JPH07220201A - ビデオテープ試験装置 - Google Patents
ビデオテープ試験装置Info
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- JPH07220201A JPH07220201A JP1014594A JP1014594A JPH07220201A JP H07220201 A JPH07220201 A JP H07220201A JP 1014594 A JP1014594 A JP 1014594A JP 1014594 A JP1014594 A JP 1014594A JP H07220201 A JPH07220201 A JP H07220201A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 混合器１４は、Ａチャンネルヘッド１２ａと
Ｂチャンネルヘッド１２ｂでそれぞれ再生されたＲＦ信
号を時分割多重して、混合ＲＦ信号を生成する。包絡線
検波回路２０は、ヘッド切換周期に比して短い時定数を
有し、ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波して、ＲＦエンベロ
ープ信号を生成する。レベル測定装置は、ＲＦエンベロ
ープ信号と回転サーボ回路１５からのＳＷＰ信号に基づ
いて、長時間のレベル変動と、短時間のレベル低下であ
るクロッグを、各チャンネルのヘッド毎に検出する。 【効果】 クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線検波
回路を用いて検出することができ、従来の装置に比して
コストを安くすることができる。
Ｂチャンネルヘッド１２ｂでそれぞれ再生されたＲＦ信
号を時分割多重して、混合ＲＦ信号を生成する。包絡線
検波回路２０は、ヘッド切換周期に比して短い時定数を
有し、ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波して、ＲＦエンベロ
ープ信号を生成する。レベル測定装置は、ＲＦエンベロ
ープ信号と回転サーボ回路１５からのＳＷＰ信号に基づ
いて、長時間のレベル変動と、短時間のレベル低下であ
るクロッグを、各チャンネルのヘッド毎に検出する。 【効果】 クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線検波
回路を用いて検出することができ、従来の装置に比して
コストを安くすることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ビデオテープ試験装置
に関し、特にビデオテープのレベル変動、所謂クロッグ
等を検出するビデオテープ試験装置に関する。
に関し、特にビデオテープのレベル変動、所謂クロッグ
等を検出するビデオテープ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ビデオテープを試験する試験装置
では、ビデオテープの全長に亘って予め基準信号を記録
し、このビデオテープを再生する。そして、その再生時
に回転ヘッドにより再生される信号（ＲＦ信号）の包絡
線（エンベロープ）信号を検出し、このＲＦ信号のエン
ベロープ信号（以下、ＲＦエンベロープ信号という。）
の数ｍ秒程度のレベル低下と、例えば２時間等の長時間
のレベル変動を測定して、ビデオテープの試験を行うよ
うになっている。さらに耐久試験では、巻戻しと再生を
繰り返して、レベル変動を測定するようになっている。
では、ビデオテープの全長に亘って予め基準信号を記録
し、このビデオテープを再生する。そして、その再生時
に回転ヘッドにより再生される信号（ＲＦ信号）の包絡
線（エンベロープ）信号を検出し、このＲＦ信号のエン
ベロープ信号（以下、ＲＦエンベロープ信号という。）
の数ｍ秒程度のレベル低下と、例えば２時間等の長時間
のレベル変動を測定して、ビデオテープの試験を行うよ
うになっている。さらに耐久試験では、巻戻しと再生を
繰り返して、レベル変動を測定するようになっている。
【０００３】ところで、例えばＡ、Ｂの２チャンネルの
ヘッドを具備する回転ヘッドを用いたビデオテープ試験
装置では、Ａチャンネルのヘッドで再生されるＲＦ信号
は、図９Ａに示すように、Ｂチャンネルのヘッドが再生
を行っているとき（以下、Ｂチャンネル期間という。）
にはレベルが０となる。そこで、レベル変動を検出する
ためには、ＲＦエンベロープ信号を検出する包絡線検波
回路の時定数を、図９Ｂに示すように、Ｂチャンネル期
間に比して充分長くする必要がある。しかし、この時定
数を有する包絡線検波回路では、図１０Ａ、Ｂに示すよ
うに、Ａチャンネル期間以下の短時間のレベル低下（所
謂クロッグ）を検出することができない。一方、クロッ
グが検出できるような短い時定数を有する包絡線検波回
路では、上述したようにレベル変動を検出することがで
きない。
ヘッドを具備する回転ヘッドを用いたビデオテープ試験
装置では、Ａチャンネルのヘッドで再生されるＲＦ信号
は、図９Ａに示すように、Ｂチャンネルのヘッドが再生
を行っているとき（以下、Ｂチャンネル期間という。）
にはレベルが０となる。そこで、レベル変動を検出する
ためには、ＲＦエンベロープ信号を検出する包絡線検波
回路の時定数を、図９Ｂに示すように、Ｂチャンネル期
間に比して充分長くする必要がある。しかし、この時定
数を有する包絡線検波回路では、図１０Ａ、Ｂに示すよ
うに、Ａチャンネル期間以下の短時間のレベル低下（所
謂クロッグ）を検出することができない。一方、クロッ
グが検出できるような短い時定数を有する包絡線検波回
路では、上述したようにレベル変動を検出することがで
きない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、従来の装置
では、クロッグ検出用の包絡線検波回路と、レベル変動
検出用の包絡線検波回路とが必要された。そこで、図１
１Ａ、Ｂに示すように、ＡチャンネルのＲＦ信号信号と
ＢチャンネルのＲＦ信号を時分割多重した信号（以下、
ＭＩＸＲＦ信号という。）に対して、クロッグが検出可
能な時定数を有する包絡線検波回路を用いてクロッグ及
びレベル変動を検出することが考えられるが、図１２Ａ
に示すように、チャンネル毎にＲＦ信号のレベルが異な
ると、そのＲＦエンベロープ信号は、図１２Ｂに示すよ
うに、レベルがチャンネル毎に異なり、上述したレベル
変動を検出することができない。
