレクタ2
fにより選択することができる。このようにコントロー
ルメモリ1の内容によりパターンアドレス発生回路内の
各種アドレス情報を保持するレジスタが選択され、クロ
ック4が入力されるたびに様々なパターンアドレスを発
生することができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】近年の半導体の微細加
工技術の進歩にともないLSIの動作周波数は飛躍的に
高速化している。このように高速化したLSIの機能を
測定するICテスタも高速に動作する必要がある。図3
に示した従来の技術による構成では、図2に示す様にポ
インタ3の値がクロック4によって保持されてからコン
トロールメモリ1のアクセスタイム後にセレクタ2fの
入力が決定される。そのために、パターンアドレス発生
回路の動作周波数、すなわちクロック4の周期はコント
ロールメモリ1のアクセス時間とデコーダ2およびポイ
ンタ3からなるフィードバック系の合計遅延時間より短
くすることはできない。
工技術の進歩にともないLSIの動作周波数は飛躍的に
高速化している。このように高速化したLSIの機能を
測定するICテスタも高速に動作する必要がある。図3
に示した従来の技術による構成では、図2に示す様にポ
インタ3の値がクロック4によって保持されてからコン
トロールメモリ1のアクセスタイム後にセレクタ2fの
入力が決定される。そのために、パターンアドレス発生
回路の動作周波数、すなわちクロック4の周期はコント
ロールメモリ1のアクセス時間とデコーダ2およびポイ
ンタ3からなるフィードバック系の合計遅延時間より短
くすることはできない。
【0010】このため、たとえば新規開発された高速デ
バイスを測定するとき、より高速に動作することが可能
なデバイスを用いなければICテスタを製作出来ないと
いう矛盾が生じる。この発明は従来のコントロールメモ
リの内容と互換性を持ち、高速に動作する部分に、速度
を制限するフィードバック系を持たないで高速にパター
ンアドレスを出力する、パターンアドレス発生回路の提
供を目的とする。
バイスを測定するとき、より高速に動作することが可能
なデバイスを用いなければICテスタを製作出来ないと
いう矛盾が生じる。この発明は従来のコントロールメモ
リの内容と互換性を持ち、高速に動作する部分に、速度
を制限するフィードバック系を持たないで高速にパター
ンアドレスを出力する、パターンアドレス発生回路の提
供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明では、従来のパターンアドレス発生回路
と、そのパターンアドレス出力を入力とするバッファ回
路を一組とし、かつその組み合わせを複数個持つ。個々
のパターンアドレス発生回路では同時に低速パターンア
ドレスを発生し、そのデータを一対一にバッファに書き
込む。このとき同時に、各々のバッファを高速に読みだ
すことにより、従来と互換性のあるランダムパターンア
ドレスを発生する。
に、この発明では、従来のパターンアドレス発生回路
と、そのパターンアドレス出力を入力とするバッファ回
路を一組とし、かつその組み合わせを複数個持つ。個々
のパターンアドレス発生回路では同時に低速パターンア
ドレスを発生し、そのデータを一対一にバッファに書き
込む。このとき同時に、各々のバッファを高速に読みだ
すことにより、従来と互換性のあるランダムパターンア
ドレスを発生する。
【0012】
【実施例】次に、図1を参照してこの発明による高速パ
ターンアドレス発生回路を説明する。10a〜10d
は、それぞれ図3で表したパターンアドレス発生回路
(以下、PAGという。)である。パターンアドレス発
生回路10a〜10dは、おのおの同一内容のコントロ
ールメモリを持ち、バス21を介してCPU18と接続
される。
ターンアドレス発生回路を説明する。10a〜10d
は、それぞれ図3で表したパターンアドレス発生回路
(以下、PAGという。)である。パターンアドレス発
生回路10a〜10dは、おのおの同一内容のコントロ
ールメモリを持ち、バス21を介してCPU18と接続
される。
【0013】11a〜11dはバッファ回路(以下、B
UFという。)であり、PAG10a〜10dの出力を
それぞれ入力し、各出力をセレクタ15に入力する。ま
たBUF11a〜11dの読みだしクロック端子51に
はシステムクロック16が入力される。14は分周器で
あり、システムクロック16を入力し、その分周比によ
り、クロック17を得る。クロック17はPAG10a