では、クロッグ検出用の包絡線検波回路と、レベル変動
検出用の包絡線検波回路とが必要された。そこで、図１
１Ａ、Ｂに示すように、ＡチャンネルのＲＦ信号信号と
ＢチャンネルのＲＦ信号を時分割多重した信号（以下、
ＭＩＸＲＦ信号という。）に対して、クロッグが検出可
能な時定数を有する包絡線検波回路を用いてクロッグ及
びレベル変動を検出することが考えられるが、図１２Ａ
に示すように、チャンネル毎にＲＦ信号のレベルが異な
ると、そのＲＦエンベロープ信号は、図１２Ｂに示すよ
うに、レベルがチャンネル毎に異なり、上述したレベル
変動を検出することができない。
【０００５】また、クロッグが、図１３Ａに示すよう
に、例えば２つのＡチャンネル期間にまたがって発生し
たときには、図１３Ｂに示すように、クロッグが２回発
生していると検出される虞れがある。
に、例えば２つのＡチャンネル期間にまたがって発生し
たときには、図１３Ｂに示すように、クロッグが２回発
生していると検出される虞れがある。
【０００６】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線
検波回路を用いて検出することができるビデオテープ試
験装置の提供を目的とする。
たものであり、クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線
検波回路を用いて検出することができるビデオテープ試
験装置の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに、本発明に係る第１のビデオテープ試験装置は、複
数チャンネルのヘッドを搭載した回転ヘッドと、ビデオ
テープに記録された基準信号を回転ヘッドにより再生し
て得られる各チャンネルの信号が時分割多重された再生
信号を包絡線検波する包絡線検波手段と、包絡線検波手
段からの包絡線信号と、複数チャンネルのヘッドの切換
を示すヘッド切換信号とに基づいて、各チャンネルのヘ
ッドに対する再生信号のレベルを測定するレベル測定手
段とを備えることを特徴とする。
めに、本発明に係る第１のビデオテープ試験装置は、複
数チャンネルのヘッドを搭載した回転ヘッドと、ビデオ
テープに記録された基準信号を回転ヘッドにより再生し
て得られる各チャンネルの信号が時分割多重された再生
信号を包絡線検波する包絡線検波手段と、包絡線検波手
段からの包絡線信号と、複数チャンネルのヘッドの切換
を示すヘッド切換信号とに基づいて、各チャンネルのヘ
ッドに対する再生信号のレベルを測定するレベル測定手
段とを備えることを特徴とする。
【０００８】また、本発明に係る第２のビデオテープ試
験装置は、第１のビデオテープ試験装置において、包絡
線検波手段の時定数をヘッド切換信号の周期に比して小
さな値とし、レベル測定手段は、各チャンネルのヘッド
に対する再生信号の短時間のレベル低下と、長時間のレ
ベル変動とを測定することを特徴とする。
験装置は、第１のビデオテープ試験装置において、包絡
線検波手段の時定数をヘッド切換信号の周期に比して小
さな値とし、レベル測定手段は、各チャンネルのヘッド
に対する再生信号の短時間のレベル低下と、長時間のレ
ベル変動とを測定することを特徴とする。
【０００９】
【作用】本発明に係るビデオテープ試験装置では、ビデ
オテープを回転ヘッドにより再生して得られる各チャン
ネルの信号が時分割多重された再生信号を包絡線検波
し、得られる包絡線信号と複数チャンネルのヘッドの切
換を示すヘッド切換信号に基づいて、ビデオテープの各
チャンネルのヘッドに対する再生信号のレベルを測定す
る。
オテープを回転ヘッドにより再生して得られる各チャン
ネルの信号が時分割多重された再生信号を包絡線検波
し、得られる包絡線信号と複数チャンネルのヘッドの切
換を示すヘッド切換信号に基づいて、ビデオテープの各
チャンネルのヘッドに対する再生信号のレベルを測定す
る。
【００１０】また、本発明に係るビデオテープ試験装置
では、包絡線検波手段の時定数をヘッド切換信号の周期
に比して小さな値として、再生信号を包絡線検波し、得
られる包絡線信号とヘッド切換信号に基づいて、ヘッド
切換周期よりも短いレベル低下、例えばクロッグを検出
する。また、長時間のレベル変動とを測定する。
では、包絡線検波手段の時定数をヘッド切換信号の周期
に比して小さな値として、再生信号を包絡線検波し、得
られる包絡線信号とヘッド切換信号に基づいて、ヘッド
切換周期よりも短いレベル低下、例えばクロッグを検出
する。また、長時間のレベル変動とを測定する。
【００１１】
【実施例】以下、本発明に係るビデオテープ試験装置の
一実施例を図面を参照しながら説明する。本発明を適用
したビデオテープ試験装置は、例えば図１に示すよう
に、複数チャンネルのヘッドを搭載した回転ヘッド１０
と、ビデオテープ１を上記回転ヘッド１０により再生し
て得られる各チャンネルの信号が時分割多重された再生
信号を包絡線検波する包絡線検波回路２０と、該包絡線
検波回路２０からの包絡線信号と上記複数チャンネルの
ヘッドを切り換えるヘッド切換信号に基づいて、ビデオ
テープ１の各ヘッドに対する再生信号のレベルを測定す
るレベル測定装置３０とを備える。
一実施例を図面を参照しながら説明する。本発明を適用
したビデオテープ試験装置は、例えば図１に示すよう
に、複数チャンネルのヘッドを搭載した回転ヘッド１０
と、ビデオテープ１を上記回転ヘッド１０により再生し
て得られる各チャンネルの信号が時分割多重された再生
信号を包絡線検波する包絡線検波回路２０と、該包絡線
検波回路２０からの包絡線信号と上記複数チャンネルの
ヘッドを切り換えるヘッド切換信号に基づいて、ビデオ
テープ１の各ヘッドに対する再生信号のレベルを測定す
るレベル測定装置３０とを備える。
【００１２】また、回転ヘッド１０は、上述の図１に示
すように、回転ドラム１１に対向して搭載された複数
の、例えば２つのＡチャンネルヘッド１２ａ、Ｂチャン
ネルヘッド１２ｂと、該Ａチャンネルヘッド１２ａ、Ｂ
チャンネルヘッド１２ｂからのＲＦ信号をそれぞれ増幅
するアンプ１３ａ、１３ｂと、該アンプ１３ａ、１３ｂ
で増幅されたＲＦ信号を加算する混合器１４と、上記回
転ドラム１１のサーボ制御を行う回転サーボ回路１５と
を備える。
すように、回転ドラム１１に対向して搭載された複数
の、例えば２つのＡチャンネルヘッド１２ａ、Ｂチャン
ネルヘッド１２ｂと、該Ａチャンネルヘッド１２ａ、Ｂ
チャンネルヘッド１２ｂからのＲＦ信号をそれぞれ増幅