〜10dに入力されるとともにBUF11a〜11dの
書き込みクロック端子50に入力される。
UFという。)であり、PAG10a〜10dの出力を
それぞれ入力し、各出力をセレクタ15に入力する。ま
たBUF11a〜11dの読みだしクロック端子51に
はシステムクロック16が入力される。14は分周器で
あり、システムクロック16を入力し、その分周比によ
り、クロック17を得る。クロック17はPAG10a
〜10dに入力されるとともにBUF11a〜11dの
書き込みクロック端子50に入力される。
【0014】PAG10a〜10dのそれぞれは、クロ
ック17のタイミングでパターンアドレスを出力し、そ
のPAG出力をBUFへ書き込む。BUFはシステムク
ロック16のタイミングでデータを読みだしセレクタ1
5に入力する。19は分周器であり、システムクロック
16からセレクタ15の選択信号を作る。セレクタ15
の出力20からは高速パターンアドレスが出力される。
ック17のタイミングでパターンアドレスを出力し、そ
のPAG出力をBUFへ書き込む。BUFはシステムク
ロック16のタイミングでデータを読みだしセレクタ1
5に入力する。19は分周器であり、システムクロック
16からセレクタ15の選択信号を作る。セレクタ15
の出力20からは高速パターンアドレスが出力される。
【0015】すなわち、PAG10a〜10dの各PA
Gはシステムクロック16よりも低速なクロック17で
パターンアドレスを発生し、BUF11a〜11dにそ
のパターンアドレスを書き込み、BUF11a〜11d
をシステムクロック16で読み出すことにより、低速で
発生したパターンアドレスを高速に取り出すことができ
る。
Gはシステムクロック16よりも低速なクロック17で
パターンアドレスを発生し、BUF11a〜11dにそ
のパターンアドレスを書き込み、BUF11a〜11d
をシステムクロック16で読み出すことにより、低速で
発生したパターンアドレスを高速に取り出すことができ
る。
【0016】以下に、個々のPAGで発生したパターン
アドレスを高速パターンアドレスとしてセレクタ15か
ら取りだす様子を図1を参照して説明する。ここでは例
として、PAG、BUFはそれぞれ4回路、BUFの深
さは1KWとし、PAG10aは1〜1000パターン
アドレス(1000パターンアドレスとは各PAGで1
000番目のクロックで発生するパターンアドレスを意
味する。)、PAG10bは1001〜2000パター
ンアドレス、PAG10cは2001〜3000、PA
G10dは3001〜4000パターンアドレスを発生
すると同時に、それぞれ対応するBUF11a〜11d
にそのデータを書き込むものとする。
アドレスを高速パターンアドレスとしてセレクタ15か
ら取りだす様子を図1を参照して説明する。ここでは例
として、PAG、BUFはそれぞれ4回路、BUFの深
さは1KWとし、PAG10aは1〜1000パターン
アドレス(1000パターンアドレスとは各PAGで1
000番目のクロックで発生するパターンアドレスを意
味する。)、PAG10bは1001〜2000パター
ンアドレス、PAG10cは2001〜3000、PA
G10dは3001〜4000パターンアドレスを発生
すると同時に、それぞれ対応するBUF11a〜11d
にそのデータを書き込むものとする。
【0017】次に、図1の動作を図4を参照して説明す
る。図4のアは、図1のBUF11aがシステムクロッ
ク16によりAでは1〜1000パターンアドレス読み
だされるところを示す。図4のイは、図1のPAG10
aの出力をBUF11aに書き込むところを示す。以下
同じ様に図4のウ・オ・キはそれぞれBUF11b,B
UF11c,BUF11dが読みだされるところを示
し、エ・カ・クはBUF11b,BUF11c,BUF
11dにそれぞれ対応するPAGの出力を書き込むとこ
ろを示す。ケは、セレクタ15の入力を切り換えてA・
B・C・Dを順番にセレクタ15の出力20として得る
ところを表す。
る。図4のアは、図1のBUF11aがシステムクロッ
ク16によりAでは1〜1000パターンアドレス読み
だされるところを示す。図4のイは、図1のPAG10
aの出力をBUF11aに書き込むところを示す。以下
同じ様に図4のウ・オ・キはそれぞれBUF11b,B
UF11c,BUF11dが読みだされるところを示
し、エ・カ・クはBUF11b,BUF11c,BUF
11dにそれぞれ対応するPAGの出力を書き込むとこ
ろを示す。ケは、セレクタ15の入力を切り換えてA・
B・C・Dを順番にセレクタ15の出力20として得る
ところを表す。
【0018】また、連続した長大パターンアドレス(本
例では4000パターンアドレス以上)を発生するため
には、図1のPAG10aが1〜1000パターンアド
レスの次に4001〜5000パターンアドレスを発生
するように、それぞれのPAGは4000パターンアド
レス毎に連続する1000パターンアドレスを発生す
る。
例では4000パターンアドレス以上)を発生するため
には、図1のPAG10aが1〜1000パターンアド
レスの次に4001〜5000パターンアドレスを発生
するように、それぞれのPAGは4000パターンアド
レス毎に連続する1000パターンアドレスを発生す
る。
【0019】次に、図4の100で示す部分のBUFと
PAGの詳細な関係を図5を参照して説明する。図5の
エはBUF11aに書き込まれるPAG10aの出力で
あり、図5のウはBUF11aの出力であり、アのシス
テムクロック16で一番目のパターンアドレスが読みだ
されるところを示す。PAG10aは図5のイのクロッ
ク17により4001パターンアドレスを発生し、その
アドレスデータがBUF11aに書き込まれる様子を表
す。
PAGの詳細な関係を図5を参照して説明する。図5の
エはBUF11aに書き込まれるPAG10aの出力で
あり、図5のウはBUF11aの出力であり、アのシス
テムクロック16で一番目のパターンアドレスが読みだ
されるところを示す。PAG10aは図5のイのクロッ
ク17により4001パターンアドレスを発生し、その
アドレスデータがBUF11aに書き込まれる様子を表
す。
【0020】このバッファ回路の様に読みだし書き込み
が非同期に実行できるメモリとして、VRAM(ビデオ
ラム)、FIFO(ファーストイン・ファーストアウト
・メモリ)が知られている。
が非同期に実行できるメモリとして、VRAM(ビデオ
ラム)、FIFO(ファーストイン・ファーストアウト
・メモリ)が知られている。
【0021】次に、この発明を実施するときの各々のP
AG内のレジスタ情報について説明する。従来の技術に
よるPAGは内部レジスタ類をリセットしてコントロー
ルメモリのポインタをプリセットし単にコントロールメ
モリの内容をつぎつぎにデコードすることにより、連続
して長大パターンアドレスを発生していた。ここで、リ
セットとはレジスタの内容を初期状態に戻すこと、また
プリセットとは特定な数値設定をする事を意味する。
AG内のレジスタ情報について説明する。従来の技術に
よるPAGは内部レジスタ類をリセットしてコントロー
ルメモリのポインタをプリセットし単にコントロールメ
モリの内容をつぎつぎにデコードすることにより、連続
して長大パターンアドレスを発生していた。ここで、リ
セットとはレジスタの内容を初期状態に戻すこと、また
プリセットとは特定な数値設定をする事を意味する。
【0022】すなわち、従来の技術によるパターンアド
レス発生では、パターンのスタート点ではPAG内部の
レジスタ類は初期状態でなければならない。しかし、こ
の発明によるパターンアドレス発生回路では、個々のP
AGは、PAG10aが1〜1000パターンアドレス
の次に4001〜5000、8001〜9000パター
ンアドレスと間欠的に連続アドレスを発生する必要があ
り、おのおののパターンスタート点でのPAG内部レジ
スタは初期状態にあるとは限らない。
レス発生では、パターンのスタート点ではPAG内部の
レジスタ類は初期状態でなければならない。しかし、こ
の発明によるパターンアドレス発生回路では、個々のP
AGは、PAG10aが1〜1000パターンアドレス
の次に4001〜5000、8001〜9000パター
ンアドレスと間欠的に連続アドレスを発生する必要があ
り、おのおののパターンスタート点でのPAG内部レジ
スタは初期状態にあるとは限らない。
【0023】このことは、この発明によるパターンアド
レス発生によって従来のパターンアドレスと互換性のあ
るパターンアドレス発生を行うときに、次の問題を解決
しなければならない。
レス発生によって従来のパターンアドレスと互換性のあ
るパターンアドレス発生を行うときに、次の問題を解決
しなければならない。
【0024】たとえばPAG10aで4001パターン
アドレスからパターン発生をするとき、4001パター
ンアドレスは4000パターンアドレス以前のアドレス
をループ先頭アドレスとするループ動作途中であると仮
定すると、PAG10aが正常にループ先頭アドレスを
発生するためには、4000パターンアドレス以前のル