するアンプ１３ａ、１３ｂと、該アンプ１３ａ、１３ｂ
で増幅されたＲＦ信号を加算する混合器１４と、上記回
転ドラム１１のサーボ制御を行う回転サーボ回路１５と
を備える。
【００１３】そして、アンプ１３ａ、１３ｂは、Ａチャ
ンネルヘッド１２ａ、Ｂチャンネルヘッド１２ｂでそれ
ぞれ再生されたＲＦ信号を増幅する。混合器１４は、増
幅された各チャンネルのＲＦ信号を加算して、例えば図
２Ａに示すように、ＡチャンネルのＲＦ信号とＢチャン
ネルのＲＦ信号が時分割多重された、すなわちヘッド毎
に割り当てられたタイムスロットに各チャンネルのＲＦ
信号が挿入された混合ＲＦ信号（以下、ＭＩＸＲＦ信号
という。）を生成し、このＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波
回路２０に供給する。
ンネルヘッド１２ａ、Ｂチャンネルヘッド１２ｂでそれ
ぞれ再生されたＲＦ信号を増幅する。混合器１４は、増
幅された各チャンネルのＲＦ信号を加算して、例えば図
２Ａに示すように、ＡチャンネルのＲＦ信号とＢチャン
ネルのＲＦ信号が時分割多重された、すなわちヘッド毎
に割り当てられたタイムスロットに各チャンネルのＲＦ
信号が挿入された混合ＲＦ信号（以下、ＭＩＸＲＦ信号
という。）を生成し、このＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波
回路２０に供給する。
【００１４】一方、回転サーボ回路１５は、回転ドラム
１１の回転速度が一定となるようにサーボ制御を行うと
共に、Ａチャンネルヘッド１２ａとＢチャンネルヘッド
１２ｂを切り換えるヘッド切換信号（以下、ＳＷＰ信号
という。）をレベル測定装置３０に供給する。このＳＷ
Ｐ信号は、回転ドラム１１の回転に同期し、例えば図２
Ｃに示すように、両エッジがＭＩＸＲＦ信号のチャンネ
ルの切換に一致している。ところで、この回転ヘッド１
０の代わりに、通常のビデオテープレコーダ（以下、Ｖ
ＴＲという。））を用いて、このＶＴＲからのＭＩＸＲ
Ｆ信号を包絡線検波回路２０に供給するようにしてもよ
い。
１１の回転速度が一定となるようにサーボ制御を行うと
共に、Ａチャンネルヘッド１２ａとＢチャンネルヘッド
１２ｂを切り換えるヘッド切換信号（以下、ＳＷＰ信号
という。）をレベル測定装置３０に供給する。このＳＷ
Ｐ信号は、回転ドラム１１の回転に同期し、例えば図２
Ｃに示すように、両エッジがＭＩＸＲＦ信号のチャンネ
ルの切換に一致している。ところで、この回転ヘッド１
０の代わりに、通常のビデオテープレコーダ（以下、Ｖ
ＴＲという。））を用いて、このＶＴＲからのＭＩＸＲ
Ｆ信号を包絡線検波回路２０に供給するようにしてもよ
い。
【００１５】包絡線検波回路２０は、例えば図３に示す
ように、上記混合器１４からのＭＩＸＲＦ信号を増幅す
るアンプ２１と、該アンプ２１からのＭＩＸＲＦ信号を
包絡線検波する検波器２２と、該検波器２２からの包絡
線信号のオフセットを調整するためのアンプ２３とを備
える。
ように、上記混合器１４からのＭＩＸＲＦ信号を増幅す
るアンプ２１と、該アンプ２１からのＭＩＸＲＦ信号を
包絡線検波する検波器２２と、該検波器２２からの包絡
線信号のオフセットを調整するためのアンプ２３とを備
える。
【００１６】また、検波器２２は、上述の図３に示すよ
うに、トランジスタ２２ａと、包絡線検波の際の時定数
を決定するコンデンサ２２ｂ、抵抗２２ｃとから構成さ
れる。そして、検波器２２は、例えば図２Ｂに示すよう
に、アンプ２１で増幅されたＭＩＸＲＦ信号を包絡線検
波し、包絡線信号（以下、ＲＦエンベロープ信号とい
う。）を生成し、このＲＦエンベロープ信号をアンプ２
３に供給する。アンプ２３は、電源に接続された抵抗２
４により、そのオフセット電圧が調整可能となってお
り、ＲＦエンベロープ信号を増幅すると共に、オフセッ
トを与え、この増幅したＲＦエンベロープ信号をレベル
測定装置３０に供給する。ところで、コンデンサ２２ｂ
の容量値と抵抗２２ｃの抵抗値の積で定まるこの検波器
２２の時定数はＳＷＰ信号の周期に比して、すなわちＡ
チャンネル期間に比して小さな値とする。すなわち、例
えば図４Ａに示すように、時定数は、ＲＦエンベロープ
信号に基づいて、短時間のレベル低下であるクロッグが
検出できる値、例えば１ｍ秒程度となっている。なお、
図４Ｂに、従来の長時間のレベル変動を検出するための
時定数により、ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときの
ＲＦエンベロープ信号を示す。
うに、トランジスタ２２ａと、包絡線検波の際の時定数
を決定するコンデンサ２２ｂ、抵抗２２ｃとから構成さ
れる。そして、検波器２２は、例えば図２Ｂに示すよう
に、アンプ２１で増幅されたＭＩＸＲＦ信号を包絡線検
波し、包絡線信号（以下、ＲＦエンベロープ信号とい
う。）を生成し、このＲＦエンベロープ信号をアンプ２
３に供給する。アンプ２３は、電源に接続された抵抗２
４により、そのオフセット電圧が調整可能となってお
り、ＲＦエンベロープ信号を増幅すると共に、オフセッ
トを与え、この増幅したＲＦエンベロープ信号をレベル
測定装置３０に供給する。ところで、コンデンサ２２ｂ
の容量値と抵抗２２ｃの抵抗値の積で定まるこの検波器
２２の時定数はＳＷＰ信号の周期に比して、すなわちＡ
チャンネル期間に比して小さな値とする。すなわち、例
えば図４Ａに示すように、時定数は、ＲＦエンベロープ
信号に基づいて、短時間のレベル低下であるクロッグが
検出できる値、例えば１ｍ秒程度となっている。なお、
図４Ｂに、従来の長時間のレベル変動を検出するための
時定数により、ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときの
ＲＦエンベロープ信号を示す。
【００１７】具体的には、例えば図５Ａに示すように、
チャンネルの切換においてレベルが低下するＡチャンネ
ルのＲＦ信号と正常なＢチャンネルのＲＦ信号からなる
ＭＩＸＲＦ信号が供給されると、この包絡線検波回路２
０は、時定数を約１ｍ秒として、このＭＩＸＲＦ信号を
包絡線検波して、図５Ｂに示すように、Ａチャンネルの
始まり及び終わりでレベルが低下するＲＦエンベロープ
信号を出力する。
チャンネルの切換においてレベルが低下するＡチャンネ
ルのＲＦ信号と正常なＢチャンネルのＲＦ信号からなる
ＭＩＸＲＦ信号が供給されると、この包絡線検波回路２
０は、時定数を約１ｍ秒として、このＭＩＸＲＦ信号を