ープスタック等の内部レジスタ情報を必要とし、単にレ
ジスタ類をリセットし、ポインタをプリセットするだけ
では4001番目以降のパターンアドレスを得ることは
できない。
アドレスからパターン発生をするとき、4001パター
ンアドレスは4000パターンアドレス以前のアドレス
をループ先頭アドレスとするループ動作途中であると仮
定すると、PAG10aが正常にループ先頭アドレスを
発生するためには、4000パターンアドレス以前のル
ープスタック等の内部レジスタ情報を必要とし、単にレ
ジスタ類をリセットし、ポインタをプリセットするだけ
では4001番目以降のパターンアドレスを得ることは
できない。
【0025】次に、この問題を解決するためのPAGの
内部レジスタの構造を図6を参照して説明する。レジス
タ33は従来の技術によるPAG内部のレジスタと同じ
ものである。32はセレクタであり、その出力はレジス
タ33の入力となる。また一方の入力(A)は端子34
を持ち他方の入力(B)にはレジスタ31が接続され、
レジスタ31の入力端子35は双方向性構造を持ちレジ
スタ31にデータを設定できるとともに、レジスタ33
の内容を読み取ることができる。図6では省略したが、
端子35は図1に示すCPU18とバス21を経由し
て、たがいに接続されている。
内部レジスタの構造を図6を参照して説明する。レジス
タ33は従来の技術によるPAG内部のレジスタと同じ
ものである。32はセレクタであり、その出力はレジス
タ33の入力となる。また一方の入力(A)は端子34
を持ち他方の入力(B)にはレジスタ31が接続され、
レジスタ31の入力端子35は双方向性構造を持ちレジ
スタ31にデータを設定できるとともに、レジスタ33
の内容を読み取ることができる。図6では省略したが、
端子35は図1に示すCPU18とバス21を経由し
て、たがいに接続されている。
【0026】通常のパターン発生中は端子34を経由し
てレジスタ33にデータが与えられる。またレジスタ3
1には次に間欠的に発生する先頭のパターンアドレスを
決定するレジスタ情報が用意される。図5のエ・オでは
PAG10aが4001〜5000パターンアドレス発
生している間、PAG10a内の全てのレジスタには次
に発生する8001番目以降のパターンアドレスのため
のレジスタ情報が図6のレジスタ31に用意され、80
01番目のパターンアドレスのクロック17のタイミン
グで図6のレジスタ33に読み込まれて、8001パタ
ーンアドレス以降のデータも連続して発生することがで
きる。このとき、各レジスタに与える情報をレジスタプ
リセットデータという。
てレジスタ33にデータが与えられる。またレジスタ3
1には次に間欠的に発生する先頭のパターンアドレスを
決定するレジスタ情報が用意される。図5のエ・オでは
PAG10aが4001〜5000パターンアドレス発
生している間、PAG10a内の全てのレジスタには次
に発生する8001番目以降のパターンアドレスのため
のレジスタ情報が図6のレジスタ31に用意され、80
01番目のパターンアドレスのクロック17のタイミン
グで図6のレジスタ33に読み込まれて、8001パタ
ーンアドレス以降のデータも連続して発生することがで
きる。このとき、各レジスタに与える情報をレジスタプ
リセットデータという。
【0027】こうして、それぞれのPAGをプリセット
することにより、長大パターンでも途中で不連続となる
ことなく発生することができる。次に、それぞれのPA
Gが間欠的にパターンアドレス発生をするためのレジス
タプリセットデータを得る手段を図1・図3・図6を参
照して説明する。
することにより、長大パターンでも途中で不連続となる
ことなく発生することができる。次に、それぞれのPA
Gが間欠的にパターンアドレス発生をするためのレジス
タプリセットデータを得る手段を図1・図3・図6を参
照して説明する。
【0028】ここで、図1に示す各々のPAGは図3の
構成であるとき、2b・2c・2e・3はそれぞれ図6
の構造を持つレジスタとし、この発明による複数個のP
AGの1回路を用いて、先頭アドレスから従来の技術に
よるパターンアドレス発生をこの発明によるPAGのバ
ッファの深さ単位、すなわち1000パターンアドレス
単位に区切って全パターンアドレスを発生する。このと
き、おのおの発生した単位で停止している図6のレジス
タ33で代表される全てのレジスタ出力を図1のCPU
18に取り込み1000パターンアドレスごとのプリセ
ットデータとして記憶し管理する。このときのPAGの
パターンアドレス発生は単にレジスタ情報を集めレジス
タプリセットデータを得ることを目的とするのでPAG
を動作させるクロック17の周期は通常のパターン発生
時に比べて充分長い間隔でよい。
構成であるとき、2b・2c・2e・3はそれぞれ図6
の構造を持つレジスタとし、この発明による複数個のP
AGの1回路を用いて、先頭アドレスから従来の技術に
よるパターンアドレス発生をこの発明によるPAGのバ
ッファの深さ単位、すなわち1000パターンアドレス
単位に区切って全パターンアドレスを発生する。このと
き、おのおの発生した単位で停止している図6のレジス
タ33で代表される全てのレジスタ出力を図1のCPU
18に取り込み1000パターンアドレスごとのプリセ
ットデータとして記憶し管理する。このときのPAGの
パターンアドレス発生は単にレジスタ情報を集めレジス
タプリセットデータを得ることを目的とするのでPAG
を動作させるクロック17の周期は通常のパターン発生
時に比べて充分長い間隔でよい。
【0029】また、実際のPAGを使用しないで、コン
ピュータ上でPAGの動作を模擬実行し、レジスタプリ
セットデータを得ることも可能である。たとえば、従来
の技術で説明した、コントロールメモリ1、レジスタ類
2b・2c・2e・3、インストラクションデコーダ2
a、(+1)加算器2dの機能をコンピュータのメモリ
上にコンピュータプログラムの形で記述するとともに、
コントロールメモリの内容をデコードするたびに、パタ
ーンアドレスが決定されるアルゴリズムをコンピュータ
プログラムに記述しておき、実際のPAGが1000パ
ターンアドレス単位でパターンアドレス発生するよう
に、そのプログラムを模擬実行し、前記コンピュータメ
モリ上にレジスタとして割り付けたメモリの内容を読み
出して、レジスタプリセットデータを得ることも出来
る。
ピュータ上でPAGの動作を模擬実行し、レジスタプリ
セットデータを得ることも可能である。たとえば、従来
の技術で説明した、コントロールメモリ1、レジスタ類
2b・2c・2e・3、インストラクションデコーダ2
a、(+1)加算器2dの機能をコンピュータのメモリ
上にコンピュータプログラムの形で記述するとともに、
コントロールメモリの内容をデコードするたびに、パタ
ーンアドレスが決定されるアルゴリズムをコンピュータ
プログラムに記述しておき、実際のPAGが1000パ
ターンアドレス単位でパターンアドレス発生するよう
に、そのプログラムを模擬実行し、前記コンピュータメ
モリ上にレジスタとして割り付けたメモリの内容を読み
出して、レジスタプリセットデータを得ることも出来
る。
【0030】このように異機種のコンピュータの動作を
模擬実行する手法はエミュレーション技術と知られてい
て、電子情報通信ハンドブック(電子情報通信学会)第
1版・21編・1584ページにも説明されている。
模擬実行する手法はエミュレーション技術と知られてい
て、電子情報通信ハンドブック(電子情報通信学会)第
1版・21編・1584ページにも説明されている。
【0031】次に、実際にこの発明によって高速パター
ンアドレスを発生するときは、前記説明の1000パタ
ーンアドレス単位での停止状態のレジスタデータをレジ
スタプリセットデータとして図1のCPU18からバス
21を経由して1000パターンアドレスごとにPAG
10a→10b→10c→10d→10a→・・・の順
序で、各PAGのレジスタに対してプリセットすること
により長大パターンも不連続となることなく高速パター
ンアドレスを発生することが可能となる。
ンアドレスを発生するときは、前記説明の1000パタ
ーンアドレス単位での停止状態のレジスタデータをレジ
スタプリセットデータとして図1のCPU18からバス
21を経由して1000パターンアドレスごとにPAG
10a→10b→10c→10d→10a→・・・の順
序で、各PAGのレジスタに対してプリセットすること
により長大パターンも不連続となることなく高速パター
ンアドレスを発生することが可能となる。
【0032】また、一般的に新しいアーキテクチャに基
ずいて設計されたICテスタでは、パターンオブジェク
ト構造の違いにより従来のパターンオブジェクトが使え
なかったり、従来のICテスタでは新しいアーキテクチ
ャによって作られたパターンオブジェクトが使えないと
いう互換性上の問題がしばしば発生していた。しかし、
前記いずれかの方法によって得られた、レジスタプリセ
ットデータを従来のパターンオブジェクトと結合して一
つのパターンオブジェクトとして管理したとき、この発