包絡線検波して、図５Ｂに示すように、Ａチャンネルの
始まり及び終わりでレベルが低下するＲＦエンベロープ
信号を出力する。
【００１８】レベル測定装置３０は、上述の図１に示す
ように、上記包絡線検波回路２０からのＲＦエンベロー
プ信号をデータに変換するアナログ／ディジタル変換器
（以下、Ａ／Ｄ変換器という。）３１と、上記回転サー
ボ回路１５からのＳＷＰ信号を取り込むパラレルＩ／Ｏ
３２と、測定プログラムが記憶されているプログラムメ
モリ３３と、上記Ａ／Ｄ変換器３１からのデータに変換
されたＲＦエンベロープ信号等を記憶するデータメモリ
３４と、上記測定プログラムを実行するＣＰＵ３５とを
備える。
ように、上記包絡線検波回路２０からのＲＦエンベロー
プ信号をデータに変換するアナログ／ディジタル変換器
（以下、Ａ／Ｄ変換器という。）３１と、上記回転サー
ボ回路１５からのＳＷＰ信号を取り込むパラレルＩ／Ｏ
３２と、測定プログラムが記憶されているプログラムメ
モリ３３と、上記Ａ／Ｄ変換器３１からのデータに変換
されたＲＦエンベロープ信号等を記憶するデータメモリ
３４と、上記測定プログラムを実行するＣＰＵ３５とを
備える。
【００１９】そして、Ａ／Ｄ変換器３１は、ＲＦエンベ
ロープ信号を所定のサンプリング周期でサンプリングし
て、データに変換する。また、パラレルＩ／Ｏ３２は、
回転サーボ回路１５から供給されるＳＷＰ信号をＡチャ
ンネルとＢチャンネルを識別するデータとして取り込
む。ここで、Ａ／Ｄ変換器３１からの個々のデータをサ
ンプル値といい、パラレルＩ／Ｏ３２からのデータをＳ
ＷＰ値という。これらのサンプル値、ＳＷＰ値は、ＣＰ
Ｕ３５の制御のもとに、データメモリ３４に一旦記憶さ
れる。
ロープ信号を所定のサンプリング周期でサンプリングし
て、データに変換する。また、パラレルＩ／Ｏ３２は、
回転サーボ回路１５から供給されるＳＷＰ信号をＡチャ
ンネルとＢチャンネルを識別するデータとして取り込
む。ここで、Ａ／Ｄ変換器３１からの個々のデータをサ
ンプル値といい、パラレルＩ／Ｏ３２からのデータをＳ
ＷＰ値という。これらのサンプル値、ＳＷＰ値は、ＣＰ
Ｕ３５の制御のもとに、データメモリ３４に一旦記憶さ
れる。
【００２０】プログラムメモリ３３には、レベル変動測
定用のプログラム、クロッグ検出用のプログラム等から
なる測定プログラムが予め記憶されており、ＣＰＵ３５
は、測定プログラムを実行することにより、長時間のレ
ベル変動を測定すると共に、短時間のレベル低下である
クロッグの検出を行う。
定用のプログラム、クロッグ検出用のプログラム等から
なる測定プログラムが予め記憶されており、ＣＰＵ３５
は、測定プログラムを実行することにより、長時間のレ
ベル変動を測定すると共に、短時間のレベル低下である
クロッグの検出を行う。
【００２１】具体的には、レベル変動の測定では、ＣＰ
Ｕ３５は、例えば図６に示すフローチャートに従って動
作する。すなわち、ステップＳＴ１において、ＣＰＵ３
５は、データメモリ３４からサンプル値とＳＷＰ値の１
組を読み出し、ステップＳＴ２に進む。
Ｕ３５は、例えば図６に示すフローチャートに従って動
作する。すなわち、ステップＳＴ１において、ＣＰＵ３
５は、データメモリ３４からサンプル値とＳＷＰ値の１
組を読み出し、ステップＳＴ２に進む。
【００２２】ステップＳＴ２において、ＣＰＵ３５は、
ＳＷＰ値を判定し、ＳＷＰ値がＡチャンネルを示してい
るときはステップＳＴ３に進み、Ｂチャンネルを示して
いるときはステップＳＴ５に進む。
ＳＷＰ値を判定し、ＳＷＰ値がＡチャンネルを示してい
るときはステップＳＴ３に進み、Ｂチャンネルを示して
いるときはステップＳＴ５に進む。
【００２３】ステップＳＴ３において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルの累積値にサンプル値を加算して、新たな
Ａチャンネルの累積値を求め、ステップＳＴ４に進む。
Ａチャンネルの累積値にサンプル値を加算して、新たな
Ａチャンネルの累積値を求め、ステップＳＴ４に進む。
【００２４】ステップＳＴ４において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルのサンプル数に１を加算して、新たなＡチ
ャンネルのサンプル数を求め、ステップＳＴ７に進む。
Ａチャンネルのサンプル数に１を加算して、新たなＡチ
ャンネルのサンプル数を求め、ステップＳＴ７に進む。
【００２５】一方、ステップＳＴ５において、ＣＰＵ３
５は、Ｂチャンネルの累積値にサンプル値を加算して、
新たなＢチャンネルの累積値を求め、ステップＳＴ６に
進む。
５は、Ｂチャンネルの累積値にサンプル値を加算して、
新たなＢチャンネルの累積値を求め、ステップＳＴ６に
進む。
【００２６】ステップＳＴ６において、ＣＰＵ３５は、
Ｂチャンネルのサンプル数に１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのサンプル数を求め、ステップＳＴ７に進む。
Ｂチャンネルのサンプル数に１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのサンプル数を求め、ステップＳＴ７に進む。
【００２７】ステップＳＴ７において、ＣＰＵ３５は、
単位時間が経過したかを判定して、該当するときは、ス
テップＳＴ８に進み、該当しないときは、上記ステップ
ＳＴ１で読み出した１組のデータに対する処理を終了
し、次の１組のデータに対する処理を開始する。すなわ
ち、ステップＳＴ１に戻る。
単位時間が経過したかを判定して、該当するときは、ス
テップＳＴ８に進み、該当しないときは、上記ステップ
ＳＴ１で読み出した１組のデータに対する処理を終了
し、次の１組のデータに対する処理を開始する。すなわ
ち、ステップＳＴ１に戻る。
【００２８】ステップＳＴ８において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルの累積値をサンプル数で割ることにより、
Ａチャンネルの平均値を求める。また、Ｂチャンネルの
累積値をサンプル数で割ることにより、Ｂチャンネルの
平均値を求める。そして、これらの平均値をデータメモ
リ３４に記憶した後、ステップＳＴ９に進む。
Ａチャンネルの累積値をサンプル数で割ることにより、
Ａチャンネルの平均値を求める。また、Ｂチャンネルの
累積値をサンプル数で割ることにより、Ｂチャンネルの
平均値を求める。そして、これらの平均値をデータメモ
リ３４に記憶した後、ステップＳＴ９に進む。
【００２９】ステップＳＴ９において、ＣＰＵ３５は、
全ての累積値とサンプル数を０に初期化して、ステップ
ＳＴ１に戻る。
全ての累積値とサンプル数を０に初期化して、ステップ
ＳＴ１に戻る。
【００３０】かくして、各チャンネルのレベルの平均値
を単位時間毎に得ることができる。換言すると、クロッ
グを検出することができる短い時定数を有する包絡線検
波回路２０を用いて、各チャンネルのヘッドに対するＲ
Ｆ信号の長時間のレベル変動を測定することができる。
を単位時間毎に得ることができる。換言すると、クロッ
グを検出することができる短い時定数を有する包絡線検
波回路２０を用いて、各チャンネルのヘッドに対するＲ
Ｆ信号の長時間のレベル変動を測定することができる。
【００３１】つぎに、クロッグの検出について説明す
る。このクロッグの検出では、ＣＰＵ３５は、例えば図
７に示すフローチャートに従って動作する。すなわち、
ステップＳＴ１において、ＣＰＵ３５は、データメモリ
３４からサンプル値とＳＷＰ値の１組を読み出し、ステ
ップＳＴ２に進む。
る。このクロッグの検出では、ＣＰＵ３５は、例えば図
７に示すフローチャートに従って動作する。すなわち、
ステップＳＴ１において、ＣＰＵ３５は、データメモリ
３４からサンプル値とＳＷＰ値の１組を読み出し、ステ
ップＳＴ２に進む。
【００３２】ステップＳＴ２において、ＣＰＵ３５は、
ＳＷＰ値を判定し、ＳＷＰ値がＡチャンネルを示してい
るときはステップＳＴ３に進み、Ｂチャンネルを示して
いるときはステップＳＴ１２に進む。
ＳＷＰ値を判定し、ＳＷＰ値がＡチャンネルを示してい
るときはステップＳＴ３に進み、Ｂチャンネルを示して
いるときはステップＳＴ１２に進む。
【００３３】ステップＳＴ３において、ＣＰＵ３５は、
サンプル値が所定の閾値ＴＨ以上かを判定し、該当する
ときはステップＳＴ４に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ７に進む。
サンプル値が所定の閾値ＴＨ以上かを判定し、該当する
ときはステップＳＴ４に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ７に進む。
【００３４】ステップＳＴ４において、ＣＰＵ３５は、
クロッグの継続時間を計測するためのＡチャンネルのタ
イマが０かを判定し、該当するときはステップＳＴ１０
に進み、該当しないときはステップＳＴ５に進む。
クロッグの継続時間を計測するためのＡチャンネルのタ
イマが０かを判定し、該当するときはステップＳＴ１０
に進み、該当しないときはステップＳＴ５に進む。
【００３５】ステップＳＴ５において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルのタイマの値をクロッグの継続時間とし
て、データメモリ３４に記憶した後、ステップＳＴ６に
進む。
Ａチャンネルのタイマの値をクロッグの継続時間とし
て、データメモリ３４に記憶した後、ステップＳＴ６に
進む。
【００３６】ステップＳＴ６において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルのタイマを０に初期化し、ステップＳＴ１
０に進む。
Ａチャンネルのタイマを０に初期化し、ステップＳＴ１
０に進む。
【００３７】一方、ステップＳＴ７において、ＣＰＵ３
５は、Ａチャンネルのタイマが０かを判定し、該当する
ときはステップＳＴ８に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ９に進む。
５は、Ａチャンネルのタイマが０かを判定し、該当する
ときはステップＳＴ８に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ９に進む。
【００３８】ステップＳＴ８において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルのタイマを１とし、ステップＳＴ１０に進
む。
Ａチャンネルのタイマを１とし、ステップＳＴ１０に進
む。
【００３９】ステップＳＴ９において、ＣＰＵ３５は、
Ａチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＡチャン
ネルのタイマとし、ステップＳＴ１０に進む。
Ａチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＡチャン
ネルのタイマとし、ステップＳＴ１０に進む。
【００４０】ステップＳＴ１０において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマが０かを判定し、該当すると
きは、上記ステップＳＴ１で読み出した１組のデータに
対する処理を終了し、次の１組のデータに対する処理を
開始する。すなわち、ステップＳＴ１に戻る。一方、該
当しないときはステップＳＴ１１に進む。
は、Ｂチャンネルのタイマが０かを判定し、該当すると
きは、上記ステップＳＴ１で読み出した１組のデータに
対する処理を終了し、次の１組のデータに対する処理を
開始する。すなわち、ステップＳＴ１に戻る。一方、該
当しないときはステップＳＴ１１に進む。
【００４１】ステップＳＴ１１において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１に戻る。
は、Ｂチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１に戻る。
【００４２】一方、ステップＳＴ１２において、ＣＰＵ
３５は、サンプル値が所定の閾値ＴＨ以上かを判定し、
該当するときはステップＳＴ１３に進み、該当しないと
きはステップＳＴ１６に進む。
３５は、サンプル値が所定の閾値ＴＨ以上かを判定し、
該当するときはステップＳＴ１３に進み、該当しないと
きはステップＳＴ１６に進む。
【００４３】ステップＳＴ１３において、ＣＰＵ３５
は、クロッグの継続時間を計測するためのＢチャンネル
のタイマが０かを判定し、該当するときはステップＳＴ
１９に進み、該当しないときはステップＳＴ１４に進
む。
は、クロッグの継続時間を計測するためのＢチャンネル
のタイマが０かを判定し、該当するときはステップＳＴ
１９に進み、該当しないときはステップＳＴ１４に進
む。