明によるパターンアドレス発生回路で使用できるのは勿
論、従来のパターンアドレス発生回路でもパターンアド
レスを決定するデコーダ回路にこの発明によるレジスタ
プリセットデータを必要としないので、パターンオブジ
ェクトにプリセットデータが付いていてもその部分を無
視すれば、従来のパターンアドレス発生は問題なくでき
る。
ずいて設計されたICテスタでは、パターンオブジェク
ト構造の違いにより従来のパターンオブジェクトが使え
なかったり、従来のICテスタでは新しいアーキテクチ
ャによって作られたパターンオブジェクトが使えないと
いう互換性上の問題がしばしば発生していた。しかし、
前記いずれかの方法によって得られた、レジスタプリセ
ットデータを従来のパターンオブジェクトと結合して一
つのパターンオブジェクトとして管理したとき、この発
明によるパターンアドレス発生回路で使用できるのは勿
論、従来のパターンアドレス発生回路でもパターンアド
レスを決定するデコーダ回路にこの発明によるレジスタ
プリセットデータを必要としないので、パターンオブジ
ェクトにプリセットデータが付いていてもその部分を無
視すれば、従来のパターンアドレス発生は問題なくでき
る。
【0033】
【発明の効果】この発明によればパターンアドレス発生
回路の高速動作部分にコントロールメモリ、デコーダ、
ポインタからなるフィードバック系を構成しないため
に、従来の技術では発生できない高速パターン発生が可
能になる。また高速パターン発生用のパターンオブジェ
クトも単に従来のパターンオブジェクトにレジスタプリ
セットデータを付加しただけのものなので、そのパター
ンオブジェクトを従来のパターン発生回路でも互換性上
問題なく使うことができる。
回路の高速動作部分にコントロールメモリ、デコーダ、
ポインタからなるフィードバック系を構成しないため
に、従来の技術では発生できない高速パターン発生が可
能になる。また高速パターン発生用のパターンオブジェ
クトも単に従来のパターンオブジェクトにレジスタプリ
セットデータを付加しただけのものなので、そのパター
ンオブジェクトを従来のパターン発生回路でも互換性上
問題なく使うことができる。
【0034】このことは、従来のパターン発生のアルゴ
リズムを用いたパターンシミュレータ等の資産が使用で
き、開発環境における莫大な投資を抑制することができ
る。かつ新規デバイスの開発段階でも、その製品の高速
性という性能を損なわないで、新製品の評価が出来るた
め、デバイスの評価、生産の効率化に寄与することが出
来る。
リズムを用いたパターンシミュレータ等の資産が使用で
き、開発環境における莫大な投資を抑制することができ
る。かつ新規デバイスの開発段階でも、その製品の高速
性という性能を損なわないで、新製品の評価が出来るた
め、デバイスの評価、生産の効率化に寄与することが出
来る。
【図1】この発明による高速パターンアドレス発生回路
の構成図である。
の構成図である。
【図2】インストラクションのデコード説明図である。
【図3】従来技術によるパターンアドレス発生回路であ
る。
る。
【図4】バッファ回路の読み書き状態説明図である。
【図5】図4の100部分の拡大図である。
【図6】図1のパターンアドレス発生回路内のレジスタ
である。
である。
1 コントロールメモリ 2 デコーダ 3 ポインタ 4 クロック 5 パターンアドレス 10 パターンアドレス発生回路 11 バッファ回路 14 分周器 15 セレクタ 16 システムクロック 17 クロック 18 CPU 19 分周器 31 レジスタ 32 セレクタ 33 レジスタ 50 書き込みクロック端子 51 読みだしクロック端子
Claims (8)
- 【請求項1】 ランダムパターンアドレスを発生する複
数個のパターンアドレス発生回路(10)と、 おのおののランダムパターンアドレス発生回路(10)の出
力を書き込むランダムパターン発生回路(10)と同数のバ
ッファ回路(11)と、 それぞれのバッファ回路(11)から読みだした出力を入力
とするセレクタ(15)と、 システムクロック(16)を入力し、セレクタ(15)の選択信
号および、パターンアドレス発生回路(10)の出力タイミ
ングを作る分周器とを備え、 システムクロック(16)により一つのバッファ回路(11)の
内容を読み出すごとにセレクタ(15)入力を切り換えセレ
クタ(15)から高速パターンアドレスを出力することを特
徴とする高速パターンアドレス発生回路。 - 【請求項2】 前記バッファ回路(11)をVRAMで構成
することを特徴とする請求項1に記載の高速パターンア