【００４４】ステップＳＴ１４において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマの値をクロッグの継続時間と
して、データメモリ３４に記憶した後、ステップＳＴ１
５に進む。
は、Ｂチャンネルのタイマの値をクロッグの継続時間と
して、データメモリ３４に記憶した後、ステップＳＴ１
５に進む。
【００４５】ステップＳＴ１５において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマを０に初期化し、ステップＳ
Ｔ１９に進む。
は、Ｂチャンネルのタイマを０に初期化し、ステップＳ
Ｔ１９に進む。
【００４６】一方、ステップＳＴ１６において、ＣＰＵ
３５は、Ｂチャンネルのタイマが０かを判定し、該当す
るときはステップＳＴ１７に進み、該当しないときはス
テップＳＴ１８に進む。
３５は、Ｂチャンネルのタイマが０かを判定し、該当す
るときはステップＳＴ１７に進み、該当しないときはス
テップＳＴ１８に進む。
【００４７】ステップＳＴ１７において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマを１とし、ステップＳＴ１９
に進む。
は、Ｂチャンネルのタイマを１とし、ステップＳＴ１９
に進む。
【００４８】ステップＳＴ１８において、ＣＰＵ３５
は、Ｂチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１９に進む。
は、Ｂチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＢチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１９に進む。
【００４９】ステップＳＴ１９において、ＣＰＵ３５
は、Ａチャンネルのタイマが０かを判定し、該当すると
きはステップＳＴ２０に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ１に戻る。
は、Ａチャンネルのタイマが０かを判定し、該当すると
きはステップＳＴ２０に進み、該当しないときはステッ
プＳＴ１に戻る。
【００５０】ステップＳＴ２０において、ＣＰＵ３５
は、Ａチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＡチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１に戻る。
は、Ａチャンネルのタイマに１を加算して、新たなＡチ
ャンネルのタイマとし、ステップＳＴ１に戻る。
【００５１】ここで、例えば図８Ａに示すように、２つ
のＡチャンネル期間にまたがってクロッグが発生したＭ
ＩＸＲＦ信号が得られたときの具体的な動作について説
明する。例えば上記閾値ＴＨを、ＲＦエンベロープ信号
の最大値の５０％とすると、図８Ｂに示すように、時刻
ｔ1 以前のＡチャンネル期間では、Ａチャンネルのサン
プル値が閾値ＴＨより大きいことから、ＣＰＵ３５は、
ステップＳＴ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４、ＳＴ１０の
各動作を順番に繰り返して実行する。
のＡチャンネル期間にまたがってクロッグが発生したＭ
ＩＸＲＦ信号が得られたときの具体的な動作について説
明する。例えば上記閾値ＴＨを、ＲＦエンベロープ信号
の最大値の５０％とすると、図８Ｂに示すように、時刻
ｔ1 以前のＡチャンネル期間では、Ａチャンネルのサン
プル値が閾値ＴＨより大きいことから、ＣＰＵ３５は、
ステップＳＴ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４、ＳＴ１０の
各動作を順番に繰り返して実行する。
【００５２】そして、時刻ｔ1 においてサンプル値が閾
値ＴＨ未満になることから、ＣＰＵ３５は、ステップＳ
Ｔ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ８、ＳＴ１０の各
動作を順に実行し、Ａチャンネルのタイマを１として、
ステップＳＴ１に戻る。その後の時刻ｔ2 までのＡチャ
ンネル期間では、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ
２、ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ９、ＳＴ１０の各動作を繰り
返して実行することにより、Ａチャンネルのタイマを１
づつ増加させる。
値ＴＨ未満になることから、ＣＰＵ３５は、ステップＳ
Ｔ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ８、ＳＴ１０の各
動作を順に実行し、Ａチャンネルのタイマを１として、
ステップＳＴ１に戻る。その後の時刻ｔ2 までのＡチャ
ンネル期間では、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ
２、ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ９、ＳＴ１０の各動作を繰り
返して実行することにより、Ａチャンネルのタイマを１
づつ増加させる。
【００５３】時刻ｔ2 から時刻ｔ3 までのＢチャンネル
期間では、Ｂチャンネルのサンプル値が閾値ＴＨより大
きいことから、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ
２、ＳＴ１２、ＳＴ１３、ＳＴ１９、ＳＴ２０の各動作
を繰り返して実行することにより、Ａチャンネルのタイ
マを１づつ増加させる。
期間では、Ｂチャンネルのサンプル値が閾値ＴＨより大
きいことから、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ
２、ＳＴ１２、ＳＴ１３、ＳＴ１９、ＳＴ２０の各動作
を繰り返して実行することにより、Ａチャンネルのタイ
マを１づつ増加させる。
【００５４】Ａチャンネル期間の時刻ｔ3 から時刻ｔ4
までは、Ａチャンネルのサンプル値が閾値ＴＨより小さ
いことから、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ２、
ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ９、ＳＴ１０の各動作を繰り返し
て実行することにより、Ａチャンネルのタイマを１づつ
増加させる。
までは、Ａチャンネルのサンプル値が閾値ＴＨより小さ
いことから、ＣＰＵ３５は、ステップＳＴ１、ＳＴ２、
ＳＴ３、ＳＴ７、ＳＴ９、ＳＴ１０の各動作を繰り返し
て実行することにより、Ａチャンネルのタイマを１づつ
増加させる。
【００５５】そして、時刻ｔ4 においてサンプル値が閾
値ＴＨ以上になることから、ＣＰＵ３５は、ステップＳ
Ｔ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４、ＳＴ５、ＳＴ６、ＳＴ
１０の各動作を順に実行し、Ａチャンネルのタイマの
値、すなわち時間ＴをＡチャンネルのクロッグ継続時間
として、データメモリ３４に記憶する。
値ＴＨ以上になることから、ＣＰＵ３５は、ステップＳ
Ｔ１、ＳＴ２、ＳＴ３、ＳＴ４、ＳＴ５、ＳＴ６、ＳＴ
１０の各動作を順に実行し、Ａチャンネルのタイマの
値、すなわち時間ＴをＡチャンネルのクロッグ継続時間
として、データメモリ３４に記憶する。
【００５６】かくして、２つＡチャンネル期間にまたが
って発生したクロッグを１つのクロッグとして検出する
ことができる。
って発生したクロッグを１つのクロッグとして検出する
ことができる。
【００５７】
【発明の効果】以上の説明で明かなように、本発明で
は、ビデオテープを回転ヘッドにより再生して得られる
各チャンネルの信号が時分割多重された再生信号を包絡
線検波し、得られる包絡線信号と複数チャンネルのヘッ
ドの切換を示すヘッド切換信号に基づいて、再生信号の
レベルを測定することにより、ビデオテープの各チャン
ネルのヘッドに対する長時間のレベル変動を測定するこ
とができると共に、短時間のレベル低下であるクロッグ
を検出することができる。
は、ビデオテープを回転ヘッドにより再生して得られる
各チャンネルの信号が時分割多重された再生信号を包絡
線検波し、得られる包絡線信号と複数チャンネルのヘッ
ドの切換を示すヘッド切換信号に基づいて、再生信号の
レベルを測定することにより、ビデオテープの各チャン
ネルのヘッドに対する長時間のレベル変動を測定するこ
とができると共に、短時間のレベル低下であるクロッグ
を検出することができる。
【００５８】また、本発明では、包絡線検波手段の時定
数をヘッド切換信号の周期に比して小さな値として、再
生信号を包絡線検波し、得られる包絡線信号とヘッド切
換信号に基づいて、再生信号のレベルを測定することに
より、ヘッド切換周期よりも短いレベル低下であるクロ
ッグを、各チャンネルのヘッド毎に検出することがで
き、また、長時間のレベル変動を、時定数が短い包絡線
検波回路を用いて検出することができる。換言すると、
クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線検波回路を用い
て検出することができ、従来の装置に比してコストを安
くすることができる。
数をヘッド切換信号の周期に比して小さな値として、再
生信号を包絡線検波し、得られる包絡線信号とヘッド切
換信号に基づいて、再生信号のレベルを測定することに
より、ヘッド切換周期よりも短いレベル低下であるクロ
ッグを、各チャンネルのヘッド毎に検出することがで
き、また、長時間のレベル変動を、時定数が短い包絡線
検波回路を用いて検出することができる。換言すると、
クロッグ及びレベル変動を１つの包絡線検波回路を用い
て検出することができ、従来の装置に比してコストを安
くすることができる。
【図１】本発明を適用したビデオテープ試験装置の具体
的な構成を示すブロック図である。
的な構成を示すブロック図である。
【図２】正常なＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときの
ＲＦエンベロープ信号の波形を示す図である。
ＲＦエンベロープ信号の波形を示す図である。
【図３】上記ビデオテープ試験装置を構成する包絡線検
波回路の具体的な回路構成を示す図である。
波回路の具体的な回路構成を示す図である。
【図４】上記包絡線検波回路の時定数を説明するための
ＭＩＸＲＦ信号の具体的な波形を示す図である。
ＭＩＸＲＦ信号の具体的な波形を示す図である。
【図５】クロッグがあるＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波し
たときのＲＦエンベロープ信号の波形を示す図である。
たときのＲＦエンベロープ信号の波形を示す図である。
【図６】上記ビデオテープ試験装置でのレベル変動測定
の動作を説明するためのフローチャートである。
の動作を説明するためのフローチャートである。
【図７】上記ビデオテープ試験装置でのクロッグ検出の
動作を説明するためのフローチャートである。
動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】クロッグがチャンネルにまたがって発生したＭ
ＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときのＲＦエンベロープ
信号の波形を示す図である。
ＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときのＲＦエンベロープ
信号の波形を示す図である。
【図９】１チャンネルのＲＦ信号を時定数が長い包絡線
検波回路で検波したときのＲＦエンベロープ信号の波形
を示す図である。
検波回路で検波したときのＲＦエンベロープ信号の波形
を示す図である。
【図１０】クロッグが発生した１つのチャンネルのＲＦ
信号を時定数が長い包絡線検波回路で検波したときのＲ
Ｆエンベロープ信号の波形を示す図である。
信号を時定数が長い包絡線検波回路で検波したときのＲ
Ｆエンベロープ信号の波形を示す図である。
【図１１】２チャンネルのＲＦ信号を時定数が短い包絡
線検波回路で検波したときのＲＦエンベロープ信号の波
形を示す図である。
線検波回路で検波したときのＲＦエンベロープ信号の波
形を示す図である。
【図１２】チャンネル間でレベルが異なるＭＩＸＲＦ信
号を包絡線検波したときのＲＦエンベロープ信号の波形
を示す図である。
号を包絡線検波したときのＲＦエンベロープ信号の波形
を示す図である。
【図１３】クロッグがチャンネルにまたがって発生した
ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときのＲＦエンベロー
プ信号の波形を示す図である。
ＭＩＸＲＦ信号を包絡線検波したときのＲＦエンベロー
プ信号の波形を示す図である。