ドレス発生回路。 - 【請求項3】 前記バッファ回路(11)をFIFOで構成
することを特徴とする請求項1に記載の高速パターンア
ドレス発生回路。 - 【請求項4】 レジスタプリセットデータを保持するレ
ジスタ(31)と、 高速パターンアドレス発生中のアドレス情報を保持する
レジスタ(33)と、 レジスタ(31)の出力を一方の入力に接続し、高速パター
ンアドレス発生中は他方の入力からのアドレス情報をレ
ジスタ(33)に入力するセレクタ(32)を備え、 次に発生するアドレス情報をレジスタ(31)に保持するこ
とを特徴とする請求項1に記載のパターンアドレス発生
回路(10)内で用いられるレジスタ。 - 【請求項5】 前記アドレス情報を保持するレジスタ(3
3)の出力をレジスタ(31)の入力と接続し、レジスタ(33)
の内容を読みだすことを特徴とする請求項4に記載のレ
ジスタ。 - 【請求項6】 前記パターンアドレス発生回路(10)で先
頭アドレスからバッファ回路(11)の深さ単位にパターン
アドレス発生し、請求項5に記載のレジスタ(33)情報を
読みだし、プリセットデータを得る方法。 - 【請求項7】 前記パターンアドレス発生回路(10)の機
能をコンピュータプログラムに記述し、エミュレーショ
ンにより請求項6に記載のレジスタプリセットデータを
得る方法。 - 【請求項8】 前記パターンアドレス発生回路(10)で用
いられる、インストラクションを記述してあるパターン
オブジェクトと、請求項6または請求項7に記載のプリ
セットデータを結合し、パターンオブジェクトを得る方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027283A JPH07218601A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 高速パターンアドレス発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6027283A JPH07218601A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 高速パターンアドレス発生回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218601A true JPH07218601A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=12216751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6027283A Pending JPH07218601A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | 高速パターンアドレス発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218601A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007093547A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-12 | Yokogawa Electric Corp | 検査信号生成装置及び半導体検査装置 |
| JP2007093318A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Yokogawa Electric Corp | 検査信号生成装置及び半導体検査装置 |
-
1994
- 1994-01-31 JP JP6027283A patent/JPH07218601A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007093318A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Yokogawa Electric Corp | 検査信号生成装置及び半導体検査装置 |
| JP2007093547A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-12 | Yokogawa Electric Corp | 検査信号生成装置及び半導体検査装置 |
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