１ 磁気テープ １１ 回転ヘッド １２ａ、１２ｂ ヘッド １４ 混合器 １５ 回転サーボ回路 ２０ 包絡線検波回路 ３０ レベル測定装置
Claims (2)
- 【請求項１】 複数チャンネルのヘッドを搭載した回転
ヘッドと、 ビデオテープに記録された基準信号を上記回転ヘッドに
より再生して得られる各チャンネルの信号が時分割多重
された再生信号を包絡線検波する包絡線検波手段と、 該包絡線検波手段からの包絡線信号と、上記複数チャン
ネルのヘッドの切換を示すヘッド切換信号とに基づい
て、各チャンネルのヘッドに対する再生信号のレベルを
測定するレベル測定手段とを備えることを特徴とするビ
デオテープ試験装置。 - 【請求項２】 前記包絡線検波手段の時定数をヘッド切
換信号の周期に比して小さな値とし、 前記レベル測定手段は、各チャンネルのヘッドに対する
再生信号の短時間のレベル低下と、長時間のレベル変動
とを測定することを特徴とする請求項１記載のビデオテ
ープ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014594A JPH07220201A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | ビデオテープ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014594A JPH07220201A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | ビデオテープ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07220201A true JPH07220201A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11742126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1014594A Withdrawn JPH07220201A (ja) | 1994-01-31 | 1994-01-31 | ビデオテープ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07220201A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5468856A (en) * | 1990-07-09 | 1995-11-21 | Atochem | Triazines substituted with thioalkylmethacrylate groups |
| US6700369B1 (en) | 1999-12-22 | 2004-03-02 | Hitachi, Ltd. | Testing apparatus of magnetic recording medium or magnetic head including a plurality of analog-to-digital converters which convert reproduced testing data into digital data |
| JP2012088052A (ja) * | 2005-07-14 | 2012-05-10 | Access Business Group Internatl Llc | 空気処理システムにおけるセンサのための基準電圧を設定する方法 |
-
1994
- 1994-01-31 JP JP1014594A patent/JPH07220201A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5468856A (en) * | 1990-07-09 | 1995-11-21 | Atochem | Triazines substituted with thioalkylmethacrylate groups |
| US5556974A (en) * | 1990-07-09 | 1996-09-17 | Atochem | Process for the preparation of triazines |
| US5565597A (en) * | 1990-07-09 | 1996-10-15 | Atochem | Process for preparing thiocyanoalkyl esters of (meth)acrylic acid |
| US5696279A (en) * | 1990-07-09 | 1997-12-09 | Atochem | Method of preparing thiocyanoalkyl esters of hydroxy-substituted (meth)acrylic acids |
| US6700369B1 (en) | 1999-12-22 | 2004-03-02 | Hitachi, Ltd. | Testing apparatus of magnetic recording medium or magnetic head including a plurality of analog-to-digital converters which convert reproduced testing data into digital data |
| US6894489B2 (en) | 1999-12-22 | 2005-05-17 | Hitachi, Ltd. | Testing apparatus for conducting a test on a magnetic recording medium or a magnetic head, through recording test data on the magnetic recording medium and reproducing recorded test data therefrom by means of the magnetic head |
| JP2012088052A (ja) * | 2005-07-14 | 2012-05-10 | Access Business Group Internatl Llc | 空気処理システムにおけるセンサのための基準電圧を設定する方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010403 |